JP5169959B2 - 発光素子の製造方法 - Google Patents
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Description
この場合、金属電極の面積をなるべく小さくしたほうが電極の周囲に形成される光取り出し領域の面積を大きくでき、光取り出し効率を向上させる観点において有利である。
このGaP等の光取り出し層は、一定以上に厚みを増加させた層となるように形成すれば、素子面内の電流拡散効果が向上するばかりでなく、層側面からの光取り出し量も増加するので、光取り出し効率をより高めることができるようになる。
光取り出し層は、発光光束を効率よく透過させ、光取り出し効率を高めることができるよう、発光光束の光量子エネルギーよりもバンドギャップエネルギーの大きい化合物半導体で形成する必要がある。特にGaPはバンドギャップエネルギーが大きく、また発光光束の吸収が小さいので、AlGaInP系発光素子の光取り出し層として多用されている。
これを改善するために、特許文献1には、発光素子の表面をI2+HNO3+HF+CH3COOHからなるエッチング液に浸漬して、表面に凹凸を形成して粗面化することで光取り出し効率を上げる発光素子の製造方法が開示されている。
前述したように光取り出し効率を上げるには、発光素子の光取り出し面である第一主表面を粗面化することが有効であり、第一主表面の凹凸をより大きくすることで更に光取り出し効率を上げることができる。
しかし、表面の凹凸をより大きくすることにより、電極周辺下部がエッチングされて電極が剥がれてしまい、素子面内の電流拡散が不十分となり発光強度が低下する問題がある。
しかし、レジストで電極を保護しても、エッチング液がフッ酸、硝酸、酢酸、沃素からなる場合、ポジレジストでは耐性がない。
また、OMRレジストで保護した場合は保護可能であるが、ダイシングしてエキスパンドしたチップが樹脂シート上にUV硬化型のアクリルのりで保持されており、レジストを除去するために溶剤を使用すると、レジストを除去することは可能であるが、チップがレジスト除去とともにアクリルのりが溶けて樹脂シートよりチップも同時に剥がれてしまうという問題がある。
また、ポジレジストでも現像後に120℃で60秒程度ポストベイクすることで粗面化用のエッチング液に耐えられるが、粗面化エッチング前のダイシング時にダイサーのブレードにかける水の水圧により保護膜が剥離してしまうという問題もある。
金属製保護膜は粗面化用のエッチング液に耐性があるため、粗面化エッチングでは脱落することがなく、電極周辺下部のGaP,GaAsP,GaAlAsが過度にエッチングされることによって電極の支えが脱落する水準までエッチングされることを防止することができ、電極剥がれ等による発光強度が低下することを防止することができる。
また、金属製保護膜を除去する際に、アルカリ溶液等を用いることによって除去が可能であるため、アクリルのり等によって樹脂シートに貼られたダイシング後の発光素子チップが樹脂シートから脱落することもなく、発光素子の製造歩留りが低下することを強く抑制することができる。
このように、形成する金属製保護膜を、電極および電極周辺部を該電極形状に沿って縁取るように覆う膜とすることで、金属製保護膜の面積を、電極を支えるのに必要かつ十分な面積とすることができる。これによって、粗面化エッチングでの発光素子基板の第一主表面の粗面化される面積をより大きく取ることができ、光取り出し量を更に増加させることができる。
このように、金属製保護膜形成工程後、かつ粗面化工程前に、発光素子基板をダイシングすることによって、粗面化エッチング工程において、発光素子チップの第一主表面及び側面を同時に粗面化できるため、光取り出し量の大きな発光素子の製造工程を短縮することができ、生産性を高めることができる。
また、仮に電極形成時にパターンズレが生じても電極が形成される発光素子基板の主表面は既に粗面化されているため、電極表面の一部に凹凸が生じることはあっても電極の支えがエッチングされることはなく、電極剥がれ等の不良が発生することを防止することができる。
更に、粗面化した第一主表面全体を覆うような金属製保護膜を形成することによって、ダイシングした発光素子基板の側面を粗面化する際に、既に電極が形成された第一主表面がエッチングされることを抑制でき、電極の剥がれが発生することを防止しながら側面を粗面化でき、光取り出し量を増加することができる。
