JP5115040B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents
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Description
図7および図8に従来の光ピックアップ100の構成を示す。
ックアップを備えた光ディスク読み取り装置において、前記光学素子は四辺形形状であり、前記光学素子の位相差光軸は前記四辺形の対角線に略平行であり、前記筐体と前記光学素子とが前記光学素子の位相差光軸方向の対角部の2箇所で接着固定されたものである。
ここで、光学的異方性を有した樹脂材料とは、例えばポリカーボネイト、シクロオレフィレンポリマーなどの材料からなるフィルム状の板であり、複屈折性などの光学特性を有し、その厚みや位相差光軸の方向を変化させることでフィルムを透過する光の偏光状態や位相を調整することができる。これらの光学特性を利用して、光ディスク読み取り装置や液晶ディスプレイの光学補償用として用いられるものである。
また、位相差光軸とは光学素子材料の繊維方向に沿ったベクトルにおいて、光学素子材料の重心を通るベクトルで代表した軸である。
そして、位相差光軸方向の対角部とは、本発明の実施例の場合、図3(b)のような平行四辺形形状を有した光学素子の4つの角部の内、位相差光軸に近い角部である鋭角部2箇所のことである。
板を透過して円偏光に変換され、DVDやCD等の光ディスクに対する記録再生精度を向上させることができるものである。
回折格子23は、読取用及びサーボ用となる0次光及び±1次光の回折光を生成するようになっている。ハーフプレート24は、半導体レーザ21側から入射するレーザ光を反射させて光路を90度折り曲げるとともに、光ディスクDで反射するレーザ光を透過させ受光光学系の光路を投光光学系の光路から分離させるようになっている。AS補正板28は、トラッキング方向及びフォーカス方向での良好なサーボ制御を行うために、ハーフプレート24で発生する非点収差の角度を補正するものであり、本実施形態では、非点収差の方向が受光素子29の受光面に設けた分割線に対して45度ずれた角度となるように、光軸に対して60度回転させている。なお、このAS補正番27は、この厚さ及びこれに入射するレーザ光の入射角と、発生する非点収差(AS)の角度とについて一定の関係があり、この関係式を利用して光路に対して60度回転させてあるが、この関係式については説明を省略する。受光素子29には、光電変換素子として、例えばPINフォトダイオードなどを用いている。
は別の筐体が用意されている。すなわち、LDブロック20に半導体レーザ21と1/4波長板22を接着固定し、半導体レーザ21のレーザ光軸位置を調整した後に、LDブロック20をオプトベース2に接着剤41、及び接着剤42で固定する構造になっている。
さらに、この段落ち面20Cに1/4波長板を取り付けて、1/4波長板22を接着剤で固定するよう紙面の奥に向かって半球状に窪んだ接着だまり20Hを設けて、この位置で固着できるような形状としている。
対して強い方向に伸縮力を集中でき、光学素子の歪みやねじれなどの物理的な変形を抑制し、光学特性の劣化を低減することができる。
RMS値=[{ΣH(ρ,θ)2/N}−{ΣH(ρ,θ)/N}2]1/2・・・(数式1)
但し、H(ρ,θ);形状関数、ρ,θ;極座標、N;データ数である。
χas i,j=1/m Σ{−10log10Xas 2 i,j,k}・・・(数式2)
k=1
但し、Xas:因子iの内、水準jで作製したサンプルk(k=1,・・・m)の非点収差、m:因子iの内、水準jで作製したサンプル数である。なお、コマ収差、球面収差、RMS値に関する工程平均も同様に算出できる。
する工程平均、rはRMS値に関する工程平均である。
以上を踏まえ決定した接着仕様を基に作製したサンプルを用いて、各種信頼性試験を実施した。図6にこれら各種信頼性試験における1/4波長板の光学収差の変動を示す。
ここで、各種信頼性試験とは、特に温度変化の激しい車載用の電子機器に搭載することを想定して行われる試験であり、熱衝撃サイクル試験、高温高湿放置試験、高温放置試験、低温放置試験の4種類であり、それぞれ、熱衝撃サイクル試験は、設置場所の温度を−40℃で30分放置した後に+85℃まで温度を急激上昇させ、そのまま30分放置し、更に急激に温度を−40℃まで降下させる耐環境試験であり、この過程を1サイクルと定義して、1000サイクル実施した。高温高湿放置試験は、設置場所の温度+60℃、湿度90%の環境下で放置する耐環境試験を1000時間実施した。高温放置試験は、設置場所の温度+85℃の環境下で放置する耐環境試験を1000時間実施した。低温放置試験は、設置場所の温度−40℃の環境下で放置する耐環境試験を1000時間実施したものである。
図6において、(A)は熱衝撃サイクル試験の結果、(B)は高温高湿放置試験結果、
(C)は高温放置試験の結果、(D)は低温放置試験の結果をそれぞれ示している。
以上のとおり、光学素子を筐体に接着固定する場合において、光学素子を四辺形形状とし、この光学素子の位相差光軸を前記四辺形の対角線に略平行であり、前記筐体と前記光学素子とが前記光学素子の位相差光軸方向の対角部の2箇所で接着固定するの構成としたことにより、前記光学素子を前記筐体に接着固定する際、接着剤の接着力によって前記光学素子に発生する伸縮力が前記光学素子の位相差光軸方向、即ち繊維方向に沿って発生する。即ち、負荷に強い方向に伸縮力を集中できるため、光学素子の歪みやねじれなどの物理的な変形を抑制し、光学特性の劣化を低減できる。
2 オプトベース
2A オプトベースにおけるLDブロック取付面
3 対物レンズアクチュエータ
20 LDブロック(半導体レーザブロック)
20A LDブロックにおけるオプトベース取付面
20C LDブロックにおける1/4波長板取付面(段落ち面)
20F LDブロックにおける1/4波長板取付面を囲う壁上面
20G LDブロックにおける1/4波長板取付面を囲う壁上面
20H LDブロックにおける1/4波長板取付のための接着だまり
21 半導体レーザ(光源)
21A 半導体レーザの上面
21B 半導体レーザにおけるレーザ出射面
22 1/4波長板
22A 1/4波長板の位相差光軸(繊維方向)
23 回折格子
24 ハーフプレートミラー(光束分離手段)
25 コリメートレンズ
26 立ち上げミラー
27 反射ミラー
28 AS補正板
29 受光素子
31 対物レンズ
41 LDブロックとオプトベースを固定する接着剤1
42 LDブロックとオプトベースを固定する接着剤2
43 1/4波長板とLDブロックを固定する接着剤
Claims (1)
- 光学的異方性を有した樹脂材料からなる光学素子を筐体に接着固定した光ピックアップ装置において、前記光学素子は光学的位相差を有した平行四辺形形状であり、前記筐体と前記光学素子とが前記光学素子の位相差光軸に近い2つの鋭角である対角の2箇所で接着固定された光ピックアップ装置。
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JP2007152313A JP5115040B2 (ja) | 2007-06-08 | 2007-06-08 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007152313A JP5115040B2 (ja) | 2007-06-08 | 2007-06-08 | 光ピックアップ装置 |
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