JP5248044B2 - テーブルシステムおよびｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Description

本発明は、テーブルシステム（ｔａｂｌｅ ｓｙｓｔｅｍ）およびＸ線ＣＴ装置に関し、特に、基台から水平方向に繰り出される天板を有するテーブルシステム、および、そのようなテーブルシステムを有するＸ線ＣＴ装置に関する。

Ｘ線ＣＴ装置では、撮影の対象すなわち患者を横たえて支持するテーブルシステムが用いられる。テーブルシステムは、天板を基台から水平方向に繰り出し、患者を撮影空間に搬入するようになっている（例えば、特許文献１の第３−４頁、図１参照）。

このようなテーブルシステムでは、天板の繰出し量が増すにつれて天板のオーバーハング（ｏｖｅｒｈａｎｇ）荷重が増大するため、搬送抵抗が大きくなる。予想される最大荷重の下での搬送抵抗に打ち勝って円滑な搬送が可能なように、搬送力を予め大きくしておくと、体重が軽い患者については搬送力の余裕があり過ぎて安全上の問題が生じる。

この問題を解決するために、例えば、天板の撓みの程度を、天板の下面に接触可能な所定の部材を用いて回転モーメント（ｍｏｍｅｎｔ）に変換して検出し、その検出信号に基づいて天板の駆動ローラの回転力を制御するテーブルシステムが提案されている（例えば、特許文献２参照）。また、例えば、クレードル（ｃｒａｄｌｅ）のホームポジション（ｈｏｍｅ
ｐｏｓｉｔｉｏｎ）からの距離とクレードルの駆動ローラ（ｒｏｌｌｅｒ）に作用する圧力とを検出し、検出された距離と圧力に基づいて間接的に天板の撓みの程度を検出して、駆動モータ（ｍｏｔｏｒ）への供給電流を制御するクレードル装置が提案されている（例えば、特許文献３参照）。

特開平１０−１０８８６１号公報 特開２００５−２４５５６０号公報 実開平７−９３１０号公報

しかしながら、天板の撓みの程度を回転モーメントに変換して検出する上記テーブルシステムでは、検出分解能を上げようとすると天板の支持剛性を上げることができず、少しでも撓みの少ないテーブルが欲しいという医師や技師の要求と相反するという問題がある。また、クレードルのホームポジションからの距離と駆動ローラに作用する圧力とを検出し、これらに基づいて間接的にクレードルの撓みの程度を検出するクレードル装置では、予想される最大荷重を保障するには駆動ローラに作用する圧力の検出可能範囲を比較的広くとる必要があり、構造が大掛かりになりコスト（ｃｏｓｔ）が増大するという問題がある。

本発明は、上記事情に鑑み、天板の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板の撓みの程度を高い検出分解能で検出することが可能なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。

第１の観点では、本発明は、基台と、前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備するテーブルシステムを提供する。

第２の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、上記第１の観点のテーブルシステムを提供する。

第３の観点では、本発明は、前記基台が、垂直方向の傾きが調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の傾きが該部分の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、上記第１の観点のテーブルシステムを提供する。

第４の観点では、本発明は、前記基台が、高さ調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、上記第１の観点のテーブルシステムを提供する。

第５の観点では、本発明は、前記制御手段が、天板繰出し前に検出された前記光束の受光位置と天板繰出し後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、上記第２の観点から第４の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第６の観点では、本発明は、前記制御手段が、対象を前記天板に載置する前に検出された前記光束の受光位置と前記対象を前記天板に載置した後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、上記第２の観点から第４の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第７の観点では、本発明は、前記光発生手段が、天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向の光束を発生し、前記光検出手段が、前記受光位置が前記基台の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられ、前記受光位置が反映された検出信号を出力し、前記撓み検出手段が、前記検出信号に基づいて前記受光位置を特定する受光位置特定手段を具備する、上記第１の観点から第６の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第８の観点では、本発明は、前記光束の光路が単直線状である、上記第１の観点から第７の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第９の観点では、本発明は、前記光束を少なくとも１回反射させる光学系をさらに具備し、前記光束の光路が折れ線状である、上記第１の観点から第８の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第１０の観点では、本発明は、前記光学系の光反射面が曲面である、上記第９の観点のテーブルシステムを提供する。

第１１の観点では、本発明は、前記光発生手段が前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配され、前記光検出手段が前記基台の他端部側に配される、上記第８の観点から第１０の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第１２の観点では、本発明は、前記光発生手段と前記光検出手段が、共に前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配される、上記第９の観点または第１０の観点のテーブルシステムを提供する。

第１３の観点では、本発明は、前記基台が天板繰出し方向に伸びるパイプフレームを有し、前記光発生手段と前記光検出手段とが前記パイプフレーム内に設けられる、上記第１の観点から第１２の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第１４の観点では、本発明は、前記光検出手段の受光面が、多数の電荷結合素子（ＣＣＤ）で構成される、上記第１の観点から第１３の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第１５の観点では、本発明は、前記光発生手段がレーザ光源である、上記第１の観点から第１４の観点のいずれか１つの観点のテーブルシステムを提供する。

第１６の観点では、本発明は、テーブルシステムに搭載されて撮影空間に搬入された対象をＸ線でスキャンして得られる複数ビューの投影データに基づいて画像を再構成するＸ線ＣＴ装置であって、前記テーブルシステムが、基台と、前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備する、Ｘ線ＣＴ装置を提供する。

第１７の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、上記第１６の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。

第１８の観点では、本発明は、前記基台が、垂直方向の傾きが調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の傾きが該天板の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、上記第１６の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。

