JP5063012B2 - 光学走査装置及び画像形成装置 - Google Patents

Description

本発明は、画像信号によって変調された複数のレーザビームにより像担持体（たとえば感光ドラム）上を走査して潜像形成を行う光学走査装置に関する。特に、複数の半導体レーザによる主走査線の間隔の制御を行うための光学走査装置及びこれを搭載する画像形成装置に関する。

複数の半導体レーザにより発光するレーザビームを画像信号によって変調し、そのレーザビームをスキャナモータによって像担持体をラスタスキャンすることにより潜像形成を行う画像形成装置がある。このようなマルチビーム式の画像形成装置では、複数のレーザデバイスから出射した複数のレーザビームによって複数のラスタライン（走査線）を並列に走査している。複数のレーザビームを合成する光学ユニットが温度変動により変形すると、像担持体表面における複数のレーザビーム相互の間隔（ビーム間隔という）が変わり、それらビームよる像担持体上の走査線の間隔も変わってしまう。ビーム間隔の変動は、像担持体の回転によって与えられる、１回の主走査毎の副走査量（副走査ピッチという）とは独立して生じる。そのため、異なる走査により形成された感光ドラム上の走査線相互の間隔（走査線間隔という）にむらが生じることになる。たとえば、ビーム間隔が広がってしまうと、それらビームにより形成される走査線の間隔は広がる。これに対して、１回の走査による複数の走査線のうちの最も下の走査線と、その直後の走査による複数の走査線のうちの最も上の走査線との間隔は狭くなる。なお走査線間隔のむらをラインピッチむらと呼ぶことにする。

そこでレーザデバイスを取り付けたホルダと、回転多面鏡や光学レンズ等を取り付けた光学箱とをほぼ同じ熱膨張率の材質で構成することで、熱膨張によるビーム間隔の変動を抑制する技術が考案されている（たとえば特許文献１等参照）。またビーム間隔の微調整を、調整用のプリズムを用いて行う方法も考案されている（特許文献２等参照）。

さらに、複数のレーザビームを所定間隔の平行光とする際に、そのビーム間隔を自動的に調整可能な光学系（光学ユニット合成モータ）を設けた装置も考案されている。この方法では、ビーム間隔センサを設け、照射した複数のレーザビームのビーム間隔を検知する。そして、ビーム間隔センサで検知したビーム間隔と、所定値（例えば、１２００ｄｐｉならｄ＝２１．１７［μｍ］）との差分に基づいて、モータ回転量算出回路で光学ユニット合成モータの回転量が決定され、ビーム間隔が所定値となるように光学ユニット合成モータが制御される。
特開平１１−２０２２３２号公報 特開平８−６８９５６号公報

しかしながら、上記技術では、像担持体や駆動モータ（転写ベルトモータ、ドラムモータ）の回転むらによって生ずる副走査ピッチのむらは修正できない。そのため、ひとつのレーザビームによる走査線相互の間隔は副走査ピッチのむらに応じて変動し、マルチビームを構成するビーム数おきに走査線間隔が変動する。すなわち走査線間隔にむらが生じる。

さらに、像担持体はその長期使用による経年劣化から表面の線速度が変動し、像担持体を一定回転で駆動制御しても副走査方向の移動距離は変動する。これにより副走査ピッチが経年で変化し、むらが生じる。

本発明は上記従来例に鑑みてなされたもので、上記課題を解決することを目的とする。具体的には、ビーム間隔の変動の補正量と、像担持体の回転むらによる主走査線間隔のむらを補正する補正量とを補正量算出回路にフィードバックすることで、両原因により生じる走査線間隔のむらを補正することができる光学走査装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明は以下の構成を備える。すなわち、複数の半導体レーザから出射される光ビームを互いに平行な光ビームに合成する光学ユニットと、
前記光学ユニットを通過した複数の光ビームが回転する像担持体表面を前記回転方向と垂直な方向に走査するように前記複数の光ビームを偏向する偏向手段と、
前記像担持体表面における前記複数の光ビームの間隔および前記像担持体の回転方向における露光位置を変化させるために、前記光学ユニットを駆動して出射する光ビームの向きを変動させる駆動手段と、
前記偏向手段によって偏向された前記複数の光ビームの間隔を検出する光ビーム検出手段と、
前記光ビーム検出手段の検出結果に基づいて前記光ビームの間隔を所定の間隔に補正するために第１の補正値を算出する第１の算出手段と、
前記像担持体が回転することによって生成される信号に基づいて前記像担持体の回転周期を検出する周期検出手段と、
前記周期検出手段により検出された回転周期と基準周期との周期差に基づいて、前記基準周期に対応する前記像担持体上の走査位置の間隔と前記周期差に対応して生じる前記走査位置の間隔との差分を補正する第２の補正値を算出する第２の算出手段と、
前記第１の算出手段により算出された前記第１の補正値に基づいて前記駆動手段を駆動した後に、前記光ビームの間隔が補正された状態で前記第２の補正手段によって算出された前記第２の補正値に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段とを備えることを特徴とする。

以上説明したように本発明によれば、像担持体の回転むらによる走査線間隔の変動に起因する走査線間隔のむらを低減するという効果を奏する。

また、像担持体の経年劣化による周速度変動から発生する走査線間隔の変動に起因する走査線間隔のむらを低減するという効果を奏する。

［第１の実施形態］
図１は本実施形態の光学走査ユニットを含む画像形成装置の構成図である。１は半導体レーザ２及び半導体レーザ３を発光駆動するレーザ駆動回路である。非画像領域において、半導体レーザ２から出射したレーザビームＬ１及び半導体レーザ３から出射したレーザビームＬ２は、光学ユニット４に入射する。半導体レーザ２及び半導体レーザ３から出射光ビームは互いに副走査方向に平行光束でない構成とする。

光学ユニット４はプリズムで構成される。光学ユニット４は、半導体レーザ３からのレーザビームをプリズムで２回反射することで、半導体レーザ２からのレーザと平行で、図の上下方向（すなわち感光ドラム上における副走査方向）について所望間隔の平行ビームとして出射する。なお、２つの光ビームは、主走査線に沿った方向についても一定の間隔がもうけらていてもよいが、本例では説明の簡単化のために、主走査方向についてはずれがないものとする。光学ユニット４は、光学モータユニット５によって回転駆動される。その回転軸は、光学ユニット４により平行光線にされた複数の光ビーム（ただし光学ユニット４内の光ビーム）を含む平面に直交する方向に設けられる。これにより、光学ユニット４の反射面のあおり角が変化し、光学ユニット４から出射するビームの高さが制御される。この結果複数の光ビームのビーム間隔が制御される。光学モータユニット５は光学モータ駆動回路３２によって駆動制御される。

