JP5107921B2 - 散乱計用の二重のビームのセットアップ - Google Patents
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Description
[付記]
付記(1):
試料の表面の光学的な外観を特性決定するための装置であって、
前記装置は、上側のハウジングを含み、前記上側のハウジングは、上部の表面における中央の位置での第一のアパーチャ、前記第一のアパーチャからオフセットされた位置に形成された第二のアパーチャ、及び、前記上側のハウジングの底部の位置に形成された且つ前記第一のアパーチャに対して垂直な第三のアパーチャを有し、前記上側のハウジングは、投射スクリーンとして構成された内側の表面を有し;
前記装置は、前記上側のハウジングを支持するように構成された且つ位置決めされた基部を含み、前記基部及び前記上側のハウジングは、密封された体積を形成し、且つ、前記基部は、前記第一のアパーチャの反対に位置決めされた開口部を有し、その結果、前記試料の表面が、前記基部の外側の表面に対して位置決めされるとき、前記試料の表面の少なくとも一部分が、前記第一のアパーチャ及び前記開口部を通じて可視であり;
前記装置は、前記基部の内側の表面に配置された且つ前記第二のアパーチャ及び前記第三のアパーチャと光学的に通じる二次的なミラーを含み;
前記装置は、前記密封された体積の外側に位置決めされた放射源を含み;
前記装置は、前記放射源によって生じさせられた第一の放射ビームを含み、前記第一の放射ビームは、前記放射源に源を発する第一の光路に沿って方向付けられ、前記第一のアパーチャ、前記開口部を通過し、且つ入射の角度で前記試料の表面で終わり;
前記装置は、前記密封された体積の外側に位置決めされた且つ前記第二のアパーチャ及び前記二次的なミラーと光学的に通じた光学的な撮像するデバイスを含み、且つ、
前記装置は、前記第一の放射ビームの放出と同時の前記放射源によって放出された第二の放射ビームを含み、前記第二の放射ビームは、前記放射源に源を発する第二の光路に沿って方向付けられ、前記第三のアパーチャを通じて前記密封された体積に入り、前記第二のアパーチャを通じて再度方向付き、且つ前記光学的な撮像するデバイスで終わる:装置。
付記(2):
前記第一の放射ビーム及び前記第二の放射ビームは、前記放射源によって生じさせられた初期の放射ビームに源を発し、前記初期の放射ビームは、前記初期の放射ビームを前記第一の放射ビーム及び前記第二の放射ビームへと分離するためのビームを分割する手段に向かって方向付けられる、付記(1)に記載の装置。
付記(3):
前記第一の光路及び前記第二の光路の一部分の一つ以上は、ファイバー光学部品のフィラメントを通じである、付記(1)に記載の装置。
付記(4):
前記上側のハウジングは、半球のドームとして必要な大きさにされ、且つ、前記密封された体積は、密封された半球の体積である、付記(1)に記載の装置。
付記(5):
前記第一のアパーチャは、前記頂点から前記基部までの弧の少なくとも一部分に沿ったスリットとして必要な大きさにされ;且つ前記第一の光路は、前記入射の角度が、0°と90°との間の範囲で選択可能であるように、前記第一のアパーチャに沿って可動である、付記(4)に記載の装置。
付記(6):
前記放射源は、可視光の放射ビームを発生させる、付記(1)に記載の装置。
付記(7):
前記試料の表面を位置決めするための可動なステージをさらに含む、付記(1)に記載の装置。
付記(8):
前記照明の少なくとも一部分が、前記試料の表面を通じて且つ前記半球の体積の中へと透過させられるように、前記試料の表面が、光学的に透過性であるとき、前記第一の放射ビームは、前記試料の表面を通じて照明するために位置決め可能である、付記(1)に記載の装置。
付記(9):
前記放射源によって発生させられた且つ前記第一の放射ビームと光学的に通じてない側から前記試料の表面を照明することに向かって方向付けられた第三の放射ビームをさらに含み、前記第三の放射ビームは、光学的な外観の特性決定が透過モードにおいて行われるのときに、用いられる、付記(1)に記載の装置。
付記(10):
前記第三のアパーチャの少なくとも一部分に沿った前記上側のハウジングの前記内側の表面に位置決めされたバッフルをさらに含み、前記バッフルは、散乱された光が前記第二の光路を形成するいずれの光学的な構成部品とも干渉することを阻止するように構成される、付記(1)に記載の装置。
付記(11):
前記二次的なミラーは、前記投射スクリーンの少なくとも一部分を前記光学的な撮像するデバイスへ反射するように位置決めされた凸のミラーである、付記(1)に記載の装置。
付記(12):
試料の表面の光学的なパラメーターを測定するための方法であって、
前記方法は、
光源からの光の第一のビームで前記試料の表面を照明すること;
投射スクリーンにおいて前記試料の表面によって散乱された光を遮断すること;
撮像する手段を使用することで前記投射スクリーンを撮像すること;及び
前記撮像する手段へ光の第二のビームを方向付けること
:を含み、前記光の第二のビームは、前記光の第一のビームと同時に前記光源によって発生させられる、方法。
付記(13):
半球のドームの内側の表面に前記投射スクリーンを位置決めすることをさらに含む、付記(12)に記載の方法。
付記(14):
前記試料の表面を照明することは、少なくとも部分的にファイバー光学部品のフィラメントで構成された光の経路に沿って前記第一の光ビーム及び前記第二の光ビームの少なくとも一つを方向付けることを含む、付記(12)に記載の方法。
付記(15):
鉛直な弧に沿って前記光の第一のビームを可動に位置決めすることをさらに含む、付記(12)に記載の方法。
付記(16):
前記方法は、前記撮像するステップにおいて生じさせられた像を像処理装置へ透過させることをさらに含み、前記像は、前記投射スクリーンを表すデータ及び前記光の第二のビームを表すデータを有し;且つ
前記方法は、前記像を光学的なパラメーターの測定値へと変換すること:を含む、
付記(12)に記載の方法。
付記(17):
前記投射スクリーンのデータから前記光の第二のビームを表す前記データを分離することをさらに含み、前記分離するステップは、前記変換するステップの前に行われる、付記(16)に記載の方法。
付記(18):
前記変換することを行うとき、前記光源の光学的な性質における変動を補償するために前記像処置装置によって前記光の第二のビームを表す前記データを使用することをさらに含む、付記(16)に記載の方法。
付記(19):
試料の表面の光学的なパラメーターを測定するための装置であって、
前記装置は、
光源からの光の第一のビームで前記試料の表面を照明するための手段;
投射スクリーンにおいて前記試料の表面によって散乱された光を遮断するための手段;
前記投射スクリーンを撮像するための手段;及び
前記撮像する手段へ光の第二のビームを方向付けるための手段
:を含み、前記光の第二のビームは、前記光の第一のビームと同時に前記光源によって発生させられる、装置。
付記(20):
前記装置は、前記撮像する手段によって生じさせられた像を像処理装置へ透過させるための手段をさらに含み、前記像は、前記投射スクリーンを表すデータ及び前記光の第二のビームを表すデータを有し;且つ、
前記装置は、前記像を光学的なパラメーターの測定値へと変換するための手段:を含み、前記変換する手段は、前記光源の光学的な性質における変動を補償するために前記光の第二のビームを表す前記データを使用する、付記(19)に記載の装置。
付記(21):
前記投射スクリーンのデータから前記光の第二のビームを表す前記データを分離するための手段をさらに含み、前記分離する手段は、前記変換する手段が活動させられる前に、前記分離を行う、付記(20)に記載の装置。
Claims (11)
- 試料の表面の光学的な外観を特徴付けるための装置であって、
上記装置は、
上部の表面における中央の位置における第一のアパーチャ、上記の第一のアパーチャからオフセットされた位置に形成された第二のアパーチャ、並びに、上記の上側のハウジングの下部の位置に形成された及び上記の第一のアパーチャに対して垂直な第三のアパーチャを有する上側のハウジング
を具備すると共に、
上記の上側のハウジングが投射スクリーンとして構成された内側の表面を有するものであると共に、
上記装置は、
上記の上側のハウジングを支持するために構成された及び位置決めされた基部
を具備すると共に、
上記の基部及び上側のハウジングが囲まれた体積を形成するものであると共に、
上記の試料の表面が上記の基部の外側の表面に対して位置決めされるとき、上記の試料の表面の少なくとも一部分が、上記の第一のアパーチャ及び開口部を通じて可視のものであるように、上記の基部が上記の第一のアパーチャの反対に位置決めされたものである上記の開口部を有するものであると共に、
上記装置は、
上記の基部の内側の表面に配された且つ上記の第二のアパーチャ及び上記の前記第三のアパーチャと光学的に通信する二次的なミラー
を具備すると共に、
上記装置は、
上記の囲まれた体積の外側に位置決めされた放射源
を具備すると共に、
上記装置は、
上記の放射源によって生じさせられた第一の放射ビーム
を具備すると共に、
上記の第一の放射ビームが上記の放射源に源を発する第一の光学的な経路に沿って向けられたものであると共に、上記の第一のアパーチャ、上記の開口部を通過するものであると共に、入射の角度で上記の試料の表面において終わるものであると共に、
上記の第一の放射ビームの入射の光が上記の投射スクリーンにおいて散乱させられるものであると共に、
上記装置は、
上記の囲まれた体積の外側に位置決めされた且つ上記の投射スクリーンをイメージングするための上記の第二のアパーチャ及び上記の二次的なミラーと光学的な通信をする光学的なイメージングデバイス
を具備すると共に、
上記装置は、
上記の第一の放射ビームの放出と同時の上記の放射源によって放出された第二の放射ビーム
を具備すると共に、
上記の第二の放射ビームが、上記の放射源に源を発する第二の光学的な経路に沿って向けられたものであると共に、上記の第三のアパーチャを通じて上記の囲まれた体積に入るものであると共に、上記の二次的なミラーに衝突するものであると共に、上記の第二のアパーチャを通じて向け直すものであると共に、上記の光学的なイメージングデバイスで終わるものである、
装置。 - 請求項1の装置において、
上記の第一の放射ビーム及び上記の第二の放射ビームは、上記の放射源によって生じさせられた初期の放射ビームに源を発すると共に、上記の初期の放射ビームが上記の第一の放射ビーム及び上記の第二の放射ビームへと上記の初期の放射ビームを分離するためのビームを分割する手段に向かって向けられたものである、装置。 - 請求項1の装置において、
上記の第一の光学的な経路及び上記の第二の光学的な経路の一つのもの若しくはより多いもの又は一部分は、ファイバー光学部品のフィラメントを通じたものである、装置。 - 請求項1の装置において、
上記の上側のハウジングは、半球のドームとして必要な大きさにされたものであると共に、上記の囲まれた体積は、囲まれた半球の体積である、装置。 - 請求項4の装置において、
上記の第一のアパーチャは、それの頂点から上記の基部までの弧の少なくとも一部分に沿ったスリットとして必要な大きさにされたものであると共に、上記の第一の光学的な経路は、上記の入射の角度が、0°及び90°の間における範囲内で選択可能なものであるように、上記の第一のアパーチャに沿って可動なものである、装置。 - 請求項1の装置において、
上記の放射源は、可視の光の放射ビームを発生させる、装置。 - 請求項1の装置であって、
さらに、上記の試料の表面を位置決めするための可動なステージを具備する、装置。 - 請求項1の装置において、
上記の第一の放射ビームの少なくとも一部分が、上記の試料の表面を通じて及び上記の囲まれた体積へと透過させられるように、上記の試料の表面が、光学的に透過性のものであるとき、上記の第一の放射ビームは、上記の試料の表面を通じて照明するために位置決め可能なものである、装置。 - 請求項1の装置であって、
さらに、上記の放射源によって発生させられた且つ上記の第一の放射ビームとの光学的な通信におけるものではない側から上記の試料の表面を照明するために上記の試料の表面に向かって向けられた第三の放射ビームを具備すると共に、
上記の第一の放射ビームの少なくとも一部分が、上記の試料の表面を通じて及び上記の半球の体積へと透過させられるように、上記の試料の表面が、光学的に透過性のものであるとき、上記の第三の放射ビームが、上記の試料の表面の光学的な外観の特徴付けが透過のモードで行われるときに用いられるものである、装置。 - 請求項1の装置であって、
さらに、上記の第三のアパーチャの少なくとも一部分に沿って上記の上側のハウジングの上記の内側の表面に位置決めされたバッフルを具備すると共に、上記のバッフルが、散乱させられた放射が上記の第二の光学的な経路を形成するいずれの光学的な構成部品とも干渉することを妨げるために構成されたものである、装置。 - 請求項1の装置において、
上記の二次的なミラーは、上記の光学的なイメージングデバイスへ上記の投射スクリーンの少なくとも一部分を反射させるために位置決めされた凸のミラーである、装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US70832105P | 2005-08-15 | 2005-08-15 | |
US60/708,321 | 2005-08-15 | ||
PCT/IB2006/052702 WO2007020554A1 (en) | 2005-08-15 | 2006-08-04 | Dual beam set-up for scatterometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009505094A JP2009505094A (ja) | 2009-02-05 |
JP5107921B2 true JP5107921B2 (ja) | 2012-12-26 |
Family
ID=37490940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008526577A Expired - Fee Related JP5107921B2 (ja) | 2005-08-15 | 2006-08-04 | 散乱計用の二重のビームのセットアップ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7554665B2 (ja) |
EP (1) | EP1917517B1 (ja) |
JP (1) | JP5107921B2 (ja) |
KR (1) | KR101311184B1 (ja) |
CN (1) | CN101243313B (ja) |
WO (1) | WO2007020554A1 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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2006
- 2006-08-04 WO PCT/IB2006/052702 patent/WO2007020554A1/en active Application Filing
- 2006-08-04 KR KR1020087003521A patent/KR101311184B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-08-04 JP JP2008526577A patent/JP5107921B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-08-04 US US12/063,126 patent/US7554665B2/en active Active
- 2006-08-04 EP EP06780322.1A patent/EP1917517B1/en not_active Not-in-force
- 2006-08-04 CN CN2006800296841A patent/CN101243313B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007020554A1 (en) | 2007-02-22 |
KR20080042822A (ko) | 2008-05-15 |
CN101243313A (zh) | 2008-08-13 |
US20080192258A1 (en) | 2008-08-14 |
CN101243313B (zh) | 2013-03-27 |
JP2009505094A (ja) | 2009-02-05 |
KR101311184B1 (ko) | 2013-09-26 |
US7554665B2 (en) | 2009-06-30 |
EP1917517B1 (en) | 2014-05-07 |
EP1917517A1 (en) | 2008-05-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A977 | Report on retrieval |
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A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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