JP5113414B2 - 表面被覆切削工具 - Google Patents
表面被覆切削工具 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5113414B2 JP5113414B2 JP2007098736A JP2007098736A JP5113414B2 JP 5113414 B2 JP5113414 B2 JP 5113414B2 JP 2007098736 A JP2007098736 A JP 2007098736A JP 2007098736 A JP2007098736 A JP 2007098736A JP 5113414 B2 JP5113414 B2 JP 5113414B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rare gas
- gas element
- concentration
- containing layer
- side region
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 title claims description 87
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 212
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 88
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 88
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 75
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 75
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 73
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 53
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 32
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 claims description 32
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 20
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 15
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 14
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 8
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 26
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 21
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 11
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 11
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 150000002500 ions Chemical group 0.000 description 6
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 6
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011195 cermet Substances 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 3
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 3
- MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N nitrogen oxide Inorganic materials O=[N] MWUXSHHQAYIFBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 3
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- -1 etc.) Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 2
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017109 AlON Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 description 1
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000997 High-speed steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010037 TiAlN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010060 TiBN Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010282 TiON Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008482 TiSiN Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004833 X-ray photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- XJVBHCCEUWWHMI-UHFFFAOYSA-N argon(.1+) Chemical compound [Ar+] XJVBHCCEUWWHMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- QRXWMOHMRWLFEY-UHFFFAOYSA-N isoniazide Chemical compound NNC(=O)C1=CC=NC=C1 QRXWMOHMRWLFEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- 150000001247 metal acetylides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 229910052704 radon Inorganic materials 0.000 description 1
- SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N radon atom Chemical compound [Rn] SYUHGPGVQRZVTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N trimethyl(1,1,2,2,2-pentafluoroethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C(F)(F)C(F)(F)F MTPVUVINMAGMJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Drilling Tools (AREA)
- Cutting Tools, Boring Holders, And Turrets (AREA)
Description
<表面被覆切削工具>
本発明の表面被覆切削工具は、基材と、該基材上に形成された被膜とを備えるものである。このような構成を有する本発明の表面被覆切削工具は、ドリル、エンドミル、フライス加工用または旋削加工用刃先交換型切削チップ、メタルソー、歯切工具、リーマ、タップ、またはクランクシャフトのピンミーリング加工用チップ等として極めて有用に用いることができる。特に、Ti合金加工用のドリル、エンドミル、切削チップ等に有効である。
本発明の表面被覆切削工具の基材としては、このような切削工具の基材として知られる従来公知のものを特に限定なく使用することができる。たとえば、超硬合金(たとえばWC基超硬合金、WCの他、Coを含み、あるいはさらにTi、Ta、Nb等の炭窒化物等を添加したものも含む)、サーメット(TiC、TiN、TiCN等を主成分とするもの)、高速度鋼、セラミックス(炭化チタン、炭化硅素、窒化硅素、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、およびこれらの混合体など)、立方晶型窒化硼素焼結体、ダイヤモンド焼結体等をこのような基材の例として挙げることができる。このような基材として超硬合金を使用する場合、そのような超硬合金は、組織中に遊離炭素やη相と呼ばれる異常相を含んでいても本発明の効果は示される。
本発明の表面被覆切削工具の上記基材上に形成される被膜は、1以上の層が積層されて形成されるものである。そして、それらの層のうち少なくとも1の層は、希ガス元素を含む希ガス元素含有層である。本発明の被膜は、この希ガス元素含有層を含む限り、さらに他の層を含んでいても差し支えない。なお、本発明の被膜は、基材上の全面を被覆するもののみに限られるものではなく、部分的に被膜が形成されていない態様をも含む。
本発明の希ガス元素含有層は、少なくとも希ガス元素を含むものである。ここで、希ガス元素とはヘリウム(He)、ネオン(Ne)、アルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、キセノン(Xe)、ラドン(Rn)の6元素の総称であり、本発明の希ガス元素含有層は、これら6元素のうち1種もしくは2種以上を含むことができる。なお、希ガス元素が2種以上含まれる場合、各希ガス元素間の配合割合は特に限定されない。
本発明の希ガス元素含有層は、上記の通り希ガス元素を含むものであるが、希ガス元素のみにより構成されるものではなく必ず希ガス元素以外の成分を含むものである。すなわち、本発明の希ガス元素含有層は、希ガス元素以外に周期律表のIVa族元素(Ti、Zr、Hf等)、Va族元素(V、Nb、Ta等)、VIa族元素(Cr、Mo、W等)、Al、B、およびSiからなる群から選ばれる少なくとも1種の元素を含むことが好ましく、周期律表のIVa族元素、Va族元素、VIa族元素、Al、B、およびSiからなる群から選ばれる少なくとも1種の元素と、炭素、窒素、および酸素からなる群から選ばれる少なくとも1種の元素とを含む化合物を含むことが好ましい。
本発明の被膜は、上記の希ガス元素含有層のみを含むものとすることができる一方、希ガス元素含有層とともに他の層を含むこともできる。このような他の層は、潤滑性や耐酸化性等の特性を備えていることが好ましい。
本発明の表面被覆切削工具の製造方法としては、上記の基材上に被膜の各層を物理蒸着法または化学蒸着法により形成する方法が挙げられる。しかし、被膜形成後において刃先形状をシャープにできること、および被膜の形成(成膜)を比較的低温で行なえるため高温では材料特性が劣化する可能性のあるサーメット等のような基材に対しても被覆することが可能であることなどの理由から、被膜各層は物理蒸着法により形成することが特に好ましい。
まず、基材として、後述の各試験毎に異なった基材を準備し、これを洗浄した後、スパッタリング装置(成膜装置)内の基板取り付け位置にセットした。
被膜を形成する基材としては、JIS規格P30の超硬合金製の試験片(縦12.7mm×横12.7mm×厚み3.18mm)を用いた。上記のようにして被膜を形成したこの試験片を高温炉中において1000℃で1時間加熱した。その後、該試験片を高温炉から取り出し自然冷却した。
被膜を形成する基材としては、素材がJIS規格P30の超硬合金であり、形状がJIS規格CNMG120408である切削チップを用いた。そして、この切削チップの表面に上記のようにして被膜を形成した。
被削材:SCM435
切削速度:400m/min
切込み:2.0mm
送り:0.4mm/rev.
乾式/湿式:湿式
切削長さ:3500m
<切削試験2>
上記の切削試験1と同様、被膜を形成する基材としては、素材がJIS規格P30の超硬合金であり、形状がJIS規格CNMG120408である切削チップを用いた。そして、この切削チップの表面に上記のようにして被膜を形成した。
被削材:SCM435(4溝)
切削速度:400m/min
切込み:1.5mm
送り:0.3mm/rev.
乾式/湿式:湿式
切削長さ:3500m
<切削試験3>
被膜を形成する基材としては、素材がJIS規格P30−543のサーメットであり、形状がJIS規格CNMG120408である切削チップを用いた。そして、この切削チップの表面に上記のようにして被膜を形成した。
被削材:SCM435
切削速度:200m/min
切込み:1.5mm
送り:0.15mm/rev.
乾式/湿式:湿式
切削長さ:2000m
<切削試験4>
被膜を形成する基材としては、素材がJIS規格K10の超硬合金である、外径8mmの6枚刃エンドミルを用いた。そして、このエンドミルの表面に上記のようにして被膜を形成した。
被削材:SKD11(HRC60)
切削速度:400m/min
切込み:Ad=12mm、Rd=0.2mm
送り:0.03mm/rev.