レーザビームは、光学ユニット４通過後、シリンドリカルレンズ６を通して回転多面鏡７に到達する。回転多面鏡７は、スキャナモータを含む回転多面鏡駆動回路８によって等角速度で回転している。回転多面鏡７に到達したレーザビームは回転多面鏡７によって偏向され、ｆ−θレンズ９によって、感光ドラム１１上におけるビーム走査の線速度が等速となるようにさらに偏向される。ｆ−θレンズ９を通り、しかも感光ドラムの画像領域には当たらないレーザビームＬ１，Ｌ２を受光できる位置に、走査位置検出センサ１２が設けられている。走査位置検出センサ１２は、たとえば図４に示す構成を有し、マルチビームのそれぞれ（本例では２つのビーム）を検出する。

走査位置検出センサ１２から出力される出力信号２２は、副走査位置検出回路２４に入力される。副走査位置検出回路２４は、ビーム間隔が本来あるべき値からずれている量を示す副走査差分信号２６と、ずれの符号を示す走査判定信号２７とを出力する。これら信号は補正量算出回路３０に入力される。

２つのレーザビームＬａ、Ｌｂは、ｆ−θレンズ９を出射した後、反射ミラー１０により反射されて感光ドラム１１上を照射する。感光ドラム１１の表面は予め帯電されており、レーザビームが照射された位置の電荷が失われることで、静電潜像が形成される。感光ドラム１１に形成された潜像はトナー現像され、そのトナー像が用紙に転写され定着されて用紙上に恒久画像が形成される。

回転検出信号発生部１４（以降ＦＧ発生部と略す）は、例えば、感光ドラム１１の回転軸と同軸に配置された円盤状の部材で、回転数を検出する矩形状の等間隔パターンが外周近傍に形成されている。更に、書き出し位置を検出する検出孔が設けられている。書き出し位置センサ１５（以降ＨＰセンサと略す）は、発光部と受光部から構成され、ＦＧ発生部１４の検出孔を光学的に検出する。ＨＰセンサ１５は、検出孔があると書き出し位置信号１６（以降ＨＰ信号と略す）を回転誤差検出回路１９に対して出力する。回転検出センサ１７（以降ＦＧセンサと略す）はたとえばホール素子等で構成され、ＦＧ発生部１４の等間隔パターンに通電された電流変化を検出してＦＧ信号１８を回転誤差検出回路１９に出力する。あるいは等間隔パターンを光学的に検出する構成であっても良い。

回転誤差算出回路１９は、ＦＧ信号１８に基づいて、感光ドラム１１の回転速度が基準値よりも速ければハイレベル、遅ければローレベルとなる速度判定信号２０を出力する。また回転誤差算出回路１９は、速度が基準値からずれている場合に、そのずれ量を示す回転誤差信号２１を出力する。さらに、回転誤差算出回路１９は、ＨＰ信号１６を整形して検出開始信号３５として出力する。

補正量算出回路３０は、光学モータユニット５の移動ステップ数を算出してモータ制御信号３１として出力する。モータ制御信号３１は、入力されるモータ制御信号３１に従って光学モータユニット５を駆動し、光学ユニット４を回転されて出射する光ビームの高さ方向の位置を移動させ、感光ドラム１１上でのビーム間隔を変化させる。

［回転誤差算出回路の動作概要］
図２は第１の実施形態における回転誤差検出回路１９及び周辺回路の主要ブロック図である。回転検出信号発生部１４（以降ＦＧ発生部と略す）は、例えば、感光ドラム１１の回転軸に同軸に配置された円盤状の部材で、回転数を検出する矩形状の等間隔パターンが外周近傍に形成されている。更に、書き出し位置を検出する検出孔が設けられている。書き出し位置センサ１５（以降ＨＰセンサと略す）は発光部と受光部から構成され、ＦＧ発生部１４の検出孔を検出することで書き出し位置信号１６（以降ＨＰ信号と略す）を回転誤差検出回路１９に出力する。回転検出センサ１７（以降ＦＧセンサと略す）はホール素子等から構成し、ＦＧ発生部１４の回転によるパターンに通電された電流変化を検出してＦＧ信号１８を回転誤差検出回路１９に出力する。以下に回転誤差検出回路１９の構成について説明する。

検出開始信号発生回路３４は、ＨＰセンサ１５から出力されるＨＰ信号１６を整形して検出開始信号３５とする。検出開始信号３５は回転誤差算出を実施する基点となる信号である。

回転検出信号発生回路３６は、ＦＧ信号を矩形波となるよう波形整形した回転検出信号３７を出力する。速度進み／遅れ判定回路３８は、基準信号発生回路３９から入力される、基準周波数を持つ矩形波である基準信号４０の周期（基準周期という）と、回転検出信号３７の周期とを比較する。速度進み／遅れ判定回路３８は、回転検出信号３７の周期が基準信号４０の周期より短ければ速度進みと判定して速度進み信号４１を出力し、回転検出信号３７の周期が基準信号４０の周期より長ければ速度遅れと判定し速度遅れ信号４２を出力する。速度進み信号４１および速度送れ信号４２はそれぞれ進んでいる量（時間）と、遅れている量（時間）とをパルス幅によって示す信号である。進み／遅れの求め方については図３を参照して説明する。

速度検出信号発生回路４３はカウンタで構成され、不示図の画像形成制御部から入力されるカウンタクロック２８にて、速度進み信号４１あるいは速度遅れ信号４２のパルス幅をカウントする。速度検出信号発生回路４３は、検出開始信号３５が入力される毎、すなわち感光ドラムの１回転毎にリセットされる。速度検出信号発生回路４３はカウント値を回転誤差信号２１として出力する。また速度検出信号発生回路４３は、速度進み信号４１が出力されている間は『Ｈ』、速度遅れ信号４２が出力されている間は『Ｌ』となる速度判定信号２０を出力する。

図３は第１の実施形態における回転誤差検出回路１９の信号を示すタイミングチャートである。回転検出信号発生回路３６は、回転検出信号３７の奇数番目のパルスエッジ（図３では立ち上がり）で２分周され、信号の立ち上がりから基準信号４０の１周期の間『Ｈ』となるような回転検出信号ａを生成する。また、同じく偶数番目のパルスエッジ（立ち上がり）で２分周され、信号の立ち上がりから基準信号４０の１周期分の間『Ｈ』となるような回転検出信号ｂを生成する。回転検出信号３７が基準信号と同じ周期で安定しているならば、回転検出信号ａの位相と回転検出信号ｂの位相は１８０度ずれているはずである。すなわちこの場合、回転検出信号ａと回転検出信号ｂとは、エッジ以外のある瞬間に着目すれば、いずれか一方がハイレベルであり、他方はローレベルである。したがって、回転検出信号３７と基準信号４０との周期のずれは、回転検出信号ａと回転検出信号ｂの位相のずれとして表れる。そこで回転検出信号ａと回転検出信号ｂが共に『Ｈ』となる区間（すなわち両信号の積）を速度進み信号４１として出力する。また、回転検出信号ａと回転検出信号ｂが共に『Ｌ』となる区間（すなわち両信号の和の反転）を速度遅れ信号４２はとして出力する。速度進み信号４１及び速度遅れ信号４２の『Ｈ』の区間が各々の進み量及び遅れ量となる。

