JP5188782B2 - Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film - Google Patents

Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film Download PDF

Info

Publication number
JP5188782B2
JP5188782B2 JP2007294037A JP2007294037A JP5188782B2 JP 5188782 B2 JP5188782 B2 JP 5188782B2 JP 2007294037 A JP2007294037 A JP 2007294037A JP 2007294037 A JP2007294037 A JP 2007294037A JP 5188782 B2 JP5188782 B2 JP 5188782B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electrode
processed
reaction gas
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007294037A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2009120881A (en
Inventor
峰男 野崎
秀徳 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tsukishima Kikai Co Ltd
Original Assignee
Tsukishima Kikai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tsukishima Kikai Co Ltd filed Critical Tsukishima Kikai Co Ltd
Priority to JP2007294037A priority Critical patent/JP5188782B2/en
Publication of JP2009120881A publication Critical patent/JP2009120881A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5188782B2 publication Critical patent/JP5188782B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、プラズマCVD装置、及び被処理基板表面上にハードコート層を形成するプラスチック表面保護膜の形成方法に関するものである。   The present invention relates to a plasma CVD apparatus and a plastic surface protective film forming method for forming a hard coat layer on the surface of a substrate to be processed.

プラスチック素材の表面は、一般に、その物性から耐擦傷性が硝子に比して劣る。透明性の大きいプラスチック素材は、一般に軽量であり、耐衝撃性が大きく、しかも、加工が容易であるなどの種々の長所を有しており、これらの長所を活用して眼鏡のレンズおよび時計のカバーグラスなどとして硝子に代えて広く使用されている。しかしながら、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂およびCR−39樹脂(ジエチレングリコールビスアリルカーボネート重合体 以下同様)などから得られた透明なプラスチック素材は、その使用、特に光学上の使用に際しては、透明性が大きいことが重視されることから、その表面に傷が付き難いことが当然に要求され、そのための種々の表面硬化法がある。   The surface of a plastic material is generally inferior in scratch resistance to glass due to its physical properties. A highly transparent plastic material is generally lightweight, has high impact resistance, and has various advantages such as easy processing. Widely used in place of glass as a cover glass. However, transparent plastic materials obtained from polycarbonate resin, acrylic resin, and CR-39 resin (diethylene glycol bisallyl carbonate polymer, the same shall apply hereinafter) and the like have high transparency when used, particularly in optical use. Since it is emphasized, it is naturally required that the surface is not easily scratched, and there are various surface curing methods for this purpose.

従来のプラスチック素材の表面硬化法の他の1つとして、プラズマ重合法(CVD法)がある。プラズマ重合法は、真空反応容器中において気体で存在するような蒸気圧を有する有機化合物であれば、これらの有機化合物のほとんど全ては真空反応容器中でプラズマ励起させることによって重合せしめられて、ピンホールのような欠陥のない被膜が形成されることを利用するものである。また、真空中でのプラズマ重合法における反応は、常温での反応であり、プラスチックの耐用温度よりも低い温度で被膜を形成させることができるという利点がある。しかも、このプラズマ重合法における反応は比較的低温で行われながら、電子温度が高いので、化学反応では高温でしか起こらないような反応を行わせることができるために、架橋度が高く、高い硬度を有する膜を形成させることができるという利点がある。   As another conventional surface hardening method for plastic materials, there is a plasma polymerization method (CVD method). In the plasma polymerization method, if an organic compound has a vapor pressure that exists as a gas in a vacuum reaction vessel, almost all of these organic compounds are polymerized by plasma excitation in the vacuum reaction vessel. It utilizes the formation of a film free from defects such as holes. Further, the reaction in the plasma polymerization method in vacuum is a reaction at room temperature, and there is an advantage that a film can be formed at a temperature lower than the durable temperature of the plastic. Moreover, the reaction in this plasma polymerization method is performed at a relatively low temperature, but the electron temperature is high, so that a reaction that occurs only at a high temperature can be performed in a chemical reaction, so the degree of crosslinking is high and the hardness is high. There is an advantage that a film having the above can be formed.

プラズマ処理方法として、特許文献1及び特許文献2などに開示がある。特許文献1では、アノード電極と反応ガス吹き出し手段とを一体としたものである。被処理基板はカソード電極の表面に設けられる。また、カソード電極のみが冷却され、アノード電極は冷却されないものである。   As a plasma processing method, there are disclosures in Patent Document 1, Patent Document 2, and the like. In Patent Document 1, the anode electrode and the reactive gas blowing means are integrated. The substrate to be processed is provided on the surface of the cathode electrode. Further, only the cathode electrode is cooled, and the anode electrode is not cooled.

特許文献2では、被処理基板はアノード電極の表面に設けられる。また、アノード電極は冷却され、カソード電極は冷却されないものである。
したがって、カソード電極及びアノード電極の両者が冷却されているものではない。
In Patent Document 2, the substrate to be processed is provided on the surface of the anode electrode. Further, the anode electrode is cooled and the cathode electrode is not cooled.
Therefore, both the cathode electrode and the anode electrode are not cooled.

特許文献1のように、被処理基板をカソード電極の表面に設け、そのカソード電極を冷却することは、その冷熱の熱伝達により被処理基板の熱変形を防止するうえで有効な手段である。
しかし、ある程度長い時間大きな電力を投入して所望の膜厚を確保しようとする場合、電極で発生する熱が大きいものとなり、プラスチック基板の熱変形を避けることが難しいものとなる。特に、プラスチック基板の厚みが厚くなるほど熱変形が顕著になる。薄いプラスチック基板の場合には、対面する電極を冷却することに伴う冷熱の熱伝達により被プラスチック基板の熱変形を防止することが可能となるが、厚いプラスチック基板の場合には、熱伝達量に限界が生じるためと考えられる。
特開2003―100721号公報 特開平6−228346号公報
As in Patent Document 1, providing the substrate to be processed on the surface of the cathode electrode and cooling the cathode electrode is an effective means for preventing thermal deformation of the substrate to be processed by heat transfer of the cold heat.
However, when a large amount of power is applied for a certain period of time to secure a desired film thickness, the heat generated in the electrodes is large, and it is difficult to avoid thermal deformation of the plastic substrate. In particular, thermal deformation becomes more significant as the thickness of the plastic substrate increases. In the case of a thin plastic substrate, it becomes possible to prevent thermal deformation of the plastic substrate by the heat transfer of the cold heat accompanying cooling the facing electrode, but in the case of a thick plastic substrate, the heat transfer amount is reduced. This is thought to be due to a limit.
Japanese Patent Laid-Open No. 2003-1000072 JP-A-6-228346

したがって、本発明が解決しようとする主たる課題は、被処理基板の熱変形を防止することにある。また、厚い被処理基板に対して被膜厚を厚くする場合においても、熱変形を防止することにある。   Therefore, the main problem to be solved by the present invention is to prevent thermal deformation of the substrate to be processed. Another object of the present invention is to prevent thermal deformation even when the film thickness is increased with respect to a thick substrate.

この課題を解決した本発明は、次のとおりである。
〔請求項1記載の発明〕
真空容器内に対向して配置され、電源に接続された電極及びアース接地された一対の電極を有し、減圧状態で前記真空容器内に反応ガスを導入しながら、その反応ガスのプラズマを前記電極間に形成するプラズマCVD装置であって、
一方の電極表面上にプラスチック被処理基板を配置し、前記各電極を強制的に冷却する冷却手段を備え、
前記一方の電極に対する冷却手段による冷熱が、熱伝達により前記被処理基板を冷却する関係にあり、
前記一方の電極が、カソード電極であり、他方の電極がアノード電極であり、
前記被処理基板と、これと離間して対向する他方の電極が設けられ、これらの間に前記反応ガスの導入ヘッドが設けられ、前記他方の電極が他の冷却手段により冷却され、前記反応ガスは前記導入ヘッドを通って前記被処理基板に向かって吹き出されるように構成され、
前記導入ヘッドは、エポキシ樹脂、ガラス・エポキシ積層板、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、フェノール樹脂の群から選ばれることを特徴とするプラズマCVD装置。
The present invention that has solved this problem is as follows.
[Invention of Claim 1]
Oppositely disposed in the vacuum vessel, and having a pair of electrodes connected to a power source and grounded, and introducing the reaction gas into the vacuum vessel in a reduced pressure state, the plasma of the reaction gas is A plasma CVD apparatus formed between electrodes,
A plastic substrate is disposed on one electrode surface, and includes cooling means for forcibly cooling the electrodes,
Cold heat by the cooling means for said one electrode is, Ri relationship near cooling the substrate to be processed by heat transfer,
The one electrode is a cathode electrode and the other electrode is an anode electrode;
The substrate to be processed and the other electrode spaced apart from the substrate to be processed are provided, the reaction gas introduction head is provided therebetween, the other electrode is cooled by another cooling means, and the reaction gas Is configured to be blown out toward the substrate to be processed through the introduction head,
The inlet head has an epoxy resin, glass-epoxy laminates, fluorine resin, polycarbonate resin, selected from the group consisting of phenolic resins plasma CVD apparatus according to claim Rukoto.

(作用効果)
本発明では、各電極の両者を強制的に冷却する冷却手段を設けたものである。前述のように、ある程度長い時間大きな電力を投入して所望の膜厚を確保しようとする場合、電極で発生する熱が大きいものとなり、プラスチック基板の熱変形を避けることが難しい。
本発明者らは、鋭意研究及び検討したところ、熱の発生は電極内の電力損失に伴う熱量だけでなく、プラズマ空間と電極との界面で生成する熱が大きいことを知見した。しかるに、本発明に従って、プラスチック被処理基板を設置する電極のみならず、他方の電極をも冷却すると、当該他方の電極とプラズマ空間との界面での発生熱を抑制できるので、結果として、プラスチック被処理基板の熱変形を防止できる。
(Function and effect)
In the present invention, cooling means for forcibly cooling both electrodes is provided. As described above, when a desired film thickness is to be ensured by applying a large amount of power for a certain period of time, the heat generated in the electrodes is large, and it is difficult to avoid thermal deformation of the plastic substrate.
As a result of diligent research and investigations, the present inventors have found that heat is generated not only in the amount of heat accompanying power loss in the electrode, but also in heat generated at the interface between the plasma space and the electrode. However, according to the present invention, not only the electrode on which the plastic substrate is placed but also the other electrode is cooled, so that the heat generated at the interface between the other electrode and the plasma space can be suppressed. Thermal deformation of the processing substrate can be prevented.

一方の電極を第1電極表面(カソード電極)とし、この上に被処理基板を設けたものである。これによって、他方の電極としての第2電極表面(アノード電極)上に被処理基板を設ける場合に比較して、硬質な被膜が得られ、また、被処理基板に対する被膜の密着性が高いものとなる。この理由は、プラズマと電極表面との間の電位差がアノード電極に比較してカソード電極の方が大きく、エネルギーの大きいイオンが存在していることに起因すると思われる。   One electrode is a first electrode surface (cathode electrode), and a substrate to be processed is provided thereon. As a result, a hard film can be obtained and the adhesion of the film to the substrate to be processed is higher than when a substrate to be processed is provided on the second electrode surface (anode electrode) as the other electrode. Become. The reason is considered to be that the potential difference between the plasma and the electrode surface is larger in the cathode electrode than in the anode electrode, and ions having higher energy exist.

特許文献1のように、第2電極表面(アノード電極)自体から反応ガスを吹き出すものではなく、被処理基板と第2電極表面(アノード電極)との間に、反応ガスの導入ヘッドから反応ガスを吹き出すようにしている。特許文献1のように、第2電極表面(アノード電極)自体から反応ガスを吹き出すようにすると、吹き出し口部分でプラズマが点灯し、異常放電を起こしたり、反応生成物である粉末が吹き出し口部分に堆積する場合があることが知見された。そして、プラズマ点灯した吹き出し口を反応ガスが通過すると、前記の粉末が起因して、透明であるべき生成被膜がわずかに白く濁ったり、膜厚の不均一性や一部硬度が十分でない被膜を生成してしまう危険性がある。
ここで、他の冷却手段として、一方の電極(第1電極)と同じ冷却方式、すなわち同一の冷却源(たとえば冷却媒体)を他方の電極(第2電極)に流通させることにより構成できる。
また、プラズマの発生によって、導入ヘッドも加熱され、たとえば100℃程度になることもある。そのために導入ヘッドの材料には、たとえば150℃以上の耐熱性が要求されるが、列挙の材料はその耐熱性は充足する。ガラスやアルミナなどの材料も耐熱性に優れ、前記導入ヘッドとして利用可能であるが、加工性に難がある。導入ヘッドの比誘電率が真空に比べて大きければ、電界分布を変化させることができる。良好な膜形成に必要な電界分布の観点から、比誘電率が2.5〜12.0程度であるのが望ましいことを知見しているが、列挙の材料は前記の比誘電率の範囲内に存在する。結論的には、列挙の材料は耐熱性、加工性及び良好な膜形成に必要な電界分布の観点から、好適な材料である。
As in Patent Document 1, the reaction gas is not blown out from the second electrode surface (anode electrode) itself, but from the reaction gas introduction head between the substrate to be processed and the second electrode surface (anode electrode). To blow out. When the reactive gas is blown out from the second electrode surface (anode electrode) itself as in Patent Document 1, plasma is turned on at the blowout port, causing abnormal discharge, or the reaction product powder is blown out from the blowout portion. It has been found that there is a case where it accumulates on the surface. Then, when the reaction gas passes through the plasma-lit outlet, the above-mentioned powder causes a coating film that should be transparent to be slightly white turbid, or a film with nonuniform film thickness or partial hardness. There is a risk of generating.
Here, as another cooling means, the same cooling method as that of one electrode (first electrode), that is, the same cooling source (for example, cooling medium) can be circulated to the other electrode (second electrode).
Further, the introduction head is heated by the generation of plasma, and may be about 100 ° C., for example. Therefore, the material of the introduction head is required to have a heat resistance of, for example, 150 ° C. or higher, but the listed materials satisfy the heat resistance. Materials such as glass and alumina are also excellent in heat resistance and can be used as the introduction head, but they are difficult to process. If the relative permittivity of the introduction head is larger than that of the vacuum, the electric field distribution can be changed. From the viewpoint of electric field distribution necessary for good film formation, it is known that the relative dielectric constant is preferably about 2.5 to 12.0. However, the listed materials are within the range of the relative dielectric constant. Exists. In conclusion, the listed materials are suitable materials from the viewpoint of heat resistance, workability, and electric field distribution necessary for good film formation.

〔請求項記載の発明〕
前記他の冷却手段による冷熱が、導入ヘッドを通る反応ガスを冷却するように構成した請求項記載のプラズマCVD装置。
[Invention of Claim 2 ]
The other cold heat by the cooling means, the plasma CVD apparatus according to claim 1, wherein configured to cool the reaction gas through the inlet head.

(作用効果)
他の冷却手段による冷熱により、導入ヘッドを通る反応ガスを冷却するように構成することにより、他方の電極(第2電極)とプラズマ空間との界面での発生熱を抑制できるばかりでなく、被処理基板側に向かって吹き出される反応ガス自体の温度を低下させることができるので、プラスチック被処理基板の熱変形防止効果が高いものとなる。
(Function and effect)
By configuring so that the reaction gas passing through the introduction head is cooled by cooling by another cooling means, not only can the generated heat at the interface between the other electrode (second electrode) and the plasma space be suppressed, Since the temperature of the reaction gas itself blown toward the processing substrate can be lowered, the effect of preventing thermal deformation of the plastic substrate to be processed becomes high.

〔請求項記載の発明〕
前記被処理基板の表面は曲面を有し、これと対向する前記導入ヘッドの対向表面を、前記被処理基板と実質的に均等な間隔をもつように曲面を有するようにした請求項1または2記載のプラズマ処理装置。
[Invention of Claim 3 ]
The surface of the substrate has a curved surface, this and the opposed facing surfaces of the inlet head, claim 1 or 2 so as to have a curved surface so as to have a target substrate substantially uniformly spaced The plasma processing apparatus as described.

(作用効果)
被処理基板の表面が曲面を有する場合、これと対向する導入ヘッドの対向表面は、前記被処理基板と実質的に均等な間隔をもつように曲面を有することで、プラズマを均一かつ安定的に発生させることができ、被処理基板上に均一な膜特性及び均一な膜厚の被膜を形成できる。
(Function and effect)
When the surface of the substrate to be processed has a curved surface, the opposing surface of the introduction head opposite to the surface to be processed has a curved surface so as to have a substantially uniform distance from the substrate to be processed, thereby making plasma uniform and stable. Therefore, a film having uniform film characteristics and a uniform film thickness can be formed on the substrate to be processed.

〔請求項記載の発明〕
前記導入ヘッドは前記被処理基板側の壁に多数の吹き出し口を有し、前記吹き出し口は実質的に均等な間隔をもって行列状又は千鳥状に形成され、その形状が円形で、かつ直径が2〜7mmである請求項1〜3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
[Invention of Claim 4 ]
The introduction head has a large number of outlets on a wall on the substrate to be processed, and the outlets are formed in a matrix or a staggered pattern with substantially equal intervals, the shape is circular, and the diameter is 2 The plasma processing apparatus according to claim 1 , which is ˜7 mm.

(作用効果)
吹き出し口は実質的に均等な間隔をもって行列状又は千鳥状に形成され、その形状が円形であると、各吹き出し口からの吹き出しガス流量が均一化し、プラズマが均一かつ安定的に発生させる効果が高いものとなる。また、直径が2〜7mmであることで、プラズマ反応が安定し、膜厚の均一性が高いものとなる。この点は後述の実施例及び比較例によって明らかにする。
(Function and effect)
The outlets are formed in a matrix or zigzag pattern with substantially uniform intervals, and if the shape is circular, the flow rate of the blowing gas from each outlet becomes uniform, and the effect of generating plasma uniformly and stably is obtained. It will be expensive. Further, when the diameter is 2 to 7 mm, the plasma reaction is stabilized and the film thickness is highly uniform. This point will be clarified by examples and comparative examples described later.

〔請求項記載の発明〕
前記吹き出し口のピッチが4〜20mmである請求項記載のプラズマ処理装置。
[Invention of Claim 5 ]
The plasma processing apparatus according to claim 4 , wherein a pitch of the outlets is 4 to 20 mm.

(作用効果)
ピッチが4〜20mmであると、反応ガスの分散供給が均一化することで、被処理基板表面でのプラズマ重合反応が安定し、膜厚が均一化する。
(Function and effect)
When the pitch is 4 to 20 mm, the distributed supply of the reaction gas is made uniform, so that the plasma polymerization reaction on the surface of the substrate to be processed is stabilized and the film thickness is made uniform.

〔請求項記載の発明〕
請求項1〜のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置を使用し、被処理基板をプラスチック素材とし、オルガノシロキサン、又はオルガノシランと酸素ガスとの混合ガスを反応ガスとして、前記被処理基板表面上に前記反応ガスをプラズマ状態とすることにより生成する重合物によりハードコート層を形成することを特徴とするプラズマ処理によるプラスチック表面保護膜の形成方法。
[Invention of Claim 6 ]
The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the substrate to be processed is made of a plastic material, and organosiloxane or a mixed gas of organosilane and oxygen gas is used as a reaction gas, the substrate to be processed. A method of forming a plastic surface protective film by plasma treatment, comprising forming a hard coat layer on a surface by a polymer produced by bringing the reaction gas into a plasma state.

(作用効果)
本発明において、反応ガスに限定されないが、オルガノシロキサン、又はオルガノシランと酸素ガスとの混合ガスを反応ガスとして使用すると、均一で硬質な被膜を形成できる。
(Function and effect)
In the present invention, the reaction gas is not limited, but when an organosiloxane or a mixed gas of organosilane and oxygen gas is used as the reaction gas, a uniform and hard film can be formed.

本発明に従うと、要すれば、被処理基板の熱変形を防止することができる。また、厚い被処理基板に対して被膜厚を厚くする場合においても、熱変形を防止することができる。   According to the present invention, if necessary, thermal deformation of the substrate to be processed can be prevented. In addition, even when the film thickness is increased with respect to a thick substrate, thermal deformation can be prevented.

次に、本発明の実施の形態を説明する。
(第1の実施の形態)
図1及び図2は本発明の基本形態の例示である。なお、図示例において、第1電極10、第2電極20、処理基板30及び導入ヘッド40は、上下方向に並んでいるが、左右方向に並置することによっても本発明の効果は実質的に同一にあらわれることを、予め断っておく。
Next, an embodiment of the present invention will be described.
(First embodiment)
1 and 2 are illustrations of the basic form of the present invention. In the illustrated example, the first electrode 10, the second electrode 20, the processing substrate 30, and the introduction head 40 are arranged in the vertical direction, but the effect of the present invention is substantially the same even if they are arranged in the horizontal direction. I refuse to appear in advance.

本発明のプラズマ処理装置においては、真空容器1内に対向して、第1電極(カソード電極)10及び第2電極(アノード電極)20が配置されている。第1電極10表面上に被処理基板30が配置され、ホルダー12によって支持される。真空容器1内は、排気口4から真空ポンプ5によって、減圧状態とされ、真空容器1内に外部から反応ガス7を導入ヘッド40を通して導入しながら、その反応ガスのプラズマを第1電極(カソード電極)10と第2電極(アノード電極)20との間に形成するようにしてある。   In the plasma processing apparatus of the present invention, a first electrode (cathode electrode) 10 and a second electrode (anode electrode) 20 are arranged facing the inside of the vacuum vessel 1. A substrate to be processed 30 is disposed on the surface of the first electrode 10 and supported by the holder 12. The inside of the vacuum vessel 1 is decompressed by the vacuum pump 5 from the exhaust port 4, and the reaction gas 7 is introduced into the vacuum vessel 1 from the outside through the introduction head 40, and the plasma of the reaction gas is supplied to the first electrode (cathode). An electrode) 10 and a second electrode (anode electrode) 20 are formed.

第1電極(カソード電極)10はマッチングボックス3を介して電源2に接続されている。真空容器1との間は絶縁シール6によって絶縁されている。また、詳細は図示していないが、第1電極(カソード電極)10内には冷却媒体6Aが流通され、その界面を通しての冷却熱伝達により被処理基板30の冷却が図られている。さらに、第1電極(カソード電極)10の、第2電極(アノード電極)20対向面を除く外周面には、若干の間隔をおいてシールド部材14が設けられている。第2電極(アノード電極)20はアース接地してある。   The first electrode (cathode electrode) 10 is connected to the power source 2 via the matching box 3. The vacuum vessel 1 is insulated by an insulating seal 6. Further, although not shown in detail, a cooling medium 6A is circulated in the first electrode (cathode electrode) 10, and the substrate 30 to be processed is cooled by cooling heat transfer through the interface. Further, a shield member 14 is provided on the outer peripheral surface of the first electrode (cathode electrode) 10 excluding the surface facing the second electrode (anode electrode) 20 with a slight gap. The second electrode (anode electrode) 20 is grounded.

本発明においては、被処理基板30と第2電極(アノード電極)20との間に、反応ガス7の導入ヘッド40が設けられている。
他方で、図示例においては、導入ヘッド40が第2電極(アノード電極)20と接触する形態であり、導入ヘッド40の冷却を図り、被処理物(被処理基板及び又は被膜)の熱による変形及び変質を防ぐために、第2電極(アノード電極)20内には、第1電極(カソード電極)10と同様に、冷却媒体6Aが流通され、その界面を通しての冷却熱伝達により導入ヘッド40の冷却が図られている。したがって、第2電極(アノード電極)20の冷却に伴って、導入ヘッド40を通る反応ガスも冷却されるように構成されている。
In the present invention, an introduction head 40 for the reaction gas 7 is provided between the substrate 30 to be processed and the second electrode (anode electrode) 20.
On the other hand, in the illustrated example, the introduction head 40 is in contact with the second electrode (anode electrode) 20, and the introduction head 40 is cooled to deform the object to be processed (substrate to be processed and / or film) by heat. In order to prevent alteration, the cooling medium 6A is circulated in the second electrode (anode electrode) 20 similarly to the first electrode (cathode electrode) 10, and cooling of the introduction head 40 is performed by cooling heat transfer through the interface. Is planned. Accordingly, the reaction gas passing through the introduction head 40 is also cooled as the second electrode (anode electrode) 20 is cooled.

導入ヘッド40は、箱状となり、被処理基板30側の壁に多数の吹き出し口40A、40A…を有し、反応ガス7は流入孔40B、40B…を通して、導入ヘッド40内へ導入されるようになっている。この反応ガス7は、吹き出し口40A、40A…から被処理基板30側に吹き出されるように構成されている。   The introduction head 40 has a box shape and has a large number of outlets 40A, 40A,... On the wall on the substrate 30 side, and the reaction gas 7 is introduced into the introduction head 40 through the inflow holes 40B, 40B,. It has become. The reaction gas 7 is configured to be blown out from the blowout ports 40A, 40A,.

