JP5186300B2 - 冷却室 - Google Patents
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims description 86
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 54
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 31
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 23
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 23
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 19
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 2
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 44
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 22
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000000112 cooling gas Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
この真空処理装置100は、搬入室131と、加熱室132と、成膜室133と、冷却室134〜136と、搬出室137とを有している。各室131〜137は、開閉自在なゲートバルブ1381〜1385によってこの順序で接続されており、加熱室132から冷却室134〜136の各室は、それぞれ真空排気されている。
符号112は、搬送機構によって搬送される搬送対象物を示している。この搬送対象物112はトレイ106と、トレイ106の下に保持された成膜対象の基板105とで構成されている。
加熱室132の内部には、加熱用ヒータ115が配置されており、加熱用電源116によって通電されると発熱し、搬送対象物112が加熱される。
成膜室133の内部の底面側には、ターゲット118が配置されている。成膜室133の内部では、搬送対象物112は、基板105の表面を下向きにされており、基板105表面がターゲット118と対面するようにされている。
薄膜が所定膜厚に形成された後、搬送対象物112は、成膜室133から冷却室134に移動される。
この真空処理装置100では、成膜室133の後段に一乃至複数の冷却室134〜136が設けられている。
基板105が所定温度に冷却された後、搬出室137に移動させ、大気中に取り出す。
また、本発明は、前記冷却ローラは、前記トレイの幅よりも幅広であり、その回転軸線が前記トレイの幅方向と平行に配置され、前記基板の幅方向全長に亘って前記樹脂膜と接触される冷却室である。
また、本発明は、前記押さえローラは前記基板の前記成膜面とは接触せず、前記トレイの表面の露出部分と接触される冷却室である。
この真空処理装置10は、搬入室31と、加熱室32と、成膜室33と、冷却室34と、搬出室35とを有しており、各室31〜35は、開閉自在なゲートバルブ361〜364によってこの順序で接続されている。
トレイ27の裏面には、軟質の樹脂膜28が配置されており、トレイ27の裏面では、この軟質の樹脂膜28が露出されている。従って、搬送対象物20の表面には成膜面が露出され、裏面には樹脂膜28が露出されている。
基板26が所定温度に昇温すると、搬送対象物20は加熱室32から成膜室33に移動される。
基板26の成膜面の端部には、不図示のピンが当接されており、基板26はピンによってトレイ27の表面に押しつけられ、トレイから落下しないようにされている。
冷却室34の内部には、冷却ローラ11と複数の押さえローラ15とがそれぞれ複数個ずつ配置されている。
凹部の外側の、搬送対象物20の移動方向と平行な方向に伸びる縁部分には、トレイ27表面が露出されている。
各押さえローラ15の外周側面は、同一平面と接触できるように高さが揃えられている。また、各冷却ローラ11の外周側面も、同一平面と接触できるように高さが揃えられている。
各冷却ローラ11は、往路管13と復路管14によって冷却装置12に接続されており、往路管13によって冷却装置12から冷却媒体が供給されると、各冷却ローラ11の内部を冷却媒体が流れ、接触するトレイ27の温度を低下させ、昇温された冷却媒体が復路管14を通って冷却装置12に戻る。
このとき、押さえローラ15は基板26の表面とは接触せず、成膜面上に形成された薄膜が汚染されることはない。
例えば、図8に示すように、冷却ローラ11の外周側面に樹脂膜28a配置し、裏面にトレイ27が露出する搬送対象物21と接触させ、搬送対象物21を冷却するようにしてもよい。
12……冷却装置
15……押さえローラ
17……接触ガイド部
20、21……搬送対象物
26……基板
27……トレイ
28……樹脂膜
34……冷却室
Claims (3)
- 真空槽と、
前記真空槽内に配置された冷却ローラと、
前記冷却ローラに冷却した冷媒体を供給する冷却装置と、
を有し、
基板と、前記基板が、前記基板の成膜面を露出して配置され、前記真空槽内に搬入され、前記真空槽内で前記基板が配置された状態で移動されるトレイとを有する搬送対象物を冷却する冷却室であって、
前記真空槽内に搬入された前記搬送対象物は、一方の面が前記冷却ローラと接触されながら前記真空槽内を移動できるように構成され、
前記真空槽内には、前記搬送対象物の反対側の他方の面と接触する押さえローラが配置され、
前記トレイは、前記基板の裏面がその表面側と接触し、前記基板の表面である成膜面が露出されて配置されるトレイ本体と、
前記トレイ本体の裏面側に配置された柔軟性を有する樹脂膜と、を有し、
前記冷却ローラと前記押さえローラの間の間隔は、前記搬送対象物の厚みよりも狭くされ、
前記搬送対象物は、前記樹脂膜が前記冷却ローラと接触され、前記樹脂膜とは反対側の前記トレイ本体の表面側が前記押さえローラと接触されて前記樹脂膜が圧縮変形され、前記冷却ローラと前記押さえローラによって挟まれながら前記真空槽内を移動される冷却室。 - 前記冷却ローラは、前記トレイの幅よりも幅広であり、その回転軸線が前記トレイの幅方向と平行に配置され、前記基板の幅方向全長に亘って前記樹脂膜と接触される請求項1記載の冷却室。
- 前記押さえローラは前記基板の前記成膜面とは接触せず、前記トレイの表面の露出部分と接触される請求項1又は請求項2のいずれか1項記載の冷却室。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008181252A JP5186300B2 (ja) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 冷却室 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008181252A JP5186300B2 (ja) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 冷却室 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010021403A JP2010021403A (ja) | 2010-01-28 |
JP5186300B2 true JP5186300B2 (ja) | 2013-04-17 |
Family
ID=41705993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008181252A Active JP5186300B2 (ja) | 2008-07-11 | 2008-07-11 | 冷却室 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5186300B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03230334A (ja) * | 1990-02-02 | 1991-10-14 | Sharp Corp | 光メディア用基材の製造方法並びに製造装置 |
JPH0888204A (ja) * | 1994-09-20 | 1996-04-02 | Casio Comput Co Ltd | 被膜のエッチング・剥離装置 |
JP2002313891A (ja) * | 2001-04-16 | 2002-10-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基板搬送用トレーおよびその製造方法 |
JP2004140297A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-13 | Tokyo Electron Ltd | 半導体ウエハ用搬送トレー |
JP2007115656A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-05-10 | Asahi Kasei Chemicals Corp | 酸化亜鉛系透明導電性基板の製造方法 |
-
2008
- 2008-07-11 JP JP2008181252A patent/JP5186300B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010021403A (ja) | 2010-01-28 |
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