JP6074337B2 - 放射線検出装置、及びそれを用いた放射線検査装置及び放射線撮像装置 - Google Patents
放射線検出装置、及びそれを用いた放射線検査装置及び放射線撮像装置 Download PDFInfo
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Description
11A,11B カメラ
12,120 制御部
13 表示装置
14 ベッド
15 被験者
21 検出器
23 検出基板
24 計測基板
25 アナログフロントエンド回路
26 コリメータ
27 データ収集回路
32A,32B 高圧電源
33A,33B 高圧スイッチ
34 高圧電源線
35 チャージアンプ
36 シェービングアンプ
37 マルチプレクサ
38 A/D変換機
39 温度検出器
41A、41B バイアス電圧用スイッチ
42 入力スイッチ
Claims (10)
- 放射線を検出する複数の半導体放射線検出器と、
前記半導体放射線検出器にバイアス電圧を印加する電源と、
前記電源から前記半導体放射線検出器に印加されるバイアス電圧の方向を順方向と逆方向とで切り換える印加方向切換機構と、
放射線の検出を行う検出処理の実施時には前記半導体放射線検出器に順方向のバイアス電圧のみを印加し、検出処理時以外には少なくとも逆方向のバイアス電圧の印加を伴う特性回復処理を実施するように前記印加方向切換機構を制御する制御部と、
前記半導体放射線検出器に順方向および逆方向のバイアス電圧を印加した時間をそれぞれ測定する電圧印加時間測定部とを備え、
前記制御部は、前記電圧印加時間測定部による測定結果に基づいて前記特性回復処理における逆方向のバイアス電圧の印加時間を制御することを特徴とする放射線検出装置。 - 放射線を検出する複数の半導体放射線検出器と、
前記半導体放射線検出器にバイアス電圧を印加する電源と、
前記電源から前記半導体放射線検出器に印加されるバイアス電圧の方向を順方向と逆方向とで切り換える印加方向切換機構と、
放射線の検出を行う検出処理の実施時において、前記半導体放射線検出器に順方向のバイアス電圧と逆方向のバイアス電圧とを一定周期で交互に印加するように前記印加方向切換機構を制御する制御部と
を備えたことを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項1記載の放射線検出装置において、
前記半導体放射線検出器の周辺温度を検出する温度検出器をさらに備え、
前記制御部は、前記電圧印加時間測定部により測定された前記半導体放射線検出器への順方向のバイアス電圧の印加時間と前記温度検出器の検出結果とに基づいて、前記特性回復処理で前記半導体放射線検出器に逆方向のバイアス電圧を印加する時間を制御することを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項3記載の放射線検出装置において、
前記制御部は、放射線の検出を行う検出処理の実施時には前記半導体放射線検出器に順方向のバイアス電圧のみを印加し、検出処理時以外には少なくとも逆方向のバイアス電圧の印加を伴う特性回復処理を実施し、検出処理時以外かつ特性回復処理以外の場合には順方向のバイアス電圧と逆方向のバイアス電圧を交互に印加するように前記印加方向切換機構を制御することを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項1〜4の何れか1項記載の放射線検出装置において、
前記半導体放射線検出器は、臭化タリウム結晶により形成されたことを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項1〜4の何れか1項記載の放射線検出装置において、
前記複数の半導体放射線検出器のそれぞれについて特性の劣化状態を判定する劣化状態判定機構と、
前記複数の半導体放射線検出器のそれぞれに対して異なる電圧を印加する印加電圧切換機構とを備え、
前記制御部は、前記劣化状態判定機構からの判定結果に基づいて、前記印加方向切換機構および前記印加電圧切換機構を制御することを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項6記載の放射線検出装置において、
前記劣化状態判定機構は、前記半導体放射線検出器のリーク電流を検出するリーク電流検出器を有し、該リーク電流に基づいて前記半導体放射線検出器の特性の劣化状態を判定することを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項6記載の放射線検出装置において、
前記劣化状態判定機構は、前記半導体放射線検出器のリーク電流を検出するリーク電流検出器を有し、前記半導体放射線検出器の順方向のリーク電流と逆方向のリーク電流との差分に基づいて前記半導体放射線検出器の特性の劣化状態を判定することを特徴とする放射線検出装置。 - 請求項1に記載の放射線検出装置を備えた放射線検査装置。
- 請求項1に記載の放射線検出装置を備えた放射線撮像装置。
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