JP5128778B2 - 方位計測装置 - Google Patents
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Description
Xk T=[Ak、Gk、αk、βk、x0(k)、y0(k)] (1)
Xk=Xk-1+ΔXk-1 (2)
ψm(k)=arg(gmx(k)−jgmy(k)) (5)
ψT=ψm(k)+αk (6)
Xk T=[Ak、Az(k)、Gk、αk、βk、γk、
x0(k)、y0(k)] (7)
emag(k)=yk−h(x(k)、ψE(k)、0、0) (11)
r=emag(k) Temag(k) (12)
emag(k)=yk−h(x(k)、ΦE(k)、0、0) (13)
24…方位検出手段 26…補正パラメータ推定手段
28…方位補正・算出手段 30…姿勢検出手段
32…周囲環境検出手段 34…検定手段
38…x−y平面 40…船舶
Claims (4)
- 移動体における地磁気ベクトルを検出する地磁気ベクトル検出手段と、
真北に対する前記移動体の方位を検出する方位検出手段と、
拡張カルマンフィルタから構成され、該拡張カルマンフィルタにおける状態変数ベクトルX k と、前記地磁気ベクトルと、前記方位と、前記地磁気ベクトルに関する補正パラメータとの関係を表す観測方程式を用い、前記拡張カルマンフィルタにより該観測方程式を解くことで前記補正パラメータを推定する補正パラメータ推定手段と、
前記補正パラメータを用いて前記地磁気ベクトルを補正し、補正した前記地磁気ベクトルに基づいて磁北又は前記真北に対する前記移動体の方位を算出する方位補正・算出手段と、
を有し、
前記補正パラメータは、地磁気に関するパラメータである、水平方向の地磁気の強さを表すA k と、偏角を表わすα k と、前記地磁気ベクトルを示す2軸のデータをx−y平面上でプロットしたときに、このプロット図の中心が前記x−y平面の原点からずれた楕円として描かれる場合での該楕円の形状に関するパラメータG k 及びβ k と、前記楕円の中心位置を表わすx 0(k) 及びy 0(k) とである
ことを特徴とする方位計測装置。 - 請求項1記載の方位計測装置において、
前記補正パラメータ推定手段は、次の式
x ms(k) 及びy ms(k) :前記地磁気ベクトル検出手段で検出された地磁気の各軸のデータ、
e msx(k) 及びe msy(k) :前記地磁気ベクトル検出手段の各軸の検出誤差、
e ms(k) =[e msx(k) 、e msy(k) ] T 、
ψ E(k) :前記方位検出手段で検出された方位、
e ψ(k) :前記方位検出手段で検出された方位の検出誤差、
h(x (k) 、ψ E(k) 、e ms(k) 、e ψ(k) ):前記観測方程式を示す関数、
を前記観測方程式として用い、前記補正パラメータを推定する
ことを特徴とする方位計測装置。 - 移動体における地磁気ベクトルを検出する地磁気ベクトル検出手段と、
真北に対する前記移動体の方位と前記移動体のロール及びピッチとを含む前記移動体の姿勢を検出する姿勢検出手段と、
拡張カルマンフィルタから構成され、該拡張カルマンフィルタにおける状態変数ベクトルX k と、前記地磁気ベクトルと、前記姿勢と、前記地磁気ベクトルに関する補正パラメータとの関係を表す観測方程式を用い、前記拡張カルマンフィルタにより該観測方程式を解くことで前記補正パラメータを推定する補正パラメータ推定手段と、
前記補正パラメータ及び前記姿勢を用いて前記地磁気ベクトルを補正し、補正した前記地磁気ベクトルに基づいて磁北又は前記真北に対する前記移動体の方位を算出する方位補正・算出手段と、
を有し、
前記補正パラメータは、地磁気に関するパラメータである、水平方向の地磁気の強さを表すA k と、水平面に対する地磁気の強さの垂直成分A z(k) と、偏角を表わすα k と、前記地磁気ベクトルを示す2軸のデータをx−y平面上でプロットしたときに、このプロット図の中心が前記x−y平面の原点からずれた楕円として描かれる場合での該楕円の形状に関するパラメータG k 、β k 及びγ k と、前記楕円の中心位置を表わすx 0(k) 及びy 0(k) とである
ことを特徴とする方位計測装置。 - 請求項3記載の方位計測装置において、
前記補正パラメータ推定手段は、次の式
x ms(k) 及びy ms(k) :前記地磁気ベクトル検出手段で検出された地磁気の各軸のデータ、
e msx(k) 及びe msy(k) :前記地磁気ベクトル検出手段の各軸の検出誤差、
e ms(k) =[e msx(k) 、e msy(k) ] T 、
ψ E(k) :前記姿勢検出手段で検出された方位、
e ψ(k) :前記姿勢検出手段で検出された方位の検出誤差、
θ E(k) :前記姿勢検出手段で検出されたピッチ、
e θ(k) :前記姿勢検出手段で検出されたピッチの検出誤差、
φ E(k) :前記姿勢検出手段で検出されたロール、
e φ(k) :前記姿勢検出手段で検出されたロールの検出誤差、
Φ E(k) =(ψ E(k) 、θ E(k) 、φ E(k) )、
e Φ(k) =(e ψ(k) 、e θ(k) 、e φ(k) )
T 2D (ψ E(k) +e ψ(k) 、θ E(k) +e θ(k) 、φ E(k) +e φ(k) ):変換行列、
h(x (k) 、Φ E(k) 、e ms(k) 、e Φ(k) ):前記観測方程式を示す関数、
を前記観測方程式として用い、前記補正パラメータを推定する
ことを特徴とする方位計測装置。
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JP2006059712A JP5128778B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 方位計測装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006059712A JP5128778B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 方位計測装置 |
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JP2007240194A JP2007240194A (ja) | 2007-09-20 |
JP5128778B2 true JP5128778B2 (ja) | 2013-01-23 |
Family
ID=38585885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006059712A Active JP5128778B2 (ja) | 2006-03-06 | 2006-03-06 | 方位計測装置 |
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