JP5274281B2 - 電圧測定装置、方法、プログラム、記録媒体およびテスタ - Google Patents

Description

本発明は、電圧発生器の出力電圧の誤差の補正に関する。

従来より、ＬＣＤドライバＩＣなどのＤＵＴ（Device Under Test：被測定物）の出力電圧の測定に、基準電圧発生器を使用することが行われている。例えば、ＤＵＴの出力電圧と、基準電圧発生器の出力電圧との差分を測定する。さらに、基準電圧発生器の出力電圧と差分とを加算して、ＤＵＴの出力電圧を測定する。

なお、基準電圧発生器の出力電圧には誤差（例えば、ゲイン誤差およびオフセット誤差）があるため、誤差を補正することも知られている（例えば、特許文献１の図９のGain調整およびOffset調整を参照）。このような誤差の補正は、基準電圧発生器の出力電圧の誤差が線形であることを前提としている。

特開２０００−６８８３１号公報

しかしながら、基準電圧発生器の出力電圧の誤差は、非線形であることがある。よって、上記のような従来技術によって、基準電圧発生器の出力電圧の誤差を補正しようとしても、正確には誤差を補正できない場合がある。

そこで、本発明は、電圧発生器の出力電圧の誤差を正確に補正することを課題とする。

本発明にかかる電圧測定装置は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記電圧発生器が発生できる全ての前記基準電圧について記録する誤差記録部と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定部と、前記差分測定部の測定結果と、前記誤差記録部に記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出部とを備えるように構成される。

上記のように構成された電圧測定装置によれば、誤差記録部が、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記電圧発生器が発生できる全ての前記基準電圧について記録する。差分測定部が、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する。差分導出部が、前記差分測定部の測定結果と、前記誤差記録部に記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する。

本発明にかかる電圧測定装置は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録部と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定部と、前記差分測定部の測定結果と、前記誤差記録部に記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出部と、を備え、前記誤差記録部は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧のなかから、前記差分測定部による前記差分の測定に使用する前記基準電圧について、前記誤差を記録するように構成される。

上記のように構成された電圧測定装置によれば、誤差記録部が、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する。差分測定部が、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する。差分導出部が、前記差分測定部の測定結果と、前記誤差記録部に記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する。なお、前記誤差記録部は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧のなかから、前記差分測定部による前記差分の測定に使用する前記基準電圧について、前記誤差を記録する。

なお、本発明にかかる電圧測定装置は、前記誤差記録部が、所定長さのビット列の特定の１ビットに、前記基準電圧を対応付けるようにしてもよい。

本発明は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記電圧発生器が発生できる全ての前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備えた電圧測定方法である。

本発明は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備え、前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧のなかから、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧について、前記誤差を記録する電圧測定方法である。

本発明は、電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記電圧測定処理は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記電圧発生器が発生できる全ての前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備えたプログラムである。

本発明は、電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記電圧測定処理は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備え、前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧のなかから、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧について、前記誤差を記録するプログラムである。

本発明は、電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、前記電圧測定処理は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記電圧発生器が発生できる全ての前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備えた記録媒体である。

本発明は、電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、前記電圧測定処理は、複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、を備え、前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧のなかから、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧について、前記誤差を記録する記録媒体である。

本発明にかかるテスタは、本発明にかかる電圧測定装置と、前記電圧発生器とを備えるように構成される。

本発明の実施形態にかかる電圧測定装置１００を有するテスタ１の構成を示すブロック図である。 第一の実施形態にかかる第一誤差記録部１８ａの記録内容（図２（ａ）参照）、第二誤差記録部１８ｂの記録内容（図２（ｂ）参照）を示す図である。 第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂの出力電圧の波形を示す図である。 第一の実施形態にかかる第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧の波形を示す図である。 第二の実施形態にかかる第一誤差記録部１８ａの記録内容（図５（ａ）参照）、第二誤差記録部１８ｂの記録内容（図５（ｂ）参照）を示す図である。 第二の実施形態にかかる第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧の波形を示す図である。 基準電圧を、所定長さ（例えば４ビット）のビット列の特定の１ビットに対応付けて記録した場合の、第一誤差記録部１８ａの記録内容の一例を示す図である。