乾式/湿式:乾式(エアーブロー使用)
Claims (10)
- 基材と該基材上に形成された被膜とを備える表面被覆切削工具であって、
前記被膜は、1以上の層を含み、
前記層のうち少なくとも1の層は、希ガス元素を含む希ガス元素含有層であり、
前記希ガス元素含有層は、該層の厚み方向において希ガス元素の濃度分布を有しており、被膜表面側領域における金属元素成分の総数に対する希ガス元素濃度Aと基材側領域における金属元素成分の総数に対する希ガス元素濃度Bの比B/Aが0以上0.1以下であり、
前記希ガス元素含有層は、TiとAlとを少なくとも含み、前記被膜表面側領域における金属元素成分の総数に占めるTi元素濃度が前記基材側領域における金属元素成分の総数に占めるTi元素濃度より高く、かつ前記基材側領域における金属元素成分の総数に占めるAl元素濃度が前記被膜表面側領域における金属元素成分の総数に占めるAl元素濃度より高いことを特徴とする表面被覆切削工具。 - 前記基材側領域は、前記希ガス元素含有層において基材側に位置する界面から10nmの厚みを有する領域であり、前記被膜表面側領域は、前記希ガス元素含有層において被膜表面側に位置する界面から10nmの厚みを有する領域であることを特徴とする請求項1記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素含有層は、前記基材上に直接接して形成されていることを特徴とする請求項1または2記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素の濃度分布は、金属元素成分の総数に対する希ガス元素濃度が前記希ガス元素含有層の厚み方向において段階的に変化することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素の濃度分布は、金属元素成分の総数に対する希ガス元素濃度が前記希ガス元素含有層の厚み方向において連続的に変化することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素含有層の厚みは、前記被膜全体の厚みの10%以上100%以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記基材側領域における希ガス元素濃度は、同領域の金属元素成分の総数に対して0原子%以上0.9原子%以下であることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素含有層は、周期律表のIVa族元素、Va族元素、VIa族元素、Al、B、およびSiからなる群から選ばれる少なくとも1種の元素を含むことを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素含有層は、周期律表のIVa族元素、Va族元素、VIa族元素、Al、B、およびSiからなる群から選ばれる少なくとも1種の元素と、炭素、窒素、および酸素からなる群から選ばれる少なくとも1種の元素とを含む化合物を含むことを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
- 前記希ガス元素含有層は、前記被膜表面側領域においてTiを含み、前記基材側領域においてAl、CrまたはSiのいずれかを含むことを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の表面被覆切削工具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007098736A JP5113414B2 (ja) | 2007-04-04 | 2007-04-04 | 表面被覆切削工具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007098736A JP5113414B2 (ja) | 2007-04-04 | 2007-04-04 | 表面被覆切削工具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008254116A JP2008254116A (ja) | 2008-10-23 |
| JP5113414B2 true JP5113414B2 (ja) | 2013-01-09 |
Family
ID=39978223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007098736A Expired - Fee Related JP5113414B2 (ja) | 2007-04-04 | 2007-04-04 | 表面被覆切削工具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5113414B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101344170B1 (ko) | 2009-12-17 | 2013-12-20 | 스미토모덴키고교가부시키가이샤 | 피복 회전 툴 |
| JP6510771B2 (ja) * | 2013-06-26 | 2019-05-08 | 日立金属株式会社 | チタン又はチタン合金のミーリング加工用の被覆切削工具及びその製造方法 |
| CN116904950B (zh) * | 2023-08-02 | 2025-11-07 | 北京海盈清能源科技有限公司 | 一种Cr基阻氢复合涂层、Cr基阻氢板及其制备方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2892240B2 (ja) * | 1992-12-08 | 1999-05-17 | 京セラ株式会社 | ガラス成形用型およびその製造方法 |
| JPH08296064A (ja) * | 1995-04-24 | 1996-11-12 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 耐酸化性・耐摩耗性被膜付き物品 |
| JP2006299422A (ja) * | 2004-10-26 | 2006-11-02 | Kyocera Corp | 表面被覆体の製造方法 |
-
2007
- 2007-04-04 JP JP2007098736A patent/JP5113414B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2008254116A (ja) | 2008-10-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5382581B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP5061394B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP5382580B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP7067689B2 (ja) | 表面被覆切削工具及びその製造方法 | |
| JP7544294B1 (ja) | 切削工具 | |
| WO2011077929A1 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP6984108B2 (ja) | 表面被覆切削工具及びその製造方法 | |
| JP5315526B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP5113414B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP4970886B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP7537631B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7537630B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP5417650B2 (ja) | 表面被覆切削工具 | |
| JP7708332B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7708333B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7704312B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7704313B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7816642B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7652342B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7537627B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7537628B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7816639B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7816641B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7652343B1 (ja) | 切削工具 | |
| JP7757889B2 (ja) | 切削工具 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091020 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120217 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120228 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120316 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120925 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121012 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151019 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5113414 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |
