JP5043526B2 - 電子顕微鏡のシャッタ装置 - Google Patents

電子顕微鏡のシャッタ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5043526B2
JP5043526B2 JP2007159058A JP2007159058A JP5043526B2 JP 5043526 B2 JP5043526 B2 JP 5043526B2 JP 2007159058 A JP2007159058 A JP 2007159058A JP 2007159058 A JP2007159058 A JP 2007159058A JP 5043526 B2 JP5043526 B2 JP 5043526B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric element
electron beam
shutter plate
shutter
beam passage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007159058A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008311136A (ja
Inventor
瀬 達 雄 成
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2007159058A priority Critical patent/JP5043526B2/ja
Publication of JP2008311136A publication Critical patent/JP2008311136A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5043526B2 publication Critical patent/JP5043526B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/04Means for controlling the discharge
    • H01J2237/043Beam blanking

Description

本発明は、電子顕微鏡の電子線通路に設けられ、電子線の通過を機械的に制御して電子顕微鏡像の観察や記録を行うシャッタ装置に関する。
電子顕微鏡には、最終の電子顕微鏡像をフィルム等の記録媒体やCCDカメラ等の検出器に露光するためのシャッタ装置が通常組み込まれている。シャッタ装置は、電子線が観察面若しくは記録面に到達する前に遮ったり透過させたりすることにより、フィルム等に所望する時間のみ露光するための装置である。
シャッタ装置には、機械式のものと電磁式のものがあり、機械式シャッタは、以前は圧縮空気やガス圧で駆動されるアクチュエータによりシャッタ板の開閉動作を行う方式が主流であった。しかし、機械式シャッタの場合は、限られた空間のしかも真空中に挿入する必要があるため複雑な機構を用いることができず、高速なシャッタ動作を行うことが困難であった。また、動作時の機械的振動が試料等の振動を引き起こし、画像に悪影響を与えていた。この問題を解決するため、例えば特許文献1の特開平5−225938号公報にはアクチュエータに圧電素子を用いた技術が開示されている。また、例えば特許文献2の特開平7−211276号公報には電磁石により動作するシャッタの技術が開示されている。
ここでは、特許文献1の特開平5−225938号公報に開示されている技術を引用して、アクチュエータに圧電素子を用いた従来技術例を図3と図4を参照しながら説明する。
図3は、アクチュエータに圧電素子を用いたシャッタ装置100の構成例を説明するためのブロック図である。シャッタ装置100は、電子線通過孔2を有するアパーチャ板1と、電子線通過孔2を開閉するためのシャッタ板5と、シャッタ板5をピン4の周りに回転させるためのテコ体3と、テコ体3の力点3aに接続された圧電素子6と、圧電素子6への電圧印加を制御してシャッタ板による電子線通過孔2の開閉動作を行うための圧電素子駆動回路8と、圧電素子駆動回路8による駆動を制御するための制御回路9を備え、圧電素子6の変形に基づく力点3aの微小移動をテコ体3により拡大してシャッタ板に伝達させるようにした構造となっている。
このように構成されたシャッタ装置において、圧電素子6に電圧を印加してテコ体3に接続された圧電素子6を駆動すると、圧電素子6の変形によりテコ体3の力点3aが微小移動する。力点3aの微小移動をテコ体3により拡大してシャッタ板に伝達するため、制御回路9により圧電素子6を駆動すると電子線通過孔2を開閉するためのシャッタ板5が両位置間を移動し、シャッタの開閉がなされる。
シャッタ装置100において、圧電素子6に電圧を印加していないシャッタが開のときの動作状態を図4(a)に、圧電素子6に電圧を印加しているシャッタが閉の時の動作状態を図4(b)に示す。
圧電素子6は一般に電圧を印加したときの応答速度が速いため、従来の圧縮空気等を用いたシャッタ装置よりも高速にシャッタ動作させる(例えば0.1秒以下での往復運動させる)ことができる。また、シャッタ動作に伴う機械的振動の発生に関しても、動作する部分が圧電素子6のみであるため、従来の圧縮空気等を用いたシャッタ装置より振動の発生を大幅に減少させることが可能となった。
特開平5−225938号公報 特開平7−211276号公報
近年の透過型電子顕微鏡は、球面収差補正装置の組み込み等により性能がますます向上してきているため、高分解能顕微鏡像を撮影するときに、シャッタ動作に伴って発生する機械的振動の影響が相対的により大きくなってきている。
