JP5090299B2 - プラズマ処理装置および基板載置台 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係るプラズマ処理装置の概略断面図である。このプラズマ処理装置100は、複数のスロットを有する平面アンテナであるRLSA(Radial Line Slot Antenna;ラジアルラインスロットアンテナ)にて処理室内にマイクロ波などのマイクロ波を導入してプラズマを発生させることにより、高密度かつ低電子温度のマイクロ波プラズマを発生させ得るプラズマ処理装置として構成されている。このプラズマ処理装置100では、1×1010〜5×1012/cm3のプラズマ密度で、かつ0.7〜2eVの低電子温度を有するプラズマによる処理が可能である。
図5はウエハ載置台5を拡大して示す断面図、図6はその要部を拡大して示す斜視図である。ウエハ載置台5は、上述したように、ハウジング部2内に排気室11の底部中央から上方に延びる円筒状の支持部材4により支持された状態で設けられている。ウエハ載置台5の載置台本体51は、熱伝導性が良好なセラミックス材料であるAlNからなり、その内部に昇降ピン52が挿通される3つ(2つのみ図示)の挿通孔53が垂直に貫通して形成されている。挿通孔53の上部は、より大きい径の大径孔部53aとなっている。第1のカバー54は高純度の石英製であり、載置台本体51の上面と側面を覆うように設けられている。第1のカバー54の貫通孔53に対応する位置には、貫通孔53よりも広い開口部54aが形成されている。第1のカバー54の開口部54aは上下2段に形成されており、上段開口部54bと上段開口部54bよりも大径の下段開口部54cを有している。第2のカバー55は高純度の石英製であり、第1のカバー54と別体で設けられ、第1のカバー54の開口部54aと挿通孔53上部の大径孔部53aの内面を覆うように設けられており、挿通孔53上部の大径孔部53aに嵌め込まれた筒状部55aと、筒状部55aの上端から外側に延び、開口部54aの挿通孔53よりも外側部分を覆うフランジ部55bとを有している。フランジ部55bは、下段開口部54cに入り込んでおり、第1のカバー54の、下段開口部54cの上に突出した庇部54dの下方に位置している。したがって、載置台本体51の上面全面と、挿通孔53の上部内面が第1のカバー54および第2のカバー55によって覆われており、これらの部分ではAlNの露出が実質的に存在しない。
まず、ウエハWをチャンバー1内に搬入し、サセプタ5上に載置する。そして、ガス供給装置16から、例えばAr、Kr、Heなどの希ガス、例えばO2、N2O、NO、NO2、CO2などの酸化ガス、例えばN2、NH3などの窒化ガス、成膜ガスなどの処理ガスを所定の流量でガス導入口15aを介してチャンバー1内に導入する。
図7はウエハ載置台5の他の例の要部を示す部分拡大断面図である。この例では、上記筒状部55aの代わりに挿通孔53の下端まで達する筒状部55a′を有する第2のカバー55′を用いている点のみが従前のウエハ載置台とは異なっている。
図8はウエハ載置台5のさらに他の例の要部を示す部分拡大断面図である。この例では、挿通孔53に対応する開口部54a′の周囲に凹部54fが形成された第1のカバー54″と、凹部54fに挿入されるフランジ部55b″および挿通孔53の下端まで達する筒状部55a″を有する第2のカバー55″を有している。この例では、昇降ピン52と筒状部55a″との間のこすれ等が生じやすくまた、第2のカバー55″がウエハWに吸着されやすいが、第1のカバー54″と第2のカバー55″との間にパーティクルが通り抜けるルートがなく、挿通孔53内にもAlNの露出部分がないのでパーティクルを極力防止したい場合に適しており、構造も比較的単純にすることができる。したがって、昇降ピン52と筒状部55a″との間のこすれ等や、第2のカバー55″の吸着の問題が生じ難く、むしろパーティクルによるコンタミネーションを一層少なくしたい場合には、図8に示す構造が適している。
2;ハウジング部
3;筒壁部
4;支持部材
5;ウエハ載置台
6;ヒーター電源
15;ガス導入路
15a;ガス導入口
16;ガス供給装置
24;排気装置
26;マイクロ波導入部
27;蓋枠
28;透過板
31;平面アンテナ
32;スロット孔
37;導波管
39;マイクロ波発生装置
43;マッチングボックス
44;高周波電源
51;載置台本体
52;昇降ピン
53;挿通孔
53a;大径孔部
54,54″;第1のカバー
54a;開口部
54b;上段開口部
54c;下段開口部
54d;庇部
54e;凹部
55,55′,55″;第2のカバー
55a,55a′,55a″;筒状部
55b;フランジ部
56;ヒーター
57;電極
58;ピン支持部材
100;プラズマ処理装置
W…半導体ウエハ(被処理基板)
Claims (14)
- 真空に保持可能であり被処理基板を収容する処理容器と、
前記処理容器内で被処理基板を載置する基板載置台と、
前記処理容器内に処理ガスを供給する処理ガス供給機構と、
前記処理容器内に処理ガスのプラズマを生成するプラズマ生成機構と
を具備し、
前記基板載置台は、
AlNからなる載置台本体と、
前記載置台本体内に設けられ、載置された被処理基板を加熱するための発熱体と、
前記載置台本体の表面を覆う石英製の第1のカバーと、
前記基板載置台の上面に対して突没自在に設けられ、被処理基板を昇降させる複数の昇降ピンと、
前記載置台本体に設けられ、前記昇降ピンが挿通される複数の挿通孔と、
前記第1のカバーの前記複数の挿通孔に対応する位置に設けられた複数の開口部と、
前記開口部に露出する部分および前記挿通孔内面の一部または全部を覆うように、前記第1のカバーとは別体として設けられた石英製の第2のカバーと
を有することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記第2のカバーは、前記挿通孔の内面の少なくとも上部を覆う筒状部と、この筒状部の上端部から外側に延び、前記開口部を覆うフランジ部とを有することを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 前記挿通孔は、その上部に、より大きい径の大径孔部を有し、前記筒状部は前記大径孔部に嵌め込まれていることを特徴とする請求項2に記載のプラズマ処理装置。
- 前記筒状部は、前記挿通孔の内面の全部を覆うことを特徴とする請求項2に記載のプラズマ処理装置。
- 前記開口部は、上段開口部と、上段開口部よりも大径の下段開口部を有する2段構造を有しており、前記第1のカバーは、前記下段開口部の上に突出した庇部を有し、前記第2のカバーのフランジ部は前記庇部の下方の前記下段開口部に入り込んでいることを特徴とする請求項2から請求項4のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1のカバーは、前記開口部の周囲に形成された凹部を有し、前記第2のカバーの前記フランジ部は、前記凹部に挿入されていることを特徴とする請求項2から請求項4のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記プラズマ生成機構は、複数のスロットを有する平面アンテナと、該平面アンテナを介して前記処理容器内にマイクロ波を導くマイクロ波導入手段とを有し、導入されたマイクロ波により処理ガスをプラズマ化することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 前記基板載置台にプラズマ中のイオンを引き込むための高周波バイアスを印加する高周波バイアス印加ユニットをさらに具備することを特徴とする請求項7に記載のプラズマ処理装置。
- 真空に保持された処理容器内で被処理基板に対してプラズマ処理を行うためのプラズマ処理装置において、前記処理容器内で被処理基板を載置する基板載置台であって、
被処理基板の載置面を有し、AlNからなる載置台本体と、
前記載置台本体内に設けられ、載置された被処理基板を加熱するための発熱体と、
前記載置台本体の表面を覆う石英製の第1のカバーと、
前記基板載置台の上面に対して突没自在に設けられ、被処理基板を昇降させる複数の昇降ピンと、
前記載置台本体に設けられ、前記昇降ピンが挿通される複数の挿通孔と、
前記第1のカバーの前記複数の挿通孔に対応する位置に設けられた複数の開口部と、
前記開口部に露出する部分の表面および前記挿通孔内面の一部または全部を覆うように、前記第1のカバーとは別体として設けられた石英製の第2のカバーと
を有することを特徴とする基板載置台。 - 前記第2のカバーは、前記挿通孔の内面の少なくとも上部を覆う筒状部と、この筒状部の上端部から外側に延び、前記開口部を覆うフランジ部とを有することを特徴とする請求項9に記載の基板載置台。
- 前記挿通孔は、その上部に、より大きい径の大径孔部を有し、前記筒状部は前記大径孔部に嵌め込まれていることを特徴とする請求項10に記載の基板載置台。
- 前記筒状部は、前記挿通孔の内面の全部を覆うことを特徴とする請求項10に記載の基板載置台。
- 前記開口部は、上段開口部と、上段開口部よりも大径の下段開口部を有する2段構造を有しており、前記第1のカバーは、前記下段開口部の上に突出した庇部を有し、前記第2のカバーのフランジ部は前記庇部の下方の前記下段開口部に入り込んでいることを特徴とする請求項10から請求項12のいずれか1項に記載の基板載置台。
- 前記第1のカバーは、前記開口部の周囲に形成された凹部を有し、前記第2のカバーの前記フランジ部は、前記凹部に挿入されていることを特徴とする請求項10から請求項12のいずれか1項に記載の基板載置台。
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