以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。

第一の実施形態
図１は、本発明の実施形態にかかる電圧測定装置１００を有するテスタ１の構成を示すブロック図である。テスタ１は、ＬＣＤドライバＩＣ２の出力電圧を測定するためのものである。ＬＣＤドライバＩＣ２は、ＤＵＴ（Device Under Test：被測定物）の一種である。ＬＣＤドライバＩＣ２は、複数の出力ピンを有する。ここで、ＬＣＤドライバＩＣの出力ピンを二つのグループに分け、第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂという。

テスタ１は、第一基準電圧発生器１０ａ、第二基準電圧発生器１０ｂ、高精度電圧測定器１１、第一減算器１２ａ、第二減算器１２ｂ、アンプ１４ａ、１４ｂ、第一スイッチ２０ａ、第二スイッチ２０ｂ、電圧測定装置１００を備える。

第一基準電圧発生器１０ａは、複数種類の値の電圧を発生する。例えば、第一基準電圧発生器１０ａは、５種類の値の電圧を発生する。第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき電圧を基準電圧という。基準電圧を、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2と表記する。ただし、V₊₂＞V₊₁＞V₀＞V_-1＞V_-2である。ここで、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧は、基準電圧と誤差がある。この誤差は、基準電圧V₊₂の場合は+a5である（実際の電圧＝V₊₂+a5）。同様に、誤差は、基準電圧がV₊₁、V₀、V_-1、V_-2の場合は、それぞれ、+a4、+a3、+a2、+a1であり、実際の電圧が、V₊₁+a4、V₀+a3、V_-1+a2、V_-2+a1となる。

第二基準電圧発生器１０ｂは、第一基準電圧発生器１０ａと同様なものである。ただし、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と、基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との誤差が、第一基準電圧発生器１０ａとは異なる。第二基準電圧発生器１０ｂにおける誤差は、基準電圧がV₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2の場合は、それぞれ、+b5、+b4、+b3、+b2、+b1であり、実際の電圧が、V₊₂+b5、V₊₁+b4、V₀+b3、V_-1+b2、V_-2+b1となる。

高精度電圧測定器１１は、第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を測定するための高精度な電圧測定器である。

第一減算器１２ａは、第一ピングループ２ａのうちのいずれか一本のピンの出力電圧と、第一基準電圧発生器１０ａの出力する実際の電圧とを受ける。第一減算器１２ａは、さらに、前者から後者を減じたものを出力する。

第二減算器１２ｂは、第二ピングループ２ｂのうちのいずれか一本のピンの出力電圧と、第二基準電圧発生器１０ｂの出力する実際の電圧とを受ける。第二減算器１２ｂは、さらに、前者から後者を減じたものを出力する。

アンプ１４ａ、１４ｂは、それぞれ、第一減算器１２ａ、１２ｂの出力を増幅する。

電圧測定装置１００は、第一誤差記録部１８ａ、第二誤差記録部１８ｂ、第一差分測定部１６ａ、第二差分測定部１６ｂ、第一差分導出部１７ａ、第二差分導出部１７ｂを有する。

図２は、第一の実施形態にかかる第一誤差記録部１８ａの記録内容（図２（ａ）参照）、第二誤差記録部１８ｂの記録内容（図２（ｂ）参照）を示す図である。

第一誤差記録部１８ａは、図２（ａ）を参照して、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧と、発生すべき基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との誤差+a5、+a4、+a3、+a2、+a1を、第一基準電圧発生器１０ａが発生できる全ての５種類の基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2について記録する。

第二誤差記録部１８ｂは、図２（ｂ）を参照して、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と、発生すべき基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との誤差+b5、+b4、+b3、+b2、+b1を、第二基準電圧発生器１０ｂが発生できる全ての５種類の基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2について記録する。

第一差分測定部１６ａは、アンプ１４ａの出力を受け、被測定物であるＬＣＤドライバＩＣ２の第一ピングループ２ａの出力電圧と、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧との差分を測定する。

第二差分測定部１６ｂは、アンプ１４ｂの出力を受け、被測定物であるＬＣＤドライバＩＣ２の第二ピングループ２ｂの出力電圧と、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧との差分を測定する。

第一差分導出部１７ａは、第一差分測定部１６ａの測定結果と、第一誤差記録部１８ａに記録された誤差とを加算して、第一ピングループ２ａの出力電圧と基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との差分を導出する。この差分と、基準電圧とを加算すれば、第一ピングループ２ａの出力電圧を導出することができる。

