JP5030252B2 - 圧電アクチュエータ、圧電アクチュエータの製造方法及び液体吐出ヘッド - Google Patents

圧電アクチュエータ、圧電アクチュエータの製造方法及び液体吐出ヘッド Download PDF

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Description

本発明は圧電アクチュエータ、圧電アクチュエータの製造方法及び液体吐出ヘッドに係り、特に外力に対する耐久性が高い圧電アクチュエータに関する技術に関する。
従来、圧電体の膜が成膜された圧電アクチュエータにおいて、膜に含まれる結晶体を膜面方向に対して略垂直な柱状の構造することにより圧電特性を高める技術が提案されている。例えば、特許文献1には、多結晶体からなるPZT膜と、PZT膜を挟んで配置される上電極と下電極を備えており、PZT膜の結晶体の粒界を、電極面に対して略垂直方向に存在させた圧電体薄膜素子について開示されている。この特許文献1には、結晶体の結晶粒の膜厚方向の幅と、膜面方向の幅との関係が膜面方向の幅/膜厚方向の幅=1/10以上1/3以下とすることが好ましいと記載されている。また、特許文献2には、圧電薄膜の結晶粒の縦横比(膜厚方向/膜面方向)が大きくなるにつれて徐々に圧電振動が大きくなる、すなわち、圧電特性が高くなると記載されている。
特開平10−81016号公報(段落0028等) 特開2002−43643号公報(段落0024から0027)
しかしながら、上記特許文献1及び2に開示された圧電体の膜(圧電膜)は、結晶体が膜面方向に対して略垂直の柱状構造となっているため、膜厚方向の結合力は強いが、膜面方向の結合力が弱い。このため、膜面方向に外力が加えられた場合には、柱状構造の柱の界面に沿ってクラックが生じて破壊するおそれがあった。例えば、上記のような圧電膜をインクジェット記録装置の液体吐出ヘッドに用いた場合には、膜面方向の圧縮・伸長が長時間にわたって繰り返し行われるため、特にクラックが生じやすい。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、膜面方向に加えられる外力に対する耐久性が高い圧電アクチュエータ、圧電アクチュエータの製造方法、及び上記のような圧電アクチュエータを用いた液体吐出ヘッドを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の第1の態様に係る圧電アクチュエータは、基材と、前記基材上に形成された柱状の結晶体を含む圧電膜であって、前記結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度である圧電膜とを備えることを特徴とする。
上記第1の態様に係る圧電アクチュエータによれば、柱状の結晶体が基板に対して傾斜した圧電膜が成膜されているため、圧電膜の膜面方向の結合力を高めることができる。
本発明の第2の態様に係る圧電アクチュエータは、上記第1の態様において、前記圧電膜は、前記基材の法線方向に前記所定の角度以上の傾きを有する柱状の結晶体を含む複数の層から構成されており、前記複数の層のうち少なくとも2つの層の間において、各層の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とによって張られる平面の前記法線回りの角度が異なることを特徴とする。
上記第2の態様に係る圧電アクチュエータによれば、柱状の結晶体が基板の法線方向に対して傾いているのに加えて、結晶体が基板の法線方向回りに異なる角度をなす層が積層されているため、圧電膜の膜面方向の結合力を更に高めることができる。
本発明の第3の態様に係る圧電アクチュエータは、基材と、柱状の結晶体を含む複数の層から構成される圧電膜であって、前記結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とのなす角が、前記複数の層のうち少なくとも2つの層の間において異なる圧電膜とを備えることを特徴とする。
上記第3の態様に係る圧電アクチュエータによれば、柱状の結晶体が基板に対して傾斜した圧電膜の層が成膜されているため、圧電膜の膜面方向の結合力を高めることができる。
本発明の第4の態様に係る圧電アクチュエータは、上記第1からの態様において、前記圧電膜は、前記基材上にスパッタ法、蒸着法、MOCVD法又はゾル・ゲル法によって成膜されていることを特徴とする。上記第4の態様は、圧電膜の成膜方法を列挙したものである。
本発明の第5の態様に係る圧電アクチュエータは、上記第4の態様において、前記所定の角度は、45°以下であることを特徴とする。上記第5の態様は、上記第4の態様における所定の角度を限定したものである。
本発明の第6の態様に係る液体吐出ヘッドは、上記第1から5の態様に係る圧電アクチュエータを備えることを特徴とする。
上記第6の態様に係る液体吐出ヘッドは、上記の圧電アクチュエータを備えることにより耐久性が向上するという利点がある。
本発明の第7の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法は、(a)基材と、圧電体材料からなるターゲット材とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度となるように保持するステップと、(b)前記ターゲット材をスパッタして、前記基材上に前記圧電体材料を堆積させ、膜を成膜するステップとを備えることを特徴とする。
上記第7の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法によれば、柱状の結晶体が基板に対して傾斜した圧電膜が成膜することができる。これにより、膜面方向の結合力が高く、耐久性の高い圧電膜を成膜できる。
本発明の第8の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法は、(a)基材と、圧電体材料からなるターゲット材とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度となるように保持するステップと、(b)前記ターゲット材をスパッタして、前記基材上に前記圧電体材料を堆積させ、膜を成膜するステップと、(c)前記基材と前記ターゲット材とを相対的に回転させるステップと、(d)前記ステップ(b)から(c)を繰り返して、複数の層からなる圧電膜であって、前記複数の層のうち少なくとも2つの層の間において、各層の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とによって張られる平面の前記法線回りの角度が異なる圧電膜を、前記基材上に成膜するステップとを備えることを特徴とする。
上記第8の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法よれば、柱状の結晶体が基板の法線方向に対して傾いているのに加えて、結晶体が基板の法線方向回りに異なる角度をなす層が積層された圧電膜を成膜できる。これにより、圧電膜の膜面方向の結合力を更に高めることができる。
本発明の第9の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法は、(a)基材と、圧電体材料からなるターゲット材とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度となるように保持するステップと、(b)前記ターゲット材をスパッタして、前記基材上に前記圧電体材料を堆積させ、膜を成膜するステップと、(c)基材及び圧電体材料からなるターゲット材のなす角を変更するステップと、(d)前記ステップ(b)から(c)を繰り返して、前記基材上に複数の層からなる圧電膜を成膜するステップとを備えることを特徴とする。
上記第9の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法によれば、柱状の結晶体が基板に対して傾斜した複数の層からなる圧電膜が成膜することができる。これにより、膜面方向の結合力が高く、耐久性の高い圧電膜を成膜できる。
本発明の第10の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法は、(a)第1の基材上に柱状の結晶体を含む圧電膜を形成するステップと、(b)前記圧電膜を前記第1の基材上から剥離するステップと、(c)前記圧電膜に含まれる結晶体の長さ方向に対して0°より大きく、90°以下の所定の角度をなす平面に沿って前記圧電膜を切断又は研磨するステップと、(d)前記切断又は研磨された圧電膜を第2の基材上に貼り付けるステップとを備えることを特徴とする。
上記第10の態様に係る圧電アクチュエータの製造方法によれば、柱状の結晶体の基板に対する傾斜角の自由度が増すという利点がある。
本発明に係る圧電アクチュエータによれば、柱状の結晶体が基板に対して傾斜した圧電膜が成膜されているため、圧電膜の膜面方向の結合力を高めることができるとともに、これを用いた液体吐出ヘッドの耐久性の向上を図ることができる。
以下、添付図面に従って本発明に係る圧電アクチュエータ、圧電アクチュエータの製造方法及び液体吐出ヘッドの好ましい実施の形態について説明する。
まず、本発明に係る液体吐出ヘッドが適用されるインクジェット記録装置について、図1及び図2を参照して説明する。図1は、インクジェット記録装置の全体構成図である。
同図に示すインクジェット記録装置10は、インクの色ごとに設けられた複数の液体吐出ヘッド(以下、単に「ヘッド」という)12K、12C、12M、12Yを有する印字部12と、各ヘッド12K、12C、12M、12Yに供給するインクを貯蔵しておくインク貯蔵/装填部14と、記録紙16を供給する給紙部18と、記録紙16のカールを除去するデカール処理部20と、印字部12のノズル面(インク吐出面)に対向して配置され、記録紙16の平面性を保持しながら記録紙16を搬送する吸着ベルト搬送部22と、印字部12による印字結果を読み取る印字検出部24と、印画済みの記録紙(プリント物)を外部に排紙する排紙部26とを備えている。
給紙部18から送り出される記録紙16はマガジンに装填されていたことによる巻き癖が残る(カールする)。このカールを除去するために、デカール処理部20においてマガジンの巻き癖方向と逆方向に加熱ドラム30で記録紙16に熱を与える。
図1に示すインクジェット記録装置は、記録紙16としてロール紙を使用するため、裁断用のカッター(第1のカッター)28が設けられている。このカッター28によってロール紙(記録紙16)は所望のサイズにカットされる。カッター28は、記録紙16の搬送路幅以上の長さを有する固定刃28Aと、この固定刃28Aに沿って移動する丸刃28Bとから構成されている。固定刃28Aは記録紙16の印字面の裏面側に設けられ、搬送路を挟んで印字面側に丸刃28Bが配置される。なお、記録紙16としてカット紙を使用する場合には、カッター28は不要である。
デカール処理後、カットされた記録紙16は、吸着ベルト搬送部22へと送られる。吸着ベルト搬送部22は、ローラ31、32間に無端状のベルト33が巻き掛けられた構造を有し、少なくとも印字部12のノズル面及び印字検出部24のセンサ面に対向する部分が水平面(フラット面)をなすように構成されている。
ベルト33は、記録紙16の幅よりも広い幅寸法を有しており、ベルト面には多数の吸引孔(不図示)が形成されている。図1に示すように、ローラ31、32間に掛け渡されたベルト33の内側において印字部12のノズル面及び印字検出部24のセンサ面に対向する位置には吸着チャンバ34が設けられており、この吸着チャンバ34をファン35で吸引して負圧にすることによってベルト33上の記録紙16が吸着保持される。
ベルト33が巻かれているローラ31、32の少なくとも一方にモータ(不図示)の動力が伝達されることにより、ベルト33は図1上の時計回り方向に駆動され、ベルト33上に保持された記録紙16は図1の左から右へと搬送される。
縁無しプリント等を印字するとベルト33上にもインクが付着するので、ベルト33の外側の所定位置(印字領域以外の適当な位置)にベルト清掃部36が設けられている。
吸着ベルト搬送部22により形成される用紙搬送路上において印字部12の上流側には、加熱ファン40が設けられている。加熱ファン40は、印字前の記録紙16に加熱空気を吹き付け、記録紙16を加熱する。印字直前に記録紙16を加熱しておくことにより、インクが着弾後乾き易くなる。
印字部12は、最大紙幅に対応する長さを有するライン型ヘッドを紙送り方向と直交方向(主走査方向)に配置した、いわゆるフルライン型のヘッドとなっている(図2参照)。各印字ヘッド12K、12C、12M、12Yは、図2に示すように、インクジェット記録装置10が対象とする最大サイズの記録紙16の少なくとも一辺を超える長さにわたってインク吐出口(ノズル)が複数配列されたライン型ヘッドにより構成されている。
記録紙16の搬送方向に沿って上流側から黒(K)、シアン(C)、マゼンタ(M)、イエロー(Y)の順に各色インクに対応したヘッド12K、12C、12M、12Yが配置されている。記録紙16を搬送しつつ各ヘッド12K、12C、12M、12Yからそれぞれ色インクを吐出することにより記録紙16上にカラー画像を形成し得る。
印字検出部24は、印字部12の打滴結果を撮像するためのラインセンサを含んでいる。このラインセンサによって読み取られた打滴画像からノズルの目詰まりその他の吐出不良をチェックすることができる。
以下、再び図1を参照して説明する。印字検出部24の後段には、後乾燥部42が設けられている。後乾燥部42は、印字された画像面を乾燥させる手段であり、例えば、加熱ファンが用いられる。印字後のインクが乾燥するまでは印字面と接触することは避けたほうが好ましいので、熱風を吹き付ける方式が好ましい。
後乾燥部42の後段には、加熱・加圧部44が設けられている。加熱・加圧部44は、画像表面の光沢度を制御するための手段である。記録紙16の画像面は、この加熱・加圧部44によって加熱されながら、表面に所定の凹凸形状を有する加圧ローラ45によって加圧される。これにより、記録紙16の画像面に加圧ローラ45の表面の凹凸形状が転写される。
こうして生成されたプリント物はカッター28によって所定のサイズに切断された後、排紙部26から排出される。なお、本来プリントすべき本画像(目的の画像を印刷したもの)とテスト印字とは分けて排出されることが好ましい。このインクジェット記録装置10では、本画像のプリント物と、テスト印字のプリント物とを選別してそれぞれの排紙部26A、26Bへと送るために排紙経路を切り替える不図示の選別手段が設けられている。なお、大きめの用紙に本画像とテスト印字とを同時に並列に形成する場合は、カッター(マスク用カッター)48によってテスト印字の部分を切り離す。
次に、本発明に係る液体吐出ヘッドの製造方法について、図3を参照して説明する。図3は、本発明に係る液体吐出ヘッドの製造方法を示す図である。図3(a)から図3(i)は、液体吐出ヘッドの製造の段階ごとの断面図である。なお、実際には、1枚の基板から複数の液体吐出ヘッドが作成されるが、図3では1つに省略されている。
まず、図3(a)に示すように、SOI(Silicon on Insulator)基板50が形成される。このSOI基板50は、シリコン(Si)基板52上に、酸化シリコン(SiO)層54と、シリコン層56が形成されたものである。シリコン基板52、酸化シリコン層54及びシリコン層56の厚さは、一例でそれぞれ約200μm、1μm、10μmである。
次に、図3(b)に示すように、このシリコン層56上に下部電極58が形成される。この下部電極58は、例えば、白金(Pt)製であり、例えば、スパッタ法により形成される。この下部電極58の厚さは一例で300nmである。なお、この下部電極58には、例えば、リフトオフ法やドライエッチング法により所定のパターン化が施される。
下部電極58上には、図3(c)に示すように圧電体の膜(圧電膜)60が成膜される。この圧電膜60を成膜する成膜装置及び手順の詳細については後述する。この圧電膜60は、インク室(後述)に対応して約500μm角のサイズになるようにパターン化される。なお、このパターン化は、ドライエッチングやサンドブラストにより行われる。
そして、所定の処理が施された圧電膜60上には、図3(d)に示すように上部電極62が形成される。この上部電極62は、例えば、白金製であり、例えば、リフトオフ法やドライエッチング法により形成される。
シリコン基板52の図中下面には、図3(e)に示すようにマスク用酸化シリコン層64が形成される。このマスク用酸化シリコン層64は、例えば、シリコン基板52の図中下面に熱酸化処理を施すことにより形成される。また、マスク用酸化シリコン層64は、シリコン基板52の図中下面に直接成膜されるようにしてもよい。
このマスク用酸化シリコン層64上には、フォトレジスト層(不図示)が形成される。このフォトレジスト層には、インク室(後述)の形状に対応するフォトレジストパターンが形成される。そして、図3(f)に示すように、このフォトレジストパターンをエッチングマスクとして、マスク用酸化シリコン層64がエッチングされる。ここで、マスク用酸化シリコン層64は、例えば、フッ酸系のエッチング液(例えば、バッファードフッ酸:BHF)によりエッチングされ、酸化シリコンパターン64Aが形成される。
そして、この酸化シリコンパターン64Aをエッチングマスクとして、かつ、酸化シリコン層54をエッチングストップ層として、シリコン基板52の露出している部分がエッチングされる。ここでは、例えば、エチレンジアミンピロカテコール(EDP)や、水酸化カリウム(KOH)、水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)等の溶液を加熱したエッチング液を用いて、シリコン基板52が異方性エッチングされ、図3(g)に示すようにインク室隔壁52Aに囲まれた、オープンプール構造のインク室66が形成される。なお、エッチングに関しては、プラズマを用いたドライプロセスによる異方性エッチングを用いても構わない。このインク室隔壁52Aの太さ(図の横方向の幅)は、一例で30nmから70nmである。また、酸化シリコン層54及びシリコン層56からなる振動板68が形成される。これにより、下部電極58、圧電膜60及び振動板68の構造体が得られる。なお、この酸化シリコンパターン64Aは、インク室66が形成された後、図3(h)に示すようにエッチングにより除去される。
最後に、ノズル70Aを有するノズルプレート70が、インク室隔壁52Aを挟んで振動板68と対向する面に接着剤によって貼り付けられて、液体吐出ヘッド72が作製される(図3(i))。
次に、上記図3(c)における圧電膜を成膜する成膜装置について、図4を参照して説明する。図4は、成膜装置の主要構成を示す図である。同図に示す成膜装置80は、基材82上にスパッタ法(RFスパッタ法)により圧電体の膜を成膜する装置であり、基板ホルダ84、基板ホルダ駆動部86、ターゲット材ホルダ88、電源装置90及び制御装置92を備える。なお、基板ホルダ84及びターゲット材ホルダ88は、真空チャンバ94内に配置される。
基板ホルダ84には、圧電膜が成膜される基材82が載置される。この基材82は、SOI基板50上に下部電極58が形成されたものである(図3(b)参照)。基板ホルダ84は、基板ホルダ駆動部86によって駆動され、基材82とターゲット材96とのなす角度θが可変になっている。また、基板ホルダ84は、基板ホルダ駆動部86によって、ターゲット材96に対して略垂直な回転軸AX周りに回転可能となっている。
ターゲット材ホルダ88には、圧電体材料で形成されたターゲット材96が保持される。このターゲット材96は板状に加工されている。本実施形態では、ターゲット材96の圧電体材料としてチタン酸ジルコン酸塩(PZT;Pb (lead) zirconate titanate)を用いる。この圧電体材料としては、上記PZTのほか、ランタン(La)、ネオジム(Nd)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、アンチモン(Sb)、ビスマス(Bi)等の他の元素が添加された変性PZT系材料を用いることができる。さらに、圧電体材料としては、複合ペロブスカイト型化合物のPb(Ni1/3Nb2/3)Oと単純ペロブスカイト型化合物PbTiO及びPbZrOとを主成分とする磁器組成物や、この磁気組成物において、Pb(Ni1/3Nb2/3)O、PbTiO及びPbZrOを頂点とする三角座標中、Pb(Ni1/3Nb2/3)OをXモル%、PbTiOをYモル%、PbZrOをZモル%とした場合(但し、X+Y+Z=1)、その組成範囲がA点(X=40、Y=37、Z=23)、B点(X=36、Y=37、Z=27)、C点(X=33、Y=40、Z=27)及びD点(X=37、Y=40、Z=23)の各組成点を結ぶ線上及びこの4点に囲まれた領域であるものを主成分とする圧電磁器組成物を用いることができる(例えば、特開2004−59369号公報(第1ページ、図1)参照)。また、PbMg1/3Nb2/3−PbZrO−PbTiO三成分固溶系組成物で、一般式Pb(Mgy/3Nb2/3TiZrに示す組成物を主成分とし、NiOを全組成物中0.05〜10.0重量%含有する磁器組成物からなる圧電体材料を用いることができる(例えば、特開2004−153252号公報(第1ページ)参照)。また、PZTに他の元素を混合した圧電体材料を用いることもできる(例えば、特開2004−59369号公報(第1ページ、図1)、特開2004−153252号公報(第1ページ)及び特開2004−67437号公報(第1ページ、図1)参照)。また、0.91Pb(Zn1/3Nb2/3)O−0.09PbTiO(PZN−PT系材料)の単結晶体(例えば、桑田他、「0.91Pb(Zn1/3Nb2/3)O−0.09PbTiO単結晶の誘電特性及び圧電特性(Dielectric and Piezoelectric Properties of 0.91Pb(Zn1/3Nb2/3)03-0.09PbTi03Single Crystals)」、ジャパニーズ・ジャーナル・オブ・アプライド・フィジックス(JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS;JJAP)、第21巻、第9号、1982年9月、p.1298〜1302参照)。なお、本実施形態では、上記のほか、圧電定数d31が約100pm/V以上の任意の圧電体材料を用いることができる。
電源装置90は、真空チャンバ94及びターゲット材96に電圧を印加する。制御装置92は、基板ホルダ駆動部86や電源装置90等、成膜装置80の各ブロックを制御する。
真空チャンバ94には、排気ポンプ98が配設されている。真空チャンバ94の内部は、この排気ポンプ98によって所定の真空度になるまで排気される。ガス導入口100は、真空チャンバ94内にアルゴン(Ar)ガス及び酸素(O)ガスを導入するための導入口である。
圧電膜の成膜を行う際には、まず、基材82及びターゲット材96がそれぞれ基板ホルダ84及びターゲット材ホルダ88に保持される。次に、真空チャンバ94内が排気されて、アルゴンガス及び酸素ガスが導入される。電源装置90によって真空チャンバ94とターゲット材96に高周波電圧が印加される。すると、真空チャンバ94は接地されているため、ターゲット材96側において電子の密度が高くなり、ターゲット材96がマイナスにバイアスされる。そして、アルゴンのイオンがターゲット材96に引き寄せられ、ターゲット材96の表面の圧電体材料(PZT)の一部102がスパッタされる(跳ね飛ばされる)。こうしてスパッタされたPZT102は、基材82に衝突して付着する。上述のように、PZT102が基材82上に堆積することにより、基材82上においてPZTの結晶体が成長して、柱状構造の圧電膜(図3の符号60)が成膜される。ここで、柱状構造とは、一方向に伸びた結晶体(柱状の結晶体)が集まってなる構造である。これにより、柱状の結晶体が集まった構造の圧電膜を有する圧電アクチュエータが作成される。
なお、図4の成膜装置80では、基板ホルダ84が駆動されて相互の位置関係が調整されているが、ターゲット材ホルダ88が駆動されるようにしてもよいし、また、基板ホルダ84とターゲット材ホルダ88の両方が駆動されるようにしてもよい。
次に、本発明の圧電アクチュエータの製造方法の実施例について、図5以降を参照して説明する。図5は、本発明の第1の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャートである。まず、基材82及びターゲット材96がそれぞれ基板ホルダ84及びターゲット材ホルダ88に保持される。また、真空チャンバ94内が排気されて、アルゴンガスが導入される。そして、基板ホルダ駆動部86によって基板ホルダ84が駆動されて、基材82とターゲット材96とのなす角度θが、例えば、約80°に調整される(ステップS10)。次に、図示せぬ加熱手段によって基材82の温度が約570℃に加熱され、電源装置90によって真空チャンバ94とターゲット材96に高周波電圧が印加されて、圧電膜の成膜が実行される(ステップS12)。ステップS12では、約10μmの圧電膜60が成膜される。これにより、基材82の表面に対して所定の角度をなす柱状の結晶体から構成される圧電膜60が成膜される。
図6は、圧電膜の断面を電子顕微鏡(SEM)により撮像した写真である。図6(a)に示す圧電膜(PZT膜)60−1は、本実施例に対応しており、基材82とターゲット材96とが互いになす角度θが約80°になるように保持されて成膜されたものである。また、図6(b)に示す圧電膜60−2は、基材82とターゲット材96とが略平行(θ=0°)に保持されて成膜されたものである。なお、圧電膜60−1及び60−2の膜厚はともに約10μmであり、成膜時の基材82の温度は約570℃であった。また、図中の圧電膜60−1及び60−2内のスジは柱状の結晶体の界面である。
図6(a)に示すように、圧電膜60−1では、柱状の結晶体が基材82の表面に対して一様に傾斜していることが観察された。この柱状の結晶体が基材82の法線方向に対してなす傾斜角αは約40°であった。また、図6(b)に示すように、圧電膜60−2では、柱状の結晶体が基材82の表面に対して略垂直であることが観察された。このように、本実施例によれば、柱状の結晶体が基材82に対して傾斜した圧電膜を成膜できる。これにより、圧電膜の膜面方向(図の横方向)の結合力を高めることができ、圧電アクチュエータの耐久性を高めることができる。
本実施例の圧電アクチュエータの製造方法では、基材82とターゲット材96とのなす角度θを変化させて成膜した場合にも、この傾斜角αの値は角θの約1/2となった。したがって、角度θを0°<θ≦約90°の範囲で調整して成膜を行うことにより、結晶体の傾斜角αを0°<α≦約45°の範囲で制御することができる。なお、傾斜角αの値は、約1°以上であることが好ましい。
なお、柱状の結晶体が基材82の法線方向に対して所定の傾斜角αをなす圧電膜を成膜する方法は、上記のように基材82とターゲット材96のなす角度θを調整することに限定されるものではない。例えば、適当な基材(一次成膜用基材)上に圧電膜を成膜し、この圧電膜をこの一次成膜用基材から剥離する。そして、この圧電膜内の柱状の結晶体に対して所定の角度をなす平面でこの圧電膜を切断又は研磨して、基材82上に貼り付けることによっても本実施例と同様の圧電膜を得ることができる。この場合、基材82とターゲット材96のなす角度θによって、結晶体の傾斜角αの範囲が制限されることはない。なお、一次成膜用基材の成膜面には、圧電膜を剥離しやすいように、圧電膜に影響を与えない薬品等により容易に除去できる層を設けておくことが好ましい。
次に、本発明の第2の実施例について、図7から図9を参照して説明する。図7は、本発明の第2の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャートである。まず、基材82及びターゲット材96がそれぞれ基板ホルダ84及びターゲット材ホルダ88に保持される。また、真空チャンバ94内が排気されて、アルゴンガスが導入される。そして、基板ホルダ駆動部86によって基板ホルダ84が駆動されて、基材82とターゲット材96とのなす角度θが、例えば、約10°に調整される(ステップS20)。次に、図示せぬ加熱手段によって基材82の温度が約570℃に加熱され、電源装置90によって真空チャンバ94とターゲット材96に高周波電圧が印加されて、圧電膜の成膜が実行される(ステップS22)。ステップS22では、約2.5μmの圧電膜が成膜される。
その次に、基板ホルダ駆動部86によって基板ホルダ84が回転軸AX周りに所定の角度(例えば、約90°)回転されて(ステップS26)、ステップS22に戻る。そして、ステップS22からS26が所定の回数繰り返されて、圧電膜が所定の膜厚に達すると(例えば、4回繰り返されて膜厚が約10μmに達すると)、成膜が終了する(ステップS24のYes)。
図8は、本実施例により成膜された圧電膜の断面図である。同図に示す圧電膜60は、4つの層60Aから60Dから構成されており、各層の膜厚は約2.5μmで、圧電膜60の合計膜厚は約10μmである。上記のように、各層60Aから60Dは、角θを約10°として成膜したものであり、各層60Aから60Dの断面を電子顕微鏡により観察したところ、その傾斜角αは約5°であった。
また、上記のように、各層60Aから60Dは、基材82が回転軸AX周りに約90°回転されて成膜されたものである。このため、図9に示すように、各層60Aから60Dの結晶体の長さ方向に沿った直線と、基材82の法線方向に沿った直線によって張られる平面は、1層ごとに約90°回転している。
本実施例によれば、柱状の結晶体が基材82の法線方向に対して傾いているのに加えて、結晶体が基材82の法線方向回りに異なる角度をなす層が積層されているため、圧電膜の膜面方向(図8の横方向)の結合力を更に高めることができ、圧電アクチュエータの耐久性を高めることができる。
なお、本実施例では、成膜時に基材82とターゲット材96を相対的に回転させて、柱状の結晶がらせん状に配置されるようにしてもよい。
次に、本発明の第3の実施例について、図10を参照して説明する。図10は、本発明の第3の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャートである。まず、基材82及びターゲット材96がそれぞれ基板ホルダ84及びターゲット材ホルダ88に保持される。また、真空チャンバ94内が排気されて、アルゴンガスが導入される。そして、基板ホルダ駆動部86によって基板ホルダ84が駆動されて、基材82とターゲット材96とのなす角度θが、例えば、約10°に調整される(ステップS30)。次に、図示せぬ加熱手段によって基材82の温度が約570℃に加熱され、電源装置90によって真空チャンバ94とターゲット材96に高周波電圧が印加されて、圧電膜の成膜が実行される(ステップS32)。ステップS32では、約2.5μmの圧電膜が成膜される。
その次に、基板ホルダ駆動部86によって基板ホルダ84が駆動されて、基材82とターゲット材96とのなす角度θが、例えば、約0°に調整されて(ステップS36)、ステップS32に戻る。そして、角度θが約10°、約0°と順次変更されて、ステップS32からS36が所定の回数(例えば、合計4回)繰り返される。圧電膜が所定の膜厚に達すると(例えば、4回繰り返されて膜厚が約10μmに達すると)、成膜が終了する(ステップS34のYes)。
上記のようにして成膜された圧電膜は、図8と同様の層構造を有している。本実施例により成膜された圧電膜60を電子顕微鏡により観察したところ、層60Aでは結晶体の傾斜角αは約5°、層60Bでは結晶体の傾斜角αは約0°、層60Cでは結晶体の傾斜角αは約5°、層60Dでは結晶体の傾斜角αは約0°であった。
本実施例によれば、柱状の結晶体が基材82の法線方向に対して傾いているため、圧電膜の膜面方向(図8の横方向)の結合力を更に高めることができ、圧電アクチュエータの耐久性を高めることができる。
Figure 0005030252
上記3つの実施例により液体吐出ヘッド72を製造して、耐久性を評価する実験を行った。この耐久性評価実験は、上記下部電極58と上部電極62の間に電圧を印加して、液体吐出ヘッド72を駆動周波数50kHzで駆動し、1011個のドットの連続駆動試験である。表1に耐久性評価実験の結果を示す。なお、表1において、比較例は、上記図6(b)の例に対応している。表1に示すように、上記第1から第3の実施例により製造された液体吐出ヘッド72は、それぞれ駆動回数1E11回以上、5E11回以上、5E11回以上まで特性劣化を生じることがなかった。一方、比較例は、駆動回数1E11回未満で圧電膜60にクラックが生じて破壊した。これにより、上記第1から第3の実施例により製造された液体吐出ヘッド72は、従来の方法により製造された比較例と比べて優れた耐久性を有するという結果が得られた。
なお、本実施形態では、上記のRFスパッタ法のほか、イオンビームスパッタ法等のほかのスパッタ法を用いてもよい。また、圧電膜を成膜する方法としては、例えば、蒸着法や有機金属化学気相蒸着法(MOCVD;Metal Organic Chemical Vapor Deposition)、ゾル・ゲル法等を用いることもできる。
また、本発明の圧電膜の成膜方法は、上述した液体吐出ヘッド72の製造のほか、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical System)の部品、マイクロポンプ、ロボット等の製造にも応用することができる。
インクジェット記録装置の全体構成図 インクジェット記録装置の印字部周辺の主要構成を示す平面図 本発明に係る液体吐出ヘッドの製造方法を示す図 成膜装置の主要構成を示す図 本発明の第1の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャート 圧電膜の断面を電子顕微鏡(SEM)により撮像した写真 本発明の第2の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャート 本発明の第2の実施例により成膜された圧電膜の断面図 圧電膜の各層における結晶体の向きを模式的に示す図 本発明の第3の実施例に係る圧電アクチュエータの製造方法を示すフローチャート
符号の説明
10…インクジェット記録装置、12…印字部、14…インク貯蔵/装填部、16…記録紙、18…給紙部、20…デカール処理部、22…吸着ベルト搬送部、24…印字検出部、26…排紙部、28…裁断用のカッター(第1のカッター)、30…加熱ドラム、31、32…ローラ、33…ベルト、34…吸着チャンバ、35…ファン、36…ベルト清掃部、40…加熱ファン、42…後乾燥部、44…加熱・加圧部、45…加圧ローラ、48…カッター(マスク用カッター)、50…SOI基板、52…シリコン基板、52A…インク室隔壁、54…酸化シリコン層、56…シリコン層、58…下部電極、60…圧電膜、62…上部電極、64…マスク用酸化シリコン層、64A…酸化シリコンパターン、66…インク室、68…振動板、70…ノズルプレート、70A…ノズル、72…液体吐出ヘッド、80…成膜装置、82…基材、84…基板ホルダ、86…基板ホルダ駆動部、88…ターゲット材ホルダ、90…電源装置、92…制御装置、94…真空チャンバ、96…ターゲット材、98…排気ポンプ、100…ガス導入口、102…スパッタされた圧電体材料(PZT)の一部

Claims (6)

  1. 基材と、
    前記基材上に形成された柱状の結晶体を含む複数の層から構成された圧電膜であって、前記柱状の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度である圧電膜とを備え、
    前記複数の層のうち少なくとも2つの層の間において、各層の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とによって張られる平面の前記法線回りの角度が異なることを特徴とする圧電アクチュエータ。
  2. 前記複数の層の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とによって張られる平面が1層ごとに90°回転していることを特徴とする請求項1記載の圧電アクチュエータ。
  3. 前記圧電膜は、前記基材上にスパッタ法、蒸着法、MOCVD法又はゾル・ゲル法によって成膜されていることを特徴とする請求項1又は2記載の圧電アクチュエータ。
  4. 前記所定の角度は、45°以下であることを特徴とする請求項記載の圧電アクチュエータ。
  5. 請求項1からのいずれか1項記載の圧電アクチュエータを備えることを特徴とする液体吐出ヘッド。
  6. (a)基材と、圧電体材料からなるターゲット材とのなす角が0°より大きく、90°以下の所定の角度となるように保持するステップと、
    (b)前記ターゲット材をスパッタして、前記基材上に前記圧電体材料を堆積させ、層を形成するステップと、
    (c)前記基材と前記ターゲット材とを相対的に回転させるステップと、
    (d)前記ステップ(b)から(c)を繰り返すことにより、複数の層からなる圧電膜であって、前記複数の層のうち少なくとも2つの層の間において、各層の結晶体の長さ方向に沿う直線と前記基材の法線とによって張られる平面の前記法線回りの角度が異なる圧電膜を、前記基材上に成膜するステップと、
    を備えることを特徴とする圧電アクチュエータの製造方法。
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