JP5136935B2 - 発光装置の検査方法及び検査装置 - Google Patents
発光装置の検査方法及び検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5136935B2 JP5136935B2 JP2008148078A JP2008148078A JP5136935B2 JP 5136935 B2 JP5136935 B2 JP 5136935B2 JP 2008148078 A JP2008148078 A JP 2008148078A JP 2008148078 A JP2008148078 A JP 2008148078A JP 5136935 B2 JP5136935 B2 JP 5136935B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- emitting device
- film
- inspection
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Led Devices (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
なお、本願明細書及び各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
図1に表したように、本発明の第1の実施形態に係る発光装置の検査装置10は、発光部51と、発光部51の上に設けられたレンズなどの透光体52と、を有する発光装置50の検査装置であって、被検査体となる発光装置50の光学像を得る光学像形成部60と、発光装置50と光学像形成部60との間に設けられ、透光性を有する透光板33と、発光装置50と透光板33との間に設けられ、延伸性及び透光性とを有するフィルム31と、透光板33とフィルム31との間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂32と、を備える。以下、透光体52の一例としてレンズを用いた場合について説明する。フィルム31は、透光板33よりも剛性が低い。
透光板33には、例えば厚さ1.2mmのスライドガラス板を用いることができる。そして、フィルム31には、例えば厚さが0.01mm程度の添加物が含まれていないポリエチレンフィルムを用いることができる。ゲル状樹脂32には、例えば、厚さ約5mmのポリエチレン樹脂ゲルを用いることができる。
このため、レンズ52とフィルム31との間の界面、及び、フィルム31とゲル状樹脂32との間の面では、屈折現象が低減される。従って、レンズ52とフィルム31との界面、及び、フィルム31とゲル状樹脂32との間の界面において、レンズ52の内部、及び、レンズの下の発光部51の像のずれが可及的に低減される。
比較例の発光装置の検査装置は、図1に例示した検査装置10において、フィルム31、ゲル状樹脂32、透光板33を設けないものである。すなわち、比較例の検査装置においては、発光装置50を光学像形成部60で直接観察して検査を行う。この場合は、図1(c)に例示した、発光装置50のレンズ52での表面付近の傷や汚れ、泡等の検査を行うことができる。しかしながら、レンズ52の屈折のために、レンズ52の内部の気泡、傷、クラックや、レンズ52の下の発光部51のチップや銀ペーストの位置や状態については検査することができない。すなわち、図1(b)に例示した発光部51のチップ58や銀ペースト59の位置や状態を観察できない。
図2に表したように、本発明の第2の実施形態に係る発光装置の検査装置11においては、フィルム31を供給する供給ロール部71と、フィルム31を巻き取る巻き取りロール部72とをさらに備えている。
すなわち、検査装置11は、発光装置50と光学像形成部60とを結ぶ線に対して非平行な平面内における、前記線に対するフィルム31の相対位置を移動可能とする移送部(供給ロール部71及び巻き取りロール部72)をさらに備えている。
本発明の第3の実施形態に係る発光装置の検査方法は、発光部51と、発光部51の上に設けられたレンズ52と、を有する発光装置50の検査方法である。
そして、図3に表したように、本実施形態に係る検査方法では、まず、発光装置50のレンズ52に、透光性を有する透光板33と、発光装置50と透光板33との間に設けられ、延伸性と透光性を有するフィルム31と、透光板33とフィルム31との間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂32と、を、発光装置50のレンズ52に押し当てる(ステップS1)。
この時、フィルム31の剛性は、透光板33よりも低く設定される。
なお、透光板33、ゲル状樹脂32及びフィルム31には、既に説明した材料及び構成を用いることができる。
なお、この際、発光装置50は、透光板33の主面に対して垂直な方向から観察される。
本実施形態に係る発光装置の検査方法によって、発光装置50のレンズ52の内部やレンズ52の下の発光部51の画像検査を可能とする発光装置の検査方法が提供できる。
これには、例えば、第2の実施形態で説明した、フィルムの移送部を設けることが便利である。移送部としては、既に説明した供給ロール部71及び巻き取りロール部72を用いることができる。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
その他、本発明の実施の形態として上述した発光装置の検査方法及び検査装置を基にして、当業者が適宜設計変更して実施し得る全ての発光装置の検査方法及び検査装置も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の範囲に属する。
Claims (6)
- 発光部と、前記発光部の上に設けられた透光体と、を有する発光装置の検査装置であって、
前記発光装置の光学像を得る光学像形成部と、
前記発光装置と前記光学像形成部との間に設けられ、透光性を有する透光板と、
前記発光装置と前記透光板との間に設けられ、延伸性と透光性とを有するフィルムと、
前記透光板と前記フィルムとの間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂と、
を備え、
前記フィルムは、検査ごとに前記ゲル状樹脂の位置に対して移動可能であることを特徴とする発光装置の検査装置。 - 前記透光体を前記フィルムに押し当てて実施する前記発光素子の検査において、前記フィルムの同じ場所に前記透光体を当接させる回数は1回であることを特徴とする請求項1記載の発光装置の検査装置。
- 前記フィルム及び前記ゲル状樹脂の屈折率と、前記透光体の屈折率と、の差は、前記透光体の屈折率と空気の屈折率との差よりも小さいことを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置の検査装置。
- 前記発光装置と前記光学像形成部とを結ぶ線に対して非平行な平面内における、前記線に対する前記フィルムの相対位置を移動可能とする移送部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光装置の検査装置。
- 発光部と、前記発光部の上に設けられた透光体と、を有する発光装置の検査方法であって、
透光性を有する透光板と、
前記発光装置と前記透光板との間に設けられ、延伸性と透光性とを有するフィルムと、
前記透光板と前記フィルムとの間に設けられ、透光性を有するゲル状樹脂と、
を、前記フィルムの前記透光体に当接する場所を検査ごとに変えて、前記透光体に押し当て、
前記フィルム、前記ゲル状樹脂及び前記透光板を通した前記発光装置の光学像を検査することを特徴とする発光装置の検査方法。 - 前記フィルムの同じ場所に前記透光体を当接させる回数は1回であることを特徴とする請求項5記載の発光装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008148078A JP5136935B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 発光装置の検査方法及び検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008148078A JP5136935B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 発光装置の検査方法及び検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009295796A JP2009295796A (ja) | 2009-12-17 |
JP5136935B2 true JP5136935B2 (ja) | 2013-02-06 |
Family
ID=41543721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008148078A Expired - Fee Related JP5136935B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 発光装置の検査方法及び検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5136935B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5563388B2 (ja) | 2010-06-30 | 2014-07-30 | 第一実業ビスウィル株式会社 | チップled検査装置 |
CN103900791A (zh) * | 2012-12-24 | 2014-07-02 | 新世纪光电股份有限公司 | Led检测装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2776541B2 (ja) * | 1989-03-17 | 1998-07-16 | 東洋メディカル株式会社 | 超音波探触子用接触端子 |
JP4660359B2 (ja) * | 2005-11-18 | 2011-03-30 | 株式会社ユニテック | 検査機構および被検査物搬送検査装置ならびに検査方法 |
-
2008
- 2008-06-05 JP JP2008148078A patent/JP5136935B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009295796A (ja) | 2009-12-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6818702B2 (ja) | 光学検査装置及び光学検査方法 | |
TWI427286B (zh) | 用於檢測玻璃板之裝置及方法 | |
CN105760808B (zh) | 成像板、图像采集器及终端 | |
US7675027B2 (en) | Motion-detecting module | |
US8396281B2 (en) | Apparatus and method for inspecting substrate internal defects | |
CN107209588B (zh) | 非接触输入装置和方法 | |
US20200381470A1 (en) | Image capture device | |
JP6487617B2 (ja) | マイクロレンズアレイの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | |
JP5136935B2 (ja) | 発光装置の検査方法及び検査装置 | |
JP2010261839A (ja) | 光照射装置 | |
US7314767B2 (en) | Method for local wafer thinning and reinforcement | |
JP2009236533A (ja) | キャリブレーションプレート | |
JP6784015B2 (ja) | 撮像モジュール、撮像装置 | |
CN110461204A (zh) | 测量辅助装置、内窥镜系统及处理器 | |
TW201413224A (zh) | 檢測裝置 | |
JP2011081666A (ja) | 凹凸パターン検出装置 | |
CN105340093B (zh) | 光电子半导体组件 | |
KR20150108030A (ko) | 이중 탄성구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치 및 그 방법 | |
TW200925588A (en) | Defect inspecting device and its method thereof | |
TWI507747B (zh) | 前導光模組以及具有前導光模組的電泳顯示裝置 | |
KR101479970B1 (ko) | 터치스크린 패널의 ito 패턴 검사용 현미경 및 이를 이용한 터치 스크린 패널의 ito 패턴 검사 방법 | |
KR101542818B1 (ko) | 이중 탄성 입력구조를 구비한 패턴 이미지 획득장치 및 그 방법 | |
CN108388868A (zh) | 一种近距离感应物体影像的装置 | |
JP5556733B2 (ja) | 光照射装置 | |
TWI343484B (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110531 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120801 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120810 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121005 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121018 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121102 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |