JP5155914B2 - Controller unit - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品が実装されたプリント基板を筐体に収容して構成される制御ユニットに関する。   The present invention relates to a control unit configured by housing a printed circuit board on which electronic components are mounted in a housing.

特許文献1には、筐体に設けた突出部とプリント基板との間に、例えば、金属フィラーが含まれたシリコン系のゲル状の樹脂材料(熱伝導材)を配置し、プリント基板に実装された電子部品で発生した熱を、前記熱伝導材及び筐体を介して放熱させるようにした電子制御装置が開示されている。   In Patent Document 1, for example, a silicon-based gel-like resin material (thermal conductive material) containing a metal filler is disposed between a protrusion provided on a housing and a printed board, and mounted on the printed board. An electronic control device is disclosed in which heat generated in the electronic component is radiated through the heat conducting material and the housing.

特開2003−289191号公報JP 2003-289191 A

ところで、上記のように、熱伝導材を介して電子部品の熱を放熱させる放熱構造において、個々の電子部品毎に熱伝導材を塗布すると、塗布装置における塗布点が多くなって作業効率が悪化し、また、熱伝導材の使用量が多くなってしまうという問題があった。   By the way, in the heat dissipation structure that dissipates the heat of the electronic component through the heat conductive material as described above, when the heat conductive material is applied to each individual electronic component, the number of application points in the coating device increases and work efficiency deteriorates. In addition, there is a problem that the amount of heat conductive material used increases.

本発明は上記実情に鑑みなされたものであり、熱伝導材の塗布を効率良く行え、かつ、熱伝導材の使用量を低減できるようにすることを目的とする。   This invention is made | formed in view of the said situation, and it aims at enabling it to apply | coat a heat conductive material efficiently and to reduce the usage-amount of a heat conductive material.

そのため、本発明では、ヒートシンクを一体的に備えた複数の電子部品を、それぞれのヒートシンクが相互に近接して対向するようにプリント基板上に配置し、かつ、前記複数の電子部品が実装される側の前記プリント基板と前記筐体との隙間であって、対向配置された前記ヒートシンクで挟まれる領域に、熱伝導材を充填するようにした。 Therefore, in the present invention, a plurality of electronic components integrally provided with a heat sink are arranged on a printed circuit board so that the respective heat sinks face each other close to each other, and the plurality of electronic components are mounted. A heat conduction material is filled in a gap between the printed circuit board on the side and the housing, which is sandwiched between the opposed heat sinks .

上記発明によると、前記複数の電子部品が実装される側の前記プリント基板と前記筐体との隙間であって、対向配置された前記ヒートシンクで挟まれる領域に、熱伝導材を充填するから、電子部品に個々に塗布作業を行う場合に比べて、熱伝導材の塗布点を減少させることができ、また、熱伝導材の使用量を低減させることができる。 According to the above invention, since the space between the printed circuit board on the side where the plurality of electronic components are mounted and the housing is filled with the heat conductive material in the region sandwiched between the opposed heat sinks, Compared with the case where the application operation is individually performed on the electronic component, the application point of the heat conducting material can be reduced, and the amount of the heat conducting material used can be reduced.

本発明に係る制御ユニットの第1実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 1st embodiment of a control unit concerning the present invention. 前記第1実施形態におけるプリント基板の上面図である。It is a top view of the printed circuit board in the first embodiment. 前記第1実施形態における半導体チップを示す図である。It is a figure which shows the semiconductor chip in the said 1st Embodiment. 半導体チップの配置パターンの別の例を示す図である。It is a figure which shows another example of the arrangement pattern of a semiconductor chip. 半導体チップの配置パターンの別の例を示す図である。It is a figure which shows another example of the arrangement pattern of a semiconductor chip. 本発明に係る制御ユニットの第2実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 2nd embodiment of a control unit concerning the present invention. 前記第2実施形態におけるプリント基板の上面図である。It is a top view of the printed circuit board in the second embodiment. 本発明に係る制御ユニットの第3実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 3rd embodiment of a control unit concerning the present invention. 本発明に係る制御ユニットの第4実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 4th embodiment of a control unit concerning the present invention. 本発明に係る制御ユニットの第5実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 5th embodiment of a control unit concerning the present invention. 本発明に係る制御ユニットの第6実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 6th embodiment of a control unit concerning the present invention. 本発明に係る制御ユニットの第7実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view showing a 7th embodiment of a control unit concerning the present invention.

以下に本発明の実施の形態を説明する。
図1及び図2は、本願発明に係る制御ユニットの第1実施形態を示し、図1は、図2のA−A断面図である。
Embodiments of the present invention will be described below.
1 and 2 show a first embodiment of a control unit according to the present invention, and FIG. 1 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG.

図に示す制御ユニット100は、例えば、エンジンルームなどに配置され車両の制御に用いられるものであり、半導体チップ200やアルミ電解コンデンサ300などの複数の電子部品が実装されたプリント基板400と、該プリント基板400を収容する筐体500とから構成される。   A control unit 100 shown in the figure is, for example, disposed in an engine room and used for vehicle control, and includes a printed circuit board 400 on which a plurality of electronic components such as a semiconductor chip 200 and an aluminum electrolytic capacitor 300 are mounted, It is comprised from the housing | casing 500 which accommodates the printed circuit board 400. FIG.

本実施形態に記載される前記半導体チップ200は発熱量の多い電子部品であり、図3に示すように、側面201からリード202が取り出されると共に、前記側面201と平行な反対側の側面203には、半導体チップ200の熱を放熱させるためのヒートシンクである放熱板204が突出して設けられている。   The semiconductor chip 200 described in the present embodiment is an electronic component that generates a large amount of heat, and as shown in FIG. 3, the lead 202 is taken out from the side surface 201, and on the opposite side surface 203 parallel to the side surface 201. Is provided with a protruding heat sink 204 that is a heat sink for dissipating the heat of the semiconductor chip 200.

前記筐体500は略四角箱状で、一方が開放されたケース501と、該ケース501の開放側を閉塞するカバー502との2部品からなり、前記プリント基板400を収容するための空間を形成する。   The casing 500 has a substantially square box shape, and is composed of two parts, a case 501 that is open on one side and a cover 502 that closes the open side of the case 501, and forms a space for accommodating the printed circuit board 400. To do.

前記プリント基板400は、ケース501の開放部を覆うように、ケース501の底面505とプリント基板400の裏面(本実施形態における非実装面)401との間に隙間S1を有して設置され、更に、前記ケース501に対してカバー502が図外のねじ等で取り付け固定されるようになっている。   The printed circuit board 400 is installed with a gap S1 between the bottom surface 505 of the case 501 and the back surface (non-mounting surface in the present embodiment) 401 of the printed circuit board 400 so as to cover the open portion of the case 501. Further, a cover 502 is attached and fixed to the case 501 with a screw or the like not shown.

尚、プリント基板400の裏面にも、電子部品が実装させることができる。
そして、カバー502が取り付けられた状態で、カバー502の内面506と、半導体チップ200やアルミ電解コンデンサ300など電子部品との間には、最小値min以上の隙間S2が確保されるようになっている。
Electronic components can also be mounted on the back surface of the printed circuit board 400.
Then, with the cover 502 attached, a gap S2 of at least the minimum value min is secured between the inner surface 506 of the cover 502 and the electronic components such as the semiconductor chip 200 and the aluminum electrolytic capacitor 300. Yes.

前記最小値minは、筐体500(ケース501及びカバー502)や電子部品の寸法ばらつき、プリント基板400の撓み・振動などを考慮し、電子部品がカバー502に当たることを避けられる値に設定される。   The minimum value min is set to a value that prevents the electronic component from hitting the cover 502 in consideration of dimensional variations of the casing 500 (case 501 and cover 502) and electronic components, bending / vibration of the printed circuit board 400, and the like. .

前記ケース501及びカバー502は、例えばアルミニウム等の金属によって形成される。
前記カバー502の表面503には、カバー502に伝達した前記半導体チップ200等の熱を大気中に放熱させるための複数のフィン(ヒートシンク)504が一体的に形成されている。
The case 501 and the cover 502 are made of a metal such as aluminum.
A plurality of fins (heat sinks) 504 are integrally formed on the surface 503 of the cover 502 to dissipate heat of the semiconductor chip 200 and the like transmitted to the cover 502 into the atmosphere.

尚、前記フィン504を介して液体(水)に熱伝達させ、更に、前記液体(水)の熱を大気中に放出させる水冷方式とすることができる。
前記半導体チップ200は、プリント基板400の表面402(実装面)上に複数実装されるが、配置上可能な範囲で、隣接配置される半導体チップ200の放熱板204が相互に近接して配置(対向)するように、複数の半導体チップ200を配置してある。
Note that a water cooling system in which heat is transferred to the liquid (water) through the fins 504 and the heat of the liquid (water) is released into the atmosphere can be employed.
A plurality of the semiconductor chips 200 are mounted on the surface 402 (mounting surface) of the printed circuit board 400, but the heat sinks 204 of the adjacent semiconductor chips 200 are disposed close to each other as far as possible in arrangement ( A plurality of semiconductor chips 200 are arranged so as to face each other.

例えば、第1半導体チップ200aと第2半導体チップ200bとは、それぞれの放熱板204が、相互に平行に近接して対向するようにプリント基板400上に配置される。
また、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eは、リード202及び放熱板204が設けられない側面205同士を近接させて直線的に並べられ、該並び方向の一方側(図2で左側)にリード202が配され、かつ、他方側(図2で右側)に放熱板204が配されるように、前記プリント基板400上に配置される。
For example, the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b are disposed on the printed circuit board 400 so that the heat radiating plates 204 face each other in parallel and close to each other.
Further, the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e are arranged linearly with the side surfaces 205 where the leads 202 and the heat dissipation plate 204 are not provided close to each other, and one side in the arrangement direction (left side in FIG. 2). Are disposed on the printed circuit board 400 such that the lead 202 is disposed on the other side (the right side in FIG. 2) and the heat sink 204 is disposed on the other side.

更に、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gは、それぞれの放熱板204が、相互に平行に近接して対向するようにプリント基板400上に配置され、かつ、前記第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eの並びの放熱板204が配される側に、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの側面205が、前記第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eそれぞれの放熱板204に対して近接して対向するようにプリント基板400上に配置される。   Further, the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are disposed on the printed circuit board 400 so that the heat sinks 204 face each other in parallel and close to each other, and the third semiconductor chip 200c˜ The side surfaces 205 of the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are arranged on the side where the heat sink 204 of the fifth semiconductor chip 200e is arranged, and the heat sinks of the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e, respectively. It is arranged on the printed circuit board 400 so as to face and close to 204.

尚、放熱板204を相互に近接して対向させる半導体チップ200の配置は、図2に示した例に限定されるものではない。
例えば、図4に示すように、リード202及び放熱板204が設けられない側面205同士を近接させて直線的に並べられ、かつ、該並び方向の一方側にリード202が配され、かつ、他方側に放熱板204が配されるようにした複数の半導体チップ200の並びと、同じように、リード202及び放熱板204が設けられない側面205同士を近接させて直線的に並べられ、かつ、該並び方向の一方側にリード202が配され、かつ、他方側に放熱板204が配されるようにした複数の半導体チップ200の並びとを、相互の放熱板204が平行に近接して対向するようにプリント基板400上に配置させることができる。
The arrangement of the semiconductor chips 200 with the heat sinks 204 facing each other in proximity is not limited to the example shown in FIG.
For example, as shown in FIG. 4, the side surfaces 205 where the leads 202 and the heat sink 204 are not provided are linearly arranged close to each other, the leads 202 are arranged on one side of the arrangement direction, and the other side Similarly to the arrangement of the plurality of semiconductor chips 200 in which the heat sink 204 is arranged on the side, similarly, the side surfaces 205 where the leads 202 and the heat sink 204 are not provided are arranged in a straight line, and A plurality of semiconductor chips 200 arranged such that a lead 202 is arranged on one side of the arrangement direction and a heat radiating plate 204 is arranged on the other side, the heat radiating plates 204 face each other in parallel. It can be arranged on the printed circuit board 400.

また、図5に示すように、複数の半導体チップ200を、放熱板204を中心に向けて同心円に並べることができ、同心円上に並べられる半導体チップ200の数は、3,4乃至5以上のいずれであってもよい。   In addition, as shown in FIG. 5, a plurality of semiconductor chips 200 can be arranged concentrically with the heat sink 204 as the center, and the number of semiconductor chips 200 arranged on the concentric circles is 3, 4 to 5 or more. Either may be sufficient.

即ち、放熱板204を近接させる構成は、放熱板204相互が平行に対向する配置に限られず、傾斜をもって対向することが含まれ、換言すれば、1つの放熱板204の延長上に別の放熱板204が存在するように、複数の半導体チップ200を配置すればよい。   That is, the configuration in which the heat sinks 204 are close to each other is not limited to the arrangement in which the heat sinks 204 are opposed to each other in parallel, but includes that they are opposed to each other with an inclination, in other words, another heat release on the extension of one heat sink 204. A plurality of semiconductor chips 200 may be arranged so that the plate 204 exists.

更に、発熱する電子部品であってヒートシンクを備える電子部品を、半導体チップに限定するものではなく、また、ヒートシンクの形状を板状のものに限定するものでもなく、例えばフィン形状のヒートシンクを備える電子部品であってもよい。   Furthermore, an electronic component that generates heat and includes a heat sink is not limited to a semiconductor chip, and the shape of the heat sink is not limited to a plate-like shape. For example, an electronic component that includes a fin-shaped heat sink It may be a part.

上記のようにしてプリント基板400上に配置される半導体チップ200は、前述のように発熱部品であり、前記放熱板204から熱を効率良く逃がすことで、半導体チップ200の昇温を抑制することができる。   The semiconductor chip 200 arranged on the printed circuit board 400 as described above is a heat-generating component as described above, and the heat from the heat radiating plate 204 is efficiently released to suppress the temperature rise of the semiconductor chip 200. Can do.

そこで、本実施形態では、前記放熱板204と前記カバー502との間の隙間S2に、柔軟性を有するゲル状(半固体状、ペースト状)の熱伝導材であって、空気に比べて高い熱伝導率を示すシリコングリス600を介在させ、放熱板204の熱がシリコングリス600を介してカバー502に伝達され、カバー502に伝達された熱をフィン504によって大気中に放熱させるようにしてある。   Therefore, in the present embodiment, the gap S2 between the heat radiating plate 204 and the cover 502 is a flexible gel-like (semi-solid, paste-like) heat conduction material, which is higher than air. The silicon grease 600 indicating the thermal conductivity is interposed, and the heat of the heat radiating plate 204 is transmitted to the cover 502 through the silicon grease 600, and the heat transmitted to the cover 502 is radiated to the atmosphere by the fins 504. .

尚、本実施形態では、柔軟性を有する熱伝導材として前記シリコングリス600を用いるが、シリコングリス600は、銀粉やアルミ粉を混ぜたものであってもよく、また、シリコングリス600に代えて、シリコンオイルを基油にシリカ粉末を配合したオイルコンパウンドや、エステルベースの合成グリスに熱伝導率の良い金属酸化物を混合して放熱性を得たサーマルコンパウンドなどを用いることができる。   In the present embodiment, the silicon grease 600 is used as a flexible heat conductive material. However, the silicon grease 600 may be a mixture of silver powder or aluminum powder. An oil compound in which silica powder is blended with silicon oil as a base oil, or a thermal compound obtained by mixing a metal oxide having good thermal conductivity with ester-based synthetic grease to obtain heat dissipation can be used.

前記シリコングリス600は、プリント基板400をケース501に取り付けた状態で塗布装置(塗布ロボット)を用いて、プリント基板400に対して塗布される。
ここで、本実施形態では、図2に示す通り、シリコングリス600は、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bに対しては、相互の放熱板204が対向する領域の略中央部位に塗布され、同様に、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gに対しては、相互の放熱板204が対向する領域の略中央部位に塗布されるようにしてある。
The silicon grease 600 is applied to the printed circuit board 400 using a coating apparatus (application robot) with the printed circuit board 400 attached to the case 501.
Here, in the present embodiment, as shown in FIG. 2, the silicon grease 600 is applied to the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b at a substantially central portion of the region where the heat radiating plates 204 face each other. Similarly, with respect to the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g, the mutual heat sinks 204 are applied to substantially the central part of the facing region.

更に、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eについては、それぞれの放熱板204と、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの側面205とが対向する領域の略中央部位にシリコングリス600が塗布される。   Further, with respect to the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e, the silicon grease 600 is provided at a substantially central portion of the region where the respective heat sinks 204 and the side surfaces 205 of the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g face each other. Is applied.

そして、シリコングリス600の塗布後に、カバー502をケース501に対して取り付けることで、カバー502が山状に塗布されたシリコングリス600を押し潰し、図1に示すように、前記カバー502と前記プリント基板400との隙間の半導体チップ200で挟まれる領域、及び、半導体チップ200の上面206の放熱板204側と前記カバー502との隙間に、シリコングリス600が充填され、シリコングリス600が放熱板204とカバー502とに密着する状態となる。   Then, after applying the silicon grease 600, the cover 502 is attached to the case 501, thereby crushing the silicon grease 600 with the cover 502 applied in a mountain shape, and as shown in FIG. A region between the substrate 400 and the gap between the semiconductor chip 200 and a gap between the heat sink 204 side of the upper surface 206 of the semiconductor chip 200 and the cover 502 is filled with silicon grease 600, and the silicon grease 600 is filled with the heat sink 204. And the cover 502 are brought into close contact with each other.

これにより、シリコングリス600は、放熱板204及びカバー502に密着し、放熱板204の熱は、シリコングリス600を介してカバー502に伝達されるようになる。
従って、空気を介して放熱板204の熱をカバー502に伝達させる場合に比べて、より多くの熱がカバー502(フィン504)に移動し、高い放熱効果を発揮する。
As a result, the silicon grease 600 is in close contact with the heat radiating plate 204 and the cover 502, and the heat of the heat radiating plate 204 is transmitted to the cover 502 via the silicon grease 600.
Accordingly, more heat is transferred to the cover 502 (fins 504) than when the heat of the heat radiating plate 204 is transmitted to the cover 502 via air, and a high heat dissipation effect is exhibited.

また、前記シリコングリス600は、柔軟性を有するため、例えば、プリント基板400の振動(例えば車両振動に起因する)・変形(例えば温度によってプリント基板400に生じる反り等)によって、シリコングリス600がプリント基板400に負荷を与えることがない。   Further, since the silicon grease 600 has flexibility, for example, the silicon grease 600 is printed by vibration (for example, due to vehicle vibration) or deformation (for example, warpage generated in the printed circuit board 400 due to temperature) of the printed circuit board 400. There is no load on the substrate 400.

ところで、前述のように、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200b、更に、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gについては、放熱板204相互が対向するように配置されるので、対向領域の略中央部位にシリコングリス600を塗布することで、対向する2つの半導体チップ200それぞれについて、放熱板204とカバー502との間にシリコングリス600が介在するようにできる。   Incidentally, as described above, the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b, and further, the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are disposed so that the heat sinks 204 face each other. By applying the silicon grease 600 to the substantially central portion of the region, the silicon grease 600 can be interposed between the heat sink 204 and the cover 502 for each of the two semiconductor chips 200 facing each other.

例えば、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bが同じ向きに配置されるなど、相互の放熱板204が近接して対向することがないように配置される場合には、シリコングリス600を第1半導体チップ200aと第2半導体チップ200bとでそれぞれ個別に塗布することが必要となる。   For example, when the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b are arranged in the same direction, such as when the heat radiating plates 204 are arranged so as not to face each other, the silicon grease 600 is changed to the first one. It is necessary to apply each of the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b individually.

これに対し、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200b、更に、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gのように、相互の放熱板204が近接して対向するように配置すれば、対向領域の中央部位にシリコングリス600を塗布することで、各半導体チップ200についてシリコングリス600を介在させる放熱構造を形成させることができる。   On the other hand, if the first and second semiconductor chips 200a and 200b, and the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are arranged so that the mutual heat sinks 204 are close to each other, By applying silicon grease 600 to the central portion of the opposing region, a heat dissipation structure in which the silicon grease 600 is interposed can be formed for each semiconductor chip 200.

従って、半導体チップ200毎にシルコングリス600を塗布させる場合に比べて、シリコングリス600の塗布点を減らすことができ、塗布作業の効率を高めることができると共に、塗布するシリコングリス600の量を少なくできる。   Therefore, compared with the case where the silicon grease 600 is applied to each semiconductor chip 200, the application point of the silicon grease 600 can be reduced, the efficiency of the application work can be increased, and the amount of the silicon grease 600 to be applied can be reduced. .

上記のように、塗布点を減少させるべく、放熱板204を近接させて対向させるので、前記放熱板204の近接とは、対向する半導体チップ200に対し、共通的な塗布点でそれぞれの放熱板204からの熱伝達に必要なシリコングリス600を塗布することができる程度に近いことを意味する。   As described above, in order to reduce the application point, the heat radiating plate 204 is brought close to and opposed to each other. Therefore, the proximity of the heat radiating plate 204 means that each heat radiating plate is a common application point with respect to the opposing semiconductor chip 200. It means that the silicon grease 600 necessary for heat transfer from 204 can be applied.

尚、図4に示すような半導体チップ200の配置は、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200b、又は、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの配置の連続と見なすことができるから、対向領域が延びる方向に沿ってシリコングリス600の塗布点を増やせばよい。   The arrangement of the semiconductor chips 200 as shown in FIG. 4 can be regarded as a continuation of the arrangement of the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b, or the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g. The number of application points of the silicon grease 600 may be increased along the direction in which the facing region extends.

また、図5に示すように、放熱板204側を中心に向けて同心円に複数の半導体チップ200を配置する場合には、同心円の中心付近にシリコングリス600を塗布する。
図6及び図7は、本発明の第2実施形態を示し、ケース502の内面506から、放熱板204が配置される領域の略中央部位に向けて突出する壁状の突出部507を設けた点が、第1実施形態と異なる。
Further, as shown in FIG. 5, when a plurality of semiconductor chips 200 are arranged concentrically with the heat sink 204 side as the center, silicon grease 600 is applied in the vicinity of the center of the concentric circle.
6 and 7 show a second embodiment of the present invention, in which a wall-like projecting portion 507 projecting from the inner surface 506 of the case 502 toward the substantially central portion of the region where the heat sink 204 is disposed is provided. This is different from the first embodiment.

前記突出部507は、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bが配置される領域の中央部位に沿って延設される第1突出部507aと、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gが配置される領域の中央部位に沿って延設される第2突出部507bとからなる。   The protrusion 507 includes a first protrusion 507a extending along a central portion of a region where the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b are disposed, and a sixth semiconductor chip 200f and a seventh semiconductor chip 200g. The second projecting portion 507b extends along the central portion of the region where the is disposed.

更に、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eそれぞれの放熱板204と、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの側面205とが対向する領域の略中央部位に沿って延設される第3突出部507cを形成させても良い。   Furthermore, the heat sinks 204 of the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e and the side surfaces 205 of the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are extended along substantially the central part. The third protrusion 507c may be formed.

前記第3突出部507cを形成させる場合、前記第2突出部507bと一体のT字状の突出部とすることができ、また、第2突出部507bと第3突出部507cとをそれぞれ独立に形成させることができる。   When forming the third protrusion 507c, the third protrusion 507b can be a T-shaped protrusion integral with the second protrusion 507b, and the second protrusion 507b and the third protrusion 507c can be made independent of each other. Can be formed.