第二差分導出部１７ｂは、第二差分測定部１６ｂの測定結果と、第二誤差記録部１８ｂに記録された誤差とを加算して、第二ピングループ２ｂの出力電圧と基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との差分を導出する。この差分と、基準電圧とを加算すれば、第二ピングループ２ｂの出力電圧を導出することができる。

第一スイッチ２０ａは、第一基準電圧発生器１０ａを、高精度電圧測定器１１または第一減算器１２ａに接続する。

第二スイッチ２０ｂは、第二基準電圧発生器１０ｂを、高精度電圧測定器１１または第二減算器１２ｂに接続する。

次に、第一の実施形態の動作を説明する。

まず、第一スイッチ２０ａを介して、第一基準電圧発生器１０ａを高精度電圧測定器１１と接続する。高精度電圧測定器１１は、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との誤差を測定する。この誤差は、第一誤差記録部１８ａに記録される（図２（ａ）参照）。

次に、第二スイッチ２０ｂを介して、第二基準電圧発生器１０ｂを高精度電圧測定器１１に接続する。高精度電圧測定器１１は、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2との誤差を測定する。この誤差は、第二誤差記録部１８ｂに記録される（図２（ｂ）参照）。

その後、ＬＣＤドライバＩＣ２の第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂからの出力電圧の測定を並行して行う。この場合、第一スイッチ２０ａを介して、第一基準電圧発生器１０ａを第一減算器１２ａと接続する。さらに、第二スイッチ２０ｂを介して、第二基準電圧発生器１０ｂを第二減算器１２ｂに接続する。

図３は、第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂの出力電圧の波形を示す図である。第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂの出力電圧が基準電圧と一致しているものとする。具体的には、第一ピングループ２ａの出力電圧は、時間ｔごとに、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀と変化していく。第二ピングループ２ｂの出力電圧は、時間ｔごとに、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀と変化していく。

図４は、第一の実施形態にかかる第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧の波形を示す図である。

第一ピングループ２ａの出力電圧と同様に、時間ｔごとに、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀と変化させていく。すると、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧が、時間ｔごとに、V₀+a3、V₊₁+a4、V₊₂+a5、V₊₁+a4、V₀+a3、V_-1+a2、V_-2+a1、V_-1+a2、V₀+a3と変化していく。

第二ピングループ２ｂの出力電圧と同様に、時間ｔごとに、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀と変化させていく。すると、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧が、時間ｔごとに、V₀+b3、V_-1+b2、V_-2+b1、V_-1+b2、V₀+b3、V₊₁+b4、V₊₂+b5、V₊₁+b4、V₀+b3と変化していく。

第一減算器１２ａは、第一ピングループ２ａのうちのいずれか一本のピンの出力電圧から、第一基準電圧発生器１０ａの出力する実際の電圧を減じたものを出力する。

第一減算器１２ａの出力は、時間ｔごとに、−a3、−a4、−a5、−a4、−a3、−a2、−a1、−a2、−a3と変化していく。第一差分測定部１６ａは、第一減算器１２ａの出力を、アンプ１４ａを介して受け、第一ピングループ２ａの出力電圧と、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧との差分を測定する。測定結果は、上述のように、時間ｔごとに、−a3、−a4、−a5、−a4、−a3、−a2、−a1、−a2、−a3と変化していく。

もし、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差が無ければ、第一差分測定部１６ａの測定結果に、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を加算すれば、第一ピングループ２ａの出力電圧が導出できる。

しかし、誤差が実際には存在するので、第一差分測定部１６ａの測定結果に、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を加算しても、V₀−a3、V₊₁−a4、V₊₂−a5、V₊₁−a4、V₀−a3、V_-1−a2、V_-2−a1、V_-1−a2、V₀−a3となり、第一ピングループ２ａの出力電圧とはならない。

