JP5198492B2 - 温度プロファイル解析システム、温度プロファイル解析装置、リフロー装置、及び温度プロファイル解析方法 - Google Patents
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Description
20 温度プロファイル解析装置
21 温度プロファイル取得部
22 基準時間検出部
23 温度プロファイル解析部
24 加熱特性値算出部
25 位置データ記憶部
26 位置データ
30 リフロー装置
31 コンベア
32 加熱室
33 冷却室
34 加熱ヒータ
35 冷却器
50 基板
51 温度センサ
52 温度プロファイル
100 温度プロファイル解析システム
Claims (9)
- リフロー装置の搬送路を予め定められた搬送速度で搬送される基板の少なくとも1つの測定点に取り付けられた少なくとも1つの温度センサによって測定された温度の時間変化を示す温度プロファイルを解析するための温度プロファイル解析システムであって、
前記搬送路に設けられ、前記基板に取り付けられた温度センサによって測定される温度を前記搬送路上の基準位置において一時的に変化させる温度変化装置と、
前記温度プロファイルを解析する温度プロファイル解析装置とを備え、
前記温度プロファイル解析装置は、
前記温度プロファイルを取得する温度プロファイル取得部と、
取得された前記温度プロファイルが示す温度の時間変化に基づいて、前記測定点が前記基準位置を通過したときの前記温度プロファイル上の時間を基準時間として検出する基準時間検出部と、
検出された前記基準時間と前記予め定められた搬送速度とを用いて、前記基準位置との前記搬送路に沿った距離に基づく前記搬送路上の位置と前記温度プロファイル上の時間とを対応付ける温度プロファイル解析部とを備える
温度プロファイル解析システム。 - 前記リフロー装置は、前記基板を予め定められた温度条件に適合するように加熱するための加熱室を有し、
前記温度変化装置は、前記加熱室よりも前記基板の搬送方向の上流側に設けられる
請求項1に記載の温度プロファイル解析システム。 - 前記温度プロファイル取得部は、前記基板の複数の測定点に取り付けられた複数の温度センサによってそれぞれ測定された温度の時間変化を示す複数の温度プロファイルを取得し、
前記基準時間検出部は、前記温度プロファイルごとに、当該温度プロファイルに対応する測定点が前記基準位置を通過したときの当該温度プロファイル上の時間を基準時間として検出し、
前記温度プロファイル解析部は、前記温度プロファイルごとに、前記搬送路上の位置と前記温度プロファイル上の時間とを対応付ける
請求項1又は2に記載の温度プロファイル解析システム。 - 前記温度プロファイル取得部は、前記基板に取り付けられた温度センサによって所定のサンプリング周期で測定された温度の時間変化を示す前記温度プロファイルを取得し、
前記温度変化装置は、前記搬送路の温度変化区間にわたって、前記基板に取り付けられた温度センサによって測定される温度を変化させ、
前記所定のサンプリング周期は、前記予め定められた速度で前記温度変化区間を通過するために必要な時間よりも短い
請求項1〜3のいずれか1項に記載の温度プロファイル解析システム。 - 前記温度変化装置は、前記搬送路の上部に設けられる
請求項1〜4のいずれか1項に記載の温度プロファイル解析システム。 - リフロー装置の搬送路を予め定められた搬送速度で搬送される基板の少なくとも1つの測定点に取り付けられた少なくとも1つの温度センサによって測定された温度の時間変化を示す温度プロファイルを解析する温度プロファイル解析装置であって、
前記温度プロファイルを取得する温度プロファイル取得部と、
取得された前記温度プロファイルが示す温度の時間変化に基づいて、前記測定点が基準位置を通過したときの前記温度プロファイル上の時間を基準時間として検出する基準時間検出部と、
検出された前記基準時間と前記予め定められた搬送速度とを用いて、前記搬送路に沿った前記基準位置との距離に基づく前記搬送路上の位置と前記温度プロファイル上の時間とを対応付ける温度プロファイル解析部とを備え、
前記基準位置は、前記搬送路に設けられた温度変化装置によって、前記基板に取り付けられた温度センサによって測定される温度が一時的に変化させられる前記搬送路上の位置である
温度プロファイル解析装置。 - 基板を加熱するリフロー装置であって、
基板を予め定められた速度で搬送する搬送手段と、
基板の温度が予め定められた温度条件に適合するように、前記搬送手段によって搬送される基板を加熱するための加熱室と、
前記加熱室よりも基板の搬送方向の上流側に設けられ、前記基板に取り付けられた温度センサによって測定される温度を一時的に変化させる温度変化装置とを備える
リフロー装置。 - リフロー装置の搬送路を予め定められた搬送速度で搬送される基板の少なくとも1つの測定点に取り付けられた少なくとも1つの温度センサによって測定された温度の時間変化を示す温度プロファイルを解析する温度プロファイル解析方法であって、
前記温度プロファイルを取得する温度プロファイル取得ステップと、
取得された前記温度プロファイルが示す温度の時間変化に基づいて、前記測定点が基準位置を通過したときの前記温度プロファイル上の時間を基準時間として検出する基準時間検出ステップと、
検出された前記基準時間と前記予め定められた搬送速度とを用いて、前記搬送路に沿った前記基準位置との距離に基づく前記搬送路上の位置と前記温度プロファイル上の時間とを対応付ける温度プロファイル解析ステップとを含み、
前記基準位置は、前記搬送路に設けられた温度変化装置によって、前記基板に取り付けられた温度センサによって測定される温度が一時的に変化させられる前記搬送路上の位置である
温度プロファイル解析方法。 - 請求項8に記載の温度プロファイル解析方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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JP2010033998A JP5198492B2 (ja) | 2010-02-18 | 2010-02-18 | 温度プロファイル解析システム、温度プロファイル解析装置、リフロー装置、及び温度プロファイル解析方法 |
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JP2010033998A JP5198492B2 (ja) | 2010-02-18 | 2010-02-18 | 温度プロファイル解析システム、温度プロファイル解析装置、リフロー装置、及び温度プロファイル解析方法 |
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JP2011169754A JP2011169754A (ja) | 2011-09-01 |
JP5198492B2 true JP5198492B2 (ja) | 2013-05-15 |
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JP2010033998A Active JP5198492B2 (ja) | 2010-02-18 | 2010-02-18 | 温度プロファイル解析システム、温度プロファイル解析装置、リフロー装置、及び温度プロファイル解析方法 |
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JPH0974271A (ja) * | 1995-09-04 | 1997-03-18 | Tamura Seisakusho Co Ltd | リフローはんだ付け装置の温度プロファイル表示方法 |
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