前記突出部507は、半導体チップ200(放熱板204)に干渉しない幅Wに設定され、かつ、その先端508とプリント基板400の表面402(実装面)との間に、プリント基板400との干渉を防ぐための隙間S3が設けられるように、ケース502の内面506からの高さHが設定されている。   The protrusion 507 is set to have a width W that does not interfere with the semiconductor chip 200 (heat radiating plate 204), and the interference with the printed circuit board 400 between the tip 508 and the surface 402 (mounting surface) of the printed circuit board 400. The height H from the inner surface 506 of the case 502 is set so as to provide a gap S3 for preventing this.

上記の突出部507a,507b(507c)を設けた場合、第1実施形態の効果に加え、更に、以下のような効果を奏する。
第2実施形態によると、シリコングリス600を塗布した後に、カバー502をケース501に対して取り付ける際に、前記突出部507a,507bが、山状に塗布されたシリコングリス600の中央を分断するように押し進むことになり、シリコングリス600は、対向配置される双方の半導体チップ200に向けて押し分けられるので、対向領域の中央部位に塗布したシリコングリス600を各半導体チップ200に分配して、シリコングリス600の偏りを抑制することができる。
In the case where the protrusions 507a and 507b (507c) are provided, the following effects are obtained in addition to the effects of the first embodiment.
According to the second embodiment, when the cover 502 is attached to the case 501 after the silicon grease 600 is applied, the protrusions 507a and 507b divide the center of the silicon grease 600 applied in a mountain shape. Since the silicon grease 600 is pushed toward both of the semiconductor chips 200 arranged opposite to each other, the silicon grease 600 applied to the central portion of the opposed region is distributed to each semiconductor chip 200 and silicon silicon The bias of the grease 600 can be suppressed.

また、前記突出部507a,507b(507c)によって、シリコングリス600を各半導体チップ200の放熱板204に押し付けるようにできるので、放熱板204に対するシリコングリス600の密着度を高めることができる。   Further, since the silicon grease 600 can be pressed against the heat radiating plate 204 of each semiconductor chip 200 by the protrusions 507a and 507b (507c), the adhesion of the silicon grease 600 to the heat radiating plate 204 can be increased.

更に、突出部507a,507b(507c)がシリコングリス600の熱をフィン504に伝達し、かつ、放熱板204から近い位置に突出部507が位置するから、熱伝達経路として放熱板204からカバー502までの距離を短くした場合と同様に作用し、放熱効率を高めることができる。   Furthermore, since the protrusions 507a and 507b (507c) transfer the heat of the silicon grease 600 to the fins 504 and the protrusions 507 are located near the heat dissipation plate 204, the heat dissipation path 204 covers the cover 502. It acts similarly to the case where the distance to is shortened, and the heat radiation efficiency can be increased.

また、半導体チップ200が対向する空間容積の一部を、前記突出部507a,507b(507c)が占めることになるので、その分、シリコングリス600の塗布量(使用量)を減らすことが可能となる。   Further, since the protruding portions 507a and 507b (507c) occupy a part of the space volume facing the semiconductor chip 200, it is possible to reduce the application amount (use amount) of the silicon grease 600 accordingly. Become.

図8は、本発明の第3実施形態を示し、前記第2実施形態に対して、突出部507の高さを、プリント基板400を突出部507の先端508が貫通する長さに設定し、かつ、前記突出部507の先端508を挿通させる貫通孔403(スリット)をプリント基板400に開口させた点が異なる。   FIG. 8 shows a third embodiment of the present invention. In contrast to the second embodiment, the height of the protruding portion 507 is set to a length through which the tip 508 of the protruding portion 507 penetrates the printed circuit board 400. The difference is that a through-hole 403 (slit) through which the tip 508 of the protruding portion 507 is inserted is opened in the printed circuit board 400.

第3実施形態では、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gが対向配置される領域の中央部位に沿って、前記突出部507bの先端508を挿通させ得る幅及び長さの貫通孔403bをプリント基板400に形成してある。   In the third embodiment, the through hole 403b having a width and a length through which the tip 508 of the protruding portion 507b can be inserted along the central portion of the region where the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g are opposed to each other. It is formed on the printed circuit board 400.

また、図示は省略するが、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bが対向配置される領域の中央部位に沿って、前記突出部507aの先端508を挿通させ得る幅及び長さの貫通孔、更に、突出部507cが形成される場合には、この突出部507cを挿通させ得る幅及び長さの貫通孔が、前記貫通孔403bと同様に形成されるものとする。   Although not shown in the drawings, a through hole having a width and a length through which the tip 508 of the protruding portion 507a can be inserted along the central portion of the region where the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b are opposed to each other. Furthermore, when the protruding portion 507c is formed, a through hole having a width and a length through which the protruding portion 507c can be inserted is formed in the same manner as the through hole 403b.

一方、前記突出部507bは、前記貫通孔403bを貫通して、その先端508が、プリント基板400の裏面401と略同一面になるように、ケース502の内面506からの高さを設定してあり、前記突出部507a,507cについても同様な高さ設定がなされているものとする。   On the other hand, the protrusion 507b has a height from the inner surface 506 of the case 502 so as to penetrate the through hole 403b and the tip 508 thereof is substantially flush with the back surface 401 of the printed circuit board 400. It is assumed that the same height is set for the protrusions 507a and 507c.

上記第3実施形態によると、プリント基板400と突出部507b(507a,507c)とが干渉することを抑制しつつ、突出部507b(507a,507c)を放熱板204に対してより近い位置に配することができ、より高い放熱効果を得られると共に、シリコングリス600の量をより低減することができる。   According to the third embodiment, the protrusions 507b (507a, 507c) are arranged closer to the heat sink 204 while suppressing the interference between the printed circuit board 400 and the protrusions 507b (507a, 507c). Thus, a higher heat dissipation effect can be obtained, and the amount of silicon grease 600 can be further reduced.

即ち、突出部507b(507a,507c)の先端508を、プリント基板400の表面402(実装面)に近づけるほど、突出部507b(507a,507c)と放熱板204との距離が短くなり、放熱板204から突出部507b(507a,507c)に対する熱伝達を効率よく行わせることができるが、突出部507b(507a,507c)とプリント基板400との距離が短いと、寸法ばらつきや振動などによって突出部507a,507bの先端508がプリント基板400に突き当たり、プリント基板400に負荷を与える可能性がある。   In other words, the closer the tip 508 of the protruding portion 507b (507a, 507c) is to the surface 402 (mounting surface) of the printed circuit board 400, the shorter the distance between the protruding portion 507b (507a, 507c) and the heat sink 204 is. 204 can efficiently transfer heat from the protrusions 507b (507a, 507c) to the protrusions 507b (507a, 507c). However, if the distance between the protrusions 507b (507a, 507c) and the printed circuit board 400 is short, the protrusions may be caused by dimensional variations or vibrations. There is a possibility that the tips 508 of 507a and 507b hit the printed circuit board 400 and apply a load to the printed circuit board 400.

これに対し、第3実施形態のように、突出部507b(507a,507c)がプリント基板400を貫通していれば、プリント基板400の表裏方向における寸法ばらつきや振動に対して、突出部507b(507a,507c)とプリント基板400とが干渉する(当たる)ことがなく、突出部507b(507a,507c)と放熱板204との距離を最短に設定でき、これによって、プリント基板400に負荷を与えることなく、第2実施形態よりも放熱効果を高めかつシリコングリス600の塗布量(使用量)を減らすことができる。   On the other hand, as in the third embodiment, if the protruding portion 507b (507a, 507c) penetrates the printed circuit board 400, the protruding portion 507b ( 507a, 507c) and the printed circuit board 400 do not interfere with each other, and the distance between the protrusion 507b (507a, 507c) and the heat sink 204 can be set to the shortest, thereby applying a load to the printed circuit board 400. Without any problem, the heat dissipation effect can be enhanced and the application amount (use amount) of the silicon grease 600 can be reduced as compared with the second embodiment.

尚、上記のように、プリント基板400に貫通孔403bを開口させる場合には、シリコングリス600の粘度及び/又は貫通孔403bの開口幅(突出部507bの幅)を調整し、カバー502を組み付ける前の段階で、貫通孔403bからのシリコングリス600の流出を抑制することが好ましい。   As described above, when the through hole 403b is opened in the printed circuit board 400, the viscosity of the silicon grease 600 and / or the opening width of the through hole 403b (the width of the protruding portion 507b) is adjusted, and the cover 502 is assembled. It is preferable to suppress the outflow of the silicon grease 600 from the through hole 403b at the previous stage.

また、図8では、突出部507b(507a,507c)の先端508がプリント基板400の裏面401と略同一面になるように、突出部507(507a,507c)の高さを設定したが、
図9に示す第4実施形態のように、突出部507b(507a,507c)がプリント基板400に設けた貫通孔403bに挿通され、かつ、その先端508が、ケース501の底面505に突き当たるように、前記突出部507b(507a,507c)の高さを設定することができる。
In FIG. 8, the height of the protrusion 507 (507a, 507c) is set so that the tip 508 of the protrusion 507b (507a, 507c) is substantially flush with the back surface 401 of the printed circuit board 400.
As in the fourth embodiment shown in FIG. 9, the protrusions 507 b (507 a and 507 c) are inserted into the through holes 403 b provided in the printed circuit board 400, and the tip 508 of the protrusion 507 abuts against the bottom surface 505 of the case 501. The height of the protruding portion 507b (507a, 507c) can be set.

上記のように、突出部507b(507a,507c)の先端508がケース501の底面505に突き当たるようにすれば、突出部507b(507a,507c)が、カバー502とケース501とで構成されるプリント基板400の収容空間を上下方向に支える壁として機能し、カバー502及びケース501のプリント基板400側への撓みが抑制される。   As described above, when the tip 508 of the protrusion 507b (507a, 507c) is brought into contact with the bottom surface 505 of the case 501, the print 507b (507a, 507c) includes the cover 502 and the case 501. It functions as a wall that supports the accommodation space of the substrate 400 in the vertical direction, and the bending of the cover 502 and the case 501 to the printed circuit board 400 side is suppressed.

従って、カバー502及びケース501と、プリント基板400及び該プリント基板400に実装される半導体チップ200やアルミ電解コンデンサ300などの複数の電子部品との干渉の発生を抑制しつつ、ケース501の底面505とプリント基板400(又は電子部品)との隙間を小さくし、また、カバー502の内面506(天井面)と電子部品との隙間を小さくできる。   Therefore, the bottom surface 505 of the case 501 is suppressed while suppressing the occurrence of interference between the cover 502 and the case 501 and the printed circuit board 400 and a plurality of electronic components such as the semiconductor chip 200 and the aluminum electrolytic capacitor 300 mounted on the printed circuit board 400. And the printed board 400 (or electronic component) can be reduced, and the gap between the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502 and the electronic component can be reduced.

これにより、制御ユニット100を薄型化でき、また、シリコングリス600を介する伝熱経路を短くして放熱効率を高め、更に、シリコングリス600の使用量を減らすことができる。   As a result, the control unit 100 can be thinned, the heat transfer path through the silicon grease 600 can be shortened to increase the heat dissipation efficiency, and the amount of the silicon grease 600 used can be reduced.

ところで、前記シリコングリス600等の柔軟性を有するゲル状の熱伝導材が、振動や重力などによって、半導体チップ200が配置される領域から移動してしまうと、放熱板204からカバー502に向けての熱伝達経路に、熱伝導率の低い空気が介在することになって、放熱性能が低下してしまう。   By the way, if the flexible gel-like heat conductive material such as the silicon grease 600 is moved from the region where the semiconductor chip 200 is disposed due to vibration, gravity, or the like, the heat dissipation plate 204 faces the cover 502. In this heat transfer path, air having a low thermal conductivity is interposed, so that the heat dissipation performance is deteriorated.

上記のようなシリコングリス600の流出を防止する手段を備えた第5実施形態を、図10に従って説明する。
図10に示す第5実施形態は、前記第1実施形態の制御ユニット100に対して、シリコングリスの流出防止手段として、カバー502の内面506(天井面)に、少なくともシリコングリス600の塗布領域を囲む壁を形成した点が異なる。
A fifth embodiment provided with means for preventing the silicon grease 600 from flowing out will be described with reference to FIG.
In the fifth embodiment shown in FIG. 10, at least an application region of the silicon grease 600 is provided on the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502 as a means for preventing the silicon grease from flowing out with respect to the control unit 100 of the first embodiment. The difference is that the surrounding wall is formed.

図10において、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの放熱板204が対向する領域の中央部位を挟む両側であって、シリコングリス600の塗布領域の境界付近に、カバー502の内面506(天井面)から突出形成される一対の壁510a,510bを形成してある。   In FIG. 10, the inner surface 506 of the cover 502 (on the both sides of the central portion of the region where the heat sinks 204 of the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g face each other and near the boundary of the application region of the silicon grease 600) A pair of walls 510a and 510b are formed so as to protrude from the ceiling surface.

尚、図示は省略したが、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bの放熱板204が対向する領域の中央部位を挟んで両側にも、同様に、カバー502の内面506(天井面)から突出形成される一対の壁を形成してあるものとする。   Although not shown in the figure, the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502 is similarly formed on both sides of the central portion of the region where the heat sinks 204 of the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b face each other. A pair of protruding walls are formed.

前記壁510a,510bは、半導体チップ200との間において、半導体チップ200との干渉を回避できる大きさの隙間が確保されるように、その高さH1が設定されている。   The heights H <b> 1 of the walls 510 a and 510 b are set so as to ensure a gap that is large enough to avoid interference with the semiconductor chip 200.

上記壁510a,510bを設けることで、振動や重力などによってシリコングリス600が半導体チップ200を乗り越えるようにして流出することが抑制され、所期の放熱性能を維持させることができる。   By providing the walls 510a and 510b, the silicon grease 600 is prevented from flowing out over the semiconductor chip 200 due to vibration, gravity, or the like, and the desired heat dissipation performance can be maintained.

図10に示した第5実施形態では、第1実施形態に対してシリコングリス600の流出防止の壁510a,510bを設けたが、図11に示す第6実施形態のように、半導体チップ200の放熱板204が対向する領域の略中央部位に向けて突出する突出部507を形成させる第2実施形態に対して、上記第5実施形態と同様な壁510a,510bを設けることができる。   In the fifth embodiment shown in FIG. 10, walls 510a and 510b for preventing the outflow of the silicon grease 600 are provided in the first embodiment. However, as in the sixth embodiment shown in FIG. Walls 510a and 510b similar to those in the fifth embodiment can be provided in the second embodiment in which the protruding portion 507 that protrudes toward the substantially central portion of the region where the heat radiating plate 204 faces is formed.

即ち、第6実施形態では、前記一対の壁510a,510bは、突出部507bの両側に、突出部507bと略平行に形成されることになる。
上記第6実施形態では、カバー502をケース501に取り付ける際に、突出部507b(507a)が、シリコングリス600を対向する両方の半導体チップ200に向けて押し分けるように機能するが、このときに半導体チップ200に向かうシリコングリス600の流動が、前記壁510a,510bで抑制される結果、半導体チップ200の対向領域(壁510a,510bで挟まれる領域内)でのシリコングリス600を圧力が高まり、前記対向領域にシリコングリス600が充填された後に、余分なシリコングリス600が突出部507の延設方向に沿って流動することになる。
That is, in the sixth embodiment, the pair of walls 510a and 510b are formed on both sides of the protruding portion 507b so as to be substantially parallel to the protruding portion 507b.
In the sixth embodiment, when the cover 502 is attached to the case 501, the protruding portion 507 b (507 a) functions to push the silicon grease 600 toward both the semiconductor chips 200 facing each other. As a result of the flow of the silicon grease 600 toward the semiconductor chip 200 being suppressed by the walls 510a and 510b, the pressure increases in the silicon grease 600 in the opposing region of the semiconductor chip 200 (in the region sandwiched between the walls 510a and 510b), After the opposing region is filled with the silicon grease 600, the excess silicon grease 600 flows along the extending direction of the protrusions 507.

従って、前記壁510a,510bは、組み立て後のシリコングリス600の流出を抑制する働きをすると共に、カバー502の組み付け時に、半導体チップ200の対向領域に対するシリコングリス600の充填性能を高める働きをする。   Therefore, the walls 510a and 510b function to suppress the outflow of the silicon grease 600 after assembly, and also function to increase the filling performance of the silicon grease 600 in the facing region of the semiconductor chip 200 when the cover 502 is assembled.

尚、第3実施形態或いは第4実施形態のように、突出部507がプリント基板400を貫通する構成においても、前記壁510a,510bを付加することができ、その場合の作用・効果は、前記第6実施形態と同様である。   Note that the walls 510a and 510b can be added even in the configuration in which the protruding portion 507 penetrates the printed circuit board 400 as in the third embodiment or the fourth embodiment. This is the same as in the sixth embodiment.

前記壁510a,510bは、放熱板204が対向する領域の中央部位を挟む両側に形成されるが、図12の第7実施形態に示すように、放熱板204が対向する領域の側方に、シルコングリス600の流出を抑制するための壁511を、シリコングリス600の塗布領域を囲むように形成させることができる
具体的には、第1半導体チップ200a及び第2半導体チップ200bの放熱板204が対向する領域を両側部に、一対の壁511a,511bを対向配置し、第6半導体チップ200f及び第7半導体チップ200gの放熱板204が対向する領域における、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eとは反対側の側方に壁511cを形成してある。
The walls 510a and 510b are formed on both sides sandwiching the central portion of the region where the heat sink 204 is opposed, but as shown in the seventh embodiment of FIG. The wall 511 for suppressing the outflow of the silicon grease 600 can be formed so as to surround the application region of the silicon grease 600. Specifically, the heat sinks 204 of the first semiconductor chip 200a and the second semiconductor chip 200b are opposed to each other. A pair of walls 511a and 511b are arranged to face each other on both sides, and the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e in a region where the heat sinks 204 of the sixth semiconductor chip 200f and the seventh semiconductor chip 200g face each other. A wall 511c is formed on the side opposite to the side.

更に、図12に示す例では、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eの並び方向の両端にも、第3半導体チップ200c〜第5半導体チップ200eの熱を伝達するシリコングリス600の流出を抑制するための一対の壁511d,511eを形成してある。   Further, in the example shown in FIG. 12, the silicon grease 600 that transfers heat from the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e also flows out to both ends in the arrangement direction of the third semiconductor chip 200c to the fifth semiconductor chip 200e. A pair of walls 511d and 511e for suppression are formed.

前記壁511a〜511eは、その先端とプリント基板400との干渉を回避できる最小隙間でプリント基板400に近接するように、カバー502の内面506(天井面)からの高さが設定されている。   The heights of the walls 511a to 511e from the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502 are set so that the walls 511a to 511e are close to the printed circuit board 400 with a minimum gap that can avoid interference between the front end and the printed circuit board 400.

前記壁511a〜511eを備える構成であれば、放熱板204が対向する領域から側方に向けたシリコングリス600の流出が抑制され、所期の放熱性能を維持させることができる。   If it is the structure provided with the said walls 511a-511e, the outflow of the silicon grease 600 toward the side from the area | region which the heat sink 204 opposes will be suppressed, and expected heat dissipation performance can be maintained.

尚、前記突出部507を備える構成に、前記前記壁511a〜511eを付加することができ、更に、シリコングリス600が半導体チップ200を乗り越えて流出することを抑制する壁510a,510bと、放熱板204が対向する領域から側方に向けてシリコングリス600が流出することを抑制する壁511a〜511eとを、組み合わせて設けるようにすることができる。   The walls 511a to 511e can be added to the configuration including the protruding portion 507, and the walls 510a and 510b for suppressing the silicon grease 600 from flowing out over the semiconductor chip 200, and the heat sink Walls 511a to 511e that suppress the outflow of silicon grease 600 from the region facing 204 to the side can be provided in combination.

また、カバー502の内面506(天井面)から突出形成される壁によって、シリコングリス600の塗布領域を全周にわたって囲むようにすることができる。
更に、カバー502の内面506(天井面)から突出形成される壁と、例えば、液状ガスケットをシールが要求される部分に塗布し、これを硬化させるガスケットシール(FIPG)とを併用することも可能である。
In addition, the application region of the silicon grease 600 can be surrounded over the entire circumference by a wall that protrudes from the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502.
Furthermore, it is also possible to use a wall that protrudes from the inner surface 506 (ceiling surface) of the cover 502 and, for example, a gasket seal (FIPG) that applies a liquid gasket to a portion requiring sealing and hardens it. It is.

また、各実施形態における半導体チップ200は、プリント基板400の外縁部近傍に配置することで、放熱板204から近い位置に筐体500が位置することで、熱伝導経路の距離が短くなり、放熱効果を高めることができる。   Further, the semiconductor chip 200 in each embodiment is disposed in the vicinity of the outer edge portion of the printed circuit board 400, so that the housing 500 is positioned in a position near the heat radiating plate 204, so that the distance of the heat conduction path is shortened and the heat dissipation. The effect can be enhanced.

100…制御ユニット、200…半導体チップ(電子部品)、204…放熱板(ヒートシンク)、400…プリント基板、403…貫通孔、500…筐体、501…ケース、502…カバー、504…フィン、507…突出部、510a,510b…壁、511a〜511e…壁、600…シリコングリス(熱伝導材)   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Control unit, 200 ... Semiconductor chip (electronic component), 204 ... Heat sink (heat sink), 400 ... Printed circuit board, 403 ... Through-hole, 500 ... Housing, 501 ... Case, 502 ... Cover, 504 ... Fin, 507 ... Projections, 510a, 510b ... walls, 511a to 511e ... walls, 600 ... silicone grease (heat conducting material)

Claims (3)

ヒートシンクを一体的に備えた複数の電子部品と、該複数の電子部品が実装されるプリント基板と、前記プリント基板を収容する筐体とを有する制御ユニットにおいて、
前記複数の電子部品を、それぞれのヒートシンクが相互に近接して対向するように前記プリント基板上に配置し、かつ、
前記複数の電子部品が実装される側の前記プリント基板と前記筐体との隙間であって、対向配置された前記ヒートシンクで挟まれる領域に、熱伝導材を充填したことを特徴とする制御ユニット。
In a control unit having a plurality of electronic components integrally provided with a heat sink, a printed circuit board on which the plurality of electronic components are mounted, and a housing for housing the printed circuit board,
Arranging the plurality of electronic components on the printed circuit board so that the respective heat sinks face each other in close proximity ; and
A control unit comprising a gap between the printed circuit board on the side where the plurality of electronic components are mounted and the housing, and a region sandwiched between the opposed heat sinks filled with a heat conductive material .
前記筐体の内面に、前記領域に向けて突出し、前記熱伝導材中に延びる突出部を設けたことを特徴とする請求項1記載の制御ユニット。 The control unit according to claim 1 , wherein a projecting portion that projects toward the region and extends into the heat conductive material is provided on an inner surface of the housing. 前記筐体の内面に、前記熱伝導材を充填する領域を囲む壁を設けたことを特徴とする請求項1又は2記載の制御ユニット。 The control unit according to claim 1, wherein a wall surrounding a region filled with the heat conductive material is provided on an inner surface of the housing.
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