導入ヘッド40は、扁平な箱状であればよく、その外形は被処理基板30の形状及び寸法によって決まる。図示例では扁平な四角形箱状となり、周壁に実質的に均等な間隔をもって反応ガス7の流入孔40B、40B…を有するものである。流入孔40B、40B…を、周壁に実質的に均等な間隔をもって形成した理由は、仮に均等でない場合には、導入ヘッド40内において反応ガス7の流れとして渦流が生じ、導入ヘッド40内で白粉を生じたり、吹き出し口40A、40A…から均一な吹き出しが達成でき難いことを避けるためである。
なお、導入ヘッド40は、箱状で吹き出し口40A、40A…から均一に分散する構造であればよいので、第2電極(アノード電極)20と密着する壁40Cは無くてもよい。
The introduction head 40 may be a flat box shape, and its outer shape is determined by the shape and dimensions of the substrate 30 to be processed. In the illustrated example, the shape is a flat quadrangular box, and the reaction walls 7 have inflow holes 40B, 40B,. The reason why the inflow holes 40B, 40B,... Are formed in the peripheral wall with substantially equal intervals is that if they are not uniform, a vortex is generated as a flow of the reaction gas 7 in the introduction head 40, and white powder is generated in the introduction head 40. This is for the purpose of avoiding that it is difficult to achieve uniform blowout from the blowout ports 40A, 40A.
The introduction head 40 may be a box-like structure that is uniformly dispersed from the outlets 40A, 40A..., And thus the wall 40C that is in close contact with the second electrode (anode electrode) 20 may be omitted.

吹き出し口40A、40A…は実質的に均等な間隔をもって図2に示すような行列状又は千鳥状に形成することができる。その形状は、吹き出し流れの均一性を確保するために円形であるのが望ましい。その直径が2〜7mmであるのが特に望ましい。
吹き出し口40A、40Aのピッチが10〜20mmであるのが好適である。
The outlets 40A, 40A,... Can be formed in a matrix or zigzag as shown in FIG. The shape is preferably circular in order to ensure the uniformity of the blowing flow. It is particularly desirable that the diameter is 2 to 7 mm.
It is preferable that the pitch of the outlets 40A and 40A is 10 to 20 mm.

導入ヘッド40は、前述の理由により、エポキシ樹脂、ガラス・エポキシ積層板、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、フェノール樹脂の群から選ばれるのが望ましい。
被処理基板30としては、金属板、無機材料板のほかプラスチック板など限定されない。好適なプラスチック板としては、アクリル樹脂やポリカーボネート樹脂のほか、ジエチレングチコールビスアリルカーボネート重合体、含硫黄ウレタン系樹脂、ウレタン系樹脂、フマル酸エステルアリル系樹脂、トリアジン環アクリル樹脂、臭素配合系樹脂、含硫黄ウレタン−ラジカル樹脂、チオエーテルエステル系樹脂などの板を選択できる。
反応ガスとしては、珪素化合物が好適であり、特許第3446150号公報及び特開平5−194770号公報においても記載されているように、好ましくは、炭素原子を含む珪素化合物または、炭素原子と酸素原子または窒素原子を含む珪素化合物を使用するのが望ましい。
具体的化合物としては例えば、テトラメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、オクタメチルシクロテトラシロキサン、テトラエトキシシラン、ヘキサメチルシクロトリシロキサン、オクタメチルトリシロキサン、ヘキサメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシロキサン、ヘキサエチルジシロキサン、ヘキサエチルシクロトリシロキサン、テトラメチルシラン、1,1,3,3−テトラメチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメチルジシラザン、ペンタメチルジシロキサン、ヘキサメチルジシラザン、ヘプタメチルジシラザン、1,3−ジメトキシテトラメチルジシロキサン、1,3−ジエトキシテトラメチルジシロキサン、ヘキサメチルシクロトリシラザン、1,1,3,3,5,5,−ヘキサメチルトリシロキサン、1,1,1,3,5,5,5−ヘプタメチルトリシロキサン、1,3,5,7−テトラメチルシクロテトラシロキサン、1,1,1,3,5,7,7,7−オクタメチルテトラシロキサン、1,1,3,3,5,5,7,7−オクタメチルシクロテトラシラザン、トリス(トリメチルシロキシ)シラン、デカメチルテトラシロキサン等を使用できる。
電源としては、高周波電源、DCパルス電源、MF電源などを使用できる。特に望ましくは、高周波電源、DCパルス電源である。
The introduction head 40 is preferably selected from the group of epoxy resin, glass / epoxy laminate, fluororesin, polycarbonate resin, and phenol resin for the reasons described above.
The substrate to be processed 30 is not limited to a metal plate, an inorganic material plate, or a plastic plate. Suitable plastic plates include acrylic resin and polycarbonate resin, diethylene glycol bisallyl carbonate polymer, sulfur-containing urethane resin, urethane resin, fumaric acid ester allyl resin, triazine ring acrylic resin, bromine compound resin A plate such as a sulfur-containing urethane-radical resin or a thioether ester resin can be selected.
As the reaction gas, a silicon compound is suitable, and as described in Japanese Patent No. 3446150 and Japanese Patent Laid-Open No. 5-194770, a silicon compound containing a carbon atom or a carbon atom and an oxygen atom are preferable. Alternatively, it is desirable to use a silicon compound containing a nitrogen atom.
Specific compounds include, for example, tetramethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, octamethylcyclotetrasiloxane, tetraethoxysilane, hexamethylcyclotrisiloxane, octamethyltrisiloxane, hexamethyldisiloxane, hexamethyldisiloxane, hexaethyldisiloxane. Siloxane, hexaethylcyclotrisiloxane, tetramethylsilane, 1,1,3,3-tetramethyldisiloxane, 1,1,3,3-tetramethyldisilazane, pentamethyldisiloxane, hexamethyldisilazane, heptamethyl Disilazane, 1,3-dimethoxytetramethyldisiloxane, 1,3-diethoxytetramethyldisiloxane, hexamethylcyclotrisilazane, 1,1,3,3,5,5-hexamethyltrisiloxane, 1, 1, , 3,5,5,5-heptamethyltrisiloxane, 1,3,5,7-tetramethylcyclotetrasiloxane, 1,1,1,3,5,7,7,7-octamethyltetrasiloxane, 1,3,3,5,5,7,7-octamethylcyclotetrasilazane, tris (trimethylsiloxy) silane, decamethyltetrasiloxane, and the like.
As a power source, a high frequency power source, a DC pulse power source, an MF power source, or the like can be used. Particularly desirable are a high frequency power source and a DC pulse power source.

(他の実施の形態)
図3に示すように、被処理基板31が曲面を有する場合、被処理基板31側の壁が、被処理基板31の曲面と実質的に同一の曲面を有するように形成すると、プラズマを均一及び安定的に発生させ、被処理基板31に均一な膜特性及び均一な膜厚の被膜を得ることができる。必要により、第1電極(カソード電極)10及び又は第2電極(アノード電極)20の対向面を、同一の曲面とするのが望ましい。第1電極(カソード電極)10を同一の曲面とすることで被処理基板31を、第2電極(アノード電極)20を同一の曲面とすることで導入ヘッド41を、それぞれ熱伝達により良好に冷却できる。図3には、先に述べたように、第2電極(アノード電極)20と密着する壁を無くした例を示している。41Bは反応ガス7の流入孔、41Bは流入孔である。
(Other embodiments)
As shown in FIG. 3, in the case where the substrate to be processed 31 has a curved surface, if the wall on the side of the substrate to be processed 31 has a curved surface that is substantially the same as the curved surface of the substrate to be processed 31, The film can be stably generated, and a film having a uniform film characteristic and a uniform film thickness can be obtained on the substrate 31 to be processed. If necessary, it is desirable that the opposing surfaces of the first electrode (cathode electrode) 10 and / or the second electrode (anode electrode) 20 have the same curved surface. The first electrode (cathode electrode) 10 has the same curved surface, and the substrate 31 to be processed is cooled, and the second electrode (anode electrode) 20 has the same curved surface, so that the introduction head 41 is cooled well by heat transfer. it can. FIG. 3 shows an example in which the wall in close contact with the second electrode (anode electrode) 20 is eliminated as described above. 41B is an inflow hole for the reaction gas 7, and 41B is an inflow hole.

電極の冷却手段としては、電極内にたとえば蛇腹状の流路を形成し、これに冷却媒体、たとえば冷却水を流通させるのが簡易で実用的である。他の冷却手段も採用できることを当業者において明らかであろう。   As an electrode cooling means, it is simple and practical to form, for example, a bellows-like flow path in the electrode, and to circulate a cooling medium such as cooling water. It will be apparent to those skilled in the art that other cooling means can be employed.

次に実施例及び比較例を示しながら本発明の効果を明らかにする。
[比較例]
図1に示す装置構成を基本として、反応ガスを均一に供給して分散させるようにした。成膜条件は下記のとおりである。この例においては、アノード電極20は冷却しないで、カソード電極のみを冷却した。成膜条件は下記のとおりである。なお、生成膜の基板に対する密着性と硬度を確保する成膜方法として、特許第3446150号公報に記載された方法と同様に、酸素流量、投入電力を成膜時間の経過に伴って連続的に変化させた。
成膜条件
基板 : ポリカーボネート(厚み:3mm)
モノマー : オクタメチルシクロテトラシロキサン
モノマー流量 : 20sccm
酸素流量 : 30→500sccm
圧力 : 1→4Pa
高周波電力 : 50→800W
成膜時間 : 7分
冷却水温度 : 23℃
図4及び図5として示す写真から、基板が熱変形した。耐磨耗性を高め、密着性の良好な被膜を形成するためには、高周波電源の投入電力を大きくすることが望ましいが、被処理基板を設置した一方の電極(第1電極:カソード電極)のみを冷却しただけでは、基板の熱変形を防止することができないことが判った。
前記各写真にあらわれた形態に関し補足説明しておく。すなわち、プラスチック材料がその耐熱温度以上の温度にさらされた時、樹脂内部からガスが発生して中が空洞なこぶができる。曝された温度と時間の長さでこぶの大きさと発生量は異なり、目視で受ける印象が異なるが、熱影響が小さいときは、こぶがそれぞれ独立していて、透明なものとなる。最大で3mm程度の直径で、ほとんどはこの径以下のこぶが無秩序にできる。熱の影響が大きくなると、こぶの数が多くなり、互いに重なり合い、また、複数のこぶが結合し、基板自身も湾曲する。この状態では、透明な素材が白色に見える
Next, the effects of the present invention will be clarified while showing examples and comparative examples.
[Comparative example]
Based on the apparatus configuration shown in FIG. 1, the reaction gas was uniformly supplied and dispersed. The film forming conditions are as follows. In this example, the anode electrode 20 was not cooled, but only the cathode electrode was cooled. The film forming conditions are as follows. As a film formation method for ensuring the adhesion and hardness of the generated film to the substrate, the oxygen flow rate and the input power are continuously changed with the passage of the film formation time, as in the method described in Japanese Patent No. 3446150. Changed.
Deposition conditions Substrate: Polycarbonate (Thickness: 3mm)
Monomer: Octamethylcyclotetrasiloxane monomer flow rate: 20 sccm
Oxygen flow rate: 30 → 500sccm
Pressure: 1 → 4Pa
High frequency power: 50 → 800W
Deposition time: 7 minutes Cooling water temperature: 23 ° C
From the photographs shown as FIGS. 4 and 5, the substrate was thermally deformed. In order to increase the wear resistance and form a film with good adhesion, it is desirable to increase the input power of the high-frequency power supply, but one electrode (first electrode: cathode electrode) on which the substrate to be processed is installed It has been found that the thermal deformation of the substrate cannot be prevented only by cooling only the substrate.
A supplementary explanation will be given regarding the form appearing in each of the photographs. That is, when the plastic material is exposed to a temperature equal to or higher than its heat-resistant temperature, gas is generated from the inside of the resin, and a hollow can be formed inside. The size and amount of the humps differ depending on the temperature and time of exposure, and the impression received is different, but when the thermal effect is small, the humps are independent and transparent. The diameter is about 3 mm at the maximum, and most of the bumps below this diameter can be disordered. When the influence of heat increases, the number of humps increases and overlaps with each other. Also, a plurality of humps are combined, and the substrate itself is curved. In this state, the transparent material appears white

[実施例]
図1に示す装置構成によって実験を行った。アノード電極20も冷却しつつ、反応ガスを冷却しながら、導入ヘッドから均一に供給して分散させるようにした。成膜条件は下記のとおりである。なお、生成膜の基板に対する密着性と硬度を確保する成膜方法として、特許第3446150号公報に記載された方法と同様に、酸素流量、投入電力を成膜時間の経過に伴って連続的に変化させた。
成膜条件
基板 : ポリカーボネート(厚み:3mm)
モノマー : オクタメチルシクロテトラシロキサン
モノマー流量 : 20sccm
酸素流量 : 30→640sccm
圧力 : 1→4.5Pa
高周波電力 : 50→800W
成膜時間 : 7分
冷却水温度 : 20℃
図6及び図7として示す写真から、基板は熱変形せず、良好な表面状態であった。これは、カソード電極の冷却により被処理基板の冷却と共に、アノード電極を冷却し、かつ、アノード電極を吹き出される反応ガスの温度を下げることで、カソード電極に設置した被処理基板の表面に対向するプラズマ空間との界面に達する熱量を減らした結果である。厚みの厚い基板を表面処理する場合、基板のプラスチック材料を熱変形させるほど電極が昇温する場合には、基板を設置したカソード電極の冷却だけでは、基板の熱変形を防止することができない。
[Example]
Experiments were performed using the apparatus configuration shown in FIG. While the anode electrode 20 was also cooled, the reaction gas was cooled and supplied and dispersed uniformly from the introduction head. The film forming conditions are as follows. As a film formation method for ensuring the adhesion and hardness of the generated film to the substrate, the oxygen flow rate and the input power are continuously changed with the passage of the film formation time, as in the method described in Japanese Patent No. 3446150. Changed.
Deposition conditions Substrate: Polycarbonate (Thickness: 3mm)
Monomer: Octamethylcyclotetrasiloxane monomer flow rate: 20 sccm
Oxygen flow rate: 30 → 640sccm
Pressure: 1 → 4.5Pa
High frequency power: 50 → 800W
Deposition time: 7 minutes Cooling water temperature: 20 ° C
From the photographs shown as FIGS. 6 and 7, the substrate was not thermally deformed and was in a good surface state. This is because the substrate is cooled by cooling the cathode electrode, the anode electrode is cooled, and the temperature of the reaction gas blown out from the anode electrode is lowered to face the surface of the substrate to be processed installed on the cathode electrode. This is a result of reducing the amount of heat reaching the interface with the plasma space. When surface treatment is performed on a thick substrate, if the temperature of the electrode is increased to such a degree that the plastic material of the substrate is thermally deformed, thermal deformation of the substrate cannot be prevented only by cooling the cathode electrode provided with the substrate.

本発明によれば、種々の被処理基板に、硬質で被処理基板に対する密着性に優れ、均一な被膜を形成できる。したがって、眼鏡レンズ、時計カバーガラスなどのガラス代替品を得ることができる。   According to the present invention, it is possible to form a uniform film on various substrates to be processed, which is hard and excellent in adhesion to the substrate to be processed. Therefore, glass substitutes such as eyeglass lenses and watch cover glasses can be obtained.

本発明の実施の形態を示す概要図である。It is a schematic diagram showing an embodiment of the present invention. 電極の例を示すもので、(a)は水平断面図、(b)は被処理基板側の壁に多数の吹き出し口の配置例を示すものである。An example of an electrode is shown, (a) is a horizontal sectional view, and (b) shows an example of the arrangement of a large number of outlets on the substrate-side wall. 本発明の別の実施の形態を示す概要図である。It is a schematic diagram which shows another embodiment of this invention. 比較例によって得られた基板の正面写真である。It is a front photograph of the board | substrate obtained by the comparative example. 比較例によって得られた基板の斜視写真である。It is a perspective photograph of the board | substrate obtained by the comparative example. 実施例によって得られた基板の正面写真である。It is a front photograph of the board | substrate obtained by the Example. 実施例によって得られた基板の斜視写真である。It is a perspective photograph of the board | substrate obtained by the Example.

1…真空容器、2…電源、5…真空ポンプ、10…カソード電極、20…アノード電極、30…被処理基板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vacuum container, 2 ... Power supply, 5 ... Vacuum pump, 10 ... Cathode electrode, 20 ... Anode electrode, 30 ... Substrate to be processed.

Claims (6)

真空容器内に対向して配置され、電源に接続された電極及びアース接地された一対の電極を有し、減圧状態で前記真空容器内に反応ガスを導入しながら、その反応ガスのプラズマを前記電極間に形成するプラズマCVD装置であって、
一方の電極表面上にプラスチック被処理基板を配置し、前記各電極を強制的に冷却する冷却手段を備え、
前記一方の電極に対する冷却手段による冷熱が、熱伝達により前記被処理基板を冷却する関係にあり、
前記一方の電極が、カソード電極であり、他方の電極がアノード電極であり、
前記被処理基板と、これと離間して対向する他方の電極が設けられ、これらの間に前記反応ガスの導入ヘッドが設けられ、前記他方の電極が他の冷却手段により冷却され、前記反応ガスは前記導入ヘッドを通って前記被処理基板に向かって吹き出されるように構成され、
前記導入ヘッドは、エポキシ樹脂、ガラス・エポキシ積層板、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、フェノール樹脂の群から選ばれることを特徴とするプラズマCVD装置。
Oppositely disposed in the vacuum vessel, and having a pair of electrodes connected to a power source and grounded, and introducing the reaction gas into the vacuum vessel in a reduced pressure state, the plasma of the reaction gas is A plasma CVD apparatus formed between electrodes,
A plastic substrate is disposed on one electrode surface, and includes cooling means for forcibly cooling the electrodes,
Cold heat by the cooling means for said one electrode is, Ri relationship near cooling the substrate to be processed by heat transfer,
The one electrode is a cathode electrode and the other electrode is an anode electrode;
The substrate to be processed and the other electrode spaced apart from the substrate to be processed are provided, the reaction gas introduction head is provided therebetween, the other electrode is cooled by another cooling means, and the reaction gas Is configured to be blown out toward the substrate to be processed through the introduction head,
The inlet head has an epoxy resin, glass-epoxy laminates, fluorine resin, polycarbonate resin, selected from the group consisting of phenolic resins plasma CVD apparatus according to claim Rukoto.
前記他の冷却手段による冷熱により、導入ヘッドを通る反応ガスを冷却するように構成した請求項記載のプラズマCVD装置。 The other by cold by the cooling means, construction claims 1 plasma CVD apparatus according to cool the reaction gas through the inlet head. 前記被処理基板の表面は曲面を有し、これと対向する前記導入ヘッドの対向表面を、前記被処理基板と実質的に均等な間隔をもつように曲面を有するようにした請求項1または2記載のプラズマ処理装置。 The surface of the substrate has a curved surface, this and the opposed facing surfaces of the inlet head, claim 1 or 2 so as to have a curved surface so as to have a target substrate substantially uniformly spaced The plasma processing apparatus as described. 前記導入ヘッドは前記被処理基板側の壁に多数の吹き出し口を有し、前記吹き出し口は実質的に均等な間隔をもって行列状又は千鳥状に形成され、その形状が円形で、かつ直径が2〜7mmである請求項1〜3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。 The introduction head has a large number of outlets on a wall on the substrate to be processed, and the outlets are formed in a matrix or a staggered pattern with substantially equal intervals, the shape is circular, and the diameter is 2 The plasma processing apparatus according to claim 1 , which is ˜7 mm. 前記吹き出し口のピッチが4〜20mmである請求項記載のプラズマ処理装置。 The plasma processing apparatus according to claim 4 , wherein a pitch of the outlets is 4 to 20 mm. 請求項1〜のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置を使用し、被処理基板をプラスチック素材とし、オルガノシロキサン、又はオルガノシランと酸素ガスとの混合ガスを反応ガスとして、前記被処理基板表面上に前記反応ガスをプラズマ状態とすることにより生成する重合物によりハードコート層を形成することを特徴とするプラズマ処理によるプラスチック表面保護膜の形成方法。 The plasma processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the substrate to be processed is made of a plastic material, and organosiloxane or a mixed gas of organosilane and oxygen gas is used as a reaction gas, the substrate to be processed. A method of forming a plastic surface protective film by plasma treatment, comprising forming a hard coat layer on a surface by a polymer produced by bringing the reaction gas into a plasma state.
JP2007294037A 2007-11-13 2007-11-13 Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film Active JP5188782B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007294037A JP5188782B2 (en) 2007-11-13 2007-11-13 Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007294037A JP5188782B2 (en) 2007-11-13 2007-11-13 Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009120881A JP2009120881A (en) 2009-06-04
JP5188782B2 true JP5188782B2 (en) 2013-04-24

Family

ID=40813353

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007294037A Active JP5188782B2 (en) 2007-11-13 2007-11-13 Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5188782B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5819768B2 (en) * 2012-04-10 2015-11-24 小島プレス工業株式会社 Plasma CVD equipment
JP5823338B2 (en) * 2012-04-10 2015-11-25 小島プレス工業株式会社 Plasma CVD equipment

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01100277A (en) * 1987-10-12 1989-04-18 Idemitsu Petrochem Co Ltd Curved plate stuck with rigid carbonaceous film, manufacture and manufacturing device thereof
JPH05194770A (en) * 1992-01-17 1993-08-03 Mitsubishi Kasei Corp Surface-coated plastic article
JP3077008B2 (en) * 1993-02-16 2000-08-14 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing equipment
JP3086362B2 (en) * 1993-05-19 2000-09-11 東京エレクトロン株式会社 Plasma processing equipment
JP3446150B2 (en) * 1994-07-19 2003-09-16 月島機械株式会社 Hard coating method
JP3753194B2 (en) * 1995-12-14 2006-03-08 セイコーエプソン株式会社 Plasma processing method and apparatus
JP2000269202A (en) * 1999-03-18 2000-09-29 Toshiba Corp Plasma treatment method and apparatus
JP2000353698A (en) * 1999-06-10 2000-12-19 Okura Ind Co Ltd Continuous plasma surface processing method and apparatus
JP2002115063A (en) * 2000-10-06 2002-04-19 Ebara Corp Deposit removing method and deposit fixing method of treatment apparatus, and deposit treatment apparatus
EP1361604B1 (en) * 2001-01-22 2009-03-18 Tokyo Electron Limited Device and method for treatment
JP4454621B2 (en) * 2001-01-22 2010-04-21 東京エレクトロン株式会社 Processing equipment
JP2002280377A (en) * 2001-03-19 2002-09-27 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate treatment apparatus
JP2003100721A (en) * 2001-09-27 2003-04-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Plasma processing apparatus
JP3921234B2 (en) * 2002-02-28 2007-05-30 キヤノンアネルバ株式会社 Surface treatment apparatus and manufacturing method thereof
JP2005320583A (en) * 2004-05-10 2005-11-17 Konica Minolta Holdings Inc Gas-barrier transparent plastic film, manufacturing method therefor and organic electroluminescence element using the gas-barrier transparent plastic film
JP4646609B2 (en) * 2004-12-01 2011-03-09 シャープ株式会社 Plasma CVD equipment
US7418921B2 (en) * 2005-08-12 2008-09-02 Asm Japan K.K. Plasma CVD apparatus for forming uniform film
JP2007096051A (en) * 2005-09-29 2007-04-12 Samco Inc Cathode-coupling plasma cvd equipment and thin film manufacturing method by it
JP2007324529A (en) * 2006-06-05 2007-12-13 Tokyo Electron Ltd Gas inlet apparatus, manufacturing method therefor, and processing apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009120881A (en) 2009-06-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5965225B2 (en) Laminated product with improved microcrack resistance and method for producing the same
US6872428B2 (en) Apparatus and method for large area chemical vapor deposition using multiple expanding thermal plasma generators
CN108231624A (en) Substrate processing apparatus
US6083313A (en) Hardcoats for flat panel display substrates
US9353441B2 (en) Heating/cooling pedestal for semiconductor-processing apparatus
CA2147486C (en) Protective film for articles and method
US20150122422A1 (en) Thermally conductive silicone sheet, manufacturing method thereof, and plasma processing apparatus using the same
WO2017051914A1 (en) Polymer substrate with hardcoat layer, and manufacturing method for same
JP5766313B2 (en) Expansion thermal plasma device
KR101528407B1 (en) Coating method for decreasing damage of inorganic thin layer
KR20100028844A (en) Substrate processing apparatus
JPH08281861A (en) Gas barrier film
JP5188781B2 (en) Plasma processing apparatus and plastic surface protective film forming method
JP5188782B2 (en) Plasma CVD apparatus and method for forming plastic surface protective film
JP6022629B2 (en) Coating method
JP6424671B2 (en) Gas barrier film laminate and electronic component using the same
JPWO2012067186A1 (en) Method for producing gas barrier film and gas barrier film
WO2019022929A1 (en) Improved thin-film encapsulation
WO2014119754A1 (en) Gas barrier film, method for producing same, and electronic device using same
KR101268101B1 (en) Both side coating device for substrate and method thereof
JP6959454B2 (en) Film deposition equipment
EP1109947A1 (en) Hardcoats for flat panel display substrates
JP4890313B2 (en) Plasma CVD equipment
JP3446150B2 (en) Hard coating method
JP2006032459A (en) Chemical vapor phase growing device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100722

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120207

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120928

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130123

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160201

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5188782

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350