JP5260854B2 - 多数の電荷蓄積素子を有するct検出器フォトダイオード - Google Patents
多数の電荷蓄積素子を有するct検出器フォトダイオード Download PDFInfo
- Publication number
- JP5260854B2 JP5260854B2 JP2006301405A JP2006301405A JP5260854B2 JP 5260854 B2 JP5260854 B2 JP 5260854B2 JP 2006301405 A JP2006301405 A JP 2006301405A JP 2006301405 A JP2006301405 A JP 2006301405A JP 5260854 B2 JP5260854 B2 JP 5260854B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- charge storage
- ray source
- view
- ray
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 56
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 26
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000013170 computed tomography imaging Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000003530 single readout Methods 0.000 description 2
- CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-(2,6-diethylphenyl)-n-(methoxymethyl)acetamide;2,6-dinitro-n,n-dipropyl-4-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl.CCCN(CCC)C1=C([N+]([O-])=O)C=C(C(F)(F)F)C=C1[N+]([O-])=O CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20184—Detector read-out circuitry, e.g. for clearing of traps, compensating for traps or compensating for direct hits
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20182—Modular detectors, e.g. tiled scintillators or tiled photodiodes
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Public Health (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Description
12 ガントリ
14 X線源
16 X線のファン・ビーム
18 検出器アレイ
20 複数の検出器モジュール
22 患者
24 回転中心
26 制御機構
28 X線制御器
30 ガントリ・モータ制御器
32 データ取得システム(DAS)
34 画像再構成器
36 コンピュータ
38 大容量記憶装置
40 コンソールを介した操作者
42 表示器
44 テーブル・モータ制御器
46 電動式テーブル
48 ガントリ開口
50 複数のシンチレータ
52 ピクセル・アレイ
54 複数のピクセル
56 検出器フレーム
58 装着ブラケット
60 回路
62 ピクセル
64 FETスイッチ
66 要素
68 第二のピクセル
70 FET
72 要素
74 半導体基材
76 導電性接続
78 表面
80 工程
82 X線源を配置する
84 ダイオード・アレイの各々のフォトダイオードの第一のキャパシタに電荷を積算する
86 X線源を揺動させる
88 第一のキャパシタから電荷を読み出す
90 ダイオード・アレイの各々のフォトダイオードの第二のキャパシタに電荷を積算する
92 第二のキャパシタから電荷を読み出す
94 X線源を次のビュー位置へ移動させる
96 キャパシタをリセットする
98 読み出し増幅器
100 小荷物/手荷物検査システム
102 回転式ガントリ
104 開口
106 X線源
108 検出器アセンブリ
110 コンベヤ・システム
112 コンベヤ・ベルト
114 構造
116 小荷物又は手荷物
Claims (12)
- CTシステムであって、
1つのビューにおいて、第一のX線源位置から第二のX線源位置に焦点スポットを交互に揺動することができるX線源と、
複数のピクセルのアレイと、前記複数のピクセルのアレイに対して光を放出するように構成されている複数のシンチレータとを備えるX線検出器であって、各ピクセルが前記ピクセルの表面に配置された第一及び第二の電荷蓄積素子を有し、前記第一の電荷蓄積素子は前記焦点スポットが前記第一のX線源位置に揺動されたときに対応するピクセルで生成された電荷を受けるように構成され、前記第二の電荷蓄積素子は前記焦点スポットが前記第二のX線源位置に揺動されたときに対応するピクセルで生成された電荷を受けるように構成される、前記X線検出器と、
前記複数のピクセルのアレイから電気信号を受信するように接続されているDASと、
前記第一及び第二の電荷蓄積素子の一方のみが任意の一時刻に電荷を収集するように、各々のピクセルの前記第一及び第二の電荷蓄積素子を前記DASに交互に接続するコントローラと、
を備えたCTシステム。 - 前記複数のピクセルのアレイは、前面照射型ダイオードを備えている、請求項1に記載のCTシステム。
- 前記X線源と、前記コントローラとを有するガントリを更に備え、
前記コントローラは更に、
データ取得を所定数の連続ビューに分割し、
各々のビューを第一及び第二のビュー切片に分割し、
前記第一のビュー切片を取得のために前記X線源を第一のビュー位置に位置付け、
前記第二のビュー切片を取得のために前記X線源を第二のビュー位置に揺動するように構成されている、請求項1または2に記載のCTシステム。 - 前記コントローラは更に、前記第一のビュー切片のために前記第一の電荷蓄積素子を電荷蓄積状態にし、前記第二のビュー切片のために前記第二の電荷蓄積素子を電荷蓄積状態にするように構成されている、請求項3に記載のCTシステム。
- 複数の収集ビュー間で前記第一及び第二の電荷蓄積素子をリセットするように構成されている単一のスイッチ(S5)を含む、請求項1乃至4のいずれかに記載のCTシステム。
- 導電性接続(76)を介して前記第一の電荷蓄積素子と前記DASとを接続する第1のスイッチ(S1)と、
前記導電性接続(76)を介して前記第二の電荷蓄積素子と前記DASとを接続する第2のスイッチ(S2)と、
前記第1及び第2のスイッチ(S1、S2)が配置されるシリコン基材(74)と、
を備え、
前記導電性接続(76)が前記シリコン基材(74)を貫通する、請求項1乃至5のいずれかに記載のCTシステム。 - X線システムであって、
第一のX線源位置と第二のX線源位置との間で焦点スポットが揺動可能なX線源と、
前記X線源から照射され、物体を通過したX線を受けるように構成されたシンチレータと、
前記シンチレータから放出された光を電荷に変換する光変換素子であって、該光変換素子は、前記焦点スポットが前記第一のX線源位置にあるときに、前記シンチレータから放出される光に対応する第一の量の光による第一の電荷を生成し、前記焦点スポットが前記第二のX線源位置にあるときに、前記シンチレータから放出される光に対応する第二の量の光による第二の電荷を生成するように構成されている、前記光変換素子と、
