JP4978570B2 - レーザ溶接方法 - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品から突出して設けられたリードを基材にレーザ溶接するレーザ溶接方法に関する。
一般に、この種のレーザ溶接方法においては、電子部品に対してCuなどよりなる板状のリードを当該電子部品から突出して設け、それとともにリードの表面にSn、Ni、Au、はんだなどのめっきを施し、これを、当該リードの突出先端部側の部位にて基材にレーザ溶接する(たとえば、特許文献1、特許文献2参照)。
特開平10−137957号公報 特開2001−87877号公報
本発明者は、この種のレーザ溶接方法について、上記従来技術に基づいて鋭意検討を行った。図7、図8は本発明者の試作におけるレーザ溶接方法を示す工程図である。
図7において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は切断加工後のリード20の概略平面図、(c)は(b)のA1−A1概略断面図、(d)は(b)の矢印A2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。図7(a)では、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22(フレーム材23におけるリード20以外の部分)から分離するものである。図8はレーザ溶接工程を示す概略断面図である。
この方法では、まず、リード20をフレーム22に一体に連結してなる板状のフレーム材23に対して当該フレーム材23の外表面にめっき20aを施す(第1の工程)。なお、図7および以下の各平面図において、めっき20aの有無を識別するために、めっき20aの表面には便宜上、斜線ハッチングを施し、めっき20aが無い表面にはハッチングを施さないことにする。
次に、めっき20aが施されたフレーム材23の状態で、リード20を電子部品10に設ける(第2の工程)。この第2の工程まで終了した直後のワークの状態が、図7(a)に示される。
この後、図7(a)中の破線部分にて、フレーム22からリード20を切断して分離する。それによって電子部品10から突出するリード20を形成する(第3の工程)。これにより、このリード20のフレーム22からの切断面が突出先端部21を構成するが、図7(b)〜(d)に示されるように、このリード20の突出先端部21には、めっき20aは無い。
そして、この後、図8に示されるように、板状のリード20の突出先端部21側の部位と基材100とを重ね合わせ、これらをレーザ溶接する(第4の工程)。このとき、リード20の突出先端部21には、めっき20aが無く母材が露出した面となっているため、この突出先端部21では、レーザの吸収率が低下し、溶接性の低下を招く。
この対策として、本発明者は、図9に示されるように、切断加工後のリード20に対して、溶接前に突出先端部21にめっき20aを施すことを行うことを考えた。しかしながら、この場合、この溶接前めっきに工数がかかるという問題がある。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、電子部品から突出して設けられたリードを当該リードの突出先端部側の部位にて基材にレーザ溶接するレーザ溶接方法において、切断後にリードの突出先端部にめっきを施すことなく、良好な溶接を可能とすることを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明においては、リード(20)をフレーム(22)に一体に連結してなる板状のフレーム材(23)に対して当該フレーム材(23)の外表面にめっき(20a)を施す第1の工程と、フレーム材(23)の状態で、リード(20)を電子部品(10)に設ける第2の工程と、第1及び第2の工程の後、フレーム(22)からリード(20)を切断して分離することにより、電子部品(10)から突出するリード(20)を形成する第3の工程と、しかる後、リード(20)と基材(100)とのレーザ溶接を行う第4の工程とを備え、フレーム材(23)として、当該フレーム材(23)の外表面に、当該外表面より凹んだ穴(24、26)を形成し、当該穴(24、26)における深さ方向に延びる側面がリード(20)の切断後における突出先端部(21)として構成されるものを用意し、第1の工程では、穴(24、26)の側面にもめっき(20a)を施すようにすることを特徴としている。
それによれば、リード(20)の突出先端部(21)となる穴(24、26)の側面にめっき(20a)が施されることから、切断後において、リード(20)の突出先端部(21)にめっき(20a)が施された状態となるため、切断後にリード(20)の突出先端部(21)にめっきを施すことなく、良好な溶接が可能となる。
ここで、請求項2に記載の発明のように、穴(24)はフレーム材(23)を貫通する貫通穴であるものにしてもよいし、請求項3に記載の発明のように、穴はフレーム材(23)の厚さ方向に凹んだ凹部(26)であってもよい。
また、請求項4に記載の発明のように、穴(24、26)の開口形状は、レーザ溶接時のレーザのビーム径と同等の曲率半径を有する円弧形状を有し、当該円弧形状の部分が前記突出先端部(21)として構成されるものであるようにしてもよい。
それによれば、切断後のリード(20)の突出先端部(21)の形状を、レーザ照射面積の大きな形状としやすい。
なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
図1、図2は、本発明の第1実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、図1において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は切断加工後のリード20の概略平面図、(c)は(b)のB1−B1概略断面図、(d)は(b)の矢印B2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。この図1(a)では、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22から分離するものである。図2はレーザ溶接工程を示す概略断面図である。
まず、リード20をフレーム22に一体に連結してなる板状のフレーム材23に対して当該フレーム材23の外表面にめっき20aを施す(第1の工程)。このフレーム材23は、銅などよりなる板材であり、複数のリード20と、これらリード20を連結するフレーム22とが平面的にパターニングされたものである。
ここで、後工程において、フレーム材23を、図1(a)中の破線に沿って切断することにより、個々のリード20はフレーム22から分離されて独立したものとなる。フレーム材23には厚さ方向に貫通する貫通穴としての穴24、25が形成されており、この穴24、25によって、リード20およびフレーム22のパターンが区画されている。
ここで、図1(a)中の破線からわかるように、穴24、25としては、リード20の突出先端部21を区画する第1の穴24と、電子部品10側に位置しリード20の長手方向の側面を区画する第2の穴25とが形成されている。
つまり、第1の穴24においては、フレーム材23のうちリード20の突出先端部21となる部位の近傍の外表面に、当該外表面より凹んだ穴ここでは貫通穴としての第1の穴24を形成し、この第1の穴24の深さ方向に延びる面である側面が、切断後におけるリード20の突出先端部21を構成するようにしている。そして、各リード20は、その突出方向と平行に延びる側面部のみにてフレーム22に連結されている。
そして、めっき20aは、フレーム材23の外表面、すなわちフレーム材23の表裏の両板面およびこれら各穴24、25の側面に施す。めっき20aとしては、後工程で行うレーザ溶接による溶接性を向上するものとして、レーザを吸収しやすいめっきよりなる。
たとえばめっき20aとしては、Sn、Ni、はんだ、Auなどのめっきが挙げられる。このようなめっき20aの形成は、電気めっき、無電解めっきなどの一般的なめっき方法により行える。
次に、フレーム材23の状態で、リード20を電子部品10に設ける(第2の工程)。この状態が図1(a)に示される。電子部品10は、たとえばICチップをモールド樹脂で封止したモールドICなどである。電子部品10とリード20との接続は、たとえばワイヤボンディング、はんだ、バンプ接合、圧入、嵌合、締結などにより行える。
なお、フレーム材23の電子部品10への取り付けは、フレーム材23にめっき20aを施す前に行ってもよい。この場合、電子部品10から突出するフレーム材23の部分に対して、上記同様に、めっき20aを施せばよい。
こうして、第1及び第2の工程を行った後、フレーム22からリード20を切断して分離することにより、電子部品10から突出するリード20を形成する(第3の工程)。この第3の工程後における切断された1本のリード20が、図1(b)〜(d)に示される。
図1(b)〜(d)に示されるように、リード20の切断後においては、リード20は、電子部品10から突出して設けられた板状のものであり、リード20においては切断面以外の面にめっき20aが施されている。
本実施形態では、上記フレーム材23へのめっき20aの形成において、穴24、25の深さ方向の側面にもめっき20aが形成されたため、当然ながら、リード20の突出先端部21にもめっき20aが施されている。ちなみに、従来では、上記図7に示したように、このリードにおけるフレームからの切断面が突出先端部を構成し、この突出先端部には、めっきは無かった。
また、本実施形態では、リード20におけるその突出方向と平行に延びる側面部にもめっき20aが施されているが、当該側面部のうちフレーム22からの切断面では、めっき20aは存在せず、リード20を構成する銅などの母材が露出している。