背景技術において説明したように、アクチュエータに圧電素子を用いることによって大幅に機械的振動を減少させることができた。しかし、球面収差補正装置を組み込んだような高性能電子顕微鏡においては、圧電素子6の変形時に発生する振動、特に圧電素子6の変形方向に発生する振動が電子顕微鏡像に悪影響を与えて像質が不十分となる場合があり、シャッタに関する更なる振動対策が必要となってきている。
本発明は上記の問題を解決するためになされたものであって、より機械的振動の小さいシャッタ装置を提供することにより、高性能透過型電子顕微鏡において、高分解能の電子顕微鏡像を撮影するときに、シャッタ動作による振動の影響を除去することを目的としている。
上記の問題を解決するため、請求項1に記載の発明は、
電子顕微鏡の電子線通路に設けられ、電子線の通過を機械的に制御するシャッタ装置であって、
電子線通過孔を有するアパーチャ板と、該電子線通過孔を開閉するためのシャッタ板と、該シャッタ板を支点の周りに回転させるためのテコ体と、該テコ体の力点に接続された第1の圧電素子と、該第1の圧電素子を保持するための固定部材と、第1の圧電素子への電圧の印加を制御して前記シャッタ板による前記開閉動作を行うための制御電源とを備えたシャッタ装置において、
該第1の圧電素子と対称の位置に配置されて且つ電圧が印加されたとき該第1の圧電素子が変形する方向と反対方向に変形するように該固定部材に保持された第2の圧電素子と、該第2の圧電素子の先端に取り付けられた前記シャッタ板と同等の慣性質量を有する重りとを備え、
前記シャッタ板による前記電子線通過孔の開閉動作を行う時、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子に同時に電圧を印加して、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子が常に逆方向に動くよう駆動し、前記シャッタ板の駆動時に発生する振動を前記重りの振動で打ち消すようにしたことを特徴とする。
また請求項2に記載の発明は、電子顕微鏡の電子線通路に設けられ、電子線の通過を機械的に制御するシャッタ装置であって、
電子線通過孔を有するアパーチャ板と、該電子線通過孔を開閉するためのシャッタ板と、該シャッタ板を支持する第1の圧電素子と、該第1の圧電素子を保持するための固定部材と、第1の圧電素子への電圧の印加を制御して前記シャッタ板による前記開閉動作を行うための制御電源とを備えたシャッタ装置において、
該第1の圧電素子と対称の位置に配置されて且つ電圧が印加されたとき該第1の圧電素子が変形する方向と反対方向に変形するように該固定部材に保持された第2の圧電素子と、該第2の圧電素子の先端に取り付けられた前記シャッタ板と同等の慣性質量を有する重りとを備え、
前記シャッタ板による前記電子線通過孔の開閉動作を行う時、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子に同時に電圧を印加して、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子が常に逆方向に動くよう駆動し、前記シャッタ板の駆動時に発生する振動を前記重りの振動で打ち消すようにしたことを特徴とする。
本発明によれば、固定部材の対称位置に保持された二つの圧電素子を同時に反対方向に変形させることにより、シャッタ板の駆動に伴って発生する機械的振動を、シャッタ板と同等の慣性質量を持つ重りの振動によって打ち消すことができるため、鏡面収差補正装置を組み込んだような高性能電子顕微鏡においても、撮影された電子顕微鏡像への振動の影響を抑制し、像質の向上を図ることができる。
以下図面を参照しながら、本発明の実施の形態について説明する。但し、この例示によって本発明の技術範囲が制限されるものでは無い。各図において、同一または類似の動作を行うものには共通の符号を付し、詳しい説明の重複を避ける。
図1は、本発明を実施するシャッタ装置200の構成例を示すブロック図である。図1において、アパーチャ板21には電子線通過孔22が設けられている。アパーチャ板21にはテコ体23が支点となるピン24の周りに回転可能なように取り付けられている。固定部材27はアパーチャ板21の端部に取り付けられている。テコ体23の一端にはシャッタ板25が取り付けられている。テコ体の他端の力点23aは、バイモルフ型の圧電素子26aの一端に接続されている。圧電素子26aの他端は、固定部材27の取付け部27aに取り付けられている。固定部材27の取付け部27aと対称の位置にある取付け部27bにもバイモルフ型の圧電素子26bが取り付けられている。電圧印加時、圧電素子26aと圧電素子26bは固定部材27をはさんで互いに反対側に変形するように取り付けられている。圧電素子26bの他端にはシャッタ板25と同等の慣性質量を有する重り30が取り付けられている。
固定部材27には、圧電素子26aと26bを駆動するための圧電素子駆動回路28が接続され、さらに圧電素子駆動回路28による駆動を制御するための制御回路29が設けられている。バイモルフ型の圧電素子26aの曲がりにより生じるテコ体23の力点23aの微小な移動を拡大してシャッタ板25を移動させるために、力点23aとピン24との間の距離はピン24とシャッタ板25との間の距離の1/10程度に設定されている。
図2は、上記した構成のシャッタ装置200の動作を説明するための図である。図2(a)は圧電素子26aに電圧が印加されていない状態を示す図である。この状態では圧電素子26aは変形しておらず、電子線通過孔22は開かれている。次に電子顕微鏡像の写真撮影を行うため、制御回路29より圧電素子駆動回路28に駆動信号を送ると、圧電素子26aと26bに正電圧が印加され、圧電素子26aと26bは図2(b)に示すように固定部材27の中心方向に曲がる。圧電素子26aの曲がりによってテコ体23の力点23aは微小量(例えば数100μm)移動する。この移動はテコ体23により拡大されてシャッタ板25に伝達されるため、シャッタ板25は力点23aと反対方向に数mm移動し電子線通過孔22を覆う。その結果、電子線通過孔22は閉じられ、その間にフィルムへの電子顕微鏡像の露光準備が行われる。