速度検出信号発生回路４３では、速度進み信号４１が出力されている間は『Ｈ』、速度遅れ信号４２が出力されている間は『Ｌ』となる速度判定信号２０を出力する。また、速度進み信号４１あるいは速度遅れ信号４２の『Ｈ』の区間をカウントクロック２８にてカウントした値を示す回転誤差信号２１を出力する。速度検出信号発生回路４３は検出開始信号３５が出力される毎にリセットされる。

［副走査位置検出回路の動作概要］
＜操作位置検出センサの構成＞
図４は第１の実施形態における走査位置検出センサ１２のセンサ配置図（Ａ）及びその等価回路（Ｂ）である。走査位置検出センサ１２はフォトセンサ１（ＰＤ１）とフォトセンサ２（ＰＤ２）にて構成される。これは、走査位置検出センサ１２が２ビームに対応しているからである。３つ以上のビームについても、図４に示すフォトセンサと同一形状のフォトセンサを、ビーム間隔ｄだけ離して増設することで検出できる。

フォトセンサ１（ＰＤ１）はフォトセンサ２（ＰＤ２）と同一形状かつ同一寸法であり、互いにビームの走査方向と略直角な軸に間隔ｄだけ離れた位置に配置されている。各フォトセンサは、本実施形態ではビームの走査方向に平行な上辺と下辺とを持つ台形である。間隔ｄは、本来あるべき走査線のピッチであり、副走査方向の解像度が６００ｄｐｉの場合は約４２．３４［μｍ］、１２００ｄｐｉの場合は約２１．１７［μｍ］である。フォトセンサの形状は、三角形でもよい。また図とは逆に、上辺が短くとも良いし、直角を持たなくても良い。重要なことは、センサのビームの走査方向についての長さが、ビームがセンサ上を通過する位置に応じて異なることである。また、２つのビームがそれぞれ２つのセンサ上を通過するそれぞれの距離の差から、ビーム間隔を一意に特定できることである。これら条件を満たす最も簡単な形状が、本実施形態で採用する台形あるいは三角形である。

さて、図４（Ｂ）に示す等価回路の回路構成では、フォトセンサ１（ＰＤ１）がフォトダイオードＰＤ１に、フォトセンサ２（ＰＤ２）がフォトダイオードＰＤ２に相当する。各々のフォトダイオードのカソードが共通になるよう接続され、カソードにバイアス電圧Ｖｒを印加する。フォトダイオードＰＤ１及びフォトダイオードＰＤ２は、レーザ光を受光するとフォトセンサ１出力信号２２及びフォトセンサ２出力信号２３をそれぞれ出力する。

＜副走査位置検出回路の構成＞
図５は第１の実施形態における副走査位置検出回路２４の構成を示すブロック図である。走査位置検出センサ１２からは、フォトセンサ１（ＰＤ１）によりレーザ光Ｌａを受光している時にフォトセンサ１出力信号２２が入力される。この信号は電流電圧変換回路ａ４５で電圧変換されてゲート信号ａ４６が生成される。すなわちゲート信号ａ４６は、フォトセンサ１にレーザビームが照射されている期間、Ｈレベルとなる信号である。

サンプルクロックａ発生回路４８は、周波数変調回路と位相同期回路から構成され、カウンタクロック２８と同一の周波数を持ち、かつゲート信号ａ４６に同期したサンプルクロックａ４９を発生させる。カウンタａ５０はゲート信号ａ４６が入力されている区間をサンプルクロックａ４９でカウントし、カウンタａ出力信号５１をラッチａ５２に出力する。ラッチａ５２は不示図の画像形成制御部から入力されるラッチ信号２５によりカウンタａ出力信号５１を保持する。ラッチ信号２５により保持されたカウンタａ出力信号５１の値は、ラッチａ出力信号５３として比較器６２に入力される。

同様に、走査位置検出センサ１２からは、フォトセンサ２（ＰＤ２）によりレーザ光Ｌａを受光している時にフォトセンサ２出力信号２３が入力される。この信号は電流電圧変換回路ａ５４で電圧変換されてゲート信号ｂ５５が生成される。すなわちゲート信号ｂ５５は、フォトセンサ２にレーザビームが照射されている期間、Ｈレベルとなる信号である。

サンプルクロックｂ発生回路５６は、周波数変調回路と位相同期回路から構成され、カウンタクロック２８と同一の周波数を持ち、かつゲート信号ｂ５５に同期したサンプルクロックｂ５７を発生させる。カウンタｂ５８はゲート信号ｂ５５が入力されている区間をサンプルクロックｂ５７でカウントし、カウンタｂ出力信号５９をラッチｂ６０に出力する。ラッチｂ６０は不示図の画像形成制御部から入力されるラッチ信号２５によりカウンタｂ出力信号５９を保持する。ラッチ信号２５により保持されたカウンタｂ出力信号５９の値は、ラッチｂ出力信号６１として比較器６２に入力される。

＜副走査位置検出回路の動作＞
図６は第１の実施形態における副走査位置検出回路２４の動作を示すタイミングチャートである。ここでは走査位置検出センサ１２により２ビームレーザ（Ｌ１、Ｌ２）を検出する場合を例に述べる。

ゲート信号ａ４６は走査位置検出センサ１２のフォトセンサ１（ＰＤ１）に第１のビームＬ１が入射開始するタイミングで立ち上り、フォトセンサ１（ＰＤ１）に第１のビームＬ１が入射完了するタイミングで立ち下がる。照射されている区間でゲート信号ａ４６が出力される。カウンタａ５０は、ゲート信号ａ４６のハイレベルの期間を、その立ち上りに同期したサンプルクロックａ４９によりカウントしてカウンタａ出力信号５１を出力する。ラッチａ５２は、ゲート信号ａ４６の立ち下がりでカウンタａ出力信号５１を保持する。ラッチａ出力信号５３はゲート信号ａ４６が出力される毎（立ち上がる毎）に更新される。そのために、ラッチ信号２５の周期は、主走査の周期に一致していることが望ましい。サンプルクロックａ４９は、ゲート信号ａ４６が『Ｈ』の区間で出力されていれば十分である。

同様にゲート信号ｂ５５は走査位置検出センサ１２のフォトセンサ２（ＰＤ２）に第２のビームＬ２が入射開始するタイミングで立ち上り、フォトセンサ２（ＰＤ２）に第２のビームＬ２が入射完了するタイミングで立ち下がる。照射されている区間でゲート信号ｂ５５が出力される。カウンタｂ５８は、ゲート信号ｂ５５のハイレベルの期間を、その立ち上りに同期したサンプルクロックｂ５７によりカウントしてカウンタｂ出力信号５９を出力する。サンプルクロックｂ５７は、ゲート信号ｂ５５が『Ｈ』の区間で出力されていれば十分である。

比較器６２は、比較タイミング信号２５の立ち上りのタイミングでラッチａ出力信号５３とラッチｂ出力信号６１とを比較し、その差分を副走査差分信号２６として出力する。副走査差分信号２６は比較器６２により得られた差分の絶対値を出力示す。正負の符号は走査判定信号２７として出力する。

例えば、サンプルクロックａ４９の周波数を５０［ＭＨｚ］とし、ゲート信号ａ４６の『Ｈ』の区間が４５．４［μｓ］であった場合、ラッチａ出力信号５３の値は８ＤＥｈ（ｈは１６進数を表す）となる。また、ゲート信号ｂ５５の『Ｈ』の区間が２８．２［μｓ］であった場合、ラッチｂ出力信号６１の値は５８４ｈとなる。この値から副走査差分信号２６は以下のようになる。
副走査差分信号２６の値＝（ラッチａ出力信号５３の値）−（ラッチｂ出力信号６１の値）＝８ＤＥｈ−５８４ｈ＝３５Ａｈ
このとき差分値は正なので、走査判定信号２７は正を示す値、たとえばローレベルである。

これと反対に、ラッチａ出力信号５３の値が５８４ｈ、ラッチｂ出力信号６１の値が８ＤＥｈであれば、その差分値は（５８４ｈ−８ＤＥｈ）＝ＣＡ６ｈとなる。この差分値は負なので、その絶対値である３５Ａｈが副走査差分信号２６として出力される。走査判定信号２７は負を示す値、たとえばハイレベルとなる。

レーザ光Ｌ１とレーザ光Ｌ２のビーム間隔が、フォトセンサ１（ＰＤ１）とフォトセンサ２（ＰＤ２）の間隔ｄと一致している時に、それぞれのビームによる各センサ上の走査距離は等しくなる。これは、フォトセンサの形状が同一、同方向であり、ビームの走査方向に直交して距離ｄだけ離れて配置されているためである。したがって、この場合副走査差分信号２６の値は０となる。

＜補正量算出回路＞
図７は第１の実施形態における補正量算出回路３０の構成を示すブロック図である。補正量算出回路３０には、副走査間隔ａ算出回路６５、回転係数格納メモリ、補正値算出回路６９、副走査間隔ｂ算出回路７１、ＰＤセンサ係数格納メモリ７２、スイッチ７５、モータ制御量算出回路７７、補正値メモリ７９、アドレス生成回路８０を有する。

副走査間隔ａ算出回路６５、回転係数格納メモリ、補正値算出回路６９は、感光ドラムの回転速度の基準値に対するずれをあらわす速度判定信号２０及び回転誤差信号２１を用いて補正値を算出する。この補正値は、回転ドラム１１の回転むらに起因する副走査ピッチのむらを補正するための値である。

算出された補正値は、補正値メモリ７８に記憶される。アドレス生成回路８０は、検出開始信号３５及び回転検出信号３７を入力として、検出開始時にメモリ７８のアドレスの初期値を生成してメモリ７８に入力し、回転検出信号３７に同期してアドレスをインクリメントする。また、リードライト信号８１が画像形成制御部から入力される。回転むらの補正値は、たとえば画像形成装置の電源投入時に算出されて補正値メモリ７８に保存される。したがって、補正値の保存時には、リードライト信号８１は「ライト」である。そのため、補正値メモリ７８においては、感光ドラム１１の回転位相に対応したアドレスに、その回転位相における補正値が保存される。また画像形成時には、リードライト信号８１は「リード」であり、スイッチ７５は補正値メモリ７８に切り替えられる。このため、感光ドラム１１の回転位相に応じて補正値メモリ７８に書き込まれた補正値が、感光ドラム１１の回転位相に応じてモータ制御量算出回路７７に読み出される。この結果、画像形成中の感光ドラムの回転に応じて光学ユニット４が駆動されて回転むらが補正される。

また、副走査間隔ｂ算出回路７１、ＰＤセンサ係数格納メモリ７２は、ビーム間隔を示す副走査差分信号２６及び走査判定信号２７を用いて、補正値を算出する。この補正値は、複数（本例では２つ）の半導体レーザのビーム間隔の補正を行うための値である。

スイッチ７５は、不示図の画像形成制御部から入力される補正制御信号２９に応じて、副走査間隔ｂ算出回路７１の出力信号と、補正値算出回路６９の出力信号の何れか一方を選択的に出力する。この出力信号が入力されるモータ制御量算出回路７７では、光学モータユニット５の移動量を決定するモータ制御信号３１を光学モータユニット駆動回路３２に出力する。

図８は第１の実施形態における光学モータユニット５のモータステップ数と副走査移動量との関係を示すグラフである。光学モータユニット５は不示図のステッピングモータと、光学ユニット４の駆動軸と、その駆動軸をモータの回転に従動させるギアとから構成される。そのギア比は、モータの１ステップの駆動に対応するビーム間隔の変化量が、所定の（すなわち本来あるべき）走査線間隔より充分小さい量となるように設定されている。例えば、副走査方向の解像度が６００ｄｐｉの場合、走査線間隔は４２．３４［μｍ］である。この場合たとえば、光学モータユニット５のモータ１ステップ当たりのビーム間隔の変化量は４［μｍ］程度とする（副走査間隔の１／１０程度）。このようにギア比は設定されている。

モータ制御量算出回路７７は、スイッチ７５で選択される副走査間隔ｂ算出回路７１と補正値算出回路６９の何れか一方の出力信号により光学モータユニット５の駆動ステップ数を算出し、駆動方向を決定する。そして、そのステップ数だけモータを駆動させるためのモータ制御信号３１を出力する。光学モータユニット５はモータ制御信号３１に従って光学ユニット４を回転駆動する。これにより、光学ユニット４から出射する光ビームの高さ方向の位置が変化し、感光ドラム１１上でのビーム間隔が変化する。

