JP4994025B2 - Resin-sealed electronic equipment - Google Patents

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Description

本発明は、樹脂封止型電子機器に関する。特に、本発明は、放熱を行うヒートシンクを備えた樹脂封止型電子機器に関する。   The present invention relates to a resin-sealed electronic device. In particular, the present invention relates to a resin-sealed electronic device provided with a heat sink that dissipates heat.

回路基板に実装されたICチップやトランジスタ等の電子部品からの熱を外部に逃がす必要がある樹脂封止型電子機器では、回路基板にヒートシンクが固定される。ヒートシンクには電子部品が接触するように取り付けられて電子部品から熱が伝達される。このことにより、電子部品から発生する熱をヒートシンクから外部に逃がすことができ、発熱の大きな電子部品や熱に弱い電子部品に対する保護が可能となる(例えば、特許文献1参照)。   In a resin-sealed electronic device that needs to release heat from an electronic component such as an IC chip or a transistor mounted on a circuit board to the outside, a heat sink is fixed to the circuit board. An electronic component is attached to the heat sink so that the heat is transmitted from the electronic component. As a result, heat generated from the electronic component can be released from the heat sink to the outside, and it is possible to protect electronic components that generate a large amount of heat and electronic components that are vulnerable to heat (for example, see Patent Document 1).

図5は、従来からの樹脂封止型電子機器を示す。回路基板110が図示を省略したケース内に配置される。回路基板110には、トランジスタ等の電子部品120が実装される一方、ヒートシンク130が取り付けられる。電子部品120はその端子121が回路基板110を貫通しており、貫通端121aが半田付けされて回路基板110の回路パターンに電気的に接続される。   FIG. 5 shows a conventional resin-encapsulated electronic device. The circuit board 110 is disposed in a case not shown. On the circuit board 110, an electronic component 120 such as a transistor is mounted, and a heat sink 130 is attached. The terminal 121 of the electronic component 120 passes through the circuit board 110, and the through end 121 a is soldered to be electrically connected to the circuit pattern of the circuit board 110.

ヒートシンク130は、脚部131が回路基板110を貫通しており、貫通端が半田付けされることにより回路基板110に固定される。図示例のヒートシンク130では、回路基板110から立ち上がる縦長形状となっている。又、複数のフィン133が間隔を有して横方向に延びており、放熱効率を向上させている。   The heat sink 130 is fixed to the circuit board 110 by the legs 131 penetrating the circuit board 110 and soldering the penetrating ends. The illustrated heat sink 130 has a vertically long shape that rises from the circuit board 110. Further, the plurality of fins 133 extend in the lateral direction with a gap therebetween, improving the heat radiation efficiency.

電子部品120は、ヒートシンク130に接触した状態で接着、ねじ止め等の手段によりヒートシンク130に取り付けられる。樹脂封止型電子機器では、ケース内に絶縁性のモールド樹脂が充填され、充填されたモールド樹脂によりヒートシンク130及び電子部品120が封止される。図示例において、モールド樹脂140はヒートシンク130の上部が露出する樹脂厚となるように回路基板110上にポッティングされて硬化される。モールド樹脂140によって封止することにより、電子部品120の防水や防湿ができると共に、半田部分の酸化を防止できる。
特開2005−86149号公報
The electronic component 120 is attached to the heat sink 130 by means of adhesion, screwing or the like while in contact with the heat sink 130. In the resin-encapsulated electronic device, the case is filled with an insulating mold resin, and the heat sink 130 and the electronic component 120 are sealed with the filled mold resin. In the illustrated example, the mold resin 140 is potted and cured on the circuit board 110 so that the resin thickness is such that the upper portion of the heat sink 130 is exposed. By sealing with the mold resin 140, the electronic component 120 can be waterproofed and moisture-proof, and oxidation of the solder portion can be prevented.
JP 2005-86149 A

特許文献1や図5に示す構造では、ヒートシンクへの熱伝導によって放熱できるため、電子部品を熱から保護できる。しかしながら、モールド樹脂によって封止されている電子部品に割れ等の破壊が生じたり、電子部品の回路基板への接続部分(半田付け部分)が剥がれる等の不都合が生じている。これらの不都合は、車両用や屋外に用いる電子機器に特に多く発生している。従って、電子部品の破壊や接続部分の剥がれが生じない電子機器が望まれている。   In the structure shown in Patent Document 1 and FIG. 5, since heat can be dissipated by heat conduction to the heat sink, the electronic component can be protected from heat. However, inconveniences such as breakage such as cracks occur in the electronic component sealed with the mold resin, and the connection part (soldering part) to the circuit board of the electronic component peels off. These inconveniences are particularly common in electronic devices used for vehicles and outdoors. Accordingly, there is a demand for an electronic device that does not cause breakage of electronic components or peeling of connection portions.

本発明は、電子部品の熱をヒートシンクによって放熱する構造において、電子部品の破壊や接続部分の剥がれを防止できる樹脂封止型電子機器を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a resin-encapsulated electronic device that can prevent destruction of an electronic component and peeling of a connection portion in a structure in which heat of the electronic component is radiated by a heat sink.

本発明者らは、電子部品の破壊や接続部分の剥がれが回路基板、ヒートシンク、モールド樹脂の熱膨張係数の相違に起因した応力によることを見出し、以下の発明を完成するに至った。   The present inventors have found that the destruction of the electronic components and the peeling of the connection part are due to the stress caused by the difference in the thermal expansion coefficients of the circuit board, the heat sink, and the mold resin, and the following invention has been completed.

(1) 回路基板に固定されたヒートシンクと、ヒートシンクに取り付けられた状態で前記回路基板に実装された電子部品と、前記ヒートシンク及び電子部品の配置領域を封止する絶縁性のモールド樹脂とを備えた樹脂封止型電子機器であって、前記回路基板、ヒートシンク及びモールド樹脂の膨張収縮に起因した応力を吸収又は軽減する低硬度シリコン樹脂からなる緩衝部材が、少なくともヒートシンクと回路基板との間に配置されていることを特徴とする樹脂封止型電子機器。 (1) A heat sink fixed to a circuit board, an electronic component mounted on the circuit board in a state of being attached to the heat sink, and an insulating mold resin that seals an arrangement region of the heat sink and the electronic component. A buffer member made of a low-hardness silicone resin that absorbs or reduces stress caused by expansion and contraction of the circuit board, the heat sink, and the mold resin is at least between the heat sink and the circuit board. A resin-encapsulated electronic device characterized by being arranged.

(1)の発明によれば、緩衝部材がヒートシンクと回路基板との間に配置される。緩衝部材は低硬度シリコン樹脂からなり、回路基板、ヒートシンク、モールド樹脂の膨張収縮に起因した応力を吸収又は軽減する。 According to the invention of (1), the buffer member is disposed between the heat sink and the circuit board. The buffer member is made of low-hardness silicon resin , and absorbs or reduces stress caused by expansion and contraction of the circuit board, the heat sink, and the mold resin.

このため、回路基板、ヒートシンク、モールド樹脂の熱膨張係数が相違し、その膨張量や収縮量が異なることにより発生した応力は、回路基板からヒートシンクに伝達される際に吸収又は軽減される。結果として、ヒートシンク及びヒートシンクに取り付けられた電子部品に大きな応力が作用することがなく、電子部品の破壊や接続部分の剥がれを防止できる。 For this reason, the thermal expansion coefficients of the circuit board, the heat sink, and the mold resin are different, and the stress generated due to the difference in expansion and contraction is absorbed or reduced when transmitted from the circuit board to the heat sink. As a result, a large stress does not act on the heat sink and the electronic component attached to the heat sink, and the destruction of the electronic component and the peeling off of the connection portion can be prevented.

(2) 前記緩衝部材は、粘着性を有していることを特徴とする(1)に記載の樹脂封止型電子機器。 (2) The resin-sealed electronic device according to (1), wherein the buffer member has adhesiveness.

(2)の発明によれば、緩衝部材が粘着性を有しているため、接着剤を用いることなく、ヒートシンクと回路基板との間に緩衝部材を配置できる。   According to invention of (2), since a buffer member has adhesiveness, a buffer member can be arrange | positioned between a heat sink and a circuit board, without using an adhesive agent.

(3) 前記緩衝部材は、モールド樹脂又は回路基板よりも熱伝導率が大きいことを特徴とする請求項1又は2に記載の樹脂封止型電子機器。 (3) The resin-sealed electronic device according to claim 1 or 2, wherein the buffer member has a thermal conductivity larger than that of a mold resin or a circuit board.

(3)の発明によれば、緩衝部材の熱伝導率が大きいため、緩衝部材自体も放熱機能を有し、ヒートシンクと緩衝部材とを合わせた全体の放熱効率が増大する。   According to the invention of (3), since the heat conductivity of the buffer member is large, the buffer member itself also has a heat dissipation function, and the overall heat dissipation efficiency of the heat sink and the buffer member combined increases.

本発明による樹脂封止型電子機器は、ヒートシンクと回路基板との間に配置された緩衝部材が回路基板、ヒートシンク、モールド樹脂の膨張収縮に起因した応力を吸収又は軽減する。従って、ヒートシンク及びヒートシンクに取り付けられた電子部品に大きな応力が作用することがなく、電子部品の破壊や接続部分の剥がれを防止できる。   In the resin-sealed electronic device according to the present invention, the buffer member disposed between the heat sink and the circuit board absorbs or reduces the stress caused by the expansion and contraction of the circuit board, the heat sink, and the mold resin. Therefore, a large stress does not act on the heat sink and the electronic component attached to the heat sink, and it is possible to prevent the electronic component from being broken and the connecting portion from being peeled off.

以下、本発明を図示する実施形態により具体的に説明する。図1は本発明の第1実施形態を示す断面図である。   Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments. FIG. 1 is a sectional view showing a first embodiment of the present invention.

図1に示すように、回路パターンが形成された回路基板1に電子部品2が実装されている。又、回路基板1にはヒートシンク3が固定される。回路基板1の全体は図示を省略したケース内に配置される。   As shown in FIG. 1, an electronic component 2 is mounted on a circuit board 1 on which a circuit pattern is formed. A heat sink 3 is fixed to the circuit board 1. The entire circuit board 1 is disposed in a case not shown.

ヒートシンク3は、アルミナやアルミニウム等の金属押出材によって形成されている。ヒートシンク3は脚部3aを有しており、脚部3aが回路基板1を貫通し、貫通端を半田付けすることにより回路基板1に固定される。ヒートシンク3は回路基板1から立ち上がる縦長形状となっており、縦板部3bと、縦板部3bから横方向に延びる複数のフィン3cとを有している。複数のフィン3cは、縦板部3bに対し所定の間隔を有して設けられている。フィン3cを設けることによりヒートシンク3の放熱効率が向上する。 The heat sink 3 is formed of a metal extruded material such as alumina or aluminum. The heat sink 3 has leg portions 3a. The leg portions 3a penetrate the circuit board 1 and are fixed to the circuit board 1 by soldering the penetrating ends. The heat sink 3 has a vertically long shape that rises from the circuit board 1 and has a vertical plate portion 3b and a plurality of fins 3c extending in the horizontal direction from the vertical plate portion 3b. The plurality of fins 3c are provided with a predetermined interval with respect to the vertical plate portion 3b. By providing the fins 3c, the heat dissipation efficiency of the heat sink 3 is improved.

電子部品2は、FET(電界効果トランジスタ)等のトランジスタやダイオード等が用いられる。電子部品2はヒートシンク3に接触し、この接触状態で接着、半田付け、ねじ止め等によりヒートシンク3に取り付けられる。従って、電子部品2からの熱をヒートシンク3が放熱できる。電子部品2は回路基板1側に延びる端子2aを有している。端子2aは回路基板1を貫通しており、端子2aの貫通端2bを半田付けして回路基板1の回路パターンと接続することにより電子部品2が実装される。   As the electronic component 2, a transistor such as an FET (field effect transistor), a diode, or the like is used. The electronic component 2 contacts the heat sink 3 and is attached to the heat sink 3 by adhesion, soldering, screwing, or the like in this contact state. Accordingly, the heat sink 3 can dissipate heat from the electronic component 2. The electronic component 2 has a terminal 2a extending to the circuit board 1 side. The terminal 2a penetrates the circuit board 1, and the electronic component 2 is mounted by soldering the penetrating end 2b of the terminal 2a and connecting to the circuit pattern of the circuit board 1.

回路基板1上には、モールド樹脂がポッティングされ、硬化されることにより、ヒートシンク3及び電子部品2がモールド樹脂4により封止される。モールド樹脂4はヒートシンク3の上部が露出する厚さとなるようにポッティングされる。モールド樹脂4としては、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂等の絶縁性樹脂が使用される。これらのモールド樹脂4はヒートシンク3及び回路基板1とは熱膨張係数が異なっている。例えば、ヒートシンク3としてアルミ押出材を用いた場合、熱膨張係数は23.4×10-6(cm/cm/℃)、モールド樹脂4としてウレタン樹脂を用いた場合、熱膨張係数は14×10-5(cm/cm/℃)であり、熱膨張係数が異なっている。さらに、回路基板1としてガラス基板を用いた場合の熱膨張係数は、これらと異なる値となっている。 On the circuit board 1, the mold resin is potted and cured, so that the heat sink 3 and the electronic component 2 are sealed with the mold resin 4. The mold resin 4 is potted so that the thickness of the upper portion of the heat sink 3 is exposed. As the mold resin 4, an insulating resin such as urethane resin or epoxy resin is used. These mold resins 4 are different in thermal expansion coefficient from the heat sink 3 and the circuit board 1. For example, when an aluminum extruded material is used as the heat sink 3, the thermal expansion coefficient is 23.4 × 10 −6 (cm / cm / ° C.), and when a urethane resin is used as the mold resin 4, the thermal expansion coefficient is 14 × 10. −5 (cm / cm / ° C.), with different thermal expansion coefficients. Furthermore, the coefficient of thermal expansion when a glass substrate is used as the circuit board 1 has a value different from these.

回路基板1とヒートシンク3との間には、緩衝部材5が配置される。緩衝部材5は板状となっており、最も回路基板1に接近している最下部のフィン3cと回路基板1との間で挟まれている。緩衝部材5は回路基板1とヒートシンク3との間の空間を満たす厚さとなっており、その上下面がフィン3c及び回路基板1と接触して、これらと接着されている。   A buffer member 5 is disposed between the circuit board 1 and the heat sink 3. The buffer member 5 has a plate shape and is sandwiched between the lowermost fin 3 c closest to the circuit board 1 and the circuit board 1. The buffer member 5 has a thickness that fills the space between the circuit board 1 and the heat sink 3, and the upper and lower surfaces thereof are in contact with and bonded to the fins 3 c and the circuit board 1.

緩衝部材5は弾性材料、より好ましくは絶縁性の弾性材料によって形成される。弾性を有することにより、回路基板1、ヒートシンク3、モールド樹脂4の熱膨張係数の相違に基づいて膨張量や収縮量が異なり、これにより応力が発生した場合であっても、この応力を吸収又は軽減するように作用する。すなわち、応力が回路基板1からヒートシンク3に伝達される際に応力が吸収又は軽減される。このため、ヒートシンク3及びヒートシンク3に取り付けられた電子部品2に大きな応力が作用することがなく、電子部品2が破壊されたり、回路基板1との半田付け部分が剥がれることがなくなる。 The buffer member 5 is made of an elastic material, more preferably an insulating elastic material. By having elasticity, the amount of expansion and contraction differs based on the difference in thermal expansion coefficients of the circuit board 1, the heat sink 3, and the mold resin 4, and even if stress is generated by this, the stress is absorbed or Acts to alleviate. That is, the stress is absorbed or reduced when the stress is transmitted from the circuit board 1 to the heat sink 3. For this reason, a large stress does not act on the heat sink 3 and the electronic component 2 attached to the heat sink 3, and the electronic component 2 is not broken or the soldered portion with the circuit board 1 is not peeled off.

緩衝部材5としては、弾性を有するのに加えて粘着性を有する材料が好ましい。粘着性を有することにより、回路基板1及びヒートシンク3のフィン3cと密に接合できる。従って、緩衝部材5の固定のための接着剤が不要となり、接着剤の熱膨張係数や硬度を考慮する必要がなく、設計の自由度が増大する。又、接着剤が不要となることにより、緩衝部材5がさらに良好に応力を吸収又は軽減するように作用する。   The buffer member 5 is preferably a material having adhesiveness in addition to elasticity. By having adhesiveness, the circuit board 1 and the fin 3c of the heat sink 3 can be tightly bonded. Accordingly, an adhesive for fixing the buffer member 5 is not required, and it is not necessary to consider the thermal expansion coefficient and hardness of the adhesive, and the degree of freedom in design increases. Further, since the adhesive is not required, the buffer member 5 acts to absorb or reduce stress more satisfactorily.

緩衝部材5としては、モールド樹脂4又は回路基板1よりも熱伝導率が大きい材料であることが好ましい。熱伝導率が大きい緩衝部材5は、それ自体で放熱機能を有しており、ヒートシンク3の放熱性に緩衝部材5の放熱性が加わるため、放熱効率が増大する。従って、温度変化に基づくモールド樹脂4や回路基板1の膨張量や収縮量が少なくなり、その分、発生する応力が小さくなって電子部品2に対する悪影響を少なくできる。   The buffer member 5 is preferably a material having a higher thermal conductivity than the mold resin 4 or the circuit board 1. The buffer member 5 having a high thermal conductivity itself has a heat dissipation function, and the heat dissipation performance of the buffer member 5 is added to the heat dissipation performance of the heat sink 3, so that the heat dissipation efficiency is increased. Therefore, the amount of expansion and contraction of the mold resin 4 and the circuit board 1 based on the temperature change is reduced, and the generated stress is reduced correspondingly, and the adverse effect on the electronic component 2 can be reduced.

以上の緩衝部材5としては、低硬度シリコン樹脂を用いることができる。シリコン樹脂は、硬度が安定していて良好に機能し、化学的、物理的に性状が安定している。低硬度シリコン樹脂は、このような特性を有しながら小さな硬度を有した樹脂である。低硬度シリコン樹脂としては、硬度22程度のものがよい。この硬度22を有した低硬度シリコン樹脂は、熱伝導率が1.34(w/m・k)であり、大きな熱伝導率を有している。又、この低硬度シリコン樹脂は、粘着性を有している。従って、低硬度シリコン樹脂を緩衝部材5として用いることにより、接着剤なしでの配置ができ、放熱性も良好となるメリットがある。   As the buffer member 5 described above, a low hardness silicon resin can be used. Silicone resin has a stable hardness and functions well, and has a chemically and physically stable property. The low hardness silicon resin is a resin having a small hardness while having such characteristics. A low hardness silicon resin having a hardness of about 22 is preferable. The low hardness silicon resin having the hardness of 22 has a thermal conductivity of 1.34 (w / m · k) and a large thermal conductivity. Moreover, this low hardness silicon resin has adhesiveness. Therefore, by using a low-hardness silicon resin as the buffer member 5, there is an advantage that it can be arranged without an adhesive and heat dissipation is good.

このような構造とすることにより、図1に示す樹脂封止型電子機器は、電子部品2に大きな応力が作用することがなく、電子部品2の破壊や半田付け等の接続部分の剥がれを防止できる。発明者らが図1の樹脂封止型電子機器を−40℃雰囲気中に30分放置した後、100℃雰囲気内中に30分放置することを繰り返すヒートショック試験を行ったところ、600サイクルでも、電子部品2が割れや壊れ等の破壊を起こしたり、電子部品2の半田付け部分が剥がれたりすることはないものであった。   By adopting such a structure, the resin-sealed electronic device shown in FIG. 1 does not receive a large stress on the electronic component 2 and prevents the connection of the electronic component 2 from being broken or soldered. it can. The inventors conducted a heat shock test in which the resin-encapsulated electronic device of FIG. 1 was left in a −40 ° C. atmosphere for 30 minutes and then left in a 100 ° C. atmosphere for 30 minutes. The electronic component 2 was not broken or broken, and the soldered portion of the electronic component 2 was not peeled off.

図2は、本発明の第2実施形態における樹脂封止型電子機器の断面図を示す。この実施形態においては、回路基板1とヒートシンク3のフィン3cとの間に、板状の緩衝部材5が設けられるのに加えて、ヒートシンク3の周囲に第2の緩衝部材7が配置されている。   FIG. 2 is a cross-sectional view of a resin-encapsulated electronic device according to the second embodiment of the present invention. In this embodiment, a plate-like buffer member 5 is provided between the circuit board 1 and the fin 3 c of the heat sink 3, and a second buffer member 7 is disposed around the heat sink 3. .

第2の緩衝部材7は緩衝部材5と同様な材料(例えば、低硬度シリコン樹脂)が使用されている。従って、接着剤を用いることなく配置することができる。緩衝部材7はヒートシンク3を囲む筒状となっており、ヒートシンク3におけるモールド樹脂4の封止部分を囲むように配置される。この場合、第2の緩衝部材7はヒートシンク3の外面に密着した状態でモールド樹脂4とヒートシンク3との間に配置される。   The second buffer member 7 is made of the same material as the buffer member 5 (for example, low hardness silicon resin). Therefore, it can arrange | position, without using an adhesive agent. The buffer member 7 has a cylindrical shape surrounding the heat sink 3 and is disposed so as to surround the sealing portion of the mold resin 4 in the heat sink 3. In this case, the second buffer member 7 is disposed between the mold resin 4 and the heat sink 3 in a state of being in close contact with the outer surface of the heat sink 3.

図2の構造では、回路基板1とヒートシンク3との間に設けた緩衝部材5による応力の吸収又は軽減と、モールド樹脂4とヒートシンク3との間に設けた第2の緩衝部材7による応力の吸収又は軽減とが作用する。これにより、電子部品2の破壊や接続部分の剥がれをさらに確実に防止できる。   In the structure of FIG. 2, the stress is absorbed or reduced by the buffer member 5 provided between the circuit board 1 and the heat sink 3, and the stress by the second buffer member 7 provided between the mold resin 4 and the heat sink 3. Absorption or mitigation works. Thereby, destruction of the electronic component 2 and peeling of a connection part can be prevented further reliably.

図3は、本発明の第3実施形態における樹脂封止型電子機器の断面図を示す。この実施形態では、板状の2つの緩衝部材5、8が用いられる。緩衝部材5及び8は、例えば低硬度シリコン樹脂によって形成されている。   FIG. 3 is a cross-sectional view of a resin-encapsulated electronic device according to the third embodiment of the present invention. In this embodiment, two plate-shaped buffer members 5 and 8 are used. The buffer members 5 and 8 are made of, for example, a low hardness silicon resin.

緩衝部材5は、回路基板1とヒートシンク3の最下部のフィン3cとの間に挟まれた状態で配置され、緩衝部材8は、最下部のフィン3cと一段上のフィン3cとの間に挟まれた状態で配置されている。このように2つの緩衝部材5、8をヒートシンク3のフィン3cに配置することにより、2つの緩衝部材5、8によって応力が吸収又は軽減される。これによりヒートシンク3の変形や変動を抑制でき、ヒートシンク3に取り付けられている電子部品2の破壊を防止できると共に、電子部品2の接続部分の剥がれを防止できる。   The buffer member 5 is disposed between the circuit board 1 and the lowermost fin 3c of the heat sink 3, and the buffer member 8 is sandwiched between the lowermost fin 3c and the upper fin 3c. It is arranged in the state. By arranging the two buffer members 5 and 8 on the fins 3 c of the heat sink 3 in this way, the stress is absorbed or reduced by the two buffer members 5 and 8. As a result, deformation and fluctuation of the heat sink 3 can be suppressed, damage to the electronic component 2 attached to the heat sink 3 can be prevented, and peeling of the connection portion of the electronic component 2 can be prevented.

図4は、本発明の第4実施形態における樹脂封止型電子機器の断面図を示す。この実施形態において、緩衝材9が回路基板1とヒートシンク3との間に設けられる。緩衝部材9は、ヒートシンク3の最下部のフィン3cと回路基板1との間に挟まれる板状部9aと、板状部9aの周囲から立ち上がる周壁部9bとによって形成されており、周壁部9bがヒートシンク3の下部を包み込んだ状態で板状部9aの上にヒートシンク3が載置される構造となっている。緩衝部材9は全体が低硬度シリコン樹脂によって形成されており、接着剤を用いることなく配置することができる。   FIG. 4 is a sectional view of a resin-encapsulated electronic device according to the fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the cushioning material 9 is provided between the circuit board 1 and the heat sink 3. The buffer member 9 is formed by a plate-like portion 9a sandwiched between the lowermost fin 3c of the heat sink 3 and the circuit board 1, and a peripheral wall portion 9b rising from the periphery of the plate-like portion 9a, and the peripheral wall portion 9b. Has a structure in which the heat sink 3 is placed on the plate-like portion 9a in a state where the lower portion of the heat sink 3 is wrapped. The entire buffer member 9 is formed of a low-hardness silicon resin, and can be arranged without using an adhesive.

