JP5201298B2 - 液晶表示装置およびその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、液晶表示装置に関し、特にIPS(In−Plane−Switching)方式と称される液晶表示装置およびその製造方法に関するものである。
IPS方式と称される液晶表示装置は、液晶を介して対向配置される一対の透明基板のうち、一方の透明基板の液晶側の各画素領域に、画素電極と、この画素電極との間に透明基板と平行な電界(横電界)を発生させる共通電極とを形成することにより構成されている。そして、画素電極と共通電極の間の領域を透過する光の量を、電界により液晶の駆動を制御して調整するように構成されている。このような液晶表示装置は、表示面に対して斜めの方向から観察しても表示に変化のない、いわゆる広視野角特性に優れたものとして知られている。
従来、このような液晶表示装置においては、画素電極と共通電極は、光を透過させない導電層で形成していた。しかし、近年、画素領域の周辺を除く領域の全域に透明電極からなる共通電極を形成し、この共通電極上に絶縁膜を介して帯状の画素電極を形成した構成のものが知られるようになった。
このような構成の液晶表示装置は、横電界が画素電極と共通電極との間に発生するため、広視野角特性に優れているとともに、開口率が向上する特徴を有している(例えば、特許文献1参照)。
一方、斜め電界方式の液晶表示装置が開発されている。この液晶表示装置は液晶層に電界を印加するための画素電極と共通電極とを、それぞれ絶縁膜を介して異なる層に配置したもので、IPS方式の液晶表示装置よりも広視野角で、高コントラストであり、更に低電圧駆動ができると共により高透過率であるため、明るい表示が可能となるという特徴を有する。
しかしながら、ドレイン信号線と画素電極の電位差により配向異常が生じるため、信号線近傍が表示に寄与しない領域となって開口率が低下し、また信号線と画素電極で生じるカップリング容量によりクロストーク等の表示品位の低下を招きやすいという問題点も有する。
そこで、このような信号線電位の影響を少なくするため、層間樹脂膜を用いて、この層間樹脂膜上に画素電極や共通電極を配置した液晶表示装置が提案されている(例えば、特許文献2および3参照)。
しかしながら、さらに開口率(透過率)が高く、かつ安価に製造できる液晶表示装置およびその製造方法を供給することが要請されていた。
特開平11−202356号公報 特開2009−122299号公報 特開2010−145449号公報
本発明の液晶表示装置は、一対の透明基板とゲート絶縁膜とスイッチング素子と第1の電極と第2の電極とコンタクトホールとを備えている。一対の透明基板は、液晶層を介して互いに対向配置される。ゲート絶縁膜は、透明基板のうち一方の透明基板の液晶層側の画素領域に形成したゲート電極を覆うように形成される。スイッチング素子は、ゲート絶縁膜上に設けられた薄膜トランジスタからなる。第1の電極は、スイッチング素子上に絶縁膜を介して設けられている。第2の電極は、第1の電極上に絶縁膜を介して設けられ、かつスイッチング素子の電極に接続される。コンタクトホールは、スイッチング素子上の絶縁膜および第1の電極上の絶縁膜に一括して形成され、コンタクトホールには、第2の電極が形成されている。液晶表示装置は、スイッチング素子上の絶縁膜のコンタクトホールの周囲領域に、第1の電極と同時にフローティング電極を形成している。
また、本発明の液晶表示装置の製造方法は、一対の透明基板とゲート絶縁膜とスイッチング素子と第1の電極と第2の電極とコンタクトホールとを備えた液晶表示装置の製造方法である。
液晶表示装置の一対の透明基板は、液晶層を介して互いに対向配置される。ゲート絶縁膜は、透明基板のうち一方の透明基板の液晶層側の画素領域に形成したゲート電極を覆うように形成される。スイッチング素子は、ゲート絶縁膜上に設けられた薄膜トランジスタからなる。第1の電極は、スイッチング素子上に絶縁膜を介して設けられている。第2の電極は、第1の電極上に絶縁膜を介して設けられ、かつスイッチング素子の電極に接続される。コンタクトホールは、スイッチング素子上の絶縁膜および第1の電極上の絶縁膜に一括して形成され、コンタクトホールには、第2の電極が形成されている。
液晶表示装置の製造方法は、スイッチング素子上に絶縁膜を形成した後、絶縁膜上に第1の電極をパターニングして形成するとともに、コンタクトホールを形成する周囲領域にフローティング電極を形成し、その後第1の電極上に絶縁膜を形成した後、前記スイッチング素子上の絶縁膜および前記第1の電極上の絶縁膜に一括してコンタクトホールを形成してスイッチング素子の電極の一部を外部に露出させ、スイッチング素子の電極と第2の電極を接続する。
このようにして本発明によれば、低コストで開口率(透過率)の高い液晶表示装置およびその製造方法を提供することがきるようになる。
本発明の一実施の形態による液晶表示装置の一画素分の要部構造を示す平面図 図1において、スイッチング素子部分の2−2断面における概略断面図 図1において、液晶層部分の3−3断面における概略断面図 本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法における製造工程の一例を示す断面図 本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法における製造工程の一例を示す断面図 本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法における製造工程の一例を示す断面図 本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法における製造工程の一例を示す断面図 本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法における製造工程の一例を示す断面図
(実施の形態)
以下、本発明の一実施の形態による液晶表示装置およびその製造方法について、図1〜図4Eの図面を用いて説明する。
図1は、本発明の一実施の形態による液晶表示装置の一画素分の要部構造を示す平面図である。図2は、図1において、スイッチング素子部分の2−2断面における概略断面図である。図3は、図1において、液晶層部分の3−3断面における概略断面図である。図に示す液晶表示装置は、アクティブマトリクス方式の液晶表示装置であり、複数の画素がマトリクス状に配置されている。
図1、図2、図3に示すように、一対の透明基板1、12は、液晶層13を介して互いに対向配置されている。そして、ガラス基板等の絶縁性の透明基板1の液晶層13側の画素領域には、複数のゲート電極2が直接、または下地層を介して所定のパターンで形成されている。そして、ゲート電極2を覆うようにゲート絶縁膜3が透明基板1上に形成されている。ゲート絶縁膜3上には、半導体膜4が形成されている。そして、半導体膜4上にソース/ドレイン電極5を形成することにより、スイッチング素子としての薄膜トランジスタが構成されている。
ここで、半導体膜4としては、In−Ga−Zn−Oを含むInGaZnOxのアモルファス酸化物半導体により構成するのが望ましい。このIn−Ga−Zn−Oを含むInGaZnOxのアモルファス酸化物半導体膜の成膜方法としては、例えば、InGaO3(ZnO)4組成を有する多結晶焼結体をターゲットとして、スパッタ法やレーザー蒸着法などの気相成膜法により形成することができる。
ゲート電極2は、信号線2aに接続されている。ソース/ドレイン電極5は、信号線5aに接続されている。それぞれの信号線2a、5aは、ゲート絶縁膜3により絶縁された状態で交差するように形成されている。ゲート電極2は、走査信号線となる信号線2aと一体に形成されている。ソース/ドレイン電極5の信号線5aの一部は、映像信号線を兼ねており、両者が接続された構造となっている。ここで、ゲート電極2およびソース/ドレイン電極5およびそれぞれの信号線2a、5aは、Al、Mo、Cr、W、Ti、Pb、Cu、Siの単体金属、またはこれらの複合層(Ti/Alなど)もしくは金属化合物層(MoW,AlCuなど)により形成される。本実施の形態においては、どちらもCrで構成したが、ゲート電極2とソース/ドレイン電極5は異なる材料で構成してもよい。
また、ソース/ドレイン電極5、すなわちスイッチング素子の上には、第1の絶縁膜6、第2の絶縁膜7、共通電極としての第1の電極8、第3の絶縁膜9および画素電極としての第2の電極10が順に積層形成されている。第2の電極10は、3層の第1の絶縁膜6、第2の絶縁膜7および第3の絶縁膜9に一括して形成されたコンタクトホール11を介して薄膜トランジスタのソース/ドレイン電極5に接続されている。すなわち、第1の電極8は、スイッチング素子上に絶縁膜としての第1の絶縁膜6、第2の絶縁膜7を介して設けられている。第2の電極10は、第1の電極8上に絶縁膜としての第3の絶縁膜9を介して設けられ、かつスイッチング素子の電極に接続されている。コンタクトホール11は、壁面が第2の電極10で覆われている。コンタクトホール11の周囲領域には、フローティング電極19が形成されている。
第1の電極8と第2の電極10とフローティング電極19は、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透明導電膜で形成される。フローティング電極19は、第1の電極8を形成する工程において、コンタクトホール11が形成される領域の周囲に存在するように同時に形成されている。また、第1の電極8には、第2の電極10に印加される電位とは異なるコモン電位が供給されている。したがって、第1の電極8と第2の電極10と第3の絶縁膜9とによって保持容量を構成しており、しかも透明な保持容量を形成できるので、透過表示時の開口率を大きくできる。
ここで、第3の絶縁膜9としては、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法により成膜したシリコン窒化膜が好適である。シリコン窒化膜を用いれば、塗布型の有機または無機材料の絶縁膜を用いる場合や、シリコン酸化膜を用いる場合に比べて、誘電率が高くなることから、保持容量を大きくすることができる。第3の絶縁膜9は、高温で成膜することにより、緻密な膜とすることが望ましい。
第2の絶縁膜7は、塗布型の有機または無機材料からなる絶縁膜で、Si−O結合を有したSOG(Spin on Glass)材料により構成している。第2の絶縁膜7にSOG材料を用いることで、後述するように、第1の絶縁膜6および第3の絶縁膜9との一括ドライエッチングが可能となり、製造工程を簡略化することができる。さらに、一般的なコータでの塗布工程で成膜することが可能であるため、真空装置で成膜する第1の絶縁膜6および第3の絶縁膜9のような無機絶縁膜に比べて、膜形成コスト自体も安価となる。また、無機絶縁膜を用いる場合に比べて厚く形成することが容易であるため、平坦性の向上や寄生容量を小さくすることが可能である。また、第2の絶縁膜7は、Si−O結合を有したSOG材料により構成しており、耐熱性が高く、第3の絶縁膜9を240℃以上で高温成膜することが可能となり、より信頼性の高い第3の絶縁膜の形成が可能である。
図3に示すように、画像の表示側には、透明基板1と対向するように、ガラス基板等からなる共通基板としての絶縁性の透明基板12が配置され、これらの透明基板1と透明基板12との間に、液晶層13が配置されている。透明基板1の液晶層13と接する面となる第2の電極10上には、配向膜14が形成され、また透明基板12の液晶層13と接する面側にも配向膜14が配置されている。また、透明基板12の配向膜14が形成される内面には、カラーフィルタ15、ブラックマトリクス16が形成されている。そして、それらを覆うようにオーバーコート17が形成され、このオーバーコート17上に配向膜14が形成されている。
また、透明基板1および透明基板12の外面には、偏光板18が配置されている。尚、図1においては、偏光板18は図示していない。また、必要に応じて、透明基板1、12のうち少なくとも一方に、位相差板などを配置しても良い。
ここで、本実施の形態による液晶表示装置では、第2の電極10は線状の部分を有し、櫛歯状に形成されている。また、第1の電極8は、面状に形成されている。そして、液晶表示装置は、第2の電極10と第1の電極8との間に透明基板1および透明基板12に平行な電界を発生させることにより、液晶層13を駆動して表示を行う。
次に、本発明の一実施の形態による液晶表示装置の製造方法の一例について、図4A〜4Eを用いて説明する。
まず、図4Aに示すように、透明基板1を用意し、その表面の全域にたとえばスパッタリングによってCrなどからなる金属膜を形成する。そして、フォトリソグラフィ技術を用いて金属膜を選択エッチングして、信号線とともに、ゲート電極2を形成する。
次に、図4Bに示すように、ゲート電極2を含む透明基板1表面の全域に、例えばプラズマCVD法あるいはスパッタリング法等を用いて、SiN膜からなるゲート絶縁膜3を形成する。この時の成膜条件は、成膜温度(基板温度)が380℃であり、膜厚は300nmとした。さらに、ゲート絶縁膜3の表面の全域に、例えばCVD法によってa−Si層、またはn型不純物がドーピングされたa−Si層を順次形成する。さらに、そのa−Si層の表面全域に、たとえばスパッタリング法によってCr膜などの金属膜を形成し、フォトリソグラフィ技術を用いて該a−Si層および金属膜を同時に選択エッチングし、薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下、「TFT」と略記する)の半導体膜4と、ソース/ドレイン電極(信号線を含む)5をそれぞれ形成する。