＜補正量算出回路の動作＞
図９は第１の実施形態における補正量算出回路の制御フローチャートである。この手順は、不示図の画像形成制御部により、たとえば電源投入時に実行される。画像形成制御部は、画像形成装置のうち、少なくとも図１に示す光学走査ユニットが、通常の画像形成のために稼働できる状態になるまで待機する。たとえば、回転多面鏡７が所定の速度に達するまで待つ。その後、補正制御信号２９により、最初に、副走査間隔ｂ算出回路７１からの出力信号７４を選択する（ステップＳ９０１）。次に画像形成制御部は、半導体レーザ２（Ｌ１）を点灯し（ステップＳ９０２）、主走査を行ってビームＬ１がセンサＰＤ１を通過して生じる信号に基づき、カウンタａ５０によるカウント値５１（図９ではτ１）を得る（ステップＳ９０３）。そしてレーザ２を消灯する（ステップＳ９０４）。

同様にして、半導体レーザ３（Ｌ２）を点灯し（ステップＳ９０５）、主走査を行ってビームＬ２がセンサＰＤ２を通過して生じる信号に基づき、カウンタｂ５８によるカウント値５９（図９ではτ２）を得る（ステップＳ９０６）。そしてレーザ３を消灯する（ステップＳ９０７）。なおレーザ２とレーザ３を同時に点灯しないのは、レーザ光Ｌ１が、センサＰＤ２上の通過することがあり得るためである。

次に比較タイミング信号２５を画像形成制御部は出力する。これによって、カウント値５０がラッチａ２５にラッチされ、カウント値ｂ５９がラッチｂ６０にラッチされると共に、これら２つの値の差分が比較器６２により算出される（ステップＳ９０８）。この出力は補正量算出回路３０に入力され、モータ制御量算出回路７７によって算出された量だけモータ５が駆動されてビーム間隔が、所定の間隔ｄになるよう修正される。以上を、比較器６２による差分が０になるまで繰り返して行う（ステップＳ９０９）。このために、比較器６２の出力は、不図示の画像形成制御部に入力されているのが望ましい。

さて、ビーム間隔の補正が終了したならば、次に感光ドラム１１の回転むらの補正量の決定を行う。まず、感光ドラム１１を回転駆動する（ステップＳ９１２）。ステップＳ９１３からステップＳ９１４は、前述の回転誤差検出回路１９により行われる動作である。ステップＳ９１５およびステップＳ９１６は、補正量算出回路３０の副走査間隔ａ算出回路６５と、補正値算出回路７０により行われる動作である。ステップＳ９１７では、前述のように、補正値を感光ドラムの回転位相に応じたアドレスに保存する。ステップＳ９１３からステップＳ９１７を、感光ドラム１１が１回転するまで繰り返す（ステップＳ９１８）。

補正値メモリ７８に記憶した補正値は、画像形成時に読み出されて、モータ５を駆動するために用いられる。このときには、補正制御信号２９は、スイッチ７５により補正値メモリが出力されるように切り替えられている。

［副走査間隔ａ算出回路６５の動作概要］
副走査間隔ａ算出回路６５についてもう少し説明する。副走査間隔ａ算出回路６５は、回転検出算出回路１９から入力される回転誤差信号２０に回転係数格納メモリ６６から出力される回転係数６７を乗算することで副走査間隔値ａ６８を算出する。回転係数６７は、副走査間隔値ａ６８が以下の式から得られるため、サンプルクロック２８の周期に感光ドラム１１の回転速度すなわち副走査速度Ｖｖを乗じた値となる。
副走査間隔値ａ６８＝（回転誤差信号２０）×（サンプルクロック２８周期［ｓ］）×（感光ドラム１１の回転速度［ｍｍ／ｓ］）。

図１０に副走査補正値７０の生成方法を表すグラフを示す。感光ドラム１１の実際の回転数に対し、副走査間隔値ａ６８は回転誤差信号２０の結果に基づいて線形近似した値となる。副走査補正値７０は副走査間隔値ａ６８に逆特性で係数ｋを乗じた値とする。係数ｋは感光ドラム１１の負荷特性等の条件によって適正化された値とする。たとえば、副走査間隔値ａ６８に係数ｋ＝−１や、ｋ＝−０．５を乗ずることで、補正すべき値が得られる。この値はモータの回転方向およびステップ数に変換されて補正値メモリ７８に保存される。このステップ数と補正値すなわち感光ドラム表面における走査線の位置の変化量との関係は、光学系に応じて異なるが、たとえば相互の関係を予めテーブル化して補正値算出回路７０に保存し、それを用いて変換することができる。

［副走査間隔ｂ算出回路７１の動作概要］
副走査間隔ｂ算出回路７１は副走査位置検出回路２４から入力される差分値信号２６にＰＤセンサ係数格納メモリ７２から出力されるＰＤセンサ係数７３を乗算することで副走査間隔値ｂ７４を算出する。副走査間隔値ｂ７４はスイッチ７５へ出力する。

（ＰＤセンサ係数７１の設定方法）
図１１は第１の実施形態におけるＰＤセンサ係数７３の設定方法を説明する構成図である。レーザ光Ｌ１がフォトセンサ１（ＰＤ１）を走査する幅をＷ１とすると、
Ｗ１＝Ｖｈ×τ１（Ｖｈ：主走査速度、τ１：走査時間）である。ここで、
τ１＝（ラッチａ出力信号５３の値）×（サンプルクロックａ４９の周期）となる。

同様にレーザ光Ｌ２がフォトセンサ２（ＰＤ２）を走査する幅をＷ２とすると、
Ｗ２＝Ｖｈ×τ２（Ｖｈ：主走査速度、τ２：走査時間）である。ここで、
τ２＝（ラッチｂ出力信号６１の値）×（サンプルクロックｂ５７の周期）となる。

フォトセンサ１（ＰＤ１）及びフォトセンサ２（ＰＤ２）は同一形状・同一寸法であるから、主走査方向の幅をＷ、副走査方向の高さをＨとすると、
Ｈ＝Ｗ／ｔａｎθ
の関係が成立する。なおフォトセンサは、ビームの走査方向と直交する辺ｘを持つ台形である。また、その辺ｘと、ビームの走査方向に対して、直角以外の一定角度で交わる辺との角度をθとする。

そこでレーザ光Ｌ１のフォトセンサ１（ＰＤ１）上での高さををＨ１、レーザ光Ｌ２のフォトセンサ２（ＰＤ２）上での高さををＨ２とすると、
Ｈ１＝Ｗ１／ｔａｎθ＝（Ｖｈ×τ１）／ｔａｎθ、
Ｈ２＝Ｗ２／ｔａｎθ＝（Ｖｈ×τ１）／ｔａｎθとなる。

レーザ光Ｌ１とレーザ光Ｌ２のビーム間隔と、本来のビーム間隔ｄとの差ｄ０は以下のように表される。
ｄ０＝Ｈ１−Ｈ２＝（Ｗ１−Ｗ２）／ｔａｎθ＝（τ１−τ２）×Ｖｈ／ｔａｎθ、
ここで、（τ１−τ２）＝副走査差分信号２６。

