JP5280066B2 - 極端紫外光源装置 - Google Patents

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Description

本発明は、露光装置の光源として用いられる極端紫外(EUV:extreme ultra violet)光源装置に関する。
近年、半導体プロセスの微細化に伴って光リソグラフィにおける微細化が急速に進展しており、次世代においては、100nm〜70nmの微細加工、更には50nm以下の微細加工が要求されるようになる。そのため、例えば、50nm以下の微細加工の要求に応えるべく、波長13nm程度のEUV光源と縮小投影反射光学系(reduced projection reflective optics)とを組み合わせた露光装置の開発が期待されている。
EUV光源としては、ターゲットにレーザ光を照射することによって生成されるプラズマを用いたLPP(laser produced plasma:レーザ励起プラズマ)光源(以下において、「LPP式EUV光源装置」ともいう)と、放電によって生成されるプラズマを用いたDPP(discharge produced plasma)光源と、軌道放射光を用いたSR(synchrotron radiation)光源との3種類がある。これらの内でも、LPP光源は、プラズマ密度をかなり大きくできるので黒体輻射に近い極めて高い輝度が得られ、ターゲット物質を選択することにより必要な波長帯のみの発光が可能であり、ほぼ等方的な角度分布を持つ点光源であるので光源の周囲に電極等の構造物がなく、2πsteradianという極めて大きな捕集立体角の確保が可能であること等の利点から、数十ワット以上のパワーが要求されるEUVリソグラフィ用の光源として有力であると考えられている。
ここで、LPP方式によるEUV光の生成原理について説明する。真空チャンバ内に供給されるターゲット物質に対してレーザ光を照射することにより、ターゲット物質が励起してプラズマ化する。このプラズマから、EUV光を含む様々な波長成分が放射される。そこで、所望の波長成分(例えば、13.5nmの波長を有する成分)を選択的に反射するEUVコレクタミラーを用いてEUV光が反射集光され、露光器に出力される。そのために、EUVコレクタミラーの反射面には、例えば、モリブデン(Mo)の薄膜とシリコン(Si)の薄膜とを交互に積層した多層膜(Mo/Si多層膜)が形成されている。
図7は、従来のEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。ターゲット物質としては、例えば、溶融されて液体状態となった錫(Sn)、溶融されて液体状態となったリチウム(Li)、又は、錫酸化物の微粒子をコロイド状にして、メタノール等の揮発性溶媒や水に溶け込ませたものが使用される。
ターゲットタンク101内に導入されたターゲット物質を、例えば、純アルゴンガス等で加圧することによって、ターゲットタンク101の先端に取り付けられた内径数十umの噴射ノズル102からターゲット物質のジェットが噴出する。このジェットに、噴射ノズル102又は噴射ノズル102近傍に取り付けられた図示しない振動子を用いて規則的な擾乱を与えると、ターゲット物質のジェット部1aは、均一な直径、形、間隔を有するドロップレット1bに即座に分裂する。このような方法で均一なドロップレットを生成する方法を、コンティニュアスジェット法と言う。
生成された均一なドロップレット1bは、噴射ノズル102からジェットが噴出した際の慣性によって真空チャンバ100内を進み、レーザ照射点において、例えばCOレーザやYAGレーザから射出されたレーザ光が照射される。これにより、ターゲット物質がプラズマ化し、このプラズマからEUV光が放射される。レーザが照射されなかったドロップレットは、レーザ照射点を挟んで噴射ノズル102と反対側に設置されたターゲット回収装置106に回収される。
しかしながら、従来技術においては、ドロップレットがレーザ照射点に到達する間に、ドロップレットの位置の安定性が徐々に失われて位置が不安定になり、特に、ドロップレットの進行方向において位置のばらつきが増大する。その結果、レーザ光がドロップレットに常に同じ条件で照射されなくなり、放射されるEUV光の強度がばらついたり、最悪の場合には、レーザ光がドロップレットに照射されずにEUV光が発生しないという問題が生じていた。このようなドロップレットの位置の不安定による不具合は、噴射ノズル102の内径が小さくなってドロップレットの径およびドロップレットの間隔が狭くなるにつれて顕著になる。
図8は、図7に示すドロップレットターゲット生成装置によって生成されるドロップレットの写真である。ターゲット物質としては、溶融錫が用いられている。図8に示すように、レーザ照射点におけるドロップレットの位置安定性に乱れが生じており、ドロップレットの間隔が不均一で、場所によっては複数のドロップレットが合体しているところもある。
