JP5131766B2 - Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig - Google Patents

Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig Download PDF

Info

Publication number
JP5131766B2
JP5131766B2 JP2008204583A JP2008204583A JP5131766B2 JP 5131766 B2 JP5131766 B2 JP 5131766B2 JP 2008204583 A JP2008204583 A JP 2008204583A JP 2008204583 A JP2008204583 A JP 2008204583A JP 5131766 B2 JP5131766 B2 JP 5131766B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tube
plunger
main body
end side
distal end
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008204583A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2010038837A (en
Inventor
智之 山田
剛欣 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokowo Co Ltd
Original Assignee
Yokowo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokowo Co Ltd filed Critical Yokowo Co Ltd
Priority to JP2008204583A priority Critical patent/JP5131766B2/en
Publication of JP2010038837A publication Critical patent/JP2010038837A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5131766B2 publication Critical patent/JP5131766B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Description

本発明は、被検査電子部品に設けられた各端子(電極パッド)にそれぞれ2本のプローブを接触させて、ケルビン法によって被検査電子部品の電子回路等を検査するための誤挿入防止型ケルビン検査用治具に関する。   The present invention provides an erroneous insertion prevention type Kelvin for inspecting an electronic circuit or the like of an electronic component to be inspected by the Kelvin method by bringing two probes into contact with each terminal (electrode pad) provided on the electronic component to be inspected. The present invention relates to an inspection jig.

従来より、半導体集積回路等の被検査電子部品の電子回路等の検査を行う方法として、ケルビン法が知られている。このケルビン法による検査では、被検査電子部品の各端子にそれぞれ2本のプローブを接触させ、一方のプローブは電流供給用として、他方のプローブは電圧監視用として用いる。   Conventionally, a Kelvin method is known as a method for inspecting an electronic circuit of an electronic component to be inspected such as a semiconductor integrated circuit. In this inspection by the Kelvin method, two probes are brought into contact with each terminal of an electronic component to be inspected, one probe is used for supplying current and the other probe is used for monitoring voltage.

図10は従来のケルビン検査用治具の1例であって、図11(A),(B),(C)はこれに用いるプローブを示す。プローブ10は、導電性金属製の円筒状チューブ11と、その先端側に設けられていて軸方向に摺動、突出自在でチューブ11から外れないように保持された導電性金属製のプランジャ20と、チューブ後端側に設けられていて軸方向に摺動、突出自在でチューブ10から外れないように保持された導電性金属製の当接部材30と、チューブ内部に設けられていて、プランジャ20及び当接部材30のチューブ内側の端面に弾接してプランジャ20及び当接部材30をチューブから突出する方向に付勢するコイルスプリング31とを有している。   FIG. 10 shows an example of a conventional Kelvin inspection jig. FIGS. 11A, 11B, and 11C show probes used for this. The probe 10 includes a cylindrical tube 11 made of conductive metal, and a plunger 20 made of conductive metal that is provided at the distal end of the tube 10 so as to slide and protrude in the axial direction and is held so as not to be detached from the tube 11. An abutting member 30 made of conductive metal which is provided on the rear end side of the tube, is slidable and protrudes in the axial direction and is held so as not to be detached from the tube 10, and a plunger 20 provided inside the tube. And a coil spring 31 that elastically contacts the end surface of the abutting member 30 on the inner side of the tube and biases the plunger 20 and the abutting member 30 in a direction protruding from the tube.

プランジャ20は円筒状チューブ11と同軸(同心)でチューブ先端より摺動、突出自在な軸部21とその先端側の先端側本体部22とを有している。   The plunger 20 has a shaft portion 21 that is coaxial (concentric) with the cylindrical tube 11 and is slidable and protrudeable from the distal end of the tube, and a distal end side main body portion 22 on the distal end side.

図11(B)は先端側本体部22の平面図であり、先端側本体部22の両側面23はチューブ11及びプランジャ20の軸方向に平行な2平面であり、また先端側本体部22の先端面は、図10及び図11(B),(C)からも判るように、前記2平面(側面23)の中間位置を通りかつ前記軸方向に対して傾斜した稜線24を持つ山形形状である。すなわち、先端側本体部22の先端面は、前記軸方向に対し傾斜しかつ側面23に垂直な仮想平面α(稜線24が位置している)を規定したとき、仮想平面α上の稜線24を通り、それぞれ仮想平面αに対して逆向に傾斜した傾斜面25,26からなっている。図11(B)から判るように、前記軸方向からみた先端側本体部22の平面形状はチューブ中心Oに対して点対称(180度回転しても平面形状が同じ)である。   FIG. 11B is a plan view of the distal end side body 22, and both side surfaces 23 of the distal end side body 22 are two planes parallel to the axial direction of the tube 11 and the plunger 20. As can be seen from FIGS. 10 and 11B and 11C, the front end surface has a chevron shape having a ridge line 24 that passes through an intermediate position between the two planes (side surface 23) and is inclined with respect to the axial direction. is there. That is, when the distal end surface of the distal end side main body portion 22 defines an imaginary plane α (the ridge line 24 is located) that is inclined with respect to the axial direction and perpendicular to the side surface 23, the ridge line 24 on the imaginary plane α is defined. As shown in the figure, the inclined surfaces 25 and 26 are inclined in opposite directions with respect to the virtual plane α. As can be seen from FIG. 11B, the planar shape of the distal end side main body 22 viewed from the axial direction is point-symmetric with respect to the tube center O (the planar shape is the same even if rotated 180 degrees).

図10のように、被検査電子部品の端子としての電極パッドの1個当たり1対のプローブ10が接触するように各プローブ10は絶縁材からなるソケット40に配設される。プランジャ20の先端側本体部22を貫通させるソケット40側のプランジャ貫通孔50は、図11(B)の先端側本体部22の平面図に示した形状と同様形状であり、チューブ中心Oに対し点対称である。   As shown in FIG. 10, each probe 10 is disposed in a socket 40 made of an insulating material so that a pair of probes 10 contact each electrode pad as a terminal of an electronic component to be inspected. The plunger through-hole 50 on the socket 40 side through which the distal end side main body portion 22 of the plunger 20 penetrates has the same shape as that shown in the plan view of the distal end side main body portion 22 in FIG. It is point symmetric.

1対のプローブ10を互いに平行となるようにソケット40に配設するが、この場合、被検査電子部品の小寸法の電極パッドにも対応可能なようにプランジャ20の先端側本体部22の頂点P(稜線24の最も高い位置で電極パッドに対する接触点となる)同士が最接近する配置とする。   The pair of probes 10 are arranged in the socket 40 so as to be parallel to each other, but in this case, the apex of the main body 22 on the distal end side of the plunger 20 so as to be compatible with a small-sized electrode pad of the electronic component to be inspected. The arrangement is such that P (which is the contact point with respect to the electrode pad at the highest position of the ridge line 24) are closest to each other.

ケルビン検査用治具の公知例としては、例えば下記特許文献1や特許文献2が知られている。   As known examples of the Kelvin inspection jig, for example, the following Patent Document 1 and Patent Document 2 are known.

特開2008−45986号公報JP 2008-45986 A 特開2005−62100号公報 特許文献1は電流供給用プローブと電圧監視用プローブとを用途に適した別構造にしたものである。また、特許文献2は金属線状体の細く形成した部分をニードル部として、軽量のケルビン検査用、とくにフライング測定機用のプローブを実現したものである。Japanese Patent Laid-Open No. 2005-62100 discloses a current supply probe and a voltage monitoring probe having different structures suitable for applications. Further, Patent Document 2 realizes a lightweight probe for Kelvin inspection, in particular, a flying measuring machine, using a thin part of a metal linear body as a needle part.

ところで、図10のケルビン検査用治具では、ソケット40にプローブ10を挿入する組立時、又は使用期間中でのプローブ交換時において、ソケット40のプランジャ貫通孔50に対して、仮想線Fのようにプランジャ20を左右反転状態(180度回転した状態)で誤挿入してしまう危険性がある。このような誤挿入があると、プランジャの先端側本体部22の頂点Pが被検査対象の電極パッドから外れて検査できなくなる。   By the way, in the Kelvin inspection jig of FIG. 10, when the probe 10 is inserted into the socket 40 or when the probe is exchanged during the use period, the plunger through hole 50 of the socket 40 is shown as a virtual line F. There is a risk that the plunger 20 may be erroneously inserted in a horizontally reversed state (a state rotated 180 degrees). If there is such an erroneous insertion, the apex P of the plunger distal end side main body portion 22 is detached from the electrode pad to be inspected and cannot be inspected.

また、チューブ11に対してプランジャ20が同心的に配置される場合、構造上プランジャ20の頂点同士の間隔を狭くするのが困難になり、近年の被検査電子部品の電極パッドの小形化に対応するのが困難となる。   Further, when the plunger 20 is concentrically arranged with respect to the tube 11, it becomes difficult to narrow the interval between the apexes of the plunger 20 because of the structure, and it corresponds to the recent miniaturization of the electrode pad of the electronic component to be inspected. It becomes difficult to do.

上記特許文献1の場合もプローブの誤挿入対策はとくになく、組立時又は交換時にプローブのソケットに対する誤挿入の問題が発生すると考えられる。また、特許文献2も、組立時において、ニードル部が先端側本体部に形成された金属線状体を筒体内へ挿入する際に、誤挿入の可能性がある。   Also in the case of the above-mentioned Patent Document 1, there is no special countermeasure against erroneous insertion of the probe, and it is considered that a problem of erroneous insertion into the probe socket occurs during assembly or replacement. Also, in Patent Document 2, there is a possibility of erroneous insertion when the metal linear body having the needle portion formed on the distal end side main body portion is inserted into the cylinder during assembly.

本発明はこうした状況を認識してなされたものであり、その目的は、ソケットへのプローブの誤挿入を未然に防止可能で、対をなすプローブにおけるプランジャ頂点間の距離の短縮を図ることができ、ひいては被検査電子部品の小寸法の端子(電極パッド)にも対応可能な誤挿入防止型ケルビン検査用治具を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a situation, and its purpose is to prevent erroneous insertion of the probe into the socket, and to reduce the distance between the apexes of the plungers of the paired probes. Accordingly, an object of the present invention is to provide a misinsertion-preventing Kelvin inspection jig that can be applied to a small-sized terminal (electrode pad) of an electronic component to be inspected.

上記目的を達成するために、本発明のある態様の誤挿入防止型ケルビン検査用治具は、 導電性チューブとその一端側に設けられた導電性プランジャとを有する、対をなしたプローブと、
前記対をなしたプローブが平行に設けられていて、前記プランジャの先端側本体部が貫通するプランジャ貫通孔を有する絶縁性ソケットとを備え、
前記対をなしたプローブにおけるプランジャの先端側本体部は、前記チューブの軸方向の中心に対して先端側本体部同士の相互間隔が狭くなる方向に偏心した位置に形成されていて、前記プランジャ貫通孔に対し周回できずかつ180度の反転挿入ができない状態で貫通しており、
前記プランジャ相互の対向部は前記チューブの外周面の延長面に合致する同一曲率の曲面となっており、
前記先端側本体部は前記対向部側からその反対側に向かって突出高さが小さくなる形状であることを特徴としている。
In order to achieve the above object, an erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to an aspect of the present invention comprises a pair of probes each having a conductive tube and a conductive plunger provided at one end thereof,
The paired probes are provided in parallel, and an insulating socket having a plunger through-hole through which the distal-end body portion of the plunger passes,
The distal end side main body portion of the plunger in the paired probe is formed at a position eccentric with respect to the axial center of the tube in a direction in which the mutual distance between the distal end side main body portions becomes narrower, It penetrates in a state where it cannot circulate around the hole and cannot be reversed and inserted 180 degrees,
The opposing portions of the plungers are curved surfaces having the same curvature that matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube,
The distal end side main body portion is characterized in that the protruding height decreases from the facing portion side toward the opposite side.

前記態様において、前記プランジャは、前記チューブに挿入固定される内側挿入部と、前記内側挿入部の先端側のフランジ部と、前記フランジ部の先端側の前記先端側本体部とを一体に形成したものであり、前記プランジャ相互の対向部は前記チューブの外周面との間に段差のない曲面となっていてもよい。   In the aspect, the plunger is integrally formed with an inner insertion portion that is inserted and fixed to the tube, a flange portion on a distal end side of the inner insertion portion, and the distal end side main body portion on the distal end side of the flange portion. However, the opposed portions of the plungers may be curved surfaces having no step between the outer peripheral surfaces of the tubes.

前記態様において、前記プランジャは、前記チューブの内周面に対し摺動自在な内側摺動部と、前記内側摺動部の先端側に軸部を介して設けられた前記先端側本体部とを一体に形成したものであり、前記先端側本体部の対向部が前記チューブの外周面の延長面に合致する同一曲率の曲面となっていてもよい。   In the above aspect, the plunger includes an inner sliding portion that is slidable with respect to an inner peripheral surface of the tube, and a distal-end-side body portion that is provided on the distal end side of the inner sliding portion via a shaft portion. It is formed integrally, and the opposing portion of the distal end side main body portion may be a curved surface having the same curvature that matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube.

前記態様において、前記先端側本体部は前記軸方向に平行な2平面を有し、前記対向部をなす曲面が前記2平面を連絡している構成でもよい。   The said aspect WHEREIN: The structure which the said front end side main-body part has two flat surfaces parallel to the said axial direction, and the curved surface which makes the said opposing part may connect the said two flat surfaces.

前記態様において、前記先端側本体部は、前記対向部の反対側の面が、前記対向部の曲面とは曲率の異なる曲面又は平面であってもよい。   In the above aspect, the tip-side main body may have a curved surface or a flat surface having a curvature different from that of the curved surface of the facing portion.

なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を方法やシステムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。   It should be noted that any combination of the above-described constituent elements, and those obtained by converting the expression of the present invention between methods and systems are also effective as aspects of the present invention.

本発明に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具によれば、対をなしたプローブのプランジャは、各プローブのチューブの軸方向中心に対してプランジャ同士の相互間隔が狭くなる方向に偏心した位置に形成されているため、ソケット側のプランジャ貫通孔に対し180度の反転挿入ができない状態で貫通することになり、ソケットにプローブを設ける組立時又は交換時におけるプローブの誤挿入(左右を反転させた挿入)を未然に防止できる。   According to the erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to the present invention, the plungers of the paired probes are eccentric in the direction in which the mutual interval between the plungers becomes narrower with respect to the axial center of the tube of each probe. Because it is formed in this way, it will penetrate through the socket-side plunger through hole without being able to be flipped 180 degrees, and the probe may be inserted incorrectly during assembly or replacement when the probe is installed in the socket. Can be prevented in advance.

また、前記プランジャ相互の対向部を、前記チューブの外周面の延長面に合致する同一曲率の曲面とし、前記プランジャの先端側本体部を前記対向部側からその反対側に向かって突出高さが小さくなる形状とすることで、プランジャ頂点同士の距離を短縮して、被検査電子部品の小寸法の端子(電極パッド)にも対応可能である。   Further, the opposing portions of the plungers are curved surfaces having the same curvature that matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube, and the protrusion height of the main body portion on the distal end side of the plunger from the opposing portion side to the opposite side is increased. By making the shape smaller, the distance between the apexes of the plungers can be shortened, and it is possible to deal with small-sized terminals (electrode pads) of the electronic components to be inspected.

以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施の形態を詳述する。なお、各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理等には同一の符号を付し、適宜重複した説明は省略する。また、実施の形態は発明を限定するものではなく例示であり、実施の形態に記述されるすべての特徴やその組み合わせは必ずしも発明の本質的なものであるとは限らない。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same or equivalent component, member, process, etc. which are shown by each drawing, and the overlapping description is abbreviate | omitted suitably. In addition, the embodiments do not limit the invention but are exemplifications, and all features and combinations thereof described in the embodiments are not necessarily essential to the invention.

図1乃至図7を用いて本発明に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具の第1の実施の形態を説明する。   A first embodiment of an erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to the present invention will be described with reference to FIGS.

誤挿入防止型ケルビン検査用治具は、被検査電子部品の1つの端子(電極パッド)当たり1対のプローブ60を絶縁材からなるソケット90に設けている。   The erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig is provided with a pair of probes 60 per socket (electrode pad) of an electronic component to be inspected in a socket 90 made of an insulating material.

プローブ60は、導電性金属製の円筒状チューブ61と、チューブ先端側に固定の導電性金属製のプランジャ70と、チューブ後端側に設けられていてチューブ61の軸方向に摺動、突出自在でチューブ61から抜け出ないように保持された導電性金属製の当接部材80と、図3のようにチューブ内部に設けられていて、プランジャ70及び当接部材80のチューブ内側の端面に弾接して当接部材80をチューブ61から突出する方向に付勢するコイルスプリング81とを有している。   The probe 60 is provided with a cylindrical tube 61 made of conductive metal, a conductive metal plunger 70 fixed to the tube front end side, and a tube rear end side, and can slide and protrude in the axial direction of the tube 61. The contact member 80 made of conductive metal held so as not to come out of the tube 61, and provided inside the tube as shown in FIG. 3, is elastically contacted with the end surfaces of the plunger 70 and the contact member 80 on the inner side of the tube. And a coil spring 81 that urges the contact member 80 in a direction protruding from the tube 61.

図4(A)の拡大断面図に示すように、プランジャ70はチューブ61の先端側本体部内側に挿入される内側挿入部77と、この先端側に形成されるフランジ部78と、フランジ部78の先端側に形成される先端側本体部72とを一体に有している(導電性金属にて一体に形成される)。   As shown in the enlarged sectional view of FIG. 4A, the plunger 70 has an inner insertion portion 77 to be inserted inside the distal end side body portion of the tube 61, a flange portion 78 formed on the distal end side, and a flange portion 78. And a distal end side main body portion 72 formed integrally with the distal end side (formed integrally with a conductive metal).

内側挿入部77の中間位置には小径のくびれ部77aが形成されており、内側挿入部77をチューブ61に嵌入した後、内側挿入部77に対応したチューブ61の外周部分をかしめ加工等で小径に加工し、チューブ61の内周側に凸部62を形成することで、凸部62がくびれ部77aに係合してプランジャ70がチューブ61から脱落しないようにチューブ61に固定、保持される。   A constricted portion 77a having a small diameter is formed at an intermediate position of the inner insertion portion 77. After the inner insertion portion 77 is fitted into the tube 61, the outer peripheral portion of the tube 61 corresponding to the inner insertion portion 77 is squeezed to reduce the diameter. By forming the convex portion 62 on the inner peripheral side of the tube 61, the convex portion 62 is fixed and held on the tube 61 so that the convex portion 62 engages with the constricted portion 77a and the plunger 70 does not fall off the tube 61. .

フランジ部78はチューブ61先端側本体部の外周面と一致する外周面を有し、チューブ61の外周が円筒形であれば、同径の円板であり、チューブ61と同心に配置される。   The flange portion 78 has an outer peripheral surface coinciding with the outer peripheral surface of the tube 61 tip side main body portion. If the outer periphery of the tube 61 is cylindrical, it is a disc having the same diameter and is arranged concentrically with the tube 61.

フランジ部78上に立設される先端側本体部72はチューブ61の軸方向の中心Oから偏心して形成され、図4(B)のように先端側本体部72の両側面73はチューブ61の軸方向に平行な2平面であり、この2平面(側面73)を連絡する残りの2面は一方が円弧面79、他方が平面85となっている。円弧面79はフランジ部78と同一曲率半径であって、フランジ部78の外周面と段差なく連続した曲面である。この結果、チューブ61上端部の外周面、プランジャ70のフランジ部78の外周面及び先端側本体部72の円弧面79にわたり段差の無い曲面が形成されている。   The distal end side main body portion 72 standing on the flange portion 78 is formed eccentrically from the axial center O of the tube 61, and both side surfaces 73 of the distal end side main body portion 72 are formed on the tube 61 as shown in FIG. There are two planes parallel to the axial direction. One of the remaining two planes connecting the two planes (side surface 73) is a circular arc surface 79 and the other is a plane 85. The circular arc surface 79 has the same radius of curvature as the flange portion 78 and is a curved surface that is continuous with the outer peripheral surface of the flange portion 78 without a step. As a result, a curved surface having no step is formed over the outer peripheral surface of the upper end portion of the tube 61, the outer peripheral surface of the flange portion 78 of the plunger 70, and the arc surface 79 of the distal end side main body portion 72.

また、プランジャ70の先端側本体部72の先端面は、図2及び図4(A)(B)(C)からも判るように、前記2平面(側面73)の中間位置を通りかつ前記軸方向に対して傾斜した稜線74を持つ山形形状である。すなわち、先端側本体部72の先端面は、前記軸方向に対し傾斜しかつ側面73に垂直な仮想平面β(稜線74が位置している)を規定したとき、仮想平面β上の稜線74を通り、それぞれ仮想平面βに対して逆向に傾斜した傾斜面75,76からなっている。先端側本体部72の頂点Pは稜線74が円弧面79に到達した点であり、先端側本体部72は反対側の平面85に向かって突出高さが低くなる形状である。図4(B)から判るように、前記軸方向からみた先端側本体部72の平面形状はチューブ中心Oに対して偏心位置にあり(頂点Pの方向にオフセットしている)、非点対称(180度回転したときに平面形状が同じにはならない)である。   Further, the distal end surface of the distal end side main body portion 72 of the plunger 70 passes through an intermediate position between the two planes (side surface 73) and can be seen from FIGS. 2, 4A, 4B, and 4C. It is a mountain shape having a ridge line 74 inclined with respect to the direction. That is, when the distal end surface of the distal end side main body 72 defines a virtual plane β (the ridge line 74 is located) that is inclined with respect to the axial direction and perpendicular to the side surface 73, the ridge line 74 on the virtual plane β is defined. As shown, each of the inclined surfaces 75 and 76 is inclined in the opposite direction with respect to the virtual plane β. The apex P of the distal end side main body portion 72 is a point where the ridge line 74 reaches the circular arc surface 79, and the distal end side main body portion 72 has a shape in which the protruding height decreases toward the flat surface 85 on the opposite side. As can be seen from FIG. 4 (B), the planar shape of the distal end side main body portion 72 viewed from the axial direction is in an eccentric position with respect to the tube center O (offset in the direction of the apex P), and is asymmetrical ( The planar shape does not become the same when rotated 180 degrees).

図1に示すように、絶縁材からなるソケット90は、リテーナ100、ピンブロック110及びピンプレート120が積層一体化された構造を有し、中間のピンブロック110にはプローブ60、すなわちそのチューブ61を挿通させるチューブ貫通孔111が形成され、ここにプローブ60がその軸方向に摺動自在に挿通されている。ピンブロック110に対して後端側に積層されたピンプレート120にはチューブ貫通孔111が形成されると共に、この後端部位置には当接部材80を外方に突出させるとともにチューブ61の後端側が後端方向に抜け出ないように、小径部122が形成されている。チューブ61はチューブ貫通孔111よりも短く形成されるため、チューブ貫通孔111にはチューブ61の軸方向の摺動範囲を規定する空間部121が形成される。リテーナ100にはチューブ貫通孔111が形成されると共に先端側にプランジャ70の先端側本体部72を貫通させるプランジャ貫通孔101が形成されている。   As shown in FIG. 1, a socket 90 made of an insulating material has a structure in which a retainer 100, a pin block 110, and a pin plate 120 are laminated and integrated, and the intermediate pin block 110 has a probe 60, that is, a tube 61 thereof. Is inserted therethrough, and the probe 60 is slidably inserted in the axial direction thereof. A tube through-hole 111 is formed in the pin plate 120 laminated on the rear end side with respect to the pin block 110, and the abutting member 80 protrudes outward at the rear end position, and the rear of the tube 61. A small diameter portion 122 is formed so that the end side does not come out in the rear end direction. Since the tube 61 is formed shorter than the tube through hole 111, a space 121 that defines the sliding range of the tube 61 in the axial direction is formed in the tube through hole 111. The retainer 100 is formed with a tube through-hole 111 and a plunger through-hole 101 through which the distal end side main body 72 of the plunger 70 penetrates at the distal end side.

なお、当接部材80が電極に当接していない状態では、実際にはプローブ60はチューブ貫通孔111の下部に位置し、空間部121は上方に形成されることになるが、説明の便宜上図1ではプローブ60はチューブ貫通孔111の上部に位置するように図示してある。   In the state where the contact member 80 is not in contact with the electrode, the probe 60 is actually positioned below the tube through-hole 111 and the space 121 is formed above. In FIG. 1, the probe 60 is shown to be positioned above the tube through-hole 111.

図5(A)は対をなすプランジャ70の先端側本体部72が貫通するリテーナ100側のプランジャ貫通孔101の配置を示し、対をなす先端側本体部72の円弧面79が対向部となって相互に対向するようになっている。このとき、先端側本体部22の頂点Pの間隔が最短距離となる。   FIG. 5A shows the arrangement of the plunger through-hole 101 on the retainer 100 side through which the distal end side main body 72 of the pair of plungers 70 penetrates, and the arcuate surface 79 of the paired distal end side main body portion 72 is the opposing portion. Are facing each other. At this time, the interval between the apexes P of the distal end side main body portion 22 is the shortest distance.

図5(B)は加工誤差によって先端側本体部72とプランジャ貫通孔101間のクリアランスが最大値となった場合でも、先端側本体部72が周回してしまわないことを示す。   FIG. 5B shows that the tip-side main body 72 does not circulate even when the clearance between the tip-side main body 72 and the plunger through-hole 101 reaches the maximum value due to processing errors.

図5(C)は加工誤差によって先端側本体部72とプランジャ貫通孔101間のクリアランスが最大値となった場合でも、先端側本体部72を180度反転させた状態(反対向き)で誤挿入することができないことを示す。図中斜線部が干渉エリアとなり、反対向きには入らない。   FIG. 5C shows that the tip side main body 72 is inverted 180 degrees (in the opposite direction) even when the clearance between the tip side main body 72 and the plunger through-hole 101 becomes the maximum value due to a processing error. Indicates that you cannot do it. The shaded area in the figure is an interference area and does not enter the opposite direction.

図6は組立時又はプローブ交換時における、ソケット側リテーナ100に対するプローブ60の挿入の様子を示す。プランジャ70をリテーナ100に形成したプランジャ貫通孔101に挿入する際、まずプランジャ70の頂点P付近の円弧面79をプランジャ貫通孔101の内周に押し付けて、その状態を保ったまま矢印方向に移動する。これにより、挿入時にプローブ60が不要な回転をしないように安定させて挿入される。この際、チューブ貫通孔111とプランジャ貫通孔101との境界は同一か又はプランジャ貫通孔101がチューブ貫通孔111よりも外方に突出しているため、プランジャ70は境界に引っ掛かることなくスムーズに挿入することができる。   FIG. 6 shows how the probe 60 is inserted into the socket-side retainer 100 during assembly or probe replacement. When the plunger 70 is inserted into the plunger through-hole 101 formed in the retainer 100, the arc surface 79 near the apex P of the plunger 70 is first pressed against the inner periphery of the plunger through-hole 101 and moved in the direction of the arrow while maintaining this state. To do. Thus, the probe 60 is stably inserted so as not to rotate unnecessarily during insertion. At this time, the boundary between the tube through-hole 111 and the plunger through-hole 101 is the same or the plunger through-hole 101 protrudes outward from the tube through-hole 111, so that the plunger 70 is smoothly inserted without being caught by the boundary. be able to.

図7は第1の実施の形態に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具を用いて被検査電子部品を検査する状態を示す。   FIG. 7 shows a state in which an electronic component to be inspected is inspected using the erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to the first embodiment.

ソケット90の後端側に底部基板130が配置され、基板130上の電極131,132に対をなすプローブ60の当接部材80が弾接している。また、被検査電子部品200がソケット90の被検査物載置面91上に押し当てられている。このとき、プローブ60内部のコイルスプリング81が圧縮されて当接部材80の突出量が減じることで、対をなしたプランジャ70の先端側本体部72が被検査電子部品200が有する同一の端子(電極パッド)201に弾接して電気的に接続する。例えば、基板130の一方の電極131が電流供給電極であれば、これに接続するプローブ60が電流供給用プローブとして機能し、他方の電極132が電圧監視用電極であれば、これに接続するプローブ60が電圧監視用プローブとして機能する。   The bottom substrate 130 is disposed on the rear end side of the socket 90, and the contact member 80 of the probe 60 that makes a pair with the electrodes 131 and 132 on the substrate 130 is in elastic contact. In addition, the electronic component 200 to be inspected is pressed onto the inspection object mounting surface 91 of the socket 90. At this time, the coil spring 81 inside the probe 60 is compressed and the protruding amount of the contact member 80 is reduced, so that the distal end side main body portion 72 of the paired plunger 70 has the same terminal ( The electrode pad 201 is elastically contacted and electrically connected. For example, if one electrode 131 of the substrate 130 is a current supply electrode, the probe 60 connected thereto functions as a current supply probe, and if the other electrode 132 is a voltage monitoring electrode, the probe connected thereto. 60 functions as a voltage monitoring probe.

本実施の形態によれば、下記の効果を奏することができる。   According to the present embodiment, the following effects can be achieved.

(1) 対をなしたプローブ60のプランジャ70は、各プローブ60のチューブ61の軸方向中心に対してプランジャ同士の相互間隔が狭くなる方向に偏心した位置に形成されているため、ソケット側のプランジャ貫通孔101に対し180度の反転挿入ができない状態で貫通することになり、ソケット90にプローブ60を設ける組立時又は交換時におけるプローブ60の誤挿入(左右を反転させた挿入)を未然に防止できる。 (1) Since the plungers 70 of the paired probes 60 are formed at positions eccentric to the axial center of the tubes 61 of the probes 60 in a direction in which the mutual distance between the plungers becomes narrow, It will penetrate through the plunger through-hole 101 in a state in which it cannot be inverted 180 degrees, and erroneous insertion of the probe 60 (insertion with the left and right reversed) during assembly or replacement when the probe 60 is installed in the socket 90 will occur in advance. Can be prevented.

(2) プランジャ70相互の対向部を、チューブ上部の外周面との間に段差のない円弧面79とし、プランジャ70の先端側本体部72を前記対向部となる円弧面79からその反対側の平面85に向かって突出高さが低くなる形状とすることで、プランジャ頂点P同士の距離を短縮して、被検査電子部品の小寸法の端子(電極パッド)にも対応可能である。 (2) The opposing portions of the plungers 70 are arc surfaces 79 having no step between the outer peripheral surfaces of the upper portions of the tubes, and the distal end side main body portion 72 of the plunger 70 is located on the opposite side from the arc surface 79 that is the opposing portion. By adopting a shape in which the protrusion height decreases toward the plane 85, the distance between the plunger vertices P can be shortened, and it is possible to cope with a small-sized terminal (electrode pad) of the electronic component to be inspected.

(3) プランジャ70は内側挿入部77とフランジ部78と先端側本体部72とを一体に有し、チューブ61に内側挿入部77を固定する構造であり、チューブ61に対してプランジャ70を摺動自在に設ける構造に比べて構成の簡素化を図り得る。 (3) The plunger 70 has a structure in which the inner insertion portion 77, the flange portion 78, and the distal end side main body portion 72 are integrally formed, and the inner insertion portion 77 is fixed to the tube 61. The structure can be simplified as compared with the structure provided to be movable.

(4) ソケット90にはチューブ貫通孔111からプランジャ貫通孔101が段差無く(厳密には若干の段差はあるが)形成されており、図6に示すようにプローブ60をプランジャ貫通孔101にセットする際に引っ掛かることなくスムーズに挿入することができる。なお、段差が生じたとしても図5に示すようにプランジャ貫通孔101がチューブ貫通孔111よりも外周に突出することになり、挿入に対して影響が出ない方向の段差である。 (4) The plunger 90 is formed in the socket 90 from the tube through hole 111 to the plunger through hole 101 without any step (strictly, there is a slight step), and the probe 60 is set in the plunger through hole 101 as shown in FIG. Can be inserted smoothly without being caught. Even if a step is generated, the plunger through-hole 101 protrudes to the outer periphery from the tube through-hole 111 as shown in FIG. 5 and is a step in a direction that does not affect the insertion.

図8及び図9を用いて本発明に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具の第2の実施の形態を説明する。   A second embodiment of the erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to the present invention will be described with reference to FIGS.

この第2の実施の形態においては、従来の図10及び図11に示したプローブ10のプランジャ先端側本体部の形状を第1の実施の形態と同様にチューブの軸方向中心に対し偏心した形状としている。すなわち、プローブ140は、導電性金属製の円筒状チューブ11と、その先端側に設けられていて軸方向に摺動、突出自在でチューブ11から抜け出ないように保持された導電性金属製のプランジャ150と、チューブ後端側に設けられていて軸方向に摺動、突出自在でチューブ11から抜け出ないように保持された導電性金属製の当接部材30と、チューブ11内部に設けられていて、プランジャ150及び当接部材30のチューブ11内側の端面に弾接してプランジャ150及び当接部材30をチューブ11から突出する方向に付勢するコイルスプリング31とを有している。   In the second embodiment, the shape of the plunger tip side main body portion of the probe 10 shown in FIGS. 10 and 11 is eccentric with respect to the axial center of the tube as in the first embodiment. It is said. That is, the probe 140 is a cylindrical tube 11 made of conductive metal, and a conductive metal plunger that is provided on the tip side thereof, is slidable in the axial direction, and is protruded so as not to come out of the tube 11. 150, an abutting member 30 made of conductive metal that is provided on the rear end side of the tube, is slidable and protrudes in the axial direction, and is held so as not to come out of the tube 11, and is provided inside the tube 11. And the coil spring 31 that urges the plunger 150 and the abutting member 30 in a direction protruding from the tube 11 in elastic contact with the end surface of the plunger 150 and the abutting member 30 inside the tube 11.

プランジャ150は、図9(A)のように円筒状チューブ11の内周面に対し摺動自在な内側摺動部158と、チューブ11と同軸(同心)でチューブ先端より突出自在な軸部151とその先端側の先端側本体部152とを有している。先端側本体部152はチューブ11の軸方向の中心Oから偏心して形成され、先端側本体部152の両側面153は図9(B)のようにチューブ11の軸方向に平行な2平面であり、この2平面(側面153)を連絡する残りの2面は一方が円弧面159、他方が平面165となっている。円弧面159はチューブ11の外周面と同一曲率半径であって、チューブ11の外周面の延長面に合致している。先端側本体部152の先端面の形状や頂点Pの位置は第1の実施の形態と同様である。   As shown in FIG. 9A, the plunger 150 includes an inner sliding portion 158 that is slidable with respect to the inner peripheral surface of the cylindrical tube 11, and a shaft portion 151 that is coaxial (concentric) with the tube 11 and that can protrude from the distal end of the tube. And a distal end side main body portion 152 on the distal end side. The distal end side main body portion 152 is formed eccentrically from the axial center O of the tube 11, and both side surfaces 153 of the distal end side main body portion 152 are two planes parallel to the axial direction of the tube 11 as shown in FIG. The remaining two surfaces that connect the two planes (side surfaces 153) are one of a circular arc surface 159 and the other of which is a plane 165. The circular arc surface 159 has the same radius of curvature as the outer peripheral surface of the tube 11 and matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube 11. The shape of the distal end surface of the distal end side main body 152 and the position of the apex P are the same as those in the first embodiment.

対をなすプローブ140は絶縁材からなるリテーナ170、ピンブロック110及びピンプレート180が積層一体化されたソケット90に第1の実施の形態と同様に配設される。但し、プランジャ150がチューブ11に対して摺動して突出量を減じることが可能であるから、ピンブロック110に対しプローブ140のチューブ11は固定される。   The pair of probes 140 is disposed in a socket 90 in which a retainer 170 made of an insulating material, a pin block 110, and a pin plate 180 are laminated and integrated in the same manner as in the first embodiment. However, since the plunger 150 can slide with respect to the tube 11 to reduce the protruding amount, the tube 11 of the probe 140 is fixed to the pin block 110.

この第2の実施の形態の場合も、プランジャ150の先端側本体部152とソケット90側のプランジャ貫通孔101との関係は図5と同様となり、ソケット90にプローブ140を設ける組立時又は交換時におけるプローブ140の誤挿入(左右を反転させた挿入)を未然に防止できる。   Also in the case of the second embodiment, the relationship between the distal end side main body 152 of the plunger 150 and the plunger through-hole 101 on the socket 90 side is the same as that in FIG. Incorrect insertion of the probe 140 (insertion with the left and right reversed) can be prevented in advance.

以上、実施の形態を例に本発明を説明したが、実施の形態の各構成要素や各処理プロセスには請求項に記載の範囲で種々の変形が可能であることは当業者に理解されるところである。以下、変形例について触れる。   The present invention has been described above by taking the embodiment as an example. However, it is understood by those skilled in the art that various modifications can be made to each component and each processing process of the embodiment within the scope of the claims. By the way. Hereinafter, modifications will be described.

対をなすプローブにおけるプランジャ先端側本体部の対向部以外の面形状は適宜変更可能である。例えば、第1の実施の形態では対向部となる曲面が円弧面79、反対側が平面85となっているが、平面の代わりに円弧面79とは曲率が異なる曲面で形成してもよい。   The shape of the surface of the paired probes other than the facing portion of the plunger tip-side main body can be changed as appropriate. For example, in the first embodiment, the curved surface serving as the facing portion is the circular arc surface 79 and the opposite side is the flat surface 85, but instead of the flat surface, it may be formed of a curved surface having a different curvature from the circular arc surface 79.

各実施の形態の説明では、説明の便宜上、ソケットに対して1対のプローブが配設された場合を図示したが、ソケットに対して複数対のプローブが配設されいるのが普通である。   In the description of each embodiment, for the sake of convenience of explanation, the case where a pair of probes is disposed with respect to a socket is illustrated. However, it is common that a plurality of pairs of probes are disposed with respect to a socket.

各実施の形態では、対をなすプローブは同一形状のものを対称配置としたが、電流供給用プローブを大径(例えばチューブ径:0.58mm)、電圧監視用プローブを小径(例えばチューブ径:0.3mm)としてもよい。   In each embodiment, the paired probes are symmetrically arranged with the same shape, but the current supply probe has a large diameter (for example, tube diameter: 0.58 mm) and the voltage monitoring probe has a small diameter (for example, tube diameter: 0.3 mm).

本発明に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具の第1の実施の形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal section showing a 1st embodiment of a mistake insertion prevention type Kelvin inspection jig concerning the present invention. 第1の実施の形態の主要部分の斜視図である。It is a perspective view of the principal part of 1st Embodiment. 第1の実施の形態で用いるプローブの縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the probe used in 1st Embodiment. 前記プローブの要部拡大であって、(A)は縦断面図、(B)は平面図、(C)はプランジャの先端側本体部の部分右側面図である。It is a principal part expansion of the said probe, (A) is a longitudinal cross-sectional view, (B) is a top view, (C) is the partial right view of the front end side main-body part of a plunger. 第1の実施の形態におけるソケット側のプランジャ貫通孔とプランジャ先端側本体部との関係であり、(A)は1対のプランジャ貫通孔に正しく配置されたプランジャ先端側本体部を示す平断面図、(B)はクリアランスの最大値であってもプランジャ先端側本体部が周回しないことを示す平断面図、(C)はクリアランスの最大値であってもプランジャ先端側本体部を反対向きに誤挿入することがないことを示す説明図である。It is a relationship between the plunger through-hole on the socket side and the plunger tip-side main body in the first embodiment, and (A) is a cross-sectional plan view showing the plunger tip-side main body properly disposed in a pair of plunger through-holes. , (B) is a cross-sectional plan view showing that the plunger tip side main body does not circulate even when the clearance is the maximum value, and (C) is an error of the plunger tip side main body in the opposite direction even if the clearance is the maximum value. It is explanatory drawing which shows not inserting. 第1の実施の形態において、ソケット側のプランジャ貫通孔へのプローブ側のプランジャの挿入動作を説明する要部拡大断面図である。In 1st Embodiment, it is a principal part expanded sectional view explaining the insertion operation of the plunger by the side of a probe to the plunger through-hole by the side of a socket. 第1の実施の形態において、被検査電子部品を検査する場合の縦断面図である。In 1st Embodiment, it is a longitudinal cross-sectional view in the case of test | inspecting an electronic component to be inspected. 本発明に係る誤挿入防止型ケルビン検査用治具の第2の実施の形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows 2nd Embodiment of the jig | tool for incorrect insertion prevention type Kelvin inspection which concerns on this invention. 第2の実施の形態で用いるプローブであって、(A)は縦断面図、(B)は平面図、(C)はプランジャの先端側本体部の部分右側面図である。It is a probe used by 2nd Embodiment, (A) is a longitudinal cross-sectional view, (B) is a top view, (C) is the partial right view of the front end side main-body part of a plunger. 従来のケルビン検査用治具の主要部分の斜視図である。It is a perspective view of the principal part of the conventional kelvin inspection jig. 図10のケルビン検査用治具で用いるプローブであって、(A)は縦断面図、(B)はプランジャ先端側本体部の平面図、(C)はプランジャの先端側本体部の部分右側面図である。FIGS. 10A and 10B are probes used in the Kelvin inspection jig of FIG. 10, wherein FIG. 10A is a longitudinal sectional view, FIG. 10B is a plan view of a plunger tip-side body portion, and FIG. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

10,60,140 プローブ
11,61 チューブ
20,70,150 プランジャ
21,151 軸部
22,72,152 先端側本体部
23,73,153 側面
24,74 稜線
25,26,75,76 傾斜面
30,80 当接部材
40,90 ソケット
50,101 プランジャ貫通孔
77 内側挿入部
78 フランジ部
79,159 円弧面
85 平面
200 被検査電子部品
10, 60, 140 Probe 11, 61 Tube 20, 70, 150 Plunger 21, 151 Shaft part 22, 72, 152 Tip side body part 23, 73, 153 Side face 24, 74 Ridge line 25, 26, 75, 76 Inclined face 30 , 80 Contact member 40, 90 Socket 50, 101 Plunger through hole 77 Inner insertion portion 78 Flange portion 79, 159 Arc surface 85 Plane 200 Electronic component to be inspected

Claims (5)

導電性チューブとその一端側に設けられた導電性プランジャとを有する、対をなしたプローブと、
前記対をなしたプローブが平行に設けられていて、前記プランジャの先端側本体部が貫通するプランジャ貫通孔を有する絶縁性ソケットとを備え、
前記対をなしたプローブにおけるプランジャの先端側本体部は、前記チューブの軸方向の中心に対して先端側本体部同士の相互間隔が狭くなる方向に偏心した位置に形成されていて、前記プランジャ貫通孔に対し周回できずかつ180度の反転挿入ができない状態で貫通しており、
前記プランジャ相互の対向部は前記チューブの外周面の延長面に合致する同一曲率の曲面となっており、
前記先端側本体部は前記対向部側からその反対側に向かって突出高さが小さくなる形状である、誤挿入防止型ケルビン検査用治具。
A pair of probes having a conductive tube and a conductive plunger provided at one end thereof;
The paired probes are provided in parallel, and an insulating socket having a plunger through-hole through which the distal-end body portion of the plunger passes,
In the paired probes, the distal end side main body portion of the plunger is formed at a position eccentric with respect to the axial center of the tube in a direction in which the mutual distance between the front end side main body portions becomes narrower, It penetrates in a state where it cannot circulate around the hole and cannot be reversed and inserted 180 degrees,
The opposing portions of the plungers are curved surfaces having the same curvature that matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube,
The misleading prevention type Kelvin inspection jig, wherein the distal end side main body portion has a shape in which a protruding height decreases from the facing portion side toward the opposite side.
請求項1に記載の誤挿入防止型ケルビン検査用治具において、前記プランジャは、前記チューブに挿入固定される内側挿入部と、前記内側挿入部の先端側のフランジ部と、前記フランジ部の先端側の前記先端側本体部とを一体に形成したものであり、前記プランジャ相互の対向部は前記チューブの外周面との間に段差のない曲面となっている、誤挿入防止型ケルビン検査用治具。   2. The erroneous insertion preventing Kelvin inspection jig according to claim 1, wherein the plunger includes an inner insertion portion that is inserted and fixed to the tube, a flange portion on a distal end side of the inner insertion portion, and a distal end of the flange portion. The front-end side main body portion on the side is integrally formed, and the opposing portion of the plunger is a curved surface having no step between the outer peripheral surface of the tube and the erroneous insertion prevention type Kelvin inspection treatment. Ingredients. 請求項1に記載の誤挿入防止型ケルビン検査用治具において、前記プランジャは、前記チューブの内周面に対し摺動自在な内側摺動部と、前記内側摺動部の先端側に軸部を介して設けられた前記先端側本体部とを一体に形成したものであり、前記先端側本体部の対向部が前記チューブの外周面の延長面に合致する同一曲率の曲面となっている、誤挿入防止型ケルビン検査用治具。   2. The erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to claim 1, wherein the plunger includes an inner sliding portion slidable with respect to an inner peripheral surface of the tube, and a shaft portion on a distal end side of the inner sliding portion. The distal end side main body portion provided via is integrally formed, and the facing portion of the distal end side main body portion is a curved surface having the same curvature that matches the extended surface of the outer peripheral surface of the tube. Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig. 請求項1乃至3のいずれかに記載の誤挿入防止型ケルビン検査用治具において、前記先端側本体部は前記軸方向に平行な2平面を有し、前記対向部をなす曲面が前記2平面を連絡している、誤挿入防止型ケルビン検査用治具。   4. The erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to claim 1, wherein the tip-side main body has two planes parallel to the axial direction, and a curved surface forming the facing portion is the two planes. 5. An error insertion prevention type Kelvin inspection jig. 請求項1乃至4のいずれかに記載の誤挿入防止型ケルビン検査用治具において、前記先端側本体部は、前記対向部の反対側の面が、前記対向部の曲面とは曲率の異なる曲面又は平面である、誤挿入防止型ケルビン検査用治具。   5. The erroneous insertion prevention type Kelvin inspection jig according to claim 1, wherein the distal-end-side main body portion has a curved surface having a curvature different from a curved surface of the facing portion on a surface opposite to the facing portion. Or, a flat, jig for inspecting misinsertion type Kelvin.
JP2008204583A 2008-08-07 2008-08-07 Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig Expired - Fee Related JP5131766B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008204583A JP5131766B2 (en) 2008-08-07 2008-08-07 Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008204583A JP5131766B2 (en) 2008-08-07 2008-08-07 Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010038837A JP2010038837A (en) 2010-02-18
JP5131766B2 true JP5131766B2 (en) 2013-01-30

Family

ID=42011537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008204583A Expired - Fee Related JP5131766B2 (en) 2008-08-07 2008-08-07 Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5131766B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101828547B1 (en) 2016-08-25 2018-02-12 한화테크윈 주식회사 Apparatus for testing electronic component
US11280808B2 (en) 2018-06-08 2022-03-22 Enplas Corporation IC socket

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4660616B2 (en) * 2009-08-31 2011-03-30 株式会社東芝 Board inspection equipment
JP2012112709A (en) * 2010-11-22 2012-06-14 Unitechno Inc Kelvin contact probe and kelvin inspection jig having the same
JP5597108B2 (en) * 2010-11-29 2014-10-01 株式会社精研 Contact inspection jig
JP6041565B2 (en) * 2012-07-26 2016-12-07 株式会社ヨコオ Inspection jig
JP2015125971A (en) * 2013-12-27 2015-07-06 株式会社エンプラス Socket for electrical component
JP6760364B2 (en) * 2016-04-15 2020-09-23 オムロン株式会社 Probe pin and electronic device using it
JP6717687B2 (en) * 2016-06-28 2020-07-01 株式会社エンプラス Contact pins and sockets for electrical components
JP6850583B2 (en) * 2016-10-24 2021-03-31 株式会社ヨコオ socket
JP2018173381A (en) * 2017-03-31 2018-11-08 株式会社ヨコオ Kelvin inspection tool
CN108469583B (en) * 2018-05-28 2024-03-22 格力电器(郑州)有限公司 ICT tester
KR102182784B1 (en) * 2019-05-31 2020-11-25 주식회사 오킨스전자 MEMS Kelvin spring pin, and Kelvin test socket using the same
KR102175522B1 (en) * 2019-06-26 2020-11-06 퀄맥스시험기술 주식회사 Apparatus for inspecting electronic components
KR102213594B1 (en) * 2020-05-18 2021-02-08 주식회사 오킨스전자 MEMS Kelvin test socket
CN112083205A (en) * 2020-09-11 2020-12-15 苏州韬盛电子科技有限公司 Kelvin test probe with ultra-high current
JP2023174031A (en) * 2022-05-27 2023-12-07 株式会社ヨコオ Inspection device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101828547B1 (en) 2016-08-25 2018-02-12 한화테크윈 주식회사 Apparatus for testing electronic component
US11280808B2 (en) 2018-06-08 2022-03-22 Enplas Corporation IC socket

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010038837A (en) 2010-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5131766B2 (en) Incorrect insertion prevention type Kelvin inspection jig
JP4988927B2 (en) Spring contact assembly
JP5067790B2 (en) Probe pin and socket using the same
US8324919B2 (en) Scrub inducing compliant electrical contact
US9140722B2 (en) Contact and connector
TW201730566A (en) Probe pin and inspection device using same
JP6442668B2 (en) Probe pin and IC socket
US11187722B2 (en) Probe pin and electronic device using the same
JP6546719B2 (en) Contact inspection device
JP4999079B2 (en) probe
JP2012149927A (en) Contact probe and socket
WO2018180633A1 (en) Kelvin inspection jig
WO2015037696A1 (en) Probe pin and ic socket
CN112219318B (en) IC socket
JP5673366B2 (en) Socket for semiconductor device
TW200907348A (en) A contact insert for a microcircuit test socket
JP2010139344A (en) Contact pin and contact probe
WO2020064611A1 (en) Spring pin connector
WO2011071082A1 (en) Contact probe
JP2013196925A (en) Electric contact and socket for electric component
JP3785401B2 (en) Kelvin spiral contactor
JP2013195282A (en) Contact probe, semiconductor element socket provided with contact probe, and method for manufacturing contact probe
JP6987006B2 (en) Connector terminal shape of electronic control device
JP2013130516A (en) Contact probe and semiconductor element socket provided with the same
JP2005172567A (en) Inspection apparatus for semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110801

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121022

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121031

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121031

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees