JP5049542B2 - Antireflection film, polarizing plate, and image display device using the same - Google Patents

Antireflection film, polarizing plate, and image display device using the same Download PDF

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Description

本発明は反射防止フイルム、偏光板及び画像表示装置に関する。   The present invention relates to an antireflection film, a polarizing plate, and an image display device.

反射防止フイルムは一般に、陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や液晶表示装置(LCD)のようなディスプレイ装置において、外光の反射によるコントラスト低下や像の映り込みを防止するために、光学干渉の原理を用いて反射率を低減するようにディスプレイの最表面に配置される。   In general, an antireflection film is used in a display device such as a cathode ray tube display (CRT), a plasma display (PDP), an electroluminescence display (ELD), or a liquid crystal display (LCD) to reduce contrast or reflect an image due to reflection of external light. In order to prevent engraving, it is placed on the outermost surface of the display to reduce reflectivity using the principle of optical interference.

このような反射防止フイルムは、最表面に適切な膜厚の低屈折率層、場合により支持体との間に適宜高屈折率層、中屈折率層、ハードコート層などを形成することにより作製できる。低い反射率を実現するために低屈折率層にはできるだけ屈折率の低い材料が望まれる。また反射防止フイルムは最表面に用いられることからディスプレイ装置の保護膜としての機能が期待される。汚れやほこりが付着しにくいことや、耐擦傷性が強いことが求められる。厚さ100nm前後の薄膜において高い耐擦傷性を実現するためには、皮膜自体の強度、および下層への密着性が必要である。   Such an antireflection film is prepared by forming a low refractive index layer having an appropriate thickness on the outermost surface, and optionally a high refractive index layer, a medium refractive index layer, a hard coat layer, etc. between the support and the support. it can. In order to realize a low reflectance, a material having a refractive index as low as possible is desired for the low refractive index layer. Further, since the antireflection film is used on the outermost surface, it is expected to function as a protective film for the display device. It is required that dirt and dust are difficult to adhere and that scratch resistance is strong. In order to realize high scratch resistance in a thin film having a thickness of around 100 nm, the strength of the coating itself and the adhesion to the lower layer are required.

材料の屈折率を下げるには、フッ素原子を導入する、密度を下げる(空隙を導入する)という手段があるがいずれも皮膜強度および密着性が損なわれ耐擦傷性が低下する方向であり、低い屈折率と高い耐傷性の両立は困難な課題であった。   In order to lower the refractive index of the material, there are means of introducing fluorine atoms and lowering the density (introducing voids), but both are in the direction that the film strength and adhesion are impaired and the scratch resistance is lowered, and low Reconciling refractive index and high scratch resistance has been a difficult task.

また、特にフッ素原子を含有するバインダーは、バインダーが負に帯電し易く、ディスプレイ表面に使用した場合には環境中の埃が付着し易いという問題があった。更に、フッ素系の防汚材料を用いると、フッ素系の防汚剤が膜表面に配向して防汚性を発揮するため、表面が更に負に帯電しやすくなり塵埃が付着しやすくなるという課題を有しており、改良技術が求められていた。
防塵性付与の技術としては、カチオン系やアニオン系の材料を添加することが記載されている。しかしながらこの材料を用いた場合には、塗布液中で分離してしまったり、塗布時にムラが生じたり、膜の耐擦傷性が悪化するなどの問題を有していた。
また、特許文献1には、導電性の粒子を含有する所謂帯電防止層を設けることが知られている。この方法は、新たに層を設けることが必要であり製造時の設備や時間の負荷が大きいという問題を有している。また、従来一般に用いられている帯電防止のための導電性粒子は、粒子の屈折率が1.6〜2.2程度のものが多く、これら粒子を含有する帯電防止層の屈折率が上がってしまう。帯電防止層の屈折率が高いために、光学フィルムにおいては、隣接層との屈折率の違いにより意図せぬ干渉ムラが生じたり、反射色の色味が強くなるなどの点で改良が望まれていた。
In particular, the binder containing fluorine atoms has a problem that the binder tends to be negatively charged, and when used on the display surface, dust in the environment tends to adhere. Furthermore, when a fluorine-based antifouling material is used, the fluorine-based antifouling agent is oriented on the film surface and exhibits antifouling properties, so that the surface is more likely to be negatively charged and dust is likely to adhere. There is a need for improved technology.
As a technique for imparting dust resistance, it is described that a cationic or anionic material is added. However, when this material is used, there are problems such as separation in the coating solution, unevenness during coating, and deterioration of the scratch resistance of the film.
Further, Patent Document 1 is known to provide a so-called antistatic layer containing conductive particles. This method has a problem that it is necessary to provide a new layer, and equipment and time load during production are large. In addition, the conductive particles for antistatic that are generally used in the past have many particles having a refractive index of about 1.6 to 2.2, and the refractive index of the antistatic layer containing these particles is increased. End up. Since the refractive index of the antistatic layer is high, the optical film is desired to be improved in terms of unintentional interference unevenness due to the difference in refractive index from the adjacent layer, and the reflected color becomes strong. It was.

導電性粒子の屈折率を低下させるという観点からは、特許文献2にシリカ粒子の表面を酸化アンチモンで被覆した粒子を低屈折率層に使用することが記載されている。しかしながら、該特許文献には、防汚性改良の技術が記載されておらず、防汚性の点で更なる改良が必要であった。   From the viewpoint of reducing the refractive index of the conductive particles, Patent Document 2 describes that particles having the surface of silica particles coated with antimony oxide are used for the low refractive index layer. However, this patent document does not describe a technique for improving the antifouling property, and further improvement is necessary in terms of the antifouling property.

一方、特許文献3には含フッ素ポリマーを利用した低屈折率層素材にシランカップリング剤を添加することにより耐傷性が大幅に改良されることが記載されている。しかしながら沸点が低いシランカップリング剤は塗布乾燥工程で揮散する問題があり、揮散分を考慮した過剰量の添加を必要とし、安定した性能を得るのが難しいという問題があった。   On the other hand, Patent Document 3 describes that the scratch resistance is greatly improved by adding a silane coupling agent to a low refractive index layer material using a fluorine-containing polymer. However, the silane coupling agent having a low boiling point has a problem that it volatilizes in the coating and drying process, and requires an excessive amount of addition considering the volatilized content, and there is a problem that it is difficult to obtain stable performance.

一方、特許文献4には防汚性付与のためには、防汚層をオーバーコートすることが記載されている。しかしながら、これらの防汚性付与化合物は、オルガノシラン系化合物の加水分解縮合物を主バインダーとする層の上には塗設できるものの、一般に広く用いられる電離放射線硬化型バインダーの上でははじき易かったり、ムラを生じ易いなどの課題を有していた。   On the other hand, Patent Document 4 describes that an antifouling layer is overcoated to impart antifouling properties. However, although these antifouling property-imparting compounds can be coated on a layer containing a hydrolyzed condensate of an organosilane compound as a main binder, they can be easily repelled on a widely used ionizing radiation curable binder. However, it has problems such as unevenness.

本発明に係る先行技術は、以下の通りである。
特開2005−196122号公報 特開2005−119909号公報 特開2003−222704号公報 特開2002−277604号公報
The prior art according to the present invention is as follows.
JP 2005-196122 A JP 2005-119909 A JP 2003-222704 A JP 2002-277604 A

本発明の目的は、密着性、耐擦傷性、防塵性および防汚性に優れ、且つ十分な反射防止性能を持つ反射防止フイルムを提供することにある。特に、含フッ素ポリマーや含フッ素防汚剤を用いたときに、防汚性及び防塵性に優れた十分な反射防止性能を持つ反射防止フイルムを提供することにある。更には、そのような反射防止フイルムを用いた偏光板や画像表示装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an antireflection film which is excellent in adhesion, scratch resistance, dust resistance and antifouling properties and has sufficient antireflection performance. In particular, an object of the present invention is to provide an antireflection film having a sufficient antireflection performance excellent in antifouling property and dustproofness when a fluorine-containing polymer or a fluorine-containing antifouling agent is used. Furthermore, it is providing the polarizing plate and image display apparatus using such an antireflection film.

本発明者らは、上述の課題を解消すべく鋭意検討した結果、下記構成とすることにより、前記課題を解決し目的を達成しうることを知見し、本発明を完成するに至った。
すなわち本発明は、下記の構成により前記目的を達成したものである。
[1]
少なくとも一層の屈折率1.28〜1.48の層のうち透明支持体からもっとも遠くに位置する層が、少なくとも以下の成分を含有する塗布組成物を塗設することにより形成されていることを特徴とする反射防止フイルム。
(A)1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物
(B)導電性金属酸化物被覆層を有する、多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子
(D)少なくとも1種の電離放射線硬化型の含フッ素防汚剤
(含フッ素防汚剤は以下の一般式(F−3)で表される少なくとも1種である。)
一般式(F−3):
(Rf)−[(W)−(R ]
(一般式(F−3)中、Rfは(パー)フルオロポリエーテル基、Wは連結基、R は(メタ)アクリル基を表す。nは1〜3、mは1〜3の整数を表し、nとmは同時に1であることはない。)
[2]
前記化合物(A)が、パーフルオロオレフィン重合単位及び(メタ)アクリロイル基含有重合単位をそれぞれ少なくとも1種含有する含フッ素ポリマーであることを特徴とする、[1]に記載の反射防止フイルム。
[3]
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする[1]または[2]に記載の反射防止フイルム。
[4]
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする[1]〜[3]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
[5]
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が、導電性金属酸化物被覆層の上にシリカ被覆層、または下記一般式(3)で表されるオルガノシランの加水分解物及び/又はその部分縮合物により表面処理されたシリカ被覆層を持つことを特徴とする、[1]〜[4]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(3): (R 30 m1 Si(X 31 4−m1
(一般式(3)中、R 30 は、置換もしくは無置換のアルキル基又は、置換もしくは無置換のアリール基を表す。X 31 は水酸基又は加水分解可能な基を表す。m1は1〜3の整数を表す。)
[6]
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)の屈折率が1.35〜1.60の範囲にあり、体積抵抗値が10〜5000Ω/cmの範囲にあることを特徴とする[1]〜[5]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
[7]
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)の平均粒子径が5〜300nmの範囲にあり、導電性金属酸化物被覆層の厚さが0.5〜30nmの範囲にあることを特徴とする[1]〜[6]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
[8]
前記塗布組成物が、さらに
(C)下記一般式(I)で表されるポリシロキサン部分構造を含有する化合物を有することを特徴とする[1]〜[7]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(I)

Figure 0005049542
{一般式(I)中、R 及びR は同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。pは10〜500の整数を表す。}
[9]
前記1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(1)で表されることを特徴とする、[1]〜[8]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(1):
Figure 0005049542
{一般式(1)中、L 11 は炭素数1〜10の連結基を表し、s1は0又は1を表す。R 11 は水素原子又はメチル基を表す。A 11 は側鎖に水酸基を持つ繰り返し単位を表す。Y 11 はポリシロキサン構造を主鎖に含む構成成分を表わす。x、y、及びzは、Y 11 以外の全繰返し単位を基準とした場合のそれぞれの繰返し単位のモル%を表し、30≦x≦60、30≦y≦70、0≦z≦40を満たす値を表す。ただし、x+y+z=100(モル%)である。uは共重合体中の構成成分Y 11 の質量%を表し、0.01≦u≦20である。}
[10]
前記1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(2)で表されることを特徴とする、[1]〜[8]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(2):
Figure 0005049542
{一般式(2)中、Rf 21 は炭素数1〜5のペルフルオロアルキル基を表し、Rf 22 は炭素数1〜30の直鎖、分岐又は脂環構造を有する含フッ素アルキル基を表し、エーテル結合を有していてもよく、A 21 は架橋反応に関与し得る反応性基を有する構成単位を表し、B 21 は任意の構成成分を表す。R 21 及びR 22 は、同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。p1は10〜500の整数を表す。R 23 〜R 25 は、互いに独立に、置換又は無置換の1価の有機基又は水素原子を表し、R 26 は水素原子又はメチル基を表わす。L 21 は炭素数1〜20の任意の連結基又は単結合を表す。a〜dはそれぞれポリシロキサンを含有する重合単位を除く各構成成分のモル分率(%)を表し、それぞれ10≦a+b≦55、10≦a≦55、0≦b≦45、10≦c≦50、0≦d≦40の関係を満たす値を表す。eはポリシロキサンを含有する重合単位の、他の成分全体の質量に対する質量分率(%)を表し、0.01<e<20の関係を満たす。}
[11]
[1]〜[10]のいずれか一項に記載の反射防止フイルムを、少なくとも一方の側に備えたことを特徴とする偏光板。
[12]
[1]〜[10]のいずれか一項に記載の反射防止フイルム及び[11]に記載の偏光板のうちの少なくとも一つが配置されていることを特徴とする画像表示装置。
本発明は上記[1]〜[12]に関するものであるが、以下、その他の事項についても参考のために記載した。 As a result of intensive studies to solve the above-described problems, the present inventors have found that the above-described problems can be solved and the object can be achieved, and the present invention has been completed.
That is, the present invention achieves the object by the following configuration.
[1]
Of the at least one layer having a refractive index of 1.28 to 1.48, the layer farthest from the transparent support is formed by coating a coating composition containing at least the following components: Characteristic anti-reflection film.
(A) Ionizing radiation curable compound containing at least two ethylenically unsaturated groups in one molecule
(B) Porous inorganic fine particles having a conductive metal oxide coating layer or fine particles having cavities inside
(D) At least one ionizing radiation curable fluorine-containing antifouling agent
(The fluorine-containing antifouling agent is at least one kind represented by the following general formula (F-3).)
Formula (F-3):
(Rf)-[(W)-(R A ) n ] m
(In General Formula (F-3), Rf represents a (per) fluoropolyether group, W represents a linking group, and RA represents a (meth) acrylic group. N represents an integer of 1 to 3, and m represents an integer of 1 to 3. And n and m are not 1 at the same time.)
[2]
The antireflective film according to [1], wherein the compound (A) is a fluoropolymer containing at least one perfluoroolefin polymer unit and (meth) acryloyl group-containing polymer unit.
[3]
The antireflection film according to [1] or [2], wherein the porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein are silica-based fine particles having an antimony oxide coating layer.
[4]
Any one of [1] to [3], wherein the porous inorganic fine particles or the fine particles (B) having cavities therein are porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities therein. The antireflection film as described.
[5]
The porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein are formed on a conductive metal oxide coating layer, a silica coating layer, or an organosilane hydrolyzate represented by the following general formula (3) and / or Alternatively, the antireflection film according to any one of [1] to [4], which has a silica coating layer surface-treated with a partial condensate thereof.
Formula (3): (R 30 ) m1 Si (X 31 ) 4-m1
(In general formula (3), R 30 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X 31 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. Represents an integer.)
[6]
The porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein have a refractive index in the range of 1.35 to 1.60 and a volume resistance value in the range of 10 to 5000 Ω / cm. [1] The antireflection film according to any one of [5].
[7]
The average particle diameter of the porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein is in the range of 5 to 300 nm, and the thickness of the conductive metal oxide coating layer is in the range of 0.5 to 30 nm. The antireflection film according to any one of [1] to [6], which is characterized in that
[8]
The coating composition further
(C) The antireflection film as described in any one of [1] to [7], which has a compound containing a polysiloxane partial structure represented by the following general formula (I).
Formula (I)
Figure 0005049542
{In General Formula (I), R 1 and R 2 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p represents an integer of 10 to 500. }
[9]
The ionizing radiation curable compound (A) containing at least two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule is represented by the following general formula (1): [1] to [8] ] The antireflection film as described in any one of the above.
General formula (1):
Figure 0005049542
{In General Formula (1), L 11 represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, and s1 represents 0 or 1. R 11 represents a hydrogen atom or a methyl group. A 11 represents a repeating unit having a hydroxyl group in the side chain. Y 11 represents a constituent component containing a polysiloxane structure in the main chain. x, y, and z represent mol% of respective repeating units in the case relative to the total repeating units other than Y 11, satisfy 30 ≦ x ≦ 60,30 ≦ y ≦ 70,0 ≦ z ≦ 40 Represents a value. However, it is x + y + z = 100 (mol%). u represents the mass% of the component Y 11 in the copolymer is 0.01 ≦ u ≦ 20. }
[10]
The ionizing radiation curable compound (A) containing at least two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule is represented by the following general formula (2): [1] to [8] ] The antireflection film as described in any one of the above.
General formula (2):
Figure 0005049542
{In General Formula (2), Rf 21 represents a perfluoroalkyl group having 1 to 5 carbon atoms, Rf 22 represents a fluorine-containing alkyl group having a linear, branched or alicyclic structure having 1 to 30 carbon atoms, and ether A 21 may have a bond, A 21 represents a structural unit having a reactive group capable of participating in a crosslinking reaction, and B 21 represents an arbitrary structural component. R 21 and R 22 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p1 represents an integer of 10 to 500. R 23 to R 25 each independently represent a substituted or unsubstituted monovalent organic group or a hydrogen atom, and R 26 represents a hydrogen atom or a methyl group. L 21 represents an arbitrary linking group having 1 to 20 carbon atoms or a single bond. a to d represent the mole fraction (%) of each constituent component excluding polymer units containing polysiloxane, and 10 ≦ a + b ≦ 55, 10 ≦ a ≦ 55, 0 ≦ b ≦ 45, 10 ≦ c ≦, respectively. It represents a value satisfying the relationship of 50, 0 ≦ d ≦ 40. e represents the mass fraction (%) of the polymer unit containing polysiloxane with respect to the mass of the other components, and satisfies the relationship of 0.01 <e <20. }
[11]
A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of [1] to [10] on at least one side.
[12]
At least one of the antireflection film according to any one of [1] to [10] and the polarizing plate according to [11] is disposed.
The present invention relates to the above [1] to [12], but other matters are also described below for reference.

(1)
少なくとも一層の屈折率1.28〜1.48の層のうち透明支持体からもっとも遠くに位置する層が、少なくとも以下の成分を含有する塗布組成物を塗設することにより形成されていることを特徴とする反射防止フイルム。
(A)電離放射線硬化性化合物
(B)導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子
(2)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)が多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子であることを特徴とする(1)に記載の反射防止フイルム。
(3)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)が酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする(1)または(2)に記載の反射防止フイルム。
(4)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)が多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする(1)〜(3)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
(5)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)が、導電性金属酸化物被覆層の上にシリカ被覆層、または下記一般式(3)で表されるオルガノシランの加水分解物及び/又はその部分縮合物により表面処理されたシリカ被覆層を持つことを特徴とする、(1)〜(4)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
一般式(3): (R30m1Si(X314−m1
(一般式(3)中、R30は、置換もしくは無置換のアルキル基又は、置換もしくは無置換のアリール基を表す。X31は水酸基又は加水分解可能な基を表す。m1は1〜3の整数を表す。)
(6)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)の屈折率が1.35〜1.60の範囲にあり、体積抵抗値が10〜5000Ω/cmの範囲にあることを特徴とする(1)〜(5)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
(7)
前記導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)の平均粒子径が5〜300nmの範囲にあり、導電性金属酸化物被覆層の厚さが0.5〜30nmの範囲にあることを特徴とする(1)〜(6)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
(8)
前記化合物(A)が、1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有することを特徴とする、(1)〜(7)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
(9)
前記化合物(A)が、パーフルオロオレフィン重合単位及び(メタ)アクリロイル基含有重合単位をそれぞれ少なくとも1種含有する含フッ素ポリマーであることを特徴とする、(1)〜(8)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
(10)
前記塗布組成物が、さらに
(C)下記一般式(I)で表されるポリシロキサン部分構造を含有する化合物
を有することを特徴とする(1)〜(9)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
一般式(I)
(1)
Of the at least one layer having a refractive index of 1.28 to 1.48, the layer farthest from the transparent support is formed by coating a coating composition containing at least the following components: Characteristic anti-reflection film.
(A) Ionizing radiation curable compound (B) Fine particles having a conductive metal oxide coating layer (2)
The antireflection film according to (1), wherein the fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer are porous inorganic fine particles or fine particles having cavities therein.
(3)
The antireflection film according to (1) or (2), wherein the fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer are silica-based fine particles having an antimony oxide coating layer.
(4)
The reflection according to any one of (1) to (3), wherein the fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer are porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities therein. Prevention film.
(5)
The fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer are a silica coating layer on the conductive metal oxide coating layer, or a hydrolyzate of organosilane represented by the following general formula (3) and / or The antireflection film according to any one of (1) to (4), wherein the antireflection film has a silica coating layer surface-treated with the partial condensate.
Formula (3): (R 30 ) m1 Si (X 31 ) 4-m1
(In general formula (3), R 30 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X 31 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. Represents an integer.)
(6)
The fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer have a refractive index in the range of 1.35 to 1.60 and a volume resistance value in the range of 10 to 5000 Ω / cm (1). ) To (5).
(7)
The fine particles (B) having the conductive metal oxide coating layer have an average particle diameter in the range of 5 to 300 nm, and the conductive metal oxide coating layer has a thickness in the range of 0.5 to 30 nm. The antireflection film according to any one of (1) to (6).
(8)
The antireflective film according to any one of (1) to (7), wherein the compound (A) contains at least two ethylenically unsaturated groups in one molecule.
(9)
Any of (1) to (8), wherein the compound (A) is a fluoropolymer containing at least one perfluoroolefin polymer unit and (meth) acryloyl group-containing polymer unit. The antireflection film as described.
(10)
The coating composition further comprises (C) a compound containing a polysiloxane partial structure represented by the following general formula (I): Antireflection according to any one of (1) to (9) Film.
Formula (I)

Figure 0005049542
Figure 0005049542

{一般式(I)中、R及びRは同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。pは10〜500の整数を表す。}
(11)
前記電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(1)で表されることを特徴とする、(1)〜(10)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
一般式(1):
{In General Formula (I), R 1 and R 2 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p represents an integer of 10 to 500. }
(11)
The anti-reflection film according to any one of (1) to (10), wherein the ionizing radiation-curable compound (A) is represented by the following general formula (1).
General formula (1):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

{一般式(1)中、L11は炭素数1〜10の連結基を表し、s1は0又は1を表す。R11は水素原子又はメチル基を表す。A11は側鎖に水酸基を持つ繰り返し単位を表す。Y11はポリシロキサン構造を主鎖に含む構成成分を表わす。x、y、及びzは、Y11以外の全繰返し単位を基準とした場合のそれぞれの繰返し単位のモル%を表し、30≦x≦60、30≦y≦70、0≦z≦40を満たす値を表す。ただし、x+y+z=100(モル%)である。uは共重合体中の構成成分Y11の質量%を表し、0.01≦u≦20である。}
(12)
前記電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(2)で表されることを特徴とする、(1)〜(9)のいずれかに記載の反射防止フイルム。
一般式(2):
{In General Formula (1), L 11 represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, and s1 represents 0 or 1. R 11 represents a hydrogen atom or a methyl group. A 11 represents a repeating unit having a hydroxyl group in the side chain. Y 11 represents a constituent component containing a polysiloxane structure in the main chain. x, y, and z represent mol% of respective repeating units in the case relative to the total repeating units other than Y 11, satisfy 30 ≦ x ≦ 60,30 ≦ y ≦ 70,0 ≦ z ≦ 40 Represents a value. However, it is x + y + z = 100 (mol%). u represents the mass% of the component Y 11 in the copolymer is 0.01 ≦ u ≦ 20. }
(12)
The anti-reflection film according to any one of (1) to (9), wherein the ionizing radiation curable compound (A) is represented by the following general formula (2).
General formula (2):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

{一般式(2)中、Rf21は炭素数1〜5のペルフルオロアルキル基を表し、Rf22は炭素数1〜30の直鎖、分岐又は脂環構造を有する含フッ素アルキル基を表し、エーテル結合を有していてもよく、A21は架橋反応に関与し得る反応性基を有する構成単位を表し、B21は任意の構成成分を表す。R21及びR22は、同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。p1は10〜500の整数を表す。R23〜R25は、互いに独立に、置換又は無置換の1価の有機基又は水素原子を表し、R26は水素原子又はメチル基を表わす。L21は炭素数1〜20の任意の連結基又は単結合を表す。a〜dはそれぞれポリシロキサンを含有する重合単位を除く各構成成分のモル分率(%)を表し、それぞれ10≦a+b≦55、10≦a≦55、0≦b≦45、10≦c≦50、0≦d≦40の関係を満たす値を表す。eはポリシロキサンを含有する重合単位の、他の成分全体の質量に対する質量分率(%)を表し、0.01<e<20の関係を満たす。}
(13)
前記塗布組成物が、さらに
少なくとも1種の電離放射線硬化型の含フッ素防汚剤(D)を含有することを特徴とする(1)〜(12)に記載の反射防止フイルム。
(14)
(1)〜(13)のいずれかに記載の反射防止フイルムを、少なくとも一方の側に備えたことを特徴とする偏光板。
(15)
(1)〜(13)のいずれかに記載の反射防止フイルム及び(14)に記載の偏光板のうちの少なくとも一つが配置されていることを特徴とする画像表示装置。
{In General Formula (2), Rf 21 represents a perfluoroalkyl group having 1 to 5 carbon atoms, Rf 22 represents a fluorine-containing alkyl group having a linear, branched or alicyclic structure having 1 to 30 carbon atoms, and ether A 21 may have a bond, A 21 represents a structural unit having a reactive group capable of participating in a crosslinking reaction, and B 21 represents an arbitrary structural component. R 21 and R 22 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p1 represents an integer of 10 to 500. R 23 to R 25 each independently represent a substituted or unsubstituted monovalent organic group or a hydrogen atom, and R 26 represents a hydrogen atom or a methyl group. L 21 represents an arbitrary linking group having 1 to 20 carbon atoms or a single bond. a to d represent the mole fraction (%) of each constituent component excluding polymer units containing polysiloxane, and 10 ≦ a + b ≦ 55, 10 ≦ a ≦ 55, 0 ≦ b ≦ 45, 10 ≦ c ≦, respectively. It represents a value satisfying the relationship of 50, 0 ≦ d ≦ 40. e represents the mass fraction (%) of the polymer unit containing polysiloxane with respect to the mass of the other components, and satisfies the relationship of 0.01 <e <20. }
(13)
The antireflection film as described in any one of (1) to (12), wherein the coating composition further contains at least one ionizing radiation curable fluorine-containing antifouling agent (D).
(14)
A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of (1) to (13) on at least one side.
(15)
At least one of the antireflection film according to any one of (1) to (13) and the polarizing plate according to (14) is disposed.

本発明により、耐擦傷性・防塵性と防汚性に優れ、且つ十分な反射防止性能を持つ反射防止フイルムを提供することにある。更には、そのような反射防止フイルムを用いることにより、高品質な偏光板や画像表示装置を提供することができる。   An object of the present invention is to provide an antireflection film which is excellent in scratch resistance, dust resistance and antifouling properties and has sufficient antireflection performance. Furthermore, by using such an antireflection film, a high-quality polarizing plate and an image display device can be provided.

以下、本発明について更に詳細に説明する。なお、本明細書において、数値が物性値、特性値等を表す場合に、「(数値1)〜(数値2)」という記載は「(数値1)以上(数値2)以下」の意味を表す。また、本明細書において、「(メタ)アクリレート」との記載は、「アクリレート及びメタクリレートの少なくともいずれか」の意味を表す。「(メタ)アクリル酸」等も同様である。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail. In the present specification, when a numerical value represents a physical property value, a characteristic value, etc., the description “(numerical value 1) to (numerical value 2)” means “(numerical value 1) or more and (numerical value 2) or less”. . In the present specification, the description “(meth) acrylate” means “at least one of acrylate and methacrylate”. The same applies to “(meth) acrylic acid” and the like.

<反射防止フイルム>
本発明の反射防止フイルムは、少なくとも一層の低屈折率層のうち透明支持体からもっとも遠くに位置する低屈折率層が、少なくとも以下の成分を含有する塗布組成物を塗設することにより形成されていることを特徴とする。
(A)電離放射線硬化性化合物
(B)導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子
<Anti-reflective film>
The antireflective film of the present invention is formed by coating a coating composition containing at least the following components on a low refractive index layer located farthest from the transparent support among at least one low refractive index layer. It is characterized by.
(A) Ionizing radiation curable compound (B) Fine particles having a conductive metal oxide coating layer

〔低屈折率層〕
まず、本発明の反射防止フイルムの低屈折率層について説明する。
本発明における低屈折率層の屈折率は1.28〜1.48、好ましくは1.34〜1.44の範囲にある。さらに、低屈折率層は下記数式(1)を満たすことが低反射率化の点で好ましい。
数式(1):(mλ/4)×0.7<n<(mλ/4)×1.3
式中、mは正の奇数であり、nは低屈折率層の屈折率であり、そしてdは低屈折率層の膜厚(nm)である。また、λは波長であり、500〜550nmの範囲の値である。
なお、上記数式(1)を満たすとは、上記波長の範囲において数式(1)を満たすm(正の奇数、通常1である)が存在することを意味している。
(Low refractive index layer)
First, the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention will be described.
The refractive index of the low refractive index layer in the present invention is in the range of 1.28 to 1.48, preferably 1.34 to 1.44. Further, the low refractive index layer preferably satisfies the following formula (1) from the viewpoint of reducing the reflectance.
Formula (1): (m 1 λ / 4) × 0.7 <n 1 d 1 <(m 1 λ / 4) × 1.3
Where m 1 is a positive odd number, n 1 is the refractive index of the low refractive index layer, and d 1 is the film thickness (nm) of the low refractive index layer. Further, λ is a wavelength, which is a value in the range of 500 to 550 nm.
Note that satisfies the above equation (1), it means that m 1 satisfying the formula (1) in the above range wavelengths (positive odd number, usually 1) is present.

本発明においては、光学フイルムの構成層の屈折率は、光学フイルムの反射率から各層の屈折率と膜厚を光学シミュレーションにより求めることができる。また、アッベ屈折率計で構成層の成分を硬化したものをそのまま測定することができる。   In the present invention, the refractive index of the constituent layer of the optical film can be determined from the reflectance of the optical film by the optical simulation of the refractive index and film thickness of each layer. Moreover, what hardened the component of the structural layer with the Abbe refractometer can be measured as it is.

[電離放射線硬化性化合物](本発明の低屈折率層構成成分(A))
本発明における低屈折率層の塗設に際しては、電離放射線硬化性化合物(電離放射線照射により硬化する化合物)が使用される。このような電離放射線硬化性化合物としては、例えば、化合物自身の屈折率が低い含フッ素ポリマーや含フッ素ゾル/ゲル素材などを用いることが好ましい。含フッ素ポリマーや含フッ素ゾル/ゲル素材は、通常、電離放射線及び、必要に応じて、熱により架橋する。形成される低屈折率層表面の動摩擦係数は0.03〜0.15であることが好ましく、水に対する接触角は90〜120°となることが好ましい。また、電離放射線照射により硬化する、1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物を用いることもできる。
電離放射線硬化性化合物は、低屈折率層の固形分に対して、好ましくは10〜100質量%、より好ましくは30〜95質量%、特に好ましくは40〜80質量%使用される。
[Ionizing radiation curable compound] (low refractive index layer component (A) of the present invention)
In coating the low refractive index layer in the present invention, an ionizing radiation curable compound (a compound that is cured by irradiation with ionizing radiation) is used. As such an ionizing radiation curable compound, for example, a fluorine-containing polymer or a fluorine-containing sol / gel material having a low refractive index is preferably used. The fluorine-containing polymer or fluorine-containing sol / gel material is usually crosslinked by ionizing radiation and, if necessary, heat. The dynamic friction coefficient of the formed low refractive index layer surface is preferably 0.03 to 0.15, and the contact angle with water is preferably 90 to 120 °. Moreover, the compound which has at least 2 or more ethylenically unsaturated group in 1 molecule which hardens | cures by ionizing radiation irradiation can also be used.
The ionizing radiation curable compound is preferably used in an amount of 10 to 100% by mass, more preferably 30 to 95% by mass, and particularly preferably 40 to 80% by mass with respect to the solid content of the low refractive index layer.

[1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物]
2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物としては例えば、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル〔例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート〕、前記のエステルのエチレンオキサイド変性体、ビニルベンゼンおよびその誘導体〔例、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン〕、ビニルスルホン(例、ジビニルスルホン)、アクリルアミド(例、メチレンビスアクリルアミド)およびメタクリルアミド等が挙げられる。これら化合物は2種以上併用してもよい。これら化合物は、バインダー中の架橋基の密度を上げることができ、硬度の高い硬化膜を形成できるが、含フッ素ポリマーバインダーに比較すると屈折率は低くない。しかしながら、(B)導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子として、後述する酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子(以下酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子と称することがある。)のうち、例えば多孔質または内部に空洞を有するものと併用することで、本発明の低屈折率層として十分に有効な屈折率を得ることができる。
[Compound having at least two ethylenically unsaturated groups in one molecule]
Examples of the compound having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid [for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, butanediol di (meth) acrylate, hexanediol diester). (Meth) acrylate, 1,4-cyclohexanediacrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol Tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2, -Cyclohexane tetramethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester polyacrylate], ethylene oxide modified form of the above ester, vinylbenzene and derivatives thereof (eg, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone], vinyl sulfone (eg, divinyl sulfone), acrylamide (eg, methylenebisacrylamide), methacrylamide and the like. Two or more of these compounds may be used in combination. These compounds can increase the density of cross-linking groups in the binder and form a cured film having high hardness, but the refractive index is not low as compared with the fluorine-containing polymer binder. However, among the silica-based fine particles (hereinafter, sometimes referred to as antimony oxide-coated silica-based fine particles) having an antimony oxide-coated layer (to be described later) as the fine particles having the conductive metal oxide coating layer (B), for example, porous or By using together with a cavity having a cavity inside, a sufficiently effective refractive index can be obtained as the low refractive index layer of the present invention.

[含フッ素ポリマー]
低屈折率層に用いられる含フッ素ポリマーや含フッ素ゾル/ゲル素材としてはパーフルオロアルキル基含有シラン化合物(例えば(ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロデシル)トリエトキシシラン)の加水分解、脱水縮合物の他、含フッ素モノマー単位と架橋反応性付与のための構成単位を構成成分とする含フッ素共重合体が挙げられる。
[Fluoropolymer]
Fluorine-containing polymers and fluorine-containing sol / gel materials used for the low refractive index layer are hydrolyzed perfluoroalkyl group-containing silane compounds (for example, (heptadecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrodecyl) triethoxysilane). In addition to decomposition and dehydration condensates, there may be mentioned fluorine-containing copolymers having a fluorine-containing monomer unit and a constituent unit for imparting crosslinking reactivity as constituent components.

含フッ素モノマー単位の具体例としては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフルオロエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、パーフルオロ−2,2−ジメチル−1,3−ジオキソール等)、(メタ)アクリル酸の部分または完全フッ素化アルキルエステル誘導体類(例えばビスコート6FM(大阪有機化学製)やM−2020(ダイキン製)等)、完全または部分フッ素化ビニルエーテル類等が挙げられるが、好ましくはパーフルオロオレフィン類であり、屈折率、溶解性、透明性、入手性等の観点から特に好ましくはヘキサフルオロプロピレンである。   Specific examples of the fluorine-containing monomer unit include, for example, fluoroolefins (for example, fluoroethylene, vinylidene fluoride, tetrafluoroethylene, hexafluoropropylene, perfluoro-2,2-dimethyl-1,3-dioxole, etc.), (meta ) A part of acrylic acid or a fully fluorinated alkyl ester derivative (for example, Biscoat 6FM (manufactured by Osaka Organic Chemical) or M-2020 (manufactured by Daikin)), a complete or partially fluorinated vinyl ether, and the like. From the viewpoint of refractive index, solubility, transparency, availability, etc., hexafluoropropylene is particularly preferred.

架橋反応性付与のための構成単位としては主として以下の(a)、(b)、(c)で示される単位が挙げられる。
(a):グリシジル(メタ)アクリレート、グリシジルビニルエーテルのように分子内にあらかじめ自己架橋性官能基を有するモノマーの重合によって得られる構成単位、(b):カルボキシル基やヒドロキシ基、アミノ基、スルホ基等を有するモノマー(例えば(メタ)アクリル酸、メチロール(メタ)アクリレート、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アリルアクリレート、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、マレイン酸、クロトン酸等)の重合によって得られる構成単位、(c):分子内に上記(a)、(b)の官能基と反応する基とそれとは別に架橋性官能基を有する化合物を、上記、(a)、(b)の構成単位と反応させて得られる構成単位、(例えばヒドロキシル基に対してアクリル酸クロリドを作用させる等の手法で合成できる構成単位)、が挙げられる。
Examples of the structural unit for imparting crosslinking reactivity mainly include units represented by the following (a), (b), and (c).
(A): a structural unit obtained by polymerization of a monomer having a self-crosslinkable functional group in the molecule in advance such as glycidyl (meth) acrylate or glycidyl vinyl ether, (b): a carboxyl group, a hydroxy group, an amino group, or a sulfo group A structural unit obtained by polymerization of monomers having, for example, (meth) acrylic acid, methylol (meth) acrylate, hydroxyalkyl (meth) acrylate, allyl acrylate, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, maleic acid, crotonic acid, etc. , (C): a compound that reacts with the functional groups (a) and (b) in the molecule and a compound having a crosslinkable functional group separately from the above, reacts with the structural units (a) and (b). A structural unit obtained by (for example, acrylic with respect to hydroxyl group) Structural units can be synthesized by a method such as the action of chlorides), and the like.

上記(c)の構成単位は、特に本発明においては、該架橋性官能基が光重合性基であることが好ましい。ここに、光重合性基としては、例えば(メタ)アクリロイル基、アルケニル基、シンナモイル基、シンナミリデンアセチル基、ベンザルアセトフェノン基、スチリルピリジン基、α−フェニルマレイミド基、フェニルアジド基、スルフォニルアジド基、カルボニルアジド基、ジアゾ基、o−キノンジアジド基、フリルアクリロイル基、クマリン基、ピロン基、アントラセン基、ベンゾフェノン基、スチルベン基、ジチオカルバメート基、キサンテート基、1,2,3−チアジアゾール基、シクロプロペン基、アザジオキサビシクロ基などを挙げることができ、これらは1種のみでなく2種以上であってもよい。これらのうち、(メタ)アクリロイル基およびシンナモイル基が好ましく、特に好ましくは(メタ)アクリロイル基である。   In the present invention, the structural unit (c) is preferably such that the crosslinkable functional group is a photopolymerizable group. Here, examples of the photopolymerizable group include (meth) acryloyl group, alkenyl group, cinnamoyl group, cinnamylideneacetyl group, benzalacetophenone group, styrylpyridine group, α-phenylmaleimide group, phenylazide group, sulfonylazide. Group, carbonyl azide group, diazo group, o-quinonediazide group, furylacryloyl group, coumarin group, pyrone group, anthracene group, benzophenone group, stilbene group, dithiocarbamate group, xanthate group, 1,2,3-thiadiazole group, cyclo A propene group, an azadioxabicyclo group, etc. can be mentioned, These may be not only 1 type but 2 or more types. Of these, a (meth) acryloyl group and a cinnamoyl group are preferable, and a (meth) acryloyl group is particularly preferable.

光重合性基含有共重合体を調製するための具体的な方法としては、下記の方法を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。
(1)水酸基を含有してなる架橋性官能基含有共重合体に、(メタ)アクリル酸クロリドを反応させてエステル化する方法、
(2)水酸基を含有してなる架橋性官能基含有共重合体に、イソシアネート基を含有する(メタ)アクリル酸エステルを反応させてウレタン化する方法、
(3)エポキシ基を含有してなる架橋性官能基含有共重合体に、(メタ)アクリル酸を反応させてエステル化する方法、
(4)カルボキシル基を含有してなる架橋性官能基含有共重合体に、エポキシ基を含有する含有(メタ)アクリル酸エステルを反応させてエステル化する方法。
尚、上記光重合性基の導入量は任意に調節することができ、塗膜面状安定性・無機微粒子共存時の面状故障低下・膜強度向上などの点からカルボキシル基やヒドロキシル基等を一定量残すことも好ましい。
Specific methods for preparing the photopolymerizable group-containing copolymer include, but are not limited to, the following methods.
(1) A method of esterifying a crosslinkable functional group-containing copolymer containing a hydroxyl group by reacting (meth) acrylic acid chloride,
(2) A method of urethanizing a crosslinkable functional group-containing copolymer containing a hydroxyl group with a (meth) acrylic acid ester containing an isocyanate group,
(3) A method of esterifying by reacting (meth) acrylic acid with a crosslinkable functional group-containing copolymer containing an epoxy group,
(4) A method in which a crosslinkable functional group-containing copolymer containing a carboxyl group is esterified by reacting a containing (meth) acrylic acid ester containing an epoxy group.
The amount of the photopolymerizable group introduced can be arbitrarily adjusted. From the viewpoint of surface stability of the coating film, reduction of surface failure when coexisting with inorganic fine particles, and improvement of film strength, carboxyl group, hydroxyl group, etc. It is also preferable to leave a certain amount.

また上記含フッ素モノマー単位、架橋反応性付与のための構成単位以外に溶剤への溶解性、皮膜の透明性等の観点から適宜フッ素原子を含有しないモノマーを共重合することもできる。併用可能なモノマー単位には特に限定はなく、例えばオレフィン類(エチレン、プロピレン、イソプレン、塩化ビニル、塩化ビニリデン等)、アクリル酸エステル類(アクリル酸メチル、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル)、メタクリル酸エステル類(メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、エチレングリコールジメタクリレート等)、スチレン誘導体(スチレン、ジビニルベンゼン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン等)、ビニルエーテル類(メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、シクロヘキシルビニルエーテル等)、ビニルエステル類(酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、桂皮酸ビニル等)、アクリルアミド類(N−tertブチルアクリルアミド、N−シクロヘキシルアクリルアミド等)、メタクリルアミド類、アクリロ二トリル誘導体等を挙げることができる。   In addition to the above-mentioned fluorine-containing monomer units and structural units for imparting crosslinking reactivity, monomers not containing fluorine atoms can be copolymerized as appropriate from the viewpoints of solubility in solvents and film transparency. There are no particular limitations on the monomer units that can be used in combination. For example, olefins (ethylene, propylene, isoprene, vinyl chloride, vinylidene chloride, etc.), acrylic esters (methyl acrylate, methyl acrylate, ethyl acrylate, acrylic acid 2) -Ethylhexyl), methacrylates (methyl methacrylate, ethyl methacrylate, butyl methacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, etc.), styrene derivatives (styrene, divinylbenzene, vinyl toluene, α-methylstyrene, etc.), vinyl ethers (methyl) Vinyl ether, ethyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, etc.), vinyl esters (vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl cinnamate etc.), acrylamides (N-tertbutylacrylamide, N-silane) B hexyl acrylamide), methacrylamides, and acrylonitrile derivatives.