このような問題を解決する1つの手法として、ドロップレットの位置安定性が比較的良い状態にある地点、即ち、噴射ノズル102からの飛行距離が短い地点(例えば、噴射ノズル102からの距離が50mm程度の地点)において、ドロップレットにレーザ光を照射することが考えられるが、EUV光源において用いられるレーザのパワーは10kW以上であるので、噴射ノズル102又はその周辺部への入熱が大きくなり、安定したドロップレット生成が持続せず、結果としてEUV光源の性能が劣化してしまう。
関連する技術として、特許文献1には、EUVプラズマ形成用ターゲット送出システム及び方法が開示されている。このターゲット送出システムは、磁気的制御又は電気的制御が可能な材料を備えたターゲットドロップレット形成機構と、出力オリフィスにおいて終了する液体プラズマ源材料通路と、選択された経路に沿って該通路を励起するジェット流を形成するドロップレット又は個々のドロップレットに電荷を供給する荷電機構と、出力オリフィスとプラズマ侵入地点との間にあって、選択された経路からドロップレットを間欠的にそらすドロップレット偏向器と、入力開口及び出力オリフィスを有する液体ターゲット物質送出経路を備えた液体ターゲット物質送出機構と、液体ターゲット物質内に散乱力を発生させる電動散乱力発生機構と、出力オリフィスを有する液体ターゲット送出ドロップレット形成機構と、出力オリフィスの周辺部の周りの湿ったバリアとを具備する。しかしながら、特許文献1には、ドロップレットの位置安定性を向上させることに関しては、特に開示されていない。
また、非特許文献1には、コンティニュアスジェット法についての説明が記載されている。非特許文献1によれば、薄層状から乱ジェット流への移行は、ノズルのアスペクト比L/dに依存し、ここで、Lは長さであり、dは直径である。また、表面張力によって、何れかの点において、薄層状流のジェットがばらばらになってドロップレットの列になる。これは、液体球の表面エネルギーが、同様の体積を有する円柱の表面エネルギーよりも小さいという事実によるものである。従って、例えば、円筒状の流体円柱のジェットは、本来不安定であり、いつかは球状のドロップレットに変形する(第132頁)。
米国特許出願公開第2006/0192154号明細書(第1頁) ハインツル(HEINZL)他、「インクジェットプリンティング(Ink-Jet Printing)」、エレクトロニクス及び電子物理の進歩(ADVANCES IN ELECTRONICS AND ELECTRON PHYSICS)、米国、アカデミックプレス、1985年、第65巻、第91〜171頁
そこで、上記の問題点に鑑み、本発明は、LPP式EUV光源装置において、ドロップレットの位置安定性を向上させることにより、放射されるEUV光の強度を安定化することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の1つの観点に係る極端紫外光源装置は、ターゲット物質にレーザ光を照射することによりターゲット物質をプラズマ化して極端紫外光を発生する極端紫外光源装置であって、極端紫外光の生成が行われるチャンバと、ターゲット物質を内部に格納するターゲットタンク、及び、ターゲット物質をジェット状に噴射する噴射ノズルを含み、ターゲット物質をチャンバ内に供給するターゲット供給部と、噴射ノズルを所定の周波数で振動させることにより、噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質をドロップレットに分断する振動機構と、ジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される位置よりも噴射ノズルに近い一端、及び、ジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される位置よりも噴射ノズルから遠い他端を有し、ターゲットタンクとの間に直流電圧が印加され、噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される際にドロップレットを帯電させる帯電電極と、ターゲット物質のドロップレットにレーザ光を照射することによって生されるプラズマから放射される極端紫外光を集光して射出するコレクタミラーとを具備する。
本発明の1つの観点によれば、噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質をドロップレットに分断する振動機構と、噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される際にドロップレットを均一に帯電させる帯電電極を設けたので、帯電電荷によるドロップレット同士の反発力によってドロップレットの間隔を均一にして、放射されるEUV光の強度を安定化することができる。
