JP5110804B2 - Ledの製造方法 - Google Patents

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本願発明は、銀めっきされた反射部を有するLEDの製造方法に関する。
LED(発光ダイオード)は、白熱電球や蛍光灯に代わる光源として市場が急成長しており、パネルや、車のテールランプ、信号、携帯電話等のポータブル機器におけるバックライトなどに用いられている。今後は、車のヘッドライト、液晶ディスプレイのバックライト、照明などへの需要が大幅に伸びることが予想され、高輝度化が望まれている。
ここで、LEDの基本的な構造としては、セラミックス、ガラス、アルミニウム合金等の基材上に、電極を介してLED発光素子が配するものである。この発光素子の周辺には、発光した光を有効に活用するために、反射部が形成された構造が用いられている。この反射部については、以下のような特許文献が示されている。
特許文献1には、反射部として、光沢度及び反射率が高い銀やアルミニウムを蒸着させたLEDが開示されている。また、特許文献2によると、反射部に金めっきを行った場合について、青色、青緑色、又は緑色の光について発光出力が低下する欠点が指摘されており、これに対して銀めっきを行った場合、前記の色も反射されて発光出力が低下しないと示されている。
特開2005−56941号公報 特開平9−293904号公報
上述したように、銀は光沢度及び反射率が高いため、LEDの反射部として用いるのに好適である。しかし、その一方、反射部の銀めっきの下地には、銀以外の金属、金属酸化物、又は硫黄化合物などが含まれることがあり、銀の活性が非常に高いことから、前記した銀以外の物質が銀めっき中に拡散しやすいという問題を有していた。そして、反射部形成の際やLEDとしての使用時に与えられる熱履歴、又は経時変化により前記物質の拡散が促進され、銀めっき表面に拡散物質が出現しやすい傾向があった。そのため、基材に直接銀めっきを行うと、めっき表面への拡散物質の出現が起こりやすくなり、光沢度が低下して高い反射率が安定して維持できない場合があった。
また、LEDの反射部を形成する基材は表面が荒れている場合があり、このような平滑でない基材表面上に直接銀めっきを行うと、銀めっきの表面も平滑性が保ちにくくなり、銀めっきの高い反射率を実現できないものとなってしまう。このため、基材表面の性状によらず銀めっきを平滑に形成するため、下地として光沢性のニッケルNiめっきを行う方法が用いられることがある。しかし、この光沢性のNiめっきを行うに際して、有機系光沢剤が含まれるNiめっきを用いる場合には、Niめっき上の銀めっき中に有機系光沢剤が拡散する問題が発生することがあった。
そこで、本願発明は、銀めっきされたLEDの反射部において、銀以外の金属、金属酸化物、又は硫黄化合物による拡散を防止し、光沢度の低下を抑制して、高い反射率を安定して維持できるLEDの製造方法を提供する。また、銀めっきの下地に光沢性のNiめっきを行った場合についても、Niめっきに含有している有機系光沢剤等の拡散を防止して、高い反射率を安定して維持できるLEDの製造方法の提供を目的とする。
上記課題解決のため、本願発明は、LED発光素子と発光した光を反射して集光する銀めっきされた反射部とを備えるLEDの製造方法において、銀めっきを行う前に、予め拡散防止金属めっきを行うことを特徴とした。
拡散防止金属めっきを行った場合、銀めっき中における銀以外の金属、金属酸化物あるいは硫黄化合物の拡散が防止され、熱履歴や経時変化によっても銀めっき表面の光沢度が低下せず、異物の発生が確認されなかった。ここで、拡散防止金属とは、パラジウムPd、ロジウムRh、白金Pt、ルテニウムRu、イリジウムIrのいずれか、又はPd−Co(コバルト)やPd−Ni、Pt−Co、Rh−Ru等の合金である。
また、拡散防止金属めっきの下地としてNiめっきを行うことも好ましい。銀めっきの下地として光沢性のNiめっきを行った場合であっても、Niめっき上に拡散防止金属めっきを行うことにより、Niめっき中に含有している有機系光沢剤等が銀めっき中へ拡散することを防止できるからである。尚、光沢性のNiめっきを行うことで表面の平滑性を保つことができるため、高い反射率を実現するために有効な方法となる。
また、拡散防止金属はパラジウムであることが望ましい。本発明者らの研究により、パラジウムを用いた場合には、特に熱処理前後の光沢度の低下が抑制され、外観も熱処理前後での変色等が少ないことが判明したからである。
拡散防止金属めっきを行う厚みは0.001〜1.0μmであることが好ましい。0.001μm未満では拡散防止機能が発揮できず、1.0μmより厚くした場合でも、拡散防止機能をさらに向上できるものではなく、高コストとなり実用的でないからである。また、Agめっきの厚みについては0.01〜50.0μmの範囲であることが望ましい。0.01μm未満では高い反射率が実現されず、50.0μmを超えても反射率は向上しないため、高コストとなり実用性がないからである。そして、拡散防止金属めっきの下地としてNiめっきを行う際の膜厚は1.0〜15.0μmであることが望ましい。1.0μm未満では充分に表面を平滑とするのが困難な傾向となり、15.0μmを超える厚みとしても平滑性をさらに向上できるものではなく、実用性がないからである。
以上で説明したように、本願発明によれば、反射部形成の際やLEDとしての使用時に与えられる熱履歴、又は経時変化による銀めっき表面の光沢度の低下を抑制し、高い反射率を安定して維持できるLEDとすることができる。従って、LEDの反射部としての集光効果に優れ、LEDの高輝度化を図ることができる。また、銀めっきの下地として光沢性のNiめっきを行う場合でも、Niめっきに含有している有機系光沢剤等の拡散を防ぐことが可能となるため、LEDの反射部に用いる基材表面の性状によらず、銀めっき表面の平滑性を付与して高い反射率を実現することができる。
以下に、本願発明の好ましい実施形態について説明する。
実施例1では、拡散防止金属としてPdを用いた場合について説明する。まず、LEDの反射部を形成する対象として、予めタングステンWペーストが表面に塗布された基材に、3〜4μmのNiめっきを行った。そして、このNiめっき上に0.05μmのPdストライクめっきをし、さらに3.5μmのAgめっきを行った。各めっき処理の具体的な条件を、以下に示す。
Niめっき:Ni濃度75g/Lのめっき液(ワット浴タイプのNiめっき液(有機系光沢剤を含有)、レクトロニックSD:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH3.0、操作温度55℃、電流密度3A/dmの条件で、6.5minめっき処理を行った。
Pdめっき:Pd濃度0.5g/Lのめっき液(弱アルカリタイプのPdストライクめっき液、パラデックスストライクII:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、弱アルカリ条件下、操作温度35〜45℃、電流密度6A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。
Agめっき:Ag濃度60g/Lのめっき液(シアン系アルカリ性銀めっき液、シルブレックス5:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH8.0〜9.5、操作温度60℃、電流密度1A/dmの条件で、11.5minめっき処理を行った。
以上のようにして得られた反射部について、350℃、10minの熱処理を行い、以下の方法により、熱処理前後での光沢度及び外観変化を観察した。
光沢度の測定:デンシトメータ(ND−11、日本電色工業株式会社製)により、反射部表面の光沢度を5回測定し、この平均値を算出した。結果については、以下の表に示す。
外観変化の観察:熱処理前後の銀めっき表面の状態について、金属顕微鏡による観察を行った。また、目視により表面全体の変色等についても確認を行った。この結果を図1に示す。
拡散防止金属としてRhを用いた以外は、実施例1と同様の方法で行った。Rhめっき処理は、Rh濃度1.5g/Lのめっき液(弱酸性タイプ、スーパーホワイト:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH1.0、操作温度55℃、電流密度2A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。
拡散防止金属としてPtを用いた以外は、実施例1と同様の方法で行った。Ptめっき処理は、Pt濃度20g/Lのめっき液(アルカリ性タイプ、プラチナート100:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH13.8、操作温度90℃、電流密度2.5A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。
拡散防止金属としてRuを用いた以外は、実施例1と同様の方法で行った。Ruめっき処理は、Ru濃度10g/Lのめっき液(酸性タイプ、ルテネックス:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH1.3、操作温度65℃、電流密度1.0A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。
拡散防止金属としてIrを用いた以外は、実施例1と同様の方法で行った。Irめっき処理は、Ir濃度10g/Lのめっき液(酸性タイプ、イリデックス200:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH5.0、操作温度85℃、電流密度0.15A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。実施例2〜実施例5により得られた反射部については、光沢度の測定結果を以下の表に示す。
比較例1:拡散防止金属の代わりに金Auをめっきした以外は、実施例1と同様の方法で行った。Auめっきは、Au濃度1g/Lのめっき液(中性シアンAuめっき液、ポストフラッシュ100:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH5.5〜7.5、操作温度50℃、電流密度0.05A/dmの条件で、30secめっき処理を行った。以上の方法により得られた反射部について、光沢度の測定結果を以下の表に示し、外観変化の観察結果を図2に示した。
比較例2:拡散防止金属の代わりに銅Cuをめっきした以外は、実施例1と同様の方法で行った。Cuめっきは、Cu濃度14.5g/Lのめっき液(アルカリ性シアンタイプ、Cuストライク:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH10.8、操作温度50℃、電流密度3A/dmの条件で、20secめっき処理を行った。以上の方法により得られた反射部について、光沢度の測定結果を以下の表に示し、外観変化の観察結果を図3に示した。
比較例3:拡散防止金属の代わりにAgをめっきした以外は、実施例1と同様の方法で行った。Agめっきは、Ag濃度1.0g/Lのめっき液(アルカリシアンAgめっき液、Agストライク:日本エレクトロプレイテイング・エンジニヤース株式会社製)を準備し、pH13.0、操作温度25℃、電流密度2A/dmの条件で、20secめっき処理を行った。以上の方法により得られた反射部について、光沢度の測定結果を以下の表に示し、外観変化の観察結果を図4に示した。
表より、LEDの反射部に銀めっきを行う前に、拡散防止金属としてPdをめっきした実施例1は、熱処理前後で光沢度の低下がほとんど見られなかった。また、Rh、Pt、Ru、Irを拡散防止金属に用いた実施例2〜5についても、ほとんど光沢度が低下しないことが確認された。一方、Au、Cu、Agを銀めっきの下地としてめっきした比較例1〜3では、熱処理後に光沢度が1.00以下まで低下してしまうことが分かった。
また、実施例1の熱処理前後の外観変化については、図1に示されるように、熱処理後においてもひび割れや粒状物質等が観察されなかった。尚、図1については肉眼で観察した場合でも、表面の変色等が観察されなかった。従って、拡散防止金属としてPdによるめっきを行った場合は、充分な耐熱性があり、光沢度の低下が抑制されたものと考えられる。
一方、拡散防止金属の代わりにAuをめっきした比較例1は、図2において熱処理後の銀めっき表面にひび割れが生じており、肉眼による観察からは表面に白い変色も確認された。これは、拡散防止金属の下地として行ったNiめっき中に含有している有機系光沢剤が、銀めっき表面に拡散したためであると考えられる。また、Cuを用いた比較例2も、図3において熱処理後に細かいひび割れが生じており、表面の白色変化も観察された。そして、拡散物質の代わりにAgを用いた比較例3では、熱処理後の変色は見られなかったものの、図4において粒状物が確認され、細かいひび割れも見受けられた。従って、比較例1〜3は、加熱処理によって、Niめっきに含有される有機系光沢剤が銀めっき表面まで拡散したため、光沢度が低下したものと考えられる。
実施例1の熱処理前(左)及び熱処理後(右)における金属顕微鏡写真(400倍) 比較例1の熱処理前(左)及び熱処理後(右)における金属顕微鏡写真(400倍) 比較例2の熱処理前(左)及び熱処理後(右)における金属顕微鏡写真(400倍) 比較例3の熱処理前(左)及び熱処理後(右)における金属顕微鏡写真(400倍)

Claims (3)

  1. LED発光素子と、発光した光を反射して集光する銀めっきされた反射部とを備えるLEDの製造方法において、
    銀めっきを行う前に、予めパラジウム、ロジウム、白金、ルテニウム、イリジウム、のいずれか又はそれらを含む合金である拡散防止金属めっきを行うものであり、
    前記拡散防止金属めっきの下地として光沢性のニッケルめっきを行うことを特徴とするLEDの製造方法。
  2. 前記光沢性のニッケルめっきは有機系光沢剤が含有されている請求項1に記載のLEDの製造方法。
  3. 拡散防止金属がパラジウムである請求項1又は請求項2に記載のLEDの製造方法。
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