JP5024901B2 - チューブ状システムの非破壊検査方法 - Google Patents
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Description
1.音響パルスは、通常は大きな振幅を有しているが継続時間が極めて短い。この結果、パルスは低めのエネルギー含量を有することになる。これは、目的物から測定される反射において高い信号対雑音比(SNR)を得ることを困難にする。
2.目的物からの励起パルスと反射は有限の継続時間を有するから、マイクロホンにおいて該励起パルスと反射が重ね合わさることになる。これは、該励起パルスと反射とを分離することを非常に困難にする。
3.目的物からの反射は、最終的にはトランスデューサ本体まで下って伝わり、該本体に反射し、戻ってきてマイクロホンにより再測定される。この二次反射が、再度目的物の応答の測定を妨害する。
(以下「Amir 1」という)参照)。デコンボリューションは通常、周波数領域または特異値分解(SVD)で分割することにより実施しなければならない。この理由は、励起パルスが平らなスペクトルを有することはめったにないからである。さらなる分析は、測定の目的と研究する目的物の幾何学的性質次第である。下記に示す異なる2つの適用においては、典型的な2つの問題が生じる。
下記2つの値の先行測定
a.ラウドスピーカーによって発された励起パルスP1
b.パルスHiに作用する励起スピーカーの音響インパルス応答
2.アルゴリズムを適用して、重なり合う測定結果から目的物のインパルス応答を分離する。これは、下式(数1)の適用に基づく。
Zi・・・全システムのインパルス応答であり、反射の重なり合いを含む。数学的にはZi=PM/P1であり、PMはシステムの生の測定結果であり、P1は測定した励起パルスである。これは測定値である。
Hi・・・ラウドスピーカーのインパルス応答であり、キャリブレーション工程で得られたものである(周波数(freq)領域に変化したもの)。これはキャリブレーション測定を経て得られる値である。
この方法で得られる結果は、上式に適用する際にその数値に影響を受けやすいため、ZiおよびHiを正確に抽出することに失敗した場合は、不確かな結果となる。
1.測定時間が短いこと
2.ノイズに対する高いロバスト性をもつこと
3.かさが低いこと
4.容易で正確なキャリブレーション方法であること
5.ロバストであるとともに正確な欠陥検出であり、各種の欠陥についてその先行測定を必要としないこと
上記全ての特徴を満たすAPR方法およびシステムは、先行技術には存在しない。したがって、上記のような問題に満足のいく答えを提供するAPR技術が望まれている。
キャリブレーションは、3つの主な目的を有する。これは、a)トランスミッタ(210)から放出される音響励起パルスP1の正確な形状を測定すること、b)ラウドスピーカー(源)のインパルス応答Hiの正確な形状を検出すること、およびc)どのステップにおいても過度のサチュレーションをもたらすことなく、ハードウェアとソフトウェアが正確に調整されて全ての使用可能なダイナミックレンジを利用できることを立証することである。したがって、キャリブレーションは以下を含む。
(a)P1を見出すこと
第1の測定は、P1を検出するために実施する。これは、励起パルスが消滅するまで、目的物またはその末端部から受信する反射がない状態での測定が必要である。これは、下記いくつかの方法によってなされる。
(i)APRシステム(200)に「目的物」として取り付けた半無限チューブ(実用的には、本発明のシステムでは、少なくとも1.8メートルの長さである)を用いる。すなわち、一般的な測定の一部である図2では、半無限チューブは「目的物」(214)として示される。この半無限チューブの長さは、センサ(208)でチューブの末端からの反射を受信する前に励起パルスが消滅するような長さである(チューブの末端は開いていても塞がっていてもよく、この開閉は実質的な影響を及ぼさない)。このチューブをコイル状にすることにより、より持ち運びを容易にすることができる。チューブ(214)を取り付けているときには、このチューブと混合波チューブの間の結合部(継手)において反射は生成されない。したがって、励起パルスの全長において、左右への伝播波がセンサ(208)で重なり合うことはない。
(ii)場合によっては、対象物が欠陥を有していない。したがって、P1が消滅するまで反射がマイクロホンで受信されない。この場合、後述するステップ(308)において、P1は目的物そのものの測定結果から抽出される。
この工程は、2つの異なる手順を用いて実行される。
(i)APRシステム(200)に取付けられた剛体プラグを目的物として用いて測定を実行し、Pp Mと称される信号を与える。この信号の上付き文字「p」は、目的物が剛体プラグであることを意味する。Hiは、論理式(下記を参照のこと)によって、Pp Mから直接的に抽出される。
(ii)(i)の場合と同様にPp Mを測定し、Hsの理論計算の代わりに追加の測定を実行する。
これら2つの互いに異なる実施形態は、ここで詳細に説明される。
(ii)Hs全体の理論計算を避けるために、センサ(208)と混合チューブ(212)の端部の間の距離と全く同一の長さLを有する目的物に対して追加的な測定を実行する。この測定値をPp M 2とする。この目的物が取り付けられ、閉塞されると、センサ(208)からプラグ(閉塞された目的物端部)までの距離は2Lとなり、インパルス応答Hs 2を得ることができる。
ここで、数式1を2回用いる。まず、Zi=Pp M /P1を用いて、Hsを得る。2回目に、Zi=Pp M 2 /P1を用いて、Hs 2を得る。これにより2つの未知数Hs及びHiを有する2つの数式を得ることができる。
ダイナミックレンジの正しい利用法は、2つの新規な手段により確認される。
増幅器と前置増幅器のうち一方におけるサチュレーションは、図6に示すように、1未満、−1を超えるの範囲のヒストグラムにおいて、異常に高い値をもたらす。このことは、使用者が、手動でゲインを再設定する必要があり、測定を繰り返してサチュレーションが除去されたことを確認する必要があることを意味する。
(ii)生の信号に用いられる有効ビット数は、生の信号の断続的な電圧値の数により示され、本明細書において、断続的な電圧値の数は、符号Nで表される。Nに係る基数2の対数が、有効ビット数である。上記のステップに係る説明で概説されたように、サチュレーションが除去されると、log2(N)が計算される。結果は、略15であり、それ以上である場合、サチュレーションは、不適切に収束し、それ以下である場合、ダイナミックレンジが十分に活用されていないことを意味する。前述のステップで説明したように、この状態となるまで、ゲインが調整され、測定が繰り返し実行される。
上述したキャリブレーション手順をAPRシステムに適用することは独創的なことであることを、本明細書において強調する。したがって、P1を測定し、このP1を用いて、Hiの形態を決定し、このこと自身が、APRシステムに対する新規なキャリブレーション方法となる。
キャリブレーション工程の後、試験対象の目的物(214)が、チューブ(212)(プラグを取り外して)に取り付けられ、測定値が得られる。この測定値は、記号Po Mで表される信号としてもたらされる。ここで上付き文字「o」は、「目的物:object」を意味するものである。
3つの代替的な方法が、本明細書において提案される。この方法により、測定値Po Mが解析される。この解析は、試験対象のシステム及び試験対象の目的物の既知の事実に応じて定められる。
短いチューブを用いて測定がなされる。これにより、音響波を重ね合せることができる。キャリブレーション測定からの情報を用いて、目的物のインパルス応答は、数学的に、重複測定から分離可能であり、これには、数式(1)の独特の変形式が用いられる。
様々な種類のチューブ、接続部、接合部などで構成される任意の既知の形状を有する目的物に対する欠陥の有無を試験する場合、模擬的な目的物の応答Hsが論理的に計算される(Amir1)。この算出された応答は、その後、数式(3)から得られた測定された応答と比較される。欠陥は、これら2つの間の差異として現われ、主として、インパルス応答における鋭いピークの形態の差異として現れる(負のピークは、漏れを示し、正のピークは詰りを表す)。これらピークを正確に見極めることに際して主要な障害となるのは、ノイズの存在である。これらピークを正確に見極める工程を容易にするために、漏れが主として接続部において生ずるという事実を利用する。形状が既知である場合、全ての接続部の配置は、前以って知られている。インパルス応答の時間軸とチューブに沿う位置との間の1対1の対応があるので、インパルス応答の適切な時間においてのみ、負のピークに関する調査を行なう。尚、負のピークは漏れを指し示すものである。
熱交換器などの特定の場合において、漏れは、特徴的に任意の場所で生ずる。漏れは、反射を引き起こす。反射の数学的関数は、文献(Chilekawa)において既に説明がなされている。漏れからの反射に対する数学的モデルは、整合フィルタを作り出すために用いられる(J.Y.Stein, 「Digital Signal Processing a Computer Science Perspective」, John Wiley and Sons, 2000)。漏れからの反射は、漏れ源からの距離にしたがって、減衰する。したがって、適合可能な整合フィルタが用いられると、次から次へと生ずる反射による振動によって、インパルス応答は減衰する。整合フィルタの出力は、チューブの漏れ位置において鋭い正のピークを有する関数となる。
圧力システムは、ガスが充填された周囲環境圧力システムに対する操作と同様の操作であるが、圧力ガスが充填されたパイプシステムにおける欠陥を見つけるために用いられる。このことは、いくつかの漏れ(例えば、Oリングやガスケットでの)が圧力下においてのみ現れるという事実に基づく。この応用例において、トランスデューサは、圧力下で作動するように、特別な設計を施されているが、容易に入手可能な部品である。(プラグ(キャリブレーションにおいて用いられる。下記説明を参照のこと)及びコネクタは、目的物を取付けるために用いられ、これらは、システムに圧力を加えるための手段を必要とする。
液体充填システムは、ガス充填システムと同様の作動をする。液体充填システムは、液体が充填されたパイプシステム内の欠陥を発見することを目的に用いられ、圧力負荷下或いは周囲環境圧力下いずれにおいても適用可能である。液体充填システムは、周囲環境圧力ガス充填システム以上にいくつかの改良点を必要とする。トランスデューサは、液中で作動可能となるように特別に設計されたものである必要がある。尚、このようなトランスデューサは、容易に入手可能である。プラグ(キャリブレーションの中で用いられる)及び目的物の取り付けに用いられるコネクタは、液体でシステムを満たすとともにチューブ内に捕捉された空気を押し出す手段を必要とする。図11は、キャリブレーションに用いられる液体で満たされたテストシステムを示す。図12は、目的物の測定に用いられる同一のシステムを示す。
Claims (10)
- 目的物の非破壊検査方法であって、該方法は、
a.広帯域のトランスミッタ、圧力センサおよび長さ2Lを有する混合チューブを有する音響パルス反射測定(APR)システムを準備する段階と、
b.キャリブレーションを行って、2つのキャリブレーションパラメータ、正確な音響励起パルスの形P1およびスピーカー音響インパルス応答Hiを得る段階と、
c.前記目的物を前記APRシステムに取り付け、測定を実施して目的物検査結果PO Mを得る段階と、
d.P1、Hi、PO Mを用いて目的物インパルス応答HSを得る段階を備え、これにより該目的物インパルス応答が、前記目的物の状態を反映することを特徴とする非破壊検査方法。 - 前記P1を得る段階が、測定を実施することを含み、
前記測定が、前記目的物として半無限チューブを用いてP1を測定する測定、およびいくつかの欠陥を有する目的物の測定において、該欠陥が混合波チューブと目的物の接続部から十分に離れていることによってP1を抽出できる測定からなる群から選択されることを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。 - 前記Hiを得る段階が、
i.前記目的物を剛体プラグに取り替える工程と、
ii.前記剛体プラグを用いて測定を実施して値PP Mを得る工程と、
iii.前記測定されたP1を用いる理論計算によって、PP Mから直接的にHiを抽出する工程を含むことを特徴とする請求項2記載の非破壊検査方法。 - 前記Hiを得る段階が、
i.前記目的物を剛体プラグに取り替える工程と、
ii.前記剛体プラグを用いて第1の測定PP Mを実施する工程と、
iii.前記プラグを、長さLを有するとともに閉塞した末端部を有する第2の目的物と取り替え、第2の測定を実施して追加の測定値PP2 Mを得て、PP M、PP2 M、P1を用いてHiを計算する工程を含むことを特徴とする請求項2記載の非破壊検査方法。 - 前記APRシステムが、さらにデータ収集カード(DAQ)、前置増幅器および増幅器を含み、
前記目的物の測定を実施する段階より先行して、前記APRシステムのオーバーフロー/アンダーフローの状態を判断する検査を行い、オーバーフローまたはアンダーフローの状態を検知した場合においては、前記段階より先行して、前記DAQ、前記前置増幅器および前記増幅器のゲイン調整を行うことを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。 - 前記P1、Hi、PO Mを用いて目的物インパルス応答HSを得る段階が、前後方向の伝播信号のもつれを解くために分離アルゴリズムを適用する工程を含み、これにより前記目的物の真のインパルス応答を得ることを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。
- 前記目的物が、加圧目的物および液体充填目的物からなる群から選択されることを特徴とする請求項1記載の非破壊検査方法。
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