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。なお、同一の構成要素には同一の参照番号を付して、説明を省略する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る極端紫外(EUV)光源装置を示す模式図である。このEUV光源装置は、LPP(レーザ励起プラズマ)方式を採用しており、露光装置の光源として用いられる。
図1に示すように、本実施形態に係るEUV光源装置は、EUV光の生成が行われる真空チャンバ(EUV光生成チャンバ)9と、ターゲット物質を供給するターゲット供給装置10と、ターゲット物質を内部に格納するターゲットタンク11と、ターゲット物質をジェット状に噴射する噴射ノズル(ノズルユニット)12と、レーザ発振器13と、レーザ集光光学系14と、EUVコレクタミラー15と、ターゲット回収装置16と、振動機構19と、帯電電極20と、電源及び制御部21とを含んでいる。ここで、ターゲット供給装置10〜噴射ノズル12は、ターゲット物質を真空チャンバ9内に供給するターゲット供給部を構成している。
真空チャンバ9には、ターゲット(標的)1を励起してプラズマ2を発生させるためのレーザ光(励起用レーザ光)3を真空チャンバ9内に導入する導入窓17と、プラズマ2から放出されたEUV光4を真空チャンバ9から露光機に導出する導出窓18とが設けられている。なお、EUV光4の出力先である露光機も、真空チャンバ9内と同様の真空(又は減圧)下に設置されている。
ターゲット供給装置10は、ターゲット物質を液体の状態としてターゲットタンク11内に導入し、ターゲットタンク11内に格納されたターゲット物質を、例えば、純アルゴンガス等で加圧することによって、所定の流量で噴射ノズル12に供給する。
ターゲット物質としては、溶融されて液体状態となった錫(Sn)、溶融されて液体状態となったリチウム(Li)、又は、錫酸化物の微粒子をコロイド状にして、メタノール等の揮発性溶媒や水に溶け込ませたもの等が使用される。例えば、錫をターゲット物質として用いる場合には、固体の錫を加熱することにより液化された錫や、錫酸化物の微粒子を含む水溶液等が、噴射ノズル12に供給される。
噴射ノズル12は、供給されたターゲット物質を真空チャンバ9内に噴射する。ターゲット物質は、噴流(ジェット)の状態から、分断されて液滴(ドロップレット)の状態に変化する。所定の周波数でドロップレットを生成するために、噴射ノズル12を所定の周波数で振動させる振動機構(例えば、PZTの振動子)19が設けられている。さらに、ドロップレットとなったターゲット1が励起用レーザ光3の照射位置を通過するように噴射ノズル12の位置を調節する位置調節機構を設けても良い。
レーザ発振器13は、レーザ発振を行うことにより、ターゲット1を照射するための励起用のレーザ光3を射出する。レーザ集光光学系14は、レーザ発振器13から射出されたレーザ光3を集光して、導入窓17を介してターゲット1に照射させる。
EUVコレクタミラー15は、凹状の反射面を有しており、プラズマから発生した光の内の所定の波長成分(例えば、13.5nm±0.135nmのEUV光)を反射して、露光機の方向に集光する。そのために、EUVコレクタミラー15の反射面には、そのような波長成分を選択的に反射するための多層膜(例えば、Mo/Si多層膜)が形成されている。多層膜の層数は、一般的には数十〜数百程度である。なお、EUVコレクタミラー15には、レーザ光3を通過させるための開口が形成されている。
ターゲット回収装置16は、噴射ノズル12から噴射されたにもかかわらずレーザ光3が照射されずにプラズマ発生に寄与しなかったターゲット物質を回収する。それにより、真空チャンバ9内の真空度の低下(圧力上昇)、及び、EUVコレクタミラー15や導入窓17等の汚染を防止している。
このようなEUV光源装置において、ドロップレット状のターゲット1を形成すると共に、レーザ発振を行ってレーザ光3をターゲット1に照射させることにより、プラズマ2が発生する。このプラズマ2から放射された光には、様々な波長成分が様々なエネルギーレベルで含まれている。その内の所定の波長成分(EUV光)が、EUVコレクタミラー15によって露光機の方向に反射集光される。このようにして生成されたEUV光は、露光機において露光光として利用される。
図2は、本発明の第1の実施形態に係るEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。図2に示すように、ターゲット物質は、噴射ノズル12から噴射された直後においてはジェットの状態(ジェット部1a)であるが、噴射ノズル12から所定の距離においてドロップレットの状態(ドロップレット1b)に変化する。