第１９の観点では、本発明は、前記基台が、高さ調整可能であり、前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、上記第１６の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。

第２０の観点では、本発明は、前記検出された受光位置に基づいて、前記画像が、前記天板の前記撮影空間に位置する部分を該部分の撓み量および／または撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うデータ処理手段をさらに具備する、第１６の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。

本発明によれば、天板を支持する基台に設けられた、光発生手段と光検出手段を用いて、天板の繰出しに伴う基台の撓みの程度に応じて変化する、光束の受光位置を検出して天板の撓みの程度を検出するので、テーブルの構造設計を大幅に変更することなく、基台の僅かな撓みを光束の受光位置の変化として検出することができ、天板の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板の撓みの程度を高い検出分解能で検出することが可能なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するＸ線ＣＴ装置を実現することができる。

以下、図面を参照して発明を実施するための最良の形態を説明する。なお、本発明は、発明を実施するための最良の形態に限定されるものではない。

（第１の実施形態）
図１はＸ線ＣＴ装置のブロック図である。本装置は本発明を実施するための最良の形態の一例である。本装置の構成によって、Ｘ線ＣＴ装置に関する本発明を実施するための最良の形態の一例が示される。また、本装置の構成の一部によって、テーブルシステムに関する本発明を実施するための最良の形態の一例が示される。

図１に示すように、本装置は、走査ガントリ（ｇａｎｔｒｙ）２、テーブルシステム１００および操作コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）６を備えている。走査ガントリ２はＸ線管２０を有する。Ｘ線管２０から放射された図示しないＸ線は、コリメータ（ｃｏｌｌｉｍａｔｏｒ）２２により扇状のＸ線ビームすなわちファンビーム（ｆａｎ
ｂｅａｍ）Ｘ線となるように成形（コリメーション： ｃｏｌｌｉｍａｔｉｏｎ）され、Ｘ線検出器２４に照射される。Ｘ線検出器２４は、Ｘ線ビーム（ｂｅａｍ）の広がりに合わせてアレイ（ａｒｒａｙ）状に配列された多数のＸ線検出素子を有する。Ｘ線検出器２４の構成については後にあらためて説明する。

Ｘ線管２０とＸ線検出器２４の間の空間には、撮影の対象がテーブルシステム１００に搭載されて搬入される。テーブルシステム１００は、本発明におけるテーブルシステムの一例である。テーブルシステム１００については後にあらためて説明する。Ｘ線管２０、コリメータ２２およびＸ線検出器２４は、Ｘ線照射・検出装置を構成する。Ｘ線照射・検出装置については後にあらためて説明する。

Ｘ線検出器２４にはデータ収集部２６が接続されている。データ収集部２６は、Ｘ線検出器２４の個々のＸ線検出素子の検出信号をディジタルデータ（ｄｉｇｉｔａｌ
ｄａｔａ）として収集する。Ｘ線検出素子の検出信号は、Ｘ線による対象の投影を表す信号となる。以下、これを投影データあるいは単にデータともいう。

Ｘ線管２０からのＸ線の照射は、Ｘ線コントローラ（ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）２８によって制御される。なお、Ｘ線管２０とＸ線コントローラ２８との接続関係については図示を省略する。コリメータ２２は、コリメータコントローラ３０によって制御される。なお、コリメータ２２とコリメータコントローラ３０との接続関係については図示を省略する。

以上のＸ線管２０からコリメータコントローラ３０までのものが、走査ガントリ２の回転部３４に搭載されている。回転部３４の回転は、回転コントローラ３６によって制御される。なお、回転部３４と回転コントローラ３６との接続関係については図示を省略する。

操作コンソール６はデータ処理装置６０を有する。データ処理装置６０は、例えばコンピュータ（ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等によって構成される。データ処理装置６０には、制御インタフェース（ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）６２が接続されている。制御インタフェース６２には、走査ガントリ２とテーブルシステム１００が接続されている。データ処理装置６０は制御インタフェース６２を通じて走査ガントリ２およびテーブルシステム１００を制御する。

走査ガントリ２内のデータ収集部２６、Ｘ線コントローラ２８、コリメータコントローラ３０および回転コントローラ３６が、制御インタフェース６２を通じて制御される。なお、それら各部と制御インタフェース６２との個別の接続については図示を省略する。

データ処理装置６０には、データ収集バッファ（ｂｕｆｆｅｒ）６４が接続されている。データ収集バッファ６４には、走査ガントリ２のデータ収集部２６が接続されている。データ収集部２６で収集されたデータがデータ収集バッファ６４を通じてデータ処理装置６０に入力される。

データ処理装置６０には記憶装置６６が接続されている。記憶装置６６には、データ収集バッファ６４および制御インタフェース６２を通じてそれぞれデータ処理装置６０に入力された投影データが記憶される。記憶装置６６にはまたデータ処理装置６０用のプログラム（ｐｒｏｇｒａｍ）が記憶される。データ処理装置６０がそのプログラムを実行することにより、本装置の動作が遂行される。

データ処理装置６０は、データ収集バッファ６４を通じて記憶装置６６に収集した投影データを用いて画像再構成を行う。画像再構成には、例えばフィルタード・バックプロジェクション（ｆｉｌｔｅｒｅｄ
ｂａｃｋ ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法等が用いられる。