次に、本方法では、図2に示されるように、この板状のリード20と基材100とのレーザ溶接を行う(第4の工程)。ここで、基材100としては、リードフレーム、バスバーなどが挙げられ、この基材100の表面にも同様のめっき20aが施されている。具体的には、板状のリード20の突出先端部21側の部位と基材100とを重ね合わせ、これらをYAGレーザなどによってレーザ溶接する。なお、基材100にはめっき20aは無くてもよい。
このとき、本実施形態では、リード20の突出先端部21にめっき20aが施されているため、突出先端部21においても良好なレーザ溶接性が確保される。そのため、本溶接方法によれば、リード20の切断後にリード20の突出先端部21にめっきを施すことなく、良好なレーザ溶接が可能となる。
(第2実施形態)
図3は、本発明の第2実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、図3において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は切断加工後のリード20の概略平面図、(c)は(b)のC1−C1概略断面図、(d)は(b)の矢印C2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。この図3(a)でも、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22から分離するものである。
上記第1実施形態では、フレーム材23の外表面にフレーム材23を貫通する貫通穴として第1の穴24を形成し、この第1の穴24における当該穴の深さ方向に延びる側面が、リード20の切断後における突出先端部21となるようにした。
そして、各リード20は、その突出方向と平行に延びる側面部のみにてフレーム22に連結されていたため、切断後におけるリード20の切断面は、当該側面部にのみ形成され、突出先端部21には形成されないものであった。そのため、上記第1実施形態では、リード20の突出先端部21の全体にめっき20aが施された。
それに対して、本実施形態では、図3(a)に示されるように、第1の穴24における当該穴の深さ方向に延びる側面を、リード20の切断後における突出先端部21となるようにしていることは上記第1実施形態と同様であるが、突出先端部21の一部はフレーム22に連結されている点が上記第1実施形態と相違する。
ここでは、図3(a)に示されるように、突出先端部21におけるリード20の幅方向の両端の部位がフレーム22に連結されており、突出先端部21におけるリード20の幅方向の中央部が第1の穴24における上記側面として構成されている。
この場合、図3(b)〜(d)に示されるように、リード20の切断後では、突出先端部21の一部、ここでは突出先端部21におけるリード20の幅方向の両端に切断面が形成され、当該切断面にはめっき20aが施されずに母材が露出したものとなる。
しかし、突出先端部21におけるリード20の幅方向の中央部には、上記第1の穴24によって、めっき20aが施されているため、本実施形態においても、リード20の切断後に当該突出先端部21にめっきを施すことなく、従来に比べて良好な溶接が可能となる。
(第3実施形態)
図4は、本発明の第3実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、図4において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は(a)中のリード20の長手方向に沿った概略断面図、(c)は切断加工後のリード20の概略平面図、(d)は(c)のD1−D1概略断面図、(e)は(c)の矢印D2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。この図4(a)でも、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22から分離するものである。
上記第1及び第2実施形態では、深さ方向に延びる側面がリード20の切断後における突出先端部21となる穴として、貫通穴として第1の穴24を設けたが、本実施形態では、貫通穴ではなく、当該穴として、フレーム材23の厚さ方向に凹んだ凹部26を形成したことが、上記第1実施形態との相違点である。
ここでは、図4(a)、(b)に示されるように、凹部26はフレーム材23のうちリード20の突出先端部21となる部位の外表面に設けられた溝である。また、ここでは、当該溝はその深さ方向の断面形状がV字形状をなしているが、溝形状は特に限定するものではなく、たとえばU字形状などであってもよい。
そして、図4に示されるように、この溝としての凹部26における深さ方向に延びる側面が、リード20の切断後における突出先端部21として構成される。この場合、めっき20aを施す第1の工程では、この凹部26の内部にもめっき20aが施され、凹部26における上記側面にめっき20aが形成される。
また、本実施形態では、切断前のフレーム材23において凹部26の底部側ではリード20の突出先端部21とフレーム22とが連結されている。つまり、本実施形態も上記第2実施形態と同様、突出先端部21の一部がフレーム22に連結されているものである。
さらに言うならば、上記第2実施形態では、突出先端部21におけるリード20の幅方向の中央部を除く両端の部位がフレーム22に連結されていたが、本実施形態では、突出先端部21においてリード20の厚さ方向に沿った一端寄りの部位を除く他端寄りの部位がフレーム22に連結されている。
そのため、本実施形態では、フレーム22からリード20を切断して分離する第3の工程において、フレーム材23における当該凹部26の底部側を切断する。また、本実施形態では、凹部26以外にも、上記実施形態と同様に、リード20はその突出方向と平行に延びる側面部にてフレーム22に連結されているので、この部分でも切断を行う。
そして、本実施形態の場合、図4(c)〜(e)に示されるように、リード20の切断後では、突出先端部21の一部、ここでは突出先端部21においてリード20の厚さ方向に沿った一端寄りの部位にめっき20aが施され、他端寄りの部位に切断面が形成され当該切断面にはめっき20aが施されずに母材が露出したものとなる。
このように、本実施形態によれば、突出先端部21におけるリード20の厚さ方向に沿った一端寄りの部位にめっき20aが施されているため、本実施形態においても、リード20の切断後に当該突出先端部21にめっきを施すことなく、従来に比べて良好な溶接が可能となる。
(第4実施形態)
図5は、本発明の第4実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、図5において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は切断加工後のリード20の概略平面図、(c)は(b)のE1−E1概略断面図、(d)は(b)の矢印E2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。この図5(a)でも、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22から分離するものである。
図5に示されるように、本実施形態においては、貫通穴としての第1の穴24によりリード20の突出先端部21を区画形成する点は、上記第1実施形態と同様であるが、リード20の突出先端部21を第1の穴24に突出させている点が、上記第1実施形態と相違する。
つまり、本実施形態では、フレーム材23において第1の穴24の側面を突出させたものとすることにより、リード20の突出方向と平行に延びる側面部とフレーム22との連結部分を、突出先端部21から離したものとしている。
それによって、切断後では、リード20の当該側面部に形成される切断面、すなわちめっき20aが無く母材が露出する面は、突出先端部21とは離れることになる。レーザ溶接においては、突出先端部21と当該母材が露出する切断面とは隣接するよりも離れていた方が、突出先端部21におけるレーザ吸収性に優れることから、本実施形態では、溶接性向上の点で好ましい。
(第5実施形態)
図6は、本発明の第5実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、図6において(a)は切断加工前のリード20を示す概略平面図、(b)は切断加工後のリード20の概略平面図、(c)は(b)のF1−F1概略断面図、(d)は(b)の矢印F2方向からみたリード20の突出先端部21の概略平面図である。この図6(a)でも、フレーム材23を同図中の破線で切断することで、リード20がフレーム22から分離するものである。
図6に示されるように、本実施形態においては、貫通穴としての第1の穴24によりリード20の突出先端部21を区画形成する点は、上記第1実施形態と同様であるが、リード20の突出先端部21を、レーザ溶接時のレーザのビーム形状と同等の円弧形状とした点が、上記第1実施形態と相違する。
この場合、第1の穴24の開口形状において、当該第1の穴24のうちその側面がリード20の突出先端部21を構成する部分を、レーザ溶接時のレーザのビーム径と同等の曲率半径を有する円弧形状とする。それにより、切断後には、当該円弧形状の部分が突出先端部21として構成される。
レーザのビーム形状、すなわち当該ビームの照射方向と直交する断面形状は円形であり、このビーム径は直径0.3mm〜1.5mm程度である。そこで、上記円弧形状においても、このビーム径と同じ曲率半径となるように円弧を形成する。それによって、切断後のリード20の突出先端部21において、レーザ照射面積を大きくすることができ、溶接性の向上につながる。
また、本実施形態は、リード20の突出先端部21を構成する穴が上記第3実施形態のような凹部である場合でも適用が可能である。この場合、当該凹部の開口形状を、上記レーザのビーム径と同等の曲率半径を有する円弧形状を有するものとすればよい。
(他の実施形態)
なお、上記フレーム材23に設けられ切断後のリード20の突出先端部21を構成する穴24、26としては、その開口形状は上記図に示した四角形、溝形状などに限定されるものではなく、各種の多角形、円形など適宜変更が可能である。
本発明の第1実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は切断加工後のリードの概略平面図、(c)は(b)のB1−B1概略断面図、(d)は(b)のB2矢視概略平面図である。 第1実施形態に係るレーザ溶接工程を示す概略断面図である。 本発明の第2実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は切断加工後のリードの概略平面図、(c)は(b)のC1−C1概略断面図、(d)は(b)のC2矢視概略平面図である。 本発明の第3実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は(a)中のリードの長手方向に沿った概略断面図、(c)は切断加工後のリードの概略平面図、(d)は(c)のD1−D1概略断面図、(e)は(c)のD2矢視概略平面図である。 本発明の第4実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は切断加工後のリードの概略平面図、(c)は(b)のE1−E1概略断面図、(d)は(b)のE2矢視概略平面図である。 本発明の第5実施形態に係るレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は切断加工後のリードの概略平面図、(c)は(b)のF1−F1概略断面図、(d)は(b)のF2矢視概略平面図である。 本発明者の試作におけるレーザ溶接方法を示す工程図であり、(a)は切断加工前のリードを示す概略平面図、(b)は切断加工後のリードの概略平面図、(c)は(b)のA1−A1概略断面図、(d)は(b)のA2矢視概略平面図である。 本発明者の試作におけるレーザ溶接工程を示す概略断面図である。 切断加工後のリードに対して溶接前に突出先端部にめっきを施した状態を示す概略断面図である。
符号の説明
10 電子部品
20 リード
20a めっき
21 リードの先端部
22 フレーム
23 フレーム材
24 第1の穴
26 凹部
100 基材

Claims (4)

  1. 電子部品(10)に対して当該電子部品(10)から突出して設けられ表面にめっき(20a)が施されてなる板状のリード(20)を、当該リード(20)の突出先端部(21)側の部位にて基材(100)にレーザ溶接するレーザ溶接方法において、
    前記リード(20)をフレーム(22)に一体に連結してなる板状のフレーム材(23)に対して当該フレーム材(23)の外表面に前記めっき(20a)を施す第1の工程と、
    前記フレーム材(23)の状態で、前記リード(20)を前記電子部品(10)に設ける第2の工程と、
    前記第1及び第2の工程の後、前記フレーム(22)から前記リード(20)を切断して分離することにより、前記電子部品(10)から突出する前記リード(20)を形成する第3の工程と、
    しかる後、前記リード(20)と前記基材(100)とのレーザ溶接を行う第4の工程とを備え、
    前記フレーム材(23)として、当該フレーム材(23)の外表面に、当該外表面より凹んだ穴(24、26)を形成し、当該穴(24、26)における深さ方向に延びる側面が前記リード(20)の切断後における前記突出先端部(21)として構成されるものを用意し、
    前記第1の工程では、前記穴(24、26)の前記側面にも前記めっき(20a)を施すようにすることを特徴とするレーザ溶接方法。
  2. 前記穴(24)は前記フレーム材(23)を貫通する貫通穴であることを特徴とする請求項1に記載のレーザ溶接方法。
  3. 前記穴は前記フレーム材(23)の厚さ方向に凹んだ凹部(26)であることを特徴とする請求項1に記載のレーザ溶接方法。
  4. 前記穴(24、26)の開口形状は、レーザ溶接時のレーザのビーム径と同等の曲率半径を有する円弧形状を有し、当該円弧形状の部分が前記突出先端部(21)として構成されるものであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載のレーザ溶接方法。
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