次に、図4Cに示すように、ソース/ドレイン電極5(チャネル領域)を含む透明基板1表面の全域に、プラズマCVD法あるいはスパッタリング法等を用いてSiNからなる第1の絶縁膜6を形成する。さらに、第1の絶縁膜6表面の全面にSi−O結合を有するSOG材料を塗布し、オーブン内での250℃で60分のベークによる熱硬化処理を行うことで、第2の絶縁膜7を形成する。なお、ここで形成された第2の絶縁膜7の厚さは1.5〜4.0μmとすることが好ましい。第2の絶縁膜7の厚さが1.5μm未満であると、TFT等の存在箇所で段差が生じるようになり、更には、以下の工程で形成される第1の電極8や第2の電極10に段差が生じるようになるので、好ましくない。また、第2の絶縁膜7の厚さが4.0μmを超えると、第2の絶縁膜7による光吸収率が大きくなって表示領域の明るさが低下するので好ましくない。
さらに、第2の絶縁膜7表面の全域に、たとえばスパッタリング法によってITO膜を形成する。そして、フォトリソグラフィ技術を用いてITO膜を選択エッチングし、厚さ55nmの第1の電極8およびフローティング電極19を形成する。なお、第1の電極8は、液晶表示装置の額縁領域に配線されたコモン配線に電気的に接続される。フローティング電極19は、後工程で加工されるコンタクトホール11の周囲領域に存在するように形成されている。
次に、図4Dに示すように、第1の電極8を含む第2の絶縁膜7表面の全域に、プラズマCVD法あるいはスパッタリング法等を用いて、例えば絶縁性が良好なSiNからなる第3の絶縁膜9を形成する。この時の成膜条件は、これよりも下層にある第2の絶縁膜7が耐熱温度の高いSOG材料であるため、成膜温度(基板温度)を230℃〜300℃にすることが可能であり、第2の絶縁膜が従来の樹脂膜である場合に比べて、より緻密で信頼性の高い第3の絶縁膜9を形成することが可能である。
また、このときにプラズマCVD法による成膜時の材料ガスであるモノシラン(SiH4)とアンモニア(NH3)のガス流量比を、絶縁膜の通常のバルク層形成の場合には1:6とし、途中から、アンモニア(NH3)のガス流量を増やして例えば1:16とすることにより、絶縁膜の表面近傍が、それ以外の部分(バルク層)よりもエッチングレートが速い膜とすることが望ましい。絶縁膜の表面近傍のエッチングレートがそれ以外の部分よりも速い部分の膜厚は、絶縁膜の膜厚の5%以上、30%以下であることが望ましい。さらに言えば、この膜厚は、8%から12%程度であることが、より望ましい。このように、表面近傍にエッチングレートの速い膜(後退層)を形成することによって、コンタクトホール11を形成する時に順テーパ形状とすることができる。すなわち、図4Dに示すように、コンタクトホール11は、その開口部に近いほど、底部に比べて、直径が大きくなるように形成することができる。
第3の絶縁膜9の厚さは、TFTのチャネル領域、ソース/ドレイン電極の耐湿性および絶縁性を確保するため、100nm以上にするとよい。なお、第3の絶縁膜9の厚さが1000nmを超えると、第1の電極8と第2の電極10との間に生じる容量が小さくなるので、液晶に十分な書き込み電圧を印加することができなくなると共に、液晶分子を駆動するために必要な電圧が高くなるので好ましくない。
その後、第3の絶縁膜9上に、感光性のレジストマスク20を形成する。そして、次に、ドライエッチング処理により、ソース/ドレイン電極5を覆う第1の絶縁膜6、第2の絶縁膜7、および第3の絶縁膜9の3層の絶縁膜を一括して貫通するように、各画素にコンタクトホール11を形成し、ソース/ドレイン電極5の一部を再度外部に露出させる。エッチングガスとしてSF6、CHF3、CF4などとO2の混合ガスを用い、ドライエッチングする。このように、3層の絶縁膜を一括してエッチングすることで、第2の絶縁膜7として感光性の樹脂材料を用い、フォトリソグラフィ技術によってパターニング(コンタクトホール形成)を行う従来の液晶表示装置に比べて、フォトリソグラフィ程などの製造工程が不要となり、また、露光工程負荷(露光、光反応処理)などの製造工程を低減でき、低コスト化が可能となる。
さらに、SiNなどの無機絶縁膜である第1の絶縁膜6および第3の絶縁膜9に挟まれた、第2の絶縁膜7がSi−O結合を有するSOG材料である。したがって、ドライエッチング処理後に各層の段差は発生しない。また第2の絶縁膜7とフォトレジストとの選択比が2.5以上、第2の絶縁膜7のエッチングレートが500nm/min以上にすることにより、プラズマによる第2の絶縁膜へのダメージも発生しないため、安定したパターニングが可能である。
また、第3の絶縁膜9において、コンタクトホール11の周囲領域には、第1の電極8と同時にフローティング電極19を形成しており、コンタクトホール11を形成する際に、このフローティング電極19によってホールの広がりを防ぐことができる。したがって、3層の絶縁膜を一括してエッチングすることによりコンタクトホール11を形成した場合であっても、高精度のコンタクトホール11を形成することができる。
図4Eに示すように、コンタクトホール11の形成後、レジストマスク20を除去し、その後、第3の絶縁膜9の表面全体およびコンタクトホール11を覆うようにITOによる透明導電性材料を被覆し、フォトリソグラフィ法およびエッチング法によって、第2の電極(画素電極)10を形成する。膜厚は75nmとしている。この際、透明導電性材料の一部がコンタクトホール11内に成膜され、これにより第2の電極(画素電極)10とソース/ドレイン電極5とが電気的に接続される。
なお、本実施の形態では、第3の絶縁膜9としてSiN膜を用いたが、ITO上の白濁を確実に回避するために少なくともITOと接触する第3の絶縁膜9をSiO2やSiON等の酸素を含む絶縁膜を用いてもよい。
また、ソース/ドレイン電極5の上に第1の絶縁膜6を形成した場合について説明したが、信頼性の要求度等により第1の絶縁膜6は必ずしも必要な層ではなく、ソース/ドレイン電極5の上に第2の絶縁膜7を直接形成した構成でも、本発明により保持容量を大きくする効果は奏することができる。なお、このような構造の場合も、第2の絶縁膜7としてSOG材料を用いることで、樹脂材料の場合よりも高い信頼性を得ることができる。さらに、絶縁膜として、SiNを形成する場合について説明しているが、これに限られず、SiO2、SiOやSiNを含む積層膜、例えばSiO2とSiNの2層構造とすることもできる。
また、第3の絶縁膜9において、コンタクトホール11の周囲領域には、第1の電極8と同時にフローティング電極19を形成しており、3層の絶縁膜を一括してエッチングすることによりコンタクトホール11を形成した場合であっても、高精度のコンタクトホール11を形成することができ、これにより高い信頼性の第2の電極10を形成することができる。
本発明によれば、低コストで開口率(透過率)の高い液晶表示装置を提供する上で有用な発明である。
1,12 透明基板
2 ゲート電極
3 ゲート絶縁膜
4 半導体膜
5 ソース/ドレイン電極
6 第1の絶縁膜
7 第2の絶縁膜(Si−O結合を有するSOG材料)
8 第1の電極
9 第3の絶縁膜
10 第2の電極
11 コンタクトホール
13 液晶層
19 フローティング電極

Claims (2)

  1. 液晶層を介して互いに対向配置される一対の透明基板と、
    前記一対の前記透明基板のうち一方の前記透明基板の前記液晶層側の画素領域に形成したゲート電極を覆うように形成されるゲート絶縁膜と、
    前記ゲート絶縁膜上に設けられた薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、
    前記スイッチング素子上に絶縁膜を介して設けられた第1の電極と、
    前記第1の電極上に絶縁膜を介して設けられ、かつ前記スイッチング素子の電極に接続される第2の電極と、
    前記スイッチング素子上の前記絶縁膜および前記第1の電極上の前記絶縁膜に一括して形成され、前記第2の電極が形成されるコンタクトホールと
    を備えた液晶表示装置であって、
    前記スイッチング素子上の前記絶縁膜の前記コンタクトホールの周囲領域に、前記第1の電極と同時にフローティング電極を形成している液晶表示装置。
  2. 液晶層を介して互いに対向配置される一対の透明基板と、
    前記一対の前記透明基板のうち一方の前記透明基板の前記液晶層側の画素領域に形成したゲート電極を覆うように形成されるゲート絶縁膜と、
    前記ゲート絶縁膜上に設けられた薄膜トランジスタからなるスイッチング素子と、
    前記スイッチング素子上に絶縁膜を介して設けられた第1の電極と、
    前記第1の電極上に絶縁膜を介して設けられ、かつ前記スイッチング素子の電極に接続される第2の電極と、
    前記スイッチング素子上の前記絶縁膜および前記第1の電極上の前記絶縁膜に一括して形成され、前記第2の電極が形成されるコンタクトホールと
    を備えた液晶表示装置の製造方法であって、
    前記スイッチング素子上に前記絶縁膜を形成した後、
    前記絶縁膜上に前記第1の電極をパターニングして形成するとともに、前記コンタクトホールを形成する周囲領域にフローティング電極を形成し、
    その後前記第1の電極上に絶縁膜を形成した後、前記スイッチング素子上の絶縁膜および前記第1の電極上の絶縁膜に一括してコンタクトホールを形成して前記スイッチング素子の前記電極の一部を外部に露出させ、
    前記スイッチング素子の前記電極と前記第2の電極を接続する
    液晶表示装置の製造方法。
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