1以上のスイッチを介して前記光変換素子に接続され、前記第一の電荷を積分するように構成された第一の電荷蓄積素子と、
前記1以上のスイッチを介して前記光変換素子に接続され、前記第二の電荷を積分するように構成された第二の電荷蓄積素子と、
を備えたX線システム。 - 前記第一及び第二の電荷蓄積素子に電気的に接続されているDASを更に備え、
前記第一及び第二の電荷蓄積素子の一方のみが任意の一時刻に電荷を積分するように構成された、請求項7に記載のX線システム。 - 前記第一の電荷蓄積素子は、1つのビューにおける第一のデータ取得の間、前記第一の電荷を積分し、
前記第二の電荷蓄積素子は、前記ビューにおける第二のデータ取得の間、前記第二の電荷を積分するように構成された、請求項8に記載のX線システム。 - 前記第一及び前記第二の電荷蓄積素子(C1、C2)は、前記光変換素子(54)の集光表面(78)の実質的に表面に又はその近傍に配設されている、請求項8乃至9のいずれかに記載のX線システム。
- 複数の収集ビュー間で前記第一及び第二の電荷蓄積素子をリセットするように構成されている単一のスイッチ(S5)を含む、請求項8乃至10のいずれかに記載のX線システム。
- 導電性接続(76)を介して前記第一の電荷蓄積素子と前記DASとを接続する第1のスイッチ(S1)と、
前記導電性接続(76)を介して前記第二の電荷蓄積素子と前記DASとを接続する第2のスイッチ(S2)と、
前記第1及び第2のスイッチ(S1、S2)が配置されるシリコン基材(74)と、
を備え、
前記導電性接続(76)が前記シリコン基材(74)を貫通する、請求項8乃至10のいずれかに記載のX線システム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/164,101 US7283609B2 (en) | 2005-11-10 | 2005-11-10 | CT detector photodiode having multiple charge storage devices |
US11/164,101 | 2005-11-10 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007130464A JP2007130464A (ja) | 2007-05-31 |
JP2007130464A5 JP2007130464A5 (ja) | 2010-12-02 |
JP5260854B2 true JP5260854B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=38003766
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006301405A Active JP5260854B2 (ja) | 2005-11-10 | 2006-11-07 | 多数の電荷蓄積素子を有するct検出器フォトダイオード |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7283609B2 (ja) |
JP (1) | JP5260854B2 (ja) |
CN (1) | CN1991409B (ja) |
IL (1) | IL179132A0 (ja) |
NL (1) | NL1032853C2 (ja) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
US8451974B2 (en) | 2003-04-25 | 2013-05-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
GB0309385D0 (en) | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray monitoring |
US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
GB0309379D0 (en) | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray scanning |
US8804899B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-08-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Imaging, data acquisition, data transmission, and data distribution methods and systems for high data rate tomographic X-ray scanners |
US6928141B2 (en) | 2003-06-20 | 2005-08-09 | Rapiscan, Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers |
US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
US7916836B2 (en) * | 2007-09-26 | 2011-03-29 | General Electric Company | Method and apparatus for flexibly binning energy discriminating data |
GB0803641D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
GB0803644D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
US7495228B1 (en) * | 2008-03-31 | 2009-02-24 | General Electric Company | Dual function detector device |
GB0809110D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Gantry scanner systems |
JP5419404B2 (ja) * | 2008-09-04 | 2014-02-19 | キヤノン株式会社 | 光音響装置 |
FR2937131B1 (fr) * | 2008-10-15 | 2011-01-28 | Soc Fr Detecteurs Infrarouges Sofradir | Procede et dispositif de lecture de charges electriques produites par un photodetecteur, et detecteur comportant de tels dispositifs |
WO2010058369A2 (en) * | 2008-11-24 | 2010-05-27 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | X-ray detector |
JP5802688B2 (ja) | 2010-03-12 | 2015-10-28 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線検出器、x線検出器アレイ、x線撮像システム、x線検出方法、当該方法を実行するコンピュータプログラムおよび当該プログラムを記憶した読取可能媒体 |
US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
US9325913B2 (en) * | 2011-12-28 | 2016-04-26 | General Electric Company | Radiation detector for use in sequential image acquisition |
KR101982278B1 (ko) * | 2012-03-26 | 2019-08-28 | 삼성전자주식회사 | 디지털 실리콘 광전자 증배관 디텍터 셀 |
KR20140092438A (ko) * | 2012-12-27 | 2014-07-24 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 검출 패널, 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 영상 생성 방법 |
KR102167245B1 (ko) | 2013-01-31 | 2020-10-19 | 라피스캔 시스템스, 인코포레이티드 | 이동식 보안검사시스템 |
JP5925711B2 (ja) * | 2013-02-20 | 2016-05-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 検出器、pet装置及びx線ct装置 |
US9689996B2 (en) | 2013-04-05 | 2017-06-27 | General Electric Company | Integrated diode DAS detector |
US9826214B2 (en) | 2014-09-08 | 2017-11-21 | Microsoft Technology Licensing, Llc. | Variable resolution pixel |
US9658347B2 (en) | 2015-06-15 | 2017-05-23 | General Electric Company | Digital X-ray detector having multi-tap pixels |
US10136868B2 (en) * | 2015-09-03 | 2018-11-27 | General Electric Company | Fast dual energy for general radiography |
US10680021B2 (en) * | 2017-05-12 | 2020-06-09 | General Electric Company | Active pixel sensor computed tomography (CT) detector and method of readout |
US10834806B2 (en) | 2017-05-31 | 2020-11-10 | Analog Devices, Inc. | Automatic exposure detection circuit for imaging applications |
EP3658960B1 (en) * | 2017-07-26 | 2022-09-07 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | X-ray detector capable of managing charge sharing at its periphery |
JP2023518317A (ja) * | 2020-03-18 | 2023-04-28 | アナロジック・カナダ・コーポレーション | 同期読取り/集積放射線撮像のための多段画素アーキテクチャ、ならびに関連システム、デバイス、および方法 |
EP3933881A1 (en) | 2020-06-30 | 2022-01-05 | VEC Imaging GmbH & Co. KG | X-ray source with multiple grids |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5218533A (en) * | 1990-08-06 | 1993-06-08 | General Electric Company | Stable interruptible filter for dual beam computed tomography |
US5661309A (en) * | 1992-12-23 | 1997-08-26 | Sterling Diagnostic Imaging, Inc. | Electronic cassette for recording X-ray images |
US5592523A (en) * | 1994-12-06 | 1997-01-07 | Picker International, Inc. | Two dimensional detector array for CT scanners |
US5610969A (en) * | 1994-12-23 | 1997-03-11 | Bell Atlantic Mobile Systems, Inc. | Personal communication service registration system and method |
DE69805555T2 (de) * | 1997-02-10 | 2003-01-16 | Fillfactory N.V., Mechelen | Verfahren zur Erzeugung eines Auslegesignals einer auf CMOS basierender Pixelstruktur und eine solche auf CMOS basierender Pixelstruktur |
US5965871A (en) * | 1997-11-05 | 1999-10-12 | Pixart Technology, Inc. | Column readout multiplexer for CMOS image sensors with multiple readout and fixed pattern noise cancellation |
JPH11307756A (ja) * | 1998-02-20 | 1999-11-05 | Canon Inc | 光電変換装置および放射線読取装置 |
JP4163279B2 (ja) * | 1998-02-27 | 2008-10-08 | 株式会社東芝 | データ収集・処理装置およびこの装置を用いたシステム |
DE69827529T2 (de) * | 1998-09-28 | 2005-11-10 | 3Dv Systems Ltd. | Entfernungsmessung mittels kamera |
US6720592B1 (en) * | 2001-06-29 | 2004-04-13 | National Semiconductor Corp. | Apparatus for high sensitivity, low lag, high voltage swing in a pixel cell with an electronic shutter |
US7170041B2 (en) * | 2002-07-17 | 2007-01-30 | Xerox Corporation | Pixel circuitry for imaging system |
US6888122B2 (en) * | 2002-08-29 | 2005-05-03 | Micron Technology, Inc. | High dynamic range cascaded integration pixel cell and method of operation |
JP4669653B2 (ja) * | 2003-04-22 | 2011-04-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システム及びコンピュータプログラム |
US7054408B2 (en) * | 2003-04-30 | 2006-05-30 | General Electric Company | CT detector array having non pixelated scintillator array |
JP2004347475A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | Denso Corp | 容量式力学量センサ |
US7154075B2 (en) * | 2003-11-13 | 2006-12-26 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for pixel signal binning and interpolation in column circuits of a sensor circuit |
WO2005069601A1 (en) * | 2004-01-12 | 2005-07-28 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Semiconductor-based image sensor |
-
2005
- 2005-11-10 US US11/164,101 patent/US7283609B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-11-07 JP JP2006301405A patent/JP5260854B2/ja active Active
- 2006-11-08 IL IL179132A patent/IL179132A0/en active IP Right Grant
- 2006-11-10 CN CN200610064073.2A patent/CN1991409B/zh active Active
- 2006-11-10 NL NL1032853A patent/NL1032853C2/nl not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-07-20 US US11/780,972 patent/US7403590B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7283609B2 (en) | 2007-10-16 |
IL179132A0 (en) | 2007-03-08 |
JP2007130464A (ja) | 2007-05-31 |
NL1032853C2 (nl) | 2009-08-13 |
US7403590B2 (en) | 2008-07-22 |
CN1991409B (zh) | 2015-11-25 |
NL1032853A1 (nl) | 2007-05-11 |
CN1991409A (zh) | 2007-07-04 |
US20070104311A1 (en) | 2007-05-10 |
US20080013677A1 (en) | 2008-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5260854B2 (ja) | 多数の電荷蓄積素子を有するct検出器フォトダイオード | |
JP5073176B2 (ja) | 直接変換型エネルギ識別計算機式断層写真法(ct)検出器 | |
JP5268499B2 (ja) | 計算機式断層写真法(ct)イメージング・システム | |
JP4478400B2 (ja) | 多重エネルギ撮像の方法及び装置 | |
JP6018748B2 (ja) | Ctイメージング・システム | |
JP6043474B2 (ja) | タイル構成可能な多面検出器を備える容積測定計算機式断層写真法システム | |
US7696483B2 (en) | High DQE photon counting detector using statistical recovery of pile-up events | |
JP5951261B2 (ja) | タイル構成可能なパッケージング構造によるマルチ・スライスct検出器 | |
JP5690044B2 (ja) | エネルギ識別データを自在にまとめる検出器及び、ctイメージング・システム | |
US6654443B1 (en) | Thermal sensing detector cell for a computed tomography system and method of manufacturing same | |
JP5897889B2 (ja) | 積重ね型x線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを備えるctイメージング・システム | |
US20080123804A1 (en) | Architectures for cardiac ct based on area x-ray sources | |
EP3622705B1 (en) | Active pixel sensor computed tomography (ct) detector and method of readout | |
JP2007130464A5 (ja) | ||
JP2012125573A (ja) | 積重ね型フラット・パネルx線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを製造する方法 | |
US9689996B2 (en) | Integrated diode DAS detector | |
US20110211667A1 (en) | De-populated detector for computed tomography and method of making same | |
US20050061985A1 (en) | Compact structural CT detector module | |
JP2004181017A (ja) | X線ct装置 | |
EP4403961A2 (en) | Flat panel x-ray detector for computed tomography | |
JPH1057367A (ja) | X線ct装置 | |
JP2008224302A (ja) | 焦点整列型ct検出器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091029 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091029 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091029 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101012 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120214 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20120409 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20120413 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120620 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130402 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130426 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160502 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5260854 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |