JP5153259B2 - マイクロ流体試験装置および方法 - Google Patents
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Description
図11〜14は、本発明を実施するステップのフロー図である。図11〜14は、同様に、本発明の高レベル・ブロック図を表している。図11〜14のステップのいくつかは、クライアント・サーバ接続されたサーバに実装し、実行してもよく、または、上記で概要を説明したナビゲーションを作り出すためにユーザ・ワークステーションに提供した動作情報を有するユーザ・ワークステーション上で実行してもよい。さらに、本発明の態様は、ハードウェアだけの実施態様、ソフトウェアだけの実施態様、またはハードウェア要素とソフトウェア要素との両方を含む実施態様の形をとることもできる。
20 試験部位
25 大径ホール
30 小径ホール
35 通気ホール
40 トンネル
45 バイア
50、50’、50” パッド
52 下部表面
56、58、60、62、64、66 バイア
68 第1の電極
70 第2の電極
80 測定装置測定
84 デバイス
90 表示装置
95 換算デバイス
82a、82b 導電性プローブ
100、200 システム
102、202 コレクタ
105、205 キャリア
110、210 試験スタンド
120 保持構造体
125 受け入れ部分
130 ロート
140 ペグ
145、245 ハウジング
150、250 ムーバ
155、255 エクスペラ
160、260 グリッパ
165 グリッパ・ボディ
170 シール部分
180 膜
185 電気的接触部分
190 選択デバイス
300 ヒンジ付きドア
320 表示装置
325 入力デバイス
L1、L2、L3、L4、L5、L6 チップの層
A1:B1、B2:B1、A2:A1 回路要素
Claims (19)
- 流体の特性を測定するために使用されるチップであって、
チップ中に配置された少なくとも一つのマイクロ流体回路であって、トンネルと、前記トンネルの第1端にある小径ホールと、前記小径ホール上に重なる大径ホールと、前記トンネルの第2端にある通気ホールとを備えている前記マイクロ流体回路と、
前記チップ中に形成され、且つ、前記少なくとも一つのマイクロ流体回路と連通して配置された少なくとも一つの電気回路であって、前記少なくとも一つのマイクロ流体回路内に含まれる流体の特性を測定するための前記電気回路と
を備えており、
前記電気回路は、前記トンネルに沿って下流の第1の位置で当該トンネル中に配置された第1の電極と、前記トンネルに沿って下流の第2の位置で当該トンネル中に配置された第2の電極を備えており、
前記電気回路は、
前記第1の位置のいずれかの側でそれぞれ形成され、且つ前記第1の電極に電気的に接続された第1及び第2のバイアと、
前記第2の位置のいずれかの側でそれぞれ形成され、且つ前記第2の電極に電気的に接続された第3及び第4のバイアと、
前記小径ホールの周縁部内に配置された第5及び第6のバイアと
をさらに備えており、
前記第3のバイアは、前記第5のバイアと前記第2の電極との間の電気特性を測定するために、前記第5のバイアに電気的に接続され、
前記第2のバイアは、前記第6のバイアと前記第1の電極との間の電気特性を測定するために、前記第6のバイアに電気的に接続される、
前記チップ。 - 前記第2の位置が、前記第1の位置と前記通気ホールとの間にある、請求項1に記載のチップ。
- 前記チップは、層状構造体を備えている、請求項1又は2に記載のチップ。
- 前記層状構造体の複数の層は、シリカ、アルミナおよびマグネシアを含む混合物を含む、請求項3に記載のチップ。
- 前記少なくとも一つのマイクロ流体回路は、前記層状構造体の少なくとも二つの層中に形成される、請求項3又は4に記載のチップ。
- 前記大径ホール及び前記通気ホールが前記層状構造体中の第1の層中にあり、
前記小径ホールが前記層状構造体中の第2の層中にある、
請求項3〜5のいずれか一項に記載のチップ。 - 前記電気回路は、前記層状構造体の第3の層中に配置された導電性材料を含む、請求項6に記載のチップ。
- 前記電気回路は、
前記第1のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第1の導電性パッドと、
前記第2のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第2の導電性パッドと、
前記第3のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第3の導電性パッドと、
前記第4のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第4の導電性パッドと、
前記第5のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第5の導電性パッドと、
前記第6のバイアに接触し、前記層状構造体の最下層中まで延在している第6の導電性パッドと、
をさらに備えている、請求項6に記載のチップ。 - 前記測定された特性の値がモル浸透圧濃度値である、請求項1〜7のいずれか一項に記載のチップ。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載のチップを備えている装置であって、
前記電気回路の第1の部分と接触する第1のプローブと、
前記電気回路の第2の部分と接触する第2のプローブと、
前記第1のプローブと前記第2のプローブとに接続され、流体の特性を測定するように構築され且つ配置されたデバイスと、
前記デバイスに接続された表示装置と
をさらに備えている、前記装置。 - 請求項8に記載のチップを備えている装置であって、
前記第1の導電性パッドと接触する第1のプローブと、
前記第2の導電性パッドと接触する第2のプローブと、
前記第3の導電性パッドと接触する第3のプローブと、
前記第4の導電性パッドと接触する第4のプローブと、
前記第5の導電性パッドと接触する第5のプローブと、
前記第6の導電性パッドと接触する第6のプローブと、
前記第1のプローブ乃至前記第6のプローブに接続され、流体の特性を測定するように構築され且つ配置されたデバイスと、
前記デバイスに接続された表示装置と
をさらに備えている、前記装置。 - 前記測定された特性の値を受け取り、且つ前記流体のモル浸透圧濃度値を生成する換算デバイスをさらに備えており、
前記表示装置は、前記モル浸透圧濃度値を表示する、請求項10又は11に記載の装置。 - 流体の特性を測定するためのシステムであって、
スルー・ホールを含む保持部と、
把持部と、
移動部と、
射出部と、
請求項10又は11に記載の装置と
を備えており、
前記スルー・ホールは、試験部位と位置合わせするように構築され且つ配置され、
前記把持部は、収集部をつかむように構築され且つ配置され、
前記移動部は、前記収集部を前記スルー・ホールと位置合わせするように構築され且つ配置された、前記システム。 - 前記保持部は、前記試験部位を含む請求項1〜9のいずれか一項に記載のチップを受け入れるように配置された受け入れ部分をさらに含む、請求項13に記載のシステム。
- 前記移動部は、前記収集部を前記スルー・ホールと自動的に位置合わせするように配置された少なくとも一つのアクチュエータと少なくとも一つのコントローラとを含む、請求項13又は14に記載のシステム。
- 前記射出部は、前記収集部中の流体試料の背後の空気圧を増すことによって前記収集部から前記流体試料を放出するデバイスを含む、請求項13〜15のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記試験部位内に置かれた流体の特性の複数の測定値を採取し、
前記複数の測定値の信頼因子を計算し、
前記信頼因子をしきい値と比較する
ように構築され且つ配置されたデバイスをさらに備えている、請求項13〜16のいずれか一項に記載のシステム - 流体の特性を測定するための方法であって、
流体試料を有する収集部を把持部中に受け入れるステップと、
前記収集部を試験部位と整列するように移動するステップであって、前記新部位は、請求項1〜9のいずれか一項に記載のチップに備えられている、前記移動するステップと、
前記流体試料を前記収集部から前記試験部位中に放出するステップと、
前記試験部位内の前記流体試料の特性を測定するステップと、
前記測定された特性値を表示するステップと
を含む、前記方法。 - 前記移動するステップは、前記把持部を動かすアクチュエータを作動させることを含み、
前記放出するステップは、前記収集部内に置かれた前記流体試料の背後の空気圧を増すことを含み、
前記測定するステップは、
複数の前記特性値を測定するステップと、
前記複数の特性値の信頼因子を計算するステップと、
前記信頼因子をしきい値と比較するステップと
を含む、請求項18に記載の方法。
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