JP5124332B2 - 放射線検査装置及び校正方法 - Google Patents
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Description
(実施例1)
放射線の利用分野の1つとしてPET,ガンマカメラ,SPECT,X線透視撮影,X線CTなどの画像診断がある。これらの画像診断技術は目的に応じて使い分けられており、たとえばPET装置はがん検診に広く用いられている。
2 コリメータ
3 放射線検出器
4 検出器搭載基板
5 フロントエンドASIC
6 制御用FPGA
7 DAQ
8 制御・表示用PC
9 ADC
10 DCカットコンデンサ
11 接地抵抗
20 フロントエンド回路
21 トリガ統合回路
22 アナログマルチプレクサ
23 低圧側読み出し線
24 高圧側読み出し線
30 トリガ検出回路
31 ADC制御回路
32 制御・パケット生成回路
40 チャージアンプ
41 極性アンプ
42 シェーピングアンプ
43 トリガ回路
44 ピークホールド回路
45 チャージアンプリセット用スイッチ
46 シェーピングアンプリセット用スイッチ
47 ピークホールド回路リセット用スイッチ
Claims (6)
- マトリクス型の放射線検出器を用いて放射線のエネルギーを測定する測定装置を有し、
前記測定装置は、放射線を測定しない場合の出力値をエネルギーの零点として出力させ
るトリガ発生装置を備え、
前記測定装置は、各検出器の前記零点はその点に関与する読み出し線の零点を用い、前記零点を測定する前に、放射線検出器に接続されるフロントエンド回路の一部をリセット状態にし、前記零点とエネルギーの判明した線源からの放射線のエネルギーの測定点からの補間により、校正されることを特徴とする放射線検査装置。 - 零点を決定する際に、チャネルごとのエネルギースペクトルを計算し、そのピークを補
正用の零点とする請求項1記載の放射線検査装置。 - 出力された零点の位置を確認することにより装置の故障を判定する機構を備えた請求項
1の放射線検査装置。 - 放射線のエネルギーを測定する測定装置と、マトリクス型の放射線検出器と、放射線を
測定しない場合の出力値をエネルギーの零点として出力させるトリガ発生装置を備え、前記測定装置は、各検出器の零点をその点に関与する読み出し線の零点を用いて計算し、前記零点を測定する前に、放射線検出器に接続されるフロントエンド回路の一部をリセット状態にし、前記零点とエネルギーの判明した線源による測定点からの補間により、測定値とエネルギーの関係を校正するガンマカメラ装置。 - 請求項1に記載の放射線検査装置は、PET装置であることを特徴とするPET装置。
- マトリクス型の放射線検出器を用いて放射線のエネルギーを測定する測定装置の校正方法において、
前記測定装置は、放射線を測定しない場合の出力値をエネルギーの零点として出力する
ためのトリガを入力し、各検出器の前記零点はその点に関与する読み出し線の零点を用いて計算し、前記零点を測定する前に、放射線検出器に接続されるフロントエンド回路の一部をリセット状態にし、前記零点とエネルギーの判明した線源からの放射線のエネルギー
の測定点からの補間により、校正されることを特徴とする校正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089165A JP5124332B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 放射線検査装置及び校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008089165A JP5124332B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 放射線検査装置及び校正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009243998A JP2009243998A (ja) | 2009-10-22 |
JP5124332B2 true JP5124332B2 (ja) | 2013-01-23 |
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ID=41306072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008089165A Expired - Fee Related JP5124332B2 (ja) | 2008-03-31 | 2008-03-31 | 放射線検査装置及び校正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5124332B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2510891A (en) * | 2013-02-18 | 2014-08-20 | St Microelectronics Res & Dev | Apparatus |
JP6258094B2 (ja) * | 2014-03-24 | 2018-01-10 | 株式会社東芝 | 放射線計測装置、および入出力較正プログラム |
KR101483006B1 (ko) * | 2014-07-28 | 2015-01-15 | 나우 주식회사 | 방사선원 장치 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52104982A (en) * | 1976-02-28 | 1977-09-02 | Horiba Ltd | Method of calibrating energy of semiiconductor for radiation |
JPS5734472A (en) * | 1980-08-08 | 1982-02-24 | Mitsubishi Electric Corp | Measuring device for radiation |
US5689116A (en) * | 1996-06-05 | 1997-11-18 | General Electric Company | Systems and methods for calibrating a gamma camera |
GB2318411B (en) * | 1996-10-15 | 1999-03-10 | Simage Oy | Imaging device for imaging radiation |
JP4670704B2 (ja) * | 2006-03-31 | 2011-04-13 | 株式会社日立製作所 | エネルギー較正方法,エネルギー関心領域の設定方法、放射線検出装置及び核医学診断装置 |
US7968849B2 (en) * | 2006-08-08 | 2011-06-28 | Shimadzu Corporation | Positron CT apparatus |
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2008
- 2008-03-31 JP JP2008089165A patent/JP5124332B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2009243998A (ja) | 2009-10-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091118 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110928 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R151 | Written notification of patent or utility model registration |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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