データ処理装置６０には、表示装置６８および操作装置７０が接続されている。表示装置６８は、グラフィックディスプレー（ｇｒａｐｈｉｃ ｄｉｓｐｌａｙ）等で構成される。操作装置７０はポインティングデバイス（ｐｏｉｎｔｉｎｇ
ｄｅｖｉｃｅ）を備えたキーボード（ｋｅｙｂｏａｒｄ）等で構成される。

表示装置６８は、データ処理装置６０から出力される再構成画像やその他の情報を表示する。操作装置７０は、使用者によって操作され、各種の指示や情報等をデータ処理装置６０に入力する。使用者は表示装置６８および操作装置７０を使用してインタラクティブ（ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ）に本装置を操作する。

図２は、Ｘ線検出器２４の模式的構成を示す図である。同図に示すように、Ｘ線検出器２４は、多数のＸ線検出素子２４（ｉｋ）を２次元アレイ（ａｒｒａｙ）状に配列した多チャンネルのＸ線検出器となっている。複数のＸ線検出素子２４（ｉｋ）は、全体として、円筒凹面状に湾曲したＸ線検出面を形成する。

ｉはチャンネル（ｃｈａｎｎｅｌ）番号であり例えばｉ＝１，２，・・・，１０２４である。ｋは列番号であり例えばｋ＝１，２，・・・，３２である。Ｘ線検出素子２４（ｉｋ）は、列番号ｋが同一なもの同士でそれぞれ検出素子列を構成する。なお、Ｘ線検出器２４の検出素子列は３２列に限るものではなく、適宜の複数あるいは単数であってもよい。

Ｘ線検出素子２４（ｉｋ）は、例えばシンチレータ（ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ）とフォトダイオード（ｐｈｏｔｏ ｄｉｏｄｅ）の組み合わせによって構成される。なお、これに限るものではなく、例えばカドミウム・テルル（ＣｄＴｅ）等を利用した半導体Ｘ線検出素子、あるいは、キセノンガス（Ｘｅ
ｇａｓ）を利用した電離箱型のＸ線検出素子であってもよい。

図３は、Ｘ線照射・検出装置におけるＸ線管２０とコリメータ２２とＸ線検出器２４の相互関係を示す図である。なお、図３の（ａ）は走査ガントリ２の正面から見た状態を示す図、（ｂ）は側面から見た状態を示す図である。同図に示すように、Ｘ線管２０から放射されたＸ線は、コリメータ２２によりファン（ｆａｎ）状のＸ線ビーム５００となるように成形されてＸ線検出器２４に照射される。

図３の（ａ）では、ファン状のＸ線ビーム５００のひとつの方向の広がりを示す。以下、この方向を幅方向ともいう。Ｘ線ビーム５００の幅方向は、Ｘ線検出器２４におけるチャンネルの配列方向に一致する。（ｂ）ではＸ線ビーム５００の他の方向の広がりを示す。以下、この方向をＸ線ビーム５００の厚み方向ともいう。Ｘ線ビーム５００の厚み方向は、Ｘ線検出器２４における複数の検出素子列の並設方向に一致する。Ｘ線ビーム５００の２つの広がり方向は互いに垂直である。

図４は、Ｘ線照射・検出装置と対象８との関係を示す図である。テーブルシステム１００の天板１０２に載置された対象８は、例えば図４に示すように、上記のようなＸ線ビーム５００に体軸を交差させてＸ線照射空間に搬入される。走査ガントリ２は、内部にＸ線照射・検出装置を包含する筒状の構造になっている。

Ｘ線照射空間は走査ガントリ２の筒状構造の内側空間に形成される。Ｘ線ビーム５００によってスライス（ｓｌｉｃｅ）された対象８の像がＸ線検出器２４に投影される。Ｘ線検出器２４によって、対象８を透過したＸ線が検出器列ごとに検出される。対象８に照射するＸ線ビーム５００の厚みｔｈは、コリメータ２２のアパーチャ（ａｐｅｒｔｕｒｅ）の開度により調節される。

Ｘ線照射・検出装置の回転に並行して、矢印４２で示すように天板１０２を対象８の体軸方向に連続的に移動させることにより、Ｘ線照射・検出装置は、対象８に関して相対的に、対象８を包囲する螺旋状の軌道に沿って旋回することになる。これによっていわゆるヘリカルスキャン（ｈｅｌｉｃａｌ
ｓｃａｎ）が行われる。天板１０２を停止させた状態でＸ線照射・検出装置の回転させればアキシャルスキャン（ａｘｉａｌ ｓｃａｎ）が行われる。

スキャンの１回転当たり複数（例えば１０００程度）のビューの投影データが収集される。投影データの収集は、Ｘ線検出器２４−データ収集部２６−データ収集バッファ６４の系列によって行われる。このようにして収集された投影データに基づいて、データ処理装置６０により画像再構成が行われる。

ここで、テーブルシステム１００について説明する。
図５は、テーブルシステム１００の機械的な構造を概略的に示す図である。同図に示すように、テーブルシステム１００は天板１０２を有する。天板１０２は基台１０４によって水平に支持されている。天板１０２は、対象８を搭載して基台１０４から水平方向への繰出し（右方向）および引戻し（左方向）が可能になっている。繰出し方向には走査ガントリ２（図略）が存在する。基台１０４は、水平なレール（ｒａｉｌ）１４２を有し、その上を天板１０２が移動できるようになっている。天板１０２は、繰出し側とは反対側の端部に複数の車輪１４４を有し、これら車輪１４４でレール１４２を上下に挟むようして、レール１４２に装架されている。また、基台１０４は搬送部１１２を有する。搬送部１１２は、レール１４２の天板繰出し側の先端付近に天板１０２の下面に接するように設けられ、天板１０２に搬送力を与えて天板１０２を天板繰出し方向に搬送する。搬送部１１２は天板１０２の下面に接触して回転する送りローラ（ｒｏｌｌｅｒ）を有する。搬送部１１２の構成については後にあらためて説明する。

図６は、テーブルシステム１００の要部を示すブロック図である。同図に示すように、テーブルシステム１００は、基台１０４に設けられ天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向のレーザ光線６００を発生するレーザ（ＬＡＳＥＲ）光源１２２を有する。また、テーブルシステム１００は、レーザ光線６００を受光面１２４ａで受光して検出し、受光面１２４ａにおけるレーザ光線６００の受光位置が反映された検出信号を出力する光検出器であって、その受光位置が天板１０２の繰出しに伴う基台１０４の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられた光検出器１２４を有する。受光面１２４ａは多数の光検出素子である電荷結合素子（ＣＣＤ）で構成され、光検出器１２４はレーザ光線６００の受光位置が反映された各光検出素子の検出信号を出力する。また、テーブルシステム１００は、光検出器１２４の検出信号に基づいてレーザ光線６００の受光位置を特定する受光位置特定部１２５と、特定された受光位置に基づいて、基台１０４の撓みの程度が大きくなると天板１０２の搬送力が大きくなるよう搬送部１１２を制御する制御部１１６を有する。

光検出器１２４の検出信号はローパスフィルタ（ＬＰＦ；Ｌｏｗ Ｐａｓｓ Ｆｉｌｔｅｒ）１２０により高周波成分抑制処理が施されて制御部１１６に入力され、この入力信号に基づく制御信号が制御部１１６から駆動部１１８に与えられ、この制御信号に基づき駆動部１１８によって送りローラが駆動される。このローパスフィルタ１２０は、天板１０２に載置された対象８の体動や天板１０２を繰り出す際の振動により天板１０２および基台１０４が揺れたときに、光検出器１２４の検出信号の強度が揺れるのを防ぎ、レーザ光線６００の実質的な受光位置を特定できるようにするためのものである。なお、ローパスフィルタ１２０により抑制される検出信号の周波数域としては、例えば、数ヘルツ（Ｈｚ）以上を考えることができる。

図７は、基台１０４とレーザ光源１２２および光検出器１２４との位置関係を示す図である。図７の（ａ）は基台１０４の側面から見た状態を示す図、（ｂ）は、基台１０４の上面から見た状態を示す図である。同図に示すように、基台１０４は両側面部に、天板繰出し方向に平行に伸びる２つのパイプフレーム（ｐｉｐｅ
ｆｌａｍｅ）１０４ａを有する。一方のパイプフレーム１０４ａには、天板繰出し方向における一端部側にレーザ光源１２２が配され、他端部側に光検出器１２４が配されている。レーザ光源１２２から射出されたレーザ光線６００は光検出器１２４で検出される。光検出器１２４は、レーザ光線６００を検出してその受光位置が反映された検出信号を出力する。なお、レーザ光源１２２と光検出器１２４は基台１０４の外面に設けてもよいが、レーザ光源１２２から発生したレーザ光線６００を遮ることがないように、また、光検出器１２４にて不要な光が検出されないようにするためにも、これらを基台１０４の内部に設けることが望ましい。

図８は、光検出器１２４の模式的構成を示す図である。同図に示すように、光検出器１２４は、多数の光検出素子１２４（ｐｑ）を２次元アレイ状に配列した多ピクセル（ｐｉｘｅｌ）の光検出器となっている。複数の光検出素子１２４（ｐｑ）は、全体として、平面状の受光面を形成する。個々の光検出素子１２４（ｐｑ）は、検出する光の強度に応じた検出信号を出力する。なお、これに限るものではなく、２値化した信号、すなわち、強度が所定のしきい値を超える光を検出したときにのみ所定の検出信号を出力するものであってもよい。

ｐは列番号であり例えばｐ＝１，２，・・・，１２である。ｑは行番号であり例えばｑ＝１，２，・・・，１６である。なお、光検出器１２４の光検出素子の行数および列数はこれらに限るものではなく、適宜の複数であってもよいし、行数と列数のいずれか一方は単数であってもよい。

光検出素子１２４（ｐｑ）は、例えば電荷結合素子（ＣＣＤ）によって構成される。なお、これに限るものではなく、例えばフォトダイオード等であってもよい。

ここで、受光位置特定部１２５によるレーザ光線６００の受光位置の特定方法について説明する。

図９は、天板１０２をホームポジションから所定の位置まで繰り出したことにより、レーザ光線６００の受光領域が変化した様子を示す図である。同図に示すように、光検出器１２４の受光面１２４ａは、例えば、１２×１６ピクセルで構成される。レーザ光線６００の受光領域は、受光面１２４ａ上で、例えば、直径５ピクセル程度の円領域となる。天板繰出し前のレーザ光線６００の受光領域Ｒ０は、例えば受光面１２４ａの下方に位置している。天板１０２を徐々に繰り出すと天板１０２が徐々に撓み、これに伴って基台１０４も撓む。これにより、受光面１２４ａがレーザ光線６００に対して下方に下がり、レーザ光線６００の受光領域は受光面１２４ａの上方に移動する。受光領域Ｒ１は、天板１０２を所定の位置まで繰り出したときのレーザ光線６００の受光領域である。なお、ここでは、説明を容易にするため受光面のピクセル数を少なくしているが、実際にはこれより多く、例えば１２０×１６０ピクセル程度等としてもよい。

レーザ光線６００の受光位置は、例えば、受光面１２４ａを構成するすべての光検出素子の検出信号強度について重心を求めることで特定することができる。すなわち、行番号ｐ，列番号ｑの光検出素子の座標をＸｐｑとし、この光検出素子の検出信号強度をＩ（Ｘｐｑ）とすると、受光位置を表す座標Ｚ１は次式に従って算出することができる。

Ｚ１＝Σ｛Ｘｐｑ×Ｉ（Ｘｐｑ）｝／ΣＩ（Ｘｐｑ） （１）

また例えば、レーザ光線６００の受光位置は、受光領域のｐ方向における最大幅に対応した線分と受光領域のｑ方向における最大幅に対応した線分との交点として求めることができる。すなわち、検出信号強度が所定のしきい値を超えた光検出素子が最も長く連続する座標範囲を、ｐ方向について[Ｘpa1,qa ，Ｘpa2,qa]とし、ｑ方向について[Ｘpb,qb1 ，Ｘpb,qb2]とすると、受光位置を表す座標Ｚ１は次式のようになる。

Ｚ１＝Ｘpb,qa （２）

なお、レーザ光線６００の受光位置は、行方向および列方向のうち受光位置が主に変化するいずれか一方の所定方向の座標のみで表してもよい。

このように、レーザ光線６００の受光位置を特定する方法は種々考えられるが、いずれの方法を採用してもよい。

図１０は、搬送部１１２の構成を示す図である。同図に示すように、搬送部１１２は、送りローラ２０２、受けローラ２０４およびモータ（ｍｏｔｏｒ）２０６を有する。これらは基台１０４の上に回転軸が平行になるように取り付けられている。

送りローラ２０２は天板１０２の下面に接触し、摩擦を利用して天板１０２を水平方向に送るようになっている。受けローラ２０４は、送りローラ２０２に関して天板繰り出し側に取り付けられる。モータ２０６は、送りローラ２０２に関して天板引き戻し側に取り付けられる。

送りローラ２０２とモータ２０６は、それぞれのプーリ（ｐｕｌｌｅｙ）２２２，２６２同士がベルト（ｂｅｌｔ）２６４によって連結され、モータ２０６から送りローラ２０２回転力を与えるようになっている。なお、送りローラ２０２とモータ２０６の連結は、プーリとベルトの代わりに歯車等の適宜の回転伝達手段によって行うようにしてもよい。

モータ２０６は可逆的に回転可能なものである。したがって、天板１０２は送りローラ２０２によって水平方向に可逆的に送られ、繰り出し（右方向）および引き戻し（左方向）が行われる。このようなモータを有することにより、送りローラ２０２を適切に駆動することができる。

送りローラ２０２の回転軸は、基台１０４に固定された軸受によって支えられている。このことを黒く塗りつぶした三角形で表す。送りローラ２０２の回転軸に、基台１０４に立てられた柱２２４が遊嵌している。送りローラ２０２の回転軸の位置が固定されているので、送りローラ２０２による天板１０２の支持剛性を高めることができる。

受けローラ２０４は、基台１０４上の柱２４４に取り付けられ、天板１０２の下面と対向するようになっている。

このような搬送部１１２によって天板１０２を繰り出すと、繰出し量すなわちオーバーハング量の増加とともに、天板１０２の自重と対象８の体重を合わせた荷重によって天板１０２に作用する曲げモーメントすなわちオーバーハング荷重が増加し天板１０２が下に撓む。これに伴い、基台１０４に作用する曲げモーメントも増加し基台１０４が下に撓む。基台１０４が下に撓むと、レーザ光源１２２から射出されたレーザ光線６００の光検出器１２４に対する相対的な位置が変化する。これにより、基台１０４の僅かな撓みをレーザ光線６００の受光位置の変化として検出することができる。

受光位置特定部１２５は、光検出部１２４を構成する個々の光検出素子１２４（ｐｑ）の検出信号を用いてレーザ光線６００の受光位置を上述のような方法で特定し、制御部１１６は、特定された受光位置に基づいて、送りローラ２０２が天板１０２を搬送する力を制御する。

搬送力の制御は、例えば、所定の基準位置とレーザ光線６００の受光位置との差異の大きさに基づいて搬送力を変える制御である。より具体的には、例えば、天板１０２を繰り出す前の状態における光検出器１２４の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と天板１０２の繰出し後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータ（ｐａｒａｍｅｔｅｒ）を算出し、そのパラメータが所定の閾値Ｍを超えない間は搬送力を２００〔Ｎ〕（ニュートン；ｎｅｗｔｏｎ）とし、閾値Ｍを超えたときは３００〔Ｎ〕に上げるような制御である。

なお、搬送力の制御はこれに限らず、閾値を多段階に設定しそれら閾値に対するパラメータ値の大小に応じて搬送力を多段階に制御するようにしてもよく、あるいは、パラメータ値に応じて搬送力を連続的に制御するようにしてもよい。また、レーザ光線６００の受光位置と適切な搬送力との対応関係を予め実験等により求め、この対応関係を参照して搬送力を制御するようにしてもよい。

また例えば、天板１０２を繰り出す前の状態において、対象８を天板１０２に載置する前の状態における光検出器１２４の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象８を天板１０２に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板１０２の繰出し量と搬送力との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブル（ｌｏｏｋ−ｕｐ
ｔａｂｌｅ）を参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板１０２の繰出し量に基づいて搬送力を変化させるように制御してもよい。

このような本実施形態によれば、受光位置特定部１２５が、天板１０２を支持する基台１０４に設けられたレーザ光源１２２と光検出器１２４とにより、天板１０２の繰出しに伴う基台１０４の撓みの程度に応じて変化するレーザ光線６００の受光位置を特定し、制御部１１６がその受光位置に基づいて天板１０２に与える搬送力を制御するので、テーブルの構造設計を大幅に変更することなく、基台１０４の僅かな撓みをレーザ光線６００の受光位置の変化として検出することで、天板１０２の曲げモーメントすなわちオーバーハング荷重を間接的に感度よく検出することができ、天板１０２の支持剛性を高く保ちつつ、簡単な構造で、天板１０２の搬送力の余裕が適切なテーブルシステムおよびそのようなテーブルシステムを有するＸ線ＣＴ装置を実現することができる。

以下、本発明の第２の実施形態から第４の実施形態として、レーザ光源１１２と光検出器１２４とを用いて基台１０４の撓みを検知する機構を応用して天板１０２の撓みを補正するテーブルシステムおよびＸ線ＣＴ装置について説明する。

（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態によるテーブルシステムおよびＸ線ＣＴ装置について説明する。本実施形態によるテーブルシステム２００の機械的な構造は、図５に示すように、第１の実施形態によるテーブルシステム１００と略同じ構造であるが、基台１０４はアクチュエータ（ａｃｔｕａｔｏｒ）等で構成される傾き調整機構１１３を有し、基台１０４の垂直方向の傾きが調整可能である。

図１１は、本実施形態によるテーブルシステム２００の要部を示すブロック図である。テーブルシステム２００は、基台１０４に設けられたレーザ光源１２２と光検出器１２４と、受光位置特定部１２５、撓み角算出部１２６、制御部１１６を有する。受光位置特定部１２５は、光検出器１２４の検出信号に基づいてレーザ光線６００の受光位置を特定する。また、撓み角算出部１２６は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線６００の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線６００の受光位置との間の差異の大きさと、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係とに基づいて、撮影空間Ｓにおける天板１０２の撓み角を算出する。すなわち、撓み角算出部１２６は、基台１０４の撓みの程度に基づいて天板１０２の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板１０２の繰出し量等に基づいて、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の撓み角を算出する。撮影空間Ｓは、例えば図４に示すように、対象８の体軸上で厚さｔｈとなるＸ線ビーム５００を照射してスキャンする場合に、このスキャンで得られた投影データから断層像が再構成される厚さｔｈの空間を意味する。制御部１１６は、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の傾きが上記算出された撓み角分補償されるよう傾き調整機構１１３を制御して基台１０４の傾きを制御する。上記した、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。

なお、基台１０４の傾きの制御については、レーザ光線６００の受光位置と補償すべき撓み角との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線６００の受光位置から直接、基台１０４の傾きを制御するようにしてもよい。

また例えば、天板１０２を繰り出す前の状態において、対象８を天板１０２に載置する前の状態における光検出器１２４の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象８を天板１０２に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板１０２の繰出し量と天板１０２の補償すべき撓み角との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブルを参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板１０２の繰出し量に基づいて天板１０２の撓み角を補償するように制御してもよい。

このような本実施形態によれば、天板１０２が撓んでもスライス面が対象８の体軸に対して垂直である断層像を得ることができる。

なお、このようなテーブルシステム２００を有するＸ線ＣＴ装置も、本発明の実施形態の一例である。

（第３の実施形態）
本発明の第３の実施形態によるテーブルシステムおよびＸ線ＣＴ装置について説明する。本実施形態によるテーブルシステム３００の機械的な構造は、図５に示すように、第１の実施形態によるテーブルシステム１００と略同じ構造であるが、基台１０４は昇降機構１１４を有し、基台１０４の高さが調整可能である。

図１２は、本実施形態によるテーブルシステム３００の要部を示すブロック図である。テーブルシステム３００は、基台１０４に設けられたレーザ光源１２２と光検出器１２４と、受光位置特定部１２５、撓み量算出部１２７、制御部１１６を有する。受光位置特定部１２５は、光検出器１２４の検出信号に基づいてレーザ光線６００の受光位置を特定する。また、撓み量算出部１２７は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線６００の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線６００の受光位置との間の差異の大きさと、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係とに基づいて、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の撓み量を算出する。すなわち、撓み量算出部１２６は、基台１０４の撓みの程度に基づいて天板１０２の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板１０２の繰出し量等に基づいて、天板１０２の撮影空間に位置する部分の撓み量を算出する。制御部１１６は、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の高さが上記算出された撓み量分補償されるよう昇降機構１１４を制御して基台１０４の高さを制御する。上記した、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。

なお、基台１０４の高さの制御については、レーザ光線６００の受光位置と補償すべき撓み量との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線６００の受光位置から直接、基台１０４の高さを制御するようにしてもよい。

また例えば、天板１０２を繰り出す前の状態において、対象８を天板１０２に載置する前の状態における光検出器１２４の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象８を天板１０２に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板１０２の繰出し量と天板１０２の補償すべき撓み量との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブルを参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板１０２の繰出し量に基づいて天板１０２の撓み量を補償するように制御してもよい。

このような本実施形態によれば、天板１０２が撓んでも撮影空間Ｓに対して対象８の体軸がぶれない断層像を得ることができる。

なお、このようなテーブルシステム３００を有するＸ線ＣＴ装置も、本発明の実施形態の一例である。

（第４の実施形態）
本発明の第４の実施形態による、テーブルシステムを有するＸ線ＣＴ装置について説明する。本実施形態によるＸ線ＣＴ装置の構成は、図１に示すように、第１の実施形態による構成と基本的に同じである。また、本装置が有するテーブルシステム４００の機械的な構造も、図５に示すように、第１の実施形態によるテーブルシステム１００と略同じ構造である。