そこで、第一差分導出部１７ａにより、第一差分測定部１６ａの測定結果（時間ｔごとに、−a3、−a4、−a5、−a4、−a3、−a2、−a1、−a2、−a3と変化している）と、第一誤差記録部１８ａに記録された誤差とを加算する。ただし、第一差分導出部１７ａは、第一誤差記録部１８ａから、基準電圧に対応した誤差を読み出す。ここで、時間ｔごとに、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀と変化させているため、第一差分導出部１７ａが第一誤差記録部１８ａから読み出す誤差も、時間ｔごとに、+a3、+a4、+a5、+a4、+a3、+a2、+a1、+a2、+a3と変化している。すると、時間ｔごとに、第一差分導出部１７ａの導出結果は、−a3+a3=0、−a4+a4=0、…となる。すなわち、第一差分導出部１７ａの導出結果は、全て０となる。これは、第一ピングループ２ａの出力電圧と基準電圧との差分が０であることを意味する。第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀と変化させていることは既知であるため、第一ピングループ２ａの出力電圧がV₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀と変化していることがわかる。

第二減算器１２ｂは、第二ピングループ２ｂのうちのいずれか一本のピンの出力電圧から、第二基準電圧発生器１０ｂの出力する実際の電圧を減じたものを出力する。

第二減算器１２ｂの出力は、時間ｔごとに、−b3、−b2、−b1、−b2、−b3、−b4、−b5、−b4、−b3と変化していく。第二差分測定部１６ｂは、第二減算器１２ｂの出力を、アンプ１４ｂを介して受け、第二ピングループ２ｂの出力電圧と、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧との差分を測定する。測定結果は、上述のように、時間ｔごとに、−b3、−b2、−b1、−b2、−b3、−b4、−b5、−b4、−b3と変化していく。

もし、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差が無ければ、第二差分測定部１６ｂの測定結果に、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を加算すれば、第二ピングループ２ｂの出力電圧が導出できる。

しかし、誤差が実際には存在するので、第二差分測定部１６ｂの測定結果に、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を加算しても、V₀−b3、V_-1−b2、V_-2−b1、V_-1−b2、V₀−b3、V₊₁−b4、V₊₂−b5、V₊₁−b4、V₀−b3となり、第二ピングループ２ｂの出力電圧とはならない。

そこで、第二差分導出部１７ｂにより、第二差分測定部１６ｂの測定結果（時間ｔごとに、−b3、−b2、−b1、−b2、−b3、−b4、−b5、−b4、−b3と変化している）と、第二誤差記録部１８ｂに記録された誤差とを加算する。ただし、第二差分導出部１７ｂは、第二誤差記録部１８ｂから、基準電圧に対応した誤差を読み出す。ここで、時間ｔごとに、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀と変化させているため、第二差分導出部１７ｂが第二誤差記録部１８ｂから読み出す誤差も、時間ｔごとに、+b3、+b2、+b1、+b2、+b3、+b4、+b5、+b4、+b3と変化している。すると、時間ｔごとに、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、−b3+b3=0、−b2+b2=0、…となる。すなわち、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、全て０となる。これは、第二ピングループ２ｂの出力電圧と基準電圧との差分が０であることを意味する。第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を、V₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀と変化させていることは既知であるため、第二ピングループ２ｂの出力電圧がV₀、V_-1、V_-2、V_-1、V₀、V₊₁、V₊₂、V₊₁、V₀と変化していることがわかる。

第一の実施形態によれば、第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生できる全ての基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2について、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂに、誤差が記録されており（図２参照）、それが第一差分導出部１７ａおよび第二差分導出部１７ｂにより補正されるので、第一差分測定部１６ａおよび第二差分測定部１６ｂの測定の正確な補正が可能である。

第二の実施形態
第二の実施形態は、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂが、第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生できる基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2のなかから、第一差分測定部１６ａおよび第二差分測定部１６ｂによる差分の測定に使用する基準電圧V₊₂、V₀、V_-2についてのみ、誤差を記録する点が、第一の実施形態と異なる。

第二の実施形態にかかる電圧測定装置１００を有するテスタ１の構成は、第一の実施形態と同様である（図１参照）。

図５は、第二の実施形態にかかる第一誤差記録部１８ａの記録内容（図５（ａ）参照）、第二誤差記録部１８ｂの記録内容（図５（ｂ）参照）を示す図である。

第一誤差記録部１８ａは、図５（ａ）を参照して、第一基準電圧発生器１０ａが発生できる基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2のなかから、第一差分測定部１６ａによる差分の測定に使用する基準電圧V₊₂、V₀、V_-2について、誤差を記録する。

第二誤差記録部１８ｂは、図５（ｂ）を参照して、第二基準電圧発生器１０ｂが発生できる基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2のなかから、第二差分測定部１６ｂによる差分の測定に使用する基準電圧V₊₂、V₀、V_-2について、誤差を記録する。

第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂの記録内容以外のテスタ１の構成は、第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。

次に、第二の実施形態の動作を説明する。

まず、第一スイッチ２０ａを介して、第一基準電圧発生器１０ａを高精度電圧測定器１１と接続する。高精度電圧測定器１１は、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧V₊₂、V₀、V_-2との誤差を測定する。この誤差は、第一誤差記録部１８ａに記録される（図５（ａ）参照）。なお、基準電圧V₊₁およびV_-1については、誤差を測定しない。

次に、第二スイッチ２０ｂを介して、第二基準電圧発生器１０ｂを高精度電圧測定器１１に接続する。高精度電圧測定器１１は、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧V₊₂、V₀、V_-2との誤差を測定する。この誤差は、第二誤差記録部１８ｂに記録される（図５（ｂ）参照）。なお、基準電圧V₊₁およびV_-1については、誤差を測定しない。

その後、ＬＣＤドライバＩＣ２の第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂからの出力電圧の測定を並行して行う。この場合、第一スイッチ２０ａを介して、第一基準電圧発生器１０ａを第一減算器１２ａと接続する。さらに、第二スイッチ２０ｂを介して、第二基準電圧発生器１０ｂを第二減算器１２ｂに接続する。

第一ピングループ２ａおよび第二ピングループ２ｂの出力電圧の波形は、第一の実施形態と同様であり、説明を省略する（図３参照）。

図６は、第二の実施形態にかかる第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧の波形を示す図である。

時間２ｔごとに、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を、V₀、V₊₂、V₀、V_-2、V₀と変化させていく。すると、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧が、時間２ｔごとに、V₀+a3、V₊₂+a5、V₀+a3、V_-2+a1、V₀+a3と変化していく。

時間２ｔごとに、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を、V₀、V_-2、V₀、V₊₂、V₀と変化させていく。すると、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧が、時間２ｔごとに、V₀+b3、V_-2+b1、V₀+b3、V₊₂+b5、V₀+b3と変化していく。

図６に示すように、第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂは、発生可能な５種類の値の電圧（基準電圧V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2に対応）のうち、３種類（基準電圧V₊₂、V₀、V_-2に対応）しか発生しない。また、第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生する電圧は、第一差分測定部１６ａおよび第二差分測定部１６ｂによる差分の測定に使用される。よって、第一差分測定部１６ａおよび第二差分測定部１６ｂによる差分の測定に使用される基準電圧（第一基準電圧発生器１０ａおよび第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき電圧）は、V₊₂、V₀、V_-2である。

第一減算器１２ａは、第一ピングループ２ａのうちのいずれか一本のピンの出力電圧から、第一基準電圧発生器１０ａの出力する実際の電圧を減じたものを出力する。

第一減算器１２ａの出力は、時間ｔごとに、−a3、V₊₁−V₀−a3、−a5、V₊₁−V₊₂−a5、−a3、V_-1−V₀−a3、−a1、V_-1−V_-2−a1、−a3と変化していく。第一差分測定部１６ａは、第一減算器１２ａの出力を、アンプ１４ａを介して受け、第一ピングループ２ａの出力電圧と、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧との差分を測定する。測定結果は、上述のように、時間ｔごとに、−a3、V₊₁−V₀−a3、−a5、V₊₁−V₊₂−a5、−a3、V_-1−V₀−a3、−a1、V_-1−V_-2−a1、−a3と変化していく。なお、第一差分測定部１６ａの測定結果として挙げたこれらの値は、第一差分測定部１６ａの測定できる範囲内となるように、基準電圧V₊₁、V₀などを調整しておく。

もし、第一基準電圧発生器１０ａが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差が無ければ、第一差分測定部１６ａの測定結果に、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を加算すれば、第一ピングループ２ａの出力電圧が導出できる。

しかし、誤差が実際には存在するので、第一差分測定部１６ａの測定結果に、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を加算しても、第一ピングループ２ａの出力電圧とはならない。