このように、電極を形成する領域の保護膜として、レジスト、Al、Ni、Auのいずれかを用いた場合、いずれの保護膜も粗面化エッチング液に耐性があり、レジスト保護膜は、従来プロセスで使用している溶剤を用いて簡便に除去可能である。また、Al保護膜はフッ酸もしくはアルカリ系水溶液で容易に除去可能である。また、Ni保護膜は硝酸、硫酸、塩酸等で容易に除去可能である。また、Au保護膜は沃素沃化カリウム、臭素水及び青化加里(シアン化カリウム)液で除去可能である。従って、電極形成領域に保護膜の成分が残留することを確実に防止でき、電極の品質(密着性等)を更に向上させることができる。
このように、電極を保護する金属製保護膜をAl、Ni,Auのいずれかとすることで、前述のように粗面化エッチング液に耐性があり、レジストのように有機溶剤を使用しなくても容易に除去できるものとすることができるため、電極の剥がれをより容易に抑制できるとともに、発光素子チップが樹脂シートから脱落することを更に確実に防止することができ、更なる歩留りの向上を図ることができる。
前述したように、発光層で発光した光を素子から外部へ取り出すためには、表面での反射を極力少なくすることが重要である。
このため、表面の凹凸を大きくする必要がある。凹凸を大きくするためには強力なエッチングを行う必要がある。
また、粗面化エッチングを行う場合、第一主表面と側面の両方を粗面化する方が、より発光効率を高めることができるため、有効である。そして第一主表面と側面を同時にエッチングする場合、電極保護膜がエッチング液に耐性があり、かつ有機溶剤を使用せずに除去できることが絶対条件である。
その結果、レジストを保護パターンに形成してエッチングを行った場合、エッチング液に耐性がない(フロスト(粗面化)中に保護レジストが剥離)レジストがあることが判明した。
また、現像後にポストベイクをしたものは、耐薬品性があり電極保護膜の剥離に使用しても樹脂シートが耐えられる剥離液ZS50(プロピレングリコールモノメチルエーテルと酢酸nブチル)があることが判ったが、この場合、電極を保護したままダイサーにてダイシングすると、ダイサーのブレードにかける水の水圧により電極保護膜が剥離してしまう。
唯一OMRにてレジスト保護をした場合、エッチング液およびダイサー工程に対応できるのであるが、OMRを除去するためにはキシレン系の溶剤が必要であり、樹脂シートがキシレン系の溶剤に対して耐性がないことが判った。
その結果、金属、特に好ましくはAl、Ni、Au等は、粗面化用エッチング液に耐性があり、電極保護膜の除去の際に発光素子チップが樹脂シートから脱落せず、更にダイシング時の水圧による電極保護膜の剥離もないことが判った。
そして上記知見を基に本発明を完成させた。
最初に本発明の発光素子の第一の製造方法における工程1〜4について図1および図3〜6、図8を用いて説明する。
また、図3は本発明の発光素子の製造方法の製造過程における発光素子基板の概略を示した図である。
そして、図4は本発明の発光素子の製造方法の製造過程において、GaAs基板及びGaAsバッファ層が除去された発光素子基板の概略を示した図である。
図5は本発明の発光素子の製造方法の製造過程において、GaP透明基板層が形成された発光素子基板の概略を示した図、
図6は本発明の第一の実施形態での発光素子の製造方法の電極形成工程から後の工程における図5の用な発光素子基板のWS部分を拡大した図である。
図8は本発明の発光素子の概略の一例を示した図である。
その後、発光層17として、各々(AlxGa1−x)yIn1−yP(ただし、0≦x≦1,0≦y≦1)よりなる、厚さ1μmのn型クラッド層14(n型ドーパントはSi)をエピタキシャル成長させる。次に、厚さ0.6μmの活性層15(ノンドープ)をエピタキシャル成長させ、更に、厚さ1μmのp型クラッド層16(p型ドーパントはMg:有機金属分子からのCもp型ドーパントとして寄与しうる)を、この順序にてエピタキシャル成長させる。
ここで、p型クラッド層16とn型クラッド層14の各々のドーパント濃度は、例えば1×1017/cm3以上2×1018/cm3以下とすることができる。
また、Al、Ga、In(インジウム)、P(リン)の各成分源となる原料ガスとしては以下のようなものを使用することができる。
・Al源ガス;トリメチルアルミニウム(TMAl)、トリエチルアルミニウム(TEAl)など、
・Ga源ガス;トリメチルガリウム(TMGa)、トリエチルガリウム(TEGa)など、
・In源ガス;トリメチルインジウム(TMIn)、トリエチルインジウム(TEIn)など、
・P源ガス:トリメチルリン(TMP)、トリエチルリン(TEP)、ホスフィン(PH3)などが挙げられる。
この時、気相成長させるp型光取り出し層19の膜厚は10μm以上となるようにすることができる。これはp型光取り出し層が厚さ10μm以上の場合、その側面を粗面化することにより、p型光取り出し層の厚さ増大によって側面の面積が増大していることとも相俟って、素子の光取り出し効率を大幅に高めることができるためである。
Ga(液体)+HCl(気体) → GaCl(気体)+1/2H2‥‥(1)
成長温度は例えば640℃以上860℃以下に設定する。また、V族元素であるPは、PH3をキャリアガスであるH2とともに基板上に供給する。さらに、p型ドーパントとしてZnを用いる場合、DMZn(ジメチルZn)の形で供給する。GaClはPH3との反応性に優れ、下記(2)式の反応により、効率よくGaP光取り出し層を成長させることができる。
GaCl(気体)+PH3(気体)
→GaP(固体)+HCl(気体)+H2(気体)‥‥(2)
この段階で図3に示すウェーハとなる。
以上のような工程によって、発光素子基板20を作製する。
ここで、この金属製保護膜26は、電極24の材質とは異なる材質にすることが望ましい。例えば電極がAuからなる場合は、金属製保護膜としてAl、Ni等を使用でき、電極がAlからなる場合には、金属製保護膜としてAu、Ni等を使用することができる。
Alは、粗面化用のエッチング液に耐性があり、かつ、HFやアルカリ溶液で容易に除去できる。またNiについても、粗面化用エッチング液に耐性があり、酸及びアルカリには強いが、硝酸(濃度N/5)に弱く、硫酸・塩酸(濃度N/5)でも除去できる。更にAuについても、粗面化用エッチング液に耐性があり、剥離液として沃素沃化カリウム、臭素水及びシアン化カリウム液で除去できる。
このように、電極を保護する金属製保護膜が、Al、Ni,Auのいずれかであれば、レジストのように有機溶剤を使用しなくても容易に除去することができ、発光素子チップが樹脂シートから脱落することを更に確実に防止することができ、歩留りの向上を図ることができる。
このような形状とすることで、第一主表面の電極以外の広い領域を後に行う粗面化エッチングにより粗面化できるため、光取り出し効率を更に上げることができる。また、電極外周部の少し外側までカバーされるため、エッチング液が電極下に侵入するのを防止することができ、電極の剥がれが発生することも確実に防止することができる。
更に、電極の中央部を露出させるのは、ハーフダイシング後にプローブによる電気特性の検査を行うためであるが、図10(b)に示すように、電極24が金属製保護膜26’’で完全に覆われるようにしても良い。
このように、この金属製保護膜形成工程である工程8の後、且つ後の粗面化工程である工程11の前に、発光素子基板をダイシングすることができる。これによって、後の粗面化工程において、発光素子チップの第一主表面及び側面を同時に粗面化できるため、一度の粗面化エッチングで光取り出し量を向上させる処理を行うことができる。従って、製造工程の短縮による生産性の向上と、品質の向上を同時に達成することができる。
なお、ハーフダイシング後にフルダイシングしない方法もある。しかし、フルダイシングすることによって、後の粗面化エッチングで発光素子のp型光取り出し層の側面部だけでなくn型光取り出し層の側面も粗面化することができ、ハーフダイシングする場合に比べて発光効率を上昇させることができるため、フルダイシングがより望ましい。
この加工ダメージ層に含まれる多数の結晶欠陥は、発光通電時において電流リークや散乱の原因となるため、図1の工程10に示すように、加工ダメージ層を、ダメージ層除去用エッチング液を用いた化学エッチングにより除去することが望ましい。
酢酸(CH3COOH換算):37.4質量%以上94.8質量%以下、
弗酸(HF換算):0.4質量%以上14.8質量%以下、
硝酸(HNO3換算):1.3質量%以上14.7質量%以下、
ヨウ素(I2換算):0.12質量%以上0.84質量%以下、
の範囲で含有し、かつ、水の含有量が2.4質量%以上45質量%以下のものを用いることが望ましい。より望ましくは、
酢酸(CH3COOH換算):45.8質量%以上94.8質量%以下、
弗酸(HF換算):0.5質量%以上14.8質量%以下、
硝酸(HNO3換算):1.6質量%以上14.7質量%以下、
ヨウ素(I2換算):0.15質量%以上0.84質量%以下、
の範囲で含有し、かつ、水の含有量が2.4質量%以上32.7質量%以下のものを採用することがより望ましい。液温は40℃以上60℃以下が適当である。
例えば金属製保護膜としてAlを用いた場合、その除去には、HFやアルカリ性のKOH,NaOH、アンモニア過水、キララクリーン(登録商標(日化精工社製))、セミコクリーン(フルウチ化学社製)などを使用することができる。
また、Niからなる金属製保護膜であれば、硝酸、硫酸、塩酸で除去可能であり、Auからなる金属製保護膜については、沃素沃化カリウム、臭素水及びシアン化カリウム液で除去可能である。
また、保護膜は金属製であるため、有機溶剤でなくてもアルカリ溶液等で容易に除去することができ、エキスパンドされたチップがシートから脱落する等の工程上の問題が発生することがなく、発光素子の製造歩留りの低下を強く抑制することができる。
図2は、本発明の発光素子の製造方法の他の一例を示した工程フローである。また図7は本発明の第二の実施形態での発光素子の製造方法の電極形成工程から後の工程における図5のような発光素子基板のWS部分を拡大した図である。
なお、図2の工程1〜6の製造工程は第一の実施形態である図1と基本的に同じであるため、ここでは説明を省略する。
上述の材質からなる保護膜は、いずれも粗面化用のエッチング液に対して耐性があるため、粗面化エッチングの際に電極形成領域が粗面化されることを防止することができ、後に安定した電極を形成することができる。
またAlは、フッ酸もしくはアルカリ系水溶液で容易に除去することができる。そしてNiは、硝酸、硫酸、塩酸等で容易に除去することができる。更にAuは、沃素沃化カリウム、臭素水及び青化加里(シアン化カリウム)液で除去することができる。そして、レジスト保護膜は、従来プロセスで使用している溶剤を用いて簡便に除去することができる。よって、電極形成領域の保護膜は容易に完全に除去することができる。
この、粗面化エッチングに関しては、第一実施形態と同様であるので詳細な説明は省略する。
ここで、前述の電極形成領域保護膜として、Al、Ni、Au等の金属製の保護膜を形成した場合、その除去については第一の実施形態の金属製保護膜の除去と同様の方法で除去することができる。また、レジストを形成した場合、その除去には従来から一般的に用いられている各種溶剤が使用できる。
金属としては第一実施形態と同様にAl、Au、Ni等とすることができる。
ここでも第一の実施形態同様、ハーフダイシング後にプローブにて電気特性を検査した後、フルダイシングすることが望ましいが、必ずしもフルダイシングする必要はない。
ここでの粗面化エッチングも、前述した第一の実施形態と同様の処理を行うことができる。
この後は第一の実施形態と同様な工程を経て、図8に示すような発光素子10を製造することができる。
そしてもし電極形成時にパターンズレが生じても、電極は端が粗面化部分に若干懸かることになって表面に凹凸が生じることはあっても、電極の支えがエッチングされることはなく、電極剥がれ等の不良が発生することは抑制される。
この場合、GaP層を形成する工程を、GaAsP層やGaAlAs層を形成する工程とすればよい。
また、発光層の構成や組成(用いる元素や、ドーパントの種類・濃度等)も上記例示に限定されず、得たい発光素子の特性に合わせて適宜選択することができる。
図1に示すような工程によって発光素子を製造した。
具体的には、図5に示すような発光素子基板を準備し、その第二主表面側(n型光取り出し層21の表面)にメッシュのオーミック電極を形成するためにレジストZPN1150にてパターンを形成し、AuGeNiを0.2μm蒸着して、リフトオフによって電極パターンを形成した。
さらに、第一主表面側にオーミック電極形成のためにレジストAZ5214Eを用いて星型形状の電極パターンをフォトリソにて形成し、Au→AuBe→Auを蒸着し、リフトオフにて厚さ0.2μmの電極を形成した。
この後、酢酸81.7質量%、フッ酸5質量%、硝酸5質量%、沃素0.3質量%、水8質量%の粗面化エッチング液で液温50℃、エッチング時間120秒の条件で粗面化エッチングを行った。
そして、Al製金属製保護膜を、5%HFに6分接触させて除去した。
実施例1において、第一主表面に形成する電極の最表面層をAuではなくAlとし、また金属製保護膜をAlではなくAuとし、そして金属製保護膜の除去を沃素沃化カリウムで行った以外は実施例1と同様の条件で発光素子を製造した。
図2に示すような工程によって発光素子を製造した。
具体的には、図5に示すような発光素子基板を準備し、その第二主表面側(n型光取り出し層21の表面)にメッシュのオーミック電極を形成するためにレジストZPN1150にてパターンを形成し、AuGeNiを0.2μm蒸着してリフトオフによって電極パターンを形成した。