図１３は、本実施形態によるテーブルシステム４００の要部を示すブロック図である。テーブルシステム４００は、基台１０４に設けられたレーザ光源１２２と光検出器１２４と、受光位置特定部１２５、撓み算出部１２８を有する。受光位置特定部１２５は、光検出器１２４の検出信号に基づいてレーザ光線６００の受光位置を特定する。また、撓み算出部１２８は、天板繰出し前に特定されたレーザ光線６００の受光位置と天板繰出し後に特定されたレーザ光線６００の受光位置との間の差異の大きさと、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係とに基づいて、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の撓み量および撓み角を算出する。すなわち、撓み算出部１２８は、基台１０４の撓みの程度に基づいて天板１０２の先端の撓み量と撓み角を算出し、天板１０２の繰出し量等に基づいて、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分の撓み量および撓み角を算出する。算出された撓み量および撓み角は、制御インタフェース６２を介して、データ処理装置６０に送られる。データ処理装置６０は、投影データを再構成する際に、入力された天板１０２の撓み量および撓み角を用いて、再構成される画像が、天板１０２の撮影空間Ｓに位置する部分を上記算出された撓み量および撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行う。上記した、天板１０２の撓みの程度と基台１０４の撓みの程度との対応関係は、例えば、実験等により予め求めておけばよい。

なお、データ処理については、レーザ光線６００の受光位置と補償すべき撓み量および撓み角との対応関係を予め実験等により求めておき、その対応関係を参照して、レーザ光線６００の受光位置を用いてデータ処理を行うようにしてもよい。

また例えば、天板１０２を繰り出す前の状態において、対象８を天板１０２に載置する前の状態における光検出器１２４の検出信号を用いて特定された受光位置を基準位置として、その基準位置と対象８を天板１０２に載置した後に特定された受光位置との間の距離、あるいはその距離の水平成分や垂直成分を表す長さ等である所定のパラメータを算出し、天板１０２の繰出し量と天板１０２の撓み量および撓み角との対応関係をパラメータの各範囲毎に規定したルックアップテーブル（ｌｏｏｋ−ｕｐ
ｔａｂｌｅ）を参照して、算出されたパラメータの値に応じた上記対応関係に従って、天板１０２の繰出し量に基づいて撓み量および撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うようにしてもよい。

このような本実施形態によれば、天板１０２が撓んでもスライス面が対象８の体軸に対して垂直であり、撮影空間Ｓに対して対象８の体軸がぶれない断層像を得ることができる。

なおここでは、天板１０２の撓み量と撓み角の両方を算出し、再構成された画像がこれら両方を補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理をしているが、天板１０２の撓み量または撓み角のいずれか一方を算出し、再構成された画像がこのいずれか一方を補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理をするようにしてもよい。

上記第２から第４の実施形態によれば、特に、治療計画に使用されるＣＴ装置、ＰＥＴ ＣＴ装置、およびＮＵＣ ＣＴ装置において、天板１０２の撓み補正が可能となる。これにより、大幅なコスト増大や大型化が必要となる、より剛性の高い天板１０２や基台１０４を用いずとも、天板１０２および基台１０４自体の撓みが断層像の位置精度に及ぼす影響を避けることができる。

（その他の実施形態）
図１４は、基台１０４内の要部の他の例を示す図であり、レーザ光源１２２と光検出器１２４とが基台１０４のパイプフレーム１０４ａの一端部側に設けられ、光反射板１２３が他端部側に設けられた様子を示している。

上記第１から第４の実施形態では、レーザ光線６００の光路は単直線状であるが、同図に示すように、レーザ光源１２２により発生したレーザ光線６００を少なくとも１回反射させる光反射板等の光学系をさらに設け、レーザ光線６００の光路を折れ線状にしてもよい。このようにすれば、レーザ光線６００の光路長をより長くして基台１０４の撓みの程度に対するレーザ光線６００の受光位置の変化量を大きくすることができ、天板１０２の撓みの検出感度をより高くすることができる。

また、上記第１から第４の実施形態では、レーザ光源１２２は基台１０４の天板繰出し方向における一端部側に配され、光検出器１２４は基台１０４の他端部側に配されているが、同図に示すように、上記光学系をさらに設けて、レーザ光源１２２と光検出器１２４を、共に基台１０４の天板繰出し方向における一端部側に配するようにしてもよい。このようにすれば、レーザ光源１２２と光検出器１２４とを近接して配置することができ、レーザ光源１２２を制御する制御信号や光検出器１２４の検出信号を送信するための配線を短くすることが可能であり、テーブルシステムの構造をより簡素化できる。

なお、光反射板等の光学系を用いてレーザ光線を反射させる場合には、光反射面は曲面にしてもよい。このようにすれば、基台１０４の撓みの程度に対するレーザ光線６００の受光位置の変化量をその曲面の曲率で調整することができ、天板１０２の撓みの検出感度を所望の感度に容易に調整することができる。

また、上記の第１から第４の実施形態では、レーザ光線を用いたが、指向性を有する電磁波であれば、可視、非可視を問わず用いることができる。

発明を実施するための最良の形態の一例であるＸ線ＣＴ装置のブロック図 Ｘ線検出器の構成を示す図 Ｘ線照射・検出装置の構成を示す図 Ｘ線照射・検出装置と対象との関係を示す図 テーブルシステムの機械的な構造を概略的に示す図 テーブルシステムの要部を示すブロック図。 基台内の要部を示す図 光検出器の模式的構成を示す図 レーザ光線の受光領域が変化した様子を示す図 搬送部の構成を示す図 他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図 また他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図 さらに他の実施形態によるテーブルシステムの要部を示すブロック図 基台内の要部の他の例を示す図

符号の説明

２ 走査ガントリ
６ 操作コンソール
２０ Ｘ線管
２２ コリメータ
２４ Ｘ線検出器
２６ データ収集部
２８ Ｘ線コントローラ
３０ コリメータコントローラ
３４ 回転部
３６ 回転コントローラ
６０ データ処理装置
６２ 制御インタフェース
６４ データ収集バッファ
６６ 記憶装置
６８ 表示装置
１００，２００，３００，４００ テーブルシステム
１０２ 天板
１０４ 基台
１０４ａ パイプフレーム
１１２ 搬送部（搬送手段）
１１３ 傾き調整機構
１１４ 昇降機構
１１６ 制御部（制御手段）
１１８ 駆動部
１２０ ローパスフィルタ
１２２ レーザ光源（光発生手段）
１２３ 光反射板（光学系）
１２４ 光検出器（光検出手段）
１２４ａ 受光面
１２５ 受光位置特定部（受光位置特定手段）
１２６ 撓み角算出部
１２７ 撓み量算出部
１２８ 撓み算出部
１４４ 車輪
２０２ 送りローラ
２０４ 受けローラ
２０６ モータ
２２２ プーリ
２２４ 柱
２６２ プーリ
２６４ ベルト
５００ Ｘ線ビーム
６００ レーザ光線（光束）

Claims (20)

1. 基台と、
   前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、
   前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、
   前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備するテーブルシステム。
2. 前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、請求項１に記載のテーブルシステム。
3. 前記基台は、垂直方向の傾きが調整可能であり、
   前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の傾きが該部分の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、請求項１に記載のテーブルシステム。
4. 前記基台は、高さ調整可能であり、
   前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、請求項１に記載のテーブルシステム。
5. 前記制御手段は、天板繰出し前に検出された前記光束の受光位置と天板繰出し後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
6. 前記制御手段は、対象を前記天板に載置する前に検出された前記光束の受光位置と前記対象を前記天板に載置した後に検出された前記光束の受光位置との間の差異の大きさに基づいて制御する、請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
7. 前記光発生手段は、天板繰出し方向と同じ方向の成分を含む所定方向の光束を発生し、
   前記光検出手段は、前記受光位置が前記基台の撓みの程度に応じて変化するような位置に設けられ、前記受光位置が反映された検出信号を出力し、
   前記撓み検出手段は、前記検出信号に基づいて前記受光位置を特定する受光位置特定手段を具備する、請求項１から請求項６のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
8. 前記光束の光路は単直線状である、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
9. 前記光束を少なくとも１回反射させる光学系をさらに具備し、
   前記光束の光路は折れ線状である、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
10. 前記光学系の光反射面は曲面である、請求項９に記載のテーブルシステム。
11. 前記光発生手段は前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配され、前記光検出手段は前記基台の他端部側に配される、請求項８から請求項１０のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
12. 前記光発生手段と前記光検出手段は、共に前記基台の天板繰出し方向における一端部側に配される、請求項９または請求項１０に記載のテーブルシステム。
13. 前記基台は天板繰出し方向に伸びるパイプフレームを有し、
    前記光発生手段と前記光検出手段とは前記パイプフレーム内に設けられる、請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
14. 前記光検出手段の受光面は、多数の電荷結合素子（ＣＣＤ）で構成される、請求項１から請求項１３のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
15. 前記光発生手段はレーザ光源である、請求項１から請求項１４のいずれか１項に記載のテーブルシステム。
16. テーブルシステムに搭載されて撮影空間に搬入された対象をＸ線でスキャンして得られる複数ビューの投影データに基づいて画像を再構成するＸ線ＣＴ装置であって、
    前記テーブルシステムは、
    基台と、
    前記基台から水平方向に繰出し可能に支持された天板と、
    前記天板に搬送力を与えて該天板を天板繰出し方向に搬送する搬送手段と、
    前記基台に設けられた、光束を発生する光発生手段と、前記光束を受光面で検出する光検出手段であって前記基台の撓みに応じてその受光位置が変化する光検出手段とを有し、前記受光位置を検出することにより前記基台の撓みを検出する撓み検出手段とを具備する、Ｘ線ＣＴ装置。
17. 前記検出された受光位置に基づいて、前記基台の撓みの程度が大きくなると前記搬送力が大きくなるよう前記搬送手段を制御する制御手段をさらに具備する、請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置。
18. 前記基台は、垂直方向の傾きが調整可能であり、
    前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の傾きが該天板の撓み角分補償されるよう前記基台の傾きを制御する制御手段をさらに具備する、請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置。
19. 前記基台は、高さ調整可能であり、
    前記検出された受光位置に基づいて、前記天板の前記撮影空間に位置する部分の高さが該部分の撓み量分補償されるよう前記基台の高さを制御する制御手段をさらに具備する、請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置。
20. 前記検出された受光位置に基づいて、前記画像が、前記天板の前記撮影空間に位置する部分を該部分の撓み量および／または撓み角分補償してスキャンしたときに得られる画像になるようデータ処理を行うデータ処理手段をさらに具備する、請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置。

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