噴射ノズル12の下にドロップレットを帯電させるための帯電電極20が配置され、この帯電電極20と噴射ノズル12から噴出するジェット部1aとの間に電界をかけるために、ターゲットタンク11と帯電電極20との間に一定の直流電圧を印加するための電源及び制御部21が設けられている。本実施形態においては、ターゲットタンク11の電位が接地電位(0V)とされて、帯電電極20に正の直流電圧が印加される。
これにより、ジェット部1aは、電極対の一方の電極として機能することになる。このとき、ジェット部1aの先端には、電極間の電圧に依存した電荷が現れるので、ジェット部1aが均一なドロップレット1bに分断されて行く際に、各ドロップレット1bに帯電する帯電量が極めて均一となる。従って、各ドロップレット1bは、同一の質量と電荷とを持つことになり、電荷による反発力によって、互いの間隔が等間隔に保たれる。
図3は、図2に示すドロップレットターゲット生成装置によって生成されるドロップレットの写真である。ターゲット物質としては、溶融錫が用いられている。この写真は、従来技術の図8における観察地点と同じ観察地点において撮影されており、ドロップレットの帯電によってドロップレットの間隔が等しく保たれていることが分かる。
図2に示す帯電電極20の形状は、円筒状、平行平板状、又は、リング状等とすることができ、本実施形態においては円筒状の帯電電極20が用いられている。また、ジェット部1aからドロップレット1bに変化するドロップレット発生位置は、帯電電極20内に存在することが望ましい。その場合には、以下に説明する理論式に従って、ドロップレット1bへの効率的な帯電が可能となり、簡単な構成と小さな電圧でドロップレット1bの位置安定性を向上させることができる。
図4は、帯電電極によるターゲット物質の帯電を説明するための図である。図4に示すように、帯電電極20の形状が円筒状である場合に、1個のドロップレットの帯電量Qは、同軸コンデンサの電極に現れる電荷の式(1)によって表される。
Q=2πεVv/{f・log(b/a)} ・・・(1)
ここで、εは真空の誘電率であり、Vは帯電電極20に印加される電圧であり、vはターゲットの噴出速度であり、fはドロップレット1bの生成周波数(振動子の振動周波数)であり、aはジェット部1aの直径であり、bは円筒状の帯電電極20の直径(内径)である。
一方、ドロップレット同士の反発力Fは、次式(2)で表される。
F=kQ/L ・・・(2)
ここで、kは比例定数であり、Lはドロップレットの間隔である。ドロップレットの帯電量Qが過剰になると、ドロップレット同士の反発力Fが大きくなりすぎて、進行方向と直交する方向にドロップレットがずれるので、逆にドロップレットの列が崩れてしまう。
例えば、水を使用した実験では、ドロップレットの大きさや間隔によらず、帯電したドロップレット同士の反発力をドロップレットの質量で割った値、即ち、反発力による加速度が500m/s以下の条件においては、ドロップレットの列が崩れずに間隔を維持することが分かった。一方、帯電したドロップレット同士の反発力による加速度が2000m/s以上の条件においては、ドロップレットの列が必ず崩れてしまう。従って、ドロップレットの帯電量は、ドロップレットの間隔が均一になるのに十分な帯電量であって、かつ、隣接するドロップレットが互いに反発しない加速度(実験結果によれば、500m/s程度以下)となるような帯電量でなければならない。
図5は、帯電電極の電圧と、ドロップレット間に発生する加速度の変化との関係を示す図である。図5において、横軸は帯電電極の電圧(kV)を表しており、縦軸はドロップレット同士の反発力による加速度(m/s)を表している。また、パラメータとして、ドロップレットの生成周波数(kHz)をとっている。
図5に示す加速度において、範囲(A)は、ドロップレットの最初の位置ばらつきがその後の位置関係に影響しない安定範囲であり、範囲(B)は、ドロップレットの最初の位置ばらつきによってドロップレットの列が崩れてしまう可能性がある中間範囲であり、範囲(C)は、ドロップレットの最初の位置ばらつきによってドロップレットの列が必ず崩れてしまう不安定範囲である。図5によれば、帯電電極の電圧を1kV以下とすれば、ドロップレットの生成周波数が少なくとも50kHz〜120kHzである場合に、ドロップレット同士の反発力による加速度が安定範囲(A)に入ることが分かる。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
図6は、本発明の第2の実施形態に係るEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。第2の実施形態においては、噴射ノズル12aの少なくとも一部が、電気的に絶縁性を有している。その他の点に関しては、第1の実施形態と同様である。
一般に、噴射ノズルから噴出するジェット部の長さは、実際には極めて短い。例えば、内計15umの噴射ノズルから速度20m/sで噴出するジェットに振動子で振動を加えてドロップレット化した場合のジェット部の長さは、ほとんどの場合に1mm以下である。従って、現実的には、第1の実施形態において説明したような理想的な状態で帯電電極内にドロップレット発生位置を存在させるためには、帯電電極を噴射ノズルに極力近付ける必要がある。