その後、酢酸81.7質量%、フッ酸5質量%、硝酸5質量%、沃素0.3質量%、水8質量%の粗面化エッチング液で液温50℃、エッチング時間120秒の条件で粗面化エッチングを行った後に、Al製電極形成領域保護膜をHFにより除去した。
このオーミック熱処理後、発光素子基板の第一主表面の全面を覆うようなAl製の金属製保護膜を形成した。
そして、Al製金属製保護膜を5%HFに6分接触させて除去した。
実施例3において、電極形成領域保護膜をAuとして、Au製電極形成領域保護膜の除去を沃素沃化カリウムで行った以外は実施例3と同様の方法で発光素子を製造した。
実施例3において、電極形成領域保護膜を電極より大きなレジスト保護パターンをフォトリソによって形成する工程とし、またこのレジスト保護膜を溶剤によって除去することとした以外は実施例3と同様の方法で発光素子を製造した。
実施例5において、電極の最表面をAuではなくAlとし、また金属製保護膜をAuとし、更にAu製金属製保護膜を沃素沃化カリウムにて除去することとした以外は実施例5と同様の方法で発光素子を製造した。
実施例1において、Al製金属製保護膜を形成しない以外は実施例1と同様な条件で発光素子を製造した。
実施例1において、金属製保護膜を金属(Al)ではなく、レジスト保護膜とすることを除き、実施例1と同様な条件で発光素子を製造した。
また、電極の剥がれ状況および保護膜除去時のシートからのチップの脱落状況を評価し、その結果を表1に示した。
これに対し、比較例1の発光素子は、発光強度が実施例1〜6の発光素子に比べて悪化しており、更に星型電極の手の部分で一部剥がれが観察された。この電極の剥がれにより、電流が面内に十分拡散させず発光効率が低下したと考えられる。
また、比較例2の発光素子は、発光強度については実施例1〜6との差はさほど見られず、電極の剥がれも観察されなかった。しかし、レジスト製の電極保護膜を剥離する際、溶剤によりシートとチップを接着しているのりが溶けてチップが脱落してしまい、歩留りが非常に悪いことが判った。
11…成長用基板(n型GaAs単結晶基板)、 12…n型GaAsバッファ層、 13…n型接続層、 14…n型クラッド層、 15…活性層、 16…p型クラッド層、 17…発光層、 18…p型接続層、
19…p型光取り出し層(p型GaP層)、 19a…第一主表面、 20…発光素子基板、 21…n型光取り出し層(n型GaP層)、
24…(光取り出し領域側)電極、 24a…接合合金化層、
25…裏面電極、 25a…接合合金化層、
26,26’,26’’ ,26’’’…金属製保護膜、
27…電極形成領域保護膜、
28…ボンディングワイヤ。
Claims (5)
- 少なくとも、
光を取り出す第一主表面がGaP、GaAsP、GaAlAsのいずれかからなる発光素子基板に電極を形成する工程と、
少なくとも該電極および電極周辺部を該電極形状に沿って縁取るように覆う金属製保護膜を前記第一主表面に形成する工程と、
該金属製保護膜形成後に、エッチングによって前記発光素子基板の表面を粗面化する粗面化工程と、
該粗面化後に、前記金属製保護膜を除去する工程と、を有することを特徴とする発光素子の製造方法。 - 前記金属製保護膜形成工程後、前記粗面化工程前に、前記発光素子基板をダイシングすることを特徴とする請求項1に記載の発光素子の製造方法。
- 少なくとも、
光を取り出す第一主表面がGaP、GaAsP、GaAlAsのいずれかからなる発光素子基板に電極を形成する工程と、
少なくとも該電極を覆う金属製保護膜を前記第一主表面に形成する工程と、
該金属製保護膜形成後に、エッチングによって前記発光素子基板の表面を粗面化する粗面化工程と、
該粗面化後に、前記金属製保護膜を除去する工程と、を有し、前記電極形成工程前に、前記電極を形成する領域を保護膜で保護し、その後エッチングして前記第一主表面を粗面化し、その後前記保護膜を除去する前処理工程を行い、
前記電極形成工程の後、前記金属製保護膜を、前記電極が形成された前記第一主表面の全面を覆うような膜とし、
前記粗面化工程前に、前記発光素子基板をダイシングすることを特徴とする発光素子の製造方法。 - 前記電極を形成する領域の保護膜を、レジスト、Al、Ni、Auのいずれかからなるものとすることを特徴とする請求項3に記載の発光素子の製造方法。
- 前記金属製保護膜を、Al、Ni、Auのいずれかからなるものとすることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の発光素子の製造方法。
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