以上より、ＰＤセンサ係数７１は、主走査速度Ｖｈをフォトセンサ１（ＰＤ１）及びフォトセンサ２（ＰＤ２）の幾何学値であるｔａｎθを除算した値となる。

以上のようにして、本実施形態によれば、モータユニット５により光学ユニット４を駆動することで、ビーム間隔の補正と、感光ドラムの回転むらの補正とを行うことができる。

すなわち、算出された感光ドラムの回転誤差に相当する副走査ピッチの変動を、その変動を相殺する方向に、相殺する距離だけ副走査ピッチが変動するように光学ユニットを回転駆動することで補正する。

図１９に、画像形成装置全体の構成を示す。図１９には画像形成装置として複写機の断面図を示した。図１９はリーダ部１９０１及びプリンタ部１９０２の断面図である。リーダ部１の原稿給送装置１０１は原稿を最終頁から順に１枚ずつプラテンガラス１０２上へ給送し、原稿の読み取り動作終了後、プラテンガラス１０２上の原稿を排出するものである。原稿がプラテンガラス１０２上に搬送されると、ランプ１０３を点灯し、そしてスキャナユニット１０４の移動を開始させて、原稿を露光走査する。この時の原稿からの反射光は、ミラー１０５，１０６，１０７、及びレンズ１０８によってＣＣＤイメージセンサ（以下ＣＣＤという）１０９へ導かれる。このように、走査された原稿の画像はＣＣＤ１０９によって読み取られるＣＣＤ１０９から出力される画像データは、所定の処理が施された後、プリンタ部２及び画像形成制御部１０２へ転送される。

プリンタ部１９０２のレーザドライバ２２１はレーザ発光部２，３を駆動するものであり、リーダ部１９０１から出力された画像データに応じたレーザ光をレーザ発光部２．３に発光させる。このレーザ光は感光ドラム１１に照射され、感光ドラム１１にはレーザ光に応じた潜像が形成される。この感光ドラム１１の潜像の部分には現像器２０３によって現像剤が付着される。そして、レーザ光の照射開始と同期したタイミングで、カセット２０４及びカセット２０５のいずれかから記録紙を給紙して転写部２０６へ搬送し、感光ドラム２０２に付着された現像剤を記録紙に転写する。現像剤の乗った記録紙は定着部２０７に搬送され、定着部２０７の熱と圧力により現像剤は記録紙に定者される。定着部２０７を通過した記録紙は排出ローラ２０８によって排出され、ソータ２２０は排出された記録紙をそれぞれのピンに収納して記録紙の仕分けを行う。

なお本実施形態では、図９の手順は電源投入時に行うとしたが、たとえば印刷した枚数を数え、一定数に達したなら図９の手順を実行しても良い。

［第２の実施形態］
図１２は第２の実施形態における光学走査ユニットを含む画像形成装置の構成図である。図１３は誤差平均算出回路８３のブロック図である。図１４は誤差平均算出回路８３のタイミングチャートである。本実施形態では、感光ドラムの回転の平均値を検出する点で第１実施形態と異なる。ビーム間隔の補正については第１実施形態と同様である。ただし、補正量算出回路３０に誤差平均算出回路８３から入力される信号は、速度検出信号２１および速度判定算出値２０ではなく、速度誤差信号８８および速度判定信号８７である。

回転検出信号発生部１４（以降ＦＧ発生部と略す）は、例えば、感光ドラム１１の回転軸に同軸に配置された円盤状の部材で、回転数を検出する矩形状の等間隔パターンが外周近傍に形成されている。更に、書き出し位置を検出する検出孔が設けられている。書き出し位置センサ１５（以降ＨＰセンサと略す）は発光部と受光部から構成され、ＦＧ発生部１４の検出孔を検出することで書き出し位置信号１６（以降ＨＰ信号と略す）を回転誤差検出回路１９に出力する。回転検出センサ１７（以降ＦＧセンサと略す）はホール素子等から構成され、ＦＧ発生部１４の回転によるパターンに通電された電流変化を検出してＦＧ信号１８を誤差平均算出回路８３に出力する。図１２の構成は、誤差平均算出回路８３およびラッチ８６が、速度信号検出回路４３の後段に付加されている点で図１の構成とは異なる。

以下に図１３の回路について説明する。検出開始信号発生回路３４は、ＨＰセンサ１５から出力されるＨＰ信号１６を整形し検出開始信号３５とする。検出開始信号３５は回転誤差算出を実施する基点となる信号である。回転検出信号発生回路３６は、回転検出（ＦＧ）センサ１７を矩形波となるよう波形整形し回転検出信号３７とする。速度進み／遅れ判定回路３８は基準信号発生回路３９から入力される基準信号４０と回転検出信号３７の周期を比較する。回転検出信号３７の周期が基準信号４０より短ければ速度進みと判定し速度進み信号４１を出力し、回転検出信号３７の周期が基準信号４０より長ければ速度遅れと判定し速度遅れ信号４２を出力する。速度検出信号発生回路４３はカウンタで構成され、不示図の画像形成制御部から入力されるカウンタクロック２８にて速度進み信号４１あるいは速度遅れ信号４２のパルス幅をカウントする。速度検出信号発生回路４３は検出開始信号３５が入力される毎にリセットされる。速度検出信号発生回路４３はカウント値を速度検出信号２１として出力する。また、速度進み信号４１が出力されている間は『Ｈ』、速度遅れ信号４２が出力されている間は『Ｌ』となる速度判定算出値２０を出力する。

平均値算出回路８３は、速度検出信号発生回路４３から入力される速度判定算出値２０及び速度検出信号２１の値が更新される毎に平均値を算出し、平均速度判定信号８４及び速度平均値８５として出力する。ラッチ８６は速度平均値８５を検出開始信号３５の立ち上りのタイミングで保持し、その値を速度誤差信号８８として出力する。同様に平均速度判定信号８４を検出開始信号３５の立ち上りのタイミングで保持し、その値を速度判定信号８７として出力する。

図１４に信号のタイミングを示す。第１実施形態と異なり、検出開始信号３５に同期して入力値をラッチするためのラッチ８６により、感光ドラム１１が前回１周した際の平均誤差および速度判定信号の値がラッチされている。そのため、感光ドラム１１が１周する間、その値が出力され続ける。したがって補正量算出回路３０では、１回転する際の平均の誤差を補正するように、光学ユニット４を駆動する。このため、感光ドラムの回転むらについては、予めその変動量を記憶しておく必要がなく、実時間で補正可能である。すなわち、本実施形態では、図９のステップＳ９１２以降は行わなくとも良い。そのため、図７の補正メモリ７８およびアドレス生成回路８０は不要であり、補正値算出回路６９の出力をスイッチ７５に直に接続できる。なお、ビーム間隔の補正については第１実施形態と同様である。

このようにして、本実施形態では、第１実施形態の装置にくらべて簡単な構成で感光ドラム等の回転体の回転むらを、光学ユニット４を用いて補正することができる。また、本実施形態は、とくに経時的な回転数の変化の補正を効果的に行うことができる。

なお本実施形態では誤差の平均値を感光ドラムの１回転毎にラッチしているが、１回転に限らず、２回転以上のあらかじめ定めた回転数であっても良いし、１．５回転など、半端な回転数であっても良い。

［第３の実施形態］
図１５は第３の実施形態を含む光学走査ユニットの構成図、図１６は画像検出センサ及び基準画像検出回路のタイミングチャートである。本実施形態では、感光ドラムの回転を、感光ドラムに形成した基準画像を光学的に検出する点で第１実施形態と異なる。ビーム間隔の補正については第１実施形態と同様である。また、感光ドラムの回転むらの補正は、第１実施形態と同様に、起動時などに予め求めて記憶しておいた補正量（あるいは誤差量）に基づいて行われる。ただし、補正量算出回路３０に誤差平均算出回路８３から入力される信号は、速度検出信号２１および速度判定算出値２０ではなく、周期誤差信号９７および周期判定信号９８である。

図１５において、基準画像発生回路９０はフォトセンサ１出力信号２２に基づいて感光ドラム１０上あるいは不示図の用紙上に画像形成を行うための基準画像データ９２を生成する。基準画像データ９２はフォトセンサ１１２のＰＤ１による出力信号２２の周期と同一かあるいは分周した周期（空間的な周期）をもつ画像を表すデータである。感光ドラムの幅方向については、印字領域は任意に設定してよい。図１６では、例として、フォトセンサ１２の出力信号２２の周期を４分周し、印字領域をフォトセンサ１の出力信号２２の周期の８０％程度に設定した画像を基準画像データとしている。たとえば、主走査方向に平行で、２主走査線分の幅を持つ黒線と、それと同じ幅を持つ白線とを交互に繰り返す縞模様は、上述した周期を持つ画像である。

画像発生命令信号９１は、不示図の画像形成制御部から入力される画像発生命令信号で、画像発生命令信号９１の出力時、検出開始信号３５により基準画像データ９２をレーザ駆動回路１に出力する。レーザ駆動回路１は、基準画像データ９２が入力されると半導体レーザ１及び半導体レーザ２を発光させ感光ドラム１１上に基準画像データ９２に応じた潜像を形成しトナー現像を行う。

画像検出センサ９３は、例えば濃度センサ等で構成され、基準画像データ９２に応じて感光ドラム１１上あるいは用紙上にトナー現像された画像パターンを検知する。画像検出センサ９３の配置は感光ドラム１１上でトナー現像を検知可能な場所に設置される。図１５ではドラム上の画像を検知しているが、センサ９３を画像が記録された用紙を検知できる位置におけば、用紙上の画像を検知できる。基準画像検出回路９５は、画像検出センサ出力信号９４を波形整形し矩形波とし、基準画像検出信号９６として周期誤差算出回路９７へ出力する。

図１７は第３の実施形態における周期誤差算出回路９７のブロック図である。図１８は周期誤差算出回路９７のタイミングチャートである。ＨＰセンサ１５はＦＧ発生部１４の検出孔を検出することでＨＰ信号１６を周期誤差検出回路９７内の検出開始信号発生回路３４に出力する。画像検出センサ９３は感光ドラム１１上の基準画像を検出し、画像検出センサ出力信号９４を基準画像検出回路９５へ出力する。基準画像検出回路９５は画像検出センサ出力信号９４にて波形整形した後、周期誤差算出回路９７内の周期検出信号発生回路１００に出力する。検出開始信号発生回路３４は、ＨＰセンサ１５から出力されるＨＰ信号１６を整形し検出開始信号３５とする。検出開始信号３５は周期誤差算出を実施する基点となる信号である。周期検出信号発生回路１００は、基準画像検出信号９６を任意のデューティに波形整形し周期検出信号１０１とする。周期縮み／伸び判定回路１０２は基準周期発生回路１０３から入力される基準周期１０４と周期検出信号１０１とを比較する。周期検出信号１０１が基準周期１０４より短ければ周期縮みと判定し周期縮み信号１０５を出力し、周期検出信号１０１が基準周期１０４より長ければ周期伸びと判定し周期伸び信号１０６を出力する。

周期検出信号発生回路１０７はカウンタで構成され、不示図の画像形成制御部から入力されるカウンタクロック２８にて周期縮み信号１０５あるいは周期伸び信号１０６のパルス幅をカウントする。検出開始信号３５が入力される毎にリセットされる。周期検出信号発生回路１０７はカウント値を周期誤差信号９９として出力し、周期縮み信号１０５が出力されている間は『Ｈ』、周期伸び信号１０６が出力されている間は『Ｌ』となる周期判定信号９８を出力する。

このように第１実施形態においては感光ドラム１１と同軸のＦＧ発生部１４の回転を回転検出センサ１７で検出したのに対して、本実施形態では、感光ドラム１１上に形成した基準画像を検出している。ＦＧ発生部と基準画像とは、感光ドラム１１の回転むらを検出する上では同じ意義を有する。したがって、補正量算出回路３０，光学モータ駆動回路３２，副走査位置検出回路２４については、第１実施形態と全く同様の構成でよい。また、図１８に示す信号のタイミングも、第１実施形態の図３の説明と同様に理解することができる。ただし、図１８の周期縮み信号１０５、周期伸び信号１０６をそれぞれ図３の速度進み信号４１、速度遅れ信号４２と読み替え、速度判定信号２０および速度誤差信号２１をそれぞれ周期判定信号９８および周期誤差信号９９と読み替える必要がある。

以上のように、本実施形態によれば、モータユニット５により光学ユニット４を駆動することで、ビーム間隔の補正と、感光ドラムの回転むらの補正とを行うことができる。

さらに、本実施形態では感光ドラム上に基準画像を形成してそれを補正するために、感光ドラムそのものの回転を検出でき、より信頼性を向上させることができる。

第１の実施形態における光学装置を含む画像形成装置を示す構成図である。 第１の実施形態における回転誤差算出回路の主要ブロック図である。 第１の実施形態における回転誤差算出回路のタイミングチャートである。 第１の実施形態における走査位置検出センサのセンサ配置図及び等価回路の図である。 第１の実施形態における副走査位置検出回路の主要ブロック図である。 第１の実施形態における副走査位置検出回路のタイミングチャートである。 第１の実施形態における補正量算出回路の構成を示すブロック図である。 第１の実施形態における光学モータユニット５のモータステップ数と副走査移動量との関係を示すグラフを示す図である。 第１の実施形態における補正量算出回路の制御フローチャートである。 第１の実施形態における補正値算出回路の動作状態を示すグラフを示すである。 第１の実施形態におけるＰＤセンサ係数の設定方法を説明する構成図である。 第４の実施形態における光学装置を含む画像形成装置を示す構成図である。 第４の実施形態における誤差平均算出回路の主要ブロック図である。 第４の実施形態における誤差平均算出回路のタイミングチャートである。 第７の実施形態における光学装置を含む画像形成装置を示す構成図である。 第７の実施形態における画像検出センサ及び基準画像検出回路のタイミングチャートである。 第７の実施形態における周期誤差算出回路の主要ブロック図である。 第７の実施形態における周期誤差算出回路のタイミングチャートである。 実施形態の画像形成装置の断面図である。

符号の説明

１・・・・レーザ駆動回路
２・・・・半導体レーザａ
３・・・・半導体レーザｂ
４・・・・光学ユニット
５・・・・光学モータユニット
６・・・・シリンドリカルレンズ
７・・・・回転多面鏡（ポリゴンミラー）
８・・・・回転多面鏡（ポリゴンミラー）駆動回路
９・・・・ｆ−θレンズ
１０・・・・反射ミラー
１１・・・・像担持体（感光ドラム）
１２・・・・副走査位置検出センサ
１３・・・・像担持体（感光ドラム）駆動モータ
１４・・・・回転検出信号（ＦＧ）発生部
１５・・・・書き出し位置（ＨＰ）センサ
１６・・・・書き出し位置（ＨＰ）信号
１７・・・・回転検出（ＦＧ）センサ
１８・・・・回転検出（ＦＧ）信号
１９・・・・回転誤差算出回路
２０・・・・速度判定信号
２１・・・・回転誤差信号
２２・・・・フォトセンサ１出力信号
２３・・・・フォトセンサ２出力信号
２４・・・・副走査位置検出回路
２５・・・・比較タイミング信号
２６・・・・副走査差分信号
２７・・・・走査判定信号
２８・・・・カウントクロック
２９・・・・補正モード選択信号
３０・・・・補正量算出回路
３１・・・・モータ制御信号
３２・・・・光学モータユニット駆動回路
３３・・・・光学モータユニット駆動信号
３４・・・・検出開始信号発生回路
３５・・・・検出開始信号
３６・・・・回転検出信号発生回路
３７・・・・回転検出信号
３８・・・・速度進み／遅れ判定回路
３９・・・・基準信号発生回路
４０・・・・基準信号
４１・・・・速度進み信号
４２・・・・速度遅れ信号

Claims (7)

1. 複数の半導体レーザから出射される光ビームを互いに平行な光ビームに合成する光学ユニットと、
   前記光学ユニットを通過した複数の光ビームが回転する像担持体表面を前記回転方向と垂直な方向に走査するように前記複数の光ビームを偏向する偏向手段と、
   前記像担持体表面における前記複数の光ビームの間隔および前記像担持体の回転方向における露光位置を変化させるために、前記光学ユニットを駆動して出射する光ビームの向きを変動させる駆動手段と、
   前記偏向手段によって偏向された前記複数の光ビームの間隔を検出する光ビーム検出手段と、
   前記光ビーム検出手段の検出結果に基づいて前記複数の光ビームの間隔を所定の間隔に補正するために第１の補正値を算出する第１の算出手段と、
   前記像担持体が回転することによって生成される信号に基づいて前記像担持体の回転周期を検出する周期検出手段と、
   前記周期検出手段により検出された回転周期と基準周期との周期差に基づいて、前記基準周期に対応する前記像担持体上の走査位置の間隔と前記周期差に対応して生じる前記走査位置の間隔との差分を補正する第２の補正値を算出する第２の算出手段と、
   前記第１の算出手段により算出された前記第１の補正値に基づいて前記駆動手段を駆動した後に、前記光ビームの間隔が補正された状態で前記第２の補正手段によって算出された前記第２の補正値に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段とを備えることを特徴とする光学走査装置。
2. 前記第２の補正値を記憶する記憶手段を更に備え、
   前記制御手段は、前記複数の半導体レーザが画像データに基づいて前記像担持体を露光するための前記光ビームの出射をする際に前記記憶手段から前記第２の補正値を読み出し、読み出された前記第２の補正値に基づいて前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
3. 
   前記制御手段は、前記複数の半導体レーザが画像データに基づいて前記像担持体を露光するための前記光ビームを出射するより前に前記第１の補正値に基づいて前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
4. 前記周期検出手段は、前記像担持体の回転軸と同軸に取り付けた回転板に設けた磁気あるいは視覚的な周期パターンを検出することによって生成される前記信号に基づいて前記回転周期を検出することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
5. 前記周期検出手段は、前記像担持体上に形成した周期的なパターンを持つ画像を検出することによって生成される前記信号に基づいて前記回転周期を検出することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
6. 画像データにより変調した光ビームにより像担持体上に画像を形成する請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光学走査装置と、
   前記像担持体上に形成した画像を記録材に転写する転写手段と
   を備えることを特徴とする画像形成装置。
7. 複数の半導体レーザから出射される光ビームを互いに平行な光ビームに合成する光学ユニットと、前記光学ユニットを通過した複数の光ビームが回転する像担持体表面を前記回転方向と垂直な方向に走査するように前記複数の光ビームを偏向する偏向手段と、前記像担持体表面における前記複数の光ビームの間隔および前記像担持体の回転方向における露光位置を変化させるために、前記光学ユニットを駆動して出射する光ビームの向きを変動させる駆動手段とを有する光学走査装置の制御方法であって、
   前記偏向手段によって偏向された前記複数の光ビームの間隔を検出する光ビーム検出工程と、
   前記光ビーム検出工程による検出結果に基づいて前記光ビームの間隔を所定の間隔に補正するために第１の補正値を算出第１の算出工程と、
   前記像担持体が回転することによって生成される信号に基づいて前記像担持体の回転周期を検出する周期検出工程と、
   前記周期検出手段により検出された回転周期と基準周期との周期差に基づいて、前記基準周期に対応する前記像担持体上の走査位置の間隔と前記周期差に対応して生じる前記走査位置の間隔との差分を補正する第２の補正値を算出する第２の算出工程と、
   前記第１の算出工程により算出された前記第１の補正値に基づいて前記駆動手段を駆動した後に、前記光ビームの間隔が補正された状態で前記第２の補正工程によって算出された前記第２の補正値に基づいて前記駆動手段を制御する制御工程とを有することを特徴とする光学走査装置の制御方法。

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