JP5287017B2 - 白金抵抗温度計および白金測温抵抗素子の製造方法 - Google Patents
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
元される。なお、PtO2の生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点(C点)は、
Ptに還元した高温状態から温度を下げていくときPtO2が生成され始める特異な転移点である。
=0)となる点における温度をTBとしたとき、以下の[1]〜[4]の工程を順次実施することを特徴とする白金抵抗温度計の製造方法を提供する。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TA以下の温度で、前記感温部をPtO2に酸化させる工程
[3] TAとTBの間の温度で、前記感温部のPtO2をPtOに変化させる工程
[4] 不活性ガスと酸素の混合気体で上記保護管を封止する工程
)となる点における温度をTB、PtO2の生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる
点における温度をTCとしたとき、以下の[1]〜[3]の工程を順次実施することを特徴とする白金抵抗温度計の製造方法をも提供する。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TAとTcの間の温度で、前記感温部のPtをPtOに変化させる工程
[3] 不活性ガスと酸素の混合気体で上記保護管を封止する工程
おける温度をTBとしたとき、以下の[1]〜[3]の工程を順次実施することを特徴とする白金測温抵抗素子の製造方法をも提供する。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TA以下の温度で、前記感温部をPtO2に酸化させる工程
[3] TAとTBの間の温度で、前記感温部のPtO2をPtOに変化させる工程
における温度をTB、PtO2の生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点における
温度をTCとしたとき、以下の[1]、[2]の工程を順次実施することを特徴とする白金測温抵抗素子の製造方法をも提供する。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TAとTcの間の温度で、前記感温部のPtをPtOに変化させる工程
図7は第1実施形態の製造手順を示すステップ図、図8は第2実施形態の製造手順を示すステップ図、図10は第3実施形態の製造手順を示すステップ図、図11は第4実施形態の製造手順を示すステップ図であり、図9は従来からと同じ代表的な白金抵抗温度計の構造を示している。
このガス封入工程S23から還元工程S24は複数回、繰り返し行ってもよい。また、還元工程S24のためのガス封入工程S23よりも以前の段階で、より高温でのアニールやガス置換を繰り返して前処理を行っておくことがより好ましい実施例である。
上記第1実施形態に沿った熱履歴の製造方法で白金抵抗温度計(実施例1)を処理し、抵抗値変化を測定した。温度計の保護管には、最初の還元工程の前にあらかじめ酸素分圧が室温2kPaのパージガスを入れて封止しており、その後、酸化工程等においてもパージガスの置換は行わない。まず、500℃以上で還元・アニールした後、130℃、425℃を繰り返し、その間に0.01℃を測定する。その際の各温度での抵抗値の変化は大きく、特に420℃にした後の0.01℃の抵抗値は不安定であった。その後、6時間ほど、290℃〜320℃に維持してPtO2を生成し、その後、425℃まで上昇させて、10日間ほど維持し、PtOを生成させた。その後は、130℃、425℃の繰り返しにより抵抗値は徐々に増加するが、130℃、425℃にした後の0.01℃の抵抗値の差は小さくなった。これにより、繰り返し温度計を使用する際の再現性が向上し、安定した温度測定ができることが分かる。
次に、上記第2実施形態に沿った熱履歴の製造方法で2本の白金抵抗温度計(実施例2、3)を処理し、抵抗値変化を測定した。各温度計の保護管には、最初の還元工程の前にあらかじめ酸素分圧が室温で略2kPaのパージガスを入れて封止しており、その後、酸化工程等においてもパージガスの置換は行わない。まず550℃で還元した温度計を340℃(TA−TC間の温度)で2日ほど保持し、その後、410℃(TB以下の使用温度)に維持した。測定結果を図14に示す。いずれも340℃で抵抗値が多少増加しており、PtからPtOへの酸化が進行していることが分かる。その後、410℃にすると抵抗値が下がり、その後、多少抵抗値が増加しているが、急激な増加は見られず、酸化の進行が認められない安定した温度計となることが分かる。
2 感温部
3 保護管
4 巻枠
10 加熱炉
12 チャンバー
20 白金線
30 炉体
40 トレイ
50 サセプター(ガイド材)
60 ランプ加熱装置
70 反射鏡
80 シール
90 真空・ガス置換装置
110 素子
Claims (8)
- 白金抵抗線又は白金抵抗膜よりなる感温部を保護管内に設けてなる白金抵抗温度計の製造方法であって、PtO2の生成自由エネルギー曲線とPtOの生成自由エネルギー曲線の交点における温度をTA、PtOの生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点にお
ける温度をTBとしたとき、以下の[1]〜[4]の工程を順次実施することを特徴とする白金抵抗温度計の製造方法。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TA以下の温度で、前記感温部をPtO2に酸化させる工程
[3] TAとTBの間の温度で、前記感温部のPtO2をPtOに変化させる工程
[4] 不活性ガスと酸素の混合気体で上記保護管を封止する工程 - 白金抵抗線又は白金抵抗膜よりなる感温部を保護管内に設けてなる白金抵抗温度計の製造方法であって、PtO2の生成自由エネルギー曲線とPtOの生成自由エネルギー曲線の交点における温度をTA、PtOの生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点にお
ける温度をTB、PtO2の生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点における温度
をTCとしたとき、以下の[1]〜[3]の工程を順次実施することを特徴とする白金抵抗温度計の製造方法。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TAとTCの間の温度で、前記感温部のPtをPtOに変化させる工程
[3] 不活性ガスと酸素の混合気体で上記保護管を封止する工程 - 前記不活性ガスと酸素の混合気体で上記保護管を封止する工程において、温度TBが使用温度領域の最高温度以上となるように、前記混合気体の酸素分圧を調整して封止する請求項1又は2記載の白金抵抗温度計の製造方法。
- 請求項1〜3の何れか1項に記載の製造方法により作製してなる白金抵抗温度計。
- 白金抵抗線又は白金抵抗膜よりなる感温部を有する白金測温抵抗素子の製造方法であって、PtO2の生成自由エネルギー曲線とPtOの生成自由エネルギー曲線の交点における温度をTA、PtOの生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点における温度をT
Bとしたとき、以下の[1]〜[3]の工程を順次実施することを特徴とする白金測温抵抗素子の製造方法。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TA以下の温度で、前記感温部をPtO2に酸化させる工程
[3] TAとTBの間の温度で、前記感温部のPtO2をPtOに変化させる工程 - 白金抵抗線又は白金抵抗膜よりなる感温部を有する白金測温抵抗素子の製造方法であって、PtO2の生成自由エネルギー曲線とPtOの生成自由エネルギー曲線の交点における温度をTA、PtOの生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点における温度をT
B、PtO2の生成自由エネルギーが零(ΔG=0)となる点における温度をTCとした
とき、以下の[1]、[2]の工程を順次実施することを特徴とする白金測温抵抗素子の製造方法。
[1] 前記感温部を還元させる工程
[2] TAとTCの間の温度で、前記感温部のPtをPtOに変化させる工程 - 上記工程の順次実施の後、さらに前記感温部を不活性ガスと酸素の混合気体の雰囲気下で封止材により封止する工程を備える請求項5又は6記載の白金測温抵抗素子の製造方法であって、温度TBが使用温度領域の最高温度以上となるように、前記混合気体の酸素分圧を調整して封止する白金測温抵抗素子の製造方法。
- 請求項5〜7の何れか1項に記載の製造方法により作製してなる白金測温抵抗素子。
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