JP5128980B2 - 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路 - Google Patents
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Description
実施の形態1の半導体集積回路の設計方法は、順序回路及び複数のセル(論理ゲート)を有する電源遮断対象部を含む半導体集積回路の設計方法であって、上記順序回路は複数のセルの後段に存在することを前提としている。
実施の形態2の半導体集積回路の設計方法は、実施の形態1の設計方法と同様、順序回路及び複数のセル(論理ゲート)を有する電源遮断対象部を含む半導体集積回路の設計方法であって、上記順序回路は複数のセルの後段に存在することを前提としている。
実施の形態3の半導体集積回路の設計方法は、実施の形態1及び実施の形態2の設計方法と同様、順序回路及び複数のセル(論理ゲート)を有する電源遮断対象部を含む半導体集積回路の設計方法であって、上記順序回路は複数のセルの後段に存在することを前提としている。
実施の形態4の半導体集積回路の設計方法は、論理ゲート等の組合せ回路である注目セル及び複数のセルを有する電源遮断対象部を含む半導体集積回路の設計方法であって、上記注目セルは複数のセルの後段に存在することを前提としている。
Claims (8)
- 所定のセル及び前記所定のセルの前段に配置される複数のセルを有する電源遮断対象部を含む半導体集積回路の設計方法であって、
(a) 前記電源遮断対象部において前記所定のセルを終点とする少なくとも一つの信号経路から要電源遮断信号経路を選択し、前記複数のセルにおいて前記要電源遮断信号経路上に存在するセルのうち、前記所定のセルから連続して配置されるセルを電源遮断が必要な要電源遮断セルとして設定するステップと、
(b) 前記要電源遮断セルを外部信号により強制的に電源遮断可能にする遮断用制御回路を設定するステップと、
を備える半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1記載の半導体集積回路の設計方法であって、
前記要電源遮断セルは第1及び第2の要電源遮断セルを含み、
前記ステップ(a) の前記要電源遮断信号経路を選択する処理は、
(a-1) 前記複数のセルのうち電源遮断が必要なセルを前記第1の要電源遮断セルとして認識するステップと、
(a-2) 前記電源遮断対象部において前記第1要電源遮断セルを始点とし前記所定のセルを終点とする信号経路を前記要電源遮断信号経路として選択するステップとを含み、
前記ステップ(a) の前記要電源遮断セルとして設定する処理は、
(a-3) 前記複数のセルのうち、前記要電源遮断信号経路上に存在する前記第1の要遮断セル以外の全てのセルを、前記第2の要電源遮断セルとして設定するステップを含む、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1記載の半導体集積回路の設計方法であって、
前記ステップ(a) の前記要電源遮断信号経路を選択する処理は、
(a-1) 前記電源遮断対象部において前記所定のセルを終点とする少なくとも一つの信号経路のうち高速化の必要性のある信号経路を前記要電源遮断信号経路として選択するステップを含み、
前記ステップ(a) の前記要電源遮断セルとして設定する処理は、
(a-2) 前記要電源遮断信号経路において、前記所定のセルから入力方向に遡り、前記複数のセルのうち前記要電源遮断信号経路上に存在するセルを、所定の高速化要件を満足するまで順次、前記要電源遮断セルとして設定するステップを含む、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項3記載の半導体集積回路の設計方法であって、
(c) 前記ステップ(a) より先に実行され、前記複数のセルを全て電源遮断が不要な仮電源遮断不要セルとして仮設定するステップをさらに備え、
前記ステップ(a-2)は、前記要電源遮断セルを前記仮電源遮断不要セルに置き換えて設定する処理を含む、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項3記載の半導体集積回路の設計方法であって、
(c) 前記ステップ(a) より先に実行され、前記複数のセルを全て電源遮断が必要な仮要電源遮断セルとして仮設定するステップと、
(d) 前記ステップ(a) 後、前記ステップ(b) 前に実行され、前記複数のセルのうち、前記要電源遮断セル以外のセルを、前記仮要電源遮断セルから電源遮断不要セルに置き換えるステップとをさらに備える、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1ないし請求項5のうち、いずれか1項に記載の半導体集積回路の設計方法であって、
前記所定のセルは順序回路を含む、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1ないし請求項5のうち、いずれか1項に記載の半導体集積回路の設計方法であって、
前記所定のセルは組合せ回路を含む、
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1ないし請求項7のうち、いずれか1項に記載の半導体集積回路の設計方法によって設計された半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008038613A JP5128980B2 (ja) | 2008-02-20 | 2008-02-20 | 半導体集積回路の設計方法及び半導体集積回路 |
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JP2009200690A JP2009200690A (ja) | 2009-09-03 |
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Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP5128980B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5774922B2 (ja) | 2011-07-01 | 2015-09-09 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2820006B2 (ja) * | 1993-11-02 | 1998-11-05 | 日本電気株式会社 | スタンバイ電流が小さな半導体集積回路 |
JP3957560B2 (ja) * | 2002-05-23 | 2007-08-15 | 松下電器産業株式会社 | 半導体装置 |
JP3825756B2 (ja) * | 2003-02-17 | 2006-09-27 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路 |
JP4101229B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2008-06-18 | 富士通株式会社 | 半導体集積回路及び制御方法 |
US20090079465A1 (en) * | 2005-04-21 | 2009-03-26 | Toshio Sasaki | Semiconductor integrated circuit |
JP2007318230A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Toshiba Corp | 半導体集積回路 |
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Publication number | Publication date |
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JP2009200690A (ja) | 2009-09-03 |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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