しかしながら、帯電電極に印加される電圧はkVのオーダーであるので、噴射ノズルが導電性を有していると、帯電電極と噴射ノズルとの間に非常に大きな電界が発生してしまう。そこで、第2の実施形態においては、噴射ノズル(ノズルユニット)12aの少なくとも一部、特に、帯電電極20に近接する部分を、セラミック等の絶縁物で構成することによって、帯電電極20を噴射ノズル12aに近付けることを可能としている。
より好ましくは、帯電電極20を噴射ノズル12aの絶縁部分に直接取り付けるようにすれば、帯電電極20に数kVの電圧を印加しても、両者の間で絶縁破壊が生じることがなく、両者の相対的な位置も安定する。その場合には、ターゲットのジェット部1aが短くても、帯電電極20内にドロップレット発生位置を存在させることができるので、第1の実施形態において説明したような理想的な状態で、ドロップレット1bを帯電させることができる。
ちなみに、帯電電極20内にドロップレット発生位置が存在せず、帯電電極20よりも上流側でターゲットがドロップレット化してしまう場合においても、帯電電極20によってドロップレットは帯電する。本実施形態によれば、帯電電極20を噴射ノズル12aに近付けることができるので、そのような場合においてもドロップレットを効率的に帯電させることが可能である。
本発明は、露光装置の光源として用いられる極端紫外(EUV:extreme ultra violet)光源装置に利用することが可能である。
本発明の第1の実施形態に係るEUV光源装置を示す模式図である。 本発明の第1の実施形態に係るEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。 図2に示すドロップレットターゲット生成装置によって生成されるドロップレットの写真である。 帯電電極によるターゲット物質の帯電を説明するための図である。 帯電電極の電圧と、ドロップレット間に発生する加速度の変化との関係を示す図である。 本発明の第2の実施形態に係るEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。 従来のEUV光源装置におけるドロップレットターゲット生成装置とその周辺部を示す図である。 図7に示すドロップレットターゲット生成装置によって生成されるドロップレットの写真である。
符号の説明
1…ターゲット、1a…ジェット部、1b…ドロップレット、2…プラズマ、3…レーザ光、4…EUV光、9…真空チャンバ、10…ターゲット供給装置、11…ターゲットタンク、12、12a…噴射ノズル、13…レーザ発振器、14…レーザ集光光学系、15…EUVコレクタミラー、16…ターゲット回収装置、17…導入窓、18…導出窓、19…振動子、20…帯電電極、21…電源及び制御部

Claims (5)

  1. ターゲット物質にレーザ光を照射することによりターゲット物質をプラズマ化して極端紫外光を発生する極端紫外光源装置であって、
    極端紫外光の生成が行われるチャンバと、
    ターゲット物質を内部に格納するターゲットタンク、及び、ターゲット物質をジェット状に噴射する噴射ノズルを含み、ターゲット物質を前記チャンバ内に供給するターゲット供給部と、
    前記噴射ノズルを所定の周波数で振動させることにより、前記噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質をドロップレットに分断する振動機構と、
    ジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される位置よりも前記噴射ノズルに近い一端、及び、ジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される位置よりも前記噴射ノズルから遠い他端を有し、前記ターゲットタンクとの間に直流電圧が印加され、前記噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される際にドロップレットを帯電させる帯電電極と、
    ターゲット物質のドロップレットにレーザ光を照射することによって生されるプラズマから放射される極端紫外光を集光して射出するコレクタミラーと、
    を具備する極端紫外光源装置。
  2. 前記噴射ノズルの少なくとも一部が、電気的に絶縁性を有し、前記帯電電極が、前記噴射ノズルの絶縁部分に直接取り付けられている、請求項1記載の極端紫外光源装置。
  3. ターゲット物質にレーザ光を照射することによりターゲット物質をプラズマ化して極端紫外光を発生する極端紫外光源装置であって、
    極端紫外光の生成が行われるチャンバと、
    ターゲット物質を内部に格納するターゲットタンク、及び、ターゲット物質をジェット状に噴射する噴射ノズルを含み、ターゲット物質を前記チャンバ内に供給するターゲット供給部と、
    前記噴射ノズルを所定の周波数で振動させることにより、前記噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質をドロップレットに分断する振動機構と、
    前記ターゲットタンクとの間に直流電圧が印加され、前記噴射ノズルから噴射されるジェット状のターゲット物質がドロップレットに分断される際にドロップレットを帯電させる帯電電極と、
    帯電したドロップレット同士の反発力をドロップレットの質量で割った値が500m/s 以下となるように、前記ターゲットタンクと前記帯電電極との間に直流電圧を印加する電源及び制御部と、
    ターゲット物質のドロップレットにレーザ光を照射することによって生成されるプラズマから放射される極端紫外光を集光して射出するコレクタミラーと、
    を具備する極端紫外光源装置。
  4. 帯電したドロップレット同士の反発力をドロップレットの質量で割った値が500m/s 以下となるように、前記ターゲットタンクと前記帯電電極との間に直流電圧を印加する電源及び制御部をさらに具備する、請求項1又は2記載の極端紫外光源装置。
  5. 前記帯電電極が、円筒状、平行平板状、又は、リング状の形状を有する、請求項1〜のいずれか1項記載の極端紫外光源装置。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8653437B2 (en) * 2010-10-04 2014-02-18 Cymer, Llc EUV light source with subsystem(s) for maintaining LPP drive laser output during EUV non-output periods
US8829477B2 (en) 2010-03-10 2014-09-09 Asml Netherlands B.V. Droplet generator with actuator induced nozzle cleaning
US8513629B2 (en) * 2011-05-13 2013-08-20 Cymer, Llc Droplet generator with actuator induced nozzle cleaning
US8158960B2 (en) * 2007-07-13 2012-04-17 Cymer, Inc. Laser produced plasma EUV light source
JP5358060B2 (ja) * 2007-02-20 2013-12-04 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
JP5368221B2 (ja) * 2008-09-16 2013-12-18 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
JP5455661B2 (ja) * 2009-01-29 2014-03-26 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
WO2011013779A1 (ja) * 2009-07-29 2011-02-03 株式会社小松製作所 極端紫外光源装置、極端紫外光源装置の制御方法、およびそのプログラムを記録した記録媒体
WO2011116898A1 (en) 2010-03-25 2011-09-29 Eth Zurich Steering device for controlling the direction and/or velocity of droplets of a target material and extreme euv source with such a steering device
JP5726587B2 (ja) * 2010-10-06 2015-06-03 ギガフォトン株式会社 チャンバ装置
JP5511705B2 (ja) * 2011-02-10 2014-06-04 ギガフォトン株式会社 ターゲット供給装置及び極端紫外光生成装置
JP2015528994A (ja) * 2012-08-01 2015-10-01 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 放射を発生させるための方法及び装置
CN103064260A (zh) * 2012-12-10 2013-04-24 华中科技大学 一种用于极紫外光刻机光源的锡液滴靶产生装置
JP6168797B2 (ja) * 2013-03-08 2017-07-26 ギガフォトン株式会社 極端紫外光生成装置
CN103354694B (zh) * 2013-08-02 2016-06-29 中国科学院光电研究院 一种使用金属液滴帘降低碎屑的方法和装置
US9451683B1 (en) 2015-07-14 2016-09-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Solution for EUV power increment at wafer level
US10149375B2 (en) * 2016-09-14 2018-12-04 Asml Netherlands B.V. Target trajectory metrology in an extreme ultraviolet light source
CN109959647B (zh) * 2019-04-17 2021-08-31 广东省新材料研究所 一种光谱诊断辅助装置
KR20220077739A (ko) 2020-12-02 2022-06-09 삼성전자주식회사 액적 가속 조립체 및 이를 포함하는 EUV(Extreme Ultra-Violet) 리소그래피 장치

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7405416B2 (en) * 2005-02-25 2008-07-29 Cymer, Inc. Method and apparatus for EUV plasma source target delivery
US7465946B2 (en) * 2004-03-10 2008-12-16 Cymer, Inc. Alternative fuels for EUV light source
US7928416B2 (en) * 2006-12-22 2011-04-19 Cymer, Inc. Laser produced plasma EUV light source
US20060255298A1 (en) * 2005-02-25 2006-11-16 Cymer, Inc. Laser produced plasma EUV light source with pre-pulse
US7671349B2 (en) * 2003-04-08 2010-03-02 Cymer, Inc. Laser produced plasma EUV light source
US6855943B2 (en) * 2002-05-28 2005-02-15 Northrop Grumman Corporation Droplet target delivery method for high pulse-rate laser-plasma extreme ultraviolet light source
JP4264505B2 (ja) * 2003-03-24 2009-05-20 独立行政法人産業技術総合研究所 レーザープラズマ発生方法及び装置
DE102004037521B4 (de) * 2004-07-30 2011-02-10 Xtreme Technologies Gmbh Vorrichtung zur Bereitstellung von Targetmaterial für die Erzeugung kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung
JP4496355B2 (ja) * 2005-01-27 2010-07-07 独立行政法人産業技術総合研究所 液滴供給方法および装置
JP4564369B2 (ja) * 2005-02-04 2010-10-20 株式会社小松製作所 極端紫外光源装置
US7449703B2 (en) * 2005-02-25 2008-11-11 Cymer, Inc. Method and apparatus for EUV plasma source target delivery target material handling
JP5156192B2 (ja) * 2006-01-24 2013-03-06 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置
JP4885587B2 (ja) * 2006-03-28 2012-02-29 株式会社小松製作所 ターゲット供給装置
DE102006015640B3 (de) * 2006-03-31 2007-10-04 Xtreme Technologies Gmbh Vorrichtung zur Erzeugung von extrem ultravioletter Strahlung auf Basis einer elektrisch betriebenen Gasentladung
JP5162113B2 (ja) * 2006-08-07 2013-03-13 ギガフォトン株式会社 極端紫外光源装置

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