図4に示す緩衝部材9では、図1〜図3に用いる緩衝部材と同様な作用を行うため、電子部品2の破壊や電子部品2の接続部分の剥がれを防止できる。又、ヒートシンク3に取り付けた状態でヒートシンク3と一体となって回路基板1上に固定することができる。従って、緩衝部材9を簡単に配置できる。   The buffer member 9 shown in FIG. 4 performs the same operation as the buffer member used in FIGS. Further, it can be fixed on the circuit board 1 integrally with the heat sink 3 while being attached to the heat sink 3. Therefore, the buffer member 9 can be easily arranged.

本発明は以上の実施形態に限定されることなく、種々変形が可能である。例えば、緩衝部材は、回路基板1とヒートシンク3との間に少なくとも設けられればよく、他の配置部位は限定されない。又、ヒートシンク3の形状は特に限定されるものではなく、単なるブロック状やフィンが縦方向に配置された構造であってもよい。   The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, the buffer member may be provided at least between the circuit board 1 and the heat sink 3, and other arrangement portions are not limited. The shape of the heat sink 3 is not particularly limited, and may be a simple block shape or a structure in which fins are arranged in the vertical direction.

本発明の第1実施形態の樹脂封止型電子機器を示す断面図である。1 is a cross-sectional view illustrating a resin-sealed electronic device according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第2実施形態の樹脂封止型電子機器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the resin sealing type electronic device of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態の樹脂封止型電子機器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the resin sealing type electronic device of 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態の樹脂封止型電子機器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the resin sealing type electronic device of 4th Embodiment of this invention. 従来の樹脂封止型電子機器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the conventional resin-sealed electronic device.

符号の説明Explanation of symbols

1 回路基板
2 電子部品
2a 端子
3 ヒートシンク
3c フィン
5、8、9 緩衝部材
7 第2の緩衝部材

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 2 Electronic component 2a Terminal 3 Heat sink 3c Fin 5, 8, 9 Buffer member 7 2nd buffer member

Claims (3)

回路基板に固定されたヒートシンクと、ヒートシンクに取り付けられた状態で前記回路基板に実装された電子部品と、前記ヒートシンク及び電子部品の配置領域を封止する絶縁性のモールド樹脂とを備えた樹脂封止型電子機器であって、
前記回路基板、ヒートシンク及びモールド樹脂の膨張収縮に起因した応力を吸収又は軽減する低硬度シリコン樹脂からなる緩衝部材が、少なくともヒートシンクと回路基板との間に配置されていることを特徴とする樹脂封止型電子機器。
A resin seal comprising: a heat sink fixed to the circuit board; an electronic component mounted on the circuit board in a state of being attached to the heat sink; and an insulating mold resin that seals an arrangement region of the heat sink and the electronic component. A stationary electronic device,
A resin seal characterized in that a buffer member made of low-hardness silicon resin that absorbs or reduces stress caused by expansion and contraction of the circuit board, the heat sink, and the mold resin is disposed at least between the heat sink and the circuit board. Stop-type electronic equipment.
前記緩衝部材は、粘着性を有していることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止型電子機器。   The resin-sealed electronic device according to claim 1, wherein the buffer member has adhesiveness. 前記緩衝部材は、モールド樹脂又は回路基板よりも熱伝導率が大きいことを特徴とする請求項1又は2に記載の樹脂封止型電子機器。   The resin-encapsulated electronic device according to claim 1, wherein the buffer member has a thermal conductivity larger than that of the mold resin or the circuit board.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010039729A1 (en) * 2010-08-25 2012-03-01 Robert Bosch Gmbh Electrical circuit with circuit component to be cooled, heat sink and method for sealed embedding of an electrical circuit
JP6895996B2 (en) * 2017-01-20 2021-06-30 三菱電機株式会社 Motors, air conditioners, and methods for manufacturing motors

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3468088B2 (en) * 1998-04-02 2003-11-17 国産電機株式会社 Control unit for internal combustion engine
JP2005019791A (en) * 2003-06-27 2005-01-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Power controlling device

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101821588B1 (en) 2016-04-22 2018-01-25 주식회사 코아비스 Fuel pump module and method for improving radiant heat

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