本発明で特に有用な含フッ素ポリマーは、パーフルオロオレフィンとビニルエーテル類またはビニルエステル類のランダム共重合体である。特に単独で架橋反応可能な基((メタ)アクリロイル基等のラジカル反応性基、エポキシ基、オキセタニル基等の開環重合性基等)を有していることが好ましい。これらの架橋反応性基含有重合単位はポリマーの全重合単位の5〜70mol%を占めていることが好ましく、特に好ましくは30〜60mol%の場合である。好ましいポリマーについては、特開2002−243907号、特開2002−372601号、特開2003−26732号、特開2003−222702号、特開2003−294911号、特開2003−329804号、特開2004−4444、特開2004−45462号の各公報に記載のものを挙げることができる。   The fluorine-containing polymer particularly useful in the present invention is a random copolymer of perfluoroolefin and vinyl ethers or vinyl esters. In particular, it preferably has a group capable of undergoing a crosslinking reaction alone (a radical reactive group such as a (meth) acryloyl group, a ring-opening polymerizable group such as an epoxy group or an oxetanyl group). These crosslinkable group-containing polymerized units preferably occupy 5 to 70 mol% of the total polymerized units of the polymer, particularly preferably 30 to 60 mol%. Regarding preferred polymers, JP-A-2002-243907, JP-A-2002-372601, JP-A-2003-26732, JP-A-2003-222702, JP-A-2003-294911, JP-A-2003-329804, JP-A-2004. -4444 and JP-A-2004-45462.

また本発明で有用な含フッ素ポリマーには防汚性を付与する目的で、ポリシロキサン構造が導入されていることが好ましい。ポリシロキサン構造の導入方法に制限はないが例えば特開平11−189621号、同11−228631号、特開2000−313709号の各公報に記載のごとく、シリコーンマクロアゾ開始剤を用いてポリシロキサンブロック共重合成分を導入する方法、特開平2−251555号、同2−308806号の各公報に記載のごとくシリコーンマクロマーを用いてポリシロキサングラフト共重合成分を導入する方法が好ましい。これらのポリシロキサン成分はポリマー中の0.5〜10質量%であることが好ましく、特に好ましくは1〜5質量%である。   The fluorine-containing polymer useful in the present invention preferably has a polysiloxane structure introduced for the purpose of imparting antifouling properties. There is no limitation on the method for introducing the polysiloxane structure, but for example, as described in JP-A-11-189621, JP-A-11-228631, and JP-A-2000-313709, a polysiloxane block using a silicone macroazo initiator is used. A method of introducing a copolymer component and a method of introducing a polysiloxane graft copolymer component using a silicone macromer as described in JP-A-2-251555 and JP-A-2-308806 are preferred. These polysiloxane components are preferably 0.5 to 10% by mass in the polymer, and particularly preferably 1 to 5% by mass.

本発明に好ましく用いることのできるポリマーの好ましい分子量は、質量平均分子量が5000以上、好ましくは10000〜500000、最も好ましくは15000〜200000である。平均分子量の異なるポリマーを併用することで塗膜面状の改良や耐傷性の改良を行うことができる。   The preferred molecular weight of the polymer that can be preferably used in the present invention is a mass average molecular weight of 5,000 or more, preferably 10,000 to 500,000, most preferably 15,000 to 200,000. By using polymers having different average molecular weights in combination, it is possible to improve the coating surface condition and scratch resistance.

上記含フッ素ポリマーに対しては特開平10−25388号および特開平10−147739号の各公報に記載のごとく適宜硬化剤を併用してもよい。特開2000−17028号、特開2002−145952号の各公報に記載のごとく含フッ素の多官能の重合性不飽和基を有する化合物との併用も好ましい。多官能の重合性不飽和基を有する化合物の例としては、上記の[2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物]を挙げることができる。これら化合物は、特にポリマー本体に重合性不飽和基を有する化合物を用いた場合に耐擦傷性改良に対する併用効果が大きく好ましい。
これら化合物は、ポリマー本体100質量部に対して、1〜50質量部使用するのが好ましく、更に好ましくは2〜40質量部、最も好ましくは3〜30質量部である。
As described in JP-A-10-25388 and JP-A-10-147739, a curing agent may be appropriately used in combination with the fluoropolymer. A combination with a compound having a fluorine-containing polyfunctional polymerizable unsaturated group is also preferred as described in JP-A Nos. 2000-17028 and 2002-145952. Examples of the compound having a polyfunctional polymerizable unsaturated group include the above-mentioned [compound having two or more ethylenically unsaturated groups]. These compounds are particularly preferred because they have a large combined effect for improving scratch resistance, particularly when a compound having a polymerizable unsaturated group is used in the polymer body.
These compounds are preferably used in an amount of 1 to 50 parts by mass, more preferably 2 to 40 parts by mass, and most preferably 3 to 30 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the polymer main body.

[ポリシロキサン部分構造を有する化合物]
本発明において、特に好ましく用いることのできるポリシロキサン部分構造を有する化合物について、以下に詳細に述べる。
このような化合物としては、大別すると、一般式(1)に代表されるポリシロキサン部分構造がポリマー主鎖に含まれるもの、及び一般式(2)に代表されるポリシロキサン部分構造がポリマー側鎖に含まれるものを好ましく用いることができる。
[Compound having a polysiloxane partial structure]
In the present invention, compounds having a polysiloxane partial structure that can be particularly preferably used will be described in detail below.
Such compounds can be broadly classified as those containing a polysiloxane partial structure represented by the general formula (1) in the polymer main chain and a polysiloxane partial structure represented by the general formula (2) on the polymer side. Those contained in the chain can be preferably used.

(ポリマー主鎖にポリシロキサン部分構造を有するポリマー)
ポリマー主鎖にポリシロキサン部分構造を有するポリマーとしては、主鎖にポリシロキサン部分構造と共に、含フッ素ビニルモノマーからの繰返し単位を含み、側鎖に(メタ)アクリロイル基を有する繰返し単位及び、水酸基を有する繰り返し単位を含んでなる含フッ素ポリマーであることが好ましい。このようなポリマーは、電離放射線照射により硬化する化合物と、ポリシロキサン部分構造を有する化合物を兼ねることができる。このポリマーは、下記一般式(1)で表わされることが好ましい。
一般式(1):
(Polymer having a polysiloxane partial structure in the polymer main chain)
As a polymer having a polysiloxane partial structure in the polymer main chain, a repeating unit having a (meth) acryloyl group in the side chain including a repeating unit from a fluorine-containing vinyl monomer, a polysiloxane partial structure in the main chain, and a hydroxyl group. It is preferable that it is a fluorine-containing polymer containing the repeating unit which has. Such a polymer can serve both as a compound that is cured by irradiation with ionizing radiation and a compound having a polysiloxane partial structure. This polymer is preferably represented by the following general formula (1).
General formula (1):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記一般式(1)中、L11は炭素数1〜10の連結基を表し、好ましくは炭素数1〜6の連結基であり、特に好ましくは2〜4の連結基であり、直鎖であっても分岐構造を有していてもよく、環構造を有していてもよく、O、N、Sから選ばれるヘテロ原子を有していてもよい。好ましい例としては、*−(CH−O−**、*−(CH−NH−**、*−(CH−O−**、*−(CH−O−**、*−(CH−O−(CH−O−**、−CONH−(CH−O−**、*−CHCH(OH)CH−O−**、*−CHCHOCONH(CH−O−**{*はポリマー主鎖側の連結部位を表し、**は(メタ)アクリロイル基側の連結部位を表す}等が挙げられる。 In the general formula (1), L 11 represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, preferably a linking group having 1 to 6 carbon atoms, particularly preferably a linking group having 2 to 4 carbon atoms, and linear. It may have a branched structure, may have a ring structure, or may have a heteroatom selected from O, N, and S. Preferred examples include * — (CH 2 ) 2 —O — **, * — (CH 2 ) 2 —NH — **, * — (CH 2 ) 4 —O — **, * — (CH 2 ). 6 -O - **, * - ( CH 2) 2 -O- (CH 2) 2 -O - **, - CONH- (CH 2) 3 -O - **, * - CH 2 CH (OH) CH 2 —O — **, * —CH 2 CH 2 OCONH (CH 2 ) 3 —O — ** {* represents a connecting site on the polymer main chain side, and ** represents a connecting site on the (meth) acryloyl group side. } And the like.

s1は0又は1を表す。
11は水素原子又はメチル基を表し、硬化反応性の観点から、より好ましくは水素原子である。
s1 represents 0 or 1.
R 11 represents a hydrogen atom or a methyl group, and is more preferably a hydrogen atom from the viewpoint of curing reactivity.

11は側鎖に水酸基を持つ繰り返し単位を表し、ヘキサフルオロプロピレンと共重合可能な単量体の構成成分であれば特に制限はなく、基材への密着性、ポリマーのTg(皮膜硬度に寄与する)、溶媒への溶解性、透明性、滑り性、防塵・防汚性等種々の観点から適宜選択することができ、目的に応じて単一又は複数のビニルモノマーによって構成されていてもよい。 A 11 represents a repeating unit having a hydroxyl group in the side chain, and is not particularly limited as long as it is a constituent component of a monomer copolymerizable with hexafluoropropylene. Adhesion to the substrate, Tg of the polymer (in terms of film hardness) Can be selected from various viewpoints such as solubility in solvents, transparency, slipperiness, dustproof / antifouling properties, etc., and may be composed of a single or a plurality of vinyl monomers depending on the purpose. Good.

11を構成するビニルモノマーの好ましい例としては、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、t−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、グリシジルビニルエーテル、アリルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステル類、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、グリシジルメタアクリレート、アリル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン等の(メタ)アクリレート類、スチレン、p−ヒドロキシメチルスチレン等のスチレン誘導体、クロトン酸、マレイン酸、イタコン酸等の不飽和カルボン酸およびその誘導体等を例として挙げることができるが、好ましくはビニルエーテル誘導体、ビニルエステル誘導体であり、特に好ましくはビニルエーテル誘導体である。 Preferred examples of the vinyl monomers constituting the A 11 is methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, t- butyl ether, cyclohexyl vinyl ether, isopropyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, glycidyl vinyl ether and allyl vinyl ether, Vinyl esters such as vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl butyrate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, glycidyl methacrylate, allyl (meth) acrylate, (meth) acryloyloxypropyl (Meth) acrylates such as trimethoxysilane, styrene derivatives such as styrene and p-hydroxymethylstyrene, Examples thereof include unsaturated carboxylic acids such as rotonic acid, maleic acid, and itaconic acid, and derivatives thereof. Preferred are vinyl ether derivatives and vinyl ester derivatives, and particularly preferred are vinyl ether derivatives.

11はポリシロキサン部分構造を主鎖に含む構成成分を表わす。
主鎖へのポリシロキサン部分構造導入方法には特に制限はなく、例えば特開平6−93100号公報に記載のアゾ基含有ポリシロキサンアミド(市販のものではVPS−0501、1001(商品名;ワコー純薬工業(株)社製))等のポリマー型開始剤を用いる方法、重合開始剤、連鎖移動剤由来の反応性基(例えばメルカプト基、カルボキシル基、水酸基等)をポリマー末端に導入した後、片末端あるいは両末端反応性基(例えばエポキシ基、イソシアネート基等)含有ポリシロキサンと反応させる方法、ヘキサメチルシクロトリシロキサン等の環状シロキサンオリゴマーをアニオン開環重合にて共重合させる方法等が挙げられるが、中でもポリシロキサン部分構造を有する開始剤を利用する手法が容易であり好ましい。
Y 11 represents a constituent component containing a polysiloxane partial structure in the main chain.
There is no particular limitation on the method for introducing the polysiloxane partial structure into the main chain. For example, an azo group-containing polysiloxane amide described in JP-A-6-93100 (VPS-0501, 1001 (trade name; Wako Pure) is commercially available. A method using a polymer-type initiator such as Yaku Kogyo Co., Ltd.), a polymerization initiator, a reactive group derived from a chain transfer agent (for example, a mercapto group, a carboxyl group, a hydroxyl group, etc.) is introduced into the polymer terminal, Examples thereof include a method of reacting with a polysiloxane containing one or both terminal reactive groups (for example, epoxy group, isocyanate group, etc.), a method of copolymerizing a cyclic siloxane oligomer such as hexamethylcyclotrisiloxane by anionic ring-opening polymerization, and the like. However, among them, a method using an initiator having a polysiloxane partial structure is easy and preferable.

x、y、及びzは、Y11以外の全繰返し単位を基準とした場合のそれぞれの繰返し単位のモル%を表し、30≦x≦60、30≦y≦70、0≦z≦40を満たす値を表し、好ましくは、35≦x≦55、30≦y≦60、0≦z≦35の範囲である。ただし、x+y+z=100(モル%)である。uは共重合体中の構成成分Y11の質量%を表し、0.01≦u≦20である。 x, y, and z represent mol% of respective repeating units in the case relative to the total repeating units other than Y 11, satisfy 30 ≦ x ≦ 60,30 ≦ y ≦ 70,0 ≦ z ≦ 40 Value, preferably in the range of 35 ≦ x ≦ 55, 30 ≦ y ≦ 60, 0 ≦ z ≦ 35. However, it is x + y + z = 100 (mol%). u represents the mass% of the component Y 11 in the copolymer is 0.01 ≦ u ≦ 20.

その中でも、特に好ましいポリマーとしては、下記一般式(1−2)で表されるものを挙げることができる。
一般式(1−2):
Among them, particularly preferable polymers include those represented by the following general formula (1-2).
General formula (1-2):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記一般式(1−2)中、R11、Y11、x、y、及びuはそれぞれ一般式(1)と同じ意味を表し、好ましい範囲も同じである。
11は任意のビニルモノマーからの繰返し単位を表し、単一成分であっても複数の成分で構成されていてもよい。例としては、前記一般式(1)におけるA11の例として説明したものが当てはまる。
In said general formula (1-2), R < 11 >, Y < 11 >, x, y, and u each represent the same meaning as General formula (1), and its preferable range is also the same.
B 11 represents a repeating unit from any vinyl monomer, and may be a single component or a plurality of components. Examples include those described as examples of A 11 in the general formula (1) applies.

z1及びz2は、Y11以外の全繰返し単位を基準とした場合の、それぞれの繰返し単位のモル%を表し、0≦z1≦40、0≦z2≦40を満たす値を表し、それぞれ0≦z1≦30、0≦z2≦10であることが好ましく、0≦z1≦10、0≦z2≦5であることが特に好ましい。ただし、x+y+z1+z2=100(モル%)である。またt1は2≦t1≦10を満たす整数を表し、2≦t1≦6であることが好ましく、2≦t1≦4であることが特に好ましい。更に好ましくは、上記一般式(1−2)で表される共重合体が、40≦x≦60、40≦y≦60、z2=0を満たすものである。 z1 and z2 are the case relative to the total repeating units other than Y 11 represents a mole% of the respective repeating units, it represents a value satisfying 0 ≦ z1 ≦ 40,0 ≦ z2 ≦ 40, respectively 0 ≦ z1 ≦ 30 and 0 ≦ z2 ≦ 10 are preferable, and 0 ≦ z1 ≦ 10 and 0 ≦ z2 ≦ 5 are particularly preferable. However, it is x + y + z1 + z2 = 100 (mol%). T1 represents an integer satisfying 2 ≦ t1 ≦ 10, preferably 2 ≦ t1 ≦ 6, and particularly preferably 2 ≦ t1 ≦ 4. More preferably, the copolymer represented by the general formula (1-2) satisfies 40 ≦ x ≦ 60, 40 ≦ y ≦ 60, and z2 = 0.

本発明の共重合体に導入されるポリシロキサン部分構造として、特に好ましくは、下記一般式(1−3)で表される構造である。
一般式(1−3):
The polysiloxane partial structure introduced into the copolymer of the present invention is particularly preferably a structure represented by the following general formula (1-3).
General formula (1-3):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

一般式(1−3)において、R111、R112、R113及びR114はそれぞれ独立して、水素原子、アルキル基(炭素数1〜5が好ましい。例としてメチル基、エチル基が挙げられる)、アリール基(炭素数6〜10が好ましい。例としてフェニル基、ナフチル基が挙げられる)、アルコキシカルボニル基(炭素数2〜5が好ましい。例としてメトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基が挙げられる)、又はシアノ基を表し、好ましくはアルキル基及びシアノ基であり、特に好ましくは、メチル基及びシアノ基である。 In General Formula (1-3), R 111 , R 112 , R 113 and R 114 are each independently a hydrogen atom or an alkyl group (preferably having 1 to 5 carbon atoms. Examples include a methyl group and an ethyl group. ), An aryl group (preferably having a carbon number of 6 to 10. Examples include a phenyl group and a naphthyl group), an alkoxycarbonyl group (preferably having a carbon number of 2 to 5. Examples include a methoxycarbonyl group and an ethoxycarbonyl group). Or a cyano group, preferably an alkyl group and a cyano group, and particularly preferably a methyl group and a cyano group.

115〜R120は、それぞれ独立して、水素原子、アルキル基(炭素数1〜5が好ましい。例としてメチル基、エチル基が挙げられる)、ハロアルキル基(炭素数1〜5のフッ素化アルキル基が好ましい。例としてトリフルオロメチル基、ペンタフルオロエチル基が挙げられる)又はフェニル基を表し、好ましくはメチル基又はフェニル基であり、特に好ましくはメチル基である。 R 115 to R 120 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group (preferably having a carbon number of 1 to 5. Examples include a methyl group and an ethyl group), and a haloalkyl group (a fluorinated alkyl having 1 to 5 carbon atoms). A trifluoromethyl group and a pentafluoroethyl group), or a phenyl group, preferably a methyl group or a phenyl group, and particularly preferably a methyl group.

t2及びt5は、それぞれ独立して、1〜10の整数を表し、好ましくは1〜6の整数であり、特に好ましくは2〜4の整数である。t3及びt4は、それぞれ独立して、0〜10の整数を表し、好ましくは1〜6の整数であり、特に好ましくは2〜4の整数である。p2は10〜1000の整数を表し、好ましくは20〜500の整数であり、特に好ましくは50〜200の整数である。   t2 and t5 each independently represent an integer of 1 to 10, preferably an integer of 1 to 6, and particularly preferably an integer of 2 to 4. t3 and t4 each independently represents an integer of 0 to 10, preferably an integer of 1 to 6, and particularly preferably an integer of 2 to 4. p2 represents an integer of 10 to 1000, preferably an integer of 20 to 500, and particularly preferably an integer of 50 to 200.

上記一般式(1−3)で表されるポリシロキサン部分構造は、本発明で用いることができるポリマー中の0.01〜20質量%の範囲で導入されることが好ましく、より好ましくは0.05〜10質量%の範囲で導入される場合であり、特に好ましくは0.5〜5質量%の範囲で導入される場合である。   The polysiloxane partial structure represented by the general formula (1-3) is preferably introduced in the range of 0.01 to 20% by mass in the polymer that can be used in the present invention, and more preferably is in the range of 0.0. It is a case where it introduce | transduces in the range of 05-10 mass%, Most preferably, it is a case where it introduce | transduces in the range of 0.5-5 mass%.

上記のポリシロキサン部分構造の導入によって、皮膜に防汚性、防塵性が付与されると供に、皮膜表面に滑り性が付与され耐傷性にも有利である。   By introducing the polysiloxane partial structure described above, the film is imparted with antifouling properties and dustproof properties, and at the same time, slipperiness is imparted to the surface of the film, which is advantageous for scratch resistance.

本発明に有用なポリマーでは、上記含フッ素ビニルモノマーからの繰返し単位及び、側鎖に(メタ)アクリロイル基を有する繰返し単位以外に、基材への密着性、ポリマーのTg(皮膜硬度に寄与する)、溶媒への溶解性、透明性、防塵・防汚性等種々の観点から適宜他のビニルモノマーを共重合することもできる。これらのビニルモノマーは目的に応じて複数を組み合わせてもよく、合計で共重合体中の0〜40モル%の範囲で導入されていることが好ましく、0〜30モル%の範囲であることがより好ましく、0〜20モル%の範囲であることが特に好ましい。   In the polymer useful in the present invention, in addition to the repeating unit from the above-mentioned fluorine-containing vinyl monomer and the repeating unit having a (meth) acryloyl group in the side chain, it contributes to adhesion to the substrate and Tg of the polymer (film hardness). ), Other vinyl monomers can be suitably copolymerized from various viewpoints such as solubility in a solvent, transparency, dust resistance and antifouling properties. A plurality of these vinyl monomers may be combined depending on the purpose, and are preferably introduced in the range of 0 to 40 mol% in the copolymer, and in the range of 0 to 30 mol%. More preferably, it is especially preferably in the range of 0 to 20 mol%.

併用可能なビニルモノマー単位には特に限定はなく、例えばオレフィン類(エチレン、プロピレン、イソプレン、塩化ビニル、塩化ビニリデン等)、アクリル酸エステル類(アクリル酸メチル、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸2‐ヒドロキシエチル)、メタクリル酸エステル類(メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル等)、スチレン誘導体(スチレン、p−ヒドロキシメチルスチレン、p−メトキシスチレン等)、ビニルエーテル類(メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、シクロヘキシルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル等)、ビニルエステル類(酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、桂皮酸ビニル等)、不飽和カルボン酸類(アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、イタコン酸等)、アクリルアミド類(N,N−ジメチルアクリルアミド、N−t−ブチルアクリルアミド、N−シクロヘキシルアクリルアミド等)、メタクリルアミド類(N,N−ジメチルメタクリルアミド)、アクリロニトリル等を挙げることができる。   The vinyl monomer unit that can be used in combination is not particularly limited. For example, olefins (ethylene, propylene, isoprene, vinyl chloride, vinylidene chloride, etc.), acrylic esters (methyl acrylate, methyl acrylate, ethyl acrylate, acrylic acid) 2-ethylhexyl, 2-hydroxyethyl acrylate), methacrylic acid esters (methyl methacrylate, ethyl methacrylate, butyl methacrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, etc.), styrene derivatives (styrene, p-hydroxymethylstyrene, p -Methoxystyrene, etc.), vinyl ethers (methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, etc.), vinyl esters (vinyl acetate) Vinyl propionate, vinyl cinnamate, etc.), unsaturated carboxylic acids (acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, maleic acid, itaconic acid, etc.), acrylamides (N, N-dimethylacrylamide, Nt-butylacrylamide, N -Cyclohexyl acrylamide, etc.), methacrylamides (N, N-dimethylmethacrylamide), acrylonitrile and the like.

以下に、本発明で有用なポリマーの好ましい例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Although the preferable example of a polymer useful by this invention is shown below, this invention is not limited to these.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記表において、50/y/zはモル比を示し、uは質量%を示し、VPS−1001は、和光純薬工業(株)製ポリシロキサン含有マクロアゾ開始剤“VPS1001”(商品名)由来の成分を表す(以下同様)。   In the above table, 50 / y / z represents a molar ratio, u represents mass%, and VPS-1001 is derived from Wako Pure Chemical Industries, Ltd. polysiloxane-containing macroazo initiator “VPS1001” (trade name). Represents components (the same applies hereinafter).

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記表において、x/y/zはモル比を示し、uは共重合体中の質量%を示す。VPS−0501は、和光純薬工業(株)製ポリシロキサン含有マクロアゾ開始剤“VPS0501”(商品名)由来の成分を示す。   In the said table | surface, x / y / z shows molar ratio and u shows the mass% in a copolymer. VPS-0501 represents a component derived from a polysiloxane-containing macroazo initiator “VPS0501” (trade name) manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記表において、x/y/z1/z2と50/y/zとはそれぞれモル比を示し、uは質量%を示す。またt1はメチレンユニットの数を示す。   In the said table | surface, x / y / z1 / z2 and 50 / y / z each show molar ratio, u shows the mass%. T1 represents the number of methylene units.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記表において、x/y/zはモル比を示し、uは質量%を示す。またt1はメチレンユニットの数を示す。   In the above table, x / y / z indicates a molar ratio, and u indicates mass%. T1 represents the number of methylene units.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記表において、ビニルモノマーの成分の比(50/50)はモル比を示し、uは質量%を示し、p2はジメチルシロキサン部分構造の数を示す。   In the said table | surface, ratio (50/50) of the component of a vinyl monomer shows molar ratio, u shows the mass%, p2 shows the number of dimethylsiloxane partial structures.

(ポリマー側鎖にポリシロキサン部分構造を有するポリマー)
次にポリマー側鎖にポリシロキサン部分構造を有するポリマーについて詳細に説明する。
(Polymer having a polysiloxane partial structure in the polymer side chain)
Next, the polymer having a polysiloxane partial structure in the polymer side chain will be described in detail.

本発明で特に好ましいポリマーの形態は一般式(2)で表わされる形態である。このようなポリマーは、電離放射線照射により硬化する化合物と、ポリシロキサン部分構造を有する化合物を兼ねることができる。
一般式(2):
A particularly preferable form of the polymer in the present invention is a form represented by the general formula (2). Such a polymer can serve both as a compound that is cured by irradiation with ionizing radiation and a compound having a polysiloxane partial structure.
General formula (2):

Figure 0005049542
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一般式(2)において、R 21は炭素数1〜5のパーフルオロアルキル基を表し、R 22は炭素数1〜30の直鎖、分岐又は脂環構造を有する含フッ素アルキル基を表し、エーテル結合を有していてもよく、A21は架橋反応に関与し得る反応性基を有する構成単位を表し、B21は任意の構成成分を表す。R21及びR22は、同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。p1は10〜500の整数を表す。R23〜R25は、互いに独立に、置換又は無置換の1価の有機基又は水素原子を表し、R26は水素原子又はメチル基を表わす。L21は炭素数1〜20の任意の連結基又は単結合を表す。 In the general formula (2), R f 21 represents a perfluoroalkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and R f 22 represents a fluorine-containing alkyl group having a linear, branched or alicyclic structure having 1 to 30 carbon atoms. , May have an ether bond, A 21 represents a structural unit having a reactive group capable of participating in a crosslinking reaction, and B 21 represents an optional structural component. R 21 and R 22 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p1 represents an integer of 10 to 500. R 23 to R 25 each independently represent a substituted or unsubstituted monovalent organic group or a hydrogen atom, and R 26 represents a hydrogen atom or a methyl group. L 21 represents an arbitrary linking group having 1 to 20 carbon atoms or a single bond.

a〜dは、それぞれ、ポリシロキサン部分構造を含有する重合単位を除く各構成成分のモル分率(%)を表し、それぞれ10≦a+b≦55、10≦a≦55(より好ましくは40≦a≦55)、0≦b≦45(より好ましくは0≦b≦30)、10≦c≦50(より好ましくは20≦c≦50)、0≦d≦40(より好ましくは0≦d<30)の関係を満たす値を表す。eはポリシロキサン部分構造を含有する重合単位の、他の4成分全体の質量に対する質量分率(%)を表し、0.01<e<20(好ましくは0.1<e<10、より好ましくは0.5<e<5)の関係を満たす。   a to d each represent a molar fraction (%) of each constituent component excluding a polymer unit containing a polysiloxane partial structure, and 10 ≦ a + b ≦ 55, 10 ≦ a ≦ 55 (more preferably 40 ≦ a), respectively. ≦ 55), 0 ≦ b ≦ 45 (more preferably 0 ≦ b ≦ 30), 10 ≦ c ≦ 50 (more preferably 20 ≦ c ≦ 50), 0 ≦ d ≦ 40 (more preferably 0 ≦ d <30). ) Represents a value satisfying the relationship. e represents a mass fraction (%) of the polymerization unit containing the polysiloxane partial structure with respect to the mass of the other four components, and 0.01 <e <20 (preferably 0.1 <e <10, more preferably Satisfies the relationship 0.5 <e <5).

パーフルオロレフィンとしては、炭素数3〜7のものが好ましく、重合反応性の観点からはパーフルオロプロピレン又はパーフルオロブチレンが好ましく、入手性の観点からパーフルオロプロピレンであることが特に好ましい。   The perfluoroolefin is preferably one having 3 to 7 carbon atoms, preferably perfluoropropylene or perfluorobutylene from the viewpoint of polymerization reactivity, and particularly preferably perfluoropropylene from the viewpoint of availability.

ポリマー中のパーフルオロレフィンの含率は、10〜55モル%である。素材の低屈折率化のためにはパーフルオロレフィンの導入率を高めることが望まれるが、重合反応性の点で一般的な溶液系ラジカル重合反応では50〜70モル%程度の導入が限界でありこれ以上は困難である。本発明においては、該含率は10%〜55モル%であることが好ましく、40〜55モル%であることが特に好ましい。   The content of perfluoroolefin in the polymer is 10 to 55 mol%. In order to lower the refractive index of the material, it is desired to increase the introduction rate of perfluoroolefin, but in terms of polymerization reactivity, introduction of about 50 to 70 mol% is the limit in a general solution-based radical polymerization reaction. There is more than that. In the present invention, the content is preferably 10% to 55 mol%, particularly preferably 40 to 55 mol%.

(含フッ素ビニルエーテル)
本発明では、一般式(2)で表わされる化合物は、低屈折率化のために下記一般式(M1)で表わされる含フッ素ビニルエーテルを共重合されていてもよい。該共重合成分は、0〜45モル%の共範囲で重合体中に導入されていてよいが、好ましくは0〜30モル%であり、特に好ましくは0〜20モル%の場合である。特に、低屈折率層の皮膜硬度を高めに設定すべき場合(例えば、低屈折率フィラーを低屈折率層に多量に含み、層の屈折率をバインダーポリマーで下げるよりも、むしろ皮膜強度を上げる方が好適な場合などに該当する)、下記一般式(M1)で表される含フッ素ビニルエーテルで表される共重合成分の導入率は0モル%が好ましい。これは、該共重合成分を除くことで、後述する架側鎖に架橋反応に関与し得る反応性基を有する重合単位の導入率を上げることができるからである。
(Fluorine-containing vinyl ether)
In the present invention, the compound represented by the general formula (2) may be copolymerized with a fluorinated vinyl ether represented by the following general formula (M1) in order to reduce the refractive index. The copolymer component may be introduced into the polymer in a co-range of 0 to 45 mol%, preferably 0 to 30 mol%, particularly preferably 0 to 20 mol%. In particular, when the film hardness of the low refractive index layer should be set high (for example, a high amount of low refractive index filler is included in the low refractive index layer, and the film strength is increased rather than lowering the refractive index of the layer with a binder polymer) In this case, the introduction ratio of the copolymer component represented by the fluorine-containing vinyl ether represented by the following general formula (M1) is preferably 0 mol%. This is because by removing the copolymer component, it is possible to increase the rate of introduction of polymerized units having a reactive group that can participate in the crosslinking reaction in the side chain described later.

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一般式(M1)中、R 22は炭素数1〜30の含フッ素アルキル基を表し、好ましくは炭素数1〜20、特に好ましくは炭素数1〜15の含フッ素アルキル基であり、直鎖{例えば、−CFCF、−CH(CFH、−CH(CFCF、−CHCH(CFH等}であっても、分岐構造{例えば、CH(CF、CHCF(CF、CH(CH)CFCF、CH(CH)(CFCFH等}を有していてもよく、また脂環式構造(好ましくは5員環又は6員環、例えばパーフルオロシクロへキシル基、パーフルオロシクロペンチル基又はこれらで置換されたアルキル基等)を有していてもよく、エーテル結合(例えばCHOCHCFCF、CHCHOCHH、CHCHOCHCH17、CHCHOCFCFOCFCFH等)を有していてもよい。 In Formula (M1), R f 22 represents a fluorinated alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, preferably a fluorine-containing alkyl group having 1 to 15 carbon 1 to 20 carbon atoms, and particularly preferably carbon, straight-chain {For example, —CF 2 CF 3 , —CH 2 (CF 2 ) 4 H, —CH 2 (CF 2 ) 8 CF 3 , —CH 2 CH 2 (CF 2 ) 4 H, etc.} {E.g., CH (CF 3 ) 2 , CH 2 CF (CF 3 ) 2 , CH (CH 3 ) CF 2 CF 3 , CH (CH 3 ) (CF 2 ) 5 CF 2 H, etc.} And may have an alicyclic structure (preferably a 5- or 6-membered ring such as a perfluorocyclohexyl group, a perfluorocyclopentyl group or an alkyl group substituted with these), and an ether bond (e.g. CH 2 OCH 2 CF 2 CF 3 , CH 2 CH 2 OCH 2 C 4 F 8 H, CH 2 CH 2 OCH 2 CH 2 C 8 F 17 , CH 2 CH 2 OCF 2 CF 2 OCF 2 CF 2 H, etc.) .

一般式(M1)で表わされる上記単量体は、例えば、“Macromolecules”,32巻(21)、p.7122(1999年)、特開平2−721号公報等に記載のごとく、ビニロキシアルキルスルフォネート、ビニロキシアルキルクロリド等の離脱基置換アルキルビニルエーテル類に対して、塩基触媒存在下含フッ素アルコールを作用させる方法;国際出願第92/05135号パンフレット記載のごとく、含フッ素アルコールとブチルビニルエーテル等のビニルエーテル類をパラジウム触媒存在下混合してビニル基の交換を行う方法;米国特許第3420793号明細書記載のごとく、含フッ素ケトンとジブロモエタンをフッ化カリウム触媒存在化で反応させた後アルカリ触媒により脱HBr反応を行う方法等により合成することができる。   Examples of the monomer represented by the general formula (M1) include “Macromolecules”, vol. 32 (21), p. 7122 (1999), as disclosed in JP-A-2-721, etc., a fluorinated alcohol in the presence of a base catalyst is used for leaving group-substituted alkyl vinyl ethers such as vinyloxyalkyl sulfonate and vinyloxyalkyl chloride. A method of acting; a method of exchanging a vinyl group by mixing a fluorine-containing alcohol and a vinyl ether such as butyl vinyl ether in the presence of a palladium catalyst as described in International Patent Application No. 92/05135; described in US Pat. No. 3,420,793 As described above, it can be synthesized by a method in which a fluorine-containing ketone and dibromoethane are reacted in the presence of a potassium fluoride catalyst, followed by a deHBr reaction with an alkali catalyst.

以下に一般式(M1)で表わされる構成成分の好ましい例を示す。   The preferable example of the structural component represented by general formula (M1) below is shown.

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(架橋反応に関与し得る反応性基を有する構成単位)
本発明において、低屈折率層を構成する含フッ素ポリマー、例えば一般式(2)で表わされる化合物に含まれる、架橋反応に関与し得る反応性基(以下、架橋反応性基ともいう)を有する構成単位の構造には、特に制限はないが、含フッ素オレフィンとの重合反応性の観点から、ビニル基を有する化合物であることが好ましく、ビニルエーテル類又はビニルエステル類であることがより好ましい。
(Structural unit having a reactive group capable of participating in the crosslinking reaction)
In the present invention, the fluorine-containing polymer constituting the low refractive index layer, for example, a reactive group (hereinafter also referred to as a crosslinking reactive group) that can participate in a crosslinking reaction, contained in the compound represented by the general formula (2). Although there is no restriction | limiting in particular in the structure of a structural unit, From a viewpoint of polymerization reactivity with a fluorine-containing olefin, it is preferable that it is a compound which has a vinyl group, and it is more preferable that they are vinyl ethers or vinyl esters.

上記架橋反応性基としては、例えば、活性水素原子を有する基(例えば、水酸基、アミノ基、カルバモイル基、メルカプト基、β−ケトエステル基、ヒドロシリル基、シラノール基等)、カチオン重合可能な基(例えば、エポキシ基、オキセタニル基、オキサゾリル基、ビニルオキシ基等)、酸無水物、ラジカル種による付加又は重合が可能な不飽和二重結合を有する基(例えば、アクリロイル基、メタクリロイル基、アリル基等)、加水分解性シリル基(例えば、アルコキシシリル基、アシルオキシシリル基等)、求核剤によって置換され得る基(例えば、活性ハロゲン原子、スルホン酸エステル等)等が挙げられる。   Examples of the crosslinking reactive group include a group having an active hydrogen atom (for example, a hydroxyl group, an amino group, a carbamoyl group, a mercapto group, a β-ketoester group, a hydrosilyl group, a silanol group, etc.), a group capable of cationic polymerization (for example, Epoxy groups, oxetanyl groups, oxazolyl groups, vinyloxy groups, etc.), acid anhydrides, groups having unsaturated double bonds that can be added or polymerized by radical species (eg, acryloyl groups, methacryloyl groups, allyl groups, etc.), Examples include hydrolyzable silyl groups (for example, alkoxysilyl groups, acyloxysilyl groups, etc.), groups that can be substituted by nucleophiles (for example, active halogen atoms, sulfonate esters, etc.), and the like.

これらのうちで不飽和二重結合を有する基は、水酸基を有するポリマーを合成した後、(メタ)アクリル酸クロリド等の酸ハリド、(メタ)アクリル酸無水物等の酸無水物、又は(メタ)アクリル酸を作用させる方法;3−クロロプロピオン酸エステル部位を有するビニルモノマーを重合させた後で、脱塩化水素する方法等の定法によって形成できる。また同様に他の官能基も、モノマー段階から導入されていてもよいし、水酸基等の反応性基を有するポリマーを合成後に導入してもよい。   Among these, a group having an unsaturated double bond is obtained by synthesizing a polymer having a hydroxyl group, then an acid halide such as (meth) acrylic acid chloride, an acid anhydride such as (meth) acrylic anhydride, or (meta ) A method of allowing acrylic acid to act; It can be formed by a conventional method such as a method of dehydrochlorination after polymerizing a vinyl monomer having a 3-chloropropionic acid ester moiety. Similarly, other functional groups may be introduced from the monomer stage, or a polymer having a reactive group such as a hydroxyl group may be introduced after synthesis.

上記の架橋反応性基の中では、水酸基、エポキシ基、(メタ)アクリロイル基又は加水分解性シリル基が好ましく、エポキシ基又は(メタ)アクリロイル基がより好ましく、(メタ)アクリロイル基が最も好ましい。これらの架橋反応性基を有する共重合成分の導入量は、10〜50モル%の範囲であり、20〜50モル%の範囲であることが好ましく、25〜50モル%の範囲であることが特に好ましい。   Among the crosslinking reactive groups, a hydroxyl group, an epoxy group, a (meth) acryloyl group or a hydrolyzable silyl group is preferable, an epoxy group or a (meth) acryloyl group is more preferable, and a (meth) acryloyl group is most preferable. The amount of the copolymerization component having a crosslinking reactive group introduced is in the range of 10 to 50 mol%, preferably in the range of 20 to 50 mol%, and preferably in the range of 25 to 50 mol%. Particularly preferred.

以下に、架橋反応に関与し得る重合単位の好ましい例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Although the preferable example of the polymerization unit which can participate in a crosslinking reaction below is shown, this invention is not limited to these.

Figure 0005049542
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(ポリシロキサン部分構造)
本発明で使用される、側鎖にポリシロキサン部分構造を有するポリマーにおけるポリシロキサン部分構造について説明する。ポリシロキサン部分構造は、一般に、下記一般式(2−1)の繰り返しシロキサン部位を有している。
一般式(2−1):
(Polysiloxane partial structure)
The polysiloxane partial structure in the polymer having a polysiloxane partial structure in the side chain used in the present invention will be described. The polysiloxane partial structure generally has a repeating siloxane moiety represented by the following general formula (2-1).
General formula (2-1):

Figure 0005049542
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一般式(2−1)中、R21及びR22は、同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。アルキル基としては、炭素数1〜4が好ましく、例としてメチル基、トリフルオロメチル基、エチル基等が挙げられる。アリール基としては炭素数6〜20が好ましく、例としてフェニル基、ナフチル基が挙げられる。これらの中でもメチル基およびフェニル基が好ましく、特に好ましくはメチル基である。p1は10〜500の整数を表わし、好ましくは10〜350であり、特に好ましくは10〜250の場合である。 In General Formula (2-1), R 21 and R 22 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. As an alkyl group, C1-C4 is preferable and a methyl group, a trifluoromethyl group, an ethyl group etc. are mentioned as an example. The aryl group preferably has 6 to 20 carbon atoms, and examples thereof include a phenyl group and a naphthyl group. Among these, a methyl group and a phenyl group are preferable, and a methyl group is particularly preferable. p1 represents an integer of 10 to 500, preferably 10 to 350, and particularly preferably 10 to 250.

側鎖に一般式(2−1)であらわされるポリシロキサン構造を有するポリマーは、例えば“J.A.Appl.Polym.Sci.”,2000巻、p.78(1955年)、特開昭56−28219号公報等に記載のごとく、エポキシ基、水酸基、カルボキシル、酸無水物基等の反応性基を有するポリマーに対して、反応性を有する反応性基(例えばエポキシ基、酸無水物基に対してアミノ基、メルカプト基、カルボキシル基、水酸基等)を片末端に有するポリシロキサン[例えば「サイラプレーン」シリーズ{チッソ(株)製}など]を高分子反応によって導入する方法;ポリシロキサン含有シリコンマクロマーを重合させる方法によって合成することができ、どちらの方法も好ましく用いることができる。本発明ではシリコンマクロマーの重合によって導入する方法がより好ましい。   Examples of the polymer having a polysiloxane structure represented by the general formula (2-1) in the side chain are “JA Appl. Polym. Sci.”, 2000, p. 78 (1955), as disclosed in JP-A-56-28219 and the like, a reactive group having reactivity with a polymer having a reactive group such as an epoxy group, a hydroxyl group, a carboxyl, or an acid anhydride group. Polysiloxane [for example, “Silaplane” series {manufactured by Chisso Corporation, etc.] having a polymer at one end (for example, an amino group, a mercapto group, a carboxyl group, a hydroxyl group, etc. with respect to an epoxy group or an acid anhydride group) is a polymer. It can be synthesized by a method of introducing by reaction; a method of polymerizing a polysiloxane-containing silicon macromer, and both methods can be preferably used. In the present invention, a method of introducing by polymerization of silicon macromer is more preferable.

側鎖に繰り返しシロキサン部位を含む重合単位は、共重合体中の0.01〜20質量%を占めることが好ましく、より好ましくは0.1〜10質量%の場合であり、特に好ましくは、0.5〜5%の場合である。   The polymer unit containing a siloxane moiety in the side chain preferably occupies 0.01 to 20% by mass in the copolymer, more preferably 0.1 to 10% by mass, and particularly preferably 0. .5 to 5%.

以下に、本発明に有用な、側鎖に繰り返しシロキサン部位を含む重合単位の好ましい例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Although the preferable example of the polymerization unit which is useful for this invention and contains a siloxane part repeatedly in a side chain is shown below, this invention is not limited to these.

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上記以外の、側鎖に繰り返しシロキサン部位を含む重合単位としては、前記のように、他の重合単位が有する反応性基に対して、反応性を有する反応性基を片末端に有するポリシロキサンを高分子反応させることにより形成されるものも使用することができ、このような市販のポリシロキサンとしては、次のものを例示することができる。
S−(36):「サイラプレーンFM−0711」{チッソ(株)製}
S−(37):「サイラプレーンFM−0721」(同上)
S−(38):「サイラプレーンFM−0725」(同上)
Other than the above, as the polymerized unit containing a siloxane moiety repeatedly in the side chain, as described above, a polysiloxane having a reactive group at one end with respect to a reactive group possessed by another polymerized unit. What is formed by carrying out a polymer reaction can also be used, and the following can be illustrated as such commercially available polysiloxane.
S- (36): “Silaplane FM-0711” {manufactured by Chisso Corporation}
S- (37): “Silaplane FM-0721” (same as above)
S- (38): “Silaplane FM-0725” (same as above)

(その他の共重合成分)
上記以外の共重合成分もまた、硬度、基材への密着性、溶媒への溶解性、透明性等種々の観点から、適宜選択することができる。
(Other copolymer components)
Copolymerization components other than the above can also be appropriately selected from various viewpoints such as hardness, adhesion to a substrate, solubility in a solvent, and transparency.

このような共重合成分としては、例えば、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、t−ブチルビニルエーテル、n−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル、シクロヘキサンカルボン酸ビニル等のビニルエステル類を例として挙げることができる。これらの共重合成分の導入量は、0〜40モル%の範囲であり、0〜30モル%の範囲であることが好ましく、1〜20モル%の範囲であることが特に好ましい。   Examples of such copolymerization components include methyl ethers such as methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, t-butyl vinyl ether, n-butyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, and isopropyl vinyl ether, vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl butyrate, and cyclohexane. Examples include vinyl esters such as vinyl carboxylate. The introduction amount of these copolymerization components is in the range of 0 to 40 mol%, preferably in the range of 0 to 30 mol%, and particularly preferably in the range of 1 to 20 mol%.

下記の表8及び表9に、本発明で有用なポリマーの具体例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお表8及び表9には、重合単位の組み合わせとして表記する。シリコーンを含む重合単位を除いた成分の中のモル分率及び、シリコーンを含む重合単位の質量分率を示す。
表8
Specific examples of polymers useful in the present invention are shown in Table 8 and Table 9 below, but the present invention is not limited to these. In Tables 8 and 9, they are expressed as combinations of polymerization units. The molar fraction in the component except the polymerized unit containing silicone and the mass fraction of the polymerized unit containing silicone are shown.
Table 8

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本発明に用いられるポリシロキサン部分構造を有する化合物である、主鎖又は側鎖にポリシロキサン構造を有するポリマーは、ゲルパーミッションクロマトグラフィーで測定したポリスチレン換算数平均分子量が5,000〜500,000の範囲であることが好ましく、更に好ましくは5,000〜300,000の範囲であることが好ましい。   The polymer having a polysiloxane structure in the main chain or side chain, which is a compound having a polysiloxane partial structure used in the present invention, has a polystyrene equivalent number average molecular weight of 5,000 to 500,000 as measured by gel permeation chromatography. The range is preferably, and more preferably in the range of 5,000 to 300,000.

上記の主鎖又は側鎖にポリシロキサン構造を有するポリマーの合成は、種々の重合方法、例えば溶液重合、沈澱重合、懸濁重合、沈殿重合、塊状重合、乳化重合によって水酸基含有重合体等の前駆体を合成した後、前記高分子反応によって(メタ)アクリロイル基を導入することにより行なうことができる。重合反応は回分式、半連続式、連続式等の任意の操作で行うことができる。   The synthesis of a polymer having a polysiloxane structure in the main chain or side chain is a precursor of a hydroxyl group-containing polymer or the like by various polymerization methods such as solution polymerization, precipitation polymerization, suspension polymerization, precipitation polymerization, bulk polymerization, and emulsion polymerization. After the body is synthesized, it can be carried out by introducing a (meth) acryloyl group by the polymer reaction. The polymerization reaction can be carried out by any operation such as batch, semi-continuous or continuous.

重合の開始方法はラジカル開始剤を用いる方法、光又は放射線を照射する方法等がある。これらの重合方法、重合の開始方法は、例えば鶴田禎二「高分子合成方法」改定版(日刊工業新聞社刊、1971年)や、大津隆行、木下雅悦共著「高分子合成の実験法」(化学同人、昭和47年刊)、124〜154頁に記載されている。   The polymerization initiation method includes a method using a radical initiator, a method of irradiating light or radiation, and the like. These polymerization methods and polymerization initiation methods are, for example, the revised version of Tsuruta Junji “Polymer Synthesis Method” (published by Nikkan Kogyo Shimbun, 1971), Takatsu Otsu and Masato Kinoshita, “Experimental Methods for Polymer Synthesis” ( Chemistry Dojin, published in 1972), pages 124-154.

上記重合方法のうち、特にラジカル開始剤を用いた溶液重合法が好ましい。溶液重合法で用いられる溶媒は、例えば酢酸エチル、酢酸ブチル、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ベンゼン、トルエン、アセトニトリル、塩化メチレン、クロロホルム、ジクロロエタン、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、1−ブタノールのような種々の有機溶媒の単独又は2種以上の混合物でもよいし、水との混合溶媒としてもよい。   Among the above polymerization methods, a solution polymerization method using a radical initiator is particularly preferable. Solvents used in the solution polymerization method are, for example, ethyl acetate, butyl acetate, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dioxane, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, benzene, toluene, acetonitrile, It may be a single organic organic solvent such as methylene chloride, chloroform, dichloroethane, methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol, 1-butanol, or a mixture of two or more thereof, or a mixed solvent with water.

重合温度は生成するポリマーの分子量、開始剤の種類などと関連して設定する必要があり0℃以下から100℃以上まで可能であるが、50〜100℃の範囲で重合を行なうことが好ましい。   The polymerization temperature needs to be set in relation to the molecular weight of the polymer to be produced, the type of initiator, etc., and can be from 0 ° C. or lower to 100 ° C. or higher, but it is preferable to carry out the polymerization in the range of 50 to 100 ° C.

反応圧力は適宜選定可能であるが、通常は、1〜100kg/cm、特に、1〜30kg/cm程度が望ましい。反応時間は5〜30時間程度である。 The reaction pressure can be selected as appropriate, but usually 1-100 kg / cm 2 , particularly about 1-30 kg / cm 2 is desirable. The reaction time is about 5 to 30 hours.

得られたポリマーの再沈殿溶媒としては、イソプロパノール、ヘキサン、メタノール等が好ましい。   As the reprecipitation solvent for the obtained polymer, isopropanol, hexane, methanol and the like are preferable.

(多官能モノマーの併用)
本発明の電離放射線硬化性化合物に対して、膜強度の向上、塗布面状改良、微粒子添加時の面状安定性の観点から、2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物を併用することが好ましい。また、本発明の電離放射線硬化性化合物そのものが、2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物であってもよい。該2個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーとしては、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル{例えば、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート)、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート等}、ビニルベンゼン及びその誘導体(例えば、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン等)、ビニルスルホン(例えばジビニルスルホン等)、アクリルアミド誘導体(例えばメチレンビスアクリルアミド等)及びメタクリルアミド誘導体などが挙げられる。上記モノマーは2種以上併用してもよい。
(Combination of polyfunctional monomers)
The ionizing radiation curable compound of the present invention is used in combination with a compound having two or more ethylenically unsaturated groups from the viewpoint of improving the film strength, improving the coating surface condition, and stabilizing the surface condition when adding fine particles. Is preferred. Further, the ionizing radiation curable compound of the present invention itself may be a compound having two or more ethylenically unsaturated groups. Examples of the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid {for example, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-cyclohexanediacrylate, pentaerythritol tetra (Meth) acrylate), pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, Dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2,3-cyclohexanetetramethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester Polyacrylate, etc., vinylbenzene and derivatives thereof (for example, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone, etc.), vinyl sulfones (for example, divinylsulfone, etc.) Acrylamide derivatives (for example, methylenebisacrylamide) and methacrylamide derivatives. Two or more of these monomers may be used in combination.

[ポリシロキサン部分構造含有化合物](本発明の低屈折率層構成成分(C))
本発明における低屈折率層には、防汚性付与等のため、下記一般式(I)で表されるポリシロキサン部分構造を含有する化合物を添加することができる。
一般式(I)
[Polysiloxane Partial Structure-Containing Compound] (Low Refractive Index Layer Component (C) of the Present Invention)
A compound containing a polysiloxane partial structure represented by the following general formula (I) can be added to the low refractive index layer in the present invention in order to impart antifouling properties.
Formula (I)

Figure 0005049542
Figure 0005049542

(一般式(I)中、R及びRは同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。pは10〜500の整数を表す。)
ポリシロキサン部分構造含有化合物としては、少なくとも1個以上の反応性基を含有していることが好ましい。例としては、KF−100T,X−22−169AS,KF−102,X−22−3701IE,X−22−164B,X−22−5002,X−22−173B,X−22−174D,X−22−167B,X−22−161AS(以上商品名、信越化学工業社製)、AK−5,AK−30,AK−32(以上商品名、東亜合成社製)、などが挙げられる。なかでも分子内に光重合性官能基を有する好ましいシリコーン系化合物の例としては信越化学(株)製、X−22−174DX、X−22−2426、X−22−164B、X22−164C、X−22−1821(以上商品名)や、チッソ(株)製、FM−0725、FM−7725、FM6621、FM−1121、サイラプレーンFM0275,サイラプレーンFM0721やGelest製DMS−U22、RMS−033、RMS−083、UMS−182、DMS−H21、DMS−H31、HMS−301、FMS121、FMS123、FMS131、FMS141、FMS221 (以上商品名)などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。また、特開2003−112383の表2、表3に記載のシリコーン系化合物も好ましく使用できる。
この際これらのポリシロキサンは低屈折率層全固形分の0.5〜10質量%の範囲で添加されることが好ましく、特に1〜5質量%の範囲で添加されることが好ましい。
(In general formula (I), R 1 and R 2 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. P represents an integer of 10 to 500.)
The polysiloxane partial structure-containing compound preferably contains at least one reactive group. Examples include KF-100T, X-22-169AS, KF-102, X-22-3701IE, X-22-164B, X-22-5002, X-22-173B, X-22-174D, X- 22-167B, X-22-161AS (above trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), AK-5, AK-30, AK-32 (above trade name, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), and the like. Among these, examples of preferable silicone compounds having a photopolymerizable functional group in the molecule include X-22-174DX, X-22-2426, X-22-164B, X22-164C, X, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. -22-1821 (named above), Chisso Corporation, FM-0725, FM-7725, FM6621, FM-1221, Silaplane FM0275, Silaplane FM0721, Gelest DMS-U22, RMS-033, RMS -083, UMS-182, DMS-H21, DMS-H31, HMS-301, FMS121, FMS123, FMS131, FMS141, FMS221 (the above-mentioned product names), and the like, but are not limited thereto. In addition, silicone compounds described in Tables 2 and 3 of JP-A No. 2003-112383 can also be preferably used.
At this time, these polysiloxanes are preferably added in the range of 0.5 to 10% by mass, and particularly preferably in the range of 1 to 5% by mass, based on the total solid content of the low refractive index layer.

[電離放射線硬化型含フッ素防汚剤](本発明の低屈折率層構成成分(D))
本発明の低屈折率層には防汚性、耐水性、耐薬品性、滑り性等の特性を付与する目的で、フッ素系の防汚剤、滑り剤等を適宜添加することが好ましい。塗布物のロール状態での保存時のフッ素化合物の裏面転写の抑制及び塗膜の耐擦傷性改良の観点から、電離放射線硬化型の官能基を含有する含フッ素防汚剤を使用することが好ましい。電離放射線硬化型の官能基を含有する含フッ素防汚剤は、フッ素系化合物を含む防汚剤である。電離放射線硬化型の官能基に特に制限はないが、不飽和2重結合を有する官能基が好ましく、最も好ましくは、メタアクリロイルオキシ基又はアクリロイルオキシ基である。
[Ionizing radiation curable fluorine-containing antifouling agent] (low refractive index layer component (D) of the present invention)
For the purpose of imparting properties such as antifouling property, water resistance, chemical resistance and slipperiness to the low refractive index layer of the present invention, it is preferable to add a fluorine-based antifouling agent, a slipping agent and the like as appropriate. From the viewpoint of suppressing the back transfer of the fluorine compound during storage of the coated product in a roll state and improving the scratch resistance of the coating film, it is preferable to use a fluorine-containing antifouling agent containing an ionizing radiation curable functional group. . The fluorine-containing antifouling agent containing an ionizing radiation curable functional group is an antifouling agent containing a fluorine-based compound. The ionizing radiation curable functional group is not particularly limited, but a functional group having an unsaturated double bond is preferable, and a methacryloyloxy group or an acryloyloxy group is most preferable.

フッ素系化合物としては、フルオロアルキル基を有する化合物が好ましい。該フルオロアルキル基は炭素数1〜20であることが好ましく、より好ましくは1〜10であり、直鎖(例えば−CFCF,−CH(CFH,−CH(CFCF,−CHCH(CFH等)であっても、分岐構造(例えばCH(CF,CHCF(CF,CH(CH)CFCF,CH(CH)(CFCFH等)であっても、脂環式構造(好ましくは5員環または6員環、例えばパーフルオロシクロへキシル基、パーフルオロシクロペンチル基またはこれらで置換されたアルキル基等)であっても良く、エーテル結合を有していても良い(例えばCHOCHCFCF,CHCHOCHH,CHCHOCHCH17,CHCHOCFCFOCFCFH等)。該フルオロアルキル基は同一分子中に複数含まれていてもよい。 As the fluorine compound, a compound having a fluoroalkyl group is preferable. The fluoroalkyl group preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 10 carbon atoms, and a straight chain (for example, —CF 2 CF 3 , —CH 2 (CF 2 ) 4 H, —CH 2 (CF 2 ) 8 CF 3 , —CH 2 CH 2 (CF 2 ) 4 H, etc.), even branched structures (eg, CH (CF 3 ) 2 , CH 2 CF (CF 3 ) 2 , CH (CH 3 ) CF 2 CF 3 , CH (CH 3 ) (CF 2 ) 5 CF 2 H, etc.), alicyclic structures (preferably 5-membered or 6-membered rings such as perfluorocyclohexyl group, perfluorocyclopentyl, etc. Group or an alkyl group substituted with these, and may have an ether bond (for example, CH 2 OCH 2 CF 2 CF 3 , CH 2 CH 2 OCH 2 C 4 F 8 H, CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 C 8 F 17 , CH 2 CH 2 OCF 2 CF 2 OCF 2 CF 2 H , etc.). A plurality of the fluoroalkyl groups may be contained in the same molecule.

フッ素系化合物は、さらに低屈折率層皮膜との結合形成あるいは相溶性に寄与する置換基を有していることが好ましい。該置換基は同一であっても異なっていても良く、複数個あることが好ましい。好ましい置換基の例としてはアクリロイル基、メタアクリロイル基、ビニル基、アリール基、シンナモイル基、エポキシ基、オキセタニル基、水酸基、ポリオキシアルキレン基、カルボキシル基、アミノ基などが挙げられる。フッ素系化合物はフッ素原子を含まない化合物とのポリマーであってもオリゴマーであってもよく、分子量に特に制限はない。フッ素系化合物のフッ素原子含有量には特に制限は無いが20質量%以上であることが好ましく、30〜70質量%であることが特に好ましく、40〜70質量%であることが最も好ましい。好ましいフッ素系化合物の例としてはダイキン化学工業(株)製、R−2020、M−2020、R−3833、M−3833(以上商品名)、大日本インキ(株)製、メガファックF−171、F−172、F−179A、ディフェンサMCF−300 (以上商品名)などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。   It is preferable that the fluorine-based compound further has a substituent that contributes to bond formation or compatibility with the low refractive index layer film. The substituents may be the same or different, and a plurality of substituents are preferable. Examples of preferred substituents include acryloyl group, methacryloyl group, vinyl group, aryl group, cinnamoyl group, epoxy group, oxetanyl group, hydroxyl group, polyoxyalkylene group, carboxyl group, amino group and the like. The fluorine-based compound may be a polymer or an oligomer with a compound not containing a fluorine atom, and the molecular weight is not particularly limited. Although there is no restriction | limiting in particular in fluorine atom content of a fluorine-type compound, It is preferable that it is 20 mass% or more, It is especially preferable that it is 30-70 mass%, It is most preferable that it is 40-70 mass%. Examples of preferred fluorine-based compounds include Daikin Chemical Industries, Ltd., R-2020, M-2020, R-3833, M-3833 (named above), Dainippon Ink Co., Ltd., Megafac F-171. , F-172, F-179A, defender MCF-300 (trade name) and the like, but are not limited thereto.

また、本発明において、電離放射線硬化型の官能基が(メタ)アクリロイルオキシ基である化合物の好ましい態様(一般式(F−1)、(F−2)、(F−3))について詳細に述べる。   In the present invention, the preferred embodiments (general formulas (F-1), (F-2), (F-3)) of the compound in which the ionizing radiation curable functional group is a (meth) acryloyloxy group are described in detail. State.

好ましい第1の態様として、下記一般式(F−1)で表される化合物を挙げることができる。   As a preferred first embodiment, a compound represented by the following general formula (F-1) can be exemplified.

一般式(F−1):
Rf(CF2CF2nCH2CH22OCOCR1=CH2
Formula (F-1):
Rf (CF 2 CF 2) n CH 2 CH 2 R 2 OCOCR 1 = CH 2

(式中、Rfは、炭素数が1〜10であるフルオロアルキル基のいずれかを示し、R1は水素原子またはメチル基を示し、R2は単結合またはアルキレン基を示し、nは重合度を示す整数であり、重合度nはk(kは3以上の整数のいずれかを示す)以上である。)
一般式(1)におけるフッ素原子を含むテロマー型アクリレートとしては、(メタ)アクリル酸の部分または完全フッ素化アルキルエステル誘導体類等が挙げられる。
(In the formula, Rf represents any of a fluoroalkyl group having 1 to 10 carbon atoms, R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, R 2 represents a single bond or an alkylene group, and n represents a polymerization degree. The degree of polymerization n is k or more (k is any integer of 3 or more).)
Examples of the telomer acrylate containing a fluorine atom in the general formula (1) include a (meth) acrylic acid moiety or a fully fluorinated alkyl ester derivative.

一般式(F−1)で表される化合物の具体例を以下に示すが、本発明はこれらに限定されるわけではない。   Specific examples of the compound represented by formula (F-1) are shown below, but the present invention is not limited thereto.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記の一般式(F−1)で表される化合物は、合成の際にテロメリゼイションを用いると、テロメリゼイションの条件及び反応混合物の分離条件等によっては一般式(F−1)の基Rf(CF2CF2)nR2CH2CH2O−のnがそれぞれk、k+1、k+2、...等の複数の含フッ素(メタ)アクリル酸エステルを含むことがある。 When telomerization is used in the synthesis of the compound represented by the general formula (F-1), the group of the general formula (F-1) may be used depending on the conditions of telomerization and the separation conditions of the reaction mixture. Rf (CF 2 CF 2 ) nR 2 CH 2 CH 2 O—, where n is k, k + 1, k + 2,. . . And a plurality of fluorine-containing (meth) acrylic acid esters.

好ましい第2の態様として、下記一般式(F−2)で表される化合物を挙げることができる。   As a preferred second embodiment, a compound represented by the following general formula (F-2) can be exemplified.

一般式(F−2):
F(CF2nO(CF2CF2O)CF2CH2OCOCR=CH2
Formula (F-2):
F (CF 2) n O ( CF 2 CF 2 O) m CF 2 CH 2 OCOCR = CH 2

一般式(F−2)中、Rは水素原子またはメチル基であり、mは1〜6の整数であり、nは1〜4の整数を表す。
上記一般式(F−2)で表されるフッ素原子含有単官能(メタ)アクリレートは、下記一般式(FG−2)
In general formula (F-2), R is a hydrogen atom or a methyl group, m is an integer of 1 to 6, and n is an integer of 1 to 4.
The fluorine atom-containing monofunctional (meth) acrylate represented by the general formula (F-2) is represented by the following general formula (FG-2).

一般式(FG−2):
F(CFO(CFCFO)CFCHOH
General formula (FG-2):
F (CF 2) n O ( CF 2 CF 2 O) m CF 2 CH 2 OH

(一般式(FG−2)中、mは1〜6の整数であり、nは1〜4の整数を表す。)で表されるフッ素原子含有アルコール化合物と(メタ)アクリル酸ハライドとを反応させることにより得ることができる。 (In General Formula (FG-2), m is an integer of 1 to 6, and n is an integer of 1 to 4). The fluorine atom-containing alcohol compound represented by (meth) acrylic acid halide is reacted. Can be obtained.

前記一般式(FG−2)で表されるフッ素原子含有アルコール化合物の具体例としては、例えば、1H,1H−ペルフルオロ−3,6−ジオキサヘプタン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6−ジオキサオクタン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6−ジオキサデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサウンデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサトリデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12−テトラオキサトリデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12−テトラオキサテトラデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12−テトラオキサヘキサデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15−ペンタオキサヘキサデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15−ペンタオキサヘプタデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15−ペンタオキサノナデカン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15,18−ヘキサオキサイコサン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15,18−ヘキサオキサドコサン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15,18,21−ヘプタオキサトリコサン−1−オール、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12,15,18,21−ヘプタオキサペンタコサン−1−オール等を挙げることができる。これらは市場で入手でき、その具体例としては例えば、1H,1H−ペルフルオロ−3,6−ジオキサヘプタン−1−オール:商品名:C5GOL:エクスフロアー社製、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサデカン−1−オール:商品名:C7GOL:エクスフロアー社製、1H,1H−ペルフルオロ−3,6−ジオキサデカン−1−オール:商品名:C8GOL:エクスフロアー社製、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサトリデカン−1−オール:商品名:C10GOL:エクスフロアー社製、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9,12−テトラオキサヘキサデカン−1−オール:商品名:C12GOL:エクスフロアー社製等が挙げられる。本発明においては、1H,1H−ペルフルオロ−3,6,9−トリオキサデカン−1−オールを用いることが好ましい。   Specific examples of the fluorine atom-containing alcohol compound represented by the general formula (FG-2) include, for example, 1H, 1H-perfluoro-3,6-dioxaheptan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3. , 6-Dioxaoctane-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6-dioxadecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9-trioxadecan-1-ol, 1H, 1H -Perfluoro-3,6,9-trioxaundecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9-trioxatridecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9, 12-tetraoxatridecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12-tetraoxatetradecan-1-ol, 1H, 1H-pe Fluoro-3,6,9,12-tetraoxahexadecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12,15-pentaoxahexadecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3, 6,9,12,15-pentaoxaheptadecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12,15-pentaoxanonadecan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3, 6,9,12,15,18-hexaoxaicosan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12,15,18-hexaoxadocosan-1-ol, 1H, 1H- Perfluoro-3,6,9,12,15,18,21-heptaoxatricosan-1-ol, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12,15,18,2 - it can be mentioned hepta oxa pen octopus San-1-ol and the like. These are available on the market. Specific examples thereof include, for example, 1H, 1H-perfluoro-3,6-dioxaheptan-1-ol: trade name: C5GOL: manufactured by Exfloor, 1H, 1H-perfluoro-3, 6,9-trioxadecan-1-ol: trade name: C7GOL: manufactured by Exfloor 1H, 1H-perfluoro-3,6-dioxadecan-1-ol: trade name: C8GOL: manufactured by Exfloor 1H, 1H-perfluoro-3,6,9-trioxatridecan-1-ol: Trade name: C10GOL: manufactured by Exfloor 1H, 1H-perfluoro-3,6,9,12-tetraoxahexadecan-1-ol : Product name: C12GOL: Exfloor, etc. In the present invention, 1H, 1H-perfluoro-3,6,9-trioxadecan-1-ol is preferably used.

また、前記一般式(FG−2)で表されるフッ素原子含有アルコール化合物と反応させる(メタ)アクリル酸ハライドとしては、(メタ)アクリル酸フルオライド、(メタ)アクリル酸クロライド、(メタ)アクリル酸ブロマイド、(メタ)アクリル酸アイオダイドを挙げることができるが、通常、入手しやすさ等の観点から(メタ)アクリル酸クロライドが好ましい。   The (meth) acrylic acid halide to be reacted with the fluorine atom-containing alcohol compound represented by the general formula (FG-2) includes (meth) acrylic acid fluoride, (meth) acrylic acid chloride, and (meth) acrylic acid. Although bromide and (meth) acrylic acid iodide can be mentioned, (meth) acrylic acid chloride is usually preferred from the viewpoint of availability.

以下に一般式(F−2)で表される化合物の好ましい具体例を示すが、これらに限定されるものではない。
(b−1):FOCOCOCFCHOCOCH=CH
(b−2):FOCOCOCFCHOCOC(CH)=CH
Although the preferable specific example of a compound represented by general formula (F-2) below is shown, it is not limited to these.
(B-1): F 9 C 4 OC 2 F 4 OC 2 F 4 OCF 2 CHOCOCH = CH 2
(B-2): F 9 C 4 OC 2 F 4 OC 2 F 4 OCF 2 CHOCOC (CH 3) = CH 2

好ましい第3の態様として、下記一般式(F−3)で表される化合物を挙げることができる。   As a preferred third embodiment, a compound represented by the following general formula (F-3) can be mentioned.

一般式(F−3):
(Rf)− [(W)−(R]
Formula (F-3):
(Rf)-[(W)-(R A ) n ] m

一般式(F−3)中、Rfは(パー)フルオロポリエーテル基、Wは連結基、Rは(メタ)アクリル基を表す。nは1〜3、mは1〜3の整数を表し、nとmは同時に1であることはない。 In general formula (F-3), Rf represents a (per) fluoropolyether group, W represents a linking group, and RA represents a (meth) acrylic group. n represents an integer of 1 to 3, m represents an integer of 1 to 3, and n and m are not 1 at the same time.

一般式(F−3)で表される化合物において、Wとしては、例えばアルキレン、アリーレン、ヘテロアルキレン、又はそれらの組み合わさった連結基を表す。それらの連結基は、更に、カルボニル、カルボニルオキシ、カルボニルイミノ、スルホンアミド等やそれらの組み合わさった官能基を含有しても良い。   In the compound represented by the general formula (F-3), W represents, for example, alkylene, arylene, heteroalkylene, or a linking group in combination thereof. Those linking groups may further contain a functional group such as carbonyl, carbonyloxy, carbonylimino, sulfonamide, or the like or a combination thereof.

Rfの好ましい構造としては、以下の構造を挙げることができる。
F(CF(CF)CFO)CF(CF)−
ここでpの平均値は4〜15である。
一般式(F−3)で表される化合物の数平均分子量は、400〜5000が好ましく、800〜4000が更に好ましく、最も好ましくは1000〜3000である。
一般式(F−3)で表される化合物の好ましい具体例や合成方法は国際公開公報WO 2005/008570に記載されている。
以下F(CF(CF)CFO)CF(CF)−においてpの平均値が6〜7のものを“HFPO−”と記載し、一般式(F−3)の具体的化合物を示すが、これらに限定されるものではない。
Preferred structures of Rf include the following structures.
F (CF (CF 3 ) CF 2 O) p CF (CF 3 ) −
Here, the average value of p is 4-15.
400-5000 are preferable, as for the number average molecular weight of the compound represented by general formula (F-3), 800-4000 are more preferable, Most preferably, it is 1000-3000.
Preferred specific examples and synthesis methods of the compound represented by the general formula (F-3) are described in International Publication WO 2005/008570.
Hereinafter, F (CF (CF 3 ) CF 2 O) p CF (CF 3 ) — in which the average value of p is 6 to 7 is referred to as “HFPO-”, and is a specific compound of the general formula (F-3) However, it is not limited to these.

(C−1):HFPO−CONH−C−(CHOCOCH=CHCHCH
(C−2):HFPO−CONH−C−(CHOCOCH=CH
(C−3):HFPO−CONH−CNHCHとトリメチロールプロパントリアクリレートの1:1マイケル付加重合物
(C-1): HFPO- CONH-C- (CH 2 OCOCH = CH 2) 2 CH 2 CH 3
(C-2): HFPO- CONH-C- (CH 2 OCOCH = CH 2) 2 H
(C-3): of HFPO-CONH-C 3 H 6 NHCH 3 trimethylolpropane triacrylate 1: 1 Michael addition polymer

[導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子](本発明の低屈折率層構成成分B)
本発明において、低屈折率層の構成成分(B)として用いることのできる微粒子について説明する。本発明の低屈折率層には、導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子を含有する。本発明において、導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子としは、微粒子を核としてその外側に導電性金属酸化物のシェル層を設けたコア/シェル型複合微粒子と、酸、アルカリ又は有機溶剤可溶の微粒子を核としてその外側に導電性金属酸化物のシェル層を設けて複合微粒子を形成させた後、酸、アルカリ又は有機溶剤の処理を行なって核粒子を除去して内部空孔を形成させた内部空孔型中空微粒子とが挙げられる。
[Fine Particles Having Conductive Metal Oxide Coating Layer] (Low Refractive Index Layer Component B of the Present Invention)
In the present invention, the fine particles that can be used as the component (B) of the low refractive index layer will be described. The low refractive index layer of the present invention contains fine particles having a conductive metal oxide coating layer. In the present invention, the fine particles having a conductive metal oxide coating layer include core / shell type composite fine particles having fine particles as nuclei and a conductive metal oxide shell layer on the outside, and an acid, alkali or organic solvent. After forming soluble fine particles as nuclei and forming a conductive metal oxide shell layer on the outside to form composite fine particles, treatment with acid, alkali or organic solvent removes the nuclei particles to form internal vacancies And internal pore-type hollow fine particles.

どちらの形態の微粒子においても、用いられる導電性金属酸化物には特に制限はないが、例えば、酸化錫(SnO2 )、アンチモン錫酸化物(ATO)、インジウム錫酸化物(ITO)、酸化アンチモン(Sb2 5 )、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、ガリウム亜鉛酸化物およびこれらの混合物から選択されるものが挙げられる。 In either form of fine particles, there is no particular limitation on the conductive metal oxide used. For example, tin oxide (SnO 2 ), antimony tin oxide (ATO), indium tin oxide (ITO), antimony oxide Those selected from (Sb 2 O 5 ), aluminum zinc oxide (AZO), gallium zinc oxide, and mixtures thereof.

コア/シェル型複合微粒子に用いる核粒子には、シリカ微粒子、例えば、コロイダルシリカ微粒子、酸化ケイ素微粒子等の無機微粒子;フッ素樹脂微粒子、アクリル樹脂粒子、シリコーン樹脂粒子等のポリマー微粒子;有機質無機質複合体粒子等の微粒子が挙げられ、上記微粒子は多孔質・中空微粒子であればより屈折率を低くすることができる。   The core particles used for the core / shell type composite fine particles include silica fine particles, for example, inorganic fine particles such as colloidal silica fine particles and silicon oxide fine particles; polymer fine particles such as fluororesin fine particles, acrylic resin particles, and silicone resin particles; organic inorganic composites Fine particles such as particles can be used, and the refractive index can be lowered if the fine particles are porous and hollow fine particles.

内部空孔型中空微粒子に用いる核粒子としては、酸、アルカリ又は有機溶剤の処理によってシェル層を通して溶解・流失可能である限り種類を問わないが、周期律表の2A、2B、3A、3B、4A、4B、5B及び6A族元素から選ばれる金属の無機酸化物微粒子が好ましく、Al、B、TiO、SnO、Ce3、、Sb、MoO、ZnO、WO等を挙げることができる。中でもAl 、ZnO、Y、Sb微粒子がより好ましい。また、内部空包型中空微粒子に用いる場合、核粒子とシェル物質の組合せとしては、Al 、ZnO、Y、Sb等の微粒子と、ATO、ITO、SnO等との組み合わせが好ましい。
内部空包型中空微粒子の製造方法としては、Al 、ZnO、Y、Sbなどの微粒子の表面をATO、ITO、SnOなどの超微粒子もしくはこれらの薄膜で被覆したのち、内部の微粒子を酸又はアルカリ水溶液で溶出させることにより中空の導電性無機微粒子を形成する方法を用いることができる。
The core particles used for the internal pore-type hollow fine particles are not limited as long as they can be dissolved and washed away through the shell layer by treatment with acid, alkali or organic solvent, but 2A, 2B, 3A, 3B in the periodic table, Inorganic oxide fine particles of metals selected from 4A, 4B, 5B and 6A group elements are preferred, and Al 2 O 3 , B 2 O 3 , TiO 2 , SnO 2 , Ce 2 O 3, P 2 O 5 , Sb 2 O. 3 , MoO 3 , ZnO 2 , WO 3 and the like. Among these, Al 2 O 3 , ZnO 2 , Y 2 O 3 , and Sb 2 O 5 fine particles are more preferable. Further, when used for the inner void type hollow fine particles, the combination of the core particles and the shell material includes fine particles such as Al 2 O 3 , ZnO 2 , Y 2 O 3 , Sb 2 O 5 , ATO, ITO, SnO 2. Etc. are preferred.
As a method for producing the internal enveloping hollow fine particles, the surface of fine particles such as Al 2 O 3 , ZnO, Y 2 O 3 , Sb 2 O 5 is coated with ultra fine particles such as ATO, ITO, SnO 2 or thin films thereof. After that, a method of forming hollow conductive inorganic fine particles by eluting the internal fine particles with an acid or alkaline aqueous solution can be used.

本発明に用いられる導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(B)の塗設量は、1〜100mg/mが好ましく、より好ましくは5〜80mg/m、更に好ましくは10〜60mg/mである。微粒子の塗設量が該下限値以上であれば、耐擦傷性が顕著に改良され、該上限値以下であれば、低屈折率層表面に微細な凹凸ができて、黒の締まりなどの外観や積分反射率が悪化するなどの不具合が生じることがないので好ましい。該微粒子は、低屈折率層に含有させることから、低屈折率であることが望ましい。 The coated amount of the fine particles (B) having a conductive metal oxide coating layer used in the present invention is preferably from 1 to 100 mg / m 2, more preferably 5-80 mg / m 2, more preferably 10~60Mg / a m 2. If the coating amount of the fine particles is not less than the lower limit value, the scratch resistance is remarkably improved. If the coating amount is not more than the upper limit value, fine irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the appearance such as black tightening is achieved. This is preferable because it does not cause problems such as deterioration of integrated reflectance. Since the fine particles are contained in the low refractive index layer, it is desirable that the fine particles have a low refractive index.

本発明において、微粒子の製造安定性の観点から、シリカ粒子を核としてその外側に導電性無機金属酸化物被覆層を有する複合酸化物微粒子が好ましい。特に好ましくは、導電性無機金属酸化物が酸化アンチモンである複合酸化物微粒子である。以下酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子について詳細に説明する。
[酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子]
本発明の特に好ましい態様である酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子(酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子とも呼ぶ)とは、酸化アンチモン被覆層を有しているシリカ系微粒子、好ましくは多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子を表す。前記シリカ系微粒子とは、シリカが含有されている粒子を指す。
前記多孔質シリカ系微粒子には、多孔質のシリカ微粒子とシリカを主成分とする複合酸化物微粒子が含まれ、例えば特開平7ー133105号公報に記載されているように、多孔性の無機酸化物微粒子の表面をシリカ等で被覆した低屈折率のナノメーターサイズの複合酸化物微粒子を用いることができる。
また、内部に空洞を有するシリカ系微粒子としては、例えば特開2001−233611号公報に記載されているように、シリカとシリカ以外の無機酸化物からなり、内部に空洞を有する低屈折率のナノメーターサイズのシリカ系微粒子を用いることができる。
In the present invention, from the viewpoint of production stability of fine particles, composite oxide fine particles having silica particles as the core and a conductive inorganic metal oxide coating layer on the outside thereof are preferable. Particularly preferable are composite oxide fine particles in which the conductive inorganic metal oxide is antimony oxide. Hereinafter, the silica-based fine particles having an antimony oxide coating layer will be described in detail.
[Silica-based fine particles having an antimony oxide coating layer]
The silica-based fine particles (also referred to as antimony oxide-coated silica-based fine particles) having an antimony oxide-coated layer, which is a particularly preferred embodiment of the present invention, are silica-based fine particles having an antimony oxide-coated layer, preferably porous silica-based fine particles. Or the silica type microparticles | fine-particles which have a cavity inside are represented. The silica-based fine particles refer to particles containing silica.
The porous silica-based fine particles include porous silica fine particles and composite oxide fine particles containing silica as a main component. For example, as described in JP-A-7-133105, porous inorganic oxide fine particles are used. It is possible to use nanometer-sized composite oxide fine particles having a low refractive index in which the surface of the product fine particles is coated with silica or the like.
Further, as silica-based fine particles having a cavity inside, for example, as described in JP-A-2001-233611, a low refractive index nano-particle made of silica and an inorganic oxide other than silica and having a cavity inside. Meter-sized silica-based fine particles can be used.

このような多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子は、平均粒子径が4〜270nm、さらには8〜170nmの範囲にあることが好ましい。   Such porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities therein preferably have an average particle size in the range of 4 to 270 nm, more preferably 8 to 170 nm.

前記多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の屈折率は、シリカの屈折率である1.45以下、さらには1.40以下であることが好ましい。   The refractive index of the porous silica-based fine particles or the silica-based fine particles having cavities therein is preferably 1.45 or less, more preferably 1.40 or less, which is the refractive index of silica.

前記シリカ系微粒子は、被覆層の平均厚さが好ましくは0.5〜30nm、より好ましくは1〜10nmの範囲にある酸化アンチモンで被覆されている。シリカ系微粒子を充分に被覆でき、得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の導電性が充分となる点で、被覆層の平均厚さは0.5nm以上が好ましい。導電性の向上効果が充分で、酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の平均粒子径が小さい場合にも屈折率が充分である点で、被覆層の平均厚さは30nm以下が好ましい。   The silica-based fine particles are coated with antimony oxide having an average coating layer thickness of preferably 0.5 to 30 nm, more preferably 1 to 10 nm. The average thickness of the coating layer is preferably 0.5 nm or more from the viewpoint that the silica-based fine particles can be sufficiently coated and the resulting antimony oxide-coated silica-based fine particles have sufficient conductivity. The average thickness of the coating layer is preferably 30 nm or less in that the effect of improving conductivity is sufficient and the refractive index is sufficient even when the average particle size of the antimony oxide-coated silica-based fine particles is small.

被覆層の平均厚さは、被覆前後の粒子の平均粒子サイズを電子顕微鏡観察により求め、両者の差を算出し、それを被覆層の平均厚さとした。平均粒子サイズは100個の粒子の平均値を採用した。   For the average thickness of the coating layer, the average particle size of the particles before and after coating was determined by observation with an electron microscope, the difference between the two was calculated, and this was taken as the average thickness of the coating layer. As the average particle size, an average value of 100 particles was adopted.

酸化アンチモンは、Sb、Sb、SbO等いずれでもよく、酸化アンチモン被覆層中には酸化スズなどを含有していてもよい。酸化アンチモン被覆層中のこれらの酸化アンチモンの合計の含有率は10%以上が好ましい。
また、酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子は、さらにシリカ等で被覆されていてもよい。
The antimony oxide may be any of Sb 2 O 3 , Sb 2 O 5 , SbO 2, etc., and the antimony oxide coating layer may contain tin oxide or the like. The total content of these antimony oxides in the antimony oxide coating layer is preferably 10% or more.
The antimony oxide-coated silica-based fine particles may be further coated with silica or the like.

本発明に係る酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子は、平均粒子径が5〜300nmが好ましく、10〜200nmの範囲にあることがより好ましい。この範囲にすることで、導電性と屈折率を両立することができ、塗膜の白味を抑えることができる。   The average particle diameter of the antimony oxide-coated silica-based fine particles according to the present invention is preferably 5 to 300 nm, and more preferably 10 to 200 nm. By setting it as this range, electroconductivity and a refractive index can be made compatible and the whiteness of a coating film can be suppressed.

酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の屈折率は1.35〜1.60が好ましく、1.35〜1.50の範囲にあることがより好ましい。   The refractive index of the antimony oxide-coated silica-based fine particles is preferably 1.35 to 1.60, and more preferably 1.35 to 1.50.

酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の体積抵抗値は10〜5000Ω/cmが好ましく、10〜2000Ω/cmの範囲にあることがより好ましい。本発明の酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子は、必要に応じて常法によりシランカップリング剤により表面処理して用いることができる。
体積抵抗値を上記範囲にすることで、粒子の屈折率を低く保ちつつ、低屈折率塗膜の表面抵抗を低下せしめることが可能となる。体積抵抗値は、核粒子の粒子サイズ、表面被覆金属酸化物層の膜厚、組成を調節することにより制御することが可能である。
また体積抵抗値の測定は以下の方法で測定した。
The volume resistance value of the antimony oxide-coated silica-based fine particles is preferably 10 to 5000 Ω / cm, and more preferably 10 to 2000 Ω / cm. The antimony oxide-coated silica-based fine particles of the present invention can be used after surface treatment with a silane coupling agent according to a conventional method, if necessary.
By setting the volume resistance value in the above range, the surface resistance of the low refractive index coating film can be lowered while keeping the refractive index of the particles low. The volume resistance value can be controlled by adjusting the particle size of the core particles, the film thickness of the surface-coated metal oxide layer, and the composition.
The volume resistance value was measured by the following method.

[体積抵抗値の測定]
内部に円柱状のくりぬき(断面積:0.5cm2)を有するセラミック製セルを用い、まず、架台電極上にセルを置き、内部に試料粉体0.6gを充填し、円柱状突起を有する上部電極の突起を挿入し、油圧機にて上下電極を加圧し、100kg/cm2加圧時の抵抗値(Ω)と試料の高さ(cm)を測定し、抵抗値に高さを乗することによって求めた。
[Measurement of volume resistivity]
A ceramic cell having a cylindrical hollow (cross-sectional area: 0.5 cm 2 ) inside is used. First, the cell is placed on a gantry electrode, and 0.6 g of sample powder is filled inside, and a cylindrical protrusion is provided. Insert the protrusion of the upper electrode, pressurize the upper and lower electrodes with a hydraulic machine, measure the resistance value (Ω) and the height of the sample (cm) when 100 kg / cm 2 is applied, and multiply the resistance value by the height Sought by.

酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の低屈折率層中の塗設量は、1〜100mg/mが好ましく、より好ましくは5〜80mg/m、更に好ましくは10〜60mg/mである。
また、有機溶媒分散物として用いるのが好ましく、下記のその他の微粒子に用いられる有機溶媒を好適に用いることができる。
The coating amount of the low refractive index layer of the antimony oxide-coated silica-based fine particles is preferably 1 to 100 mg / m 2, more preferably 5-80 mg / m 2, more preferably from 10~60mg / m 2.
Moreover, it is preferable to use as an organic solvent dispersion, and the organic solvent used for the following other fine particles can be used suitably.

[酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の製造方法]
本発明に係る酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の製造方法は、多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の分散液にアンチモン酸分散液(水溶液)を添加し、シリカ系微粒子の表面にアンチモン酸を被覆することを特徴としている。
[Production method of antimony oxide-coated silica-based fine particles]
In the method for producing antimony oxide-coated silica-based fine particles according to the present invention, an antimonic acid dispersion (aqueous solution) is added to a dispersion of porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities therein, and the surface of the silica-based fine particles is added. It is characterized by coating with antimonic acid.

前記多孔質シリカ系微粒子には、多孔質のシリカ微粒子、多孔質のシリカを主成分とする複合酸化物微粒子が含まれる。ここで、多孔質微粒子とは微粒子の平均粒子径から計算した微粒子の外部表面積よりも滴定法あるいはBET法等で測定した表面積が大きい微粒子をいい、このような多孔質シリカ系微粒子としては、例えば特開平7ー133105号公報に記載されているように、多孔性の無機酸化物微粒子の表面をシリカ等で被覆した低屈折率のナノメーターサイズの複合酸化物微粒子を用いることができる。   The porous silica-based fine particles include porous silica fine particles and composite oxide fine particles mainly composed of porous silica. Here, the porous fine particles refer to fine particles having a surface area measured by a titration method or a BET method, etc., larger than the external surface area of the fine particles calculated from the average particle diameter of the fine particles. Examples of such porous silica-based fine particles include: As described in JP-A-7-133105, nanometer-sized composite oxide fine particles having a low refractive index in which the surface of porous inorganic oxide fine particles is coated with silica or the like can be used.

また、内部に空洞を有するシリカ系微粒子としては、例えば特開2001−233611号公報に記載されているように、シリカとシリカ以外の無機酸化物からなり、内部に空洞を有する低屈折率のナノメーターサイズのシリカ系微粒子を用いることができる。なお、空洞については、微粒子断面の透過型電子顕微鏡写真(TEM)を観察することによって確認することができる。   Further, as silica-based fine particles having a cavity inside, for example, as described in JP-A-2001-233611, a low refractive index nano-particle made of silica and an inorganic oxide other than silica and having a cavity inside. Meter-sized silica-based fine particles can be used. In addition, about a cavity, it can confirm by observing the transmission electron micrograph (TEM) of fine particle cross section.

まず、多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の分散液を調製する。分散液の濃度は固形分として0.1〜40質量%、さらには0.5〜20質量%の範囲にあることが好ましい。固形分濃度が0.1質量%未満の場合は、生産効率が低く、他方、固形分濃度が40質量%を越えると得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子が凝集することがあり、被膜付基材に使用する際に、被膜中の分散性が低下し、被膜の透明性が低下したり、ヘイズが悪化することがある。   First, a dispersion of porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities inside is prepared. The concentration of the dispersion is preferably 0.1 to 40% by mass, more preferably 0.5 to 20% by mass as the solid content. When the solid content concentration is less than 0.1% by mass, the production efficiency is low. On the other hand, when the solid content concentration exceeds 40% by mass, the obtained antimony oxide-coated silica-based fine particles may agglomerate. In use, the dispersibility in the film may be lowered, the transparency of the film may be lowered, and the haze may be deteriorated.

別途、アンチモン酸の分散液(水溶液)を調製する。アンチモン酸の調製方法としては、多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の細孔や空洞を埋めることなく、微粒子表面に酸化アンチモンの被覆層を形成することができれば特に制限はないが、以下に例示する方法は均一で薄い酸化アンチモンの被覆層を形成することができるので好ましい。
具体的には、アンチモン酸アルカリ水溶液を陽イオン交換樹脂で処理してアンチモン酸(ゲル)分散液を調製し、ついで、陰イオン交換樹脂で処理する。アンチモン酸アルカリ水溶液としては、例えば特開平2−180717号公報に記載されている、酸化アンチモンゾルの製造方法に用いるアンチモン酸アルカリ水溶液は好適である。
Separately, a dispersion (aqueous solution) of antimonic acid is prepared. The antimonic acid preparation method is not particularly limited as long as a coating layer of antimony oxide can be formed on the surface of the fine particles without filling the pores or cavities of the porous fine particles of silica or fine particles having voids inside. However, the method exemplified below is preferable because a uniform and thin coating layer of antimony oxide can be formed.
Specifically, an alkali antimonate aqueous solution is treated with a cation exchange resin to prepare an antimonic acid (gel) dispersion, and then treated with an anion exchange resin. As the alkali antimonate aqueous solution, for example, an alkali antimonate aqueous solution used in a method for producing an antimony oxide sol described in JP-A-2-180717 is suitable.

アンチモン酸アルカリ水溶液は、三酸化アンチモン(Sb)、アルカリ物質および過酸化水素を反応させて得たものであることが好ましく、酸化アンチモンとアルカリ物質と過酸化水素のモル比を1:2.0〜2.5:0.8〜1.5好ましくは、1:2.1〜2.3:0.9〜1.2とし、三酸化アンチモンとアルカリ物質を含む系に、過酸化水素を三酸化アンチモン1mole当り、0.2mole/hr以下の速度で添加して得られる。 The alkali antimonate aqueous solution is preferably obtained by reacting antimony trioxide (Sb 2 O 3 ), an alkali substance and hydrogen peroxide, and the molar ratio of antimony oxide, alkali substance and hydrogen peroxide is 1: 2.0 to 2.5: 0.8 to 1.5, preferably 1: 2.1 to 2.3: 0.9 to 1.2, and the system containing antimony trioxide and an alkaline substance is peroxidized. It is obtained by adding hydrogen at a rate of 0.2 mole / hr or less per mole of antimony trioxide.

このとき使用される三酸化アンチモンは粉末、特に平均粒子径が10μm以下の微粉末のものが好ましく、またアルカリ物質としては、LiOH、KOH、NaOH、Mg(OH)、Ca(OH)等を挙げることができ、中でもKOH,NaOHなどのアルカリ金属水酸化物が好ましい。これらのアルカリ物質は、得られるアンチモン酸溶液を安定化させる効果を有する。 The antimony trioxide used at this time is preferably a powder, particularly a fine powder having an average particle size of 10 μm or less, and examples of the alkaline substance include LiOH, KOH, NaOH, Mg (OH) 2 , and Ca (OH) 2. Among them, alkali metal hydroxides such as KOH and NaOH are preferable. These alkaline substances have the effect of stabilizing the resulting antimonic acid solution.

まず、水に所定量のアルカリ物質と三酸化アンチモンを加えて三酸化アンチモン懸濁液を調製する。この三酸化アンチモン懸濁液の三酸化アンチモン濃度はSbとして3〜15質量%の範囲とすることが望ましい。ついで、この懸濁液を50℃以上、好ましくは80℃以上に加温し、これに濃度が5〜35質量%の過酸化水素水を三酸化アンチモン1mole当り過酸化水素0.2mole/hr以下の速度で添加する。過酸化水素の添加速度が0.2mole/hrより速い場合は、得られる酸化アンチモン微粒子の粒子径が大きくなり、粒子径分布が広くなるので好ましくない。 First, a predetermined amount of an alkaline substance and antimony trioxide are added to water to prepare an antimony trioxide suspension. The antimony trioxide concentration of the antimony trioxide suspension is preferably in the range of 3 to 15% by mass as Sb 2 O 3 . Next, this suspension was heated to 50 ° C. or higher, preferably 80 ° C. or higher, and hydrogen peroxide solution having a concentration of 5 to 35% by mass was added with hydrogen peroxide of 0.2 mole / hr or less per mole of antimony trioxide. Add at a rate of When the addition rate of hydrogen peroxide is faster than 0.2 mole / hr, the resulting antimony oxide fine particles have a large particle size and a wide particle size distribution, which is not preferable.

また、過酸化水素の添加速度が非常に遅い場合は生産量が上らないので過酸化水素の添加速度は0.04mole/hr〜0.2mole/hrの範囲、特に0.1mole/hr〜0.15mole/hrの範囲が好ましい。また、三酸化アンチモンに対する過酸化水素のモル比が小さくなるに従って得られる酸化アンチモン微粒子の粒子径は小さくなる傾向を示すが、0.8より小さい場合は未溶解の三酸化アンチモンが多くなるので望ましくない。また、モル比が1.5よりも大きい場合は、得られる酸化アンチモン微粒子の粒子径が大きくなるので好ましくない。   Further, when the addition rate of hydrogen peroxide is very slow, the production amount does not increase, so the addition rate of hydrogen peroxide is in the range of 0.04 mole / hr to 0.2 mole / hr, particularly 0.1 mole / hr to 0. A range of .15 mole / hr is preferred. Further, the particle size of the obtained antimony oxide fine particles tends to decrease as the molar ratio of hydrogen peroxide to antimony trioxide decreases, but it is desirable that the amount of undissolved antimony trioxide increases when it is less than 0.8. Absent. On the other hand, when the molar ratio is larger than 1.5, the resulting antimony oxide fine particles have a large particle size, which is not preferable.

上記反応で得られたアンチモン酸アルカリ(MHSbO:Mがアルカリ金属の場合)水溶液を、必要に応じて未溶解の残渣を分離した後、さらに必要に応じて希釈し、陽イオン交換樹脂で処理し、アルカリイオンを除去することによってアンチモン酸ゲル((HSbO−))分散液を調製する。
また、アンチモン酸アルカリ水溶液には、スズ酸アルカリ水溶液、リン酸ナトリウム水溶液等のドーピング剤を含む水溶液が含まれていてもよい。このようなドーピング剤が含まれているとさらに導電性の高い酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子が得られる。
The alkali antimonate aqueous solution (when MHSbO 3 : M is an alkali metal) obtained by the above reaction is separated from the undissolved residue as necessary, and further diluted as necessary, and treated with a cation exchange resin. Then, an antimonic acid gel ((HSbO 3 −) n ) dispersion is prepared by removing alkali ions.
The alkali antimonate aqueous solution may contain an aqueous solution containing a doping agent such as an alkali stannate aqueous solution or a sodium phosphate aqueous solution. When such a doping agent is contained, antimony oxide-coated silica-based fine particles having higher conductivity can be obtained.

ここで、アンチモン酸は、(HSbO−)(n=2以上の重合体)で表すことができ、粒子径が1〜5nm程度のアンチモン酸(HSbO−)の重合物からなり、微粒子が凝集し、ゲル状態を呈している。
陽イオン交換樹脂で処理する際のアンチモン酸アルカリ水溶液の濃度は、固形分(Sb)として0.01〜5質量%、さらには0.1〜3質量%の範囲にあることが好ましい。固形分として0.01質量%未満の場合は、生産効率が低く、他方、5質量%を越えると、アンチモン酸の大きな凝集体が生成することがあり、アンチモン酸によるシリカ系微粒子の被覆ができにくく、できたとしても不均一となることがある。
Here, the antimonic acid can be represented by (HSbO 3 −) n (n = 2 or more polymer), and is composed of a polymer of antimonic acid (HSbO 3 −) having a particle diameter of about 1 to 5 nm. Are aggregated to form a gel state.
The concentration of the aqueous alkali antimonate solution when treating with the cation exchange resin is preferably in the range of 0.01 to 5% by mass, more preferably 0.1 to 3% by mass as the solid content (Sb 2 O 5 ). . When the solid content is less than 0.01% by mass, the production efficiency is low. On the other hand, when the solid content exceeds 5% by mass, large aggregates of antimonic acid may be formed, and silica-based fine particles can be coated with antimonic acid. Difficult, and even if it can, it may be non-uniform.

陽イオン交換樹脂の使用量は得られるアンチモン酸分散液のpHが1〜4、さらには1.5〜3.5の範囲とすることが好ましい。pH1未満の場合は、鎖状粒子にならず凝集粒子が生成する傾向にあり、他方、pH4を越えると単分散粒子が生成する傾向にある。
また、アンチモン酸分散液のpHが1未満の場合は、酸化アンチモンの溶解度が高いために所定量の酸化アンチモンの被覆が困難となり、アンチモン酸分散液のpHが4を越えると得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子が凝集体となることがあり、被膜中での分散性が低下したり、被膜付基材の帯電防止効果が不充分となることがある。
The amount of the cation exchange resin used is preferably such that the pH of the obtained antimonic acid dispersion is in the range of 1 to 4, more preferably 1.5 to 3.5. When the pH is less than 1, aggregated particles tend to be formed instead of chain particles. On the other hand, when the pH exceeds 4, monodispersed particles tend to be generated.
Further, when the pH of the antimonic acid dispersion is less than 1, it is difficult to coat a predetermined amount of antimony oxide due to the high solubility of antimony oxide, and the antimony oxide coating obtained when the pH of the antimonic acid dispersion exceeds 4 Silica-based fine particles may form aggregates, which may reduce the dispersibility in the coating or may have an insufficient antistatic effect on the coated substrate.

ついで、アンチモン酸分散液と多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の分散液とを混合し、50〜250℃、好ましくは70〜120℃で、通常1〜24時間熟成を行うことによって酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子分散液を得ることができる。
アンチモン酸分散液と前記シリカ系微粒子分散液との混合割合は、シリカ系微粒子を固形分として100質量部に、アンチモン酸をSbとして1〜200質量部、好ましくは5〜100質量部となるように添加する。アンチモン酸の混合割合が1質量部未満の場合は、被覆が不均一であったり、被覆層の厚さが不充分となり、酸化アンチモンで被覆する効果、即ち、導電性を付与、向上する効果が充分得られないことがある。アンチモン酸の混合割合が200質量部を越えても、被覆に寄与しない酸化アンチモンが増加したり、得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の導電性がさらに向上することもなく、屈折率が1.60を越えて高くなることがある。
Subsequently, the antimonic acid dispersion and the porous silica-based fine particles or the dispersion of silica-based fine particles having cavities inside are mixed and aged at 50 to 250 ° C., preferably 70 to 120 ° C., usually for 1 to 24 hours. Thus, an antimony oxide-coated silica-based fine particle dispersion can be obtained.
The mixing ratio of the antimonic acid dispersion and the silica-based fine particle dispersion is 1 to 200 parts by mass, preferably 5 to 100 parts by mass, with silica-based fine particles as solids and 100 parts by mass, and antimonic acid as Sb 2 O 5. Add to be. When the mixing ratio of antimonic acid is less than 1 part by mass, the coating is uneven or the thickness of the coating layer becomes insufficient, and the effect of coating with antimony oxide, that is, the effect of imparting and improving conductivity is obtained. It may not be obtained sufficiently. Even when the mixing ratio of antimonic acid exceeds 200 parts by mass, the antimony oxide that does not contribute to the coating does not increase, and the conductivity of the obtained antimony oxide-coated silica-based fine particles is not further improved, and the refractive index is 1.60. It may be higher than

混合した分散液の濃度は固形分として1〜40質量%、さらには2〜30質量%の範囲にあることが好ましい。混合分散液の濃度が1質量%未満の場合は、酸化アンチモンの被覆効率が不充分であったり、生産効率が低下する。他方、40質量%を越えると、アンチモン酸の使用量が多い場合に、得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子が凝集することがある。
熟成温度が50℃未満の場合は、酸化アンチモン被覆層が緻密にならないためか、導電性の向上効果が充分得られないことがある。熟成温度が200℃を越えると、多孔質シリカ系微粒子を用いた場合に多孔性が減少し、得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の屈折率が充分低下しないことがある。
It is preferable that the density | concentration of the mixed dispersion exists in the range of 1-40 mass% as solid content, and also 2-30 mass%. When the concentration of the mixed dispersion is less than 1% by mass, the coating efficiency of antimony oxide is insufficient or the production efficiency is lowered. On the other hand, when the amount exceeds 40% by mass, the obtained antimony oxide-coated silica-based fine particles may aggregate when the amount of antimonic acid used is large.
When the aging temperature is less than 50 ° C., the antimony oxide coating layer may not be dense, or the conductivity improving effect may not be sufficiently obtained. When the aging temperature exceeds 200 ° C., the porosity may decrease when porous silica-based fine particles are used, and the refractive index of the resulting antimony oxide-coated silica-based fine particles may not be sufficiently lowered.

なお、アンチモン酸分散液とシリカ系微粒子分散液との混合については、上記のように一時に添加することもできるが、多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子の分散液にアンチモン酸ゲル分散液を時間をかけて、連続的にあるいは断続的に添加して混合することもできる。
このようにして得られた酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子分散液は、pHが概ね1〜4の範囲にある。
As for the mixing of the antimonic acid dispersion and the silica-based fine particle dispersion, the antimonic acid dispersion and the silica-based fine particle dispersion can be added at one time as described above, but the antimony is added to the dispersion of porous silica-based fine particles or silica-based fine particles having cavities inside. The acid gel dispersion may be added and mixed continuously or intermittently over time.
The antimony oxide-coated silica-based fine particle dispersion thus obtained has a pH in the range of about 1 to 4.

また、このときの酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子は、屈折率が1.35〜1.60の範囲にあり、体積抵抗値が10〜5000Ω/cmの範囲にあることが好ましく、平均粒子径が5〜300nmの範囲にあり、酸化アンチモン被覆層の厚さが0.5〜30nmの範囲にあることが好ましい。   In addition, the antimony oxide-coated silica-based fine particles at this time preferably have a refractive index in the range of 1.35 to 1.60, a volume resistance value in the range of 10 to 5000 Ω / cm, and an average particle diameter of 5 The thickness of the antimony oxide coating layer is preferably in the range of 0.5 to 30 nm.

本発明に用いる内部に空洞を有するシリカ系微粒子分散液は下記の工程(a)、(b)によって得られることが好ましい。
(a)珪酸塩の水溶液および/または酸性珪酸液と、アルカリ可溶の無機化合物水溶液とをアルカリ水溶液中に、または、必要に応じて種粒子が分散したアルカリ水溶液中に同時に添加して、シリカをSiOで表し、シリカ以外の無機酸化物をMOで表したときのモル比MO/SiOが0.3〜1.0の範囲にある複合酸化物微粒子分散液を調製する際に、複合酸化物微粒子の平均粒子径が概ね5〜50nmになった時点で電解質塩を電解質塩のモル数(M)とSiOのモル数(M)との比(M)/(M)が0.1〜10の範囲で添加して複合酸化物微粒子分散液を調製する工程、
(b)前記複合酸化物微粒子分散液に、必要に応じてさらに電解質塩を加え、ついで酸を加えて前記複合酸化物微粒子を構成する珪素以外の元素の少なくとも一部を除去してシリカ系微粒子の分散液を調製する工程。
The silica-based fine particle dispersion having cavities therein used in the present invention is preferably obtained by the following steps (a) and (b).
(A) An aqueous solution of silicate and / or an acidic silicic acid solution and an aqueous solution of an alkali-soluble inorganic compound are simultaneously added to an alkaline aqueous solution or an alkaline aqueous solution in which seed particles are dispersed, if necessary. When preparing a composite oxide fine particle dispersion in which the molar ratio MO X / SiO 2 is in the range of 0.3 to 1.0 when SiO 2 is represented by SiO 2 and inorganic oxides other than silica are represented by MO X When the average particle size of the composite oxide fine particles becomes approximately 5 to 50 nm, the electrolyte salt is converted into the ratio of the number of moles of electrolyte salt (M E ) to the number of moles of SiO 2 (M S ) / (M E ) / ( M S ) is added in the range of 0.1 to 10 to prepare a composite oxide fine particle dispersion,
(B) If necessary, an electrolyte salt is further added to the composite oxide fine particle dispersion, and then an acid is added to remove at least a part of the elements other than silicon constituting the composite oxide fine particles to obtain silica-based fine particles. A step of preparing a dispersion liquid.

工程(a)
珪酸塩としては、アルカリ金属珪酸塩、アンモニウム珪酸塩および有機塩基の珪酸塩から選ばれる1種または2種以上の珪酸塩が好ましく用いられる。アルカリ金属珪酸塩としては、珪酸ナトリウム(水ガラス)や珪酸カリウムが、有機塩基としては、テトラエチルアンモニウム塩などの第4級アンモニウム塩、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミンなどのアミン類を挙げることができ、アンモニウムの珪酸塩または有機塩基の珪酸塩には、珪酸液にアンモニア、第4級アンモニウム水酸化物、アミン化合物などを添加したアルカリ性溶液も含まれる。
Step (a)
As the silicate, one or more silicates selected from alkali metal silicates, ammonium silicates and organic base silicates are preferably used. Examples of the alkali metal silicate include sodium silicate (water glass) and potassium silicate, and examples of the organic base include quaternary ammonium salts such as tetraethylammonium salt, amines such as monoethanolamine, diethanolamine, and triethanolamine. The ammonium silicate or organic base silicate includes an alkaline solution in which ammonia, quaternary ammonium hydroxide, an amine compound, or the like is added to the silicic acid solution.

酸性珪酸液としては、珪酸アルカリ水溶液を陽イオン交換樹脂で処理すること等によって、アルカリを除去して得られる珪酸液を用いることができ、特に、pH2〜pH4、SiO濃度が約7質量%以下の酸性珪酸液が好ましい。
無機酸化物としては、Al、B、TiO、ZrO、SnO、Ce3、、Sb、MoO、ZnO、WO等の1種または2種以上を挙げることができる。2種以上の無機酸化物として、TiO−Al、TiO−ZrO等を例示することができる。
As the acidic silicic acid solution, a silicic acid solution obtained by removing alkali by treating an alkali silicate aqueous solution with a cation exchange resin can be used. In particular, pH 2 to pH 4 and SiO 2 concentration is about 7% by mass. The following acidic silicic acid solutions are preferred.
Examples of the inorganic oxide include Al 2 O 3 , B 2 O 3 , TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2 , Ce 2 O 3, P 2 O 5 , Sb 2 O 3 , MoO 3 , ZnO 2 and WO 3 . 1 type or 2 or more types can be mentioned. Examples of the two or more inorganic oxides include TiO 2 —Al 2 O 3 and TiO 2 —ZrO 2 .

このような無機酸化物の原料として、アルカリ可溶の無機化合物を用いることが好ましく、前記した無機酸化物を構成する金属または非金属のオキソ酸のアルカリ金属塩またはアルカリ土類金属塩、アンモニウム塩、第4級アンモニウム塩を挙げることができ、より具体的には、アルミン酸ナトリウム、四硼酸ナトリウム、炭酸ジルコニルアンモニウム、アンチモン酸カリウム、錫酸カリウム、アルミノ珪酸ナトリウム、モリブデン酸ナトリウム、硝酸セリウムアンモニウム、燐酸ナトリウム等が適当である。
複合酸化物微粒子分散液を調製するためには、予め、前記無機化合物のアルカリ水溶液を個別に調製するか、または、混合水溶液を調製しておき、この水溶液を目的とするシリカとシリカ以外の無機酸化物の複合割合に応じて、アルカリ水溶液中に、好ましくはpH10以上のアルカリ水溶液中に攪拌しながら徐々に添加する。
As a raw material for such an inorganic oxide, an alkali-soluble inorganic compound is preferably used, and an alkali metal salt, an alkaline earth metal salt, or an ammonium salt of a metal or a non-metal oxo acid constituting the inorganic oxide described above. Quaternary ammonium salts, and more specifically, sodium aluminate, sodium tetraborate, zirconyl ammonium carbonate, potassium antimonate, potassium stannate, sodium aluminosilicate, sodium molybdate, cerium ammonium nitrate, Sodium phosphate or the like is suitable.
In order to prepare the composite oxide fine particle dispersion, either an alkali aqueous solution of the inorganic compound is separately prepared in advance, or a mixed aqueous solution is prepared, and the target silica and inorganic other than silica are prepared. Depending on the composite ratio of the oxide, it is gradually added with stirring to an aqueous alkali solution, preferably an aqueous alkali solution having a pH of 10 or higher.

アルカリ水溶液中に添加するシリカ原料と無機化合物の添加割合は、シリカ成分をSiOで表し、シリカ以外の無機化合物をMOで表したときのモル比MO/SiOが0.3〜1.0、特に、0.35〜0.85の範囲となるようにすることが好ましい。MO/SiOが0.3未満では、最終的に得られるシリカ系微粒子の空洞容積が十分大きくならず、他方、MO/SiOが1.0を越えると、球状の複合酸化物微粒子を得ることが困難となり、この結果、得られる中空微粒子中の空洞容積の割合が低下する。 The addition ratio of the silica raw material and the inorganic compound added to the alkaline aqueous solution is such that the molar ratio MO X / SiO 2 is 0.3 to 1 when the silica component is represented by SiO 2 and the inorganic compound other than silica is represented by MO X. 0.0, particularly preferably in the range of 0.35 to 0.85. When MO X / SiO 2 is less than 0.3, the finally obtained silica-based fine particles do not have a sufficiently large cavity volume. On the other hand, when MO X / SiO 2 exceeds 1.0, spherical composite oxide fine particles As a result, the ratio of the cavity volume in the obtained hollow microparticles decreases.

モル比MO/SiOが0.3〜1.0の範囲にあれば、複合酸化物微粒子の構造は主として、珪素と珪素以外の元素が酸素を介在して交互に結合した構造となる。即ち、珪素原子の4つの結合手に酸素原子が結合し、この酸素原子にはシリカ以外の元素Mが結合した構造が多く生成し、後述の工程(b)でシリカ以外の元素Mを除去する際、元素Mに随伴させて珪素原子も珪酸モノマーやオリゴマーとして除去することができるようになる。 If the molar ratio MO X / SiO 2 is in the range of 0.3 to 1.0, the structure of the composite oxide fine particle is mainly a structure in which silicon and elements other than silicon are alternately bonded through oxygen. That is, oxygen atoms are bonded to the four bonds of silicon atoms, and many structures in which elements M other than silica are bonded to the oxygen atoms are generated, and the elements M other than silica are removed in the step (b) described later. At this time, the silicon atom can be removed as a silicic acid monomer or oligomer in association with the element M.

本発明の製造方法では、複合酸化物微粒子分散液を調製する際に種粒子の分散液を出発原料とすることも可能である。この場合には、種粒子として、SiO、Al、TiO、ZrO、SnOおよびCeO等の無機酸化物またはこれらの複合酸化物、例えば、SiO−Al、TiO−Al、TiO−ZrO、SiO−TiO、SiO−TiO−Al等の微粒子が用いられ、通常、これらのゾルを用いることができる。このような種粒子の分散液は、従来公知の方法によって調製することができる。例えば、上記無機酸化物に対応する金属塩、金属塩の混合物あるいは金属アルコキシド等に酸またはアルカリを添加して加水分解し、必要に応じて熟成することによって得ることができる。 In the production method of the present invention, it is also possible to use a seed particle dispersion as a starting material when preparing a composite oxide fine particle dispersion. In this case, inorganic particles such as SiO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2 , ZrO 2 , SnO 2, and CeO 2 or complex oxides thereof such as SiO 2 —Al 2 O 3 , Fine particles such as TiO 2 —Al 2 O 3 , TiO 2 —ZrO 2 , SiO 2 —TiO 2 , SiO 2 —TiO 2 —Al 2 O 3 are used, and usually these sols can be used. Such a dispersion of seed particles can be prepared by a conventionally known method. For example, it can be obtained by adding an acid or alkali to a metal salt, a mixture of metal salts, a metal alkoxide, or the like corresponding to the inorganic oxide, hydrolyzing, and aging as necessary.

この種粒子分散アルカリ水溶液中に、好ましくはpH10以上に調整した種粒子分散アルカリ水溶液中に前記化合物の水溶液を、上記したアルカリ水溶液中に添加する方法と同様にして、攪拌しながら添加する。このように、種粒子を種として複合酸化物微粒子を成長させると、成長粒子の粒径コントロールが容易であり、粒度の揃ったものを得ることができる。種粒子分散液中に添加するシリカ原料および無機酸化物の添加割合は、前記したアルカリ水溶液に添加する場合と同じ範囲とする。   In the seed particle-dispersed alkaline aqueous solution, the aqueous solution of the compound is preferably added to the seed particle-dispersed alkaline aqueous solution adjusted to a pH of 10 or more with stirring in the same manner as in the method of adding the above-mentioned alkaline aqueous solution. As described above, when the composite oxide fine particles are grown using the seed particles as seeds, it is easy to control the particle size of the grown particles, and particles having uniform particle sizes can be obtained. The addition ratio of the silica raw material and the inorganic oxide to be added to the seed particle dispersion is set to the same range as the case of adding to the aqueous alkali solution.

上記したシリカ原料および無機酸化物原料はアルカリ側で高い溶解度をもっている。しかしながら、この溶解度の高いpH領域で両者を混合すると、珪酸イオンおよびアルミン酸イオンなどのオキソ酸イオンの溶解度が低下し、これらの複合物が析出してコロイド粒子に成長したり、あるいは、種粒子上に析出して粒子成長が起こる。   The silica raw material and inorganic oxide raw material described above have high solubility on the alkali side. However, when both are mixed in this highly soluble pH region, the solubility of oxo acid ions such as silicate ions and aluminate ions decreases, and these composites precipitate and grow into colloidal particles, or seed particles. Particle deposition occurs on the top.

上記複合酸化物微粒子分散液の調製に際し、シリカ原料として下記化学式(1)に示す有機珪素化合物および/またはその加水分解物をアルカリ水溶液中に添加しても良い。
SiX(4−n) (1)
〔但し、R:炭素数1〜10の非置換または置換炭化水素基、X:炭素数1〜4のアルコキシ基、シラノール基、ハロゲンまたは水素、n:0〜3の整数〕
In preparation of the composite oxide fine particle dispersion, an organosilicon compound represented by the following chemical formula (1) and / or a hydrolyzate thereof may be added as a silica raw material to an alkaline aqueous solution.
R n SiX (4-n) (1)
[However, R: unsubstituted or substituted hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, X: alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, silanol group, halogen or hydrogen, n: integer of 0 to 3]

該有機珪素化合物としては、具体的に、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトライソプロポキシシラン、メチルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、イソブチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリス(βメトキシエトキシ)シラン、3,3,3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、メチル−3,3,3−トリフルオロプロピルジメトキシシラン、β−(3,4エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシトリプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、トリメチルシラノール、メチルトリクロロシラン、メチルジクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、トリメチルクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、ジフェニルジクロロシラン、ビニルトリクロルシラン、トリメチルブロモシラン、ジエチルシラン等が挙げられる。   Specific examples of the organosilicon compound include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane, methyltrimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, methyltriethoxysilane, and dimethyldiethoxy. Silane, phenyltriethoxysilane, diphenyldiethoxysilane, isobutyltrimethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltris (βmethoxyethoxy) silane, 3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane, methyl- 3,3,3-trifluoropropyldimethoxysilane, β- (3,4 epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxytripropyltrimethoxysilane, -Glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane, γ-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropylmethyldiethoxysilane, γ- Methacryloxypropyltriethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltriethoxy Silane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, trimethylsilanol, methyltrichlorosilane Examples include orchid, methyldichlorosilane, dimethyldichlorosilane, trimethylchlorosilane, phenyltrichlorosilane, diphenyldichlorosilane, vinyltrichlorosilane, trimethylbromosilane, and diethylsilane.

上記有機珪素化合物でnが1〜3の化合物は親水性に乏しいので、予め加水分解しておくことにより、反応系に均一に混合できるようにすることが好ましい。加水分解には、これら有機珪素化合物の加水分解法として周知の方法を採用することができる。加水分解触媒として、アルカリ金属の水酸化物や、アンモニア水、アミン等の塩基性のものを用いた場合、加水分解後これらの塩基性触媒を除去して、酸性溶液にして用いることもできる。また、有機酸や無機酸などの酸性触媒を用いて加水分解物を調製した場合、加水分解後、イオン交換等によって酸性触媒を除去することが好ましい。なお、得られた有機珪素化合物の加水分解物は、水溶液の形態で使用することが望ましい。ここで水溶液とは加水分解物がゲルとして白濁した状態になく透明性を有している状態を意味する。   Since the above-mentioned organosilicon compound having n of 1 to 3 is poor in hydrophilicity, it is preferable that the compound be uniformly mixed in the reaction system by hydrolysis in advance. For the hydrolysis, a well-known method can be adopted as a hydrolysis method of these organosilicon compounds. When a basic catalyst such as an alkali metal hydroxide, aqueous ammonia, or an amine is used as the hydrolysis catalyst, these basic catalysts can be removed after hydrolysis and used as an acidic solution. Moreover, when preparing a hydrolyzate using acidic catalysts, such as an organic acid and an inorganic acid, it is preferable to remove an acidic catalyst by ion exchange etc. after a hydrolysis. The obtained hydrolyzate of the organosilicon compound is desirably used in the form of an aqueous solution. Here, the aqueous solution means a state in which the hydrolyzate has transparency without being clouded as a gel.

本発明では、本工程(a)において、複合酸化物微粒子の平均粒子径が概ね5〜50nmになった時点(このときの複合酸化物微粒子を一次粒子ということがある)で電解質塩を電解質塩のモル数(M)とSiOのモル数(M)との比(M)/(M)が0.1〜10、好ましくは0.2〜8の範囲で添加する。
電解質塩としては、塩化ナトリウム、塩化カリウム、硝酸ナトリウム、硝酸カリウム、硫酸ナトリウム、硫酸カリウム、硝酸アンモニウム、硫酸アンモニウム、塩化マグネシウム、硝酸マグネシウムなどの水溶性の電解質塩が挙げられる。
なお、電解質塩はこの時点で全量を添加してもよく、アルカリ金属珪酸塩やシリカ以外の無機化合物を添加して複合酸化物微粒子の粒子成長を行いながら連続的にあるいは断続的に添加してもよい。
In the present invention, in this step (a), when the average particle diameter of the composite oxide fine particles becomes approximately 5 to 50 nm (the composite oxide fine particles at this time may be referred to as primary particles), the electrolyte salt is converted into the electrolyte salt. moles (M E) and SiO 2 of moles (M S) and the ratio of (M E) / (M S ) is 0.1 to 10, preferably added in the range of 0.2 to 8 of.
Examples of the electrolyte salt include water-soluble electrolyte salts such as sodium chloride, potassium chloride, sodium nitrate, potassium nitrate, sodium sulfate, potassium sulfate, ammonium nitrate, ammonium sulfate, magnesium chloride, and magnesium nitrate.
The electrolyte salt may be added in its entirety at this point, or continuously or intermittently while adding inorganic compounds other than alkali metal silicate and silica and growing the composite oxide fine particles. Also good.

電解質塩の添加量は、複合酸化物微粒子分散液の濃度にもよるが、前記モル比(M)/(M)が0.1未満の場合は、電解質塩を加えた効果が不充分となり、工程(b)で酸を加えて複合酸化物微粒子を構成する珪素以外の元素の少なくとも一部を除去する際に複合酸化物微粒子が球状を維持できず破壊され、内部に空洞を有するシリカ系微粒子を得ることが困難となることがある。このような電解質塩を加える効果についてその理由は明らかではないが、粒子成長した複合酸化物微粒子の表面にシリカが多くなり、酸に不溶性のシリカが複合酸化物微粒子の保護膜的な作用をしているものと考えられる。
前記モル比(M)/(M)が10を越えても、前記電解質を添加する効果が向上することもなく、新たな微粒子が生成したり、経済性が低下する。
The amount of electrolyte salt added depends on the concentration of the composite oxide fine particle dispersion, but when the molar ratio (M E ) / (M S ) is less than 0.1, the effect of adding the electrolyte salt is insufficient. In the step (b), when adding at least a part of elements other than silicon constituting the composite oxide fine particles by adding an acid, the composite oxide fine particles cannot be maintained in a spherical shape and are destroyed, and silica having a cavity inside It may be difficult to obtain fine particles. The reason for the effect of adding such an electrolyte salt is not clear, but the amount of silica on the surface of the grown complex oxide fine particles increases, and the acid-insoluble silica acts as a protective film for the composite oxide fine particles. It is thought that.
Even if the molar ratio (M E ) / (M S ) exceeds 10, the effect of adding the electrolyte is not improved, new fine particles are generated, and the economical efficiency is lowered.

また、電解質塩を添加する際の一次粒子の平均粒子径が5nm未満の場合は、新たな微粒子が生成して一次粒子の選択的な粒子成長が起きず、複合酸化物微粒子の粒子径分布が不均一となることがある。
電解質塩を添加する際の一次粒子の平均粒子径が50nmを越えると、工程(b)での珪素以外の元素の除去に時間を要したり、困難となることがある。
このようにして得られる複合酸化物微粒子は、後に得られるシリカ系微粒子と同程度の、平均粒子径が4〜270nmの範囲にある。
In addition, when the average particle size of the primary particles when the electrolyte salt is added is less than 5 nm, new fine particles are generated and selective particle growth of the primary particles does not occur, and the particle size distribution of the composite oxide fine particles is May be non-uniform.
If the average particle size of the primary particles when adding the electrolyte salt exceeds 50 nm, it may take time or be difficult to remove elements other than silicon in step (b).
The composite oxide fine particles thus obtained have an average particle diameter in the range of 4 to 270 nm, which is the same as that of silica-based fine particles obtained later.

工程(b)
ついで、複合酸化物微粒子から、該複合酸化物微粒子を構成する珪素以外の元素の一部または全部を除去することにより内部に空洞を有する中空球状のシリカ系微粒子を製造することができる。
本工程では、該複合酸化物微粒子分散液に、必要に応じて再び電解質塩を添加する。このときの電解質塩の添加量は、電解質塩のモル数(M)とSiOのモル数(M)との比(M)/(M)が0.1〜10、好ましくは0.2〜8の範囲で添加する。
Step (b)
Subsequently, hollow spherical silica-based fine particles having cavities therein can be produced by removing some or all of the elements other than silicon constituting the composite oxide fine particles from the composite oxide fine particles.
In this step, an electrolyte salt is added again to the composite oxide fine particle dispersion as necessary. The addition amount of the electrolyte salt of this time, the number of moles of the electrolyte salt (M E) and SiO 2 of moles (M S) and the ratio of (M E) / (M S ) is 0.1 to 10, preferably Add in the range of 0.2-8.

次に、複合酸化物微粒子を構成する元素の一部または全部を除去するが、除去する方法としては、例えば鉱酸や有機酸を添加することによって溶解除去したり、あるいは、陽イオン交換樹脂と接触させてイオン交換除去する方法、およびこれらを組み合わせて除去する方法を例示することができる。
このときの複合酸化物微粒子分散液中の複合酸化物微粒子の濃度は処理温度によっても異なるが、酸化物に換算して0.1〜50質量%、特に0.5〜25質量%の範囲にあることが好ましい。濃度が0.1質量%未満では、シリカの溶解量が多くなり、複合酸化物微粒子の形状を維持できないことがあり、できたとしても低濃度のために処理効率が低下する。また、複合酸化物微粒子の濃度が50質量%を越えると、粒子の分散性が不充分となり、珪素以外の元素の含有量が多い複合酸化物微粒子では均一に、あるいは効率的に少ない回数で除去できないことがある。
Next, some or all of the elements constituting the composite oxide fine particles are removed. As a method for removing, for example, a mineral acid or an organic acid is added for dissolution or removal, or a cation exchange resin is used. Examples thereof include a method of removing ions by contact and a method of removing them in combination.
The concentration of the composite oxide fine particles in the composite oxide fine particle dispersion at this time varies depending on the treatment temperature, but is in the range of 0.1 to 50% by mass, particularly 0.5 to 25% by mass in terms of oxide. Preferably there is. If the concentration is less than 0.1% by mass, the amount of silica dissolved increases, and the shape of the composite oxide fine particles may not be maintained. Even if it is possible, the processing efficiency decreases due to the low concentration. If the concentration of the composite oxide fine particles exceeds 50% by mass, the dispersibility of the particles becomes insufficient, and the composite oxide fine particles containing a large amount of elements other than silicon are uniformly or efficiently removed in a small number of times. There are things that cannot be done.

上記元素の除去は、得られるシリカ系微粒子のMO/SiOが、0.0001〜0.2、特に、0.0001〜0.1となるまで行うことが好ましい。
元素を除去した分散液は、限外濾過等の公知の洗浄方法により洗浄することができる。この場合、予め分散液中のアルカリ金属イオン、アルカリ土類金属イオンおよびアンモニウムイオン等の一部を除去した後に限外濾過すれば、分散安定性の高いシリカ系微粒子が分散したゾルが得られる。なお、必要に応じて有機溶媒で置換することによって有機溶媒分散ゾルを得ることができる。
The removal of the element is preferably performed until the MO X / SiO 2 of the obtained silica-based fine particles becomes 0.0001 to 0.2, particularly 0.0001 to 0.1.
The dispersion from which the elements have been removed can be washed by a known washing method such as ultrafiltration. In this case, a sol in which silica-based fine particles with high dispersion stability are dispersed can be obtained by previously removing a part of alkali metal ions, alkaline earth metal ions, ammonium ions and the like in the dispersion liquid and then performing ultrafiltration. An organic solvent-dispersed sol can be obtained by substituting with an organic solvent as necessary.

本発明のシリカ系微粒子の製造方法では、ついで、洗浄した後、乾燥し、必要に応じて焼成することができる。このようにして得られたシリカ系微粒子は、内部に空洞を有し、低屈折率となり、該シリカ系微粒子を用いて形成される被膜は低屈折率となり、反射防止性能に優れた被膜が得られる。   In the method for producing silica-based fine particles of the present invention, it is then washed, dried, and fired as necessary. The silica-based fine particles thus obtained have cavities inside and have a low refractive index, and the coating formed using the silica-based fine particles has a low refractive index, and a coating excellent in antireflection performance is obtained. It is done.

本発明のシリカ系微粒子の製造方法では、前記工程(b)で得られたシリカ系微粒子分散液に、アルカリ水溶液と、化学式(1)で表される有機珪素化合物および/またはその部分加水分解物、またはアルカリ金属珪酸塩を脱アルカリして得られる酸性珪酸液を添加し、該微粒子にシリカ被覆層を形成することができる。
SiX(4−n) (1)
〔但し、R:炭素数1〜10の非置換または置換炭化水素基、X:炭素数1〜4のアルコキシ基、シラノール基、ハロゲンまたは水素、n:0〜3の整数〕
化学式(1)に示す有機珪素化合物としては、前記したと同様の有機珪素化合物と同じものを用いることができる。化学式(1)において、n=0の有機珪素化合物を用いる場合はそのまま用いることができるが、n=1〜3の有機珪素化合物を用いる場合は前記したと同様の有機珪素化合物の部分加水分解物を用いることが好ましい。
In the method for producing silica-based fine particles of the present invention, the silica-based fine particle dispersion obtained in the step (b) is added to an alkaline aqueous solution, an organosilicon compound represented by the chemical formula (1) and / or a partial hydrolyzate thereof. Alternatively, an acidic silicic acid solution obtained by dealkalizing an alkali metal silicate can be added to form a silica coating layer on the fine particles.
R n SiX (4-n) (1)
[However, R: unsubstituted or substituted hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms, X: alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, silanol group, halogen or hydrogen, n: integer of 0 to 3]
As the organosilicon compound represented by the chemical formula (1), the same organosilicon compound as described above can be used. In the chemical formula (1), when an organosilicon compound with n = 0 is used, it can be used as it is, but when an organosilicon compound with n = 1 to 3 is used, a partial hydrolyzate of the same organosilicon compound as described above. Is preferably used.

このようなシリカ被覆層は緻密であるために、内部は屈折率の低い気相あるいは液層に保たれ、被膜の形成等に用いる場合、屈折率の高い物質、例えば塗料用樹脂等が内部に進入することがなく、低屈折率の効果の高い被膜を形成することができる。
また、上記において、シリカ被覆層の形成にn=1〜3の有機珪素化合物を用いる場合は有機溶媒への分散性がよく、樹脂との親和性の高いシリカ系微粒子分散液を得ることができる。さらに、シランカップリング剤等で表面処理して用いることができるが、有機溶媒への分散性、樹脂との親和性等に優れているため、このような処理を特別に必要とすることもない。
Since such a silica coating layer is dense, the inside is kept in a gas phase or a liquid layer having a low refractive index, and when used for forming a film, a substance having a high refractive index, such as a coating resin, is contained inside. A film having a low refractive index and a high effect can be formed without entering.
In the above, when an organosilicon compound of n = 1 to 3 is used for forming the silica coating layer, a silica-based fine particle dispersion having good dispersibility in an organic solvent and high affinity with a resin can be obtained. . Furthermore, it can be used after being surface-treated with a silane coupling agent or the like, but since it is excellent in dispersibility in an organic solvent, affinity with a resin, etc., such treatment is not particularly required. .

また、シリカ被覆層の形成に含フッ素有機珪素化合物を用いる場合は、F原子を含む被覆層が形成されるために、得られる粒子はより低屈折率となるとともに有機溶媒への分散性がよく、樹脂との親和性の高いシリカ系微粒子分散液を得ることができる。このような含フッ素有機珪素化合物としては、3,3,3−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、メチル−3,3,3−トリフルオロプロピルジメトキシシラン、ヘプタデカフルオロデシルメチルジメトキシシラン、ヘプタデカフルオロデシルトリクロロシシラン、ヘプタデカフルオロデシルトリメトキシシラン、トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、トリデカフルオロオクチルトリメトキシシラン等が挙げられる。   When a fluorine-containing organosilicon compound is used for forming the silica coating layer, since the coating layer containing F atoms is formed, the resulting particles have a lower refractive index and good dispersibility in organic solvents. A silica-based fine particle dispersion having high affinity with the resin can be obtained. Such fluorine-containing organic silicon compounds include 3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane, methyl-3,3,3-trifluoropropyldimethoxysilane, heptadecafluorodecylmethyldimethoxysilane, heptadecafluorodecyl. Examples include trichlorosisilane, heptadecafluorodecyltrimethoxysilane, trifluoropropyltrimethoxysilane, and tridecafluorooctyltrimethoxysilane.

上記シリカ被覆層を形成したシリカ系微粒子は、必要に応じて常温〜300℃、好ましくは50〜250℃で通常1〜24時間程度熟成することができる。熟成を行うとシリカ被覆層が均一でより緻密になり、前述したように屈折率の高い物質が粒子内部に進入することができなくなるため低屈折率効果の高い被膜を形成することができる。   The silica-based fine particles on which the silica coating layer is formed can be aged at room temperature to 300 ° C., preferably 50 to 250 ° C., for about 1 to 24 hours, if necessary. When aging is performed, the silica coating layer becomes uniform and denser, and as described above, a substance having a high refractive index cannot enter the inside of the particle, so that a film having a high low refractive index effect can be formed.

このようにして得られたシリカ系微粒子は、平均粒子径が4〜270nm、さらには8〜170nmの範囲にあることが好ましい。平均粒子径が4nm未満では、充分な空洞が得られず、低屈折率の効果が充分得られないことがある。シリカ系微粒子の平均粒子径が270nmを越えると、得られる酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の平均粒子径が300nmを越えることがあり、このような酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子を用いた透明被膜は表面に凹凸が生じたり、透明性が低下したり、ヘイズが高くなることがある。なお、本発明のシリカ系微粒子、酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子の平均粒子径は動的光散乱法によって求めることができる。
シリカ系微粒子は、内部に空洞を有している。このため、通常シリカの屈折率が1.45であるのに対し、シリカ系微粒子の屈折率は、1.20〜1.38であった。なお、空洞については、粒子断面の透過型電子顕微鏡写真(TEM)を観察することによって確認することができる。
The silica-based fine particles thus obtained preferably have an average particle size in the range of 4 to 270 nm, more preferably 8 to 170 nm. If the average particle diameter is less than 4 nm, sufficient cavities cannot be obtained, and the effect of low refractive index may not be sufficiently obtained. When the average particle diameter of the silica-based fine particles exceeds 270 nm, the average particle diameter of the obtained antimony oxide-coated silica-based fine particles may exceed 300 nm, and the transparent coating using such antimony oxide-coated silica-based fine particles is formed on the surface. Unevenness may occur, transparency may decrease, and haze may increase. The average particle size of the silica-based fine particles and antimony oxide-coated silica-based fine particles of the present invention can be determined by a dynamic light scattering method.
Silica-based fine particles have cavities inside. For this reason, the refractive index of silica fine particles was 1.20 to 1.38, whereas the refractive index of silica was usually 1.45. In addition, about a cavity, it can confirm by observing the transmission electron micrograph (TEM) of a particle | grain cross section.

本発明に用いられる低屈折率層の屈折率は、好ましくは1.25〜1.46、更に好ましくは1.30〜1.43、最も好ましくは1.30〜1.40である。本発明の光学フイルムの表面抵抗(Ω/□)は、好ましくは1.0×10以上1.0×1013以下であり、更に好ましくは1.0×10以上1.0×1012以下であり、最も好ましくは1.0×10以上1.0×1010以下である。本発明に従えば、屈折率と表面抵抗を上記範囲にすることで、低反射率と防塵性を良好に保ちつつ耐擦傷性を良好に保つことができる。 The refractive index of the low refractive index layer used in the present invention is preferably 1.25 to 1.46, more preferably 1.30 to 1.43, and most preferably 1.30 to 1.40. The surface resistance (Ω / □) of the optical film of the present invention is preferably 1.0 × 10 5 or more and 1.0 × 10 13 or less, more preferably 1.0 × 10 7 or more and 1.0 × 10 12. Or less, and most preferably 1.0 × 10 8 or more and 1.0 × 10 10 or less. According to the present invention, by setting the refractive index and the surface resistance within the above ranges, the scratch resistance can be kept good while keeping the low reflectance and dust resistance good.

酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子は、単独または以下に記述する少なくとも1種以上の微粒子と組み合わせて用いることができる。   Antimony oxide-coated silica-based fine particles can be used alone or in combination with at least one kind of fine particles described below.

[その他の微粒子]
本発明の(B)成分である導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子に加えて以下の微粒子を好適に用いることができる。微粒子は無機酸化物粒子であることが好ましく、得られる低屈折率層の無色性の観点から、珪素、アルミニウム、ジルコニウム、チタニウム、亜鉛、ゲルマニウム、インジウム、スズ、アンチモン及びセリウムよりなる群から選ばれる、少なくとも1種の元素の酸化物粒子であることが好ましい。
[Other fine particles]
In addition to the fine particles having the conductive metal oxide coating layer as the component (B) of the present invention, the following fine particles can be suitably used. The fine particles are preferably inorganic oxide particles, and are selected from the group consisting of silicon, aluminum, zirconium, titanium, zinc, germanium, indium, tin, antimony and cerium from the viewpoint of the colorlessness of the resulting low refractive index layer. The oxide particles of at least one element are preferable.

これらの無機微粒子としては、例えば、シリカ、フッ化マグネシウム、アルミナ、ジルコニア、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ゲルマニウム、酸化インジウム、酸化スズ、アンチモンをドープした酸化錫(ATO)、スズをドープした酸化インジウム(ITO)、酸化アンチモン、酸化セリウム等の酸化物粒子を挙げることができる。中でも、高硬度の観点から、シリカ、アルミナ、ジルコニア及び酸化アンチモンの粒子が好ましい。これらは、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。   Examples of these inorganic fine particles include silica, magnesium fluoride, alumina, zirconia, titanium oxide, zinc oxide, germanium oxide, indium oxide, tin oxide, antimony-doped tin oxide (ATO), and tin-doped indium oxide. Examples thereof include oxide particles such as (ITO), antimony oxide, and cerium oxide. Among these, silica, alumina, zirconia and antimony oxide particles are preferable from the viewpoint of high hardness. These can be used alone or in combination of two or more.

さらに無機微粒子は、有機溶媒分散物として用いるのが好ましい。有機溶媒分散物として用いる場合、他の成分との相溶性、分散性の観点から、分散媒は、有機溶媒が好ましい。   Further, the inorganic fine particles are preferably used as an organic solvent dispersion. When used as an organic solvent dispersion, the dispersion medium is preferably an organic solvent from the viewpoint of compatibility with other components and dispersibility.

このような有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、オクタノール等のアルコール類;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類;酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のエステル類;エチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル等のエーテル類;ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド類を挙げることができる。中でも、メタノール、イソプロパノール、ブタノール、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、酢酸エチル、酢酸ブチル、トルエン、キシレンが好ましい。   Examples of such organic solvents include alcohols such as methanol, ethanol, isopropanol, butanol, and octanol; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone; ethyl acetate, butyl acetate, ethyl lactate, and γ-butyrolactone. , Esters such as propylene glycol monomethyl ether acetate and propylene glycol monoethyl ether acetate; ethers such as ethylene glycol monomethyl ether and diethylene glycol monobutyl ether; aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene and xylene; dimethylformamide, dimethylacetamide, Examples thereof include amides such as N-methylpyrrolidone. Of these, methanol, isopropanol, butanol, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, ethyl acetate, butyl acetate, toluene and xylene are preferred.

無機微粒子の数平均粒子径は、1〜200nmが好ましく、3〜150nmがさらに好ましく、5〜100nmが特に好ましい。数平均粒子径が200nm以下であれば、硬化物としたときの透明性が低下したり、被膜としたときの表面状態が悪化したりするなどの不都合が生じないので好ましい。また、粒子の分散性を改良するために各種の界面活性剤やアミン類を添加してもよい。   The number average particle diameter of the inorganic fine particles is preferably 1 to 200 nm, more preferably 3 to 150 nm, and particularly preferably 5 to 100 nm. If the number average particle diameter is 200 nm or less, there is no inconvenience such as a decrease in transparency when it is used as a cured product or a deterioration of the surface state when it is used as a film. Various surfactants and amines may be added to improve the dispersibility of the particles.

珪素酸化物粒子分散液(例えば、シリカ粒子)として市販されている商品としては、例えば、コロイダルシリカとして、日産化学工業(株)製シリカゾル“MA−ST−MS”、“IPA−ST”、“IPA−ST−MS”、“IPA−ST−L”、“IPA−ST−ZL”、“IPA−ST−UP”、“EG−ST”、“NPC−ST−30”、“MEK−ST”、“MEK−ST−L”、“MIBK−ST”、“NBA−ST”、“XBA−ST”、“DMAC−ST”、“ST−UP”、“ST−OUP”、“ST−20”、“ST−40”、“ST−C”、“ST−N”、“ST−O”、“ST−50”、“ST−OL”等;触媒化成工業(株)製中空シリカ“CS60−IPA”等を挙げることができる。また粉体シリカとしては、日本アエロジル(株)製「アエロジル130」、「アエロジル300」、「アエロジル380」、「アエロジルTT600」、「アエロジルOX50」;旭硝子(株)製「シルデックスH31、H32、H51、H52、H121、H122」;日本シリカ工業(株)製“E220A”、“E220”、“SS−50”、“SS50A”、“SS−50F”;富士シリシア(株)製“SYLYSIA470”;日本板硝子(株)製「SGフレ−ク」等を挙げることができる。   Examples of products that are commercially available as silicon oxide particle dispersions (for example, silica particles) include colloidal silica such as silica sol “MA-ST-MS”, “IPA-ST”, “Nissan Chemical Industry Co., Ltd.”, “ “IPA-ST-MS”, “IPA-ST-L”, “IPA-ST-ZL”, “IPA-ST-UP”, “EG-ST”, “NPC-ST-30”, “MEK-ST” , “MEK-ST-L”, “MIBK-ST”, “NBA-ST”, “XBA-ST”, “DMAC-ST”, “ST-UP”, “ST-OUP”, “ST-20” , “ST-40”, “ST-C”, “ST-N”, “ST-O”, “ST-50”, “ST-OL”, etc .; hollow silica “CS60-” manufactured by Catalyst Chemical Industry Co., Ltd. IPA "and the like. As the powder silica, “Aerosil 130”, “Aerosil 300”, “Aerosil 380”, “Aerosil TT600”, “Aerosil OX50” manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd .; “Sildex H31, H32” manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. H51, H52, H121, H122 ”;“ E220A ”,“ E220 ”,“ SS-50 ”,“ SS50A ”,“ SS-50F ”manufactured by Nippon Silica Industry Co., Ltd .;“ SYLYSIA470 ”manufactured by Fuji Silysia Co., Ltd .; Examples thereof include “SG Flakes” manufactured by Nippon Sheet Glass Co., Ltd.

また、アルミナの水分散品としては、日産化学工業(株)製「アルミナゾル−100、−200、−520」;アルミナのイソプロパノール分散品としては、住友大阪セメント(株)製“AS−150I”;アルミナのトルエン分散品としては、住友大阪セメント(株)製“AS−150T”;ジルコニアのトルエン分散品としては、住友大阪セメント(株)製“HXU−110JC”;アンチモン酸亜鉛粉末の水分散品としては、日産化学工業(株)製「セルナックス」;アルミナ、酸化チタン、酸化スズ、酸化インジウム、酸化亜鉛等の粉末及び溶媒分散品としては、シーアイ化成(株)製「ナノテック」;ATOの水分散ゾルとしては、石原産業(株)製“SN−100D”;ITO粉末としては、三菱マテリアル(株)製の製品;酸化セリウム水分散液としては、多木化学(株)製ニードラール等を挙げることができる。   Moreover, as an aqueous dispersion of alumina, “Alumina sol-100, -200, -520” manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd .; as an isopropanol dispersion of alumina, “AS-150I” manufactured by Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd .; As the toluene dispersion of alumina, “AS-150T” manufactured by Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. As the toluene dispersion of zirconia, “HXU-110JC” manufactured by Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd .; water dispersion of zinc antimonate powder For example, “CELNAX” manufactured by NISSAN CHEMICAL INDUSTRY CO., LTD .; powders and solvent dispersions such as alumina, titanium oxide, tin oxide, indium oxide, and zinc oxide include “NANOTECH” manufactured by CI Kasei Co., Ltd .; As an aqueous dispersion sol, “SN-100D” manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd .; as an ITO powder, a product manufactured by Mitsubishi Materials Corporation; The cerium aqueous dispersion, mention may be made of Taki Chemical Co., Ltd. Nidoraru like.

無機微粒子の形状は、球状、中空状、多孔質状、棒状、板状、繊維状、鎖状、パールネックレス状、又は不定形状であり、好ましくは、球状又は中空状である。中空状のシリカ粒子については後述する。無機微粒子の比表面積(窒素を用いたBET比表面積測定法による)は、好ましくは、10〜1000m/gであり、さらに好ましくは、20〜500m/gであり、最も好ましくは50〜300m/gである。これら無機微粒子は、乾燥状態の粉末を有機溶媒に分散することもできるが、例えば上記の酸化物の溶媒分散ゾルとして当業界に知られている微粒子状の酸化物粒子の分散液を直接用いることができる。 The shape of the inorganic fine particles is spherical, hollow, porous, rod-like, plate-like, fiber-like, chain-like, pearl necklace-like, or indefinite shape, and preferably spherical or hollow. The hollow silica particles will be described later. The specific surface area of the inorganic fine particles (by BET method using nitrogen) is preferably, 10 to 1000 m 2 / g, more preferably from 20 to 500 m 2 / g, and most preferably 50~300m 2 / g. These inorganic fine particles can be obtained by dispersing powder in a dry state in an organic solvent. For example, a dispersion of fine oxide particles known in the art as a solvent dispersion sol of the above oxide is directly used. Can do.

(中空シリカ粒子)
本発明の反射防止フイルムの低屈折率層においては、本発明の(B)成分である導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子に加えて屈折率の低い中空状の無機微粒子を用いるのが特に好ましい。中空シリカ粒子について、以下に記載する。
(Hollow silica particles)
In the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention, it is particularly preferable to use hollow inorganic fine particles having a low refractive index in addition to the fine particles having the conductive metal oxide coating layer as the component (B) of the present invention. preferable. The hollow silica particles are described below.

中空のシリカ微粒子は、屈折率が1.15〜1.40であることが好ましく、更に好ましくは1.15〜1.35、最も好ましくは1.17〜1.30である。ここでの屈折率は、粒子全体として屈折率を表し、中空シリカ粒子を形成している外殻のシリカのみの屈折率を表すものではない。この時、粒子内の空腔の半径をr、粒子外殻の半径をrとすると、空隙率xは下記数式(2)で表される。中空シリカ粒子の空隙率xは、好ましくは10〜60%、更に好ましくは20〜60%、最も好ましくは30〜60%である。
数式(2):x=(r/r×100
中空シリカ微粒子の平均粒径は、電子顕微鏡写真から求めることができる。
The hollow silica fine particles preferably have a refractive index of 1.15 to 1.40, more preferably 1.15 to 1.35, and most preferably 1.17 to 1.30. The refractive index here represents the refractive index of the entire particle, and does not represent the refractive index of only the outer shell silica forming the hollow silica particles. In this case, the radius r i of the cavity inside the particle, and the radius of the outer shell of the particle is r o, the porosity x is expressed by the following equation (2). The porosity x of the hollow silica particles is preferably 10 to 60%, more preferably 20 to 60%, and most preferably 30 to 60%.
Formula (2): x = (r i / r o ) 3 × 100
The average particle diameter of the hollow silica fine particles can be determined from an electron micrograph.

中空のシリカ粒子をより低屈折率に、より空隙率を大きくしようとすると、外殻の厚みが薄くなり、粒子の強度としては弱くなるため、耐擦傷性の観点から、中空のシリカ粒子の屈折率は、通常、1.17以上である。   If hollow silica particles are made to have a lower refractive index and a higher porosity, the thickness of the outer shell becomes thinner and the strength of the particles becomes weaker. From the viewpoint of scratch resistance, the refractive index of hollow silica particles The rate is usually 1.17 or higher.

中空シリカ粒子の製造方法は、例えば特開2001−233611号公報や特開2002−79616号公報に記載されている。本発明において用いられる中空シリカ粒子としては、外殻の内部に空洞を有している粒子で、その外殻の細孔が閉塞されている粒子が特に好ましい。なお、これら中空シリカ粒子の屈折率は特開2002−79616号公報に記載の方法で算出することができる。   A method for producing hollow silica particles is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2001-233611 and 2002-79616. The hollow silica particles used in the present invention are particularly preferably particles having cavities inside the outer shell and in which the pores of the outer shell are closed. The refractive index of these hollow silica particles can be calculated by the method described in JP-A No. 2002-79616.

中空シリカの平均粒径は、低屈折率層の厚みの30%以上150%以下が好ましく、より好ましくは35%以上80%以下、更に好ましくは40%以上60%以下である。すなわち、低屈折率層の厚みが100nmであれば、中空シリカの粒径は30nm以上150nm以下が好ましく、より好ましくは35nm以上100nm以下、更に好ましくは、40nm以上65nm以下である。シリカ微粒子の粒径が該下限値以上であれば、空腔部の割合が十分であり、屈折率の低下が見込めるので好ましく、該上限値以下であれば、低屈折率層表面に微細な凹凸ができて、黒の締まりといった外観、積分反射率が悪化するなどの弊害が生じることがないので好ましい。シリカ微粒子は、結晶質でも、アモルファスのいずれでもよく、また単分散粒子が好ましい。形状は、球径が最も好ましいが、不定形であっても問題ない。   The average particle diameter of the hollow silica is preferably 30% to 150% of the thickness of the low refractive index layer, more preferably 35% to 80%, and still more preferably 40% to 60%. That is, if the thickness of the low refractive index layer is 100 nm, the particle size of the hollow silica is preferably 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 100 nm, and still more preferably 40 nm to 65 nm. If the particle size of the silica fine particles is equal to or greater than the lower limit value, the ratio of the cavities is sufficient and a decrease in the refractive index can be expected. This is preferable because it does not cause adverse effects such as the appearance of black tightening and the deterioration of the integrated reflectance. The silica fine particles may be either crystalline or amorphous, and monodisperse particles are preferred. The shape is most preferably a spherical diameter, but there is no problem even if the shape is indefinite.

また、中空シリカは粒子平均粒子サイズの異なるものを2種以上併用して用いることができる。ここで、中空シリカの平均粒径は電子顕微鏡写真から求めることができる。   Further, two or more kinds of hollow silica having different particle average particle sizes can be used in combination. Here, the average particle diameter of the hollow silica can be determined from an electron micrograph.

本発明において中空シリカの比表面積は、20〜300m/gが好ましく、更に好ましくは30〜120m/g、最も好ましくは40〜90m/gである。表面積は窒素を用いBET法で求めることができる。 The specific surface area of the hollow silica in the present invention is preferably from 20 to 300 m 2 / g, more preferably 30~120m 2 / g, most preferably 40~90m 2 / g. The surface area can be determined by the BET method using nitrogen.

本発明においては、中空シリカと併用して空腔のないシリカ粒子を用いることができる。空腔のないシリカの好ましい粒子サイズは、30nm以上150nm以下、更に好ましくは35nm以上100nm以下、最も好ましくは40nm以上80nm以下である。   In the present invention, silica particles having no voids can be used in combination with hollow silica. The preferred particle size of silica without voids is 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 100 nm, and most preferably 40 nm to 80 nm.

(小サイズ粒径のシリカ微粒子)
また、平均粒径が低屈折率層の厚みの25%未満であるシリカ微粒子(「小サイズ粒径のシリカ微粒子」と称す)の少なくとも1種を、上記の粒径のシリカ粒子(「大サイズ粒径のシリカ粒子」と称す)と併用することもできる。
小サイズ粒径のシリカ微粒子は、大サイズ粒径のシリカ微粒子同士の隙間に存在することができるため、大サイズ粒径のシリカ微粒子の保持剤として寄与することができる。
(Silica fine particles with small size)
Further, at least one kind of silica fine particles having an average particle size of less than 25% of the thickness of the low refractive index layer (referred to as “silica fine particles having a small size particle size”) is used as silica particles having the above particle size (“large size”). It can also be used in combination with “silica particles having a particle size”.
Since the fine silica particles having a small size can be present in the gaps between the fine silica particles having a large size, the fine particles can contribute as a retaining agent for the fine silica particles having a large size.

小サイズ粒径のシリカ微粒子の平均粒径は、1nm以上20nm以下が好ましく、5nm以上15nm以下が更に好ましく、10nm以上15nm以下が特に好ましい。このようなシリカ微粒子を用いると、原料コスト及び保持剤効果の点で好ましい。   The average particle diameter of the silica fine particles having a small size is preferably 1 nm to 20 nm, more preferably 5 nm to 15 nm, and particularly preferably 10 nm to 15 nm. Use of such silica fine particles is preferable in terms of raw material costs and a retaining agent effect.

(無機微粒子の表面処理)
本発明の低屈折率層に用いることのできる無機微粒子は、分散液中又は塗布液中で、分散安定化を図るために、あるいはバインダー成分との親和性、結合性を高めるために、プラズマ放電処理やコロナ放電処理のような物理的表面処理、界面活性剤やカップリング剤等による化学的表面処理がなされていてもよい。
これらの表面処理は、前記酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子に対して行われてもよい。
(Surface treatment of inorganic fine particles)
The inorganic fine particles that can be used in the low refractive index layer of the present invention are plasma discharges in order to stabilize dispersion in the dispersion or coating solution, or to increase the affinity and binding properties with the binder component. A physical surface treatment such as a treatment or a corona discharge treatment, or a chemical surface treatment with a surfactant or a coupling agent may be performed.
These surface treatments may be performed on the silica-based fine particles having the antimony oxide coating layer.

無機微粒子が、下記一般式(3)で表されるオルガノシランの加水分解物及び/又はその部分縮合物により表面処理がなされており、処理の際に、酸触媒及び金属キレート化合物のいずれか、又は両者が使用されることが好ましい。
一般式(3): (R30m1Si(X314−m1
式中、R30は、置換もしくは無置換のアルキル基又は、置換もしくは無置換のアリール基を表す。X31は水酸基又は加水分解可能な基を表す。m1は1〜3の整数を表す。
The inorganic fine particles are surface-treated with a hydrolyzate of organosilane represented by the following general formula (3) and / or a partial condensate thereof, and at the time of treatment, either an acid catalyst or a metal chelate compound, Or it is preferable that both are used.
Formula (3): (R 30 ) m1 Si (X 31 ) 4-m1
In the formula, R 30 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X 31 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. m1 represents an integer of 1 to 3.

無機微粒子の上記分散性改良処理は、オルガノシランと無機微粒子と、必要に応じて水とを、加水分解機能を有する触媒及び縮合機能を有する金属キレート化合物の少なくともいずれかの存在下に、接触させることにより行われる。オルガノシランは、一部加水分解されていてもよいし、部分縮合していてもよい。オルガノシランは、加水分解に引き続いて部分縮合し、これが無機微粒子の表面を修飾して、分散性が向上し、安定した無機微粒子の分散液が得られる。   The treatment for improving the dispersibility of inorganic fine particles involves bringing organosilane, inorganic fine particles, and, if necessary, water into contact with each other in the presence of at least one of a catalyst having a hydrolysis function and a metal chelate compound having a condensation function. Is done. The organosilane may be partially hydrolyzed or partially condensed. The organosilane undergoes partial condensation subsequent to hydrolysis, which modifies the surface of the inorganic fine particles to improve the dispersibility and obtain a stable dispersion of inorganic fine particles.

(金属キレート化合物)
金属キレート化合物は、下記一般式(4−1)で表されるアルコールと、下記一般式(4−2)で表される化合物とを配位子とした、Zr、Ti又はAlから選ばれる金属を中心金属とする少なくとも1種の金属キレート化合物であれば特に制限なく好適に用いることができる。この範疇であれば、2種以上の金属キレート化合物を併用してもよい。
一般式(4−1):R41OH
一般式(4−2):R42COCHCOR43
式中、R41及びR42は、同一又は異なってもよく、炭素数1〜10のアルキル基を示し、R43は炭素数1〜10のアルキル基又は炭素数1〜10のアルコキシ基を示す。
(Metal chelate compound)
The metal chelate compound is a metal selected from Zr, Ti, or Al having a ligand represented by an alcohol represented by the following general formula (4-1) and a compound represented by the following general formula (4-2). Any metal chelate compound having at least one metal as a central metal can be suitably used without particular limitation. Within this category, two or more metal chelate compounds may be used in combination.
Formula (4-1): R 41 OH
Formula (4-2): R 42 COCH 2 COR 43
In the formula, R 41 and R 42 may be the same or different and each represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and R 43 represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms. .

[オルガノシラン化合物]
本発明の反射防止フイルムは、その低屈折率層及び該低屈折率層より下の層のうち、いずれかの層に、酸触媒及び金属キレート化合物の少なくともいずれかの存在下で製造されてなる下記一般式(3)で表されるオルガノシランの、加水分解物及びその部分縮合物のいずれかが用いられることが好ましい。次ぎに、このオルガノシラン化合物について詳細に説明する。
一般式(3):(R30m1−Si(X314−m1
[Organosilane compound]
The antireflection film of the present invention is produced in the presence of at least one of an acid catalyst and a metal chelate compound in any one of the low refractive index layer and the layer below the low refractive index layer. It is preferable to use either a hydrolyzate or a partial condensate thereof of an organosilane represented by the following general formula (3). Next, this organosilane compound will be described in detail.
Formula (3) :( R 30) m1 -Si (X 31) 4-m1

一般式(3)において、R30は、置換もしくは無置換のアルキル基、置換もしくは無置換のアリール基を表す。アルキル基としてはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ヘキシル基、t−ブチル基、s−ブチル基、ヘキシル基、デシル基、ヘキサデシル基等が挙げられる。アルキル基として好ましくは炭素数1〜30、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは1〜6のものである。アリール基としてはフェニル基、ナフチル基等が挙げられ、好ましくはフェニル基である。 In the general formula (3), R 30 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, hexyl group, t-butyl group, s-butyl group, hexyl group, decyl group, hexadecyl group and the like. The alkyl group preferably has 1 to 30 carbon atoms, more preferably 1 to 16 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 6 carbon atoms. Examples of the aryl group include a phenyl group and a naphthyl group, and a phenyl group is preferable.

31は、水酸基又は加水分解可能な基を表す。加水分解可能な基としては、例えばアルコキシ基(炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましい。例えばメトキシ基、エトキシ基等)、ハロゲン原子(例えばCl、Br、I等)、及びR32COO基(R32は水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基が好ましい。例えばCHCOO基、CCOO基等)が挙げられ、好ましくはアルコキシ基であり、特に好ましくはメトキシ基又はエトキシ基である。 X 31 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. As the hydrolyzable group, for example, an alkoxy group (an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms is preferable. For example, a methoxy group, an ethoxy group, etc.), a halogen atom (eg, Cl, Br, I, etc.), and an R 32 COO group ( R 32 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms (for example, CH 3 COO group, C 2 H 5 COO group, etc.), preferably an alkoxy group, particularly preferably a methoxy group or an ethoxy group. It is.

m1は1〜3の整数を表す。R30もしくはX31が複数存在するとき、複数のR30もしくはX31はそれぞれ同じであっても異なっていてもよい。m1として好ましくは1又は2であり、特に好ましくは1である。 m1 represents an integer of 1 to 3. When R 30 or X 31 there are a plurality, a plurality of R 30 or X 31 may be different even in the same, respectively. m1 is preferably 1 or 2, particularly preferably 1.

30に含まれる置換基としては、特に制限はないが、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子、臭素原子等)、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基(メチル基、エチ基、i−プロピル基、プロピル基、t−ブチル基等)、アリール基(フェニル基、ナフチル基等)、芳香族ヘテロ環基(フリル基、ピラゾリル基、ピリジル基等)、アルコキシ基(メトキシ基、エトキシ基、i−プロポキシ基、ヘキシルオキシ基等)、アリールオキシ基(フェノキシ基等)、アルキルチオ基(メチルチオ基、エチルチオ基等)、アリールチオ基(フェニルチオ基等)、アルケニル基(ビニル基、1−プロペニル基等)、アシルオキシ基(アセトキシ基、アクリロイルオキシ基、メタクリロイルオキシ基等)、アルコキシカルボニル基(メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基等)、アリールオキシカルボニル基(フェノキシカルボニル基等)、カルバモイル基(カルバモイル基、N−メチルカルバモイル基、N,N−ジメチルカルバモイル基、N−メチル−N−オクチルカルバモイル基等)、アシルアミノ基(アセチルアミノ基、ベンゾイルアミノ基、アクリルアミノ基、メタクリルアミノ基等)等が挙げられ、これら置換基は更に置換されていてもよい。なお、本明細書においては、水素原子を置換するものが単一の原子であっても、便宜上置換基として取り扱う。 The substituent contained in R 30 is not particularly limited, but a halogen atom (fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, etc.), hydroxyl group, mercapto group, carboxyl group, epoxy group, alkyl group (methyl group, ethyl group, i-propyl group, propyl group, t-butyl group, etc.), aryl group (phenyl group, naphthyl group, etc.), aromatic heterocyclic group (furyl group, pyrazolyl group, pyridyl group, etc.), alkoxy group (methoxy group, ethoxy group) Group, i-propoxy group, hexyloxy group etc.), aryloxy group (phenoxy group etc.), alkylthio group (methylthio group, ethylthio group etc.), arylthio group (phenylthio group etc.), alkenyl group (vinyl group, 1-propenyl) Groups), acyloxy groups (acetoxy groups, acryloyloxy groups, methacryloyloxy groups, etc.), alkoxycarbons Group (methoxycarbonyl group, ethoxycarbonyl group, etc.), aryloxycarbonyl group (phenoxycarbonyl group, etc.), carbamoyl group (carbamoyl group, N-methylcarbamoyl group, N, N-dimethylcarbamoyl group, N-methyl-N-) Octylcarbamoyl group, etc.), acylamino groups (acetylamino group, benzoylamino group, acrylamino group, methacrylamino group, etc.) and the like. These substituents may be further substituted. In the present specification, even if a hydrogen atom is replaced by a single atom, it is treated as a substituent for convenience.

30が複数ある場合は、少なくとも1つが、置換アルキル基もしくは置換アリール基であることが好ましい。中でも該置換アルキル基もしくは置換アリール基がさらにビニル重合性基を有することが好ましく、この場合、一般式(3)で表される化合物は、下記一般式(3−1)で表されるビニル重合性の置換基を有するオルガノシラン化合物として表すことができる。
一般式(3−1):
When there are a plurality of R 30 , at least one is preferably a substituted alkyl group or a substituted aryl group. Among these, the substituted alkyl group or substituted aryl group preferably further has a vinyl polymerizable group. In this case, the compound represented by the general formula (3) is a vinyl polymer represented by the following general formula (3-1). It can be expressed as an organosilane compound having a functional substituent.
General formula (3-1):

Figure 0005049542
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一般式(3−1)において、R32は、水素原子、メチル基、メトキシ基、アルコキシカルボニル基、シアノ基、フッ素原子又は塩素原子を表す。上記アルコキシカルボニル基としては、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基などが挙げられる。R32としては、水素原子、メチル基、メトキシ基、メトキシカルボニル基、シアノ基、フッ素原子及び塩素原子が好ましく、水素原子、メチル基、メトキシカルボニル基、フッ素原子及び塩素原子が更に好ましく、水素原子及びメチル基が特に好ましい。 In General Formula (3-1), R 32 represents a hydrogen atom, a methyl group, a methoxy group, an alkoxycarbonyl group, a cyano group, a fluorine atom, or a chlorine atom. Examples of the alkoxycarbonyl group include a methoxycarbonyl group and an ethoxycarbonyl group. R 32 is preferably a hydrogen atom, a methyl group, a methoxy group, a methoxycarbonyl group, a cyano group, a fluorine atom or a chlorine atom, more preferably a hydrogen atom, a methyl group, a methoxycarbonyl group, a fluorine atom or a chlorine atom, And a methyl group are particularly preferred.

31は、単結合、エステル基、アミド基、エーテル基又はウレア基を表す。単結合、エステル基及びアミド基が好ましく、単結合及びエステル基が更に好ましく、エステル基が特に好ましい。 U 31 represents a single bond, an ester group, an amide group, an ether group or a urea group. Single bonds, ester groups and amide groups are preferred, single bonds and ester groups are more preferred, and ester groups are particularly preferred.

31は、2価の連結鎖であり、具体的には、置換もしくは無置換のアルキレン基、置換もしくは無置換のアリーレン基、内部に連結基(例えば、エーテル基、エステル基、アミド基)を有する置換もしくは無置換のアルキレン基、又は内部に連結基を有する置換もしくは無置換のアリーレン基であり、なかでも、置換もしくは無置換の炭素数2〜10のアルキレン基、置換もしくは無置換の炭素数6〜20のアリーレン基、内部に連結基を有する炭素数3〜10のアルキレン基が好ましく、無置換のアルキレン基、無置換のアリーレン基、内部にエーテル連結基又はエステル連結基を有するアルキレン基が更に好ましく、無置換のアルキレン基、内部にエーテル連結基又はエステル連結基を有するアルキレン基が特に好ましい。置換基は、ハロゲン、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基、アリール基等が挙げられ、これら置換基は更に置換されていてもよい。 L 31 is a divalent linking chain, specifically, a substituted or unsubstituted alkylene group, a substituted or unsubstituted arylene group, and a linking group (eg, ether group, ester group, amide group) inside. A substituted or unsubstituted alkylene group, or a substituted or unsubstituted arylene group having a linking group therein, among which a substituted or unsubstituted alkylene group having 2 to 10 carbon atoms, a substituted or unsubstituted carbon number An arylene group having 6 to 20 carbon atoms and an alkylene group having 3 to 10 carbon atoms having a linking group therein are preferred, and an unsubstituted alkylene group, an unsubstituted arylene group, and an alkylene group having an ether linking group or an ester linking group therein. More preferably, an unsubstituted alkylene group and an alkylene group having an ether linking group or an ester linking group therein are particularly preferable. Examples of the substituent include a halogen, a hydroxyl group, a mercapto group, a carboxyl group, an epoxy group, an alkyl group, and an aryl group, and these substituents may be further substituted.

m2は0又は1を表す。X31が複数存在するとき、複数のX31は、それぞれ同じであっても異なっていてもよい。m2として好ましくは0である。
30は、一般式(3)のR30と同義であり、置換もしくは無置換のアルキル基、無置換のアリール基が好ましく、無置換のアルキル基、無置換のアリール基が更に好ましい。
31は、一般式(3)のX31と同義であり、ハロゲン、水酸基、無置換のアルコキシ基が好ましく、塩素、水酸基、無置換の炭素数1〜6のアルコキシ基が更に好ましく、水酸基、炭素数1〜3のアルコキシ基が更に好ましく、メトキシ基が特に好ましい。
m2 represents 0 or 1. When X 31 there are a plurality, the plurality of X 31 may be different even in respectively the same. m2 is preferably 0.
R 30 has the same meaning as R 30 in formula (3), preferably a substituted or unsubstituted alkyl group or an unsubstituted aryl group, and more preferably an unsubstituted alkyl group or an unsubstituted aryl group.
X 31 has the same meaning as X 31 in formula (3), preferably a halogen, a hydroxyl group, or an unsubstituted alkoxy group, more preferably a chlorine, a hydroxyl group, or an unsubstituted alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a hydroxyl group, An alkoxy group having 1 to 3 carbon atoms is more preferable, and a methoxy group is particularly preferable.

本発明に用いるオルガノシラン化合物として、下記一般式(3−2)で表されるものも好ましい。
一般式(3−2):(R 31−L32m3−Si(R33m3−4
As the organosilane compound used in the present invention, those represented by the following general formula (3-2) are also preferred.
Formula (3-2) :( R f 31 -L 32) m3 -Si (R 33) m3-4

上記一般式(3−2)中、R 31は炭素数1〜20の直鎖、分岐、環状の含フッ素アルキル基、又は炭素数6〜14の含フッ素芳香族基を表す。R 31は、炭素数3〜10の直鎖、分岐、環状のフルオロアルキル基が好ましく、炭素数4〜8の直鎖のフルオロアルキル基が更に好ましい。L32は炭素数10以下の2価の連結基を表し、好ましくは炭素数1〜10のアルキレン基、更に好ましくは炭素数1〜5のアルキレン基を表す。アルキレン基は、直鎖もしくは分岐の、置換もしくは無置換の、内部に連結基(例えば、エーテル、エステル、アミド)を有していてもよいアルキレン基である。アルキレン基は置換基を有していてもよく、その場合の好ましい置換基は、ハロゲン原子、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基、アリール基等が挙げられる。R33は水酸基又は加水分解可能な基を表し、炭素数1〜5のアルコキシ基又はハロゲン原子が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、及び塩素原子が更に好ましい。m3は1〜3の整数を表す。 In the general formula (3-2), R f 31 represents a linear, branched, or cyclic fluorinated alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, or a fluorinated aromatic group having 6 to 14 carbon atoms. R f 31 is preferably a linear, branched or cyclic fluoroalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, and more preferably a linear fluoroalkyl group having 4 to 8 carbon atoms. L 32 represents a divalent linking group having 10 or less carbon atoms, preferably an alkylene group having 1 to 10 carbon atoms, and more preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms. The alkylene group is a linear or branched, substituted or unsubstituted alkylene group that may have a linking group (for example, ether, ester, amide) inside. The alkylene group may have a substituent, and preferable substituents in that case include a halogen atom, a hydroxyl group, a mercapto group, a carboxyl group, an epoxy group, an alkyl group, and an aryl group. R 33 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group, preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom, more preferably a methoxy group, an ethoxy group, or a chlorine atom. m3 represents an integer of 1 to 3.

次に一般式(3−2)で表される含フッ素オルガノシラン化合物の中でも、下記一般式(3−3)で表される含フッ素オルガノシラン化合物が好ましい。
一般式(3−3):C2n+1−(CHt6−Si(R34
Next, among the fluorine-containing organosilane compounds represented by the general formula (3-2), the fluorine-containing organosilane compounds represented by the following general formula (3-3) are preferable.
Formula (3-3): C n F 2n + 1 - (CH 2) t6 -Si (R 34) 3

上記一般式(3−3)中、nは1〜10の整数、t6は1〜5の整数を表す。R34は炭素数1〜5のアルコキシ基又はハロゲン原子を表す。nは4〜10が好ましく、t6は1〜3が好ましく、R34はメトキシ基、エトキシ基、及び塩素原子が好ましい。 In the general formula (3-3), n represents an integer of 1 to 10, and t6 represents an integer of 1 to 5. R 34 represents an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms or a halogen atom. n is preferably 4 to 10, t6 is preferably 1 to 3, and R 34 is preferably a methoxy group, an ethoxy group, or a chlorine atom.

一般式(3)の化合物は、2種類以上を併用してもよい。以下に一般式(3)で表される化合物の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Two or more kinds of the compound of the general formula (3) may be used in combination. Specific examples of the compound represented by the general formula (3) are shown below, but the present invention is not limited thereto.

Figure 0005049542
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これらの具体例の中で、(OS−1)、(OS−2)、(OS−56)、(OS−57)等が特に好ましい。また、特許第3474330号公報の参考例に記載のA,B,Cの化合物も分散安定性に優れ好ましい。   Among these specific examples, (OS-1), (OS-2), (OS-56), (OS-57) and the like are particularly preferable. Further, the compounds of A, B and C described in Reference Examples of Japanese Patent No. 3474330 are also preferable because of excellent dispersion stability.

本発明においては、一般式(3)で表されるオルガノシラン化合物の使用量は、特に制限はないが、無機微粒子当たり1質量%〜300質量%が好ましく、更に好ましくは3質量%〜100質量%、最も好ましくは5質量%〜50質量%である。無機微粒子の表面の水酸基基準の規定度濃度当たりでは1〜300モル%が好ましく、更に好ましくは5〜300モル%、最も好ましくは10〜200モル%である。オルガノシラン化合物の使用量が上記範囲であると、分散液の安定化効果が充分得られ、塗膜形成時に膜強度も上昇する。   In the present invention, the amount of the organosilane compound represented by the general formula (3) is not particularly limited, but is preferably 1% by mass to 300% by mass, more preferably 3% by mass to 100% by mass, per inorganic fine particle. %, Most preferably 5% by mass to 50% by mass. It is preferably 1 to 300 mol%, more preferably 5 to 300 mol%, and most preferably 10 to 200 mol% per normal density based on the hydroxyl group on the surface of the inorganic fine particles. When the amount of the organosilane compound used is in the above range, a sufficient stabilizing effect of the dispersion can be obtained, and the film strength is also increased during coating film formation.

複数種のオルガノシラン化合物を併用することも好ましく、複数種の化合物を同時に添加することも、添加時間をずらして反応させることもできる。また、複数種の化合物を予め部分縮合物にしてから添加すると反応制御が容易であり好ましい。   It is also preferable to use a plurality of types of organosilane compounds in combination, and a plurality of types of compounds can be added simultaneously, or the addition time can be shifted for reaction. Also, it is preferable to add a plurality of types of compounds after making them into partial condensates in advance because the reaction control is easy.

(オルガノシラン化合物の使用層)
本発明においては、低屈折率層および低屈折率層より下の層の、少なくともいずれかの層に、上述のオルガノシラン化合物、その加水分解物、およびその加水分解縮合物の少なくともいずれかを使用することが好ましい。オルガノシラン化合物の加水分解及びその縮合については、上記無機微粒子に関する記載の中で述べた酸触媒及び/又は金属キレート化合物を用いることが好ましい。
(Use layer of organosilane compound)
In the present invention, at least one of the above-mentioned organosilane compound, its hydrolyzate, and its hydrolysis condensate is used in at least one of the low refractive index layer and the layer below the low refractive index layer. It is preferable to do. For the hydrolysis and condensation of the organosilane compound, it is preferable to use the acid catalyst and / or metal chelate compound described in the description regarding the inorganic fine particles.

低屈折率層に用いる場合の好ましい使用量は、該低屈折率層を形成する固形分当たり1〜95質量%が好ましく、更に好ましくは2〜70質量%、最も好ましくは2〜45%である。低屈折率層に隣接する層に使用する場合には、該低屈折率層隣接層を形成する固形分当たり0.1〜70質量%が好ましく、更に好ましくは0.2〜50質量%、最も好ましくは1〜30%である。   The preferred amount used in the low refractive index layer is preferably from 1 to 95% by mass, more preferably from 2 to 70% by mass, and most preferably from 2 to 45% per solid content forming the low refractive index layer. . When used in a layer adjacent to the low refractive index layer, the content is preferably 0.1 to 70% by weight, more preferably 0.2 to 50% by weight, most preferably the solid content forming the low refractive index layer adjacent layer. Preferably it is 1 to 30%.

[低屈折率層の硬化方法]
本発明においては、電離放射線照射により硬化する化合物、導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子(好ましくは酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子)、及び必要によりポリシロキサン部分構造を有する化合物又は含フッ素防汚剤を含有する低屈折率層形成用塗布組成物を支持体上に塗布して、電離放射線による照射と、照射の前、照射と同時又は照射後の熱処理とを組み合わせることにより、硬化することが好ましい。以下にいくつかの製造工程のパターンを示すが、これらに限定されるものではない。
照射前→ 照射と同時 →照射後(−は熱処理を行っていないことを示す。)
(1)熱処理→電離放射線硬化→ −
(2)熱処理→電離放射線硬化→熱処理
(3) − →電離放射線硬化→熱処理
その他、電離放射線硬化時に同時に熱処理を行う工程も好ましい。
[Curing method of low refractive index layer]
In the present invention, a compound that is cured by irradiation with ionizing radiation, a fine particle having a conductive metal oxide coating layer (preferably a silica-based fine particle having an antimony oxide coating layer), and, if necessary, a compound having a polysiloxane partial structure or a fluorine-containing compound Curing is performed by applying a coating composition for forming a low refractive index layer containing an antifouling agent on a support and combining irradiation with ionizing radiation with heat treatment before, simultaneously with, or after irradiation. It is preferable. Although the pattern of some manufacturing processes is shown below, it is not limited to these.
Before irradiation → At the same time as irradiation → After irradiation (-indicates that heat treatment is not performed)
(1) Heat treatment → ionizing radiation curing → −
(2) Heat treatment → ionizing radiation curing → heat treatment (3) − → ionizing radiation curing → heat treatment In addition, a step of performing heat treatment simultaneously with ionizing radiation curing is also preferable.

(熱処理)
本発明においては、上記のとおり、電離放射線による照射と組み合わせて熱処理を行うことが好ましい。熱処理は、低屈折率層とその下層との界面から低屈折率層の表面までの各種成分の存在状態を変化させるものであれば特に制限はないが、好ましくは60〜200℃、更に好ましくは80〜130℃、最も好ましくは80〜110℃である。
(Heat treatment)
In the present invention, as described above, heat treatment is preferably performed in combination with irradiation with ionizing radiation. The heat treatment is not particularly limited as long as it changes the existence state of various components from the interface between the low refractive index layer and its lower layer to the surface of the low refractive index layer, preferably 60 to 200 ° C., more preferably 80-130 ° C, most preferably 80-110 ° C.

温度を上げることにより、表面自由エネルギーを低下させる、ポリシロキサン系成分や含フッ素系成分を含有している場合、低屈折率層表面近傍への配向を促進することができる。電離放射線照射による硬化前には、各成分が固定化されておらず、上記配向が比較的速やかに起こるが、電離放射線照射による硬化後には、各成分が固定され部分的にしか配向は起こらない。熱処理に要する時間は、使用成分の分子量、その他成分との相互作用、粘度などにより異なるが、好ましくは30秒〜24時間、より好ましくは60秒〜5時間、最も好ましくは3分〜30分である。   When a polysiloxane component or a fluorine-containing component that lowers the surface free energy is contained by raising the temperature, orientation near the surface of the low refractive index layer can be promoted. Each component is not fixed before curing by ionizing radiation irradiation, and the above orientation occurs relatively quickly, but after curing by ionizing radiation irradiation, each component is fixed and orientation occurs only partially. . The time required for the heat treatment varies depending on the molecular weight of the components used, the interaction with other components, the viscosity, etc., but is preferably 30 seconds to 24 hours, more preferably 60 seconds to 5 hours, and most preferably 3 minutes to 30 minutes. is there.

フイルムの膜面温度を所望の温度にする方法に特に限定はないが、ロールを加熱してフイルムに接触させる方法、加熱した窒素を吹き付ける方法、遠赤外線又は赤外線の照射などが好ましい。特許2523574号明細書に記載の、回転金属ロールに温水や蒸気を流して加熱する方法も利用できる。一方、下記で述べる電離放射線の照射時においては、フイルムの膜面温度が上がる場合には、ロールを冷却してフイルムに接触させる方法が利用できる。   Although there is no particular limitation on the method of bringing the film surface temperature of the film to a desired temperature, a method of heating a roll to contact the film, a method of spraying heated nitrogen, irradiation with far infrared rays or infrared rays is preferable. A method described in Japanese Patent No. 2523574 may also be used, in which hot water or steam is passed through a rotating metal roll and heated. On the other hand, at the time of irradiation of ionizing radiation described below, when the film surface temperature of the film rises, a method of cooling the roll and bringing it into contact with the film can be used.

(電離放射線照射条件)
電離線放射線照射時の膜面温度については、特に制限はないが、ハンドリング性及び面内の性能の均一性から、一般に20〜200℃、好ましくは30〜150℃、最も好ましくは40〜120℃である。膜面温度が該上限値以下であれば、バインダー中の低分子成分の流動性が上昇しすぎて面状が悪化したり、支持体が熱によりダメージを受けたりする問題が生じないので好ましい。また該下限値以上であれば、硬化反応の進行が十分で、膜の耐擦傷性が良好なものとなるので好ましい。
(Ionizing radiation irradiation conditions)
The film surface temperature during irradiation with ionizing radiation is not particularly limited, but is generally 20 to 200 ° C., preferably 30 to 150 ° C., and most preferably 40 to 120 ° C. in view of handling properties and in-plane performance uniformity. It is. If the film surface temperature is not more than the above upper limit value, the fluidity of the low molecular component in the binder is excessively increased and the surface state is not deteriorated, and the problem that the support is damaged by heat does not occur. Moreover, if it is more than this lower limit, the curing reaction proceeds sufficiently and the film has good scratch resistance, which is preferable.

電離放射線の種類については、特に制限はなく、x線、電子線、紫外線、可視光、赤外線などが挙げられるが、紫外線が広く用いられる。例えば塗膜が紫外線硬化性であれば、紫外線ランプにより10mJ/cm〜1000mJ/cmの照射量の紫外線を照射して各層を硬化するのが好ましい。照射の際には、前記エネルギーを一度に当ててもよいし、分割して照射することもできる。特に塗膜の面内での性能ばらつきを少なくする点からは、2〜8回程度に分割して照射することも好ましい。 There is no restriction | limiting in particular about the kind of ionizing radiation, Although an x-ray, an electron beam, an ultraviolet-ray, visible light, infrared rays etc. are mentioned, an ultraviolet-ray is used widely. For example, if the coating film is UV curable, it is to cure each layer by irradiating an irradiation amount of ultraviolet rays of 10mJ / cm 2 ~1000mJ / cm 2 by an ultraviolet lamp preferred. When irradiating, the energy may be applied at once, or divided and irradiated. In particular, from the viewpoint of reducing the performance variation in the surface of the coating film, it is also preferable to irradiate by dividing into about 2 to 8 times.

電離放射線照射後フイルムが前記温度に保たれる時間は、電離放射線照射終了から0.1秒以上300秒以下が好ましく、0.1秒以上10秒以下がより好ましい。フイルムの膜面温度を上記の温度範囲に保つ時間が短すぎると、皮膜を形成する低屈折率層形成用塗布組成物の反応を促進できず、逆に長すぎると設備が大きくなるなどの製造上の問題が生じてしまう。   The time during which the film is kept at the above-mentioned temperature after irradiation with ionizing radiation is preferably from 0.1 second to 300 seconds, more preferably from 0.1 second to 10 seconds from the end of irradiation with ionizing radiation. If the time for keeping the film surface temperature in the above-mentioned temperature range is too short, the reaction of the coating composition for forming a low refractive index layer that forms a film cannot be promoted. The above problem will occur.

(酸素濃度)
電離放射線照射時の酸素濃度は3体積%以下であることが好ましく、より好ましくは1%体積以下であり、更に好ましくは0.1%以下である。酸素濃度3体積%以下で電離放射線を照射する工程に対して、その直前又は直後に酸素濃度3体積%以下の雰囲気下で維持する工程を設けることにより、膜の硬化を十分に促進し、物理強度、耐薬品性に優れた皮膜を形成することができる。
(Oxygen concentration)
The oxygen concentration at the time of ionizing radiation irradiation is preferably 3% by volume or less, more preferably 1% by volume or less, and still more preferably 0.1% or less. In contrast to the step of irradiating with ionizing radiation at an oxygen concentration of 3% by volume or less, by providing a step of maintaining in an atmosphere at an oxygen concentration of 3% by volume immediately before or immediately after that, the curing of the film is sufficiently promoted, A film excellent in strength and chemical resistance can be formed.

酸素濃度を低下させる手段としては、大気(窒素濃度約79体積%、酸素濃度約21体積%)を別の不活性気体で置換することが好ましく、特に好ましくは窒素で置換(窒素パージ)することである。電離放射線を照射する工程の前に、低酸素濃度の雰囲気下で搬送を行うことによって、塗膜表面及び内部の酸素濃度を有効に低減することができ、硬化を促進することができる。電離放射線照射前の搬送工程における酸素濃度は3体積%以下であることが好ましく、より好ましくは1%体積以下であり、更に好ましくは0.1%以下である。   As a means for reducing the oxygen concentration, it is preferable to replace the atmosphere (nitrogen concentration of about 79% by volume, oxygen concentration of about 21% by volume) with another inert gas, and particularly preferably with nitrogen (nitrogen purge). It is. By carrying it in an atmosphere having a low oxygen concentration before the step of irradiating with ionizing radiation, the oxygen concentration inside the coating film surface and inside can be effectively reduced, and curing can be promoted. The oxygen concentration in the transport step before ionizing radiation irradiation is preferably 3% by volume or less, more preferably 1% volume or less, and still more preferably 0.1% or less.

(重合開始剤)
本発明の電離放射線硬化性化合物、及びその他の重合性化合物の重合は、光ラジカル開始剤又は熱ラジカル開始剤の存在下、電離放射線の照射又は加熱により行うことができる。
(Polymerization initiator)
Polymerization of the ionizing radiation curable compound of the present invention and other polymerizable compounds can be carried out by irradiation with ionizing radiation or heating in the presence of a photo radical initiator or a thermal radical initiator.

(光ラジカル開始剤)
光ラジカル重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類、芳香族スルホニウム類、ロフィンダイマー類、オニウム塩類、ボレート塩類、活性エステル類、活性ハロゲン類、無機錯体、クマリン類などが挙げられる。
(Photo radical initiator)
As radical photopolymerization initiators, acetophenones, benzoins, benzophenones, phosphine oxides, ketals, anthraquinones, thioxanthones, azo compounds, peroxides, 2,3-dialkyldione compounds, disulfide compounds , Fluoroamine compounds, aromatic sulfoniums, lophine dimers, onium salts, borate salts, active esters, active halogens, inorganic complexes, coumarins and the like.

アセトフェノン類の例には、2,2−ジメトキシアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、p−ジメチルアセトフェノン、1−ヒドロキシ−ジメチルフェニルケトン、1−ヒドロキシ−ジメチル−p−イソプロピルフェニルケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−4−メチルチオ−2−モルホリノプロピオフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン、4−フェノキシジクロロアセトフェノン、4−t−ブチル−ジクロロアセトフェノンなどが含まれる。   Examples of acetophenones include 2,2-dimethoxyacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, 1-hydroxy-dimethylphenylketone, 1-hydroxy-dimethyl-p-isopropylphenylketone, 1-hydroxy Cyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-4-methylthio-2-morpholinopropiophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone, 4-phenoxydichloroacetophenone, 4-t-butyl -Dichloroacetophenone and the like are included.

ベンゾイン類の例には、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンジルジメチルケタール、ベンゾインベンゼンスルホン酸エステル、ベンゾイントルエンスルホン酸エステル、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル及びベンゾインイソプロピルエーテルなどが含まれる。   Examples of benzoins include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzyl dimethyl ketal, benzoin benzene sulfonate, benzoin toluene sulfonate, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin isopropyl ether. included.

ベンゾフェノン類の例には、ベンゾフェノン、ヒドロキシベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルスルフィド、2,4−ジクロロベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノン及びp−クロロベンゾフェノン、4,4’−ジメチルアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、3,3’,4,4’−テトラ(t−ブチルペルオキシカルボニル)ベンゾフェノンなどが含まれる。   Examples of benzophenones include benzophenone, hydroxybenzophenone, 4-benzoyl-4'-methyldiphenyl sulfide, 2,4-dichlorobenzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone and p-chlorobenzophenone, 4,4'-dimethylaminobenzophenone (Michler ketone), 3,3 ′, 4,4′-tetra (t-butylperoxycarbonyl) benzophenone and the like are included.

ホスフィンオキシド類の例には、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキシドなどが含まれる。活性エステル類の例には1,2−オクタンジオン、1−[4−(フェニルチオ)−,2−(O−ベンゾイルオキシム)]、スルホン酸エステル類、環状活性エステル化合物などが含まれる。具体的には特開2000−80068号公報の実施例記載化合物1〜21が特に好ましい。   Examples of phosphine oxides include 2,4,6-trimethylbenzoyl diphenylphosphine oxide. Examples of active esters include 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio)-, 2- (O-benzoyloxime)], sulfonic acid esters, cyclic active ester compounds, and the like. Specifically, compounds described in Examples in JP-A No. 2000-80068 are particularly preferable.

オニウム塩類の例には、芳香族ジアゾニウム塩、芳香族ヨードニウム塩、芳香族スルホニウム塩が挙げられる。ボレート塩の例にはカチオン性色素とのイオンコンプレックス類が挙げられる。   Examples of the onium salts include aromatic diazonium salts, aromatic iodonium salts, and aromatic sulfonium salts. Examples of borate salts include ion complexes with cationic dyes.

活性ハロゲン類の例には、S−トリアジンやオキサチアゾール化合物が知られており、例えば2−(p−メトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロルメチル)−s−トリアジン、2−(p−メトキシフェニル)−4,6−ビス(トリクロルメチル)−s−トリアジン、2−(p−スチリルフェニル)−4,6−ビス(トリクロルメチル)−s−トリアジン、2−(3−Br−4−ジ(エチル酢酸エステル)アミノ)フェニル)−4,6−ビス(トリクロルメチル)−s−トリアジン、2−トリハロメチル−5−(p−メトキシフェニル)−1,3,4−オキサジアゾールが含まれる。具体的には特開昭58−15503号公報のp14〜p30、特開昭55−77742号公報のp6〜p10、特公昭60−27673号公報のp287記載のNo.1〜No.8、特開昭60−239736号公報のp443〜p444のNo.1〜No.17、米国特許第4701399号明細書のNo.1〜19などの化合物が特に好ましい。   Examples of active halogens include S-triazine and oxathiazole compounds, such as 2- (p-methoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (p- Methoxyphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (p-styrylphenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2- (3-Br-4- Di (ethyl acetate) amino) phenyl) -4,6-bis (trichloromethyl) -s-triazine, 2-trihalomethyl-5- (p-methoxyphenyl) -1,3,4-oxadiazole It is. Specifically, Nos. In p14 to p30 in JP-A-58-15503, p6-p10 in JP-A-55-77742, and p287 in JP-B-60-27673. 1-No. 8, No. pp. 443 to p444 of JP-A-60-239736. 1-No. 17, U.S. Pat. No. 4,701,399. Compounds such as 1-19 are particularly preferred.

無機錯体の例には、ビス(η−2,4−シクロペンタジエン−1−イル)−ビス[2,6−ジフルオロ−3−(1H−ピロール−1−イル)−フェニル]チタニウムが挙げられる。クマリン類の例には3−ケトクマリンが挙げられる。
これらの開始剤は単独でも混合して用いてもよい。
Examples of inorganic complexes include bis (η 5 -2,4-cyclopentadien-1-yl) -bis [2,6-difluoro-3- (1H-pyrrol-1-yl) -phenyl] titanium. . Examples of coumarins include 3-ketocoumarin.
These initiators may be used alone or in combination.

本発明において、分子量が高く塗膜から揮散しにくい化合物としては、オリゴマー型の重合開始剤が好ましい。オリゴマー型放射線重合開始剤としては、放射線照射により光ラジカルを発生する部位を有するものであれば、特に制限はない。熱処理による揮散防止のために、重合開始剤の分子量は250以上10,000以下が好ましく、更に好ましくは300以上10,000以下である。より好ましくは、その質量平均分子量が400〜10,000である。質量平均分子量が400以上であれば、揮散性が小さいので好ましく、10,000以下であれば、得られる硬化塗膜の硬度が十分なものとなるので好ましい。オリゴマー型放射線重合開始剤の具体例としては、下記一般式(5)に示すオリゴ[2−ヒドロキシ−2−メチル−1−{4−(1−メチルビニル)フェニル}プロパノン]を挙げることができる。
一般式(5):
In the present invention, an oligomer type polymerization initiator is preferred as the compound having a high molecular weight and hardly volatilizing from the coating film. The oligomer type radiation polymerization initiator is not particularly limited as long as it has a site that generates a photo radical upon irradiation. In order to prevent volatilization due to heat treatment, the molecular weight of the polymerization initiator is preferably 250 or more and 10,000 or less, more preferably 300 or more and 10,000 or less. More preferably, the mass average molecular weight is 400 to 10,000. A mass average molecular weight of 400 or more is preferable because of low volatility, and 10,000 or less is preferable because hardness of the resulting cured coating film is sufficient. Specific examples of the oligomer type radiation polymerization initiator include oligo [2-hydroxy-2-methyl-1- {4- (1-methylvinyl) phenyl} propanone] represented by the following general formula (5). .
General formula (5):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

上記一般式(5)中、R51は、一価の基、好ましくは一価の有機基、qは2〜45の整数をそれぞれ示す。 In the general formula (5), R 51 represents a monovalent group, preferably a monovalent organic group, and q represents an integer of 2 to 45.

上記一般式(5)に示すオリゴ[2−ヒドロキシ−2−メチル−1−{4−(1−メチルビニル)フェニル}プロパノン]の市販品としては、フラテツリ・ランベルティ社製商品名「エザキュアKIP150」(CAS−No.163702−01−0、q=4〜6)、「エザキュアKIP65LT」(「エザキュアKIP150」とトリプロピレングリコールジアクリレートの混合物)、「エザキュアKIP100F」(「エザキュアKIP150」と2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オンの混合物)、「エザキュアKT37」、「エザキュアKT55」(以上、「エザキュアKIP150」とメチルベンゾフェノン誘導体の混合物)、「エザキュアKTO46」(「エザキュアKIP150」、メチルベンゾフェノン誘導体、及び2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルホスフィンオキシドの混合物)、「エザキュアKIP75/B」(「エザキュアKIP150」と2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1オンの混合物)等を挙げることができる。   As a commercially available product of the oligo [2-hydroxy-2-methyl-1- {4- (1-methylvinyl) phenyl} propanone] represented by the general formula (5), trade name “Ezacure KIP150” manufactured by Fratelli Lamberti (CAS-No. 163702-01-0, q = 4-6), “Ezacure KIP65LT” (a mixture of “Ezacure KIP150” and tripropylene glycol diacrylate), “Ezacure KIP100F” (“Ezacure KIP150” and 2- Hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one), “Ezacure KT37”, “Ezacure KT55” (above, “Ezacure KIP150” and a mixture of methylbenzophenone derivatives), “Ezacure KTO46” (“Ezacure KIP150”) ”Methylbenzofu Non-derivative and a mixture of 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide), “Ezacure KIP75 / B” (a mixture of “Ezacure KIP150” and 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one), etc. Can be mentioned.

「最新UV硬化技術」{(株)技術情報協会}(1991年)、p.159、及び、「紫外線硬化システム」加藤清視著(平成元年、総合技術センター発行)、p.65〜148にも種々の例が記載されており本発明に有用である。   “Latest UV Curing Technology” {Technical Information Association, Inc.} (1991), p. 159, and “UV Curing System” written by Kiyomi Kato (published by the General Technology Center in 1989), p. Various examples are also described in 65-148 and are useful in the present invention.

市販の光開裂型の光ラジカル重合開始剤としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製の「イルガキュア651」、「イルガキュア184」、「イルガキュア819」、「イルガキュア907」、「イルガキュア1870」(CGI−403/Irg184=7/3混合開始剤)、「イルガキュア500」、「イルガキュア369」、「イルガキュア1173」、「イルガキュア2959」、「イルガキュア4265」、「イルガキュア4263」、“OXE01”等;日本化薬(株)製の「カヤキュアーDETX−S」、「カヤキュアーBP−100」、「カヤキュアーBDMK」、「カヤキュアーCTX」、「カヤキュアーBMS」、「カヤキュアー2−EAQ」、「カヤキュアーABQ」、「カヤキュアーCPTX」、「カヤキュアーEPD」、「カヤキュアーITX」、「カヤキュアーQTX」、「カヤキュアーBTC」、「カヤキュアーMCA」など;サートマー社製の“Esacure(KIP100F,KB1,EB3,BP,X33,KTO46,KT37,KIP150,TZT)”等、及びそれらの組み合わせが好ましい例として挙げられる。   Commercially available photocleavable photoradical polymerization initiators include “Irgacure 651”, “Irgacure 184”, “Irgacure 819”, “Irgacure 907”, “Irgacure 1870” (CGI) manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd. -403 / Irg184 = 7/3 mixed initiator), “Irgacure 500”, “Irgacure 369”, “Irgacure 1173”, “Irgacure 2959”, “Irgacure 4265”, “Irgacure 4263”, “OXE01”, etc .; “Kaya Cure DETX-S”, “Kaya Cure BP-100”, “Kaya Cure BDK”, “Kaya Cure CTX”, “Kaya Cure BMS”, “Kaya Cure 2-EAQ”, “Kaya Cure ABQ”, “Kaya Cure CPTX” manufactured by Yakuhin Co., Ltd. ”,“ Kaya "Sure EPD", "Kayacure ITX", "Kayacure QTX", "Kayacure BTC", "Kayacure MCA", etc .; Etc., and combinations thereof are preferred examples.

光重合開始剤は、電離放射線硬化性化合物100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。   It is preferable to use a photoinitiator in the range of 0.1-15 mass parts with respect to 100 mass parts of ionizing radiation-curable compounds, More preferably, it is the range of 1-10 mass parts.

光重合開始剤に加えて、光増感剤を用いてもよい。光増感剤の具体例として、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、ミヒラーケトン及びチオキサントンなどを挙げることができる。更にアジド化合物、チオ尿素化合物、メルカプト化合物などの助剤を1種以上組み合わせて用いてもよい。   In addition to the photopolymerization initiator, a photosensitizer may be used. Specific examples of the photosensitizer include n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine, Michler's ketone and thioxanthone. Further, one or more auxiliary agents such as an azide compound, a thiourea compound, and a mercapto compound may be used in combination.

市販の光増感剤としては、日本化薬(株)製の「カヤキュアー(DMBI,EPA)」などが挙げられる。   Examples of commercially available photosensitizers include “Kaya Cure (DMBI, EPA)” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.

(熱ラジカル開始剤)
熱ラジカル開始剤としては、有機又は無機過酸化物、有機アゾ及びジアゾ化合物等を用いることができる。
(Thermal radical initiator)
As the thermal radical initiator, organic or inorganic peroxides, organic azo, diazo compounds, and the like can be used.

具体的には、有機過酸化物として過酸化ベンゾイル、過酸化ハロゲンベンゾイル、過酸化ラウロイル、過酸化アセチル、過酸化ジブチル、クメンヒドロぺルオキシド、ブチルヒドロぺルオキシド、無機過酸化物として、過酸化水素、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム等、アゾ化合物として2,2’−アゾビス(イソブチロニトリル)、2,2’−アゾビス(プロピオニトリル)、1,1’−アゾビス(シクロヘキサンカルボニトリル)等、ジアゾ化合物としてジアゾアミノベンゼン、p−ニトロベンゼンジアゾニウム等が挙げられる。   Specifically, benzoyl peroxide, halogen benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, dibutyl peroxide, cumene hydroperoxide, butyl hydroperoxide as organic peroxides, hydrogen peroxide, peroxides as inorganic peroxides. Diazo compounds such as 2,2′-azobis (isobutyronitrile), 2,2′-azobis (propionitrile), 1,1′-azobis (cyclohexanecarbonitrile) as azo compounds such as ammonium sulfate and potassium persulfate And diazoaminobenzene, p-nitrobenzenediazonium and the like.

〔反射防止フイルムの層構成〕
本発明の反射防止フイルムは、透明な基材(支持体とも言う。)上に、必要に応じて、後述のハードコート層を有し、その上に光学干渉によって反射率が減少するように屈折率、膜厚、層の数、層順等を考慮して積層されている。反射防止フイルムは、最も単純な構成では、基材上に低屈折率層のみを塗設した構成である。更に反射率を低下させるには、反射防止層を、基材よりも屈折率の高い高屈折率層と、基材よりも屈折率の低い低屈折率層を組み合わせて構成することが好ましい。構成例としては、基材側から高屈折率層/低屈折率層の2層のものや、屈折率の異なる3層を、中屈折率層(基材又はハードコート層よりも屈折率が高く、高屈折率層よりも屈折率の低い層)/高屈折率層/低屈折率層の順に積層されているもの等があり、更に多くの反射防止層を積層するものも提案されている。中でも、耐久性、光学特性、コストや生産性等から、ハードコート層を有する基材上に、中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層の順に塗布することが好ましい。
[Layer structure of antireflection film]
The antireflection film of the present invention has a hard coat layer, which will be described later, on a transparent substrate (also referred to as a support), if necessary, and is refracted so that the reflectance decreases due to optical interference. The layers are laminated in consideration of the rate, film thickness, number of layers, layer order, and the like. In the simplest configuration, the antireflection film has a configuration in which only a low refractive index layer is coated on a substrate. In order to further reduce the reflectance, the antireflection layer is preferably constituted by combining a high refractive index layer having a higher refractive index than that of the base material and a low refractive index layer having a lower refractive index than that of the base material. Examples of configurations include two layers of a high refractive index layer / low refractive index layer from the base material side, and three layers having different refractive indices, a medium refractive index layer (having a higher refractive index than the base material or the hard coat layer). , A layer having a refractive index lower than that of a high refractive index layer) / a layer having a high refractive index / a layer having a low refractive index, and the like. Especially, it is preferable to apply | coat in order of a middle refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer on the base material which has a hard-coat layer from durability, an optical characteristic, cost, productivity, etc.

本発明の反射防止フイルムの好ましい層構成の例を下記に示す。下記構成において基材フイルムは、フイルムで構成された支持体を指している。
・基材フイルム/低屈折率層、
・基材フイルム/帯電防止層/低屈折率層、
・基材フイルム/防眩層/低屈折率層、
・基材フイルム/防眩層/帯電防止層/低屈折率層
・基材フイルム/ハードコート層/防眩層/低屈折率層、
・基材フイルム/ハードコート層/防眩層/帯電防止層/低屈折率層
・基材フイルム/ハードコート層/帯電防止層/防眩層/低屈折率層
・基材フイルム/ハードコート層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/ハードコート層/帯電防止層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/防眩層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/帯電防止層/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・帯電防止層/基材フイルム/ハードコート層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・基材フイルム/帯電防止層/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・帯電防止層/基材フイルム/防眩層/中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層、
・帯電防止層/基材フイルム/防眩層/高屈折率層/低屈折率層/高屈折率層/低屈折率層。
An example of a preferred layer structure of the antireflection film of the present invention is shown below. In the following configuration, the base film refers to a support composed of a film.
・ Base film / low refractive index layer,
・ Base film / Antistatic layer / Low refractive index layer,
・ Base film / Anti-glare layer / Low refractive index layer,
・ Base film / Anti-glare layer / Antistatic layer / Low refractive index layer ・ Base film / Hard coat layer / Anti-glare layer / Low refractive index layer,
・ Base film / hard coat layer / antiglare layer / antistatic layer / low refractive index layer ・ Base film / hard coat layer / antistatic layer / antiglare layer / low refractive index layer ・ Base film / hard coat layer / High refractive index layer / Low refractive index layer,
・ Base film / hard coat layer / antistatic layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
・ Base film / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
・ Base film / Anti-glare layer / High refractive index layer / Low refractive index layer,
Base film / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Base film / antistatic layer / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / base film / hard coat layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Base film / antistatic layer / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / base film / antiglare layer / medium refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer,
Antistatic layer / base film / antiglare layer / high refractive index layer / low refractive index layer / high refractive index layer / low refractive index layer.

本発明の反射防止フイルムは、光学干渉により反射率を低減できるものであれば、特にこれらの層構成のみに限定されるものではない。
高屈折率層は防眩性のない光拡散性層であってもよい。
また、帯電防止層は導電性ポリマー粒子又は金属酸化物微粒子(例えば、ATO、ITO)を含む層であることが好ましく、塗布又は大気圧プラズマ処理等によって設けることができる。防汚層を設ける場合は、上記構成の最上層に設けることができる。
The antireflection film of the present invention is not particularly limited to these layer configurations as long as the reflectance can be reduced by optical interference.
The high refractive index layer may be a light diffusing layer having no antiglare property.
The antistatic layer is preferably a layer containing conductive polymer particles or metal oxide fine particles (for example, ATO, ITO), and can be provided by coating or atmospheric pressure plasma treatment. When providing an antifouling layer, it can be provided in the uppermost layer of the above-mentioned configuration.

〔高屈折率層〕
本発明には高屈折率層を設けることが好ましい。高屈折率層は、例えば、バインダー、防眩性を付与するためのマット粒子、及び高屈折率化、架橋収縮防止、高強度化のための無機フィラーから形成されることができる。
(High refractive index layer)
In the present invention, it is preferable to provide a high refractive index layer. The high refractive index layer can be formed from, for example, a binder, mat particles for imparting antiglare properties, and an inorganic filler for increasing the refractive index, preventing crosslinking shrinkage, and increasing the strength.

[マット粒子]
高屈折率層には、防眩性付与の目的で、無機フィラー粒子より大きく、平均粒径が好ましくは0.1〜5.0μm、より好ましくは1.5〜3.5μmのマット粒子、例えば無機化合物の粒子又は樹脂粒子が含有させることができる。マット粒子とバインダー間の屈折率差は、フイルムの白濁防止と、光拡散効果のよさの観点から、0.02〜0.20であることが好ましく、0.04〜0.10であることが特に好ましい。マット粒子のバインダーに対する添加量も、屈折率と同様の観点から、3〜30質量%であることが好ましく、5〜20質量%であることが特に好ましい。
[Matte particles]
For the purpose of imparting antiglare properties, the high refractive index layer is larger than the inorganic filler particles, and preferably has an average particle size of 0.1 to 5.0 μm, more preferably 1.5 to 3.5 μm, for example, Inorganic compound particles or resin particles may be contained. The refractive index difference between the matte particles and the binder is preferably 0.02 to 0.20, and preferably 0.04 to 0.10, from the viewpoint of preventing the film from becoming cloudy and having good light diffusion effect. Particularly preferred. The addition amount of the mat particles to the binder is preferably 3 to 30% by mass, particularly preferably 5 to 20% by mass, from the same viewpoint as the refractive index.

上記マット粒子の具体例としては、例えばシリカ粒子、TiO粒子等の無機化合物の粒子;アクリル粒子、架橋アクリル粒子、ポリスチレン粒子、架橋スチレン粒子、メラミン樹脂粒子、ベンゾグアナミン樹脂粒子等の樹脂粒子が好ましく挙げられる。なかでも架橋スチレン粒子、架橋アクリル粒子、シリカ粒子が好ましい。
マット粒子の形状は、真球又は不定形のいずれも使用できる。
As specific examples of the mat particles, particles of inorganic compounds such as silica particles and TiO 2 particles; resin particles such as acrylic particles, crosslinked acrylic particles, polystyrene particles, crosslinked styrene particles, melamine resin particles, and benzoguanamine resin particles are preferable. Can be mentioned. Of these, crosslinked styrene particles, crosslinked acrylic particles, and silica particles are preferred.
As the shape of the mat particle, either a true sphere or an indefinite shape can be used.

異なる2種以上のマット粒子を併用して用いてもよい。
2種類以上のマット粒子を用いる場合には、両者の混合による屈折率制御を効果的に発揮するため、屈折率の差が0.02以上、0.10以下であることが好ましく、0.03以上、0.07以下であることが特に好ましい。
Two or more different kinds of mat particles may be used in combination.
When two or more kinds of mat particles are used, the refractive index difference is preferably 0.02 or more and 0.10 or less in order to effectively exert the refractive index control by mixing the two. As mentioned above, it is especially preferable that it is 0.07 or less.

またより大きな粒子径のマット粒子で防眩性を付与し、より小さな粒子径のマット粒子で別の光学特性を付与することが可能である。例えば、133ppi以上の高精細ディスプレイに反射防止フイルムを貼り付けた場合に、ギラツキと呼ばれる光学性能上の不具合のないことが要求される。ギラツキは、フイルム表面に存在する凹凸(防眩性に寄与)により、画素が拡大もしくは縮小され、輝度の均一性を失うことに由来するが、防眩性を付与するマット粒子より小さな粒子径で、バインダーの屈折率と異なるマット粒子を併用することにより大きく改善することができる。   Further, it is possible to impart an antiglare property with mat particles having a larger particle size and to impart another optical characteristic with mat particles having a smaller particle size. For example, when an antireflection film is attached to a high-definition display of 133 ppi or more, it is required that there is no optical performance defect called glare. Glitter is derived from the fact that the unevenness (contributing to anti-glare properties) present on the film surface causes the pixels to be enlarged or reduced, resulting in loss of brightness uniformity, but with a particle size smaller than the matte particles that impart anti-glare properties. It can be greatly improved by using mat particles having a different refractive index from the binder.

さらに、上記マット粒子の粒子径分布としては単分散であることが最も好ましく、各粒子の粒子径は、それぞれ同一に近ければ近いほどよい。例えば、平均粒子径よりも20%以上粒子径が大きな粒子を「粗大粒子」と定義した場合には、この粗大粒子の割合は、全粒子数の1%以下であることが好ましく、より好ましくは0.1%以下であり、さらに好ましくは0.01%以下である。このような粒子径分布を持つマット粒子は通常の合成反応後に、分級によって得られ、分級の回数を上げることやその程度を強くすることにより、より好ましい分布のマット剤を得ることができる。   Further, the particle size distribution of the mat particles is most preferably monodispersed, and the particle sizes of the particles are preferably closer to each other. For example, when a particle having a particle size 20% or more larger than the average particle size is defined as “coarse particle”, the ratio of the coarse particle is preferably 1% or less of the total number of particles, more preferably It is 0.1% or less, more preferably 0.01% or less. Matt particles having such a particle size distribution are obtained by classification after a normal synthesis reaction, and a matting agent having a more preferable distribution can be obtained by increasing the number of classifications or increasing the degree of classification.

上記マット粒子は、形成された高屈折率層中のマット粒子量が、好ましくは10〜1000mg/m、より好ましくは100〜700mg/mとなるように高屈折率層に含有される。 The mat particles are contained in the high refractive index layer so that the amount of mat particles in the formed high refractive index layer is preferably 10 to 1000 mg / m 2 , more preferably 100 to 700 mg / m 2 .

マット粒子の粒度分布は、コールターカウンター法により測定し、測定された分布を粒子数分布に換算する。   The particle size distribution of the mat particles is measured by a Coulter counter method, and the measured distribution is converted into a particle number distribution.

[高屈折率粒子]
高屈折率層には、層の屈折率を高めるため、及び硬化収縮を低減するために、上記のマット粒子に加えて、チタン、ジルコニウム、アルミニウム、インジウム、亜鉛、錫、アンチモンのうちより選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物からなり、平均粒径が好ましくは0.2μm以下、より好ましくは0.1μm以下、さらに好ましくは0.06μm以下である無機フィラーが含有されることが好ましい。
[High refractive index particles]
The high refractive index layer is selected from titanium, zirconium, aluminum, indium, zinc, tin, and antimony, in addition to the above mat particles, in order to increase the refractive index of the layer and to reduce cure shrinkage. It is preferable to contain an inorganic filler composed of an oxide of at least one metal and having an average particle size of preferably 0.2 μm or less, more preferably 0.1 μm or less, and still more preferably 0.06 μm or less.

また、マット粒子との屈折率差を大きくするために、高屈折率マット粒子を用いた高屈折率層では層の屈折率を低目に保つためにケイ素の酸化物を用いることも好ましい。好ましい粒径は前述の低屈折率層に用いられる無機微粒子と同じである。   In order to increase the difference in refractive index from the mat particles, it is also preferable to use a silicon oxide in order to keep the refractive index of the layer low in the high refractive index layer using the high refractive index mat particles. The preferred particle size is the same as that of the inorganic fine particles used in the low refractive index layer.

[無機フィラー]
高屈折率層に用いられる無機フィラーの具体例としては、TiO、ZrO、Al、In、ZnO、SnO、Sb、ITOとSiO等が挙げられる。TiO及びZrOが高屈折率化の点で特に好ましい。該無機フィラーは、表面をシランカップリング処理又はチタンカップリング処理されることも好ましく、フィラー表面にバインダー種と反応できる官能基を有する表面処理剤が好ましく用いられる。
[Inorganic filler]
Specific examples of the inorganic filler used for the high refractive index layer include TiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , In 2 O 3 , ZnO, SnO 2 , Sb 2 O 3 , ITO and SiO 2 . TiO 2 and ZrO 2 are particularly preferable in terms of increasing the refractive index. The surface of the inorganic filler is preferably subjected to silane coupling treatment or titanium coupling treatment, and a surface treatment agent having a functional group capable of reacting with a binder species on the filler surface is preferably used.

これらの無機フィラーの添加量は、高屈折率層の全質量の10〜90%であることが好ましく、より好ましくは20〜80%であり、特に好ましくは30〜70%である。   The amount of these inorganic fillers added is preferably 10 to 90% of the total mass of the high refractive index layer, more preferably 20 to 80%, and particularly preferably 30 to 70%.

なお、このようなフィラーは、粒径が光の波長よりも十分小さいために散乱が生じず、バインダーポリマーに該フィラーが分散した分散体は、光学的に均一な物質として振舞う。   In addition, since such a filler has a particle size sufficiently smaller than the wavelength of light, scattering does not occur, and a dispersion in which the filler is dispersed in a binder polymer behaves as an optically uniform substance.

本発明の高屈折率層のバインダー及び無機フィラーの混合物のバルクの屈折率は、1.48〜2.00であることが好ましく、より好ましくは1.50〜1.80である。屈折率を上記範囲とするには、バインダー及び無機フィラーの種類及び量割合を適宜選択すればよい。どのように選択するかは、予め実験的に容易に知ることができる。   The bulk refractive index of the mixture of the binder and the inorganic filler of the high refractive index layer of the present invention is preferably 1.48 to 2.00, more preferably 1.50 to 1.80. In order to make the refractive index within the above range, the kind and amount ratio of the binder and the inorganic filler may be appropriately selected. How to select can be easily known experimentally in advance.

〔ハードコート層〕
ハードコート層は、反射防止フイルムに物理強度を付与するために、必要に応じて、支持体の表面に設けるものである。特に、支持体と上記高屈折率層(又は中屈折率層)の間に設けることが好ましい。またハードコート層は、層中に上記の高屈折率粒子などを含有させることにより、高屈折率層を兼ねることもできる。
[Hard coat layer]
The hard coat layer is provided on the surface of the support as necessary in order to impart physical strength to the antireflection film. In particular, it is preferably provided between the support and the high refractive index layer (or medium refractive index layer). The hard coat layer can also serve as a high refractive index layer by containing the above high refractive index particles in the layer.

ハードコート層は、電離放射線硬化性樹脂の架橋反応、又は重合反応により形成されることが好ましい。例えば、電離放射線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーを含む塗布組成物を支持体上に塗布し、多官能モノマーや多官能オリゴマーを架橋反応、又は重合反応させることにより形成することができる。   The hard coat layer is preferably formed by a crosslinking reaction or a polymerization reaction of an ionizing radiation curable resin. For example, it can be formed by coating a coating composition containing an ionizing radiation-curable polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer on a support and causing the polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer to undergo a crosslinking reaction or a polymerization reaction.

またハードコート層は、上記の高屈折率層と同様、マット粒子や無機フィラーを、同様の量範囲で用いることができる。   Further, the hard coat layer can use mat particles and inorganic fillers in the same amount range as in the high refractive index layer.

このようにして形成された本発明の反射防止フイルムは、ヘイズ値が好ましくは3〜70%、より好ましくは4〜60%の範囲にあり、そして450nmから650nmの平均反射率が好ましくは3.0%以下、より好ましくは2.5%以下である。本発明の光学反射防止が、これらの範囲のヘイズ値及び平均反射率であることにより、透過画像の劣化を伴なわずに良好な防眩性及び反射防止性が得られる。   The antireflection film of the present invention thus formed has a haze value of preferably 3 to 70%, more preferably 4 to 60%, and an average reflectance of 450 nm to 650 nm, preferably 3. It is 0% or less, more preferably 2.5% or less. When the optical antireflection of the present invention has a haze value and an average reflectance in these ranges, good antiglare and antireflection properties can be obtained without deteriorating the transmitted image.

[面状改良剤]
支持体上のいずれかの層を作製するのに用いる塗布液には、面状故障(塗布ムラ、乾燥ムラ、点欠陥など)を改良するために、フッ素系及びシリコーン系の少なくともいずれかの面状改良剤を添加することが好ましい。
[Surface improver]
The coating liquid used to produce any layer on the support has at least one of fluorine and silicone surfaces to improve surface defects (coating irregularities, drying irregularities, point defects, etc.) It is preferable to add a state improver.

面状改良剤は、塗布液の表面張力を1mN/m以上変化させることが好ましい。ここで、塗布液の表面張力が1mN/m以上変化するとは、面状改良剤を添加後の塗布液の表面張力が、塗布/乾燥時での濃縮過程を含めて、面状改良剤を添加してない塗布液の表面張力と比較して、1mN/m以上変化することを意味する。好ましくは、塗布液の表面張力を1mN/m以上下げる効果がある面状改良剤であり、更に好ましく2mN/m以上下げる面状改良剤、特に好ましくは3mN/m以上下げる面状改良剤である。   The surface improver preferably changes the surface tension of the coating solution by 1 mN / m or more. Here, when the surface tension of the coating liquid changes by 1 mN / m or more, the surface tension of the coating liquid after the addition of the surface conditioner is added, including the concentration process during coating / drying. It means that it changes by 1 mN / m or more as compared with the surface tension of the coating liquid that has not been applied. Preferably, it is a surface conditioner that has the effect of lowering the surface tension of the coating solution by 1 mN / m or more, more preferably a surface conditioner that lowers by 2 mN / m or more, and particularly preferably a surface conditioner that lowers by 3 mN / m or more. .

フッ素系の面状改良剤の好ましい例としては、フルオロ脂肪族基を含有する化合物(「フッ素系面状改良剤」と略記する)が挙げられる。特に、下記一般式(6)のモノマーに相当する繰り返し単位、及び、下記一般式(7)のモノマーに相当する繰り返し単位を含むアクリル樹脂、メタアクリル樹脂、及びこれらに共重合可能なビニル系モノマーとの共重合体が好ましい。   Preferable examples of the fluorine-based surface improving agent include compounds containing a fluoroaliphatic group (abbreviated as “fluorine surface improving agent”). In particular, an acrylic resin, a methacrylic resin, and a vinyl monomer copolymerizable with the repeating unit corresponding to the monomer of the following general formula (6) and the repeating unit corresponding to the monomer of the following general formula (7) And a copolymer are preferred.

このような単量体としては、“Polymer Handbook”,第2版,J.Brandrup,Wiley lnterscience(1975)刊、第2章,P.1〜483記載のものを用いることが好ましい。   Such monomers include “Polymer Handbook”, 2nd edition, J. MoI. Brandrup, Wiley lnterscience (1975), Chapter 2, P.I. It is preferable to use those described in 1-483.

具体的には、例えばアクリル酸、メタクリル酸、アクリル酸エステル類、メタクリル酸エステル類、アクリルアミド類、メタクリルアミド類、アリル化合物、ビニルエーテル類、ビニルエステル類等から選ばれる、付加重合性不飽和結合を1個有する化合物等をあげることができる。   Specifically, for example, an addition polymerizable unsaturated bond selected from acrylic acid, methacrylic acid, acrylic esters, methacrylic esters, acrylamides, methacrylamides, allyl compounds, vinyl ethers, vinyl esters, etc. Examples thereof include compounds having one compound.

一般式(6):   General formula (6):

Figure 0005049542
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一般式(6)において、R61は水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、水素原子、メチル基が好ましい。U61は酸素原子、イオウ原子又は−N(R62)−を表し、酸素原子又は−N(R62)−が好ましく、酸素原子がより好ましい。R62は水素原子又は炭素数1〜8のアルキル基を表し、好ましくは水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基、より好ましくは水素原子又はメチル基である。aは1〜6の整数を表し、1〜3が好ましく、1であることがより好ましい。bは1〜18の整数を表し、4〜12が好ましく、6〜8がより好ましい。 In the general formula (6), R 61 represents a hydrogen atom, a halogen atom or a methyl group, preferably a hydrogen atom or a methyl group. U 61 represents an oxygen atom, a sulfur atom or —N (R 62 ) —, preferably an oxygen atom or —N (R 62 ) —, and more preferably an oxygen atom. R 62 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom or a methyl group. a represents an integer of 1 to 6, preferably 1 to 3, and more preferably 1. b represents an integer of 1 to 18, preferably 4 to 12, and more preferably 6 to 8.

フッ素系面状改良剤中には、一般式(6)で表されるフルオロ脂肪族基含有モノマーが2種類以上構成成分として含まれていてもよい。   Two or more types of fluoroaliphatic group-containing monomers represented by the general formula (6) may be contained in the fluorine-based surface improver as a constituent component.

一般式(7):   General formula (7):

Figure 0005049542
Figure 0005049542

一般式(7)において、R71は水素原子、ハロゲン原子又はメチル基を表し、水素原子、メチル基が好ましい。U71は酸素原子、イオウ原子又は−N(R73)−を表し、酸素原子又は−N(R73)−が好ましく、酸素原子がより好ましい。R73は水素原子又は炭素数1〜8のアルキル基を表し、好ましくは水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基、より好ましくは水素原子又はメチル基である。 In the general formula (7), R 71 represents a hydrogen atom, a halogen atom or a methyl group, preferably a hydrogen atom or a methyl group. U 71 represents an oxygen atom, a sulfur atom or —N (R 73 ) —, preferably an oxygen atom or —N (R 73 ) —, and more preferably an oxygen atom. R 73 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom or a methyl group.

72は水素原子、置換もしくは無置換の炭素数1〜20の直鎖、分岐もしくは環状のアルキル基、ポリ(アルキレンオキシ)基を含むアルキル基、又は置換もしくは無置換の芳香族基(例えば、フェニル基又はナフチル基)を表す。炭素数1〜12の直鎖、分岐もしくは環状のアルキル基、又は総炭素数6〜18の芳香族が好ましく、炭素数1〜8の直鎖、分岐もしくは環状のアルキル基がより好ましい。 R 72 represents a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, an alkyl group containing a poly (alkyleneoxy) group, or a substituted or unsubstituted aromatic group (for example, A phenyl group or a naphthyl group). A linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or an aromatic group having 6 to 18 carbon atoms in total is preferable, and a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 8 carbon atoms is more preferable.

以下でポリ(アルキレンオキシ)基について説明する。
ポリ(アルキレンオキシ)基については、ポリ(オキシアルキレン)基とも呼ぶ。
ポリ(アルキレンオキシ)基は、−(OR)−を繰り返し単位とした基であり、Rは2〜4個の炭素原子を有するアルキレン基、例えば−CHCH−、−CHCHCH−、−CH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−が挙げられる。
The poly (alkyleneoxy) group will be described below.
A poly (alkyleneoxy) group is also called a poly (oxyalkylene) group.
Poly (alkyleneoxy) group, - (OR) - a group in which a repeating unit, R represents an alkylene group having 2 to 4 carbon atoms, such as -CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH (CH 3 ) CH 2 -, - CH (CH 3) CH (CH 3) - and the like.

上記のポリ(オキシアルキレン)基中のオキシアルキレン単位(上記−OR−)は、ポリ(オキシプロピレン)におけるように同一であってもよく、また互いに異なる2種以上のオキシアルキレンが不規則に分布されたものであってもよい。該オキシアルキレン単位は、直鎖もしくは分岐状のオキシプロピレン又はオキシエチレン単位であってもよく、また直鎖もしくは分岐状のオキシプロピレン単位のブロック又はオキシエチレン単位のブロックのように存在するものであってもよい。   The oxyalkylene units in the poly (oxyalkylene) group (-OR-) may be the same as in poly (oxypropylene), and two or more different oxyalkylenes are randomly distributed. It may be what was done. The oxyalkylene unit may be a linear or branched oxypropylene or oxyethylene unit, and is present as a linear or branched oxypropylene unit block or an oxyethylene unit block. May be.

このポリ(オキシアルキレン)鎖は1つ又はそれ以上の連鎖結合(例えば−CONH−Ph−NHCO−、−S−など:Phはフェニレン基を表す)で連結されたものも含むことができる。連鎖の結合が3つ又はそれ以上の原子価を有する場合には、これは分岐鎖のオキシアルキレン単位を得るための手段を供する。またこの共重合体を本発明に用いる場合には、ポリ(オキシアルキレン)基の分子量は250〜3000が適当である。   The poly (oxyalkylene) chain may also include those linked by one or more chain bonds (for example, —CONH—Ph—NHCO—, —S—, etc .: Ph represents a phenylene group). If the chain bond has a valence of 3 or more, this provides a means for obtaining branched oxyalkylene units. When this copolymer is used in the present invention, the molecular weight of the poly (oxyalkylene) group is suitably from 250 to 3,000.

ポリ(オキシアルキレン)アクリレート及びメタクリレートは、市販のヒドロキシポリ(オキシアルキレン)材料、例えば商品名「プルロニック」{旭電化工業(株)製}、「アデカポリエーテル」{旭電化工業(株)製}、「カルボワックス」(グリコ・プロダクス製)、「トリトン(Toriton)」(ローム・アンド・ハース製)及び“P.E.G”{第一工業製薬(株)製}として販売されているものを公知の方法で、アクリル酸、メタクリル酸、アクリルクロリド、メタクリルクロリド又は無水アクリル酸等と反応させることによって製造できる。別に、公知の方法で製造したポリ(オキシアルキレン)ジアクリレート等を用いることもできる。   Poly (oxyalkylene) acrylates and methacrylates are commercially available hydroxypoly (oxyalkylene) materials such as “Pluronic” (manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.), “Adeka Polyether” {manufactured by Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.} , "Carvowax" (manufactured by Glico Products), "Torton" (manufactured by Rohm and Haas) and "PEG" (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.) Can be produced by a known method by reacting with acrylic acid, methacrylic acid, acrylic chloride, methacrylic chloride or acrylic acid anhydride. Separately, poly (oxyalkylene) diacrylate produced by a known method can also be used.

本発明で用いられるフッ素系面状改良剤において、フッ素系面状改良剤の形成に用いられる全モノマー量に対する、一般式(6)で示されるフルオロ脂肪族基含有モノマーの量が50モル%以上であることが好ましく、より好ましくは70〜100モル%であり、特に好ましくは80〜100モル%の範囲である。   In the fluorine-based surface improver used in the present invention, the amount of the fluoroaliphatic group-containing monomer represented by the general formula (6) is 50 mol% or more with respect to the total amount of monomers used for forming the fluorine-based surface improver. More preferably, it is 70-100 mol%, Most preferably, it is the range of 80-100 mol%.

本発明で用いられるフッ素系面状改良剤の好ましい質量平均分子量は、3000〜100,000が好ましく、6,000〜80,000がより好ましく、8,000〜60,000が更に好ましい。ここで、質量平均分子量は、“TSKgel GMHxL”、“TSKgel G4000HxL”、“TSKgel G2000HxL”{何れも東ソー(株)製の商品名}のカラムを使用したGPC分析装置により、溶媒THF、示差屈折計検出によるポリスチレン換算で表した分子量であり、含有量は、分子量が300以上の成分のピーク面積を100%とした場合の、前記分子量範囲のピークの面積%である。   The preferred weight average molecular weight of the fluorine-based surface improver used in the present invention is preferably 3000 to 100,000, more preferably 6,000 to 80,000, and still more preferably 8,000 to 60,000. Here, the mass average molecular weight was determined using a GPC analyzer using a column of “TSKgel GMHxL”, “TSKgel G4000HxL”, “TSKgel G2000HxL” (both trade names manufactured by Tosoh Corporation), a solvent THF, a differential refractometer The molecular weight is expressed in terms of polystyrene by detection, and the content is the area% of the peak in the molecular weight range when the peak area of a component having a molecular weight of 300 or more is defined as 100%.

更に、本発明で用いられるフッ素系面状改良剤の好ましい添加量は、添加する層の塗布液に対して0.001〜5質量%の範囲であり、好ましくは0.005〜3質量%の範囲であり、更に好ましくは0.01〜1質量%の範囲である。   Furthermore, the preferable addition amount of the fluorine-type surface conditioner used by this invention is the range of 0.001-5 mass% with respect to the coating liquid of the layer to add, Preferably it is 0.005-3 mass%. It is a range, More preferably, it is the range of 0.01-1 mass%.

以下、本発明に有用なフッ素系面状改良剤の具体的な構造の例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお式中の数字は各モノマー成分のモル比率を示す。Mwは質量平均分子量を表す。   Hereinafter, although the example of the concrete structure of a fluorine-type surface improvement agent useful for this invention is shown, this invention is not limited to these. In addition, the number in a formula shows the molar ratio of each monomer component. Mw represents a mass average molecular weight.

Figure 0005049542
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本発明に有用な面状改良剤は、ケトン系溶媒(アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなど)、エステル系溶媒(酢酸エチル、酢酸ブチル等)、エーテル類(テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン等)、芳香族炭化水素系溶媒(トルエン、キシレン等)を含有する塗布液に用いることが好ましい。特に、ケトン系溶媒が好ましい。ケトン系溶媒の中でも、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンが好ましい。   Surface improvers useful in the present invention include ketone solvents (acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, etc.), ester solvents (ethyl acetate, butyl acetate, etc.), ethers (tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, etc.) ) And a coating solution containing an aromatic hydrocarbon solvent (toluene, xylene, etc.). In particular, a ketone solvent is preferable. Among the ketone solvents, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone are preferable.

面状改良剤は、層と層の界面の密着性を悪化させることがある。従って、層の表面に存在する面状改良剤を、該層の隣接層を形成する塗布液中に溶出させて、層と層の界面近傍に面状改良剤が残らないようにすることが好ましい。そのため、隣接層の塗布液中に面状改良剤を溶解する溶媒を含有させることが好ましい。そのような溶媒としては、上記ケトン系溶媒が好ましい。   A planarity improving agent may worsen the adhesiveness of the interface of a layer. Therefore, it is preferable to elute the surface improver present on the surface of the layer into the coating solution for forming the adjacent layer of the layer so that the surface improver does not remain in the vicinity of the interface between the layers. . Therefore, it is preferable to include a solvent that dissolves the planarity improving agent in the coating solution of the adjacent layer. As such a solvent, the above ketone solvents are preferable.

支持体上に形成する層の塗布液において、面状改良剤を添加するのが特に好ましいのは、ハードコート層、防眩性ハードコート層、帯電防止層、高屈折率層、低屈折率層を形成するための塗布液であり、特に好ましいのはハードコート層、防眩性ハードコート層、を形成するための塗布液である。   In the coating solution for the layer formed on the support, it is particularly preferable to add a surface conditioner to a hard coat layer, an antiglare hard coat layer, an antistatic layer, a high refractive index layer, or a low refractive index layer. A coating solution for forming a hard coat layer and an antiglare hard coat layer is particularly preferred.

〔支持体〕
本発明の反射防止フイルムの支持体としては、プラスチックフィルムを用いることが好ましい。プラスチックフィルムを形成するポリマーとしては、セルロースエステル{例えば、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、代表的には富士写真フイルム(株)製“TAC−TD80U”、“TAC−TD80UF”等}、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリエステル(例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等)、ポリスチレン、ポリオレフィン、ノルボルネン系樹脂{「アートン」(商品名)、JSR(株)製}、非晶質ポリオレフィン{「ゼオネックス」(商品名)、日本ゼオン(株)製}などが挙げられる。このうちトリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、が好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。また、ジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないセルロースアシレートフィルム及びその製造法については発明協会公開技報(公技番号2001−1745、2001年3月15日発行、以下公開技報2001−1745号と略す)に記載されており、ここに記載されたセルロースアシレートも本発明に好ましく用いることができる。
[Support]
A plastic film is preferably used as the support of the antireflection film of the present invention. As a polymer for forming a plastic film, cellulose ester {for example, triacetylcellulose, diacetylcellulose, typically “TAC-TD80U”, “TAC-TD80UF”, etc., manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.}, polyamide, polycarbonate, Polyester (for example, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, etc.), polystyrene, polyolefin, norbornene resin {“Arton” (trade name), manufactured by JSR Corporation}, amorphous polyolefin {“ZEONEX” (trade name), Japan ZEON Co., Ltd.}. Of these, triacetyl cellulose, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate are preferable, and triacetyl cellulose is particularly preferable. In addition, a cellulose acylate film substantially free from halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and a method for producing the same are disclosed in the JIII Journal of Technical Disclosure (Publication No. 2001-1745, published on March 15, 2001, the following publication of technical publications). The cellulose acylate described here can also be preferably used in the present invention.

[鹸化処理]
本発明の反射防止フイルムを液晶表示装置に用いる場合、通常、片面に粘着層を設けるなどしてディスプレイの最表面に配置する。該支持体が例えばトリアセチルセルロースの場合は、偏光板の偏光膜を保護する保護フイルムとしてトリアセチルセルロースを用いることができるため、本発明の反射防止フイルムをそのまま保護フイルムに用いることがコストの点から好ましい。
[Saponification]
When the antireflection film of the present invention is used in a liquid crystal display device, it is usually disposed on the outermost surface of the display by providing an adhesive layer on one side. When the support is, for example, triacetyl cellulose, triacetyl cellulose can be used as a protective film for protecting the polarizing film of the polarizing plate. Therefore, it is costly to use the antireflection film of the present invention as it is for the protective film. To preferred.

上記のように、本発明の反射防止フイルムをディスプレイの最表面に配置したり、そのまま偏光板用保護フイルムとして使用する場合には、接着性を向上させるため、支持体上に低屈折率層を形成した後、鹸化処理を実施することが好ましい。   As described above, when the antireflection film of the present invention is disposed on the outermost surface of the display or used as it is as a protective film for a polarizing plate, a low refractive index layer is provided on the support in order to improve adhesion. It is preferable to carry out a saponification treatment after the formation.

鹸化処理は、公知の手法、例えば本発明の反射防止フイルムを、アルカリ液の中に適切な時間浸漬することにより実施される。アルカリ液に浸漬した後は、該フィルムの中にアルカリ成分が残留しないように、水で十分に水洗したり、希薄な酸に浸漬してアルカリ成分を中和したりすることが好ましい。鹸化処理することにより、最外層を有する側とは反対側の支持体の表面が親水化される。   The saponification treatment is carried out by a known method, for example, by immersing the antireflection film of the present invention in an alkaline solution for an appropriate time. After being immersed in the alkali solution, it is preferable to wash the substrate sufficiently with water or neutralize the alkali component by immersing in a dilute acid so that the alkali component does not remain in the film. By performing the saponification treatment, the surface of the support opposite to the side having the outermost layer is hydrophilized.

親水化された表面は、ポリビニルアルコールを主成分とする偏光膜との接着性を改良するのに特に有効である。また、親水化された表面は、空気中の塵埃が付着しにくくなるため、偏光膜と接着させる際に偏光膜と反射防止フイルムの間に塵埃が入りにくく、塵埃による点欠陥を防止するのに有効である。   The hydrophilized surface is particularly effective for improving the adhesion with a polarizing film containing polyvinyl alcohol as a main component. In addition, the hydrophilic surface makes it difficult for dust in the air to adhere to it, so that it is difficult for dust to enter between the polarizing film and the antireflection film when it is bonded to the polarizing film, thereby preventing point defects due to dust. It is valid.

鹸化処理は、最外層を有する側とは反対側の支持体の表面の、水に対する接触角が40゜以下になるように実施することが好ましい。更に好ましくは30゜以下、特に好ましくは20゜以下である。   The saponification treatment is preferably carried out so that the contact angle of water on the surface of the support opposite to the side having the outermost layer is 40 ° or less. More preferably, it is 30 ° or less, particularly preferably 20 ° or less.

アルカリ鹸化処理の具体的手段としては、通常以下の(1)及び(2)の2つの手段から選択することができる。汎用のトリアセチルセルロースフィルムと同一の工程で処理できる点で(1)が優れているが、反射防止フイルムの反射防止層まで鹸化処理されるため、表面がアルカリ加水分解されて膜が劣化する点、鹸化処理液が残ると汚れになる点が問題になり得る。その場合には、特別な工程となるが、(2)が優れる。   The specific means for the alkali saponification treatment can usually be selected from the following two means (1) and (2). (1) is superior in that it can be processed in the same process as a general-purpose triacetyl cellulose film, but the film is deteriorated due to alkaline hydrolysis of the surface because the antireflection layer of the antireflection film is saponified. However, the remaining saponification solution may become a problem. In that case, although it becomes a special process, (2) is excellent.

(1)支持体上に反射防止層を形成後に、アルカリ液中に少なくとも1回浸漬することで、該フィルムの裏面を鹸化処理する。
(2)支持体上に反射防止層を形成する前又は後に、アルカリ液を反射防止フイルムの反射防止層を形成する側の面とは反対側の面に塗布し、加熱、水洗及び/又は中和することで、該フィルムの裏面だけを鹸化処理する。
(1) After forming the antireflection layer on the support, the back surface of the film is saponified by immersing it in an alkaline solution at least once.
(2) Before or after forming the antireflection layer on the support, an alkaline solution is applied to the surface of the antireflection film opposite to the surface on which the antireflection layer is formed, and heated, washed and / or subjected to By summing, only the back surface of the film is saponified.

〔塗膜形成方法〕
本発明の反射防止フイルムは以下の方法で形成することができるが、この方法に限定されるものではない。
[Coating method]
The antireflection film of the present invention can be formed by the following method, but is not limited to this method.

まず、各層を形成するための成分を含有した塗布液が調製される。
得られた塗布液を用いて、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(米国特許第2681294号明細書参照)等により支持体上に塗布し、加熱・乾燥する。これらの塗布方式のうち、グラビアコート法で塗布すると、反射防止層の各層を形成する場合のように、塗布量の少ない塗布液を膜厚均一性高く塗布することができるので好ましい。グラビアコート法の中でも、マイクログラビア法は膜厚均一性が高く、より好ましい。
First, a coating solution containing components for forming each layer is prepared.
Using the obtained coating solution, dip coating method, air knife coating method, curtain coating method, roller coating method, wire bar coating method, gravure coating method, extrusion coating method (see US Pat. No. 2,681,294), etc. Apply on the support by heating and drying. Of these coating methods, the gravure coating method is preferable because a coating solution with a small coating amount can be applied with high film thickness uniformity as in the case of forming each layer of the antireflection layer. Among the gravure coating methods, the micro gravure method is more preferable because of high film thickness uniformity.

またダイコート法を用いても、塗布量の少ない塗布液を膜厚均一性高く塗布することができ、さらにダイコート法は前計量方式のため、膜厚制御が比較的容易であり、さらに塗布部における溶媒の蒸散が少ないため、好ましい。   Even with the die coating method, a coating solution with a small coating amount can be applied with high film thickness uniformity. Furthermore, since the die coating method is a pre-measuring method, the film thickness control is relatively easy, This is preferable because of less evaporation of the solvent.

2層以上の層を同時に塗布してもよい。同時塗布の方法については、米国特許第2761791号、同第2941898号、同第3508947号、同第3526528号の各明細書及び原崎勇次著、「コーティング工学」、253頁、{朝倉書店(1973年)}に記載がある。   Two or more layers may be applied simultaneously. For the simultaneous coating method, US Pat. Nos. 2,761,791, 2,941,898, 3,508,947, 3,526,528 and Yuji Harasaki, “Coating Engineering”, page 253, {Asakura Shoten (1973) )}.

<偏光板>
偏光板は、偏光膜を両面から挟む2枚の保護フイルムで主に構成される。本発明の反射防止フイルムは、偏光膜を両面から挟む2枚の保護フイルムのうち少なくとも1枚に用いることが好ましい。本発明の反射防止フイルムが保護フイルムを兼ねることで、偏光板の製造コストを低減できる。また、本発明の反射防止フイルムを最表層に使用することにより、外光の映り込み等が防止され、耐傷性、防汚性等も優れた偏光板とすることができる。
<Polarizing plate>
The polarizing plate is mainly composed of two protective films sandwiching a polarizing film from both sides. The antireflection film of the present invention is preferably used for at least one of the two protective films sandwiching the polarizing film from both sides. Since the antireflection film of the present invention also serves as a protective film, the production cost of the polarizing plate can be reduced. Further, by using the antireflection film of the present invention as the outermost layer, reflection of external light and the like can be prevented, and a polarizing plate having excellent scratch resistance, antifouling property and the like can be obtained.

[偏光膜]
偏光膜としては、公知の偏光膜を用いることができ、また偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない、長尺の偏光膜から切り出された偏光膜を用いることもできる。偏光膜の吸収軸が長手方向に平行でも垂直でもない、長尺の偏光膜は以下の方法により作成される。
[Polarizing film]
As the polarizing film, a known polarizing film can be used, and a polarizing film cut out from a long polarizing film whose absorption axis is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction can be used. A long polarizing film in which the absorption axis of the polarizing film is neither parallel nor perpendicular to the longitudinal direction is produced by the following method.

すなわち、連続的に供給されるポリマーフィルムの両端を、保持手段により保持しつつ張力を付与して延伸した偏光膜で、少なくともフイルム幅方向に1.1〜20.0倍に延伸し、フイルム両端の保持装置の長手方向進行速度差が3%以内であり、フイルム両端を保持する工程の出口におけるフイルムの進行方向と、フイルムの実質延伸方向のなす角が、20〜70゜傾斜するように、フイルム進行方向をフイルム両端を保持させた状態で屈曲させて行う延伸方法によって製造することができる。特に45゜傾斜させたものが、生産性の観点から好ましく用いられる。   That is, both ends of a continuously supplied polymer film are stretched by applying a tension while being held by a holding means and stretched at least 1.1 to 20.0 times in the film width direction. The holding device has a longitudinal travel speed difference of 3% or less, and the angle formed by the film traveling direction at the exit of the step of holding both ends of the film and the substantial stretching direction of the film is inclined by 20 to 70 °. It can be manufactured by a stretching method in which the film traveling direction is bent while holding both ends of the film. In particular, those inclined at 45 ° are preferably used from the viewpoint of productivity.

ポリマーフィルムの延伸方法については、特開2002−86554号公報の段落[0020]〜[0030]に詳しい記載がある。   The method for stretching the polymer film is described in detail in paragraphs [0020] to [0030] of JP-A-2002-86554.

[液晶表示装置との組み合わせ]
本発明の反射防止フイルムは、偏光膜の表面保護フイルムの片側として用いた場合、ツイステットネマチック(TN)、スーパーツイステットネマチック(STN)、バーティカルアライメント(VA)、インプレインスイッチング(IPS)、オプティカリーコンペンセイテットベンドセル(OCB)、ECB(Electrically Controlled Birefringence)等のモードの透過型、反射型、又は半透過型の液晶表示装置に好ましく用いることができる。
[Combination with liquid crystal display]
When the antireflection film of the present invention is used as one side of the surface protective film of the polarizing film, it is twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), vertical alignment (VA), in-plane switching (IPS), optical It can be preferably used for a transmissive, reflective, or semi-transmissive liquid crystal display device in a mode such as a curly compensatory bend cell (OCB) or an ECB (electrically controlled birefringence).

VAモードの液晶セルには、
(1)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直に配向させ、電圧印加時に実質的に水平に配向させる狭義のVAモードの液晶セル(特開平2−176625号公報記載)に加えて、
(2)視野角拡大のため、VAモードをマルチドメイン化した(MVAモードの)液晶セル{“SID97,Digest of tech.Papers”(予稿集)、28集(1997年)、p.845記載}、
(3)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直配向させ、電圧印加時にねじれマルチドメイン配向させるモード(n−ASMモード)の液晶セル{「日本液晶討論会」の予稿集、p.58〜59(1998年)記載}、及び、
(4)SURVAIVALモードの液晶セル(「LCDインターナショナル98」で発表)が含まれる。
In VA mode liquid crystal cell,
(1) In addition to a narrowly-defined VA mode liquid crystal cell (described in JP-A-2-176625) in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned substantially vertically when no voltage is applied, and substantially horizontally when a voltage is applied. ,
(2) Liquid crystal cell ("SID97, Digest of tech. Papers" (Preliminary Collection), Vol. 28 (1997), p. 845},
(3) A liquid crystal cell of a mode (n-ASM mode) in which rod-like liquid crystalline molecules are substantially vertically aligned when no voltage is applied and twisted multi-domain alignment is applied when a voltage is applied {Preliminary Collection of “Japan Liquid Crystal Society”, p. 58-59 (1998) description}, and
(4) Includes SURVAVAL mode liquid crystal cells (announced at "LCD International 98").

VAモードの液晶セル用には、2軸延伸したトリアセチルセルロースフィルムを、本発明の反射防止フイルムと組み合わせて作製した偏光板が好ましく用いられる。2軸延伸したトリアセチルセルロースフィルムの作製方法については、例えば特開2001−249223号公報、特開2003−170492号公報などに記載の方法を用いることが好ましい。   For a VA mode liquid crystal cell, a polarizing plate prepared by combining a triacetyl cellulose film stretched biaxially with the antireflection film of the present invention is preferably used. As for the method for producing a biaxially stretched triacetyl cellulose film, for example, the methods described in JP-A Nos. 2001-249223 and 2003-170492 are preferably used.

OCBモードの液晶セルは、棒状液晶性分子を液晶セルの上部と下部とで実質的に逆の方向に(対称的に)配向させる、ベンド配向モードの液晶セルを用いた液晶表示装置であり、米国特許第4583825号、同第5410422号の各明細書に開示されている。棒状液晶性分子が液晶セルの上部と下部とで対称的に配向しているため、ベンド配向モードの液晶セルは、自己光学補償機能を有する。そのため、この液晶モードは、OCB(Optically Compensatory Bend)液晶モードとも呼ばれる。ベンド配向モードの液晶表示装置は、応答速度が速いとの利点がある。   The OCB mode liquid crystal cell is a liquid crystal display device using a bend alignment mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned in a substantially opposite direction (symmetrically) between the upper part and the lower part of the liquid crystal cell. This is disclosed in US Pat. Nos. 4,583,825 and 5,410,422. Since the rod-like liquid crystal molecules are symmetrically aligned at the upper and lower portions of the liquid crystal cell, the bend alignment mode liquid crystal cell has a self-optical compensation function. For this reason, this liquid crystal mode is also called an OCB (Optically Compensatory Bend) liquid crystal mode. The bend alignment mode liquid crystal display device has an advantage of high response speed.

ECBモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向しており、カラーTFT液晶表示装置として最も多く利用されており、多数の文献に記載がある。例えば「EL、PDP、LCDディスプレイ」(東レリサーチセンター発行)(2001年)などに記載されている。   In an ECB mode liquid crystal cell, rod-like liquid crystal molecules are substantially horizontally aligned when no voltage is applied, and is most frequently used as a color TFT liquid crystal display device, and is described in many documents. For example, it is described in “EL, PDP, LCD display” (issued by Toray Research Center) (2001).

特にTNモードやIPSモードの液晶表示装置に対しては、特開2001−100043号公報等に記載されているように、視野角拡大効果を有する光学補償フイルムを、偏光膜の裏表2枚の保護フイルムの内、本発明の反射防止フイルムとは反対側の面に用いることにより、1枚の偏光板の厚みで反射防止効果と視野角拡大効果を有する偏光板を得ることができ、特に好ましい。   In particular, for a TN mode or IPS mode liquid crystal display device, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2001-100043, an optical compensation film having an effect of widening the viewing angle is protected on the two front and back surfaces of the polarizing film. By using the film on the side opposite to the antireflection film of the present invention, a polarizing plate having an antireflection effect and a viewing angle expansion effect can be obtained with the thickness of one polarizing plate, which is particularly preferable.

以下、実施例により本発明を説明するが、本発明はこれらに限定されない。なお、特別の断りの無い限り、「部」及び「%」は質量基準である。
また、以下の実施例1〜58及び401〜405は「参考例」と読み替えるものとする。
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention, this invention is not limited to these. Unless otherwise specified, “part” and “%” are based on mass.
Also, the following Examples 1 to 58 and 401 to 405 are to be read as “reference examples”.

<反射防止フイルム>
実施例1
<Anti-reflective film>
Example 1

[酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P1)の調製]
1.シリカ系微粒子(A−1)の調製
平均粒径5nm、SiO濃度20質量%のシリカゾル100gと純水1900gの混合物を80℃に加温した。この反応母液のpHは10.5であり、同母液にSiOとして1.17質量%の珪酸ナトリウム水溶液9000gとAlとして0.83質量%のアルミン酸ナトリウム水溶液9000gとを同時に添加した。その間、反応液の温度を80℃に保持した。反応液のpHは添加直後、12.5に上昇し、その後、殆ど変化しなかった。添加終了後、反応液を室温まで冷却し、限外濾過膜で洗浄して固形分濃度20質量%のSiO・Al一次粒子分散液を調製した。
[Preparation of antimony oxide-coated silica-based fine particles (P1)]
1. Preparation of silica-based fine particles (A-1) A mixture of 100 g of silica sol having an average particle diameter of 5 nm and a SiO 2 concentration of 20% by mass and 1900 g of pure water was heated to 80 ° C. The pH of this reaction mother liquor was 10.5, and 9000 g of a 1.17% by mass sodium silicate aqueous solution as SiO 2 and 9000 g of a 0.83% by mass sodium aluminate aqueous solution as Al 2 O 3 were simultaneously added to the mother liquor. . Meanwhile, the temperature of the reaction solution was kept at 80 ° C. The pH of the reaction solution rose to 12.5 immediately after the addition, and hardly changed thereafter. After completion of the addition, the reaction solution was cooled to room temperature and washed with an ultrafiltration membrane to prepare a SiO 2 .Al 2 O 3 primary particle dispersion with a solid content concentration of 20% by mass.

この一次粒子分散液500gに純水1,700gを加えて98℃に加温し、この温度を保持しながら、濃度0.5質量%の硫酸アンモニウム53,200gを添加し、ついでSiOとして濃度1.17質量%の珪酸ナトリウム水溶液3,000gとAlとしての濃度0.5質量%のアルミン酸ナトリウム水溶液9,000gを添加して複合酸化物微粒子(1)の分散液を得た。
ついで、限外濾過膜で洗浄して固形分濃度13質量%になった複合酸化物微粒子(1)の分散液500gに純水1,125gを加え、さらに濃塩酸(濃度35.5質量%)を滴下してpH1.0とし、脱アルミニウム処理を行った。次いで、pH3の塩酸水溶液10Lと純水5Lを加えながら限外濾過膜で溶解したアルミニウム塩を分離して固形分濃度20質量%のシリカ系微粒子(A−1)分散液とした。
このシリカ系微粒子(A−1)の平均粒子径は58nm、MO/SiO(モル比)は0.0097、屈折率は1.30であった。
1,700 g of pure water was added to 500 g of this primary particle dispersion and heated to 98 ° C. While maintaining this temperature, 53,200 g of ammonium sulfate having a concentration of 0.5% by mass was added, and then the concentration was 1 as SiO 2. A dispersion of composite oxide fine particles (1) was obtained by adding 3,000 g of a 17 mass% sodium silicate aqueous solution and 9,000 g of a 0.5 mass% sodium aluminate aqueous solution as Al 2 O 3 .
Next, 1,125 g of pure water was added to 500 g of the dispersion of composite oxide fine particles (1) washed with an ultrafiltration membrane to a solid content concentration of 13% by mass, and concentrated hydrochloric acid (concentration 35.5% by mass). Was dropped to pH 1.0 and dealumination was performed. Next, the aluminum salt dissolved in the ultrafiltration membrane was separated while adding 10 L of hydrochloric acid aqueous solution of pH 3 and 5 L of pure water to obtain a silica-based fine particle (A-1) dispersion having a solid content concentration of 20% by mass.
The silica-based fine particles (A-1) had an average particle size of 58 nm, MO x / SiO 2 (molar ratio) of 0.0097, and a refractive index of 1.30.

2.アンチモン酸の調製
純水1800gに苛性カリ(旭硝子(株)製:純度85質量%)57gを溶解した溶液中に三酸化アンチモン(住友金属鉱山(株)製:KN 純度98.5質量%)111gを懸濁させた。この懸濁液を95℃に加熱し、次いで、過酸化水素水(林純薬(株)製:特級、純度35質量%)32.8gを純水110.7gで希釈した水溶液を9時間で添加(0.1mole/hr)し、三酸化アンチモンを溶解し、その後11時間熟成した。冷却後、得られた溶液から1000gを取り、この溶液を純水6000gで希釈した後、陽イオン交換樹脂(三菱化学(株)製:pk−216)に通して脱イオン処理を行った。このときのpHは2.1、電導度は2.4mS/cmであった。
2. Preparation of antimonic acid 111 g of antimony trioxide (manufactured by Sumitomo Metal Mining Co., Ltd .: KN purity 98.5% by mass) was dissolved in a solution of 57 g of caustic potash (Asahi Glass Co., Ltd .: 85% by mass) in 1800 g of pure water. Suspended. This suspension was heated to 95 ° C., and then an aqueous solution obtained by diluting 32.8 g of hydrogen peroxide (produced by Hayashi Pure Chemical Co., Ltd .: special grade, purity 35% by mass) with 110.7 g of pure water was added in 9 hours. It was added (0.1 mole / hr) to dissolve antimony trioxide, and then aged for 11 hours. After cooling, 1000 g was taken from the resulting solution, and this solution was diluted with 6000 g of pure water, and then passed through a cation exchange resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation: pk-216) for deionization treatment. At this time, the pH was 2.1 and the conductivity was 2.4 mS / cm.

3.酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P1)の調製
上記で調製したシリカ系微粒子(A−1)分散液を固形分濃度1質量%に希釈した分散液400gに固形分濃度1質量%のアンチモン酸40gを加え、70℃で10時間撹拌し、限外濾過膜で濃縮し、固形分濃度20質量%の酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(B−1)分散液を調製した。
この酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(B−1)分散液100gに純水300gとメタノール400gを加え、これに正珪酸エチル(SiO濃度28質量%)3.57gを混合し、50℃で15時間加熱撹拌してシリカ被覆層を形成した酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(C−1)分散液を調製した。
この分散液を限外濾過膜を用い、メタノールにて溶媒置換するとともに固形分濃度20質量%になるまで濃縮した。ついで、ロータリーエバポレーターにてイソプロピルアルコールに溶媒置換して濃度20質量%のシリカ系微粒子(C−1)のイソプロピルアルコール分散液とした。
3. Preparation of antimony oxide-coated silica-based fine particles (P1) 40 g of antimonic acid having a solid content concentration of 1% by mass was added to 400 g of a dispersion obtained by diluting the silica-based fine particle (A-1) dispersion prepared above to a solid content concentration of 1% by mass. In addition, the mixture was stirred at 70 ° C. for 10 hours and concentrated with an ultrafiltration membrane to prepare a dispersion of antimony oxide-coated silica-based fine particles (B-1) having a solid concentration of 20% by mass.
To 100 g of this antimony oxide-coated silica-based fine particle (B-1) dispersion, 300 g of pure water and 400 g of methanol are added, and 3.57 g of normal ethyl silicate (SiO 2 concentration 28% by mass) is mixed therewith, and at 50 ° C. for 15 hours. An antimony oxide-coated silica-based fine particle (C-1) dispersion in which a silica coating layer was formed by heating and stirring was prepared.
This dispersion was subjected to solvent replacement with methanol using an ultrafiltration membrane and concentrated to a solid content concentration of 20% by mass. Subsequently, the solvent was replaced with isopropyl alcohol by a rotary evaporator to obtain an isopropyl alcohol dispersion of silica-based fine particles (C-1) having a concentration of 20% by mass.

ついで、このシリカ被覆層を形成した酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(C−1)のイソプロピルアルコール分散液100gにメタクリル系シランカップリング剤(信越化学(株)製:KBM−503)0.73gを加え、50℃で15時間加熱撹拌し、シランカップリング剤により表面処理されたシリカ被覆層を形成した酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P1)分散液を調製した。この粒子の屈折率は1.41、体積抵抗値は1500Ω/cm、平均粒子径は61nm、酸化アンチモン被覆層の厚さは1nmであった。   Next, 0.73 g of a methacrylic silane coupling agent (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: KBM-503) was added to 100 g of the isopropyl alcohol dispersion of the antimony oxide-coated silica-based fine particles (C-1) on which the silica coating layer was formed. An antimony oxide-coated silica-based fine particle (P1) dispersion in which a silica coating layer surface-treated with a silane coupling agent was formed by heating and stirring at 50 ° C. for 15 hours was prepared. The refractive index of this particle was 1.41, the volume resistance value was 1500 Ω / cm, the average particle size was 61 nm, and the thickness of the antimony oxide coating layer was 1 nm.

[酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P2)の調製]
上記酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P1)の調製において、固形分濃度1質量%のアンチモン酸を100gに変えた以外は同様にして、表面処理した酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P2)分散液を調製した。この粒子の屈折率は1.46、体積抵抗値は1100Ω/cm、平均粒子径は61.5nm、酸化アンチモン被覆層の厚さは1.5nmであった。
[Preparation of antimony oxide-coated silica-based fine particles (P2)]
In the preparation of the antimony oxide-coated silica-based fine particles (P1), a surface-treated antimony oxide-coated silica-based fine particles (P2) dispersion was prepared in the same manner except that the antimonic acid having a solid concentration of 1% by mass was changed to 100 g. did. The refractive index of this particle was 1.46, the volume resistance value was 1100 Ω / cm, the average particle size was 61.5 nm, and the thickness of the antimony oxide coating layer was 1.5 nm.

[ハードコート層用塗布液(HCL−1)の調製]
ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合物“PETA”{日本化薬(株)製}50.0部に、重合開始剤「イルガキュア184」{日本チバガイギー(株)製}2.0部、面状改良剤{本文例示化合物(F−63)}0.06部、オルガノシラン化合物“KBM5103”{信越化学工業(株)製}10.0部、トルエン38.5部を添加して撹拌した。この溶液を塗布、紫外線硬化して得られた塗膜の屈折率は1.51であった。
[Preparation of coating liquid for hard coat layer (HCL-1)]
50.0 parts of a mixture of pentaerythritol triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate “Peta” {manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.}, 2.0 parts of polymerization initiator “Irgacure 184” {manufactured by Ciba Geigy Japan Ltd.} 0.06 parts of the shape improver {text exemplified compound (F-63)}, 10.0 parts of the organosilane compound “KBM5103” {manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.}, and 38.5 parts of toluene were added and stirred. The refractive index of the coating film obtained by applying this solution and curing with ultraviolet rays was 1.51.

さらにこの溶液に、ポリトロン分散機にて10000rpmで分散した平均粒径3.5μmの架橋ポリスチレン粒子“SX−350”{屈折率1.60、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液1.7部、及びポリトロン分散機にて10000rpmで分散した平均粒径3.5μmの架橋アクリル−スチレン粒子{屈折率1.55、綜研化学(株)製}の30%トルエン分散液13.3部を添加して撹拌した。次いで孔径30μmのポリプロピレン製フィルターで濾過して防眩性ハードコート層用塗布液(HCL−1)を調製した。この塗布液による塗膜の屈折率は1.51であった。得られた防眩性ハードコート層用塗布液(HCL−1)の表面張力は32mN/mであった。   Furthermore, in this solution, a 30% toluene dispersion 1 of crosslinked polystyrene particles “SX-350” {refractive index 1.60, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.} having an average particle size of 3.5 μm dispersed at 10,000 rpm with a Polytron disperser 1 1 part, and 13.3 parts of a 30% toluene dispersion of a crosslinked acrylic-styrene particle {refractive index 1.55, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.} having an average particle size of 3.5 μm dispersed at 10,000 rpm in a polytron disperser Was added and stirred. Subsequently, it filtered with the polypropylene filter with a hole diameter of 30 micrometers, and prepared the coating liquid (HCL-1) for glare-proof hard-coat layers. The refractive index of the coating film by this coating solution was 1.51. The surface tension of the obtained antiglare hard coat layer coating solution (HCL-1) was 32 mN / m.

[低屈折率層用塗布液(LL−1)の調製]
メチルエチルケトン200部に対して、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物“DPHA”{日本化薬(株)製}}(固形分濃度29%)124部、酸化アンチモン被覆シリカ系微粒子(P1)分散液(固形分濃度20%)120部、及び光ラジカル発生剤「イルガキュア970」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}2部を溶解した。塗布液全体の固形分濃度が6%となり、シクロヘキサノンとメチルエチルケトンの比率が20対80になるようにシクロヘキサノンとメチルエチルケトンで希釈して低屈折率層用塗布液(LL−1)を調製した。
[Preparation of coating solution for low refractive index layer (LL-1)]
For 200 parts of methyl ethyl ketone, 124 parts of a mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate “DPHA” {manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.}} (solid content 29%), antimony oxide-coated silica-based fine particles ( P1) 120 parts of a dispersion (solid content concentration 20%) and 2 parts of a photo radical generator “Irgacure 970” {manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.} were dissolved. The coating liquid for low refractive index layer (LL-1) was prepared by diluting with cyclohexanone and methyl ethyl ketone so that the solid content concentration of the entire coating liquid was 6% and the ratio of cyclohexanone and methyl ethyl ketone was 20:80.

〔反射防止フイルム(1)の作製〕
[ハードコート層(HC−1)の作製]
膜厚80μm、幅1340mmのトリアセチルセルロースフィルム“TAC−TD80U”{富士写真フイルム(株)製}上に、ハードコート層用塗布液(HCL−1)を、マイクログラビア塗工方式で、搬送速度30m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、窒素パージ(酸素濃度0.5%以下)しながら、160W/cmの「空冷メタルハライドランプ」{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm、照射量150mJ/cmの紫外線を照射して塗布層を硬化させ、膜厚5.5μmの防眩性を有するハードコート層を作製した。このようにしてハードコート層(HC−1)を得た。
[Preparation of antireflection film (1)]
[Preparation of hard coat layer (HC-1)]
On the triacetyl cellulose film “TAC-TD80U” {manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.} having a film thickness of 80 μm and a width of 1340 mm, a hard coat layer coating solution (HCL-1) is transported by a microgravure coating method. After applying at 30 m / min, drying at 60 ° C. for 150 seconds, while purging with nitrogen (oxygen concentration 0.5% or less), 160 W / cm “air-cooled metal halide lamp” {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.} Was used to cure the coating layer by irradiating with ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 150 mJ / cm 2 to prepare a hard coat layer having an antiglare property having a film thickness of 5.5 μm. In this way, a hard coat layer (HC-1) was obtained.

[低屈折率層(LL1−1)の形成]
このようにして得られたハードコート層(HC−1)の上に、上記低屈折率層用塗布液(LL−1)を用い、低屈折率層膜厚が95nmになるように調節して、マイクログラビア塗工方式で低屈折率層(LL1−1)を形成し、反射防止フイルム試料を作製した。
[Formation of Low Refractive Index Layer (LL1-1)]
On the hard coat layer (HC-1) thus obtained, the low refractive index layer coating solution (LL-1) is used and the low refractive index layer thickness is adjusted to 95 nm. Then, a low refractive index layer (LL1-1) was formed by a microgravure coating method to prepare an antireflection film sample.

硬化条件を以下に示す。
(1)乾燥:80℃−120秒
(2)照射前熱処理:95℃−5分
(3)UV硬化:90℃−1分、酸素濃度が0.01体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度120mW/cm、照射量240mJ/cmの照射量とした。(4)照射後熱処理:30℃−5分
The curing conditions are shown below.
(1) Drying: 80 ° C. for 120 seconds (2) Pre-irradiation heat treatment: 95 ° C. for 5 minutes (3) UV curing: 90 ° C. for 1 minute; While purging, a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) was used to obtain an irradiation amount of 120 mW / cm 2 and an irradiation amount of 240 mJ / cm 2 . (4) Post-irradiation heat treatment: 30 ° C. for 5 minutes

[反射防止フイルムの鹸化処理]
上記の様にして得られた反射防止フイルム試料に、以下の鹸化処理を行った。
1.5モル/Lの水酸化ナトリウム水溶液を調製し、55℃に保温した。0.005モル/Lの希硫酸水溶液を調製し、35℃に保温した。
作製した反射防止フイルムを、上記の水酸化ナトリウム水溶液に2分間浸漬した後、水に浸漬して水酸化ナトリウム水溶液を十分に洗い流した。次いで、上記の希硫酸水溶液に1分間浸漬した後、水に浸漬して希硫酸水溶液を十分に洗い流した。最後に試料を120℃で十分に乾燥させた。このようにして、鹸化処理済み反射防止フイルム(1)を作製した。
[Saponification treatment of antireflection film]
The antireflection film sample obtained as described above was subjected to the following saponification treatment.
A 1.5 mol / L aqueous sodium hydroxide solution was prepared and kept at 55 ° C. A 0.005 mol / L dilute sulfuric acid aqueous solution was prepared and kept at 35 ° C.
The prepared antireflection film was immersed in the aqueous sodium hydroxide solution for 2 minutes, and then immersed in water to sufficiently wash away the aqueous sodium hydroxide solution. Next, after immersing in the dilute sulfuric acid aqueous solution for 1 minute, the dilute sulfuric acid aqueous solution was sufficiently washed away by immersing in water. Finally, the sample was thoroughly dried at 120 ° C. In this way, a saponified antireflection film (1) was produced.

実施例2〜56,比較例1〜28
[低屈折率層用塗布液(LL−2)〜(LL−84)の調製]
前記低屈折率層用塗布液(LL−1)の調製において、組成を下表14−1〜14−4に示すように変更した以外は(LL−1)と同様にして、低屈折率層用塗布液(LL−2)〜(LL−84)を調製した。
Examples 2-56, Comparative Examples 1-28
[Preparation of coating solutions for low refractive index layer (LL-2) to (LL-84)]
The low refractive index layer was prepared in the same manner as in (LL-1) except that the composition was changed as shown in Tables 14-1 to 14-4 below in the preparation of the coating liquid for low refractive index layer (LL-1). Coating solutions (LL-2) to (LL-84) were prepared.

Figure 0005049542
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表14−1〜14−4中で使用した化合物について以下に内容を示す。また、表中の部数は全て固形分の質量部を表す。
・(A)電離放射線硬化性化合物
含フッ素含シロキサンポリマー:((C)として用いてもよい)
P−3:本発明の例示化合物P−3
PP−5:本発明の例示化合物PP−5
P−3A:本発明の例示化合物P−3に対してシリコーン部分を含有しない構造。
DPHA:光重合性化合物“DPHA”、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合物、日本化薬(株)製。
・(C)一般式(I)で表されるポリシロキサン部分構造を含有する化合物
光重合性シリコーン:
RMS−33:“RMS−33”、Gelest(株)製
・光重合開始剤:
イルガキュア907:「イルガキュア907」、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製、分子量279。
・(B)導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子
P1、P2:前記酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子
・その他の微粒子
MEK−ST−L:“MEK−ST−L”、微粒子シリカ分散物、溶媒MEK、平均粒子サイズ45nm、日産化学(株)製。
The contents of the compounds used in Tables 14-1 to 14-4 are shown below. Moreover, all the parts in a table | surface represent the mass part of solid content.
(A) ionizing radiation curable compound fluorine-containing siloxane polymer: (may be used as (C))
P-3: Exemplary compound P-3 of the present invention
PP-5: Exemplified compound PP-5 of the present invention
P-3A: A structure containing no silicone moiety with respect to the exemplified compound P-3 of the present invention.
DPHA: Photopolymerizable compound “DPHA”, pentaerythritol triacrylate, a mixture of pentaerythritol tetraacrylate, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.
(C) Compound containing polysiloxane partial structure represented by general formula (I) Photopolymerizable silicone:
RMS-33: “RMS-33”, manufactured by Gelest Co., Ltd., photopolymerization initiator:
Irgacure 907: “Irgacure 907”, manufactured by Ciba Specialty Chemicals, Inc., molecular weight 279.
(B) Fine particles having a conductive metal oxide coating layer P1, P2: Silica-based fine particles having the antimony oxide coating layer and other fine particles MEK-ST-L: “MEK-ST-L”, fine particle silica dispersion , Solvent MEK, average particle size 45 nm, manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd.

[ゾル液aの調製]
攪拌機、還流冷却器を備えた反応器に、メチルエチルケトン120部、アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン“KBM5103”{信越化学工業(株)製}100部、ジイソプロポキシアルミニウムエチルアセトアセテート3部を加え混合したのち、イオン交換水30部を加え、60℃で4時間反応させたのち、室温まで冷却し、ゾル液aを得た。質量平均分子量は1600であり、オリゴマー成分以上の成分のうち、分子量1000〜20000の成分が100%であった。また、ガスクロマトグラフィー分析から、原料のアクリロイルオキシプロピルトリメトキシシランは全く残存していなかった。固形分の濃度が29%になるようにメチルエチルケトンで調節してゾル液aとした。
[Preparation of Sol Solution a]
In a reactor equipped with a stirrer and a reflux condenser, 120 parts of methyl ethyl ketone, 100 parts of acryloyloxypropyltrimethoxysilane “KBM5103” (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), 3 parts of diisopropoxyaluminum ethyl acetoacetate were added and mixed. Thereafter, 30 parts of ion-exchanged water was added and reacted at 60 ° C. for 4 hours, and then cooled to room temperature to obtain sol solution a. The mass average molecular weight was 1600, and among the components higher than the oligomer component, the component having a molecular weight of 1000 to 20000 was 100%. Further, from the gas chromatography analysis, the raw material acryloyloxypropyltrimethoxysilane did not remain at all. Sol solution a was adjusted with methyl ethyl ketone so that the solid content was 29%.

〔反射防止フイルム(2)〜(84)の作製〕
実施例1と同様にして得られたハードコート層(HC−1)の上に、上記で得られた低屈折率層用塗布液(LL−2)〜(LL−84)を用い、実施例1の反射防止フイルム試料(1)と同様の条件で、塗布・硬化して、低屈折率層(LL1−2)〜(LL1−84)を形成し、次いで実施例1と同様に鹸化処理して、反射防止フイルム試料(2)〜(84)を作製した。
[Preparation of antireflection films (2) to (84)]
On the hard coat layer (HC-1) obtained in the same manner as in Example 1, the coating solutions (LL-2) to (LL-84) for the low refractive index layer obtained above were used. 1 was coated and cured under the same conditions as in the antireflection film sample (1) to form low refractive index layers (LL1-2) to (LL1-84), and then saponified in the same manner as in Example 1. Thus, antireflection film samples (2) to (84) were prepared.

[反射防止フイルムの評価]
得られたフイルムについて、以下の項目の評価を行った。
[Evaluation of antireflection film]
The obtained film was evaluated for the following items.

(評価1)鏡面反射率
鏡面反射率の測定は、分光光度計“V−550”[日本分光(株)製]にアダプター“ARV−474”を装着して、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における出射角−5゜の鏡面反射率を測定し、450〜650nmの平均反射率を算出し、反射防止性を評価することができる。
(Evaluation 1) Specular reflectance Specular reflectance is measured by attaching an adapter "ARV-474" to a spectrophotometer "V-550" [manufactured by JASCO Corporation], and in a wavelength region of 380 to 780 nm. The antireflection property can be evaluated by measuring the specular reflectance at an exit angle of -5 ° at an incident angle of 5 °, and calculating an average reflectance of 450 to 650 nm.

(評価2)マジック拭き取り性
フイルムをガラス面上に粘着剤で固定し、25℃60RH%の条件下で黒マジック「マッキー極細(商品名:ZEBRA製)」のペン先(細)にて直径5mmの円形を3周書き込み、5秒後に10枚重ねに折り束ねたベンコット(商品名、旭化成(株))でベンコットの束がへこむ程度の荷重で20往復拭き取る。マジック跡が拭き取りで消えなくなるまで前記の書き込みと拭き取りを前記条件で繰り返し、拭き取りできた回数により防汚性を評価することが出来る。50回を上限としてふき取ることができた回数を評価した。
消えなくなるまでの回数は5回以上であることが好ましく、10回以上であることが更に好ましく、最も好ましくは50回以上である。
(Evaluation 2) Magic wiping property A film is fixed on a glass surface with an adhesive, and the diameter is 5 mm with a pen tip (thin) of black magic "Mackey Extra Fine (product name: made by ZEBRA)" at 25 ° C and 60RH%. The circle is written 3 times, and after 5 seconds, it is wiped back and forth 20 times with a load that dents the bundle of Bencot (Brand name, Asahi Kasei Co., Ltd.). The writing and wiping are repeated under the above-mentioned conditions until the magic mark does not disappear by wiping, and the antifouling property can be evaluated by the number of times of wiping. The number of times of wiping up to 50 times was evaluated.
The number of times until disappearance is preferably 5 times or more, more preferably 10 times or more, and most preferably 50 times or more.

(評価3)耐擦傷性評価
ラビングテスターを用いて、以下の条件でこすりテストを行った。
評価環境条件:25℃、60%RH
こすり材:試料と接触するテスターのこすり先端部(1cm×1cm)にスチールウール{(株)日本スチールウール製、No.0000}を巻いて、動かないようバンド固定した。その上で下記条件の往復こすり運動を与えた。
移動距離(片道):13cm、こすり速度:13cm/秒、
荷重:500g/cm、先端部接触面積:1cm×1cm、
こすり回数:10往復。
こすり終えた試料の裏側に油性黒インキを塗り、反射光で目視観察して、こすり部分の傷を、以下の基準で評価した。
○:非常に注意深く見ても、全く傷が見えない。
○△:非常に注意深く見ると僅かに弱い傷が見える。
△:弱い傷が見える。
△×:中程度の傷が見える。
×:一目見ただけで分かる傷がある。
(Evaluation 3) Evaluation of scratch resistance A rubbing test was performed under the following conditions using a rubbing tester.
Evaluation environmental conditions: 25 ° C., 60% RH
Rubbing material: Steel wool {No. 1 made by Nippon Steel Wool Co., Ltd. at the tip (1 cm × 1 cm) of the rubbing of the tester that comes into contact with the sample. A band was fixed so that it would not move. Then, the reciprocating rubbing motion under the following conditions was given.
Moving distance (one way): 13 cm, rubbing speed: 13 cm / second,
Load: 500 g / cm 2 , tip contact area: 1 cm × 1 cm,
Number of rubs: 10 round trips.
An oil-based black ink was applied to the back side of the rubbed sample and visually observed with reflected light, and scratches on the rubbed portion were evaluated according to the following criteria.
○: Even when viewed very carefully, no scratches are visible.
○ △: Slightly weak scratches are visible when viewed very carefully.
Δ: A weak scratch is visible.
Δ ×: moderate scratches are visible.
X: There are scratches that can be seen at first glance.

(評価4)密着性の評価
反射防止フイルム試料を温度25℃、相対湿度60%の条件で2時間調湿した。各試料の低屈折率層を有する側の表面に、カッターナイフで碁盤目状に縦11本、横11本の切り込みを入れて、合計100個の正方形の升目を刻み、その面に日東電工(株)製のポリエステル粘着テープ(No.31B)を貼りつけた。30分経時したあとに、垂直方向にテープを素早く引き剥がし、剥がれた升目の数を数えて、下記4段階の基準で評価した。同じ密着評価を3回行って平均をとった。
◎:100升において剥がれが全く認められなかった。
○:100升において1〜2升の剥がれが認められた。
△:100升において3〜10升の剥がれが認められた(許容範囲内)。
×:100升において11升以上の剥がれが認められた。
(Evaluation 4) Evaluation of adhesion The antireflection film sample was conditioned for 2 hours under the conditions of a temperature of 25 ° C. and a relative humidity of 60%. On the surface of each sample having the low refractive index layer, 11 vertical and 11 horizontal cuts were made with a cutter knife in a grid pattern, and a total of 100 square squares were carved, and Nitto Denko ( A polyester pressure-sensitive adhesive tape (No. 31B) manufactured by Co., Ltd. was attached. After 30 minutes, the tape was quickly peeled off in the vertical direction, and the number of squares peeled off was counted and evaluated according to the following four criteria. The same adhesion evaluation was performed 3 times and the average was taken.
A: No peeling was observed at 100 mm.
○: peeling of 1 to 2 mm was observed at 100 mm.
Δ: Peeling of 3 to 10 mm was observed at 100 mm (within tolerance).
X: Peeling of 11 mm or more was observed at 100 mm.

(評価5)表面抵抗値
反射防止フイルムの低屈折率層(最外層)を有する側の表面の表面抵抗を、超絶縁抵抗/微小電流計TR8601((株)アドバンテスト製)を用いて、25℃、相対湿度60%の条件下で測定した。
(Evaluation 5) Surface resistance value The surface resistance of the surface having the low refractive index layer (outermost layer) of the antireflection film was measured at 25 ° C. using a super insulation resistance / microammeter TR8601 (manufactured by Advantest). , And measured under conditions of relative humidity 60%.

反射防止フイルム試料(1)〜(84)の層構成と、得られた評価結果を表15−1〜15−2に示す。
(表15−1、15−2中の表面抵抗の数値、例えば3.10E+09は3.1×10を表す。)
Tables 15-1 to 15-2 show the layer configurations of the antireflection film samples (1) to (84) and the obtained evaluation results.
(Numerical values of surface resistance in Tables 15-1 and 15-2, for example, 3.10E + 09 represents 3.1 × 10 9 )

Figure 0005049542
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得られた反射防止フイルム試料(1)〜(84)に対して上記の評価を行った結果、アンチモン被覆シリカ系微粒子を含んだ低屈折率層を有する反射防止膜は、等量のシリカを含む低屈折率層を有する反射防止膜よりも、表面抵抗値が低く、反射率が低いことが分る。また、防汚耐性、密着性および耐擦傷性に優れていることが分る。   As a result of performing the above evaluation on the obtained antireflection film samples (1) to (84), the antireflection film having a low refractive index layer containing antimony-coated silica-based fine particles contains an equal amount of silica. It can be seen that the surface resistance value is lower and the reflectance is lower than that of the antireflection film having a low refractive index layer. Moreover, it turns out that it is excellent in antifouling resistance, adhesiveness, and abrasion resistance.

実施例57
[ハードコート層用塗布液(HCL−2)の調製]
デソライトZ7404(ジルコニア微粒子含有ハードコート組成液、JSR(株)製)100質量部、DPHA(UV硬化性樹脂、日本化薬(株)製)31質量部、KBM−5103(シランカップリング剤、信越化学工業(株)製)10質量部、KE−P150(1.5μmシリカ粒子、日本触媒(株)製)8.9質量部、MXS−300(3μm架橋PMMA粒子、綜研化学(株)製)3.4質量部、MEK29質量部及びMIBK13質量部をミキシングタンクに投入し、攪拌してハードコート層塗布液(HCL−2)とした。
Example 57
[Preparation of coating liquid for hard coat layer (HCL-2)]
Desolite Z7404 (zirconia fine particle-containing hard coat composition, manufactured by JSR Corporation) 100 parts by mass, DPHA (UV curable resin, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 31 parts by mass, KBM-5103 (silane coupling agent, Shin-Etsu) Chemical Industry Co., Ltd.) 10 parts by mass, KE-P150 (1.5 μm silica particles, Nippon Shokubai Co., Ltd.) 8.9 parts by mass, MXS-300 (3 μm cross-linked PMMA particles, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) 3.4 parts by mass, 29 parts by mass of MEK, and 13 parts by mass of MIBK were put into a mixing tank and stirred to obtain a hard coat layer coating solution (HCL-2).

〔反射防止フイルム(201)の作製〕
支持体としてトリアセチルセルロースフィルム“TAC−TD80U”{富士写真フイルム(株)製}をロール形態で巻き出して、上記のハードコート層用塗布液(HCL−2)を線数135本/インチ、深度60μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、搬送速度10m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに窒素パージ下で160W/cmの「空冷メタルハライドランプ」{アイグラフィックス(株)製}を用いて、照度400mW/cm、照射量250mJ/cmの紫外線を照射して塗布層を硬化させ、ハードコート層(HC−2)を形成し、巻き取った。硬化後のハードコート層の厚さが4.0μmとなるようにグラビアロール回転数を調整した。このようにして得られたハードコート層(HC−2)の表面粗さは、中心線平均あらさ(Ra)=0.02μm、自乗平均面あらさ(RMS)=0.03μm、n点平均あらさ(Rz)=0.25μmであった。なお、Ra、RMS、Rzは、走査型プローブ顕微鏡システム“SPI3800”{セイコーインスツルメンツ(株)製}にて測定した。
[Preparation of antireflection film (201)]
As a support, a triacetyl cellulose film “TAC-TD80U” (manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) is unwound in a roll form, and the above-mentioned coating liquid for hard coat layer (HCL-2) has a number of lines of 135 / inch, Using a microgravure roll having a diameter of 60 μm and a doctor blade having a gravure pattern of 60 μm in depth, the coating was performed at a conveyance speed of 10 m / min, drying at 60 ° C. for 150 seconds, and further 160 W / cm under a nitrogen purge. Using an “air-cooled metal halide lamp” {manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.}, the coating layer is cured by irradiating ultraviolet rays with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 250 mJ / cm 2 , and the hard coat layer (HC-2) Formed and wound up. The rotation speed of the gravure roll was adjusted so that the thickness of the hard coat layer after curing was 4.0 μm. The surface roughness of the hard coat layer (HC-2) thus obtained was as follows: center line average roughness (Ra) = 0.02 μm, root mean square roughness (RMS) = 0.03 μm, n-point average roughness ( Rz) = 0.25 μm. Ra, RMS, and Rz were measured with a scanning probe microscope system “SPI3800” (manufactured by Seiko Instruments Inc.).

上記で形成されたハードコート層(HC−2)上に、低屈折率層用塗布液(LL−67)を用い、低屈折率層(LL1−67)と同様の条件で低屈折率層(LL2−67)を塗設して反射防止フイルム試料(267)を作製した。   On the hard coat layer (HC-2) formed above, the low refractive index layer (LL-67) is used under the same conditions as the low refractive index layer (LL1-67). LL2-67) was applied to prepare an antireflection film sample (267).

[反射防止フイルムの鹸化処理]
上記の様にして得られた反射防止フイルム試料(267)を、以下の鹸化処理を行った。
1.5モル/Lの水酸化ナトリウム水溶液を調製し、55℃に保温した。0.005モル/Lの希硫酸水溶液を調製し、35℃に保温した。
作製した反射防止フイルム試料(267)を、上記の水酸化ナトリウム水溶液に2分間浸漬した後、水に浸漬して水酸化ナトリウム水溶液を十分に洗い流した。次いで、上記の希硫酸水溶液に1分間浸漬した後、水に浸漬して希硫酸水溶液を十分に洗い流した。最後に試料を120℃で十分に乾燥させた。このようにして、鹸化処理済み反射防止フイルムを作製した。
[Saponification treatment of antireflection film]
The antireflection film sample (267) obtained as described above was subjected to the following saponification treatment.
A 1.5 mol / L aqueous sodium hydroxide solution was prepared and kept at 55 ° C. A 0.005 mol / L dilute sulfuric acid aqueous solution was prepared and kept at 35 ° C.
The prepared antireflection film sample (267) was immersed in the aqueous sodium hydroxide solution for 2 minutes, and then immersed in water to sufficiently wash away the aqueous sodium hydroxide solution. Next, after immersing in the dilute sulfuric acid aqueous solution for 1 minute, the dilute sulfuric acid aqueous solution was sufficiently washed away by immersing in water. Finally, the sample was thoroughly dried at 120 ° C. In this way, a saponified antireflection film was produced.

〔反射防止フイルム付き偏光板の作製〕
延伸したポリビニルアルコールフィルムに、ヨウ素を吸着させて偏光膜を作製した。鹸化処理済みの反射防止フイルム(267)に、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、反射防止フイルムの支持体側(トリアセチルセルロース)が偏光膜側となるように偏光膜の片側に貼り付けた。また、ディスコティック構造単位の円盤面が支持体面に対して傾いており、且つ該ディスコティック構造単位の円盤面と支持体面とのなす角度が、光学異方性層の深さ方向において変化している光学異方性層を有する視野角拡大フイルム「ワイドビューフィルムSA」{富士写真フイルム(株)製}を鹸化処理し、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて、偏光膜のもう一方の側に貼り付けた。このようにして反射防止フイルム付き偏光板(267P)を作製した。
[Preparation of polarizing plate with antireflection film]
A polarizing film was prepared by adsorbing iodine to a stretched polyvinyl alcohol film. A saponified antireflection film (267) was attached to one side of the polarizing film using a polyvinyl alcohol-based adhesive so that the support side (triacetylcellulose) of the antireflection film was the polarizing film side. Further, the disc surface of the discotic structural unit is inclined with respect to the support surface, and the angle formed by the disc surface of the discotic structural unit and the support surface changes in the depth direction of the optically anisotropic layer. Wide-view film SA “Fuji Photo Film Co., Ltd.” having an optically anisotropic layer is saponified and attached to the other side of the polarizing film using a polyvinyl alcohol adhesive. I attached. In this way, a polarizing plate (267P) with an antireflection film was produced.

得られた反射防止フイルム付き偏光板(267P)について、前記に準じた評価を行った結果、低反射で、マジック拭き取り性・耐擦傷性に優れる反射防止フイルム付き偏光板が得られることが分かった。   The obtained polarizing plate with antireflection film (267P) was evaluated according to the above, and as a result, it was found that a polarizing plate with antireflection film having low reflection and excellent magic wiping and scratch resistance was obtained. .

実施例58
[ハードコート層用塗布液(HCL−3)の調製]
MEK90部に対して、シクロヘキサノン10部、部分カプロラクトン変性の多官能アクリレート“DPCA−20”{日本化薬(株)製}85部、“KBM−5103”{シランカップリング剤:信越化学工業(株)製}10部、光重合開始剤「イルガキュア184」{チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製}5部、面状改良剤{本文例示化合物(F−63)}0.04部を添加して攪拌した。次いで孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターで濾過してハードコート層用の塗布液(HCL−3)を調製した。
Example 58
[Preparation of coating liquid for hard coat layer (HCL-3)]
90 parts MEK, 10 parts cyclohexanone, partially caprolactone-modified polyfunctional acrylate "DPCA-20" {manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.} 85 parts, "KBM-5103" {Silane coupling agent: Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ) Made} 10 parts, photopolymerization initiator "Irgacure 184" {Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.} 5 parts, surface improver {text exemplified compound (F-63)} 0.04 parts Stir. Subsequently, it filtered with the polypropylene filter with the hole diameter of 0.4 micrometer, and prepared the coating liquid (HCL-3) for hard-coat layers.

〔反射防止フイルムの作製・評価〕
支持体としてのトリアセチルセルロースフィルム“TAC−TD80U”{富士写真フイルム(株)製}上に、ハードコート層用塗布液(HCL−3)を、実施例2−67に準じて塗布・硬化した。その際硬化後のハードコート層(HC−3)の厚さが4.5μmとなるように、グラビアロール回転数を調整した。
[Preparation and evaluation of antireflection film]
On a triacetyl cellulose film “TAC-TD80U” {manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) as a support, a hard coat layer coating solution (HCL-3) was applied and cured according to Example 2-67. . At that time, the rotation speed of the gravure roll was adjusted so that the thickness of the hard coat layer (HC-3) after curing was 4.5 μm.

上記で形成されたハードコート層(HC−3)上に、低屈折率層用塗布液(LL−67)を用い、低屈折率層(LL1−67)と同様の条件で低屈折率層(LL3−67)を塗設して反射防止フイルム試料(367)を作製し、次いで該反射防止フイルム試料(367)の鹸化処理を行った。
得られた反射防止フイルム試料(367)について、前記に準じた評価を行った結果、低反射で、マジック拭き取り性・耐擦傷性に優れる反射防止フイルムが得られることが分かった。
On the hard coat layer (HC-3) formed above, the low refractive index layer (LL-67) is used under the same conditions as the low refractive index layer (LL1-67). LL3-67) was applied to prepare an antireflection film sample (367), and then the antireflection film sample (367) was saponified.
The obtained antireflection film sample (367) was evaluated according to the above, and as a result, it was found that an antireflection film having low reflection and excellent magic wiping property and scratch resistance was obtained.

実施例401〜406、比較例401〜404
[低屈折率層用塗布液(LL−85)〜(LL−94)の調製]
以下の表16に示す組成の低屈折率層用塗布液を調製した。塗布液の固形分が8質量%になるようMEKとシクロヘキサノンの95対5(質量比)の混合液で溶解して、調製した。
Examples 401-406, Comparative Examples 401-404
[Preparation of Coating Solutions for Low Refractive Index Layer (LL-85) to (LL-94)]
A coating solution for a low refractive index layer having the composition shown in Table 16 below was prepared. It was prepared by dissolving in a 95: 5 (mass ratio) mixture of MEK and cyclohexanone so that the solid content of the coating solution was 8% by mass.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

表16で使用した化合物の中で表14−1〜14−4で使用していないものについて、以下に内容を示す。また、表中の部数は全て固形分(非揮発分)の質量部を表す。
・(B)導電性金属酸化物被覆層を有する微粒子:
ATO被覆シリカP3:酸化アンチモン被覆層を有するシリカ粒子P1において酸化アンチモンの代わりにATOにより被覆されているシリカ粒子。粒子の屈折率1.41、体積抵抗値は1600Ω/cm、平均粒子径は61nm、ATO被覆層の厚さは1nm。
ITO被覆シリカP4: 酸化アンチモン被覆層を有するシリカ粒子P1において酸化アンチモンの代わりにITOにより被覆されているシリカ粒子。粒子の屈折率は1.42、体積抵抗値は1300Ω/cm、平均粒子径は61nm、ITO被覆層の厚さ1nm。
・その他の微粒子
IPA−ST−L:“IPA−ST−L”商品名、日産化学製、シリカ微粒子分散物、溶媒IPA、平均粒子径約45nm
・光重合開始剤:
イルガキュア369:“イルガキュア369”商品名、チバスペシャリティーケミカルズ
Of the compounds used in Table 16, those not used in Tables 14-1 to 14-4 are shown below. Moreover, all the parts in a table | surface represent the mass part of solid content (nonvolatile content).
(B) Fine particles having a conductive metal oxide coating layer:
ATO-coated silica P3: silica particles coated with ATO instead of antimony oxide in silica particles P1 having an antimony oxide coating layer. The refractive index of the particles is 1.41, the volume resistivity is 1600 Ω / cm, the average particle diameter is 61 nm, and the thickness of the ATO coating layer is 1 nm.
ITO-coated silica P4: Silica particles coated with ITO instead of antimony oxide in silica particles P1 having an antimony oxide coating layer. The refractive index of the particles is 1.42, the volume resistivity is 1300 Ω / cm, the average particle diameter is 61 nm, and the thickness of the ITO coating layer is 1 nm.
Other fine particles IPA-ST-L: “IPA-ST-L” trade name, manufactured by Nissan Chemical Industries, silica fine particle dispersion, solvent IPA, average particle diameter of about 45 nm
・ Photopolymerization initiator:
Irgacure 369: “Irgacure 369” trade name, Ciba Specialty Chemicals

実施例58で作製したハードコート層(HC−3)の上に、上記低屈折率層用塗布液(LL−85)〜(LL−94)を用い、硬化後膜厚が95nmになるようにダイコーターで塗布し低屈折率層を塗設して反射防止膜試料(401)〜(410)を作製した。硬化条件は、80℃―120秒の乾燥の後、酸素濃度0.01%以下になるよう窒素パージし60℃に保温し、240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度120mW/cm、500mJ/cmの照射量とした。
このようにして得られた試料を用いて、前記評価(1)〜(3)及び(5)を行った。それに加え以下の評価(6)を行った。
On the hard coat layer (HC-3) produced in Example 58, the coating liquids for low refractive index layers (LL-85) to (LL-94) are used so that the film thickness after curing is 95 nm. Anti-reflection film samples (401) to (410) were prepared by applying with a die coater and applying a low refractive index layer. Curing conditions were 80 ° C.-120 seconds of drying, purged with nitrogen so that the oxygen concentration was 0.01% or less, kept at 60 ° C., and 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.). used to obtain a dose of illuminance 120mW / cm 2, 500mJ / cm 2.
The evaluations (1) to (3) and (5) were performed using the samples thus obtained. In addition, the following evaluation (6) was performed.

(評価6)防塵性
各反射防止フイルム試料の透明支持体側をCRT表面に張り付け、0.5μm以上のホコリ及びティッシュペーパー屑を、1ft3(立方フィート)当たり100〜200万個有する部屋で24時間使用した。反射防止膜100cm2当たり、付着したホコリとティッシュペーパー屑の数を測定し、それぞれの結果の平均値が20個未満の場合をA、20〜49個の場合をB、50〜199個の場合をC、200個以上の場合をDとして評価した。
結果を表17に示す。
(Evaluation 6) Dustproofness The transparent support side of each antireflective film sample was pasted on the CRT surface, and it was 24 hours in a room having 1 to 2 million dust and tissue paper waste of 0.5 μm or more per 1 ft 3 (cubic foot). used. The number of adhering dust and tissue paper waste is measured per 100 cm 2 of the antireflection film, and the average value of each result is less than 20, A is 20 to 49, B is 50 to 199 Was evaluated as C, and the case of 200 or more was evaluated as D.
The results are shown in Table 17.

Figure 0005049542
Figure 0005049542

表17によれば、本発明の導電性酸化物被覆層を有する微粒子を含有する試料は低反射で、表面抵抗が低く、防塵性と耐擦傷性に優れることが分かる。また、更に、本発明の(D)の成分である電離放射線硬化型の含フッ素防汚剤を併用することで、マジックふき取り性を劇的に改良することができ、防塵性の悪化も認められなかった。   According to Table 17, it can be seen that the sample containing fine particles having the conductive oxide coating layer of the present invention has low reflection, low surface resistance, and excellent dust resistance and scratch resistance. Furthermore, by using together with the ionizing radiation curable fluorine-containing antifouling agent which is the component (D) of the present invention, the magic wiping property can be dramatically improved, and deterioration of the dustproof property is also recognized. There wasn't.

Claims (12)

少なくとも一層の屈折率1.28〜1.48の層のうち透明支持体からもっとも遠くに位置する層が、少なくとも以下の成分を含有する塗布組成物を塗設することにより形成されていることを特徴とする反射防止フイルム。
(A)1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物
(B)導電性金属酸化物被覆層を有する、多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子
(D)少なくとも1種の電離放射線硬化型の含フッ素防汚剤
(含フッ素防汚剤は以下の一般式(F−3)で表される少なくとも1種である。)
般式(F−3):
(Rf)−[(W)−(R]
(一般式(F−3)中、Rfは(パー)フルオロポリエーテル基、Wは連結基、Rは(メタ)アクリル基を表す。nは1〜3、mは1〜3の整数を表し、nとmは同時に1であることはない。)
Of the at least one layer having a refractive index of 1.28 to 1.48, the layer farthest from the transparent support is formed by coating a coating composition containing at least the following components: Characteristic anti-reflection film.
(A) An ionizing radiation curable compound containing at least two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule (B) A porous inorganic fine particle having a conductive metal oxide coating layer or a fine particle having a cavity inside ( D) At least one ionizing radiation curable fluorine-containing antifouling agent (the fluorine-containing antifouling agent is at least one represented by the following general formula ( F-3))
One general formula (F-3):
(Rf)-[(W)-(R A ) n ] m
(In General Formula (F-3), Rf represents a (per) fluoropolyether group, W represents a linking group, and RA represents a (meth) acrylic group. N represents an integer of 1 to 3, and m represents an integer of 1 to 3. And n and m are not 1 at the same time.)
前記化合物(A)が、パーフルオロオレフィン重合単位及び(メタ)アクリロイル基含有重合単位をそれぞれ少なくとも1種含有する含フッ素ポリマーであることを特徴とする、請求項1に記載の反射防止フイルム。   2. The antireflection film according to claim 1, wherein the compound (A) is a fluoropolymer containing at least one perfluoroolefin polymer unit and a (meth) acryloyl group-containing polymer unit. 前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が酸化アンチモン被覆層を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする請求項1または2に記載の反射防止フイルム。 The porous inorganic particles or internally fine particles having a cavity (B) is an antireflection film according to claim 1 or 2, characterized in that the silica-based fine particles having an antimony oxide coating layer. 前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が多孔質シリカ系微粒子または内部に空洞を有するシリカ系微粒子であることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。 The porous inorganic particles or internally fine particles having a cavity (B) is according to any one of claims 1 to 3, characterized in that the silica-based fine particles having voids inside or porous silica-based particles Anti-reflection film. 前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)が、導電性金属酸化物被覆層の上にシリカ被覆層、または下記一般式(3)で表されるオルガノシランの加水分解物及び/又はその部分縮合物により表面処理されたシリカ被覆層を持つことを特徴とする、請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(3): (R30m1Si(X314−m1
(一般式(3)中、R30は、置換もしくは無置換のアルキル基又は、置換もしくは無置換のアリール基を表す。X31は水酸基又は加水分解可能な基を表す。m1は1〜3の整数を表す。)
The porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein are formed on a conductive metal oxide coating layer, a silica coating layer, or an organosilane hydrolyzate represented by the following general formula (3) and / or Or it has a silica coating layer surface-treated with the partial condensate, The antireflection film as described in any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned.
Formula (3): (R 30 ) m1 Si (X 31 ) 4-m1
(In general formula (3), R 30 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X 31 represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. Represents an integer.)
前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)の屈折率が1.35〜1.60の範囲にあり、体積抵抗値が10〜5000Ω/cmの範囲にあることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。 The porous inorganic fine particles or the fine particles (B) having cavities therein have a refractive index in the range of 1.35 to 1.60 and a volume resistance value in the range of 10 to 5000 Ω / cm. Item 6. The antireflection film according to any one of Items 1 to 5 . 前記多孔質無機微粒子または内部に空洞を有する微粒子(B)の平均粒子径が5〜300nmの範囲にあり、導電性金属酸化物被覆層の厚さが0.5〜30nmの範囲にあることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。 The average particle diameter of the porous inorganic fine particles or fine particles (B) having cavities therein is in the range of 5 to 300 nm, and the thickness of the conductive metal oxide coating layer is in the range of 0.5 to 30 nm. antireflection film according to any one of claims 1 to 6, wherein. 前記塗布組成物が、さらに
(C)下記一般式(I)で表されるポリシロキサン部分構造を含有する化合物を有することを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(I)
Figure 0005049542
{一般式(I)中、R及びRは同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。pは10〜500の整数を表す。}
The antireflection composition according to any one of claims 1 to 7 , wherein the coating composition further comprises (C) a compound containing a polysiloxane partial structure represented by the following general formula (I). Film.
Formula (I)
Figure 0005049542
{In General Formula (I), R 1 and R 2 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p represents an integer of 10 to 500. }
前記1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(1)で表されることを特徴とする、請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(1):
Figure 0005049542
{一般式(1)中、L11は炭素数1〜10の連結基を表し、s1は0又は1を表す。R11は水素原子又はメチル基を表す。A11は側鎖に水酸基を持つ繰り返し単位を表す。Y11はポリシロキサン構造を主鎖に含む構成成分を表わす。x、y、及びzは、Y11以外の全繰返し単位を基準とした場合のそれぞれの繰返し単位のモル%を表し、30≦x≦60、30≦y≦70、0≦z≦40を満たす値を表す。ただし、x+y+z=100(モル%)である。uは共重合体中の構成成分Y11の質量%を表し、0.01≦u≦20である。}
Wherein 1 ionizing radiation-curable compound containing at least two or more ethylenically unsaturated groups in the molecule (A) is characterized by being represented by the following general formula (1), of claim 1-8 The antireflection film according to any one of the above.
General formula (1):
Figure 0005049542
{In General Formula (1), L 11 represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, and s1 represents 0 or 1. R 11 represents a hydrogen atom or a methyl group. A 11 represents a repeating unit having a hydroxyl group in the side chain. Y 11 represents a constituent component containing a polysiloxane structure in the main chain. x, y, and z represent mol% of respective repeating units in the case relative to the total repeating units other than Y 11, satisfy 30 ≦ x ≦ 60,30 ≦ y ≦ 70,0 ≦ z ≦ 40 Represents a value. However, it is x + y + z = 100 (mol%). u represents the mass% of the component Y 11 in the copolymer is 0.01 ≦ u ≦ 20. }
前記1分子中に少なくとも2個以上のエチレン性不飽和基を含有する電離放射線硬化性化合物(A)が、下記一般式(2)で表されることを特徴とする、請求項1〜のいずれか一項に記載の反射防止フイルム。
一般式(2):
Figure 0005049542
{一般式(2)中、Rf21は炭素数1〜5のペルフルオロアルキル基を表し、Rf22は炭素数1〜30の直鎖、分岐又は脂環構造を有する含フッ素アルキル基を表し、エーテル結合を有していてもよく、A21は架橋反応に関与し得る反応性基を有する構成単位を表し、B21は任意の構成成分を表す。R21及びR22は、同一であっても異なっていてもよく、アルキル基又はアリール基を表す。p1は10〜500の整数を表す。R23〜R25は、互いに独立に、置換又は無置換の1価の有機基又は水素原子を表し、R26は水素原子又はメチル基を表わす。L21は炭素数1〜20の任意の連結基又は単結合を表す。a〜dはそれぞれポリシロキサンを含有する重合単位を除く各構成成分のモル分率(%)を表し、それぞれ10≦a+b≦55、10≦a≦55、0≦b≦45、10≦c≦50、0≦d≦40の関係を満たす値を表す。eはポリシロキサンを含有する重合単位の、他の成分全体の質量に対する質量分率(%)を表し、0.01<e<20の関係を満たす。}
Wherein 1 ionizing radiation-curable compound containing at least two or more ethylenically unsaturated groups in the molecule (A) is characterized by being represented by the following general formula (2), according to claim 1-8 The antireflection film according to any one of the above.
General formula (2):
Figure 0005049542
{In General Formula (2), Rf 21 represents a perfluoroalkyl group having 1 to 5 carbon atoms, Rf 22 represents a fluorine-containing alkyl group having a linear, branched or alicyclic structure having 1 to 30 carbon atoms, and ether A 21 may have a bond, A 21 represents a structural unit having a reactive group capable of participating in a crosslinking reaction, and B 21 represents an arbitrary structural component. R 21 and R 22 may be the same or different and each represents an alkyl group or an aryl group. p1 represents an integer of 10 to 500. R 23 to R 25 each independently represent a substituted or unsubstituted monovalent organic group or a hydrogen atom, and R 26 represents a hydrogen atom or a methyl group. L 21 represents an arbitrary linking group having 1 to 20 carbon atoms or a single bond. a to d represent the mole fraction (%) of each constituent component excluding polymer units containing polysiloxane, and 10 ≦ a + b ≦ 55, 10 ≦ a ≦ 55, 0 ≦ b ≦ 45, 10 ≦ c ≦, respectively. It represents a value satisfying the relationship of 50, 0 ≦ d ≦ 40. e represents the mass fraction (%) of the polymer unit containing polysiloxane with respect to the mass of the other components, and satisfies the relationship of 0.01 <e <20. }
請求項1〜10のいずれか一項に記載の反射防止フイルムを、少なくとも一方の側に備えたことを特徴とする偏光板。 A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of claims 1 to 10 on at least one side. 請求項1〜10のいずれか一項に記載の反射防止フイルム及び請求項11に記載の偏光板のうちの少なくとも一つが配置されていることを特徴とする画像表示装置。 An image display device, wherein at least one of the antireflection film according to any one of claims 1 to 10 and the polarizing plate according to claim 11 is disposed.
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