JP5025178B2 - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
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- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 title claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本発明の第2局面において、X線を発生するX線管と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成装置と、前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、前記X線検出器は、前記回転軸に対して傾斜することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置が提供される。
本発明の第3局面において、X線を発生するX線管と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成装置と、前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、前記X線検出器は縦横に配列された複数の検出素子を有し、前記検出素子各々は略平行四辺形の受光領域を有することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置が提供される。
本発明の第4局面において、X線を発生するX線管と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成装置と、前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、前記X線検出器は縦横に配列された複数の検出素子を有し、前記検出素子各々は略平行四辺形の平面形状を有するシンチレータチップを有することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置が提供される。
tan−1(Pch/(m・Psl))
に設定される。最も高い見掛け上の空間分解能は、m=Nのときに実現される。つまり、傾斜角が、
tan−1(Pch/(N・Psl))
のときに、最も高い見掛け上の空間分解能が得られる。
Pch/N
で与えられる。つまり、空間分解能が、検出器2の実際の空間分解能Pchの1/Nに短縮することができる。換言すると、見掛け上の解像度としては、検出器2の実際の解像度のN倍に向上する。さらに、X線焦点と回転軸RAとを結ぶ撮影中心線に対して検出器中心位置をチャンネルピッチPchの数分の一の距離だけオフセットするQQオフセット手段を併用すると、見掛け上の空間分解能は1/(2・N)に短縮し、見掛け上の解像度は2・N倍に向上することができる。
tan−1(Pch/(N・Psl))
で傾斜する平行四辺形に形成することにより実現することができる。
傾斜角をθとし、M(N,θ)をモジュール番号Nの検出面を回転角θで回転するときの回転行列としたとき、回転された各素子の位置ベクトルR′は、次のように表される。
変換された各素子の位置ベクトルR′(i,j)の位置で、コーンビーム再構成処理において、バックプロジェクション処理を実施する。バックプロジェクション処理は従来と同じ処理である。それにより、ボリュームデータを得ることができる。
Claims (3)
- X線を発生するX線管と、
被検体を透過したX線を検出するマトリクス状に配列された複数の検出素子を有する複数の検出器モジュールを有するX線検出器と、
前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、
前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成部と、
前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、
前記検出器モジュール各々は、前記回転軸に略直交する基準線に沿って配列され、かつ前記回転軸と前記基準線とに対して傾斜され、
前記傾斜角は、前記X線検出器の列数をN、前記基準線に沿って隣り合う検出素子の中心点間距離をPch、前記回転軸に沿って隣り合う検出素子の中心点間距離をPslとしたとき、
tan−1(Pch/(N・Psl))
に設定されていることを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。 - X線を発生するX線管と、
被検体を透過したX線を検出するマトリクス状に配列された複数の検出素子を有する複数の検出器モジュールを有するX線検出器と、
前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、
前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成部と、
前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、
前記検出器モジュール各々は、前記回転軸に略直交する基準線に沿って配列され、かつ前記回転軸と前記基準線とに対して傾斜され、
前記傾斜角は、前記X線検出器の列数をN、前記基準線に沿って隣り合う検出素子の中心点間距離をPch、前記回転軸に沿って隣り合う検出素子の中心点間距離をPslとしたとき、mを2以上でN以下の整数としたとき、
tan−1(Pch/(m・Psl))
に設定されていることを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。 - X線を発生するX線管と、
被検体を透過したX線を検出するマトリクス状に配列された複数の検出素子を有する複数の検出器モジュールを有するX線検出器と、
前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転自在に支持する支持機構と、
前記X線検出器の出力に基づいて画像を再構成する再構成部と、
前記再構成された画像を表示する表示部とを具備し、
前記検出器モジュール各々は、前記回転軸に略直交する基準線に沿って配列され、かつ前記回転軸と前記基準線とに対して傾斜され、
前記検出器モジュールは、一対のサポートブロックと、バックプレートとの間に挟まれ、
前記一対のサポートブロックには、複数のペアの位置決めホールが形成され、
前記ペアをなす位置決めホールは前記基準線に関して一定距離シフトされていることを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006194795A JP5025178B2 (ja) | 2005-09-28 | 2006-07-14 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005281702 | 2005-09-28 | ||
JP2005281702 | 2005-09-28 | ||
JP2006194795A JP5025178B2 (ja) | 2005-09-28 | 2006-07-14 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007117717A JP2007117717A (ja) | 2007-05-17 |
JP5025178B2 true JP5025178B2 (ja) | 2012-09-12 |
Family
ID=38142170
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006194795A Expired - Fee Related JP5025178B2 (ja) | 2005-09-28 | 2006-07-14 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5025178B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2674787A1 (en) * | 2010-12-21 | 2013-12-18 | Telesystems Co., Ltd. | Radiation detector, and radiation imaging apparatus provided with detector |
CN115279271A (zh) * | 2021-01-28 | 2022-11-01 | 迪亚特伦德有限公司 | 放射线检测装置及搭载该装置的放射线检查系统 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5510622A (en) * | 1994-07-21 | 1996-04-23 | General Electric Company | X-ray detector array with reduced effective pitch |
US5781606A (en) * | 1996-07-25 | 1998-07-14 | Analogic Corporation | X-ray tomography system with substantially continuous radiation detection zone |
JP4036929B2 (ja) * | 1997-09-24 | 2008-01-23 | 株式会社東芝 | X線検出装置 |
JPH11295432A (ja) * | 1998-04-15 | 1999-10-29 | Shimadzu Corp | Ct用固体検出器 |
JP4076283B2 (ja) * | 1998-09-14 | 2008-04-16 | ジーイー横河メディカルシステム株式会社 | 放射線断層撮影装置およびx線管 |
JP4481392B2 (ja) * | 1999-07-27 | 2010-06-16 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
JP4476471B2 (ja) * | 2000-11-27 | 2010-06-09 | 株式会社東芝 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2003177181A (ja) * | 2001-12-13 | 2003-06-27 | Shimadzu Corp | 2次元放射線検出器とその製造方法 |
JP4388364B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2009-12-24 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ct装置 |
-
2006
- 2006-07-14 JP JP2006194795A patent/JP5025178B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007117717A (ja) | 2007-05-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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