例えば、時間０〜ｔにおいては、第一差分測定部１６ａの測定結果が−a3、基準電圧がV₀であるので、両者を加算すると、V₀−a3となる。これは、第一ピングループ２ａの出力電圧V₀（時間０〜ｔ）とは異なる。また、例えば、時間ｔ〜２ｔにおいては、第一差分測定部１６ａの測定結果がV₊₁−V₀−a3、基準電圧がV₀であるので、両者を加算すると、V₊₁−a3となる。これは、第一ピングループ２ａの出力電圧V₊₁（時間ｔ〜２ｔ）とは異なる。

そこで、第一差分導出部１７ａにより、第一差分測定部１６ａの測定結果（時間ｔごとに、−a3、V₊₁−V₀−a3、−a5、V₊₁−V₊₂−a5、−a3、V_-1−V₀−a3、−a1、V_-1−V_-2−a1、−a3と変化している）と、第一誤差記録部１８ａに記録された誤差とを加算する。ただし、第一差分導出部１７ａは、第一誤差記録部１８ａから、基準電圧に対応した誤差を読み出す。ここで、時間２ｔごとに、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧を、V₀、V₊₂、V₀、V_-2、V₀と変化させているため、第一差分導出部１７ａが第一誤差記録部１８ａから読み出す誤差も、時間２ｔごとに、+a3、+a5、+a3、+a1、+a3と変化している。

すると、時間ｔごとに、第一差分導出部１７ａの導出結果は、変化していく。例えば、時間０〜ｔにおいては、第一差分測定部１６ａの測定結果が−a3、誤差が+a3であるので、第一差分導出部１７ａの導出結果は、−a3+a3=0となる。時間ｔ〜２ｔにおいては、第一差分測定部１６ａの測定結果がV₊₁−V₀−a3、誤差が+a3であるので、第一差分導出部１７ａの導出結果は、V₊₁−V₀−a3+a3=V₊₁−V₀となる。時間２ｔ以降は、第一差分導出部１７ａの導出結果は、時間ｔごとに、−a5+a5=0、V₊₁−V₊₂−a5+a5=V₊₁−V₊₂、−a3+a3=0、V_-1−V₀−a3+a3=V_-1−V₀、−a1+a1=0、V_-1−V_-2−a1+a1=V_-1−V_-2、−a3+a3=0と変化していく。

よって、第一差分導出部１７ａの導出結果に、第一基準電圧発生器１０ａが発生すべき基準電圧（時間２ｔごとにV₀、V₊₂、V₀、V_-2、V₀と変化していく）を加算すれば、第一ピングループ２ａの出力電圧を求めることができる。

例えば、時間０〜ｔにおいては、第一差分導出部１７ａの導出結果が0、基準電圧がV₀であるので、第一ピングループ２ａの出力電圧は、V₀+0=V₀であることがわかる。時間ｔ〜２ｔにおいては、第一差分導出部１７ａの導出結果がV₊₁−V₀、基準電圧がV₀であるので、第一ピングループ２ａの出力電圧は、V₀+V₊₁−V₀=V₊₁であることがわかる。時間２ｔ以降は、第一ピングループ２ａの出力電圧が、V₊₂+0=V₊₂、V₊₂+V₊₁−V₊₂=V₊₁、V₀+0=V₀、V₀+V_-1−V₀=V_-1、V_-2+0=V_-2、V_-2+V_-1−V_-2=V_-1、V₀+0=V₀と、時間ｔごとに変化していくことがわかる。

第二減算器１２ｂは、第二ピングループ２ｂのうちのいずれか一本のピンの出力電圧から、第二基準電圧発生器１０ｂの出力する実際の電圧を減じたものを出力する。

第二減算器１２ｂの出力は、時間ｔごとに、−b3、V_-1−V₀−b3、−b1、V_-1−V_-2−b1、−b3、V₊₁−V₀−b3、−b5、V₊₁−V₊₂−b5、−b3と変化していく。第二差分測定部１６ｂは、第二減算器１２ｂの出力を、アンプ１４ｂを介して受け、第二ピングループ２ｂの出力電圧と、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧との差分を測定する。測定結果は、上述のように、時間ｔごとに、−b3、V_-1−V₀−b3、−b1、V_-1−V_-2−b1、−b3、V₊₁−V₀−b3、−b5、V₊₁−V₊₂−b5、−b3と変化していく。なお、第二差分測定部１６ｂの測定結果として挙げたこれらの値は、第二差分測定部１６ｂの測定できる範囲内となるように、基準電圧V_-1、V₀などを調整しておく。

もし、第二基準電圧発生器１０ｂが発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差が無ければ、第二差分測定部１６ｂの測定結果に、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を加算すれば、第二ピングループ２ｂの出力電圧が導出できる。

しかし、誤差が実際には存在するので、第二差分測定部１６ｂの測定結果に、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を加算しても、第二ピングループ２ｂの出力電圧とはならない。

例えば、時間０〜ｔにおいては、第二差分測定部１６ｂの測定結果が−b3、基準電圧がV₀であるので、両者を加算すると、V₀−b3となる。これは、第二ピングループ２ｂの出力電圧V₀（時間０〜ｔ）とは異なる。また、例えば、時間ｔ〜２ｔにおいては、第二差分測定部１６ｂの測定結果がV_-1−V₀−b3、基準電圧がV₀であるので、両者を加算すると、V_-1−b3となる。これは、第二ピングループ２ｂの出力電圧V_-1（時間ｔ〜２ｔ）とは異なる。

そこで、第二差分導出部１７ｂにより、第二差分測定部１６ｂの測定結果（時間ｔごとに、−b3、V_-1−V₀−b3、−b1、V_-1−V_-2−b1、−b3、V₊₁−V₀−b3、−b5、V₊₁−V₊₂−b5、−b3と変化している）と、第二誤差記録部１８ｂに記録された誤差とを加算する。ただし、第二差分導出部１７ｂは、第二誤差記録部１８ｂから、基準電圧に対応した誤差を読み出す。ここで、時間２ｔごとに、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧を、V₀、V_-2、V₀、V₊₂、V₀と変化させているため、第二差分導出部１７ｂが第二誤差記録部１８ｂから読み出す誤差も、時間２ｔごとに、+b3、+b1、+b3、+b5、+b3と変化している。

すると、時間ｔごとに、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、変化していく。例えば、時間０〜ｔにおいては第二差分測定部１６ｂの測定結果が−b3、誤差が+b3であるので、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、−b3+b3=0となる。時間ｔ〜２ｔにおいては、第二差分測定部１６ｂの測定結果がV_-1−V₀−b3、誤差が+b3であるので、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、V_-1−V₀−b3+b3=V_-1−V₀となる。時間２ｔ以降は、第二差分導出部１７ｂの導出結果は、時間ｔごとに、−b1+b1=0、V_-1−V_-2−b1+b1=V_-1−V_-2、−b3+b3=0、V₊₁−V₀−b3+b3=V₊₁−V₀、−b5+b5=0、V₊₁−V₊₂−b5+b5=V₊₁−V₊₂、−b3+b3=0と変化していく。

よって、第二差分導出部１７ｂの導出結果に、第二基準電圧発生器１０ｂが発生すべき基準電圧（時間２ｔごとにV₀、V_-2、V₀、V₊₂、V₀と変化していく）を加算すれば、第二ピングループ２ｂの出力電圧を求めることができる。

例えば、時間０〜ｔにおいては、第二差分導出部１７ｂの導出結果が0、基準電圧がV₀であるので、第二ピングループ２ｂの出力電圧は、V₀+0=V₀であることがわかる。時間ｔ〜２ｔにおいては、第二差分導出部１７ｂの導出結果がV_-1−V₀、基準電圧がV₀であるので、第二ピングループ２ｂの出力電圧は、V₀+V_-1−V₀=V_-1であることがわかる。時間２ｔ以降は、第二ピングループ２ｂの出力電圧が、V_-2+0=V_-2、V_-2+V_-1−V_-2=V_-1、V₀+0=V₀、V₀+V₊₁−V₀=V₊₁、V₊₂+0=V₊₂、V₊₂+V₊₁−V₊₂=V₊₁、V₀+0=V₀と時間ｔごとに変化していくことがわかる。

第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。しかも、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂは、第一差分測定部１６ａおよび第二差分測定部１６ｂによる差分の測定に使用する基準電圧V₊₂、V₀、V_-2についてのみ、誤差を記録すればよい。よって、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂが記録すべきデータの大きさを、第一の実施形態の場合（基準電圧V₊₂、V₀、V_-2についてのみならず、基準電圧V₊₁およびV_-1についても誤差を記録する必要あり）と比べて小さくできる。

なお、第一および第二の実施形態においては、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂは、基準電圧に対応づけて誤差を記録している（図２、図５参照）。ここで、第一誤差記録部１８ａおよび第二誤差記録部１８ｂにおいて、基準電圧を、所定長さ（例えば４ビット）のビット列の特定の１ビットに対応付けて記録しておくようにしてもよい。

図７は、基準電圧を、所定長さ（例えば４ビット）のビット列の特定の１ビットに対応付けて記録した場合の、第一誤差記録部１８ａの記録内容の一例を示す図である。なお、図７においては、第一誤差記録部１８ａが、基準電圧V₊₁、V₀、V_-1、V_-2に対応づけて、誤差+a4、+a3、+a2、+a1を記録する場合を想定している。

図７を参照して、第一誤差記録部１８ａは、基準電圧V₊₁にMSB(Most Significant Bit：最上位ビット)の１を対応付けて、その１ビットを記録し、基準電圧V₊₁の値を記録しない。第一誤差記録部１８ａは、基準電圧V₀に、最上位ビットよりも一つ下の桁のビットの１を対応付けて、その１ビットを記録し、基準電圧V₀の値を記録しない。第一誤差記録部１８ａは、基準電圧V_-1に、最上位ビットよりも二つ下の桁のビットの１を対応付けて、その１ビットを記録し、基準電圧V_-1の値を記録しない。第一誤差記録部１８ａは、基準電圧V_-2に、LSB(Least Significant
Bit：最下位ビット)の１を対応付けて、その１ビットを記録し、基準電圧V_-2の値を記録しない。

図７に示すような記録内容によれば、基準電圧を記録するためのデータの大きさを小さくすることができる。

また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータに、上記の各部分、例えば電圧測定装置１００を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。

１ テスタ
２ ＬＣＤドライバＩＣ
２ａ 第一ピングループ
２ｂ 第二ピングループ
１０ａ 第一基準電圧発生器
１０ｂ 第二基準電圧発生器
１１ 高精度電圧測定器
１２ａ 第一減算器
１２ｂ 第二減算器
１４ａ、１４ｂ アンプ
２０ａ 第一スイッチ
２０ｂ 第二スイッチ
１００ 電圧測定装置
１８ａ 第一誤差記録部
１８ｂ 第二誤差記録部
１６ａ 第一差分測定部
１６ｂ 第二差分測定部
１７ａ 第一差分導出部
１７ｂ 第二差分導出部
V₊₂、V₊₁、V₀、V_-1、V_-2 基準電圧
+a5、+a4、+a3、+a2、+a1 誤差
+b5、+b4、+b3、+b2、+b1 誤差

Claims (6)

1. 複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録部と、
   被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定部と、
   前記差分測定部の測定結果と、前記誤差記録部に記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出部と、
   を備え、
   前記誤差記録部は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧の一部分である、前記差分測定部による前記差分の測定に使用する前記基準電圧の全てについて、前記誤差を記録する、
   電圧測定装置。
2. 請求項１に記載の電圧測定装置であって、
   前記誤差記録部は、所定長さのビット列の特定の１ビットに、前記基準電圧を対応付ける、
   電圧測定装置。
3. 複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、
   被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、
   前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、
   を備え、
   前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧の一部分である、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧の全てについて、前記誤差を記録する、
   電圧測定方法。
4. 電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
   前記電圧測定処理は、
   複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、
   被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、
   前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、
   を備え、
   前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧の一部分である、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧の全てについて、前記誤差を記録する、
   プログラム。
5. 電圧測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
   前記電圧測定処理は、
   複数種類の値の電圧を発生する電圧発生器が発生する実際の電圧と発生すべき基準電圧との誤差を、前記基準電圧について記録する誤差記録工程と、
   被測定物の出力電圧と、前記実際の電圧との差分を測定する差分測定工程と、
   前記差分測定工程の測定結果と、前記誤差記録工程により記録された前記誤差とを加算して、前記出力電圧と前記基準電圧との差分を導出する差分導出工程と、
   を備え、
   前記誤差記録工程は、前記電圧発生器が発生できる前記基準電圧の一部分である、前記差分測定工程による前記差分の測定に使用する前記基準電圧の全てについて、前記誤差を記録する、
   記録媒体。
6. 請求項１に記載の電圧測定装置と、
   前記電圧発生器と、
   を備えたテスタ。

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