JP5184671B2 - Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device - Google Patents
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Description
本発明は、電気計測プローブをより安定した状態のもとで迅速に移動させることができる電気計測用プローブ用変位拡大機構および基板検査装置に関する技術である。 The present invention relates to a displacement enlarging mechanism for an electric measurement probe and a substrate inspection apparatus capable of quickly moving the electric measurement probe in a more stable state.
図2は、基板検査装置の概略構成例を示す説明図であり、通常、基板検査装置101は、装置本体102側に位置固定された固定側アーム部103と、該固定側アーム部103の長さ方向に沿わせてX軸方向への移動を自在に配設される可動側アーム部104と、該可動側アーム部104の長さ方向に沿わせてY軸方への移動を自在に配設される移動体105とを少なくとも備えている。
FIG. 2 is an explanatory view showing a schematic configuration example of the substrate inspection apparatus. Normally, the
また、該移動体105には、介在片106を介して昇降機構107が配設されており、該昇降機構107側に電気計測プローブ108を取り付けてZ軸方向に移動させることで、装置本体102側に定置されている被検査基板109の所定の検査ポイントに電気計測プローブ108を接触させて必要な電気的な計測を行うことができるようになっている。
Further, the moving
図3および図4は、その際における電気計測プローブのためのZ軸方向への昇降機構の具体例を示す説明図であり、そのうちの図3に示す昇降機構111は、X−Y軸方向への移動を自在に配設されてその適宜位置に電気計測用プローブ(図示せず)が取り付けられるテーブル112と、モータ軸113に固定された一方のプーリー114と、従動回転が自在に軸支された他方のプーリー115と、これらのプーリー114,115相互間に掛け渡されたベルト116とで構成され、該ベルト116の一部を固定部117を介してテーブル112側に固定して該テーブル112を直動ガイド118に案内させながらベルト116の移動方向へと従動させることで、昇降させることができるようになっている。
3 and 4 are explanatory views showing a specific example of the raising / lowering mechanism in the Z-axis direction for the electric measurement probe at that time, and the raising /
しかし、図3に示す昇降機構111は、その製造時における組み立て作業中にベルト116に好ましいテンションを付与してプーリー114,115相互間に掛け渡すのが難しいほか、次のような問題もあった。
(1)応答特性がよくない。
(2)立ち上がりが遅い。
(3)騒音が発生する。
(4)ベルト116とプーリー114,115との間で摩擦熱が生じる。
(5)1mmの移動に4ms程度の時間を要する。
However, the
(1) The response characteristics are not good.
(2) Rise is slow.
(3) Noise is generated.
(4) Frictional heat is generated between the
(5) It takes about 4 ms to move 1 mm.
また、図4に示す昇降機構121は、X−Y軸方向への移動を自在に配設されたモータ122と、該モータ122のモータ軸123に連結されて従動回転するボールねじ124と、該ボールねじ124の回転により直動ガイド125に沿って進退移動するテーブル126とで構成され、該テーブル126側の適宜位置に電気計測プローブ(図示せず)を取り付けて使用されることになる。
Also, the
しかし、図4に示す昇降機構121には、次のような問題があった。
(1)装置が高価である。
(2)騒音が発生する。
(3)質量が大きいので、平面位置決めX−Y移動部も大きくなってしまう。(4)1mmの移動に4ms程度の時間を要する。
However, the
(1) The device is expensive.
(2) Noise is generated.
(3) Since the mass is large, the planar positioning XY moving part also becomes large. (4) It takes about 4 ms to move 1 mm.
一方、上記した問題点がなく図3や図4に示す昇降機構に代わり得るものとしては、たとえば下記特許文献1に開示されている変位拡大機構がある。
図5は、上記特許文献1に開示されている変位拡大機構の一例を示す説明図である。図5(a)によれば、基端側がヒンジ3を介して固定台1に支持されたアーム5と、一端がアーム5先端側に接続され、かつ、他端が固定台1に接続されたバネ6と、該バネ6の弾力性に抗してアーム5の一部を押圧して、アーム5の先端側を所定の変位方向Yに沿って変位させることができる圧電体2とを備えている。この場合、アーム5は、圧電体2を伸縮動作させていない状態において、バネ6によって変位方向Yの手前側に向けて所定の角度θ1だけ傾けられた状態で維持されている。
FIG. 5 is an explanatory view showing an example of a displacement enlarging mechanism disclosed in Patent Document 1. According to FIG. 5 (a), the arm 5 to the proximal side is supported on the fixed base 1 through a hinge 3, one end of which is connected to the arm 5 the distal end side and the other end connected to the fixing base 1
また、アーム5は、直交座標X−YのX軸方向に平行な水平軸Hに沿って突出しており、その先端側には、変位拡大機構の出力変位端5aが位置することになる。 The arm 5 protrudes along a horizontal axis H parallel to the X-axis direction of the orthogonal coordinates XY, and the output displacement end 5a of the displacement magnifying mechanism is located on the tip side.
しかも、圧電体2は、直交座標X−YのY軸方向(変位方向Y)に沿って配置されており、その基端が固定台1に固定され、その先端はアーム5に取り付けられたピン4と連結されている。 Moreover, the piezoelectric body 2 is arranged along the Y-axis direction (displacement direction Y) of the orthogonal coordinates XY, the base end thereof is fixed to the fixed base 1, and the distal end thereof is a pin attached to the arm 5. 4 is connected.
このため、図5に示す変位拡大機構によれば、圧電体2を図5(b)に示すようにY軸方向に伸ばすと、その伸張量に応じた押圧力がピン4を介してアーム5側に作用し、その結果、ヒンジ3を支点にしてアーム5の先端側を所定の変位方向Yに沿って変位させることができることになる。なお、圧電体2をY軸方向に縮めると、アーム5は、バネ6の弾性力により元の位置へと自動的に戻ることになる。
Therefore, according to the displacement magnifying mechanism shown in FIG. 5, the arm 5 via the expanding the piezoelectric body 2 in the Y-axis direction as shown in FIG. 5 (b), the pressing force pin 4 corresponding to the expansion amount As a result, the distal end side of the arm 5 can be displaced along the predetermined displacement direction Y with the hinge 3 as a fulcrum. When the piezoelectric body 2 is contracted in the Y-axis direction, the arm 5 is automatically returned to the original position by the elastic force of the
したがって、図5に示す変位拡大機構による場合には、小型で、かつ、安定した状態のもとで、アーム5の先端側(荷重点)を高速に動作させることができることになる。 Therefore, in the case of the displacement magnifying mechanism shown in FIG. 5 , the distal end side (load point) of the arm 5 can be operated at high speed under a small and stable state.
しかし、図5に示す変位拡大機構は、圧電体2の伸張量がアーム5の先端側(荷重点)の移動量に依存していることから、圧電体2の伸張量を小さくするとアーム5の先端側(荷重点)に必要とする移動量を付与することができない不都合があった。 However, in the displacement enlarging mechanism shown in FIG. 5 , the extension amount of the piezoelectric body 2 depends on the movement amount of the tip side (load point) of the arm 5. There is an inconvenience that the required amount of movement cannot be applied to the tip side (load point).
本発明は、従来技術の上記課題に鑑み、荷重点である変位出力端側に応答特性に優れた必要な移動量を付与して電気計測プローブをZ軸方向に迅速に移動させることができる電気計測プローブ用変位拡大機構及び基板検査装置を提供することに目的がある。 In view of the above-described problems of the prior art, the present invention provides an electric measuring probe that can quickly move an electric measuring probe in the Z-axis direction by applying a necessary moving amount with excellent response characteristics to a displacement output end side that is a load point. An object is to provide a displacement enlarging mechanism for a measurement probe and a substrate inspection apparatus.
