JP5167674B2 - 塗装模様の評価方法 - Google Patents

塗装模様の評価方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5167674B2
JP5167674B2 JP2007098343A JP2007098343A JP5167674B2 JP 5167674 B2 JP5167674 B2 JP 5167674B2 JP 2007098343 A JP2007098343 A JP 2007098343A JP 2007098343 A JP2007098343 A JP 2007098343A JP 5167674 B2 JP5167674 B2 JP 5167674B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image data
pattern
luminance
relative frequency
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007098343A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008256505A (ja
Inventor
隆裕 道本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2007098343A priority Critical patent/JP5167674B2/ja
Publication of JP2008256505A publication Critical patent/JP2008256505A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5167674B2 publication Critical patent/JP5167674B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Description

本発明は、表面に凹凸のある粒子状の塗装模様を評価する方法、および、表面に凹凸のある粒子状の塗装模様を有する塗装模様標本に関するものである。
カメラ等の塗装方法の一つに、予め下塗りされた均一な塗装面の上から、液滴状の塗料を塗布することにより、凹凸のある粒子状の塗装模様を形成する方法がある。このような、凹凸のある塗装模様を定量的に評価する方法として、例えば特許第261779号公報(特許文献1)には、模様の凹凸データをフーリエ解析し、(振幅)/(波長)で評価する方法が記載されている。又、特開平11−45337号公報には、模様の粒子部の個数を算出して、それを特徴量として評価する方法が記載されている。
特許第261779号公報 特開平11−45337号公報
しかしながら、特許文献1に記載されるような、フーリエ解析による方法では、振幅と波長の関係から模様の大きさを表現することはできるが模様の数量を表現することができない。また、特許文献2に記載されるような、粒子部の個数を数える手法は、粒子状の模様の数が非常に多く、ひとつひとつの模様が隣接する模様と重なってしまった場合、その重なった粒子状の模様を分離して計測することは困難である。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、官能検査との対応が良い、表面に凹凸のある粒子状の塗装模様を評価する方法を提供することを課題とする。
前記課題を達成するための第1の手段は、表面が粒子状の塗装模様の評価方法であって、塗装表面の画像データを取得して、その画像データを輝度に応じて二値化し、二値化されたデータのうち、輝度の高い方のデータが、画像データ領域全体に占める面積率を演算し、画像データ領域全体に亘って、一つの基準方向又は前記基準方向と略直交する方向の少なくともどちらかの方向に等間隔の線を引き、その線と前記二値化された画像データのうち輝度が高い方のデータの領域とが交差する線分の長さのうち、所定範囲の長さのものの数が、前記線分全体の数に占める割合(相対頻度)を求め、前記面積率を一方の軸に、前記相対頻度を他方の軸にして、求められた前記面積率と前記相対頻度を二次元座標上にプロットし、その位置から、前記塗装模様の凸部の数と大小を評価することを特徴とする塗装模様の評価方法である。
前記課題を解決するための第の手段は、前記第の手段であって、前記基準方向は、画像データの水平又は垂直方向であることを特徴とするものである。
前記課題を解決するための第の手段は、前記第の手段であって、前記基準方向は、前記画像データの対角線方向であることを特徴とするものである。
本発明の参考形態は、前記第1の手段の塗装模様の評価方法によって求められた前記面積率及び前記相対頻度が付された塗装模様標本である。
本発明によれば、官能検査との対応が良い、表面に凹凸のある粒子状の塗装模様を評価する方法を提供することができる。
以下、本発明の実施の形態の例を、図を用いて説明する。図1は、本発明の実施の形態である塗装模様の評価方法を実施するための、画像データを採取する装置の概要を示す図である。被測定物である模様塗装サンプル1を画像取得手段2の下に設置し、被測定物の表面画像データを得ることができる。画像取得手段2から得られた画像データは輝度画像データとして取得され、例えばパーソナルコンピュータのような画像処理手段3によって記録・演算される。
この装置においては、前記画像取得手段2としてデジタルカメラを使用し、前記輝度画像データは、例えば2560×1920ピクセルの画素数で256階調の輝度データとして得ることができる。
図2は、本発明の実施の形態の一例である塗装模様の評価方法のフローチャートである。まず、ステップ1で、模様塗装サンプル1の表面を画像取得手段2で輝度画像データとして取得する。続いてステップ2で、得られた輝度画像データに対してシェーディング補正を行い、照明ムラを除去する。シェーディング補正は、輝度画像データから、その輝度画像データに100×100マスクフィルターを用いた平均化処理をおこなったものの輝度画像データをピクセル毎に減算し128を加える。これにより各ピクセルの輝度値の中心が128となる。
続いてステップ3で、輝度データの低い値はより低く、高い値はより高くすることで、輝度画像のコントラストを大きくする。次にステップ4で、輝度画像の二値化を行い粒子部と下地部の分離を行う。一般に、原画像データでは、粒子部(凸部)の輝度は低く、下地部の輝度は高く撮像される。よって、このとき、二値化された輝度画像を反転させ、粒子部(凸部)は輝度の高い方、下地部は輝度の低い方に二値化するようにする。
続いてステップ5で、輝度の高い方の二値化画像データ(粒子部)の、全領域に対する面積率を算出する。本発明者らが得た知見によれば、このようにして求めた面積率と、官能検査による粒子部の数(模様の数)との間には良好な相関が見られる。
次にステップ6で、画像データ領域全体に亘り、基準方向(ここでは縦方向又は横方向)、又はこの基準方向と直交する方向(ここでは横方向又は縦方向)の少なくともどちらかの方向に等間隔の線を引き、その線と、輝度の高い方の二値化画像データ(粒子部)とが交差する線分の長さデータを得る。このとき、基準方向は、画像データの対角線方向としてもよい。本実施の形態では、図3に示すように、100ピクセルのピッチ間隔で横方向に直線を引く。得られた線分の長さデータは50ピクセル間隔毎の長さデータの相対頻度のヒストグラムとして表記し、例えば150から200ピクセル長の線分の数の、全線分の数に対する相対頻度の値を特徴量とする。
本発明者らが得た知見によれば、このようにして求めた相対頻度の値と、官能検査による粒子部の大きさ(模様の大きさ)との間には良好な相関が見られる。また、このようにすることにより、小さな粒子部が重なっている場合でもこれらを分離して測定することができ、大きな粒子がある場合と区別できることも分かった。
長さがどの範囲にある線分の相対頻度を特徴量とするかは、塗料、塗装方法、塗装条件によって異なるので、これらの変化に応じて、官能検査と相関の強い、長さの範囲を見いだし、その相対頻度を特徴量とすればよい。
続いてステップ7で、ステップ5およびステップ6で得られた、粒子部の面積率と相対頻度の値のマトリックスから模様の定量評価を行う。
本発明の実施例として、官能評価によって、
模様が小さくて数が多いとされたサンプル(a)、
模様が小さくて数が少ないとされたサンプル(b)、
模様が大きくて数が多いとされたサンプル(c)、
模様が大きくて数が少ないとされたサンプル(d)
とサンプル(a)から(d)の中間にあるとされたサンプル(e)
の5種類を定量的に評価した。図4に、それぞれのサンプルの二値化結果を示す。白い部分が輝度の高い側を示し粒子部に対応する。
表1にそれぞれのサンプルでの二値化による画像データ領域全体に占める粒子部の面積率計算の結果を示す。模様の数が多い(a)や(c)で面積率は大きな値を示し、模様の数が少ない(b)や(d)では面積率の値は小さい。
Figure 0005167674
次に、画像データ領域全体に縦方向に100ピクセル毎に等間隔の線を引き、その線と、輝度の高い方の二値化画像データ(粒子部)とが交差する線分の長さデータを得る。得られた線分データは50ピクセル間隔毎の相対頻度のヒストグラムとして図5に示す。図5において、横軸は線分の長さをピクセルで表したもの、縦軸はその相対頻度(全線分数に対する割合で対数目盛)である。0〜50ピクセルの長さの線分の相対頻度を横軸50ピクセルの場所に、50〜100ピクセルの長さの線分の相対頻度を横軸100ピクセルの場所に、というようにプロットしている。前記ヒストグラムの結果から得られた150から200ピクセル長の線分の長さデータの相対頻度の値を表2に示す。模様の大きさが小さい(a)や(b)で相対頻度は小さい値を示し、模様の大きさが大きい(c)や(d)では相対頻度の値は大きい。
なお、この例においては、横方向に等間隔の線を引いたが、縦方向に引いても良く、又、縦横両方向に引いて、縦横両方向についてそれぞれ、上述のように線分の長さデータを求め、これらの数の和に基づいて上述のような処理を行ってもよい。
Figure 0005167674
図6は、表1と表2の結果から、各サンプルの相関関係を2次元のデータとして示したもので、これを見ると模様の状態が視覚的に分かりやすくなる。例えばサンプル(a)から(d)を模様の限界見本と仮定すると、図6のマトリックスにおいてサンプル(a)から(d)で形成される4辺形の内部に位置するサンプル(例えば、(e))を良品として判断することが可能となる。
又、官能検査で得られた標本に、本実施の形態の方法によって得られた面積率と相対頻度との少なくとも一方を刻印等で付することにより、定量的な指標を有する標本とすることができる。
本発明の実施の形態である塗装模様の評価方法を実施するための、画像データを採取する装置の概要を示す図である。 本発明の実施の形態の一例である塗装模様の評価方法のフローチャートである。 画像データ領域全体に、横方向に等間隔の線を引いた様子を示す図である。 それぞれのサンプルの二値化結果を示す図である。 等間隔に引いた線と、輝度の高い方の二値化画像データ(粒子部)とが交差する線分の長さデータを、50ピクセル間隔毎の相対頻度のヒストグラムとして示した図である。 表1と表2の結果から、各サンプルの相関関係を2次元のデータとして示した図である。
符号の説明
1…模様塗装サンプル、2…画像取得手段、3…画像処理手段

Claims (3)

  1. 表面が粒子状の塗装模様の評価方法であって、塗装表面の画像データを取得して、その画像データを輝度に応じて二値化し、二値化されたデータのうち、輝度の高い方のデータが、画像データ領域全体に占める面積率を演算し、画像データ領域全体に亘って、一つの基準方向又は前記基準方向と略直交する方向の少なくともどちらかの方向に等間隔の線を引き、その線と前記二値化された画像データのうち輝度が高い方のデータの領域とが交差する線分の長さのうち、所定範囲の長さのものの数が、前記線分全体の数に占める割合(相対頻度)を求め、前記面積率を一方の軸に、前記相対頻度を他方の軸にして、求められた前記面積率と前記相対頻度を二次元座標上にプロットし、その位置から、前記塗装模様の凸部の数と大小を評価することを特徴とする塗装模様の評価方法。
  2. 請求項1に記載の塗装模様の評価方法であって、前記基準方向は、画像データの水平又は垂直方向であることを特徴とする塗装模様の評価方法。
  3. 請求項1に記載の塗装模様の評価方法であって、前記基準方向は、前記画像データの対角線方向であることを特徴とする塗装模様の評価方法。
JP2007098343A 2007-04-04 2007-04-04 塗装模様の評価方法 Expired - Fee Related JP5167674B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007098343A JP5167674B2 (ja) 2007-04-04 2007-04-04 塗装模様の評価方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007098343A JP5167674B2 (ja) 2007-04-04 2007-04-04 塗装模様の評価方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008256505A JP2008256505A (ja) 2008-10-23
JP5167674B2 true JP5167674B2 (ja) 2013-03-21

Family

ID=39980213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007098343A Expired - Fee Related JP5167674B2 (ja) 2007-04-04 2007-04-04 塗装模様の評価方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5167674B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4700092B2 (ja) 2008-10-01 2011-06-15 株式会社椿本チエイン 自動給油チェーン
JP7048447B2 (ja) * 2018-08-01 2022-04-05 沢井製薬株式会社 錠剤のバインディングの評価方法及び評価装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0838990A (ja) * 1994-08-02 1996-02-13 Nippon Paint Co Ltd 塗膜見本用パネル
JP2000206029A (ja) * 1998-11-11 2000-07-28 Sekisui Chem Co Ltd 粒状模様測定装置及び粒状模様評価方法、並びに粒状模様測定プログラム若しくは粒状模様評価プログラムを記録したコンピュ―タ読み取り可能な記録媒体、並びに粒状模様評価方法を用いた塗装条件設定方法
JP2000332215A (ja) * 1999-05-18 2000-11-30 Kokusai Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP2003248176A (ja) * 2001-12-19 2003-09-05 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡画像撮影装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008256505A (ja) 2008-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6620477B2 (ja) コンクリートのひび割れ検出方法及び検出プログラム
JP4006007B2 (ja) ひび割れ検出方法
KR101635461B1 (ko) 웨이블릿 변환에서 마스크 필터링을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법
JP5705711B2 (ja) ひび割れ検出方法
JP4633245B2 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JP4488308B2 (ja) 構造物表面のひび割れ検出方法
JP4870016B2 (ja) ひび割れ検出方法
CN113155839A (zh) 一种基于机器视觉的钢板外表面缺陷在线检测方法
JP4906609B2 (ja) 撮像装置および方法
JP5167674B2 (ja) 塗装模様の評価方法
KR102483920B1 (ko) Cd-sem 주사 전자 현미경에 의한 특성화에 대한 방법
JP6199799B2 (ja) 自発光材料画像処理装置及び自発光材料画像処理方法
JP5435904B2 (ja) 致命傷の検出方法
JP6801366B2 (ja) 線幅測定方法、線幅測定プログラム、記憶媒体及び情報処理装置
JP3871963B2 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JP4980739B2 (ja) ひび割れ検出方法
JP6818263B2 (ja) 破面解析装置および破面解析方法
JP5605010B2 (ja) 表面検査方法
JP2016217989A (ja) 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2018021873A (ja) 表面検査装置、及び表面検査方法
JP4115378B2 (ja) 欠陥検出方法
JP5452035B2 (ja) 欠陥検査方法および欠陥検査装置
JP2007057705A (ja) 表示パネルの検査方法および検査装置
JP2013200238A (ja) 画像検査方法および画像検査装置
JP2004191070A (ja) 塗装面の検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100312

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110301

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111115

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120626

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120807

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121127

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121210

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees