JP4982125B2 - 欠陥検査方法及びパターン抽出方法 - Google Patents
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Description
なお、本発明は上記実施の形態のみに限定されず、要旨を変更しない範囲で適宜変形して実施できる。
Claims (4)
- パターニングがされた検査対象の欠陥検査を行う欠陥検査方法であり、
前記検査対象のパターンデータを分割して複数の分割データを生成し、
前記複数の分割データのそれぞれについて、前記分割データまたはそれに対応する画像からアライメントを行うことが可能な形状を有するパターン(以下、アライメント可能パターンという)が存在するか否かを判断し、アライメント可能パターンが存在する判断された分割データについては該分割データまたはそれに対応する画像から前記アライメント可能パターンを抽出し、
前記複数の分割データに対応する前記検査対象の複数の局所領域のアライメントを行う際に、前記アライメント可能パターンが存在する分割データに対応する局所領域については前記アライメント可能パターンを用いてアライメントを行い、前記アライメント可能パターンが存在しない分割データに対応する局所領域については該局所領域の近傍に存在する別の局所領域内のアライメント可能パターンを用いてアライメントを行い、
前記アライメント可能パターンを用いてアライメントを行う前に、前記検査対象の外に設けられたアライメントマークを用いて、前記検査対象のアライメントを行うことを特徴とする欠陥検査方法。 - 前記アライメント可能パターンを用いたアライメントの後、データベースパターン比較検査を行うことを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査方法。
- 前記アライメント可能パターンを用いたアライメントの後、パターン比較検査を行うことを特徴とする請求項1に記載の欠陥検査方法。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載の欠陥検査方法における前記アライメント可能パターンは、パターンエッジに対して平行にパターンエッジ情報もしくは座標を探索し、該探索情報を用いて抽出することを特徴とするパターン抽出方法。
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