JP5133854B2 - 電源装置および試験装置 - Google Patents
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- 対象デバイスに電力を供給し、前記対象デバイスに流れる電源電流を測定する機能を有する電源装置であって、
設定値に応じた電圧を出力する電力供給部と、
前記電力供給部から前記対象デバイスに流れる前記電源電流を測定する測定部と、
前記電源電流を測定する場合に、前記電力供給部と同期して所定の電圧を出力する同期電源部と、
前記電力供給部から前記対象デバイスに電力を伝送する伝送路と、
前記伝送路と基準電位の間に設けられるバイパスコンデンサと、
前記同期電源部と前記伝送路の間に設けられる補償コンデンサと
を備える電源装置。 - 前記補償コンデンサに流れる誘電体吸収電流が、前記バイパスコンデンサに流れる誘電体吸収電流と略等しい
請求項1に記載の電源装置。 - 前記補償コンデンサは、前記バイパスコンデンサの容量に応じた容量を有する
請求項2に記載の電源装置。 - 前記同期電源部は、前記電力供給部の出力電圧の略2倍の電圧を出力し、
前記補償コンデンサは、前記バイパスコンデンサと略同一の特性を有する
請求項2に記載の電源装置。 - 前記同期電源部は、前記電力供給部が前記出力電圧を出力するのと略同時に、電圧を出力する
請求項4に記載の電源装置。 - 前記電源装置は、複数の前記対象デバイスに対応して、複数の前記電力供給部、複数の前記伝送路、複数の前記バイパスコンデンサ、複数の前記測定部、および、複数の前記補償コンデンサを備え、
前記同期電源部は、複数の前記補償コンデンサに対して並列に電圧を印加する
請求項5に記載の電源装置。 - 前記電源電流を測定しない場合に、前記補償コンデンサを前記伝送路から切り離すリレーを更に備える
請求項5に記載の電源装置。 - 前記補償コンデンサは、前記バイパスコンデンサと同一の基板に形成される
請求項4に記載の電源装置。 - 前記補償コンデンサは、容量が可変のコンデンサである
請求項6に記載の電源装置。 - 対象デバイスを試験する試験装置であって、
前記対象デバイスに電力を供給する電源装置と、
前記電源装置が前記対象デバイスに供給する電源電流に基づいて、前記対象デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記電源装置は、
設定値に応じた電圧を出力する電力供給部と、
前記電力供給部から前記対象デバイスに電力を伝送する伝送路と、
前記電力供給部から前記対象デバイスに流れる前記電源電流を測定する測定部と、
前記電源電流を測定する場合に、前記電力供給部と同期して所定の電圧を出力する同期電源部と、
前記伝送路と基準電位の間に設けられるバイパスコンデンサと、
前記同期電源部と前記伝送路の間に設けられる補償コンデンサと
を有する試験装置。 - 前記試験装置は、前記対象デバイスの機能試験を行う機能試験部を更に備える
請求項10に記載の試験装置。 - 前記電源装置は、前記機能試験を行う場合、前記補償コンデンサを前記伝送路から切り離すリレーを有する
請求項11に記載の試験装置。
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