JP5162182B2 - 異常陰影の検出のために放射線画像を処理するための方法 - Google Patents
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Description
ΔI=Ib −Im として、
Δμ=μb −μm ≒(ΔI)/(Ib ・Xm )
に等しい。
Ib =(M1+M2)/2
に等しい。ここで、M1 は段61のグレー・レベルの平均値であり、M2 は段62のグレー・レベルの平均値である。平均値M1 が平均値M2 よりもかなり小さいという事実により、背景強度Ib の値の過大推定が生じる。背景強度Ib の値のこの過大推定は、セクター60のコントラストΔIの過大推定を招く。セクター60のコントラストΔIのこの過大推定により、多数の誤った検出が生じる。従って、実行者は、従来のアルゴリズムによって与えられた結果を信頼することができない。
2 オパシティ
3 胸筋
4 フィルタリング後の画像
5 境界部
6 移行部
10 X線装置
11 垂直な支柱
12 アーム
13 X線管
14 検出器
15 焦点
16 X線ビーム
18 乳房保持トレイ
19 圧迫パッド
20 制御論理装置
21 外部母線
22 プレゼンテーション画像
23 マイクロプロセッサ
24 プログラム・メモリ
25 データ・メモリ
26 スクリーン
27 キーボード
28 入出力インターフェース
29 内部母線
60 セクター
61 段
62 段
70 ピクセル領域
71 ピクセル区域
72 スライド・ウィンドウ
73 直近の環境
Claims (8)
- X線装置によって生成された画像を処理するための方法であって、
前記X線装置によって生成された、前記物体の生の画像を算出する段階と、
a)検出すべき異常陰影のサイズ及び形状に対応したサイズ及び形状を持つピクセル領域をコンピュータが前記生の画像に適用する段階と、
b)前記ピクセル領域の外側の領域を含むスライド・ウィンドウの各位置で、背景強度Ibと見なすべき前記生の画像のグレー・レベルの平均値を前記コンピュータが算出する段階と、
c)前記背景強度Ibと見なすべきグレー・レベルの平均値と前記ピクセル領域の前記生の画像のグレー・レベルの平均値との差に基づいて、前記ピクセル領域に位置する前記生画像中のエレメントに異常陰影属性を前記コンピュータが割り当てる段階と、を含んでいる当該段階と、
を有している方法。 - 検出すべき異常陰影のサイズを所定のサイズの範囲内で決定する段階と、
前記範囲をカバーするのに必要な回数だけ前記段階a)〜段階c)を前記コンピュータが繰り返す段階と、
を含んでいる、請求項1記載の方法。 - 前記生の画像に適用すべき画像分解能を、前記コンピュータが検出すべき異常陰影のサイズに応じて低下させる段階を含んでいる、請求項1又は2に記載の方法。
- 前記低下させる段階は、
前記コンピュータが前記生の画像を、選択された分解能の関数として画像のエレメントの複数の隣接したブロックに分割する段階と、
前記コンピュータが各々の対応するブロックのグレー・レベルの平均値を有するマクロエレメントを形成する段階と、
を含んでいる、請求項3記載の方法。 - 前記段階c)の前記差を、検出すべき異常陰影のサイズ及び該領域に割り当てられる背景強度の関数として標準化することによって、前記各領域の標準化されたコントラストを算出する段階と、
各領域の標準化されたコントラストがコントラスト閾値よりも大きいとき、前記領域の前記エレメントに前記異常陰影属性を割り当てる段階と、
を含んでいる、請求項1乃至4のいずれかに記載の方法。 - 異常陰影属性を持つ連結されたピクセルの集合によって形成された粒子を前記コンピュータが決定する段階と、
各粒子の輪郭を進展させて、検出すべき異常陰影を表す輪郭を前記コンピュータが求める段階と、
を含んでいる、請求項1乃至5のいずれかに記載の方法。 - 異常陰影属性を持つエレメントに一つのカラー情報を前記コンピュータが割り当てる段階、又は
異常陰影属性を持つエレメントの強度を前記コンピュータが増強する段階のいずれかを含み、また更に、
カラー化された又は増強されたエレメントを表示する段階を含んでいる、請求項1乃至6のいずれかに記載の方法。 - 各々のエレメント領域内のグレー・レベルを前記コンピュータが低域通過フィルタを使用して算出する段階を含む、請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。
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