JP5132775B2 - 回転パーツの位置及び変化を見出す方法及び装置 - Google Patents
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Description
図1aは、フライス盤、ボール盤、旋盤、型彫りEDM、ワイヤEDM、CMM、又は類似物などの機械を表すことができる機械を例示によって示す概略図面である。これらの機械は、ある範囲の異なる機械的構成を備えることができるが、全て本発明による装置を備えることができる。これらの機械の鍵となるいくつかの要素を、(直行する2つの並進x、y及び同じ軸周りの回転のような移動を行う)ワーク・ピース・キャリア28、(この実例ではx及びz方向2つの並進を行う)ワーク・ツール・キャリア10、ワーク・ツール・チャック12、位置エンコーダ14A、14B、14C、並びにサポート構造として示す。このサポート構造は、この実例では、ベース・サポート16、機械サポート・リンク18、及びワーク・ツール・サポート20を含むように示される。この機械の構成及び実例の目的は、光学式検出器24の位置に対するワーク・ツール22のカッタ縁部の位置を見出すことである。光学式検出器24は、光学アセンブリ26を介してベース・サポート16に固定される。この実例では、ワーク・ツール22は、ワーク・ツール・チャック12に固定され、ワーク・ツール22は、回転周に沿って均等に分配された4つのカッタを有する切削ツールである。ワーク・ツール・キャリア10、ワーク・ツール・サポート20、及びワーク・ピース・キャリア28によって、光学アセンブリ26及びベース・サポート16に対して切削ツール22を移動させると、位置及び幾何形状の測定を行うのに必要な変位が実行される。プロセス中に、これらのキャリアの位置は、位置エンコーダ14A、14B、及び14Cの配置で読み取られる。図示を簡単にするために、光学アセンブリ26はz軸の周りを90度回転していることに留意されたい。
この実例は、実例1と同様であるが、切削ツール22の直径がより大きく、低速で、例えば7200rpm(1分当たりの回転数)で回転している。照明器のパルスは光学式検出器の画像タイミングと同期76される。縁部34は、本実例では、油、水、機械加工切粉などの残渣によって汚染されているかもしれない。切削ツール22は、ID(識別番号)を有するツールである。こうした識別したツールのために特別に作られた基準パターン画像モデル52が適用される。実例1は、こうしたモデルを作製できる手法を示す。
この実例は、実例1及び2と同様であるが、光学式検出器24のタイミングが照明器42によって同期76され、切削ツール22は、7つのカッタ32を有する使用ツールである。すなわち、油、水、機械加工の切粉などの残渣によってカッタ縁部が汚染されている可能性に加えて、カッタ縁部の幾何形状は、ビルドアップ64及び磨耗66によって歪んでいる可能性がある。本実例はまた、前のステージの同じツールの幾何形状から適合された基準パターン画像モデル52がこの使用ツールの特徴の描写を助ける手法も示す。
図2a〜図2cは、フライス盤、ボール盤、旋盤、型彫りEDM、ワイヤEDM、CMM、又は単純に固定した位置合わせ/較正ジグなどの機械を表すことができる機械を、一例として示す概略図面である。この機械の構成及び実例の目的は、光学式検出器24の位置及び光路56Bの位置(方向軸)を機械の位置に対して位置合わせし、且つ/又は初期化/較正するのを助けることである。この実例では、ワーク・ツール22は較正ピンである。本実例は、設置、再較正、又は修理時に、機械の位置に対する光学アセンブリ26のy及びz位置での制御法、x及びy軸の周りでの傾斜法を示す。これは、長さが予め較正された較正ピン22を用いて行われる。この実例は、形状がより複雑な回転しているワーク・ツールの位置及び幾何形状の制御できる手法も示す。図2b〜図2cに示すように、ピンの先端部は、z軸周りの傾斜の較正を含むのを助けるために非対称にされている。このピンは、ある範囲の様々な形状を有することもできるが、本実例では、光学的視野の深さに近いある距離だけ離れた基本的に2つのブレード22’及び22’’から構成される。これを図2b〜図2cの2つの突起物の図で示す。ブレードの縁部は、平行であり、基本的にピンのステム22’’’に対して同じ長さを有する。それらの長さは、高い精度まで測定される(予め較正される)。較正ピン22は、ツール・チャック12に取り付けられ、チャック及びピンのベース上のなんらかの機械的位置決め点の使用によって、又はフランジ間の機械的接触によって、z方向にそれ自体を配置するようになされている。ピンは、所与の速度3610rpmで回転するようになされている。較正が較正装置、EDM、又はCMM機械で行われる場合は、回転速度はずっと遅く、例えば60rpmの範囲であることがある。
この実例は、残渣で汚染されている可能性があるEDMダイ22の位置及び磨耗の制御法を説明する。カッタ・ツール及びタッチ・プローブ先端部と比較して、EDMダイは、ラジアル位置が画定されていない複雑な形状を有する。図3b〜図3cの図は、2つの所与の回転角度の単純なダイ22の影の画像を示す。図示のために、多くの中から2つの回転位置を選択しており、それらの回転位置は、1回転のスキャンのダイ22制御の一部である2つの基準パターン34A及び34Bと、もう1回転のスキャンのダイ制御の一部である他の2つの基準パターン34E及び34Fとを示す。実線は磨耗したダイ22を示し、破線は基準パターン・モデル36の幾何形状を示す。基準パターン・モデル36は、CAD図面又は磨耗していない同じダイの以前の記録から来ることがある。ダイは、例えば70rpmの速度で回転する。
この実例を図4a〜図4cに示す。目的は、機械から取り出した後、及び元に戻した後で、ダイの位置を制御することである。記録の点から、この実例は、他の場合には実例5と同様であるが、ここでは、実例5の影の構成ではなく、EDMダイ22が反射の幾何形状で照明及び観察される。基準パターン34A〜Dは、ダイ自体の表面構造である。基準パターン画像モデル52は、実際に、ダイ22が取り出される前の表面構造34A〜Dの画像である。次いで、基準パターン画像58は、ダイが戻された後で記録される。例えば52のシフトなど、基準パターン画像モデルのシフトを見出す技術は、特許文献1に記載されている。モデルの副次的要素が独立に移動可能である実例5と比較すると、ダイの位置の新しい自由度6を見出すために、この場合は、基準パターン・モデル36を全体として3Dで並進及び回転させる。
実例1〜6は、基本的に1つの照明器42及び1つの光学式検出器24が使用される、本発明による構成を説明する。完全な3D制御を獲得するためには、画像のy−z位置のみを記録する必要があるだけではない。これを図5に示し、図5では2つの照明器42−光学式検出器24の組合せ構成が、照明器42A−光学式検出器24A及び照明器42B−光学式検出器24Bとして示される。照明器−検出器の組合せは、図示のように1つの光学アセンブリ26中に配置する必要はない。空間要件に応じて、それらを別々に置くことができる。図5bに、添付の座標軸によって示すように、図5aの光学的構成を図の異なる方向から示す。54A及び54Bは、検出器24A及び24Bそれぞれとパーツ位置測定器44との間のリンクを指す。58A及び58Bは、パーツ位置測定器44と検出器24A及び24Bそれぞれとの間のリンクを指す。
品質管理を行うために、タッチ・プローブが機械の内側で適切に使用される。特許文献1の発明を本発明と組み合わせることによって、品質管理ツールの位置を回転している機械加工ツールの位置に関連付けることができる。位置制御中に、タッチ・プローブ22は、ツール・チャック12によって静止した姿勢で保持される。図6に、図1の切削ツール22をタッチ・プローブ22と交換した実例を示す。タッチ・プローブ22は、内部プロセスが特定の接触状態の獲得を起動し、次いで機械の移動が止まるまで、ワーク・ピース30の表面を特定の力で触ることによって、ワーク・ピース30上の位置を見出す。タッチ・プローブの先端部は、球体の硬質材料、例えばルビーである。起動時に、位置エンコーダ14B及び14Cの位置が読み取られる。それらの位置は、タッチ・プローブ先端部34の位置を表す。タッチ・プローブ34先端部のロードしていない位置は、起動時の位置とは異なる。図7は、前記特許文献1に記載されておりタッチ・プローブのロードしていない位置を見出すために使用可能であるような構成の修正形態を示す。
Claims (21)
- 機械に取り付けられる少なくとも1つの回転パーツの位置関係及び幾何形状変化を、前記パーツが回転モードのときに見出して、前記回転パーツ上の汚染物質を呈する位置を判定し、続いて、前記回転パーツ上に存在するこうした汚染物質の影響を取り除くか又は補償するように構成された装置であって、前記パーツの前記変化が、生産及び使用の状態によって引き起こされ、
装置が、
前記回転パーツ(22)が位置すべき検出ゾーン(78)と、
前記検出ゾーン(78)に面した少なくとも1対の光学式検出器(24)及び照明器(42)と、
前記光学式検出器(24)に動作可能に接続された第1のタイマ(38)と、
前記照明器(42)に動作可能に接続された第2のタイマ(40)と、
前記照明器(42)の光変調の特徴を定義し制御(54)を発行する手段を有するパーツ位置測定器(44)とを備え、
前記照明器(42)が、前記制御(54)を解釈し、その解釈から前記回転パーツ(22)の調整した照明を生成するように構成され、
前記パーツ位置測定器(44)が、対応する回転参照パーツに関連する少なくとも1つの予め作製された基準パターン・モデル(36)又は基準パターン画像モデル(52)を作り出し、受け取り、格納し、それによりこうした回転参照パーツの少なくとも1つの基準パターン・モデルを確立する手段を有し、
装置がさらに、
前記少なくとも1対の照明器(42)及び光学式検出器(24)が取り付けられた共通のサポート(16)機械パーツを備え、
前記光学式検出器(24)が、前記照明された回転パーツの少なくとも1つの基準パターン(34)の1組の画像(58)を作り出すように構成され、
前記パーツ位置測定器(44)が、
基準パターン画像モデル(52)から基準パターン・モデル(36)を、前記2つのモデル間の位置をマップすることによって作り出し、逆も同様であることが可能であるように、前記検出ゾーン(78)と前記検出器(24)との間の光学式イメージングの特徴を数学的に描写し、
前記光学式検出器(24)から、前記照明された回転パーツ(22)の少なくとも1つの基準パターン(34)の前記の組の画像(58)を受け取り、
前記の組の画像(58)に関連した基準パターン画像モデル(52)を作り出し、
前記回転パーツ(22)、前記機械パーツ、前記照明器(42)及び前記検出器(24)の幾何形状の位置相互関係(70)を適用し、
前記回転パーツ(22)、前記機械パーツ、前記照明器(42)並びに前記検出器(24)に関係する変化制約(68)を定義及び適用し、
前記回転パーツ(22)の回転の状態を定義する要求(50)、及び前記基準パターン・モデル(36)又は基準パターン画像モデル(52)のいずれかについての適用すべき情報を受け取り解釈するように構成され、
前記パーツ位置測定器(44)がさらに、
前記基準パターン画像(58)に関連する前記汚染物質(62)の影響を取り除いて、汚染物質(62)によって影響を受けにくい基準パターン画像の表現を作り出し、
前記回転パーツ(22)の変化制約(68)、前記幾何形状の位置相互関係(70)のうち少なくとも1つに従って修正することによって、前記回転パーツの前記基準パターン画像の表現と前記基準パターン画像モデル(52)との間の差及び変位を判定し、
前記基準パターン画像モデル(52)に対する前記基準パターン画像の差及び変位を生み出す機械パーツの変化(72)を判定し、
機械又は機械のオペレータに前記機械パーツ変化(72)を考慮に入れさせ、
前記パーツ位置測定器(44)が、基準パターン画像モデル(52)から特定の閾値距離の外側にある基準パターン画像データを取り除くことによって前記汚染物質の影響を取り除くように構成されることを特徴とする装置。 - 前記タイマ(38、40)が、同期(76)動作のために互いに接続されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、機械位置(60)を前記パーツ幾何形状関係(70)に追加するために入力を有することを特徴とする請求項1に記載の装置。
- ある範囲の基準パターン(34)が、前記回転パーツの表面全体にわたって規則的に又は不規則に分配されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、キーボード、キーパッド・ユニット、機械コンピュータ数値制御ユニット、プロセッサ及びコンピュータのうち1つから前記要求(50)を受け取るための入力を有することを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、キーボード、キーパッド・ユニット、コンピュータ数値制御ユニット、プロセッサ及びコンピュータのうち1つから前記機械位置(60)を受け取るための入力を有することを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、モニタ、コンピュータ数値制御ユニット、プロセッサ及びコンピュータのうち1つに前記パーツ変化(72)を出力するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記基準パターン・モデル(36、52)が、順序付き離散的位置データ、数学的パラメトリック曲線、数学的パラメトリック曲面、画像、2D CAD図面、3D CAD図面、及びアルゴリズムのうち1つによって表されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、基準パターン画像(58)又は数学的なパラメータの記述から基準パターン画像モデル(52)を作り出すように構成されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、前記基準パターン画像モデル(52)の外側に突出する細部の基準パターン画像の距離及び面積を計算することによって、前記パーツ変化(72)のビルドアップ(64)部分の特徴を描写するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、前記基準パターン画像モデル(52)の内側に延びる細部の基準パターン画像(58)の距離及び面積を計算することによって、前記パーツ変化(72)の磨耗(66)部分の特徴を描写するように構成されることを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 前記パーツ位置測定器(44)が、汚染物質の影響を取り除くことにより、決定した機械パーツ変化(72)を補償するために必要な変化を、選択した機械パーツにもたらすように更に構成されたことを特徴とする請求項1に記載の装置。
- 機械に取り付けられるか又は前記機械の一部を成す少なくとも1つの回転パーツの位置関係及び幾何形状変化を、前記パーツが回転モードのときに見出し、前記回転パーツ上の不具合又は汚染物質を呈する位置を判定し、続いて、前記回転パーツ上に存在するこうした汚染物質の影響を取り除く方法であって、前記パーツの前記変化が、生産及び使用の状態によって引き起こされ、
方法が、
a)回転参照パーツの予め作製された組の基準パターン・モデル又は基準パターン画像モデルを、パーツ位置測定器中に作り出し格納して、前記回転参照パーツの基準パターン・モデルを内部に確立するステップと、
b)共通のサポート機械パーツに取り付けられた少なくとも1対の照明器及び光学式検出器を有する検出領域に、前記回転パーツを配置するステップと、
c)前記照明器が時間制御ライトで前記回転パーツを照明するステップと、
d)前記光学式検出器に、前記照明された回転パーツの1組の基準パターン画像を作らせるステップであって、前記光学式検出器が時間制御して前記画像を出力する、ステップと、
e)前記回転パーツの前記の組の画像を前記パーツ位置測定器に格納するステップと、
f)前記パーツ位置測定器によって、前記の組の画像に関連する基準パターン・モデル及び基準パターン画像モデルを提供するステップと、
g)前記パーツ位置測定器によって、前記回転パーツ、及び前記機械パーツ、前記照明器並びに前記検出器の、幾何形状及び位置相互関係を適用するステップと、
h)前記パーツ位置測定器によって、前記回転パーツ、及び前記機械パーツ、前記照明器並びに前記検出器に関連する、変化制約を定義し適用するステップと、
i)前記パーツ位置測定器に、前記回転パーツの回転の状態、及び前記回転パーツに関連する前記基準パターン・モデル又は画像モデルについての情報を定義する要求を入力するステップと、
j)前記パーツ位置測定器によって、前記回転パーツ上の関連する汚染物質を取り除くことを含む、前記回転パーツの前記基準パターン画像モデルと基準パターン画像との間の幾何形状の変位及び差を判定するステップと、
k)前記基準パターン画像の差及び変位を生み出すことができる少なくとも1つの機械パーツ変化を判定するために、前記変化制約による前記パーツ位置測定器によって、前記幾何形状及び位置相互関係のうち少なくとも一方を修正するステップと、を含み、
汚染物質の影響が、基準パターン画像モデルから特定の閾値距離の外側にある基準パターン画像のデータを取り除くことによって取り除かれることを特徴とする方法。 - 前記照明器及び前記光学式検出器のタイマの動作が同期されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 機械位置が、前記パーツ幾何形状関係に前記パーツ位置測定器によって追加されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記基準パターン・モデル(36、52)が、順序付き離散的位置データ、数学的パラメトリック曲線、数学的パラメトリック曲面、画像、2D CAD図面、3D CAD図面、及びアルゴリズムのうち1つによって表されることを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記パーツ変化のビルドアップ部分が、前記基準パターン画像モデルの外側に突出する細部の基準パターン画像の距離及び面積を計算することを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記パーツ変化の磨耗部分が、前記基準パターン画像モデルの内側に延びる細部の基準パターン画像の距離及び面積を計算することを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 前記基準パターンの輪郭を見出すためにアルゴリズムが用いられ、この輪郭から基準パターン画像モデル(52)及びその初期位置を計算し、この初期基準パターン画像モデル(52)と前記基準パターン画像(58)との間の差及び変位を判定することを特徴とする請求項13に記載の方法。
- 初期の基準パターン・モデル(36)が、前記初期の基準パターン画像モデル(52)から、前記初期の基準パターン画像モデル(52)に対する前記基準パターン画像(58)の差及び変位を生み出す前記パーツ変化(72)を判定するための基盤として作り出されることを特徴とする請求項19に記載の方法。
- 汚染物質の影響を取り除くことにより、判定した機械パーツ変化(72)を補償するために、選択した機械パーツに必要な変化を有効にする段階を更に含むことを特徴とする請求項13に記載の方法。
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Families Citing this family (32)
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CN101304842B (zh) * | 2005-09-13 | 2011-11-16 | 古德曼·斯莱特芒 | 光学机械测位仪 |
US10426554B2 (en) * | 2011-04-29 | 2019-10-01 | The Johns Hopkins University | System and method for tracking and navigation |
DE102012104008B3 (de) * | 2012-05-08 | 2013-11-07 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Messen von Form-, Lage- und Dimensionsmerkmalen an Maschinenelementen |
DE102012106139B4 (de) * | 2012-07-09 | 2015-06-11 | Hochschule Reutlingen | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung eines Werkzeugverschleißes in einer Werkzeugmaschine zur geometrisch bestimmten Zerspanung |
US8855404B2 (en) * | 2012-08-27 | 2014-10-07 | The Boeing Company | Methods and systems for inspecting a workpiece |
DE102012019026A1 (de) | 2012-09-26 | 2014-03-27 | Blum-Novotest Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines in einer Werkstückbearbeitungsmaschine aufgenommenen Werkzeugs |
CN103753353B (zh) * | 2013-12-31 | 2016-03-30 | 无锡透平叶片有限公司 | 一种快速测定铣刀偏心的非接触式激光测量方法 |
WO2015147910A1 (en) * | 2014-03-24 | 2015-10-01 | Marposs Corporation | Apparatus for inspecting machined bores |
EP2930462B1 (en) | 2014-04-08 | 2017-09-13 | Hexagon Technology Center GmbH | Method for generating information about a sensor chain of a coordinate measuring machine (CMM) |
US9618927B2 (en) | 2014-04-15 | 2017-04-11 | Pratt & Whitney Canada Corp. | Method of determining a radius of a cutting end of a tool for a turning machine |
US9483820B2 (en) | 2014-05-20 | 2016-11-01 | General Electric Company | Method and system for detecting a damaged component of a machine |
US11159784B2 (en) * | 2014-10-23 | 2021-10-26 | Cognex Corporation | System and method for calibrating a vision system with respect to a touch probe |
CN104669064A (zh) * | 2015-01-21 | 2015-06-03 | 苏州市国之福自动化设备有限公司 | Cnc视觉辅助加工系统及方法 |
CN107429997B (zh) * | 2015-03-26 | 2019-10-11 | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 | 用于确定测量对象的尺寸特性的方法和装置 |
DE102015205567A1 (de) * | 2015-03-26 | 2016-09-29 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Kalibrierung einer an einem beweglichen Teil eines Koordinatenmessgeräts angebrachten Drehvorrichtung |
DE102015205569B4 (de) * | 2015-03-26 | 2022-12-08 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Kalibrierung eines beweglichen Teils eines Koordinatenmessgeräts oder eines daran angebrachten taktilen Tasters |
CN105033764A (zh) * | 2015-06-26 | 2015-11-11 | 哈尔滨理工大学 | 一种淬硬钢模具铣削稳定性的检测方法 |
EP3147627B1 (de) * | 2015-09-22 | 2023-04-26 | GF Machining Solutions AG | Optische messtaster-kalibration |
DE102016012726A1 (de) * | 2016-10-24 | 2018-04-26 | Blum-Novotest Gmbh | Messsystem zur Messung an Werkzeugen in einer Werkzeugmaschine |
DE102016012727A1 (de) * | 2016-10-24 | 2018-04-26 | Blum-Novotest Gmbh | Messsystem zur Messung an Werkzeugen in einer Werkzeugmaschine |
DE102017000290B3 (de) * | 2017-01-13 | 2018-06-14 | Mühlbauer Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung eines Fräsvorgangs |
GB201702391D0 (en) | 2017-02-14 | 2017-03-29 | Renishaw Plc | Surface sensing device |
JP6748616B2 (ja) * | 2017-08-22 | 2020-09-02 | Dmg森精機株式会社 | ワーク情報認識システム |
CN107678401A (zh) * | 2017-08-23 | 2018-02-09 | 沈阳机床股份有限公司 | 一种基于三维模型的结构件大型模具快速编程方法 |
EP3502611B1 (en) | 2017-12-21 | 2023-08-16 | Hexagon Technology Center GmbH | Machine geometry monitoring |
CN112004634A (zh) * | 2018-02-01 | 2020-11-27 | 瑞典焕贝自动化有限公司 | 用于控制激光工具位置的方法和装置 |
JP6807002B2 (ja) * | 2018-09-25 | 2021-01-06 | 株式会社東京精密 | 計測システム |
CN109407340B (zh) * | 2018-11-28 | 2020-07-14 | 浙江日科自动化设备有限公司 | 一种眼镜铰链安装设备 |
CN112504209B (zh) * | 2020-11-18 | 2021-10-08 | 大连理工大学 | 一种高精度刀具磨损2d在线检测方法 |
WO2022221502A1 (en) * | 2021-04-16 | 2022-10-20 | University Of Kentucky Research Foundation | Intelligent machine vision system for in-process tool wear monitoring |
CN113983995A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-01-28 | 歌尔股份有限公司 | 角度测量方法、装置及计算机可读存储介质 |
CN116336963B (zh) * | 2023-04-19 | 2024-02-27 | 上海炬隆精密工具有限公司 | 一种刀具磨损程度测量装置 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4835704A (en) * | 1986-12-29 | 1989-05-30 | General Electric Company | Adaptive lithography system to provide high density interconnect |
US5198990A (en) * | 1990-04-23 | 1993-03-30 | Fanamation, Inc. | Coordinate measurement and inspection methods and apparatus |
US5199054A (en) * | 1990-08-30 | 1993-03-30 | Four Pi Systems Corporation | Method and apparatus for high resolution inspection of electronic items |
US5383118A (en) * | 1992-09-23 | 1995-01-17 | At&T Corp. | Device alignment methods |
DE4327250C5 (de) * | 1992-09-25 | 2008-11-20 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken |
JP3215193B2 (ja) * | 1992-10-26 | 2001-10-02 | 株式会社不二越 | 回転工具の刃部形状測定方法及びその装置 |
US5501766A (en) * | 1994-06-30 | 1996-03-26 | International Business Machines Corporation | Minimizing overetch during a chemical etching process |
WO1996013355A1 (en) * | 1994-10-31 | 1996-05-09 | Philips Electronics N.V. | Method of measuring a reference position of a tool relative to a workpiece, and machine tool for carrying out said method |
US5808888A (en) * | 1996-01-11 | 1998-09-15 | Thermwood Corporation | Method and apparatus for programming a CNC machine |
US6681145B1 (en) * | 1996-06-06 | 2004-01-20 | The Boeing Company | Method for improving the accuracy of machines |
DE29823884U1 (de) * | 1997-06-12 | 2000-02-24 | Werth Messtechnik Gmbh | Koordinatenmessgerät zur Messung von Strukturen eines Objekts |
US6121218A (en) * | 1997-11-12 | 2000-09-19 | Thompson; Andrew Michael | Priming composition for bonding photoresists on substrates |
DE19950331C2 (de) * | 1999-10-19 | 2001-09-06 | Blum Novotest Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen einer Schneidengeometrie eines drehantreibbaren Werkzeugs |
DE10015005A1 (de) | 2000-03-20 | 2001-10-18 | Georg Wendland | Einrichtung zur Online-Messung des Werkzeugverschleisses beim Spanen von abrasiven Materialien |
US6631302B1 (en) * | 2000-04-06 | 2003-10-07 | Dphi Acquisitions, Inc. | System and method for aligning components of optical head |
DE10027106A1 (de) | 2000-05-31 | 2001-12-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Einrichtung zur Kalibrierung von bewegbaren Vorrichtungen mit mindestens einem teilweise unbestimmten Geometrieparameter |
EP1355140A4 (en) * | 2000-12-28 | 2006-11-15 | Nikon Corp | "METHOD OF MEASURING PICTURE PROPERTIES, IMPROVING IMAGE PROCEDURES, EXPOSURE METHOD AND SYSTEM, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM AND COMPONENT MANUFACTURING METHOD" |
ES2250278T3 (es) * | 2001-09-05 | 2006-04-16 | Mikron Comp-Tec Ag | Un metodo y un sistema de soporte del operario destinados a ayudar a un operario a ajustar parametros de maquina. |
DE10153581A1 (de) | 2001-11-02 | 2003-05-15 | Heilig & Schwab Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Wirkkontur von Rotationswerkzeugen |
JP2003211345A (ja) * | 2002-01-17 | 2003-07-29 | Takeshi Ouchi | Cncルータ加工における1枚刃ストレートビットの刃先線自動計測法 |
US20060023220A1 (en) * | 2004-07-29 | 2006-02-02 | Vanwiggeren Gregory D | Multiplexed optical detection system |
US7363180B2 (en) * | 2005-02-15 | 2008-04-22 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method for correcting systematic errors in a laser processing system |
JP2006242606A (ja) * | 2005-03-01 | 2006-09-14 | Niigata Univ | 回転工具の振れ測定法およびその測定装置 |
CN101304842B (zh) | 2005-09-13 | 2011-11-16 | 古德曼·斯莱特芒 | 光学机械测位仪 |
US7880151B2 (en) * | 2008-02-28 | 2011-02-01 | Fei Company | Beam positioning for beam processing |
US8111903B2 (en) * | 2008-09-26 | 2012-02-07 | International Business Machines Corporation | Inline low-damage automated failure analysis |
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