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、そのうちの第1の発明(電気計測プローブ用変位拡大機構)は、 X−Y軸方向への移動を自在に配設される移動体に取り付けられる基台部と、相手材に当接して力点として作用させる当接部をその自由端である変位端に備えて前記基台部側に伸縮制御を自在に配設される伸縮体と、該伸縮体の前記当接部からの押圧力を受けて変位出力端側に対しZ軸方向への変位量を拡大して伝達すべく、前記基台部を含む必要箇所に介在させた各支点部を介して連結される前記相手材としてのアーム体とで少なくとも構成され、電気計測プローブが取り付けられる前記変位出力端側へは、前記アーム体を介してZ軸方向での拡大された変位量の付与を自在とした電気計測プローブ用変位拡大機構において、前記アーム体は、上方に位置して前記伸縮体からの押圧力を受ける変位入力側のアーム部と、その下方に位置させて該アーム部と支点部を介して連結され、かつ、その全体で平行リンクを形成して前記変位出力端を備える変位出力側のアーム部とで構成され、変位入力側の前記アーム部は、長さ方向での一端部に介在させた支点部を介して前記基台部側と連結され、その略中間位置が伸縮体の前記当接部と当接し、荷重点である他端部に介在させた支点部を介して変位出力側の前記アーム部側に連結され、変位出力側の前記アーム部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部側と連結され、他端側に介在させた支点部を介して略直進するZ軸方向での拡大された変位量の付与を自在とした前記変位出力端側への前記電気計測プローブ側の連結を自在に形成したことを最も主要な特徴とする。 The present invention has been made to achieve the above object, and a first invention (a displacement enlarging mechanism for an electrical measurement probe) is a movable body that is freely arranged to move in the XY axis direction. A base part attached to the base part, and a telescopic body that is provided with a contact part that abuts against a mating member and acts as a power point at a displacement end that is a free end thereof, and the base part can be freely extended and contracted. In order to receive the pressing force from the abutment portion of the expansion and contraction body and to transmit the displacement amount in the Z-axis direction to the displacement output end side, each interposed between the necessary portions including the base portion An enlarged displacement in the Z-axis direction via the arm body is formed at least with the arm body as the mating member connected via a fulcrum, and to the displacement output end side to which the electric measurement probe is attached The displacement enlargement mechanism for electrical measurement probes can be freely applied The arm body is connected to the upper side of the displacement input side receiving the pressing force from the telescopic body , and is connected to the lower side of the arm body via the arm part and the fulcrum part. total consists of an arm portion of the parallel link formed by displacement output side of Ru with the displacement output end, the arm portion of the displacement input side, via a fulcrum portion which is interposed at one end in the longitudinal direction The arm portion side on the displacement output side through a fulcrum portion that is connected to the base portion side, the intermediate position of which is in contact with the abutting portion of the expansion / contraction body, and interposed at the other end that is the load point The arm portion on the displacement output side is connected to the base portion side via a fulcrum portion interposed on one end side, and travels substantially straight through the fulcrum portion interposed on the other end side. The electric measurement probe to the displacement output end side that can freely give an enlarged displacement amount in the direction. The most important features that they have freely form the connection over blanking side.
この場合、変位出力側の前記アーム部は、前記平行リンクを形成する上側アーム片部と下側アーム片部と縦側アーム片部とで構成され、その一端寄りに介在させた支点部を介して変位入力側の前記アーム部側と連結される前記上側アーム片部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部と、他端側に介在させた支点部を介して前記縦側アーム片部の上端部とそれぞれが連結され、前記下側アーム片部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部と、他端側に介在させた支点部を介して縦側アーム片部の下端部とそれぞれが連結され、該縦側アーム片部の前記下端部をその荷重点である前記変位出力端として前記電気計測プローブ側と連結させるものであってもよい。 In this case , the arm portion on the displacement output side is composed of an upper arm piece portion, a lower arm piece portion and a vertical arm piece portion forming the parallel link, and via a fulcrum portion interposed near one end thereof. The upper arm piece portion connected to the arm portion side on the displacement input side is connected to the base portion via a fulcrum portion interposed on one end side and the fulcrum portion interposed on the other end side. The upper arm piece is connected to the upper end part of the vertical arm piece part, and the lower arm piece part is connected to the base part via a fulcrum part interposed on one end side and the fulcrum part interposed on the other end side. And the lower end portion of the vertical arm piece portion is connected to each other, and the lower end portion of the vertical arm piece portion is connected to the electric measurement probe side as the displacement output end which is the load point. .
一方、第2の発明(基板検査装置)は、移動を自在に装置本体に配設される前記移動体に対し、請求項1または2に記載の電気計測プローブ用変位拡大機構を具備させことを最も主要な特徴とする。 On the other hand, a second invention (substrate inspection apparatus) is provided with the displacement magnifying mechanism for an electric measurement probe according to claim 1 or 2 with respect to the movable body which is freely arranged in the apparatus main body. The most important feature.
本発明のうち、第1の発明によれば、伸縮体の当接部からの押圧力を受けてアーム体の電気計測プローブが取り付けられる荷重点としての変位出力端側に対し、Z軸方向での拡大された変位量を付与することができるので、該変位出力端側に連結される電気計測プローブに対し、好ましい応答特性のもとでZ軸方向へと移動させることができる。また、第1の発明によれば、機構の全体をコンパクト化することができるので、コストの低減を図ることができるばかりでなく、その重量を軽量化して所定方向への移動を高速化することで測定速度をより速くすることができる。 Of the present invention, according to the first invention, in the Z-axis direction with respect to the displacement output end side as a load point to which the electric measurement probe of the arm body is attached by receiving the pressing force from the contact portion of the expansion / contraction body. Therefore, the electrical measurement probe connected to the displacement output end side can be moved in the Z-axis direction with preferable response characteristics. Further, according to the first invention, since the whole mechanism can be made compact, not only can the cost be reduced, but also the weight can be reduced and the movement in a predetermined direction can be accelerated. Can increase the measurement speed.
特に、アーム体を構成している変位出力側のアーム部は、平行リンクにより形成されているので、Z軸方向への直進性をより高めて電気計測プローブを移動させることができる。 In particular, since the arm portion on the displacement output side constituting the arm body is formed by a parallel link, it is possible to move the electric measurement probe while further improving the straightness in the Z-axis direction.
一方、第2の発明によれば、装置本体が備える前記移動体に対し、請求項11ないし3のいずれかに記載の電気計測プローブ用変位拡大機構を具備させてあるので、その質量が小さいこともあって所定方向での平面位置決めを正確で安定したものとすることができる。また、電磁ノイズをなくすることで測定作業の高速化と安定化とを実現することができるほか、Z軸方向を位置決めした後に電気計測プローブ用変位拡大機構の変位出力端側に予圧をかけておくことができるので、Z軸側の整定性を高めて応答特性を向上させることもできる。
On the other hand, according to the second invention, since the movable body provided in the apparatus main body is provided with the displacement enlarging mechanism for an electric measurement probe according to any one of
本発明は、被検査基板を電気的に検査するために用いられる電気計測プローブを備える変位出力端側に対し、力点側から付与された変位量を拡大してZ軸方向に向けて出力することができる電気計測プローブ用変位拡大機構(第1の発明)と、該電気計測プローブ用変位拡大機構を備える基板検査装置(第2の発明)とに適用して実施することができる。 According to the present invention, the displacement applied from the power point side is enlarged and outputted in the Z-axis direction with respect to the displacement output end side provided with the electric measurement probe used for electrically inspecting the substrate to be inspected. The present invention can be applied to a displacement enlarging mechanism for an electric measurement probe (first invention) and a substrate inspection apparatus (second invention) provided with the displacement enlarging mechanism for an electric measurement probe.
このうち、第1の発明の基本構成につき、図1および図2を参酌しながらその概要を説明すれば、電気計測プローブ用変位拡大機構(以下、「変位拡大機構」と略称する。)11は、例えば図2に示されている装置本体2にX−Y軸方向への移動を自在に配設される移動体105への取付けが自在な基台部12と、相手材に当接して力点として作用させる当接部25をその自由端である変位端24に備えて伸縮制御を自在に配設される例えば圧電素子などからなる伸縮体22と、該伸縮体22の当接部25からの押圧力を受けて変位出力端57側に対しZ軸方向への変位量を拡大して伝達すべく、基台部12を含む必要箇所に介在させた各支点部15(15a〜15f)を介して連結される相手材としてのアーム体32とで少なくとも構成されている。
Of these, the basic configuration of the first invention will be briefly described with reference to FIG. 1 and FIG. 2. The electrical measurement probe displacement magnifying mechanism (hereinafter abbreviated as “displacement magnifying mechanism”) 11 will be described. , for example, a mounting freely base portion 12 to the
この場合、複数のアーム部33からなるアーム体32は、伸縮体22からの押圧力を受ける変位入力側のアーム部34と、最終的にその変位出力端57側にZ軸方向への変位量が拡大して伝達される変位出力側のアーム部35とにより構成されている。そして、このような構成を具備させることにより、電気計測プローブPが取り付けられる荷重点としての変位出力端57側へは、アーム体32を介してZ軸方向での拡大された変位量の付与を自在とすることができるようになっている。
In this case, the arm body 32 composed of a plurality of
図1は、第1の発明の一例を示す概念図であり、この例におけるアーム体32は、上方に位置する変位入力側のアーム部34と、該アーム部34の下方に位置させてその全体で平行リンクを形成する変位出力側のアーム部35とで構成されている。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of the first invention. In this example, an arm body 32 is located above a displacement input
このうち、変位入力側のアーム部34は、長さ方向での一端部34aに介在させた支点部15aを介して基台部12側と連結され、その略中間位置が伸縮体22の当接部25と当接する力点となり、荷重点である他端部34bに介在させた支点部15bを介して変位出力側のアーム部35と連結されている。このため、変位入力側のアーム部34は、支点部15aを介してその長さ方向でのシーソ状の揺動が可能となっている。
Among these, the displacement input
この場合、変位出力側のアーム部35は、平行リンクを形成する上側アーム片部36と下側アーム片部37と縦側アーム片部38とで構成されており、変位入力側のアーム部34と上側アーム片部36との間に支点部15bが形成されることになる。
In this case, the
すなわち、その一端36a寄りに介在させた支点部15bを介して変位入力側のアーム部34側からの力点として連結される上側アーム片部36は、一端36a側に介在させた支点部15cを介して基台部12と、他端36b側に介在させた支点部15dを介して縦側アーム片部38の上端部38aとそれぞれが連結されている。
That is, the upper
また、上側アーム片部36と略平行に配置される下側アーム片部37は、一端37aに介在させた支点部15eを介して基台部12側と、他端37b側に介在させた支点部15fを介して縦側アーム片部38の下端部38bとそれぞれが連結されている。
Further, the lower
この例においては、変位出力端57である縦側アーム片部38の下端部38bに、縦側アーム片部38のZ軸方向への動きに従動させるべく電気計測プローブPが直付けされている。このため、該電気計測プローブPには、変位出力側のアーム部35が形成している平行リンクを介してZ軸方向への直進性が付与されることになる。
In this example, the electric measurement probe P is directly attached to the lower end portion 38b of the vertical
次に、第2の発明に係る基板検査装置につき、上記構成からなる第1の発明の作用・効果とともに以下に説明すれば、図示しない基板検査装置は、例えば図2に示されているようにX−Y軸方向への移動を自在に装置本体102に配設される移動体105に対し、既述の変位拡大機構11を具備させることで、その全体が形成されている。
Next, a substrate inspection apparatus according to the second invention, will be described below together with the action and effect of the first invention having the above structure, a substrate inspection device (not shown), as shown for example in FIG. 2 The entire body is formed by providing the above-described
すなわち、変位拡大機構11は、図2に示す装置本体102が備える移動体105に対し基台部12を介して取り付けた上で、移動体105を被検査基板109の検査ポイントの位置へとX−Y軸方向に移動させることで、所定の検査ポイントの位置に向けて位置決めさせることができる。
That is, the
この場合、変位拡大機構11は、その全体を軽量・コンパクト化することでその質量も小さなものとなっていることもあって、X−Y軸方向での平面位置決めを行う際に、移動体105自体を正確で安定した状態のもとで高速に移動させることができる。また、変位拡大機構11を搭載した基板検査装置は、モータを使用することなくZ軸方向へ駆動させることができる。このため、モータを使用する場合に発生する電磁ノイズからの影響をなくする処理(アナログ回路でのフィルタ処理やソフトでのフィルタ処理)を不要とすることで、測定作業の高速化と安定化とを実現することができるほか、Z軸方向を位置決めした後に電気計測プローブ用変位拡大機構11の変位出力端側に予圧をかけておくことができるので、Z軸側の整定性を高めて応答特性を向上させることもできる。
In this case, the
ここで、変位拡大機構11の作用・効果をより詳しく説明すれば、変位拡大機構11は、その全体をコンパクト化してコストの低減を図ることができるばかりでなく、その重量を軽量化してX−Y軸方向への移動を高速化することで測定速度をより速くすることができる。
Here, the operation and effect of the
また、アーム体32は、例えば圧電素子からなる伸縮体22に電圧を印加することで、その先端側に位置している変位端24を伸張させ、該変位端24が備える当接部25からの押圧力を受けて電気計測プローブPが取り付けられる荷重点としての変位出力端57側に対し、Z軸方向での拡大された変位量を付与することができる。
Further, the arm body 32 applies a voltage to, for example, a
このため、電気計測プローブPは、非線形要素が少なく、かつ、機械的な駆動源ではなく例えば電磁歪などの非機械的な動きをその駆動源としてZ軸方向に移動させることができることになる。つまり、電気計測プローブPの移動は、高い応答性のもとで例えば1mmの移動を1ms程度の時間で行うことができるので、図3および図4に示す従来機構に比較してその移動時間を1/4程度にまで短縮することができる。なお、電気計測プローブPの上昇は、伸縮体22の当接部25に付与される押圧力を逆に弱めてやる(その変位端24の位置を初期位置方向へと復帰させる)ことにより行うことができる。 For this reason, the electrical measurement probe P has few non-linear elements and can be moved in the Z-axis direction using not a mechanical drive source but a non-mechanical movement such as electromagnetic distortion as the drive source. In other words, movement of the electrical measurement probe P, so the movement of Moto for example 1mm of high response can be performed in the order of 1ms time, the moving time as compared with the conventional mechanism shown in FIGS. 3 and 4 It can be shortened to about 1/4. The electrical measurement probe P is raised by weakening the pressing force applied to the contact portion 25 of the expansion / contraction body 22 (returning the position of the displacement end 24 toward the initial position). Can do.
これを図1に示す第1の発明の一例に基づいてその作用・効果をさらに詳しく説明すれば、変位入力側のアーム部34は、一端部34aが支点部15aを介して基台部12と連結され、その略中間位置が圧電素子などからなる伸縮体22の当接部25と当接する力点となり、荷重点である他端部34baの下面側が支点部15bを介して変位出力側のアーム部35に連結されている。
The operation and effect will be described in more detail based on the example of the first invention shown in FIG. 1. The
このため、伸縮体22に電圧を印加するなどして変位端24を伸張方向に変位させ、その当接部25を介して変位入力側のアーム部34の略中間位置を押し下げることにより、その他端部33b側を拡大された変位量のもとで押し下げる方向への荷重点とすることで、変位出力側のアーム部35の力点として作用させることができる。
For this reason, the displacement end 24 is displaced in the extending direction by applying a voltage to the expansion /
変位出力側のアーム部35は、その全体で平行リンクを形成している上側アーム片部36と下側アーム片部37と縦側アーム片部38とで構成されており、変位入力側のアーム部34の他端部33bとは上側アーム片部36の一端部36a寄りに介在させた支点部15bを介して連結されて、その力点となっている。
The
したがって、変位出力側のアーム部35の上側アーム片部36が押し下げられることにより、上側アーム片部36の他端部36bと下側アーム片部37の他端部37bとに連結されている縦側アーム片部38は、その平行リンク構造により降下する方向での線形の変位量が拡大された荷重点として機能することになる。
Accordingly, when the upper
このため、縦側アーム片部38の下端部38bに直付けされる電気計測プローブPに対しては、Z軸方向での拡大された線形の変位量を付与することができることになる。なお、図1に示す一例においては、平行リンクを形成している変位出力側のアーム部35が直動システムを構成しているので、縦側アーム片部38の下端部38bに電気計測用プローブPを直付けでき、実質的な等価質量を小さくして応答性の低下をより確実に防ぐすることができることになる。
For this reason, an enlarged linear displacement amount in the Z-axis direction can be applied to the electric measurement probe P directly attached to the lower end portion 38b of the vertical
以上は、本発明を図示例に基づいて説明したものであり、その具体的な内容はこれに限定されるものではない。例えば、本発明に用いられる伸縮体22としては、圧電素子を好適に用いることができるものの、例えば磁歪素子や電動機を利用して伸縮制御できる構造を備えているものであってもよい。
The above is the description of the present invention based on the illustrated example, and the specific content is not limited to this. For example, as the
11 電気計測プローブ用変位拡大機構
12 基台部
15(15a〜15f)支点部
22 伸縮体
24 変位端
25 当接部
32アーム体
33 アーム部
34 変位入力側のアーム部
34a 一端部
34b 他端部
35 変位出力側のアーム部
35a 一端部
35b 他端部
36 上側アーム片部
36a 一端部
36b 他端部
37 下側アーム片部
37a 一端部
37b 他端部
38 縦側アーム片部
38a 上端部
38b 下端部
57 変位出力端
P 電気計測プローブ
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記アーム体は、上方に位置して前記伸縮体からの押圧力を受ける変位入力側のアーム部と、その下方に位置させて該アーム部と支点部を介して連結され、かつ、その全体で平行リンクを形成して前記変位出力端を備える変位出力側のアーム部とで構成され、
変位入力側の前記アーム部は、長さ方向での一端部に介在させた支点部を介して前記基台部側と連結され、その略中間位置が伸縮体の前記当接部と当接し、荷重点である他端部に介在させた支点部を介して変位出力側の前記アーム部側に連結され、
変位出力側の前記アーム部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部側と連結され、他端側に介在させた支点部を介して略直進するZ軸方向での拡大された変位量の付与を自在とした前記変位出力端側への前記電気計測プローブ側の連結を自在に形成したことを特徴とする電気計測プローブ用変位拡大機構。 A base portion attached to a movable body that is freely arranged to move in the X-Y axis direction, and a contact portion that abuts against a mating member and acts as a force point, provided at a displacement end that is a free end thereof. A telescopic body that is freely arranged to control expansion and contraction on the base part side, and a displacement amount in the Z-axis direction with respect to the displacement output end side by receiving a pressing force from the contact part of the telescopic body To the displacement output end side at least composed of an arm body as the mating member connected via each fulcrum part interposed in a necessary part including the base part to transmit the electric measurement probe Is a displacement magnifying mechanism for an electric measurement probe that can freely give an enlarged displacement amount in the Z-axis direction via the arm body,
The arm body is located above and connected to the displacement input side arm portion that receives the pressing force from the expansion body, and is located below the arm portion and the fulcrum portion , and as a whole is composed of an arm portion of the displacement output side of Ru with the displacement output end to form a parallel link,
The arm part on the displacement input side is connected to the base part side via a fulcrum part interposed at one end part in the length direction, and its substantially intermediate position abuts against the abutting part of the telescopic body, It is connected to the arm part side on the displacement output side through a fulcrum part interposed at the other end part which is a load point,
The arm part on the displacement output side is connected to the base part side via a fulcrum part interposed on one end side, and expands in the Z-axis direction substantially straight forward via the fulcrum part interposed on the other end side. A displacement magnifying mechanism for an electric measurement probe , wherein the electric measurement probe side is freely connected to the displacement output end side so that the displacement amount can be applied .
その一端寄りに介在させた支点部を介して変位入力側の前記アーム部側と連結される前記上側アーム片部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部と、他端側に介在させた支点部を介して前記縦側アーム片部の上端部とそれぞれが連結され、前記下側アーム片部は、一端側に介在させた支点部を介して前記基台部と、他端側に介在させた支点部を介して縦側アーム片部の下端部とそれぞれが連結され、
該縦側アーム片部の前記下端部をその荷重点である前記変位出力端として前記電気計測プローブ側と連結させる請求項1に記載の電気計測プローブ用変位拡大機構。 The arm part on the displacement output side is composed of an upper arm piece part, a lower arm piece part and a vertical arm piece part forming the parallel link,
The upper arm piece connected to the arm side on the displacement input side via a fulcrum part interposed near one end is connected to the base part and the other end via a fulcrum part interposed on one end side. The upper arm part of the vertical arm piece part is connected to each other via a fulcrum part interposed on the side, and the lower arm piece part is connected to the base part via a fulcrum part interposed on one end side, The lower end of the longitudinal arm piece is connected to each other through a fulcrum part interposed on the other end side,
Said longitudinal arm piece of the lower end portion of the electrical measurement probe displacement enlarging mechanism according to claim 1, Ru is connected to the electrical measuring probe side as the displacement output which is the load point.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011082680A JP5184671B2 (en) | 2011-04-04 | 2011-04-04 | Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011082680A JP5184671B2 (en) | 2011-04-04 | 2011-04-04 | Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006018449A Division JP4891621B2 (en) | 2006-01-27 | 2006-01-27 | Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012173899A Division JP5450733B2 (en) | 2012-08-06 | 2012-08-06 | Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011164113A JP2011164113A (en) | 2011-08-25 |
JP5184671B2 true JP5184671B2 (en) | 2013-04-17 |
Family
ID=44594925
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011082680A Expired - Fee Related JP5184671B2 (en) | 2011-04-04 | 2011-04-04 | Displacement magnifying mechanism for electrical measurement probe and board inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5184671B2 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4408385B2 (en) * | 2004-04-15 | 2010-02-03 | シャープ株式会社 | Material property evaluation method and evaluation apparatus |
JP2006014585A (en) * | 2004-05-26 | 2006-01-12 | Kazumasa Onishi | Device for giving minute displacement |
-
2011
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011164113A (en) | 2011-08-25 |
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