JP5047282B2 - 設定可能な電圧レギュレータ - Google Patents
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- N個の外部インピーダンスのうち1以上の外部インピーダンスと選択的に通信し、前記N個の外部インピーダンスのうち前記1以上の外部インピーダンスの電気特性に基づいて選択されるM個の予め定められた設定を有し、前記M個の予め定められた設定から選択される1つの設定に基づいて出力特性のM個の離散値から選択される1つの離散値を生成する設定可能集積回路と、
それぞれが前記N個の外部インピーダンスのうち1つに対応付けられているN個のスイッチと、
前記N個のスイッチを駆動して前記N個の外部インピーダンスのうち1以上を前記設定可能集積回路に選択的に接続することによって前記設定可能集積回路の出力特性を選択する選択モジュールと、
前記設定可能集積回路の出力に応じて試験される集積回路と、
前記選択モジュールが選択する前記設定可能集積回路の出力特性のそれぞれについて予め定められた動作パラメータと前記集積回路の1以上の動作パラメータとを比較する試験モジュールと
を備え、
NおよびMが1よりも大きい整数である
試験システム。 - 前記集積回路は、メモリ回路および中央演算処理装置のうち少なくとも一方を含む
請求項1に記載の試験システム。 - 前記試験モジュールは、前記出力特性の前記M個の離散値のうち少なくとも2つに基づいて前記集積回路が動作している間に、前記集積回路の動作を試験する
請求項1または2に記載の試験システム。 - 前記試験モジュールは、前記集積回路に集積化されている
請求項1から3のいずれか一項に記載の試験システム。 - 前記試験モジュールは、前記集積回路とは別個に形成されている
請求項1から3のいずれか一項に記載の試験システム。 - 前記N個の外部インピーダンス
をさらに備える、請求項1から5のいずれか一項に記載の試験システム。 - 前記N個のスイッチに接続されている電源
をさらに備える、請求項6に記載の試験システム。 - 前記設定可能集積回路は、
前記1以上の外部インピーダンスの前記電気特性を測定し、前記測定された電気特性に対応するデジタル値を決定する測定回路と、
前記デジタル値の関数としてアクセス可能な内容を含むメモリ位置を持つストレージ回路と、
前記デジタル値に対応する前記メモリ位置の前記内容に基づいて、前記設定可能集積回路の前記出力特性の前記M個の離散値から選択された前記1つの離散値を設定するコントローラと
を有し、
前記内容はそれぞれ、前記M個の予め定められた設定のうち1つに対応する
請求項1から7のいずれか一項に記載の試験システム。 - 前記測定された電気特性に対応する前記デジタル値を決定する値決定部と、
前記デジタル値を、前記メモリ位置のうち1つに対応する第1のデジタルアドレスに変換するアドレス生成部と
をさらに備える、請求項8に記載の試験システム。 - 前記N個の外部インピーダンスのうち1以上の外部インピーダンスは、抵抗器、コンデンサ、および抵抗器とコンデンサの組み合わせから成る群から選択される
請求項1から9のいずれか一項に記載の試験システム。 - P個の設定可能集積回路と、
前記P個の設定可能集積回路のそれぞれと通信するP個の追加集積回路と
をさらに備え、
前記P個の設定可能集積回路のうち少なくとも1つは前記設定可能集積回路と通信し、Pは0よりも大きい整数である
請求項1から10のいずれか一項に記載の試験システム。 - 前記P個の設定可能集積回路は、デイジーチェーン方式で接続されている
請求項11に記載の試験システム。 - 前記設定可能集積回路は電力管理インターフェースである
請求項1から12のいずれか一項に記載の試験システム。
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