シャッタ板25が電子線通過孔22を覆うように圧電素子26aが変形するとき、重り30が取り付けられた圧電素子26bは圧電素子26aと反対向きに変形する。この変形により圧電素子26bは圧電素子26aと逆位相の振動を発生させるので、固定部材27上でシャッタ板25の駆動により発生する振動を打ち消すことができる。続いて所望の露光時間の間、圧電素子26aと26bへの電圧印加を停止し、図2(a)に示すような電子線通過孔22が開かれた状態で、フィルム等への露光が実行される。露光が終了すると、再び図2(b)に示すように電子線通過孔22が閉じられた状態になる。
図5は、本発明を実施する他のシャッタ装置300の構成例を示すブロック図である。図5において、アパーチャ板41には電子線通過孔42が設けられている。アパーチャ板41にはテコ体43が取り付けられている。固定部材47はアパーチャ板41の端部に取り付けられている。テコ体43の一端にはシャッタ板45が取り付けられている。テコ体の他端はバイモルフ型の圧電素子46aの一端に接続されている。圧電素子46aの他端は、固定部材47の取付け部47aに取り付けられている。固定部材47の取付け部47aと対称の位置にある取付け部47bにもバイモルフ型の圧電素子46bが取り付けられている。電圧印加時、圧電素子46aと圧電素子46bは固定部材47をはさんで互いに反対側に変形するように取り付けられている。圧電素子46bの他端にはシャッタ板45と同等の慣性質量を有する重り50が取り付けられている。
固定部材47には、圧電素子46aと46bを駆動するための圧電素子駆動回路48が接続され、さらに圧電素子駆動回路48による駆動を制御するための制御回路49が設けられている。バイモルフ型の圧電素子46aの曲がりにより生じるテコ体の一端の微小な移動を拡大してシャッタ板25を移動させるために、テコ体43の長さは、シャッタ装置200に用いられるテコ体23と比較して長めに設定されている。
図6は、上記した構成のシャッタ装置300の動作を説明するための図である。図6(a)は圧電素子46aに電圧が印加されていない状態を示す図である。この状態では圧電素子46aは変形しておらず、電子線通過孔42は開かれている。次に電子顕微鏡像の写真撮影を行うため、制御回路49より圧電素子駆動回路48に駆動信号を送ると、圧電素子46aと46bに正電圧が印加され、圧電素子46aと46bは図6(b)に示すように固定部材47の中心と反対方向に曲がる。圧電素子46aの曲がりによってテコ体43の一端は微小量(例えば数100μm)移動する。この移動はテコ体43により拡大されてシャッタ板45に伝達されるため、シャッタ板45は数mm移動し電子線通過孔42を覆う。その結果、電子線通過孔42は閉じられ、その間にフィルムへの電子顕微鏡像の露光準備が行われる。
シャッタ板45が電子線通過孔42を覆うように圧電素子46aが変形するとき、重り50が取り付けられた圧電素子46bは圧電素子46aと反対向きに変形する。この変形により圧電素子46bは圧電素子46aと逆位相の振動を発生させるので、固定部材47上でシャッタ板45の駆動により発生する振動を打ち消すことができる。続いて所望の露光時間の間、圧電素子46aと46bへの電圧印加を停止し、図6(a)に示すような電子線通過孔42が開かれた状態で、フィルム等への露光が実行される。露光が終了すると、再び図6(b)に示すように電子線通過孔42が閉じられた状態になる。
なお上記の実施例の説明において、圧電素子に電圧を印加したときにシャッタ板が電子線通過孔を覆うようにしたが、必ずしもそうする必要は無く、圧電素子に電圧を印加した状態では電子線通過孔が開かれており、圧電素子への電圧の印加を停止することにより電子線通過孔を閉じる構成としても良い。この場合でも、重りを取り付けたほうの圧電素子が常にシャッタ板を取り付けたほうの圧電素子と反対向きに変形するように固定部材に取り付けられていれば良い。
また、上記の実施例では圧電素子にバイモルフ型を用いるようにしたが、必ずしもバイモルフ型を用いる必要は無く、例えば剪断変形型の圧電素子を用いるようにしても良い。
以上説明したように、本発明によれば、固定部材の対称位置に保持された二つの圧電素子を同時に反対方向に変形させることにより、シャッタ板の駆動に伴って発生する機械的振動を、シャッタ板と同等の慣性質量を持つ重りの振動によって打ち消すようにしたので、鏡面収差補正装置を組み込んだような高性能電子顕微鏡においても、撮影された電子顕微鏡像への振動の影響を抑制し、像質の向上を図ることができる。
本発明を実施するシャッタ装置の構成例を示すブロック図である。 本発明を実施するシャッタ装置の動作を説明するための図である。 アクチュエータに圧電素子を用いた従来のシャッタ装置の構成例を説明するためのブロック図である。 アクチュエータに圧電素子を用いた従来のシャッタ装置の動作を説明するための図である。 本発明を実施する他のシャッタ装置の構成例を示すブロック図である。 本発明を実施する他のシャッタ装置の動作を説明するための図である。
符号の説明
(同一または類似の動作を行うものには共通の符号を付す。)
21、41 アパーチャ板
22、42 電子線通過孔
23、43 テコ体
3a、23a 力点
24 ピン
25、45 シャッタ板
6、26a、26b、46a、46b 圧電素子
7、27、47 固定部材
8、28、48 圧電素子駆動回路
9、29,49 制御回路
27a、27b、47a、47b 取付け部
100、200、300 シャッタ装置

Claims (2)

  1. 電子顕微鏡の電子線通路に設けられ、電子線の通過を機械的に制御するシャッタ装置であって、
    電子線通過孔を有するアパーチャ板と、該電子線通過孔を開閉するためのシャッタ板と、該シャッタ板を支点の周りに回転させるためのテコ体と、該テコ体の力点に接続された第1の圧電素子と、該第1の圧電素子を保持するための固定部材と、第1の圧電素子への電圧の印加を制御して前記シャッタ板による前記開閉動作を行うための制御電源とを備えたシャッタ装置において、
    該第1の圧電素子と対称の位置に配置されて且つ電圧が印加されたとき該第1の圧電素子が変形する方向と反対方向に変形するように該固定部材に保持された第2の圧電素子と、該第2の圧電素子の先端に取り付けられた前記シャッタ板と同等の慣性質量を有する重りとを備え、
    前記シャッタ板による前記電子線通過孔の開閉動作を行う時、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子に同時に電圧を印加して、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子が常に逆方向に動くよう駆動し、前記シャッタ板の駆動時に発生する振動を前記重りの振動で打ち消すようにしたことを特徴とするシャッタ装置。
  2. 電子顕微鏡の電子線通路に設けられ、電子線の通過を機械的に制御するシャッタ装置であって、
    電子線通過孔を有するアパーチャ板と、該電子線通過孔を開閉するためのシャッタ板と、該シャッタ板を支持する第1の圧電素子と、該第1の圧電素子を保持するための固定部材と、第1の圧電素子への電圧の印加を制御して前記シャッタ板による前記開閉動作を行うための制御電源とを備えたシャッタ装置において、
    該第1の圧電素子と対称の位置に配置されて且つ電圧が印加されたとき該第1の圧電素子が変形する方向と反対方向に変形するように該固定部材に保持された第2の圧電素子と、該第2の圧電素子の先端に取り付けられた前記シャッタ板と同等の慣性質量を有する重りとを備え、
    前記シャッタ板による前記電子線通過孔の開閉動作を行う時、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子に同時に電圧を印加して、前記第1の圧電素子と前記第2の圧電素子が常に逆方向に動くよう駆動し、前記シャッタ板の駆動時に発生する振動を前記重りの振動で打ち消すようにしたことを特徴とするシャッタ装置。
JP2007159058A 2007-06-15 2007-06-15 電子顕微鏡のシャッタ装置 Expired - Fee Related JP5043526B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007159058A JP5043526B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 電子顕微鏡のシャッタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007159058A JP5043526B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 電子顕微鏡のシャッタ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008311136A JP2008311136A (ja) 2008-12-25
JP5043526B2 true JP5043526B2 (ja) 2012-10-10

Family

ID=40238558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007159058A Expired - Fee Related JP5043526B2 (ja) 2007-06-15 2007-06-15 電子顕微鏡のシャッタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5043526B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018092946A1 (ko) * 2016-11-18 2018-05-24 한국표준과학연구원 벤딩 피에조 액추에이터를 이용한 원자빔 셔터
CN115561946A (zh) * 2022-09-20 2023-01-03 河南皓泽电子股份有限公司 压电驱动式快门、镜头模组及照相设备

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03245777A (ja) * 1990-02-23 1991-11-01 Hitachi Ltd 駆動装置
JPH05225938A (ja) * 1992-02-07 1993-09-03 Jeol Ltd 電子顕微鏡
JPH07211276A (ja) * 1994-01-12 1995-08-11 Hitachi Ltd 電子顕微鏡等の露出用シャッター機構
JP4460742B2 (ja) * 1999-10-01 2010-05-12 日本碍子株式会社 圧電/電歪デバイス及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008311136A (ja) 2008-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7973855B2 (en) Image shake correction apparatus and method
US7570882B2 (en) Shutter for miniature camera
JP4806026B2 (ja) 画像を安定化させたデジタル画像化
KR101798181B1 (ko) 셔터 장치 및 그를 구비한 이미지 캡쳐 장치
JP6888629B2 (ja) 交換レンズ及びその制御方法、撮像装置、並びに、カメラシステム
JP5127985B2 (ja) アクチュエータおよび投影露光システム
JP2007163594A (ja) 光学機器および撮像システム
JP5043526B2 (ja) 電子顕微鏡のシャッタ装置
JP2005352033A (ja) レンズ駆動機構及び撮像装置
US6899262B2 (en) Clamping device
JP2008257028A (ja) 入射光調節装置
JP2008148178A (ja) 撮像装置
JP3403748B2 (ja) 位置決め装置及びこれを用いたテーブル装置
JPH05225938A (ja) 電子顕微鏡
JP2008158233A (ja) ブレ補正装置、及び光学装置
JP2009008717A (ja) 光調節装置及び光学装置
JP2630301B2 (ja) 圧電クランプ機構
CN107526144B (zh) 位置调整机构、曝光装置以及物品的制造方法
WO2013088777A1 (ja) フォーカルプレーンシャッタ及びそれを備えた光学機器
JP2008051989A (ja) シャッタ装置、レンズ鏡筒、カメラ
JPWO2013005442A1 (ja) 駆動装置、光学装置および撮像装置
TWI283793B (en) Optical projection apparatus
JP2009294342A (ja) 光調節装置
WO2018230591A1 (ja) フォーカルプレンシャッタ及び撮像装置
JP2018146944A (ja) フォーカルプレンシャッタ及び撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100305

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120214

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120412

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120626

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120712

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5043526

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150720

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees