JP4977276B2 - Method for producing conductive particles with insulating particles, anisotropic conductive material, and connection structure - Google Patents

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Description

本発明は、例えば、電極間の電気的な接続に用いることができる絶縁性粒子付き導電性粒子及び該絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法、並びに該絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電材料及び接続構造体に関する。   The present invention uses, for example, conductive particles with insulating particles that can be used for electrical connection between electrodes, a method for producing the conductive particles with insulating particles, and the conductive particles with insulating particles. The present invention relates to an anisotropic conductive material and a connection structure.

異方性導電ペースト及び異方性導電フィルム等の異方性導電材料が広く知られている。これらの異方性導電材料では、バインダー樹脂中に導電性粒子が分散されている。   Anisotropic conductive materials such as anisotropic conductive pastes and anisotropic conductive films are widely known. In these anisotropic conductive materials, conductive particles are dispersed in a binder resin.

上記異方性導電材料は、ICチップとフレキシブルプリント回路基板との接続、及びICチップとITO電極を有する回路基板との接続等に使用されている。例えば、ICチップの電極と回路基板の電極との間に異方性導電材料を配置した後、加熱及び加圧することにより、これらの電極を電気的に接続できる。   The anisotropic conductive material is used for connection between an IC chip and a flexible printed circuit board, connection between an IC chip and a circuit board having an ITO electrode, and the like. For example, after disposing an anisotropic conductive material between the electrode of the IC chip and the electrode of the circuit board, these electrodes can be electrically connected by heating and pressing.

上記導電性粒子の一例として、下記の特許文献1には、導電性粒子と、該導電性粒子の表面に固定化されており、固着性を有する絶縁性粒子とを有する絶縁性粒子付き導電性粒子が開示されている。上記絶縁性粒子は、硬質粒子と、該硬質粒子の表面を被覆している高分子樹脂層とを有する。ここでは、導電性粒子の表面に絶縁性粒子を固定化させるために、固定化方法として物理的/機械的ハイブリダイゼーション法を用いている。   As an example of the conductive particles, the following Patent Document 1 discloses conductive with insulating particles having conductive particles and insulating particles fixed to the surface of the conductive particles and having adhesive properties. Particles are disclosed. The insulating particles include hard particles and a polymer resin layer covering the surfaces of the hard particles. Here, a physical / mechanical hybridization method is used as an immobilization method in order to immobilize the insulating particles on the surface of the conductive particles.

下記の特許文献2には、表面の少なくとも一部に極性基を有する導電性粒子と、該導電性粒子の表面の少なくとも一部を被覆しており、かつ絶縁性粒子を含む絶縁性材料とを有する絶縁性粒子付き導電性粒子が開示されている。上記絶縁性材料は、具体的には、上記極性基と吸着可能な高分子電解質と、上記高分子電解質と吸着可能な無機酸化物粒子とを含む。この無機酸化物粒子は、絶縁性粒子である。   Patent Document 2 below includes conductive particles having a polar group on at least a part of a surface, and an insulating material that covers at least a part of the surface of the conductive particles and includes insulating particles. A conductive particle with insulating particles is disclosed. Specifically, the insulating material includes a polymer electrolyte that can adsorb the polar group, and inorganic oxide particles that can adsorb the polymer electrolyte. The inorganic oxide particles are insulating particles.

特表2007−537570号公報Special table 2007-537570 gazette 特開2008−120990号公報JP 2008-120990 A

特許文献1,2に記載のような従来の絶縁性粒子付き導電性粒子では、導電層の少なくとも一部の領域が露出している。このため、大気中の腐食性ガス又は異方性導電材料中の腐食性物質などによって、導電層の表面に錆が生じやすい。このため、長期間に渡って、高い導電性を十分に維持できないことがある。また、導電層に錆が生じた絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて電極間を接続すると、電極間が電気的に確実に接続されなかったり、電極間の接続抵抗が高くなったりすることがある。   In the conventional conductive particles with insulating particles as described in Patent Documents 1 and 2, at least a part of the region of the conductive layer is exposed. For this reason, rust tends to be generated on the surface of the conductive layer by a corrosive gas in the atmosphere or a corrosive substance in the anisotropic conductive material. For this reason, high conductivity may not be sufficiently maintained over a long period of time. In addition, when the electrodes are connected using conductive particles with insulating particles in which the conductive layer has rusted, the electrodes may not be electrically connected reliably or the connection resistance between the electrodes may increase. is there.

さらに、従来の絶縁性粒子付き導電性粒子では、絶縁性粒子が導電性粒子の表面から脱離しやすい。例えば、絶縁性粒子付き導電性粒子をバインダー樹脂中に分散させる際に、導電性粒子の表面から、絶縁性粒子が容易に脱離することがある。   Furthermore, in the conventional conductive particles with insulating particles, the insulating particles are easily detached from the surface of the conductive particles. For example, when the conductive particles with insulating particles are dispersed in the binder resin, the insulating particles may be easily detached from the surface of the conductive particles.

特に、特許文献1に記載のように、導電性粒子の表面に絶縁性粒子を固定化させるために、物理的/機械的ハイブリダイゼーション法を用いた場合には、絶縁性粒子が導電性粒子の表面から脱離しやすい。   In particular, as described in Patent Document 1, when a physical / mechanical hybridization method is used to immobilize the insulating particles on the surface of the conductive particles, the insulating particles are made of conductive particles. Easily detached from the surface.

さらに、物理的/機械的ハイブリダイゼーション法を用いた場合には、絶縁性粒子の高分子樹脂層が、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分にも付着し、電極間の接続後に導電性が損なわれやすいという問題もある。   Furthermore, when the physical / mechanical hybridization method is used, the polymer resin layer of the insulating particles adheres to a portion other than the portion to which the insulating particles adhere on the surface of the conductive particles, There is also a problem that the conductivity is easily lost after the connection between the electrodes.

本発明の目的は、導電層に錆が生じ難く、長期間にわたり高い導電性を維持でき、従って電極間の接続に用いられた場合に、導通信頼性を高めることができる絶縁性粒子付き導電性粒子及び該絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法、並びに該絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電材料及び接続構造体を提供することである。   The object of the present invention is that the conductive layer is less likely to rust, can maintain high conductivity over a long period of time, and therefore, when used for connection between electrodes, the conductivity with insulating particles that can improve the reliability of conduction. It is providing the manufacturing method of electroconductive particle with particle | grains and this insulating particle, and the anisotropic conductive material and connection structure using this electroconductive particle with insulating particle.

本発明の限定的な目的は、導電性粒子の表面から絶縁性粒子が脱離し難い絶縁性粒子付き導電性粒子及び該絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法、並びに該絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電材料及び接続構造体を提供することである。   The limited object of the present invention is to provide conductive particles with insulating particles in which the insulating particles are not easily detached from the surface of the conductive particles, a method for producing the conductive particles with insulating particles, and the conductive particles with insulating particles. An anisotropic conductive material using particles and a connection structure are provided.

本発明の広い局面によれば、導電層を少なくとも表面に有する導電性粒子、及び該導電性粒子の表面に付着している絶縁性粒子を有する絶縁性粒子付き導電性粒子本体と、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆している被膜とを備え、上記被膜が、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物により形成されている、絶縁性粒子付き導電性粒子が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, the conductive particle body with insulating particles having conductive particles having a conductive layer at least on the surface, and insulating particles adhering to the surface of the conductive particles, and the insulating property A conductive particle with insulating particles is provided, comprising a coating film covering the surface of the conductive particle body with particles, wherein the coating film is formed of a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. .

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子のある特定の局面では、上記絶縁性粒子は無機粒子を含む。   On the specific situation with the electroconductive particle with an insulating particle which concerns on this invention, the said insulating particle contains an inorganic particle.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の他の特定の局面では、上記炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物は、リン酸エステル又はその塩、亜リン酸エステル又はその塩、アルコキシシラン、アルキルチオール及びジアルキルジスルフィドからなる群から選択された少なくとも1種である。   In another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms is a phosphate ester or a salt thereof, a phosphite ester or a salt thereof, or an alkoxysilane. , At least one selected from the group consisting of alkylthiols and dialkyl disulfides.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子のさらに他の特定の局面では、上記絶縁性粒子は、絶縁性粒子本体と、該絶縁性粒子本体の表面の少なくとも一部の領域を覆っており、かつ高分子化合物により形成されている層とを有する。   In still another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the insulating particles cover the insulating particle main body and at least a part of the surface of the insulating particle main body, And a layer formed of a polymer compound.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の別の特定の局面では、上記導電性粒子の表面の上記絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に、上記高分子化合物が付着していない。   In another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the polymer compound is not attached to a portion other than the portion to which the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. .

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の他の特定の局面では、上記高分子化合物が、(メタ)アクリロイル基、グリシジル基及びビニル基からなる群から選択された少なくとも1種の反応性官能基を有する。   In another specific aspect of the conductive particle with insulating particles according to the present invention, the polymer compound is at least one reactive functional group selected from the group consisting of a (meth) acryloyl group, a glycidyl group, and a vinyl group. Has a group.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の他の特定の局面では、上記絶縁性粒子が、上記導電性粒子の表面に、ハイブリダイゼーション法により付着されていない。   In another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the insulating particles are not attached to the surface of the conductive particles by a hybridization method.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の他の特定の局面では、絶縁性粒子付き導電性粒子を5重量%クエン酸水溶液で処理して上記被膜を剥離することにより、剥離した被膜を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素又は珪素元素を50〜10000ppm含む。   In another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the conductive particles with insulating particles are treated with a 5% by weight aqueous citric acid solution to peel the coating film, thereby including a peeled coating film. After obtaining the treatment liquid, the filtrate obtained by filtering the treatment liquid contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element or silicon element.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の他の特定の局面では、絶縁性粒子付き導電性粒子を5重量%クエン酸水溶液で処理して上記被膜を剥離することにより、剥離した被膜を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素を50〜10000ppm含む。   In another specific aspect of the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the conductive particles with insulating particles are treated with a 5% by weight aqueous citric acid solution to peel the coating film, thereby including a peeled coating film. After obtaining the treatment liquid, the filtrate obtained by filtering the treatment liquid contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element.

また、本発明の広い局面によれば、導電層を少なくとも表面に有する導電性粒子及び該導電性粒子の表面に付着している絶縁性粒子を有する絶縁性粒子付き導電性粒子本体と、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に付着している被膜とを備え、絶縁性粒子付き導電性粒子を5重量%クエン酸水溶液で処理して上記被膜を剥離することにより、剥離した被膜を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素又は珪素元素を50〜10000ppm含む。この場合に、絶縁性粒子付き導電性粒子を5重量%クエン酸水溶液で処理して上記被膜を剥離することにより、剥離した被膜を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素を50〜10000ppm含むことが好ましい。   According to a wide aspect of the present invention, the conductive particle body with insulating particles having conductive particles having a conductive layer at least on the surface and insulating particles adhering to the surface of the conductive particles; Including a film that has been peeled off by treating the conductive particles with insulating particles with a 5% by weight aqueous citric acid solution to peel off the film. After obtaining the treatment liquid, the filtrate obtained by filtering the treatment liquid contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element or silicon element. In this case, by treating the conductive particles with insulating particles with a 5% by weight citric acid aqueous solution and peeling the film, a treatment liquid containing the peeled film is obtained, and then the treatment liquid is filtered. The obtained filtrate preferably contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element.

本発明に係る接続構造体は、第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、該第1,第2の接続対象部材を接続している接続部とを備えており、該接続部が、本発明に従って構成された絶縁性粒子付き導電性粒子により形成されているか、又は該絶縁性粒子付き導電性粒子とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料により形成されている。   The connection structure according to the present invention includes a first connection target member, a second connection target member, and a connection portion connecting the first and second connection target members, and the connection The portion is formed of conductive particles with insulating particles configured according to the present invention, or is formed of an anisotropic conductive material including the conductive particles with insulating particles and a binder resin.

また、本発明の広い局面によれば、導電層を少なくとも表面に有する導電性粒子、及び該導電性粒子の表面に付着している絶縁性粒子を有する絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物を用いて、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する、絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法が提供される。   Further, according to the broad aspect of the present invention, on the surface of the conductive particle body with insulating particles having conductive particles having a conductive layer at least on the surface, and insulating particles adhering to the surface of the conductive particles. And a method for producing conductive particles with insulating particles, wherein a film is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with insulating particles using a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. The

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法のある特定の局面では、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体が表面の少なくとも一部の領域に水酸基を有し、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面の水酸基に、水酸基を有する炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物を反応させて、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する。   In a specific aspect of the method for producing conductive particles with insulating particles according to the present invention, the conductive particle body with insulating particles has a hydroxyl group in at least a part of the surface, and the conductive particles with insulating particles A film is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with insulating particles by reacting a hydroxyl group on the surface of the conductive particle body with a compound having a hydroxyl group-containing C6-C22 alkyl group.

本発明に係る異方性導電材料は、本発明に従って構成された絶縁性粒子付き導電性粒子と、バインダー樹脂とを含むか、又は本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子と、バインダー樹脂とを含む。本発明に係る異方性導電材料は、異方性導電ペーストであることが好ましい。   The anisotropic conductive material according to the present invention includes conductive particles with insulating particles configured according to the present invention and a binder resin, or is obtained by the method for producing conductive particles with insulating particles according to the present invention. The obtained conductive particles with insulating particles and a binder resin. The anisotropic conductive material according to the present invention is preferably an anisotropic conductive paste.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面が被膜により被覆されており、該被膜が炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物により形成されているので、導電層に錆が生じ難い。   In the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the surface of the conductive particle body with insulating particles is coated with a coating, and the coating is formed of a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. Therefore, rust hardly occurs in the conductive layer.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法では、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物を用いて、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成するので、導電層に錆が生じ難い絶縁性粒子付き導電性粒子を得ることができる。   In the method for producing conductive particles with insulating particles according to the present invention, the conductive particles with insulating particles are formed using a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms on the surface of the conductive particle body with insulating particles. Since the coating is formed so as to cover the surface of the particle body, it is possible to obtain conductive particles with insulating particles that hardly cause rust in the conductive layer.

従って、本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて、又は本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて、電極間を接続した場合に、電極間の導通信頼性を高めることができる。   Therefore, using the conductive particles with insulating particles according to the present invention or using the conductive particles with insulating particles obtained by the method for producing conductive particles with insulating particles according to the present invention, the gap between the electrodes is determined. When connected, the conduction reliability between the electrodes can be enhanced.

また、本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に被膜が付着しており、更に該絶縁性粒子付き導電性粒子を5重量%クエン酸水溶液で処理して上記被膜を剥離することにより、剥離した被膜を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素又は珪素元素を50〜10000ppm含む場合にも、導電層に錆が生じ難い。従って、本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて、電極間を接続した場合に、電極間の導通信頼性を高めることができる。   In addition, the conductive particles with insulating particles according to the present invention have a coating attached to the surface of the conductive particle body with insulating particles, and the conductive particles with insulating particles are further mixed with a 5 wt% aqueous citric acid solution. When the treatment liquid containing the peeled film is obtained by treating and peeling the film, and then the filtrate obtained by filtering the treatment liquid contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element or silicon element However, rust hardly occurs in the conductive layer. Accordingly, when the electrodes are connected using the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the conduction reliability between the electrodes can be improved.

図1は、本発明の第1の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the first embodiment of the present invention. 図2は、本発明の第2の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the second embodiment of the present invention. 図3は、本発明の第3の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the third embodiment of the present invention. 図4は、本発明の第4の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the fourth embodiment of the present invention. 図5は、図1に示す絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた接続構造体を模式的に示す正面断面図である。FIG. 5 is a front cross-sectional view schematically showing a connection structure using the conductive particles with insulating particles shown in FIG. 1. 図6は、ハイブリダイゼーション法を用いた従来の絶縁性粒子付き導電性粒子を示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a conventional conductive particle with insulating particles using a hybridization method.

以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態及び実施例を説明することにより本発明を明らかにする。   Hereinafter, the present invention will be clarified by describing specific embodiments and examples of the present invention with reference to the drawings.

(絶縁性粒子付き導電性粒子本体)
図1に、本発明の第1の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を断面図で示す。
(Conductive particle body with insulating particles)
FIG. 1 is a sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the first embodiment of the present invention.

図1に示す絶縁性粒子付き導電性粒子1は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2と、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2の表面を被覆している被膜3とを備える。被膜3は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2の表面に付着している。被膜3は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2の表面全体を覆っている。   A conductive particle 1 with insulating particles shown in FIG. 1 includes a conductive particle body 2 with insulating particles and a coating 3 covering the surface of the conductive particle body 2 with insulating particles. The coating 3 is attached to the surface of the conductive particle body 2 with insulating particles. The coating 3 covers the entire surface of the conductive particle body 2 with insulating particles.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体2は、導電性粒子11と、導電性粒子11の表面に付着している複数の絶縁性粒子15とを備える。絶縁性粒子15は、絶縁性を有する材料により形成されている。   The conductive particle body 2 with insulating particles includes conductive particles 11 and a plurality of insulating particles 15 attached to the surface of the conductive particles 11. The insulating particles 15 are formed of an insulating material.

被膜3は、導電性粒子11の表面と、絶縁性粒子15の表面とを覆っている。導電性粒子11の表面を覆っている被膜3部分と、絶縁性粒子15の表面を覆っている被膜3部分とは、連なっている。   The coating 3 covers the surface of the conductive particles 11 and the surface of the insulating particles 15. The coating 3 portion covering the surface of the conductive particles 11 and the coating 3 portion covering the surface of the insulating particles 15 are continuous.

導電性粒子11は、基材粒子12と、基材粒子12の表面上に設けられた導電層13とを有する。導電層13は、基材粒子12の表面を覆っている。導電性粒子11は、基材粒子12の表面が導電層13により被覆された被覆粒子である。導電性粒子11は表面に導電層13を有する。   The conductive particles 11 have base material particles 12 and a conductive layer 13 provided on the surface of the base material particles 12. The conductive layer 13 covers the surface of the base particle 12. The conductive particles 11 are coated particles in which the surface of the base particle 12 is coated with the conductive layer 13. The conductive particles 11 have a conductive layer 13 on the surface.

図2に、本発明の第2の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を断面図で示す。   FIG. 2 is a sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the second embodiment of the present invention.

図2に示す絶縁性粒子付き導電性粒子21は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体22と、絶縁性粒子付き導電性粒子本体22の表面を被覆している被膜23とを備える。被膜23は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体22の表面に付着している。   A conductive particle 21 with insulating particles shown in FIG. 2 includes a conductive particle body 22 with insulating particles and a coating 23 covering the surface of the conductive particle body 22 with insulating particles. The coating 23 is attached to the surface of the conductive particle body 22 with insulating particles.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体22は、導電性粒子31と、導電性粒子31の表面に付着している複数の絶縁性粒子15とを備える。   The conductive particle body 22 with insulating particles includes conductive particles 31 and a plurality of insulating particles 15 attached to the surface of the conductive particles 31.

被膜23は、導電性粒子31の表面と、絶縁性粒子15の表面とを覆っている。導電性粒子31の表面を覆っている被膜23部分と、絶縁性粒子15の表面を被覆している被膜23部分とは、連なっている。   The coating 23 covers the surface of the conductive particles 31 and the surface of the insulating particles 15. The coating 23 portion covering the surface of the conductive particles 31 and the coating 23 portion covering the surface of the insulating particles 15 are continuous.

導電性粒子31は、基材粒子12と、基材粒子12の表面上に設けられた導電層32とを有する。導電性粒子31は、基材粒子12の表面上に複数の芯物質33を有する。導電層32は、基材粒子12と芯物質33とを被覆している。芯物質33を導電層32が被覆していることにより、導電性粒子31は表面に、複数の突起34を有する。芯物質33により導電層32の表面が隆起されており、複数の突起34が形成されている。   The conductive particles 31 have base material particles 12 and a conductive layer 32 provided on the surface of the base material particles 12. The conductive particles 31 have a plurality of core substances 33 on the surface of the substrate particles 12. The conductive layer 32 covers the base particle 12 and the core substance 33. By covering the core substance 33 with the conductive layer 32, the conductive particles 31 have a plurality of protrusions 34 on the surface. The surface of the conductive layer 32 is raised by the core material 33, and a plurality of protrusions 34 are formed.

図3に、本発明の第3の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を断面図で示す。   In FIG. 3, the electroconductive particle with an insulating particle which concerns on the 3rd Embodiment of this invention is shown with sectional drawing.

図3に示す絶縁性粒子付き導電性粒子41は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体42と、絶縁性粒子付き導電性粒子本体42の表面を被覆している被膜3とを備える。   A conductive particle 41 with insulating particles shown in FIG. 3 includes a conductive particle body 42 with insulating particles and a coating 3 that covers the surface of the conductive particle body 42 with insulating particles.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体42は、導電性粒子11と、導電性粒子11の表面に付着している複数の絶縁性粒子45とを備える。すなわち、絶縁性粒子が異なることを除いては、絶縁性粒子付き導電性粒子41は絶縁性粒子付き導電性粒子1と同様に構成されており、絶縁性粒子付き導電性粒子本体42は絶縁性粒子付き導電性粒子本体2と同様に構成されている。   The conductive particle body 42 with insulating particles includes the conductive particles 11 and a plurality of insulating particles 45 attached to the surface of the conductive particles 11. That is, except that the insulating particles are different, the conductive particles 41 with insulating particles are configured in the same manner as the conductive particles 1 with insulating particles, and the conductive particle body 42 with insulating particles is insulative. It is comprised similarly to the electroconductive particle main body 2 with a particle.

絶縁性粒子45は、絶縁性粒子本体45aと、絶縁性粒子本体45aの表面を覆っており、かつ高分子化合物により形成されている層45bとを有する。層45bの存在により、導電性粒子11に対する絶縁性粒子45の密着性を適度に高めることができる。   The insulating particles 45 include an insulating particle main body 45a and a layer 45b that covers the surface of the insulating particle main body 45a and is formed of a polymer compound. Due to the presence of the layer 45b, the adhesion of the insulating particles 45 to the conductive particles 11 can be appropriately increased.

層45bは、絶縁性粒子本体45aの表面全体を被覆している。従って、導電性粒子11と絶縁性粒子本体45aとの間に層45bが配置されている。層45bは、絶縁性粒子本体の表面の少なくとも一部の領域を覆うように存在していればよく、絶縁性粒子本体の表面全体を覆っていなくてもよい。層45bは、導電性粒子と絶縁性粒子本体との間に配置されていることが好ましい。   The layer 45b covers the entire surface of the insulating particle main body 45a. Therefore, the layer 45b is disposed between the conductive particles 11 and the insulating particle main body 45a. The layer 45b may be present so as to cover at least a part of the surface of the insulating particle main body, and may not cover the entire surface of the insulating particle main body. The layer 45b is preferably disposed between the conductive particles and the insulating particle main body.

図4に、本発明の第4の実施形態に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を断面図で示す。   FIG. 4 is a sectional view showing conductive particles with insulating particles according to the fourth embodiment of the present invention.

図4に示す絶縁性粒子付き導電性粒子61は、絶縁性粒子本体62と、絶縁性粒子付き導電性粒子本体62の表面を被覆している被膜23とを備える。被膜23は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体62の表面に付着している。   The conductive particle 61 with insulating particles shown in FIG. 4 includes an insulating particle main body 62 and a coating 23 that covers the surface of the conductive particle main body 62 with insulating particles. The coating 23 is attached to the surface of the conductive particle body 62 with insulating particles.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体62は、導電性粒子71と、導電性粒子71の表面に付着している複数の絶縁性粒子15とを備える。   The conductive particle body 62 with insulating particles includes conductive particles 71 and a plurality of insulating particles 15 attached to the surface of the conductive particles 71.

導電性粒子71は、基材粒子12と、基材粒子12の表面上に設けられた導電層76とを有する。導電層76は、基材粒子12の表面上に設けられた第1の導電層76aと、第1の導電層76aの表面上に設けられた第2の導電層76bとを有する。導電性粒子71は、第1の導電層76aの表面上に複数の芯物質33を有する。第2の導電層76bは、第1の導電層76aと芯物質33とを被覆している。基材粒子12と芯物質33とは間隔を隔てて配置されている。基材粒子12と芯物質33との間には、第1の導電層76aが存在する。芯物質33を第2の導電層76bが被覆していることにより、導電性粒子71は表面に、複数の突起77を有する。芯物質33により導電層76及び第2の導電層76bの表面が隆起されており、複数の突起77が形成されている。   The conductive particles 71 have base material particles 12 and a conductive layer 76 provided on the surface of the base material particles 12. The conductive layer 76 includes a first conductive layer 76a provided on the surface of the base particle 12 and a second conductive layer 76b provided on the surface of the first conductive layer 76a. The conductive particles 71 have a plurality of core substances 33 on the surface of the first conductive layer 76a. The second conductive layer 76 b covers the first conductive layer 76 a and the core material 33. The substrate particles 12 and the core substance 33 are arranged with a space therebetween. A first conductive layer 76 a exists between the base particle 12 and the core substance 33. By covering the core substance 33 with the second conductive layer 76b, the conductive particles 71 have a plurality of protrusions 77 on the surface. The surfaces of the conductive layer 76 and the second conductive layer 76 b are raised by the core material 33, and a plurality of protrusions 77 are formed.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体2,22,42,62の表面を被膜3,23が被覆しており、該被膜3,23が、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物により形成されていることが好ましい。これにより、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61における導電層13,32,76に錆が生じ難くなる。被膜3,23は防錆効果を付与する。このため、絶縁性粒子付き導電性粒子における導電性粒子の導電性が高くなり、長期間にわたり高い導電性を維持できる。従って、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を用いて電極間を接続した場合に、導通信頼性を高めることができる。   The surfaces of the conductive particle bodies 2, 22, 42, 62 with insulating particles are coated with the coatings 3, 23, and the coatings 3, 23 are formed of a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. Preferably it is. Thereby, it becomes difficult to produce rust in the conductive layers 13, 32, 76 in the conductive particles 1, 21, 41, 61 with insulating particles. The coatings 3 and 23 provide a rust prevention effect. For this reason, the electroconductivity of the electroconductive particle in the electroconductive particle with an insulating particle becomes high, and can maintain high electroconductivity over a long period of time. Therefore, when the electrodes are connected using the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61, the conduction reliability can be improved.

また、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を5重量%クエン酸水溶液で処理して被膜3,23を剥離することにより、剥離した被膜3,23を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液が、リン元素又は珪素元素を50〜10000ppm含むことが好ましい。これにより、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61における導電層13,32,76に錆が生じ難くなる。このため、絶縁性粒子付き導電性粒子における導電性粒子の導電性が高くなり、長期間にわたり高い導電性を維持できる。従って、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を用いて電極間を接続した場合に、導通信頼性を高めることができる。   Moreover, the process liquid containing the peeled coating 3 and 23 was obtained by processing the electroconductive particle 1,21,41,61 with an insulating particle with 5 weight% citric acid aqueous solution, and peeling the coating 3 and 23. Then, it is preferable that the filtrate obtained by filtering this process liquid contains 50-10000 ppm of phosphorus elements or silicon elements. Thereby, it becomes difficult to produce rust in the conductive layers 13, 32, 76 in the conductive particles 1, 21, 41, 61 with insulating particles. For this reason, the electroconductivity of the electroconductive particle in the electroconductive particle with an insulating particle becomes high, and can maintain high electroconductivity over a long period of time. Therefore, when the electrodes are connected using the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61, the conduction reliability can be improved.

また、導電層に錆をより一層生じ難くする観点からは、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を5重量%クエン酸水溶液で処理して被膜3,23を剥離することにより、剥離した被膜3,23を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液は、リン元素を50〜10000ppm含むことが好ましい。導電層に錆をより一層生じ難くする観点からは、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を5重量%クエン酸水溶液で処理して被膜3,23を剥離することにより、剥離した被膜3,23を含む処理液を得た後、該処理液をろ過することにより得られたろ過液は、珪素元素を50〜10000ppm含むことが好ましい。上記ろ過液中の珪素元素又はリン元素の含有量は、より好ましくは100ppm以上、より好ましくは5000ppm以下、更に好ましくは1000ppm以下である。   Further, from the viewpoint of making the conductive layer more difficult to rust, the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 are treated with a 5% by weight citric acid aqueous solution to peel off the coatings 3, 23. After obtaining the treatment liquid containing the peeled films 3 and 23, the filtrate obtained by filtering the treatment liquid preferably contains 50 to 10,000 ppm of phosphorus element. From the viewpoint of making rust more difficult to occur in the conductive layer, the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 are treated with a 5% by weight citric acid aqueous solution, and the coatings 3, 23 are peeled off. It is preferable that the filtrate obtained by filtering the treatment liquid after obtaining the treated films 3 and 23 contains 50 to 10,000 ppm of silicon element. The content of silicon element or phosphorus element in the filtrate is more preferably 100 ppm or more, more preferably 5000 ppm or less, and still more preferably 1000 ppm or less.

上記リン元素及び珪素元素の含有量は、ICP発光分析装置を用いて測定できる。ICP発光分析装置の市販品としては、堀場製作所社製「ULTIMA2」等が挙げられる。   The contents of the phosphorus element and silicon element can be measured using an ICP emission analyzer. Examples of commercially available ICP emission analyzers include “ULTIMA2” manufactured by HORIBA, Ltd.

被膜3,23を有する絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61の場合には、上記リン元素及び上記珪素元素の含有量は、通常、被膜3,23により決まる。すなわち、上記リン元素及び上記珪素元素の含有量は、被膜3,23におけるリン元素及び珪素元素の割合を示す。   In the case of the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 having the coatings 3, 23, the contents of the phosphorus element and the silicon element are usually determined by the coatings 3, 23. That is, the contents of the phosphorus element and the silicon element indicate the ratio of the phosphorus element and the silicon element in the coatings 3 and 23.

被膜3,23は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2,22,42,62の表面に付着していることが好ましい。絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61では、被膜3,23は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2,22,42,62の表面全体を覆っていることが好ましい。   The coatings 3, 23 are preferably attached to the surfaces of the conductive particle bodies 2, 22, 42, 62 with insulating particles. In the conductive particles 1, 21, 41, 61 with insulating particles, the coatings 3, 23 preferably cover the entire surface of the conductive particle bodies 2, 22, 42, 62 with insulating particles.

なお、被膜3,23は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体2,22,42,62の表面全体を必ずしも被覆している必要はない。導電層13,32,76の表面の少なくとも一部の領域を被膜3,23が被覆していることにより、被膜3,23が形成されている部分において、導電層23,32,76の錆を抑制できる。   In addition, the coating films 3 and 23 do not necessarily need to coat | cover the whole surface of the electroconductive particle main body 2,22,42,62 with an insulating particle. By covering at least a part of the surface of the conductive layers 13, 32, 76 with the coatings 3, 23, the rust of the conductive layers 23, 32, 76 is caused in the portions where the coatings 3, 23 are formed. Can be suppressed.

さらに、被膜3,23の存在によって、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61では、導電性粒子11,31,71の表面から、絶縁性粒子15,45が脱離し難くなる。例えば、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61をバインダー樹脂中に添加し、混練する際に、導電性粒子11,31,71の表面から絶縁性粒子15,45が脱離し難い。さらに、複数の絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61が接触したときに、接触時の衝撃により、導電性粒子11,31,71の表面から絶縁性粒子15,45が脱離し難い。このため、絶縁性粒子付き導電性粒子1,21,41,61を電極間の接続に用いた場合に、隣接する導電性粒子11,31,71間には絶縁性粒子15,45が存在するので、接続されてはならない隣り合う電極間が電気的に接続され難い。   Further, due to the presence of the coatings 3 and 23, in the conductive particles 1, 21, 41 and 61 with insulating particles, the insulating particles 15 and 45 are hardly detached from the surfaces of the conductive particles 11, 31 and 71. For example, when the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 are added to the binder resin and kneaded, the insulating particles 15, 45 are not easily detached from the surfaces of the conductive particles 11, 31, 71. . Furthermore, when a plurality of conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 come into contact, the insulating particles 15, 45 are detached from the surfaces of the conductive particles 11, 31, 71 due to an impact at the time of contact. hard. Therefore, when the conductive particles with insulating particles 1, 21, 41, 61 are used for connection between the electrodes, the insulating particles 15, 45 exist between the adjacent conductive particles 11, 31, 71. Therefore, it is difficult to electrically connect adjacent electrodes that should not be connected.

以下、被膜3,23の詳細及び絶縁性粒子付き導電性粒子本体2,22,42,62の詳細を説明する。   Hereinafter, the details of the coatings 3 and 23 and the details of the conductive particle bodies 2, 22, 42 and 62 with insulating particles will be described.

[被膜]
導電層に錆を生じ難くするために、上記被膜は、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物(以下、化合物Aともいう)により形成されていることが好ましい。上記アルキル基の炭素数が6未満であると、導電層の表面に錆が生じやすくなる。上記アルキル基の炭素数が22を超えると、絶縁性粒子付き導電性粒子の導電性が低くなる。絶縁性粒子付き導電性粒子の導電性をより一層高める観点からは、上記化合物Aにおける上記アルキル基の炭素数は16以下であることが好ましい。上記アルキル基は直鎖構造を有していてもよく、分岐構造を有していてもよい。上記アルキル基は、直鎖構造を有することが好ましい。
[Coating]
In order to make the conductive layer less likely to rust, the coating is preferably formed of a compound having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms (hereinafter also referred to as compound A). Rust tends to occur on the surface of the conductive layer when the alkyl group has less than 6 carbon atoms. When carbon number of the said alkyl group exceeds 22, the electroconductivity of the electroconductive particle with an insulating particle will become low. From the viewpoint of further increasing the conductivity of the conductive particles with insulating particles, the alkyl group in the compound A preferably has 16 or less carbon atoms. The alkyl group may have a linear structure or a branched structure. The alkyl group preferably has a linear structure.

上記化合物Aは、炭素数6〜22のアルキル基を有していれば特に限定されない。上記化合物Aは、炭素数6〜22のアルキル基を有するリン酸エステル又はその塩、炭素数6〜22のアルキル基を有する亜リン酸エステル又はその塩、炭素数6〜22のアルキル基を有するアルコキシシラン、炭素数6〜22のアルキル基を有するアルキルチオール、及び炭素数6〜22のアルキル基を有するジアルキルジスルフィドからなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましい。すなわち、上記炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物Aは、リン酸エステル又はその塩、亜リン酸エステル又はその塩、アルコキシシラン、アルキルチオール及びジアルキルジスルフィドからなる群から選択された少なくとも1種であることが好ましい。これらの好ましい化合物Aの使用により、導電層に錆をより一層生じ難くすることができる。錆を更に一層生じ難くする観点からは、上記化合物Aは、上記リン酸エステル又はその塩、亜リン酸エステル又はその塩及びアルコキシシランからなる群から選択された少なくとも1種であることが好ましく、上記リン酸エステル又はその塩及び亜リン酸エステル又はその塩の内の少なくとも1種であることがより好ましい。上記化合物Aは、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The compound A is not particularly limited as long as it has an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. The compound A has a phosphate ester having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms or a salt thereof, a phosphite ester having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms or a salt thereof, and an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. It is preferably at least one selected from the group consisting of alkoxysilanes, alkylthiols having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms, and dialkyl disulfides having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. That is, the compound A having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms is at least one selected from the group consisting of phosphate esters or salts thereof, phosphite esters or salts thereof, alkoxysilanes, alkylthiols, and dialkyl disulfides. It is preferable that By using these preferable compounds A, it is possible to further prevent rust from being generated in the conductive layer. From the viewpoint of making rust more difficult to occur, the compound A is preferably at least one selected from the group consisting of the phosphate ester or a salt thereof, a phosphite ester or a salt thereof and an alkoxysilane, More preferably, the phosphoric acid ester or a salt thereof and a phosphorous acid ester or a salt thereof are at least one of them. As for the said compound A, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記化合物Aは、導電性粒子と反応可能な反応性官能基を有することが好ましい。上記化合物Aは、絶縁性粒子と反応可能な反応性官能基を有することが好ましい。被膜は、絶縁性粒子付き導電性粒子本体と化学結合していることが好ましい。被膜は、導電性粒子と化学結合していることが好ましい。被膜は、絶縁性粒子と化学結合していることが好ましい。被膜は、導電性粒子及び絶縁性粒子と化学結合していることがより好ましい。上記反応性官能基の存在により、及び上記化学結合により、被膜の剥離が生じ難くなる。この結果、導電層に錆がより一層生じ難くなり、かつ導電性粒子の表面から絶縁性粒子が意図せずにより一層脱離し難くなる。   The compound A preferably has a reactive functional group capable of reacting with the conductive particles. The compound A preferably has a reactive functional group capable of reacting with insulating particles. The coating is preferably chemically bonded to the conductive particle body with insulating particles. The coating is preferably chemically bonded to the conductive particles. The coating is preferably chemically bonded to the insulating particles. More preferably, the coating is chemically bonded to the conductive particles and the insulating particles. The presence of the reactive functional group and the chemical bond make it difficult for the coating to peel off. As a result, rust is less likely to occur in the conductive layer, and the insulating particles are more difficult to be detached from the surface of the conductive particles unintentionally.

上記炭素数6〜22のアルキル基を有するリン酸エステル又はその塩としては、例えば、リン酸ヘキシルエステル、リン酸ヘプチルエステル、リン酸モノオクチルエステル、リン酸モノノニルエステル、リン酸モノデシルエステル、リン酸モノウンデシルエステル、リン酸モノドデシルエステル、リン酸モノトリデシルエステル、リン酸モノテトラデシルエステル、リン酸モノペンタデシルエステル、リン酸モノヘキシルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノヘプチルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノオクチルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノノニルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノデシルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノウンデシルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノドデシルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノトリデシルエステルモノナトリウム塩、リン酸モノテトラデシルエステルモノナトリウム塩及びリン酸モノペンタデシルエステルモノナトリウム塩等が挙げられる。上記リン酸エステルのカリウム塩を用いてもよい。   Examples of the phosphoric acid ester having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms or a salt thereof include, for example, phosphoric acid hexyl ester, phosphoric acid heptyl ester, phosphoric acid monooctyl ester, phosphoric acid monononyl ester, phosphoric acid monodecyl ester, Monoundecyl phosphate, monododecyl phosphate, monotridecyl phosphate, monotetradecyl phosphate, monopentadecyl phosphate, monohexyl phosphate monosodium salt, monoheptyl phosphate monosodium Salts, monooctyl phosphate monosodium salt, monononyl phosphate monosodium salt, monodecyl phosphate monosodium salt, monoundecyl phosphate monosodium salt, monododecyl phosphate monosodium salt, Phosphate mono tridecyl ester monosodium salt, phosphate acid mono tetradecyl ester monosodium salt and phosphoric acid mono pentadecyl ester monosodium salt. You may use the potassium salt of the said phosphate ester.

上記炭素数6〜22のアルキル基を有する亜リン酸エステル又はその塩としては、例えば、亜リン酸ヘキシルエステル、亜リン酸ヘプチルエステル、亜リン酸モノオクチルエステル、亜リン酸モノノニルエステル、亜リン酸モノデシルエステル、亜リン酸モノウンデシルエステル、亜リン酸モノドデシルエステル、亜リン酸モノトリデシルエステル、亜リン酸モノテトラデシルエステル、亜リン酸モノペンタデシルエステル、亜リン酸モノヘキシルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノヘプチルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノオクチルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノノニルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノデシルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノウンデシルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノドデシルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノトリデシルエステルモノナトリウム塩、亜リン酸モノテトラデシルエステルモノナトリウム塩及び亜リン酸モノペンタデシルエステルモノナトリウム塩等が挙げられる。上記亜リン酸エステルのカリウム塩を用いてもよい。   Examples of the phosphite ester having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms or a salt thereof include, for example, hexyl phosphite ester, heptyl phosphite ester, monooctyl phosphite ester, monononyl phosphite ester, Phosphoric acid monodecyl ester, phosphorous acid monoundecyl ester, phosphorous acid monododecyl ester, phosphorous acid monotridecyl ester, phosphorous acid monotetradecyl ester, phosphorous acid monopentadecyl ester, phosphorous acid monohexyl Ester monosodium salt, phosphorous acid monoheptyl ester monosodium salt, phosphorous acid monooctyl ester monosodium salt, phosphorous acid monononyl ester monosodium salt, phosphorous acid monodecyl ester monosodium salt, phosphorous acid monoun Decyl ester monosodium salt, phosphorous acid Dodecyl ester monosodium salt, phosphorous acid mono-tridecyl ester monosodium salt, phosphorous acid mono-tetradecyl ester monosodium salt and phosphorous acid mono-pentadecyl ester monosodium salt. You may use the potassium salt of the said phosphite.

上記炭素数6〜22のアルキル基を有するアルコキシシランとしては、例えば、ヘキシルトリメトキシシラン、ヘキシルトリエトキシシラン、ヘプチルトリメトキシシラン、ヘプチルトリエトキシシラン、オクチルトリメトキシシラン、オクチルトリエトキシシラン、ノニルトリメトキシシラン、ノニルトリエトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、デシルトリエトキシシラン、ウンデシルトリメトキシシラン、ウンデシルトリエトキシシラン、ドデシルトリメトキシシラン、ドデシルトリエトキシシラン、トリデシルトリメトキシシラン、トリデシルトリエトキシシラン、テトラデシルトリメトキシシラン、テトラデシルトリエトキシシラン、ペンタデシルトリメトキシシラン及びペンタデシルトリエトキシシラン等が挙げられる。   Examples of the alkoxysilane having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms include hexyltrimethoxysilane, hexyltriethoxysilane, heptyltrimethoxysilane, heptyltriethoxysilane, octyltrimethoxysilane, octyltriethoxysilane, and nonyltri. Methoxysilane, nonyltriethoxysilane, decyltrimethoxysilane, decyltriethoxysilane, undecyltrimethoxysilane, undecyltriethoxysilane, dodecyltrimethoxysilane, dodecyltriethoxysilane, tridecyltrimethoxysilane, tridecyltriethoxy Examples include silane, tetradecyltrimethoxysilane, tetradecyltriethoxysilane, pentadecyltrimethoxysilane, and pentadecyltriethoxysilane.

上記炭素数6〜22のアルキル基を有するアルキルチオールとしては、例えば、ヘキシルチオール、ヘプチルチオール、オクチルチオール、ノニルチオール、デシルチオール、ウンデシルチオール、ドデシルチオール、トリデシルチオール、テトラデシルチオール、ペンタデシルチオール及びヘキサデシルチオール等が挙げられる。上記アルキルチオールは、アルキル鎖の末端にチオール基を有することが好ましい。   Examples of the alkyl thiol having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms include hexyl thiol, heptyl thiol, octyl thiol, nonyl thiol, decyl thiol, undecyl thiol, dodecyl thiol, tridecyl thiol, tetradecyl thiol, pentadecyl. Examples include thiol and hexadecyl thiol. The alkyl thiol preferably has a thiol group at the end of the alkyl chain.

上記炭素数6〜22のアルキル基を有するジアルキルジスルフィドとしては、例えば、ジヘキシルジスルフィド、ジヘプチルジスルフィド、ジオクチルジスルフィド、ジノニルジスルフィド、ジデシルジスルフィド、ジウンデシルジスルフィド、ジドデシルジスルフィド、ジトリデシルジスルフィド、ジテトラデシルジスルフィド、ジペンタデシルジスルフィド及びジヘキサデシルジスルフィド等が挙げられる。   Examples of the dialkyl disulfide having an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms include dihexyl disulfide, diheptyl disulfide, dioctyl disulfide, dinonyl disulfide, didecyl disulfide, diundecyl disulfide, didodecyl disulfide, ditridecyl disulfide, ditetradecyl disulfide. Examples include decyl disulfide, dipentadecyl disulfide, and dihexadecyl disulfide.

[絶縁性粒子付き導電性粒子本体]
上記導電性粒子は、少なくとも表面に導電層を有していればよい。導電性粒子は、基材粒子と、基材粒子の表面上に設けられた導電層を有する導電性粒子であってもよく、全体が導電層である金属粒子であってもよい。なかでも、コストを低減したり、導電性粒子の柔軟性を高くして、電極間の導通信頼性を高めたりする観点からは、基材粒子と、基材粒子の表面上に設けられた導電層を有する導電性粒子が好ましい。
[Conductive particle body with insulating particles]
The conductive particles only need to have a conductive layer on at least the surface. The conductive particles may be base particles and conductive particles having a conductive layer provided on the surface of the base particles, or may be metal particles that are conductive layers as a whole. Among these, from the viewpoint of reducing costs and increasing the flexibility of the conductive particles to increase the conduction reliability between the electrodes, the base particles and the conductive material provided on the surface of the base particles are used. Conductive particles having a layer are preferred.

上記基材粒子としては、樹脂粒子、無機粒子、有機無機ハイブリッド粒子及び金属粒子等が挙げられる。   Examples of the substrate particles include resin particles, inorganic particles, organic-inorganic hybrid particles, and metal particles.

上記基材粒子は、樹脂により形成された樹脂粒子であることが好ましい。絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて電極間を接続する際には、絶縁性粒子付き導電性粒子を電極間に配置した後、圧着することにより絶縁性粒子付き導電性粒子を圧縮させる。基材粒子が樹脂粒子であると、上記圧着の際に導電性粒子が変形しやすく、導電性粒子と電極との接触面積を大きくすることができる。このため、電極間の導通信頼性を高めることができる。   The substrate particles are preferably resin particles formed of a resin. When connecting the electrodes using the conductive particles with insulating particles, the conductive particles with insulating particles are compressed by placing the conductive particles with insulating particles between the electrodes and then pressing them. When the substrate particles are resin particles, the conductive particles are easily deformed during the above-described pressure bonding, and the contact area between the conductive particles and the electrode can be increased. For this reason, the conduction | electrical_connection reliability between electrodes can be improved.

上記樹脂粒子を形成するための樹脂としては、例えば、ポリオレフィン樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、尿素樹脂、エポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、飽和ポリエステル樹脂、ポリエチレンテレフタレート、ポリスルホン、ポリフェニレンオキサイド、ポリアセタール、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテルケトン及びポリエーテルスルホン等が挙げられる。基材粒子の硬度を好適な範囲に容易に制御できるので、上記樹脂粒子を形成するための樹脂は、エチレン性不飽和基を有する重合性単量体を1種又は2種以上重合させた重合体であることが好ましい。   Examples of the resin for forming the resin particles include polyolefin resin, acrylic resin, phenol resin, melamine resin, benzoguanamine resin, urea resin, epoxy resin, unsaturated polyester resin, saturated polyester resin, polyethylene terephthalate, polysulfone, and polyphenylene. Examples thereof include oxides, polyacetals, polyimides, polyamideimides, polyetheretherketones, and polyethersulfones. Since the hardness of the base particles can be easily controlled within a suitable range, the resin for forming the resin particles is a polymer obtained by polymerizing one or more polymerizable monomers having an ethylenically unsaturated group. It is preferably a coalescence.

上記無機粒子を形成するための無機物としては、シリカ及びカーボンブラック等が挙げられる。上記有機無機ハイブリッド粒子としては、例えば、架橋したアルコキシシリルポリマーとアクリル樹脂とにより形成された有機無機ハイブリッド粒子等が挙げられる。   Examples of the inorganic substance for forming the inorganic particles include silica and carbon black. Examples of the organic / inorganic hybrid particles include organic / inorganic hybrid particles formed of a crosslinked alkoxysilyl polymer and an acrylic resin.

上記基材粒子が金属粒子である場合に、該金属粒子を形成するための金属としては、銀、銅、ニッケル、ケイ素、金及びチタン等が挙げられる。   When the substrate particles are metal particles, examples of the metal for forming the metal particles include silver, copper, nickel, silicon, gold, and titanium.

上記導電層を形成するための金属は特に限定されない。さらに、導電性粒子が、全体が導電層である金属粒子である場合、該金属粒子を形成するための金属は特に限定されない。該金属としては、例えば、金、銀、パラジウム、銅、白金、パラジウム、亜鉛、鉄、錫、鉛、アルミニウム、コバルト、インジウム、ニッケル、クロム、チタン、アンチモン、ビスマス、タリウム、ゲルマニウム、カドミウム、ケイ素及びこれらの合金等が挙げられる。また、上記金属としては、錫ドープ酸化インジウム(ITO)及びはんだ等が挙げられる。なかでも、電極間の接続抵抗をより一層低くすることができるので、錫を含む合金、ニッケル、パラジウム、銅又は金が好ましく、ニッケル又はパラジウムが好ましい。   The metal for forming the conductive layer is not particularly limited. Furthermore, when the conductive particles are metal particles that are conductive layers as a whole, the metal for forming the metal particles is not particularly limited. Examples of the metal include gold, silver, palladium, copper, platinum, palladium, zinc, iron, tin, lead, aluminum, cobalt, indium, nickel, chromium, titanium, antimony, bismuth, thallium, germanium, cadmium, and silicon. And alloys thereof. Examples of the metal include tin-doped indium oxide (ITO) and solder. Especially, since the connection resistance between electrodes can be made still lower, an alloy containing tin, nickel, palladium, copper or gold is preferable, and nickel or palladium is preferable.

上記導電層を構成する金属に錆が生じやすいほど、上記被膜による被覆効果が顕著に得られる。ニッケル、銅又はスズにより形成された導電層では、導電層の表面に錆が比較的生じやすい。このような導電層の表面を被膜で被覆することにより、導電層の表面に錆が生じるのを効果的に抑制できる。上記被膜による被覆効果が効果的に得られるので、上記導電層は、ニッケル、銅又は錫を含んでいてもよい。   As the metal constituting the conductive layer is more easily rusted, the coating effect by the coating is more remarkable. In a conductive layer formed of nickel, copper or tin, rust is relatively likely to occur on the surface of the conductive layer. By covering the surface of such a conductive layer with a coating, it is possible to effectively prevent rust from being generated on the surface of the conductive layer. Since the covering effect by the said film is acquired effectively, the said conductive layer may contain nickel, copper, or tin.

なお、導電層の表面には、酸化により水酸基が存在することが多い。一般的に、ニッケルにより形成された導電層の表面には、酸化により水酸基が存在する。このような水酸基を有する導電層は被膜と化学結合する。   Note that hydroxyl groups often exist on the surface of the conductive layer due to oxidation. In general, hydroxyl groups are present on the surface of a conductive layer formed of nickel by oxidation. Such a conductive layer having a hydroxyl group is chemically bonded to the coating.

上記導電層は、1つの層により形成されている。導電層は、複数の層により形成されていてもよい。すなわち、導電層は、2層以上の積層構造を有していてもよい。導電層が複数の層により形成されている場合には、最外層は、金層、ニッケル層、パラジウム層、銅層又は錫と銀とを含む合金層であることが好ましく、金層であることがより好ましい。最外層がこれらの好ましい導電層である場合には、電極間の接続抵抗をより一層低くすることができる。また、最外層が金層である場合には、耐腐食性をより一層高めることができる。   The conductive layer is formed of one layer. The conductive layer may be formed of a plurality of layers. That is, the conductive layer may have a stacked structure of two or more layers. When the conductive layer is formed of a plurality of layers, the outermost layer is preferably a gold layer, a nickel layer, a palladium layer, a copper layer, or an alloy layer containing tin and silver, and is a gold layer. Is more preferable. When the outermost layer is these preferred conductive layers, the connection resistance between the electrodes can be further reduced. Moreover, when the outermost layer is a gold layer, the corrosion resistance can be further enhanced.

上記基材粒子の表面に導電層を形成する方法は特に限定されない。導電層を形成する方法としては、例えば、無電解めっきによる方法、電気めっきによる方法、物理的蒸着による方法、並びに金属粉末もしくは金属粉末とバインダーとを含むペーストを基材粒子の表面にコーティングする方法等が挙げられる。なかでも、導電層の形成が簡便であるので、無電解めっきによる方法が好ましい。上記物理的蒸着による方法としては、真空蒸着、イオンプレーティング及びイオンスパッタリング等の方法が挙げられる。   The method for forming the conductive layer on the surface of the substrate particles is not particularly limited. As a method for forming the conductive layer, for example, a method by electroless plating, a method by electroplating, a method by physical vapor deposition, and a method of coating the surface of base particles with metal powder or a paste containing metal powder and a binder Etc. Especially, since formation of a conductive layer is simple, the method by electroless plating is preferable. Examples of the method by physical vapor deposition include methods such as vacuum vapor deposition, ion plating, and ion sputtering.

上記導電性粒子の平均粒子径は、0.5〜100μmの範囲内であることが好ましい。導電性粒子の平均粒子径は、より好ましくは1μm以上、より好ましくは20μm以下である。導電性粒子の平均粒子径が上記下限以上及び上記上限以下であると、絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて電極間を接続した場合に、導電性粒子と電極との接触面積を充分に大きくすることができ、かつ導電層を形成する際に凝集した導電性粒子が形成されにくくなる。また、導電性粒子を介して接続された電極間の間隔が大きくなりすぎず、かつ導電層が基材粒子の表面から剥離し難くなる。   The average particle size of the conductive particles is preferably in the range of 0.5 to 100 μm. The average particle diameter of the conductive particles is more preferably 1 μm or more, and more preferably 20 μm or less. When the average particle diameter of the conductive particles is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the contact area between the conductive particles and the electrodes is sufficiently large when the electrodes are connected using the conductive particles with insulating particles. In addition, it is difficult to form aggregated conductive particles when the conductive layer is formed. Further, the distance between the electrodes connected via the conductive particles does not become too large, and the conductive layer is difficult to peel from the surface of the base material particles.

上記導電性粒子の「平均粒子径」は、数平均粒子径を示す。導電性粒子の平均粒子径は、任意の導電性粒子50個を電子顕微鏡又は光学顕微鏡にて観察し、平均値を算出することにより求められる。   The “average particle size” of the conductive particles indicates a number average particle size. The average particle diameter of the conductive particles can be obtained by observing 50 arbitrary conductive particles with an electron microscope or an optical microscope and calculating an average value.

上記導電層の厚みは、0.005〜1μmの範囲内であることが好ましい。導電層の厚みは、より好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.3μm以下である。導電層の厚みが上記下限以上及び上記上限以下であると、充分な導電性を得ることができ、かつ導電性粒子が硬くなりすぎずに、電極間の接続の際に導電性粒子を充分に変形させることができる。   The conductive layer preferably has a thickness in the range of 0.005 to 1 μm. The thickness of the conductive layer is more preferably 0.01 μm or more, and more preferably 0.3 μm or less. When the thickness of the conductive layer is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, sufficient conductivity can be obtained, and the conductive particles do not become too hard, and the conductive particles are sufficiently bonded at the time of connection between the electrodes. Can be deformed.

上記導電層が複数の層により形成されている場合に、最外層の導電層の厚みは、特に最外層が金層である場合の金層の厚みは、0.001〜0.5μmの範囲内であることが好ましい。上記最外層の導電層の厚みのより好ましい下限は0.01μmであり、より好ましい上限は0.1μmである。上記最外層の導電層の厚みが上記下限以上及び上記上限以下であると、最外層の導電層による被覆を均一にでき、耐腐食性を充分に高めることができ、かつ電極間の接続抵抗を充分に低くすることができる。また、上記最外層が金層である場合の金層の厚みが薄いほど、コストが低くなる。   When the conductive layer is formed of a plurality of layers, the thickness of the outermost conductive layer is within the range of 0.001 to 0.5 μm, particularly when the outermost layer is a gold layer. It is preferable that A more preferable lower limit of the thickness of the outermost conductive layer is 0.01 μm, and a more preferable upper limit is 0.1 μm. When the thickness of the outermost conductive layer is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the coating with the outermost conductive layer can be made uniform, corrosion resistance can be sufficiently enhanced, and the connection resistance between the electrodes can be increased. It can be made sufficiently low. Further, the thinner the gold layer when the outermost layer is a gold layer, the lower the cost.

上記導電層の厚みは、例えば透過型電子顕微鏡(TEM)を用いて、導電性粒子又は絶縁性粒子付き導電性粒子の断面を観察することにより測定できる。   The thickness of the conductive layer can be measured, for example, by observing the cross section of the conductive particles or the conductive particles with insulating particles using a transmission electron microscope (TEM).

導電性粒子は、導電層の表面に突起を有することが好ましく、該突起は複数であることが好ましい。絶縁性粒子付き導電性粒子により接続される電極の表面には、酸化被膜が形成されていることが多い。導電層の表面に突起を有する絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた場合には、電極間に導電性粒子を配置して圧着させることにより、突起により上記酸化被膜を効果的に排除できる。このため、電極と導電層とをより一層確実に接触させることができ、電極間の接続抵抗を低くすることができる。さらに、電極間の接続時に、導電性粒子の突起によって、導電性粒子と電極との間の絶縁性粒子を効果的に排除できる。このため、電極間の導通信頼性を高めることができる。   The conductive particles preferably have protrusions on the surface of the conductive layer, and the protrusions are preferably plural. An oxide film is often formed on the surface of the electrode connected by the conductive particles with insulating particles. When the conductive particles with insulating particles having protrusions on the surface of the conductive layer are used, the oxide film can be effectively eliminated by the protrusions by disposing the conductive particles between the electrodes and pressing them. For this reason, an electrode and a conductive layer can be contacted still more reliably and the connection resistance between electrodes can be made low. Furthermore, when the electrodes are connected, the insulating particles between the conductive particles and the electrodes can be effectively eliminated by the protrusions of the conductive particles. For this reason, the conduction | electrical_connection reliability between electrodes can be improved.

導電性粒子の表面に突起を形成する方法としては、基材粒子の表面に芯物質を付着させた後、無電解めっきにより導電層を形成する方法、並びに基材粒子の表面に無電解めっきにより導電層を形成した後、芯物質を付着させ、更に無電解めっきにより導電層を形成する方法等が挙げられる。   As a method of forming protrusions on the surface of the conductive particles, a method of forming a conductive layer by electroless plating after attaching a core substance to the surface of the base particles, and by electroless plating on the surface of the base particles Examples of the method include forming a conductive layer, then attaching a core substance, and further forming a conductive layer by electroless plating.

基材粒子の表面に芯物質を付着させる方法としては、例えば、基材粒子の分散液中に、芯物質となる導電性物質を添加し、基材粒子の表面に芯物質を、例えば、ファンデルワールス力により集積させ、付着させる方法、並びに基材粒子を入れた容器に、芯物質となる導電性物質を添加し、容器の回転等による機械的な作用により基材粒子の表面に芯物質を付着させる方法等が挙げられる。なかでも、付着させる芯物質の量を制御しやすいため、分散液中の基材粒子の表面に芯物質を集積させ、付着させる方法が好ましい。   As a method of attaching the core substance to the surface of the base particle, for example, a conductive substance that becomes the core substance is added to the dispersion of the base particle, and the core substance is applied to the surface of the base particle, for example, a fan. A method of accumulating and adhering by Delwars force, and adding a conductive substance as a core substance to a container containing base particles, and a core substance on the surface of the base particles by mechanical action such as rotation of the container And the like. Especially, since the quantity of the core substance to adhere is easy to control, the method of making a core substance accumulate and adhere on the surface of the base particle in a dispersion liquid is preferable.

上記導電性粒子は、基材粒子の表面上に第1の導電層を有し、かつ該第1の導電層上に第2の導電層を有していてもよい。この場合に、第1の導電層の表面に芯物質を付着させてもよい。芯物質は第2の導電層により被覆されていること好ましい。上記第1の導電層の厚みは、0.05〜0.5μmの範囲内であることが好ましい。導電性粒子は、基材粒子の表面上に第1の導電層を形成し、次に該第1の導電層の表面上に芯物質を付着させた後、第1の導電層及び芯物質の表面上に第2の導電層を形成することにより得られていることが好ましい。   The conductive particles may have a first conductive layer on the surface of the base particle, and may have a second conductive layer on the first conductive layer. In this case, a core substance may be attached to the surface of the first conductive layer. The core material is preferably covered with a second conductive layer. The thickness of the first conductive layer is preferably in the range of 0.05 to 0.5 μm. The conductive particles form a first conductive layer on the surface of the base particle, and then a core material is deposited on the surface of the first conductive layer, and then the first conductive layer and the core material are formed. It is preferably obtained by forming a second conductive layer on the surface.

上記芯物質を構成する導電性物質としては、例えば、金属、金属の酸化物、黒鉛等の導電性非金属及び導電性ポリマー等が挙げられる。導電性ポリマーとしては、ポリアセチレン等が挙げられる。なかでも、導電性を高めることができるので、金属が好ましい。   Examples of the conductive material constituting the core material include conductive non-metals such as metals, metal oxides, and graphite, and conductive polymers. Examples of the conductive polymer include polyacetylene. Among them, metal is preferable because conductivity can be increased.

上記金属としては、例えば、金、銀、銅、白金、亜鉛、鉄、鉛、錫、アルミニウム、コバルト、インジウム、ニッケル、クロム、チタン、アンチモン、ビスマス、ゲルマニウム及びカドミウム等の金属、並びに錫−鉛合金、錫−銅合金、錫−銀合金及び錫−鉛−銀合金等の2種類以上の金属で構成される合金等が挙げられる。なかでも、ニッケル、銅、銀又は金が好ましい。上記芯物質を構成する金属は、上記導電層を構成する金属と同じであってもよく、異なっていてもよい。   Examples of the metal include gold, silver, copper, platinum, zinc, iron, lead, tin, aluminum, cobalt, indium, nickel, chromium, titanium, antimony, bismuth, germanium and cadmium, and tin-lead. Examples include alloys composed of two or more metals such as alloys, tin-copper alloys, tin-silver alloys, and tin-lead-silver alloys. Of these, nickel, copper, silver or gold is preferable. The metal constituting the core material may be the same as or different from the metal constituting the conductive layer.

上記芯物質の形状は特に限定されない。芯物質の形状は塊状であることが好ましい。芯物質としては、例えば、粒子状の塊、複数の微小粒子が凝集した凝集塊、及び不定形の塊等が挙げられる。   The shape of the core material is not particularly limited. The shape of the core substance is preferably a lump. Examples of the core substance include a particulate lump, an agglomerate in which a plurality of fine particles are aggregated, and an irregular lump.

上記絶縁性粒子は、絶縁性を有する粒子である。絶縁性粒子は導電性粒子よりも小さい。絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて電極間を接続すると、絶縁性粒子により、隣接する電極間の短絡を防止できる。具体的には、複数の絶縁性粒子付き導電性粒子が接触したときに、複数の絶縁性粒子付き導電性粒子における導電性粒子間には絶縁性粒子が存在するので、上下の電極間ではなく、横方向に隣り合う電極間の短絡を防止できる。なお、電極間の接続の際に、2つの電極で絶縁性粒子付き導電性粒子を加圧することにより、導電層と電極との間の絶縁性粒子を容易に排除できる。導電性粒子の表面に突起が設けられている場合には、導電層と電極との間の絶縁性粒子をより一層容易に排除できる。   The insulating particles are particles having insulating properties. Insulating particles are smaller than conductive particles. When the electrodes are connected using conductive particles with insulating particles, the insulating particles can prevent a short circuit between adjacent electrodes. Specifically, when the conductive particles with a plurality of insulating particles are in contact with each other, there are insulating particles between the conductive particles in the conductive particles with a plurality of insulating particles. Short circuit between the electrodes adjacent in the lateral direction can be prevented. Note that the insulating particles between the conductive layer and the electrode can be easily excluded by pressurizing the conductive particles with insulating particles with the two electrodes when connecting the electrodes. In the case where protrusions are provided on the surface of the conductive particles, the insulating particles between the conductive layer and the electrode can be more easily eliminated.

上記絶縁性粒子を構成する材料としては、絶縁性の樹脂、及び絶縁性の無機物等が挙げられる。上記絶縁性の樹脂としては、基材粒子として用いることが可能な樹脂粒子を形成するための樹脂として挙げた上記樹脂が挙げられる。上記絶縁性の無機物としては、基材粒子として用いることが可能な無機粒子を形成するための無機物として挙げた上記無機物が挙げられる。   Examples of the material constituting the insulating particles include an insulating resin and an insulating inorganic substance. As said insulating resin, the said resin quoted as resin for forming the resin particle which can be used as a base particle is mentioned. As said insulating inorganic substance, the said inorganic substance quoted as an inorganic substance for forming the inorganic particle which can be used as a base particle is mentioned.

上記絶縁性粒子の材料である絶縁性樹脂の具体例としては、ポリオレフィン類、(メタ)アクリレート重合体、(メタ)アクリレート共重合体、ブロックポリマー、熱可塑性樹脂、熱可塑性樹脂の架橋物、熱硬化性樹脂及び水溶性樹脂等が挙げられる。   Specific examples of the insulating resin that is the material of the insulating particles include polyolefins, (meth) acrylate polymers, (meth) acrylate copolymers, block polymers, thermoplastic resins, crosslinked thermoplastic resins, heat Examples thereof include curable resins and water-soluble resins.

上記ポリオレフィン類としては、ポリエチレン、エチレン−酢酸ビニル共重合体及びエチレン−アクリル酸エステル共重合体等が挙げられる。上記(メタ)アクリレート重合体としては、ポリメチル(メタ)アクリレート、ポリエチル(メタ)アクリレート及びポリブチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。上記ブロックポリマーとしては、ポリスチレン、スチレン−アクリル酸エステル共重合体、SB型スチレン−ブタジエンブロック共重合体、及びSBS型スチレン−ブタジエンブロック共重合体、並びにこれらの水素添加物等が挙げられる。上記熱可塑性樹脂としては、ビニル重合体及びビニル共重合体等が挙げられる。上記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及びメラミン樹脂等が挙げられる。上記水溶性樹脂としては、ポリビニルアルコール、ポリアクリル酸、ポリアクリルアミド、ポリビニルピロリドン、ポリエチレンオキシド及びメチルセルロース等が挙げられる。なかでも、水溶性樹脂が好ましく、ポリビニルアルコールがより好ましい。   Examples of the polyolefins include polyethylene, ethylene-vinyl acetate copolymer, and ethylene-acrylic acid ester copolymer. Examples of the (meth) acrylate polymer include polymethyl (meth) acrylate, polyethyl (meth) acrylate, and polybutyl (meth) acrylate. Examples of the block polymer include polystyrene, styrene-acrylic acid ester copolymer, SB type styrene-butadiene block copolymer, SBS type styrene-butadiene block copolymer, and hydrogenated products thereof. Examples of the thermoplastic resin include vinyl polymers and vinyl copolymers. As said thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a melamine resin, etc. are mentioned. Examples of the water-soluble resin include polyvinyl alcohol, polyacrylic acid, polyacrylamide, polyvinyl pyrrolidone, polyethylene oxide, and methyl cellulose. Of these, water-soluble resins are preferable, and polyvinyl alcohol is more preferable.

熱圧着時の絶縁性粒子の脱離性をより一層高める観点からは、絶縁性粒子は、無機粒子を含むことが好ましく、シリカ粒子であることが好ましい。絶縁性粒子が表面に上記高分子化合物により形成されている層を有さない場合には、絶縁性粒子は、無機粒子であることが好ましく、シリカ粒子であることが好ましい。絶縁性粒子本体の表面が上記高分子化合物により形成された層により覆われた絶縁性粒子を用いる場合には、絶縁性粒子本体は、無機粒子であることが好ましく、シリカ粒子であることが好ましい。上記無機粒子としては、シラス粒子、ハイドロキシアパタイト粒子、マグネシア粒子、酸化ジルコニウム粒子及びシリカ粒子等が挙げられる。熱圧着時の絶縁性粒子の脱離性をより一層高める観点からは、上記絶縁性粒子はシリカ粒子を含むことが好ましく、上記無機粒子はシリカ粒子であることが好ましい。シリカ粒子としては、粉砕シリカ、球状シリカが挙げられ、球状シリカを用いることが好ましい。また、シリカ粒子は表面に、例えばカルボキシル基、水酸基等の化学結合可能な官能基を有することが好ましく、水酸基を有することがより好ましい。無機粒子は比較的硬く、特にシリカ粒子は比較的硬い。このような硬い絶縁性粒子を有する絶縁性粒子付き導電性粒子本体を用いた場合には、絶縁性粒子付き導電性粒子本体とバインダー樹脂とを混練する際に、導電性粒子の表面から、硬い絶縁性粒子が脱離しやすい。しかしながら、本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた場合には、硬い絶縁性粒子を用いたとしても、上記混練の際に、被膜により硬い絶縁性粒子が脱離するのを抑制できる。上記高分子化合物により形成されている層は、例えば柔軟層としての役割を果たす。   From the viewpoint of further improving the detachability of the insulating particles during thermocompression bonding, the insulating particles preferably include inorganic particles, and are preferably silica particles. When the insulating particles do not have a layer formed of the above polymer compound on the surface, the insulating particles are preferably inorganic particles, and are preferably silica particles. When the insulating particles whose surface is covered with a layer formed of the above polymer compound are used, the insulating particle body is preferably inorganic particles, and is preferably silica particles. . Examples of the inorganic particles include shirasu particles, hydroxyapatite particles, magnesia particles, zirconium oxide particles, and silica particles. From the viewpoint of further improving the detachability of the insulating particles during thermocompression bonding, the insulating particles preferably include silica particles, and the inorganic particles are preferably silica particles. Examples of the silica particles include pulverized silica and spherical silica, and spherical silica is preferably used. The silica particles preferably have a functional group capable of chemical bonding such as a carboxyl group and a hydroxyl group on the surface, and more preferably have a hydroxyl group. Inorganic particles are relatively hard, especially silica particles are relatively hard. When the conductive particle body with insulating particles having such hard insulating particles is used, when the conductive particle body with insulating particles and the binder resin are kneaded, the surface of the conductive particles is hard. Insulating particles are easily detached. However, when the conductive particles with insulating particles according to the present invention are used, even when the hard insulating particles are used, the hard insulating particles can be prevented from being detached by the coating during the kneading. . The layer formed of the polymer compound serves as a flexible layer, for example.

上記高分子化合物により形成されている層における高分子化合物又は重合等により該高分子化合物となる化合物としては、重合可能な反応性官能基を有する化合物であることが好ましい。該重合可能な反応性官能基は、不飽和二重結合であることが好ましい。例えば、絶縁性粒子本体の表面上で不飽和二重結合を有する化合物(高分子化合物となる化合物)を重合反応させてもよく、また高分子化合物と絶縁性粒子本体の表面の反応性官能基とを反応させてもよい。上記高分子化合物又は該高分子化合物となる化合物としては、(メタ)アクリロイル基を有する化合物、エポキシ基を有する化合物及びビニル基を有する化合物等が挙げられる。絶縁性粒子付き導電性粒子を分散する際などに、導電性粒子の表面から絶縁性粒子の脱離を抑制する観点からは、上記高分子化合物又は該高分子化合物となる化合物は、(メタ)アクリロイル基、グリシジル基及びビニル基からなる群から選択された少なくとも1種の反応性官能基を有することが好ましい。なかでも、絶縁性粒子の脱離をより一層抑制する観点からは、上記高分子化合物又は該高分子化合物となる化合物は、(メタ)アクリロイル基を有することが好ましい。   The polymer compound in the layer formed of the polymer compound or the compound that becomes the polymer compound by polymerization or the like is preferably a compound having a polymerizable reactive functional group. The polymerizable reactive functional group is preferably an unsaturated double bond. For example, a compound having an unsaturated double bond (a compound that becomes a polymer compound) may be subjected to a polymerization reaction on the surface of the insulating particle main body, and the reactive functional group on the surface of the polymer compound and the insulating particle main body. And may be reacted. Examples of the polymer compound or the compound to be the polymer compound include a compound having a (meth) acryloyl group, a compound having an epoxy group, and a compound having a vinyl group. From the viewpoint of suppressing detachment of the insulating particles from the surface of the conductive particles when dispersing the conductive particles with insulating particles, the polymer compound or the compound to be the polymer compound is (meth) It preferably has at least one reactive functional group selected from the group consisting of an acryloyl group, a glycidyl group and a vinyl group. Among these, from the viewpoint of further suppressing the detachment of the insulating particles, the polymer compound or the compound to be the polymer compound preferably has a (meth) acryloyl group.

上記(メタ)アクリロイル基を有する化合物の具体例としては、メタクリル酸、ヒドロキシエチルアクリレート及びジメタクリル酸エチレングリコール等が挙げられる。   Specific examples of the compound having the (meth) acryloyl group include methacrylic acid, hydroxyethyl acrylate, and ethylene glycol dimethacrylate.

上記エポキシ化合物の具体例としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂及びレゾルシノールグリシジルエーテル等が挙げられる。   Specific examples of the epoxy compound include bisphenol A type epoxy resin and resorcinol glycidyl ether.

上記ビニル基を有する化合物の具体例としては、スチレン及び酢酸ビニル等が挙げられる。   Specific examples of the compound having a vinyl group include styrene and vinyl acetate.

上記高分子化合物の重量平均分子量は、1000以上であることが好ましい。上記高分子化合物の重量平均分子量の上限は特に限定されないが、上記高分子化合物の重量平均分子量は20000以下であることが好ましい。該重量平均分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)により測定されたポリスチレン換算での値を示す。   The polymer compound preferably has a weight average molecular weight of 1000 or more. The upper limit of the weight average molecular weight of the polymer compound is not particularly limited, but the polymer compound preferably has a weight average molecular weight of 20000 or less. The weight average molecular weight indicates a value in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC).

絶縁性粒子の表面に上記高分子化合物により形成されている層を形成する方法は特に限定されない。絶縁性粒子本体の表面の少なくとも一部の領域を覆うように、高分子化合物又は高分子化合物となる化合物を用いて、高分子化合物により形成された層を形成し、絶縁性粒子を得ることが好ましい。上記高分子化合物により形成されている層の形成方法の一例としては、ビニル基などの反応性官能基を表面に有する絶縁性粒子本体に反応性二重結合と水酸基とを有する化合物を絶縁性粒子本体の表面上で重合させる方法等が挙げられる。ただし、この形成方法以外の方法を用いてもよい。   The method for forming the layer formed of the polymer compound on the surface of the insulating particles is not particularly limited. Using a polymer compound or a compound that becomes a polymer compound so as to cover at least a part of the surface of the insulating particle main body, a layer formed of the polymer compound is formed to obtain insulating particles. preferable. As an example of a method for forming a layer formed of the above polymer compound, a compound having a reactive double bond and a hydroxyl group on an insulating particle body having a reactive functional group such as a vinyl group on the surface is used as the insulating particle. Examples thereof include a method of polymerizing on the surface of the main body. However, methods other than this forming method may be used.

上記絶縁性粒子本体と上記層とは化学的に結合していることが好ましい。この化学的結合には、共有結合、水素結合、イオン結合及び配位結合等が含まれる。なかでも、共有結合が好ましく、反応性官能基を用いた化学的結合が好ましい。   The insulating particle body and the layer are preferably chemically bonded. This chemical bond includes a covalent bond, a hydrogen bond, an ionic bond, a coordination bond, and the like. Of these, a covalent bond is preferable, and a chemical bond using a reactive functional group is preferable.

上記化学的結合を形成する反応性官能基としては、例えば、ビニル基、(メタ)アクリロイル基、シラン基、シラノール基、カルボキシル基、アミノ基、アンモニウム基、ニトロ基、水酸基、カルボニル基、チオール基、スルホン酸基、スルホニウム基、ホウ酸基、オキサゾリン基、ピロリドン基、リン酸基及びニトリル基等が挙げられる。中でも、ビニル基、(メタ)アクリロイル基が好ましい。   Examples of the reactive functional group that forms the chemical bond include a vinyl group, (meth) acryloyl group, silane group, silanol group, carboxyl group, amino group, ammonium group, nitro group, hydroxyl group, carbonyl group, and thiol group. Sulfonic acid group, sulfonium group, boric acid group, oxazoline group, pyrrolidone group, phosphoric acid group and nitrile group. Among these, a vinyl group and a (meth) acryloyl group are preferable.

絶縁性粒子の脱離をより一層抑制し、接続構造体における絶縁信頼性をより一層高める観点からは、上記絶縁性粒子本体として、反応性官能基を表面に有する絶縁性粒子本体を用いることが好ましい。絶縁性粒子の脱離をより一層抑制し、接続構造体における絶縁信頼性をより一層高める観点からは、上記絶縁性粒子本体として、反応性官能基を有する化合物を用いて表面処理された絶縁性粒子本体を用いることが好ましい。絶縁性粒子の脱離をより一層抑制し、接続構造体における絶縁信頼性をより一層高める観点からは、反応性官能基を表面に有する上記絶縁性粒子本体と、高分子化合物又は該高分子化合物となる化合物とを用いて、上記絶縁性粒子本体の表面の反応性官能基に、上記高分子化合物により形成された層を化学的に結合させることにより、上記絶縁性粒子本体と上記層とが化学的に結合している上記絶縁性粒子が得られていることが好ましい。   From the viewpoint of further suppressing the detachment of the insulating particles and further improving the insulation reliability in the connection structure, it is possible to use an insulating particle body having a reactive functional group on the surface as the insulating particle body. preferable. From the viewpoint of further suppressing the detachment of the insulating particles and further improving the insulation reliability in the connection structure, the insulating particles subjected to surface treatment using a compound having a reactive functional group as the insulating particle main body. It is preferable to use a particle body. From the viewpoint of further suppressing the detachment of the insulating particles and further improving the insulation reliability in the connection structure, the insulating particle main body having a reactive functional group on the surface, the polymer compound, or the polymer compound And the layer formed of the polymer compound is chemically bonded to the reactive functional group on the surface of the insulating particle body using the compound to form the insulating particle body and the layer. It is preferable that the insulating particles that are chemically bonded are obtained.

上記絶縁性粒子本体が表面に有する上記反応性官能基としては、(メタ)アクリロイル基、グリシジル基、水酸基、ビニル基及びアミノ基等が挙げられる。上記絶縁性粒子本体が表面に有する上記反応性官能基は、(メタ)アクリロイル基、グリシジル基、水酸基、ビニル基及びアミノ基からなる群から選択された少なくとも1種の反応性官能基であることが好ましい。   Examples of the reactive functional group on the surface of the insulating particle body include a (meth) acryloyl group, a glycidyl group, a hydroxyl group, a vinyl group, and an amino group. The reactive functional group on the surface of the insulating particle body is at least one reactive functional group selected from the group consisting of a (meth) acryloyl group, a glycidyl group, a hydroxyl group, a vinyl group, and an amino group. Is preferred.

上記絶縁性粒子本体の表面に上記反応性官能基を導入するための化合物(表面処理物質)としては、(メタ)アクリロイル基を有する化合物、エポキシ基を有する化合物及びビニル基を有する化合物等が挙げられる。   Examples of the compound (surface treatment substance) for introducing the reactive functional group onto the surface of the insulating particle body include a compound having a (meth) acryloyl group, a compound having an epoxy group, and a compound having a vinyl group. It is done.

上記絶縁性粒子本体の表面に上記反応性官能基であるビニル基を導入するための化合物(表面処理物質)としては、ビニル基を有するシラン化合物、及びビニル基を有するチタン化合物、及びビニル基を有するリン酸化合物等が挙げられる。上記表面処理物質は、ビニル基を有するシラン化合物であることが好ましい。上記ビニル基を有するシラン化合物としては、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン及びビニルトリイソプロポキシシラン等が挙げられる。   As a compound (surface treatment substance) for introducing a vinyl group as the reactive functional group onto the surface of the insulating particle body, a silane compound having a vinyl group, a titanium compound having a vinyl group, and a vinyl group are used. The phosphoric acid compound etc. which have are mentioned. The surface treatment substance is preferably a silane compound having a vinyl group. Examples of the silane compound having a vinyl group include vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, and vinyltriisopropoxysilane.

上記絶縁性粒子本体の表面に上記反応性官能基である(メタ)アクリロイル基を導入するための化合物(表面処理物質)としては、(メタ)アクリロイル基を有するシラン化合物、及び(メタ)アクリロイル基を有するチタン化合物、及び(メタ)アクリロイル基を有するリン酸化合物等が挙げられる。上記表面処理物質は、(メタ)アクリロイル基を有するシラン化合物であることも好ましい。上記(メタ)アクリロイル基を有するシラン化合物としては、(メタ)アクリロキシプロピルトリエトキシシラン、(メタ)アクリロキシプロピルトリメトキシシラン及び(メタ)アクリロキシプロピルトリジメトキシシラン等が挙げられる。   As a compound (surface treatment substance) for introducing the (meth) acryloyl group which is the reactive functional group onto the surface of the insulating particle main body, a silane compound having a (meth) acryloyl group and a (meth) acryloyl group And a phosphoric acid compound having a (meth) acryloyl group. The surface treatment substance is also preferably a silane compound having a (meth) acryloyl group. Examples of the silane compound having a (meth) acryloyl group include (meth) acryloxypropyltriethoxysilane, (meth) acryloxypropyltrimethoxysilane, (meth) acryloxypropyltridimethoxysilane, and the like.

上記絶縁性粒子は、上記絶縁性粒子本体と高分子化合物又は該高分子化合物となる化合物とを用いた混合による摩擦で形成されていないことが好ましい。また、上記絶縁性粒子本体の表面が上記層によりハイブリダイゼーション法を用いて被覆されていないことが好ましい。混合による摩擦やハイブリダイゼーション法を用いて絶縁性粒子が形成されている場合には、絶縁性粒子本体の表面上から層が脱離しやすくなる。また、絶縁性粒子の表面に、混練時に形成された層の破片が付着しやすくなる。このため、絶縁性粒子付き導電性粒子の導電層の表面上で脱離した層や層の破片が付着し、接続構造体における導通信頼性が低下しやすい傾向がある。従って、絶縁性粒子の脱離をより一層抑制し、接続構造体における絶縁信頼性及び導通信頼性をより一層高める観点からは、混合による摩擦で絶縁性粒子は形成されていないことが好ましく、ハイブリダイゼーション法を用いないことが好ましい。   It is preferable that the insulating particles are not formed by friction by mixing using the insulating particle main body and the polymer compound or the compound to be the polymer compound. Moreover, it is preferable that the surface of the insulating particle body is not covered with the layer using a hybridization method. When insulating particles are formed using friction by mixing or a hybridization method, the layer is easily detached from the surface of the insulating particle body. In addition, the fragments of the layer formed during kneading easily adhere to the surface of the insulating particles. For this reason, a layer or a fragment of the layer detached on the surface of the conductive layer of the conductive particles with insulating particles tends to adhere, and the conduction reliability in the connection structure tends to decrease. Therefore, from the viewpoint of further suppressing the detachment of the insulating particles and further increasing the insulation reliability and conduction reliability in the connection structure, it is preferable that the insulating particles are not formed by friction due to mixing. It is preferable not to use a hybridization method.

上記絶縁性粒子を得る際に、上記絶縁性粒子本体100重量部に対する上記高分子化合物又は該高分子となる化合物の使用量は、好ましくは30重量部以上、より好ましくは50重量部以上、好ましくは500重量部以下、より好ましくは300重量部以下である。上記高分子化合物の使用量が上記下限以上及び上記上限以下であると、良好な層を形成できる。   When the insulating particles are obtained, the amount of the polymer compound or the compound that becomes the polymer is preferably 30 parts by weight or more, more preferably 50 parts by weight or more, preferably 100 parts by weight of the insulating particle body. Is 500 parts by weight or less, more preferably 300 parts by weight or less. A favorable layer can be formed as the usage-amount of the said high molecular compound is more than the said minimum and below the said upper limit.

上記高分子化合物により形成された層の具体的な製造条件の一例としては、以下の製造条件が挙げられる。   The following manufacturing conditions are mentioned as an example of the specific manufacturing conditions of the layer formed with the said high molecular compound.

先ず、水などの溶媒100〜500重量部中に、反応性官能基を表面に有する絶縁性粒子本体1〜3重量部、反応性二重結合と水酸基とを有する化合物0.1〜20重量部(好ましくは0.1〜1重量部)、架橋剤0.01〜5重量部(好ましくは0.01〜1重量部)、分散剤0.1〜5重量部(好ましくは0.1〜3重量部)及び熱重合開始剤0.1〜5重量部(好ましくは0.1〜3重量部)を加える。次に、スリーワンモーターで撹拌しながらオイルバスで熱重合開始剤の反応温度以上まで昇温し、重合を開始し、その状態を5時間以上保持して反応させる。その後、遠心分離機を用いて、未反応の化合物を除去して、絶縁性粒子本体の表面が上記層により覆われている絶縁性粒子を得る。   First, in 100 to 500 parts by weight of a solvent such as water, 1 to 3 parts by weight of an insulating particle body having a reactive functional group on the surface, and 0.1 to 20 parts by weight of a compound having a reactive double bond and a hydroxyl group (Preferably 0.1 to 1 part by weight), cross-linking agent 0.01 to 5 parts by weight (preferably 0.01 to 1 part by weight), dispersant 0.1 to 5 parts by weight (preferably 0.1 to 3 parts) Parts by weight) and 0.1-5 parts by weight (preferably 0.1-3 parts by weight) of a thermal polymerization initiator. Next, while stirring with a three-one motor, the temperature is raised to a temperature higher than the reaction temperature of the thermal polymerization initiator in an oil bath, polymerization is started, and the state is maintained for 5 hours or longer to react. Thereafter, unreacted compounds are removed using a centrifuge to obtain insulating particles in which the surface of the insulating particle main body is covered with the layer.

上記導電性粒子及び上記導電層の表面に絶縁性粒子を付着させる方法としては、化学的方法、及び物理的もしくは機械的方法等が挙げられる。上記化学的方法としては、例えば、界面重合法、粒子存在下での懸濁重合法及び乳化重合法等が挙げられる。上記物理的もしくは機械的方法としては、スプレードライ、ハイブリダイゼーション、静電付着法、噴霧法、ディッピング及び真空蒸着による方法等が挙げられる。ただし、ハイブリダイゼーション法では、絶縁性粒子の脱離が生じやすい傾向があるので、上記導電性粒子及び上記導電層の表面に絶縁性粒子を付着させる方法は、ハイブリダイゼーション法以外の方法であることが好ましい。なかでも、絶縁性粒子が脱離し難いことから、導電層の表面に、化学結合を介して絶縁性粒子を付着させる方法が好ましい。   Examples of the method for attaching the insulating particles to the surfaces of the conductive particles and the conductive layer include chemical methods and physical or mechanical methods. Examples of the chemical method include an interfacial polymerization method, a suspension polymerization method in the presence of particles, and an emulsion polymerization method. Examples of the physical or mechanical method include spray drying, hybridization, electrostatic adhesion, spraying, dipping, and vacuum deposition. However, since the hybridization method tends to cause the detachment of the insulating particles, the method of attaching the insulating particles to the surfaces of the conductive particles and the conductive layer is a method other than the hybridization method. Is preferred. Among these, a method of attaching the insulating particles to the surface of the conductive layer through a chemical bond is preferable because the insulating particles are not easily detached.

本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子において、絶縁性粒子は、導電性粒子の表面に、ハイブリダイゼーション法により付着されていないことが好ましい。   In the conductive particles with insulating particles according to the present invention, the insulating particles are preferably not attached to the surface of the conductive particles by a hybridization method.

なお、図6に示すように、ハイブリダイゼーション法を用いた従来の絶縁性粒子付き導電性粒子101では、導電性粒子102の表面の絶縁性粒子103が付着している部分102a以外の部分102bにも高分子化合物104が付着する。これは、ハイブリダイゼーション法では、圧縮剪断力がかかり、絶縁性粒子の付着と脱離とが繰り返し起こり、徐々に絶縁性粒子が付着するためである。圧縮剪断力により、絶縁性粒子の高分子化合物により形成された層が剥がれて、剥がれた高分子化合物が、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に付着する。導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に付着した高分子化合物は、導電性粒子の体積抵抗率を高くしたり、電極間の接続抵抗を低下させたりする。また、図6に示す絶縁性粒子付き導電性粒子101の表面を被膜により被覆した場合でも、導電性が低くなり、電極間の接続抵抗が低くなりやすい。   As shown in FIG. 6, in the conventional conductive particles 101 with insulating particles using the hybridization method, the portions 102 b other than the portions 102 a on the surface of the conductive particles 102 are attached to the portions 102 b. Also, the polymer compound 104 adheres. This is because in the hybridization method, a compressive shear force is applied, the insulating particles are repeatedly attached and detached, and the insulating particles are gradually attached. The layer formed of the polymer compound of the insulating particles is peeled off by the compressive shearing force, and the peeled polymer compound is attached to a portion other than the portion where the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. The polymer compound adhering to the portion other than the portion to which the insulating particles adhere on the surface of the conductive particles increases the volume resistivity of the conductive particles or decreases the connection resistance between the electrodes. Further, even when the surface of the conductive particles 101 with insulating particles shown in FIG. 6 is coated with a coating, the conductivity is low and the connection resistance between the electrodes tends to be low.

上記導電性粒子及び上記導電層の表面に絶縁性粒子を付着させる方法の一例としては、以下の方法が挙げられる。   The following method is mentioned as an example of the method of attaching insulating particle | grains to the surface of the said electroconductive particle and the said conductive layer.

先ず、水などの溶媒3L中に、導電性粒子を入れ、撹拌しながら、絶縁性粒子を徐々に添加する。十分に撹拌した後、絶縁性粒子付き導電性粒子を分離し、真空乾燥機などにより乾燥して、絶縁性粒子付き導電性粒子を得る。   First, the conductive particles are put in 3 L of a solvent such as water, and the insulating particles are gradually added while stirring. After sufficiently stirring, the conductive particles with insulating particles are separated and dried by a vacuum dryer or the like to obtain conductive particles with insulating particles.

上記導電層は表面に、絶縁性粒子と反応可能な反応性官能基を有することが好ましく、被膜と反応可能な反応性官能基を有することが好ましい。絶縁性粒子は表面に、導電層と反応可能な反応性官能基を有することが好ましく、被膜と反応可能な反応性官能基を有することが好ましい。上記被膜は表面に、導電層と反応可能な反応性官能基を有することが好ましく、絶縁性粒子と反応可能な官能基を有することが好ましい。これらの反応性官能基により、導電性粒子の表面から絶縁性粒子が意図せずに脱離し難くなり、更に導電性粒子の表面及び絶縁性粒子の表面から被膜が剥離し難くなる。さらに、導電層の表面を被膜により充分に被覆でき、更に絶縁性粒子の表面を被膜により充分に被覆できる。   The conductive layer preferably has a reactive functional group capable of reacting with the insulating particles on the surface, and preferably has a reactive functional group capable of reacting with the coating. The insulating particles preferably have a reactive functional group capable of reacting with the conductive layer on the surface, and preferably have a reactive functional group capable of reacting with the coating. The coating preferably has a reactive functional group capable of reacting with the conductive layer on the surface, and preferably has a functional group capable of reacting with the insulating particles. By these reactive functional groups, it becomes difficult for the insulating particles to be unintentionally detached from the surface of the conductive particles, and further, the coating film is difficult to peel from the surfaces of the conductive particles and the surfaces of the insulating particles. Furthermore, the surface of the conductive layer can be sufficiently covered with a coating, and the surface of the insulating particles can be sufficiently covered with a coating.

上記反応性官能基として、反応性を考慮して適宜の基が選択される。上記反応性官能基としては、水酸基、ビニル基及びアミノ基等が挙げられる。反応性に優れているので、上記反応性官能基は水酸基であることが好ましい。上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体は表面の少なくとも一部の領域に、水酸基を有することが好ましい。上記導電性粒子は表面に、水酸基を有することが好ましい。上記絶縁性粒子は表面に、水酸基を有することが好ましい。上記被膜は表面に水酸基を有することが好ましい。   As the reactive functional group, an appropriate group is selected in consideration of reactivity. Examples of the reactive functional group include a hydroxyl group, a vinyl group, and an amino group. Since the reactivity is excellent, the reactive functional group is preferably a hydroxyl group. The conductive particle body with insulating particles preferably has a hydroxyl group in at least a part of the surface. The conductive particles preferably have a hydroxyl group on the surface. The insulating particles preferably have a hydroxyl group on the surface. The coating preferably has a hydroxyl group on the surface.

絶縁性粒子の表面と導電性粒子の表面とに水酸基がある場合には、脱水反応により絶縁性粒子と導電性粒子との付着力が適度に高くなる。   When there are hydroxyl groups on the surface of the insulating particles and the surface of the conductive particles, the adhesion force between the insulating particles and the conductive particles is appropriately increased by the dehydration reaction.

上記水酸基を有する化合物としては、P−OH基含有化合物及びSi−OH基含有化合物等が挙げられる。絶縁性粒子の表面に水酸基を導入するための水酸基を有する化合物としては、P−OH基含有化合物及びSi−OH基含有化合物等が挙げられる。   Examples of the compound having a hydroxyl group include a P—OH group-containing compound and a Si—OH group-containing compound. Examples of the compound having a hydroxyl group for introducing a hydroxyl group on the surface of the insulating particles include a P—OH group-containing compound and a Si—OH group-containing compound.

上記P−OH基含有化合物の具体例としては、アシッドホスホオキシエチルメタクリレート、アシッドホスホオキシプロピルメタクリレート、アシッドホスホオキシポリオキシエチレングリコールモノメタクリレート及びアシッドホスホオキシポリオキシプロピレングリコールモノメタクリレート等が挙げられる。上記P−OH基含有化合物は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   Specific examples of the P-OH group-containing compound include acid phosphooxyethyl methacrylate, acid phosphooxypropyl methacrylate, acid phosphooxypolyoxyethylene glycol monomethacrylate, and acid phosphooxypolyoxypropylene glycol monomethacrylate. As for the said P-OH group containing compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記Si−OH基含有化合物の具体例としては、ビニルトリヒドロキシシラン、及び3−メタクリロキシプロピルトリヒドロキシシラン等が挙げられる。上記Si−OH基含有化合物は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   Specific examples of the Si-OH group-containing compound include vinyltrihydroxysilane and 3-methacryloxypropyltrihydroxysilane. As for the said Si-OH group containing compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

例えば、水酸基を表面に有する絶縁性粒子は、シランカップリング剤を用いた処理により得ることができる。上記シランカップリング剤としては、例えば、ヒドロキシトリメトキシシラン等が挙げられる。   For example, insulating particles having a hydroxyl group on the surface can be obtained by a treatment using a silane coupling agent. Examples of the silane coupling agent include hydroxytrimethoxysilane.

(絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法)
本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法では、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物(化合物A)を用いて、上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する。
(Method for producing conductive particles with insulating particles)
In the method for producing conductive particles with insulating particles according to the present invention, the above insulating property is obtained by using a compound having 6 to 22 carbon atoms (compound A) on the surface of the conductive particle body with insulating particles. A film is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with particles.

上記化合物Aを用いて、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に被膜を形成する方法としては特に限定されず、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、上記化合物Aを含む溶液を付着させる方法等が挙げられる。   The method for forming a film on the surface of the conductive particle body with insulating particles using the compound A is not particularly limited, and a solution containing the compound A is attached to the surface of the conductive particle body with insulating particles. And the like.

上記化合物Aを含む溶液における溶媒は、水であることが好ましい。上記化合物Aを含む溶液における溶媒は、テトラヒドロフラン、並びにメタノール、エタノール及びプロパノール等のアルコール等の有機溶剤を含んでいてもよい。絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に上記溶液を付着させた後、溶媒は必要に応じて除去される。   The solvent in the solution containing the compound A is preferably water. The solvent in the solution containing the compound A may contain tetrahydrofuran and organic solvents such as alcohols such as methanol, ethanol and propanol. After making the said solution adhere to the surface of the electroconductive particle main body with an insulating particle, a solvent is removed as needed.

上記化合物Aを含む溶液における上記化合物Aの含有量は、所望の被膜が得られるように適宜調整される。上記化合物Aを含む溶液100重量%中、上記化合物Aの含有量は0.5〜3重量%の範囲内であることが好ましい。   The content of the compound A in the solution containing the compound A is appropriately adjusted so that a desired film is obtained. In 100% by weight of the solution containing the compound A, the content of the compound A is preferably in the range of 0.5 to 3% by weight.

例えば、導電層の表面又は絶縁性粒子の表面に、上記化合物Aと反応可能な反応性官能基が存在する場合には、該反応性官能基と、上記化合物Aとを反応させ、上記導電層の表面及び絶縁性粒子の表面に上記化合物Aを化学結合させることができる。   For example, when a reactive functional group capable of reacting with the compound A is present on the surface of the conductive layer or the surface of the insulating particles, the reactive functional group is reacted with the compound A, and the conductive layer The compound A can be chemically bonded to the surface of the metal and the surface of the insulating particles.

絶縁性粒子付き導電性粒子本体が表面の少なくとも一部の領域に水酸基を有し、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面の水酸基に、水酸基を有する炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物(以下、化合物A1ともいう)を反応させて、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成することが好ましい。また、導電性粒子が表面に水酸基を有し、該導電性粒子の表面の水酸基に、上記化合物A1を反応させて、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成することが好ましい。絶縁性粒子が表面に水酸基を有し、絶縁性粒子の表面の水酸基に、上記化合物A1を反応させて、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成することが好ましい。さらに、導電性粒子の表面及び絶縁性粒子の表面がそれぞれ水酸基を有し、導電性粒子の表面及び絶縁性粒子の表面の水酸基に、上記化合物A1を反応させて、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成することが好ましい。これらの好ましい態様で被膜を形成することにより、導電層の表面を被膜により充分に被覆でき、更に絶縁性粒子の表面を被膜により充分に被覆できる。従って、導電層に錆がより一層生じ難くなり、被膜が剥離し難くなり、更に絶縁性粒子が意図せずに脱離し難くなる。   Compound having conductive particle body with insulating particles having hydroxyl group in at least a part of the surface, and hydroxyl group on the surface of conductive particle body with insulating particle having a C 6-22 alkyl group having a hydroxyl group It is preferable to form a film so as to coat the surface of the conductive particle body with insulating particles by reacting (hereinafter also referred to as compound A1). Further, the conductive particles have a hydroxyl group on the surface, and the film is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with insulating particles by reacting the compound A1 with the hydroxyl group on the surface of the conductive particle. It is preferable. It is preferable that the insulating particles have a hydroxyl group on the surface, and the coating is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with insulating particles by reacting the compound A1 with the hydroxyl group on the surface of the insulating particles. . Furthermore, the surface of the conductive particles and the surface of the insulating particles each have a hydroxyl group, and the compound A1 is reacted with the hydroxyl groups on the surface of the conductive particles and the surface of the insulating particles, thereby conducting the conductive particles with insulating particles. It is preferable to form a coating so as to cover the surface of the main body. By forming a film in these preferred embodiments, the surface of the conductive layer can be sufficiently covered with the film, and the surface of the insulating particles can be sufficiently covered with the film. Therefore, rust is less likely to be generated in the conductive layer, the coating is difficult to peel off, and the insulating particles are not easily detached unintentionally.

(異方性導電材料)
本発明に係る異方性導電材料は、本発明の絶縁性粒子付き導電性粒子と、バインダー樹脂とを含むか、又は本発明の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子と、バインダー樹脂とを含む。
(Anisotropic conductive material)
The anisotropic conductive material according to the present invention includes the conductive particles with insulating particles of the present invention and a binder resin, or the insulating property obtained by the method for producing conductive particles with insulating particles of the present invention. It contains conductive particles with particles and a binder resin.

上記絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた場合には、絶縁性粒子と導電性粒子との表面が被膜により被覆されているので、絶縁性粒子付き導電性粒子をバインダー樹脂中に分散させる際などに、導電性粒子の表面から絶縁性粒子が脱離し難い。   When the conductive particles with insulating particles are used, since the surfaces of the insulating particles and the conductive particles are covered with a coating, when the conductive particles with insulating particles are dispersed in the binder resin, etc. Furthermore, it is difficult for the insulating particles to be detached from the surface of the conductive particles.

上記バインダー樹脂は特に限定されない。上記バインダー樹脂としては、一般的には絶縁性の樹脂が用いられる。上記バインダー樹脂としては、例えば、ビニル樹脂、熱可塑性樹脂、硬化性樹脂、熱可塑性ブロック共重合体及びエラストマー等が挙げられる。上記バインダー樹脂は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The binder resin is not particularly limited. In general, an insulating resin is used as the binder resin. Examples of the binder resin include vinyl resins, thermoplastic resins, curable resins, thermoplastic block copolymers, and elastomers. As for the said binder resin, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記ビニル樹脂としては、例えば、酢酸ビニル樹脂、アクリル樹脂及びスチレン樹脂等が挙げられる。上記熱可塑性樹脂としては、例えば、ポリオレフィン樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体及びポリアミド樹脂等が挙げられる。上記硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、ポリイミド樹脂及び不飽和ポリエステル樹脂等が挙げられる。なお、上記硬化性樹脂は、常温硬化型樹脂、熱硬化型樹脂、光硬化型樹脂又は湿気硬化型樹脂であってもよい。上記硬化性樹脂は、硬化剤と併用されてもよい。上記熱可塑性ブロック共重合体としては、例えば、スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体、スチレン−イソプレン−スチレンブロック共重合体、スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体の水素添加物、及びスチレン−イソプレン−スチレンブロック共重合体の水素添加物等が挙げられる。上記エラストマーとしては、例えば、スチレン−ブタジエン共重合ゴム、及びアクリロニトリル−スチレンブロック共重合ゴム等が挙げられる。   Examples of the vinyl resin include vinyl acetate resin, acrylic resin, and styrene resin. Examples of the thermoplastic resin include polyolefin resins, ethylene-vinyl acetate copolymers, and polyamide resins. Examples of the curable resin include an epoxy resin, a urethane resin, a polyimide resin, and an unsaturated polyester resin. The curable resin may be a room temperature curable resin, a thermosetting resin, a photocurable resin, or a moisture curable resin. The curable resin may be used in combination with a curing agent. Examples of the thermoplastic block copolymer include a styrene-butadiene-styrene block copolymer, a styrene-isoprene-styrene block copolymer, a hydrogenated product of a styrene-butadiene-styrene block copolymer, and a styrene-isoprene. -Hydrogenated product of a styrene block copolymer. Examples of the elastomer include styrene-butadiene copolymer rubber and acrylonitrile-styrene block copolymer rubber.

上記異方性導電材料は、上記絶縁性粒子付き導電性粒子及び上記バインダー樹脂の他に、例えば、充填剤、増量剤、軟化剤、可塑剤、重合触媒、硬化触媒、着色剤、酸化防止剤、熱安定剤、光安定剤、紫外線吸収剤、滑剤、帯電防止剤及び難燃剤等の各種添加剤を含んでいてもよい。   In addition to the conductive particles with insulating particles and the binder resin, the anisotropic conductive material includes, for example, a filler, an extender, a softener, a plasticizer, a polymerization catalyst, a curing catalyst, a colorant, and an antioxidant. In addition, various additives such as a heat stabilizer, a light stabilizer, an ultraviolet absorber, a lubricant, an antistatic agent and a flame retardant may be contained.

上記バインダー樹脂中に上記絶縁性粒子付き導電性粒子を分散させる方法は、従来公知の分散方法を用いることができ特に限定されない。バインダー樹脂中に絶縁性粒子付き導電性粒子を分散させる方法としては、例えば、バインダー樹脂中に絶縁性粒子付き導電性粒子を添加した後、プラネタリーミキサー等で混練して分散させる方法、絶縁性粒子付き導電性粒子を水又は有機溶剤中にホモジナイザー等を用いて均一に分散させた後、バインダー樹脂中に添加し、プラネタリーミキサー等で混練して分散させる方法、並びにバインダー樹脂を水又は有機溶剤等で希釈した後、絶縁性粒子付き導電性粒子を添加し、プラネタリーミキサー等で混練して分散させる方法等が挙げられる。   The method for dispersing the conductive particles with insulating particles in the binder resin is not particularly limited, and a conventionally known dispersion method can be used. Examples of a method for dispersing conductive particles with insulating particles in a binder resin include, for example, a method in which conductive particles with insulating particles are added to a binder resin and then kneaded and dispersed with a planetary mixer or the like. Conductive particles with particles are uniformly dispersed in water or an organic solvent using a homogenizer or the like, then added to the binder resin, kneaded and dispersed with a planetary mixer, etc., and the binder resin is water or organic Examples include a method of adding conductive particles with insulating particles after diluting with a solvent or the like, and kneading and dispersing with a planetary mixer or the like.

本発明に係る異方性導電材料は、異方性導電ペースト又は異方性導電フィルムとして使用され得る。本発明に係る異方性導電材料が、異方性導電フィルムとして使用される場合には、該導電性粒子を含む異方性導電フィルムに、導電性粒子を含まないフィルムが積層されていてもよい。   The anisotropic conductive material according to the present invention can be used as an anisotropic conductive paste or an anisotropic conductive film. When the anisotropic conductive material according to the present invention is used as an anisotropic conductive film, a film that does not include conductive particles may be laminated on the anisotropic conductive film that includes the conductive particles. Good.

本発明に係る異方性導電材料は、異方性導電ペーストであることが好ましい。異方性導電ペーストは取り扱い性及び回路充填性に優れている。異方性導電ペーストを得る際には絶縁性粒子付き導電性粒子に比較的大きな力が付与されるものの、上記被膜の存在によって導電性粒子の表面から絶縁性粒子が脱離するのを抑制できる。   The anisotropic conductive material according to the present invention is preferably an anisotropic conductive paste. An anisotropic conductive paste is excellent in handleability and circuit fillability. When obtaining an anisotropic conductive paste, a relatively large force is applied to the conductive particles with insulating particles, but the presence of the coating can prevent the insulating particles from detaching from the surface of the conductive particles. .

上記異方性導電材料100重量%中、上記バインダー樹脂の含有量は10〜99.99重量%の範囲内であることが好ましい。バインダー樹脂の含有量は、より好ましくは30重量%以上、更に好ましくは50重量%以上、特に好ましくは70重量%以上、より好ましくは99.9重量%以上である。バインダー樹脂の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、電極間に絶縁性粒子付き導電性粒子を効率的に配置でき、異方性導電材料により接続された接続対象部材の導通信頼性をより一層高めることができる。   In 100% by weight of the anisotropic conductive material, the content of the binder resin is preferably in the range of 10 to 99.99% by weight. The content of the binder resin is more preferably 30% by weight or more, still more preferably 50% by weight or more, particularly preferably 70% by weight or more, and more preferably 99.9% by weight or more. When the content of the binder resin is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the conductive particles with insulating particles can be efficiently arranged between the electrodes, and the conduction reliability of the connection target member connected by the anisotropic conductive material Can be further increased.

上記異方性導電材料100重量%中、上記絶縁性粒子付き導電性粒子の含有量は0.01〜20重量%の範囲内であることが好ましい。上絶縁性粒子付き導電性粒子の含有量は、より好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは20重量%以下、更に好ましくは15重量%以下である。絶縁性粒子付き導電性粒子の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、電極間の導通信頼性をより一層高めることができる。   In 100% by weight of the anisotropic conductive material, the content of the conductive particles with insulating particles is preferably in the range of 0.01 to 20% by weight. The content of the conductive particles with the upper insulating particles is more preferably 0.1% by weight or more, more preferably 20% by weight or less, and still more preferably 15% by weight or less. When the content of the conductive particles with insulating particles is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the conduction reliability between the electrodes can be further enhanced.

(接続構造体)
本発明の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて、又は該絶縁性粒子付き導電性粒子とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料を用いて、接続対象部材を接続することにより、接続構造体を得ることができる。さらに、本発明の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子を用いて、又は該絶縁性粒子付き導電性粒子とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料を用いて、接続対象部材を接続することにより、接続構造体を得ることができる。
(Connection structure)
By connecting the connection target members using the conductive particles with insulating particles of the present invention or using an anisotropic conductive material containing the conductive particles with insulating particles and a binder resin, a connection structure Can be obtained. Further, an anisotropic conductive material using the conductive particles with insulating particles obtained by the method for producing conductive particles with insulating particles of the present invention, or comprising the conductive particles with insulating particles and a binder resin A connection structure can be obtained by connecting the connection target members using the.

上記接続構造体は、第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、第1,第2の接続対象部材を電気的に接続している接続部とを備え、該接続部が上記絶縁性粒子付き導電性粒子により形成されているか、又は該絶縁性粒子付き導電性粒子とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料により形成されている接続構造体であることが好ましい。絶縁性粒子付き導電性粒子が用いられた場合には、接続部自体が絶縁性粒子付き導電性粒子によって形成される。すなわち、第1,第2の接続対象部材が絶縁性粒子付き導電性粒子における導電性粒子により電気的に接続される。   The connection structure includes a first connection target member, a second connection target member, and a connection portion that electrically connects the first and second connection target members. The connection structure is preferably formed of conductive particles with insulating particles or formed of an anisotropic conductive material including the conductive particles with insulating particles and a binder resin. In the case where conductive particles with insulating particles are used, the connecting portion itself is formed of conductive particles with insulating particles. That is, the first and second connection target members are electrically connected by the conductive particles in the conductive particles with insulating particles.

図5は、図1に示す絶縁性粒子付き導電性粒子1を用いた接続構造体を模式的に示す断面図である。   FIG. 5 is a cross-sectional view schematically showing a connection structure using the conductive particles 1 with insulating particles shown in FIG.

図5に示す接続構造体51は、第1の接続対象部材52と、第2の接続対象部材53と、第1,第2の接続対象部材52,53を接続している接続部54とを備える。接続部54は、絶縁性粒子付き導電性粒子1とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料により形成されている。図5では、図示の便宜上、絶縁性粒子付き導電性粒子1は略図的に示されている。絶縁性粒子付き導電性粒子1にかえて、絶縁性粒子付き導電性粒子21,41,61を用いてもよい。   The connection structure 51 shown in FIG. 5 includes a first connection target member 52, a second connection target member 53, and a connection portion 54 connecting the first and second connection target members 52 and 53. Prepare. The connection part 54 is formed of an anisotropic conductive material including the conductive particles 1 with insulating particles and a binder resin. In FIG. 5, for convenience of illustration, the conductive particles 1 with insulating particles are schematically shown. Instead of the conductive particles 1 with insulating particles, the conductive particles 21, 41, 61 with insulating particles may be used.

第1の接続対象部材52は上面52aに、複数の電極52bを有する。第2の接続対象部材53は下面53aに、複数の電極53bを有する。電極52bと電極53bとが、1つ又は複数の絶縁性粒子付き導電性粒子1により電気的に接続されている。従って、第1,第2の接続対象部材52,53が絶縁性粒子付き導電性粒子1により電気的に接続されている。   The first connection object member 52 has a plurality of electrodes 52b on the upper surface 52a. The second connection target member 53 has a plurality of electrodes 53b on the lower surface 53a. The electrode 52b and the electrode 53b are electrically connected by one or more conductive particles 1 with insulating particles. Therefore, the first and second connection target members 52 and 53 are electrically connected by the conductive particles 1 with insulating particles.

上記接続構造体の製造方法は特に限定されない。接続構造体の製造方法の一例として、第1の接続対象部材と第2の接続対象部材との間に上記異方性導電材料を配置し、積層体を得た後、該積層体を加熱及び加圧する方法等が挙げられる。上記加圧の圧力は9.8×10〜4.9×10Pa程度である。上記加熱の温度は、120〜220℃程度である。 The manufacturing method of the connection structure is not particularly limited. As an example of a method for manufacturing a connection structure, the anisotropic conductive material is disposed between a first connection target member and a second connection target member to obtain a laminate, and then the laminate is heated and The method of pressurizing is mentioned. The pressure of the said pressurization is about 9.8 * 10 < 4 > -4.9 * 10 < 6 > Pa. The temperature of the said heating is about 120-220 degreeC.

上記積層体を加熱及び加圧する際に、導電性粒子11と電極52b,53bとの間に存在していた絶縁性粒子15を排除できる。例えば、上記加熱及び加圧の際には、導電性粒子11と電極52b,53bとの間に存在していた絶縁性粒子15が溶融したり、変形したりして、導電性粒子11の表面が部分的に露出する。なお、上記加熱及び加圧の際には、大きな力が付与されるので、導電性粒子11の表面から一部の絶縁性粒子15が剥離して、導電性粒子11の表面が部分的に露出することもある。導電性粒子11の表面が露出した部分が、電極52b,53bに接触することにより、導電性粒子11を介して電極52b,53bを電気的に接続できる。   When the laminate is heated and pressurized, the insulating particles 15 existing between the conductive particles 11 and the electrodes 52b and 53b can be eliminated. For example, during the heating and pressurization, the insulating particles 15 existing between the conductive particles 11 and the electrodes 52b and 53b are melted or deformed, so that the surface of the conductive particles 11 Is partially exposed. In addition, since a large force is applied during the heating and pressurization, some of the insulating particles 15 are peeled off from the surface of the conductive particles 11, and the surface of the conductive particles 11 is partially exposed. Sometimes. The portion where the surface of the conductive particle 11 is exposed contacts the electrodes 52b and 53b, whereby the electrodes 52b and 53b can be electrically connected through the conductive particle 11.

上記接続対象部材としては、具体的には、半導体チップ、コンデンサ及びダイオード等の電子部品、並びにプリント基板、フレキシブルプリント基板及びガラス基板等の回路基板などの電子部品等が挙げられる。上記異方性導電材料はペースト状であり、ペーストの状態で接続対象部材上に塗布されることが好ましい。上記絶縁性粒子付き導電性粒子及び異方性導電材料は、電子部品である接続対象部材の接続に用いられることが好ましい。
本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子は、特にガラス基板と半導体チップとを接続対象部材とするCOG、又はガラス基板とフレキシブルプリント基板(FPC)とを接続対象部材とするFOGに好適に使用される。本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子は、COGに用いられてもよく、FOGに用いられてもよい。本発明に係る接続構造体では、上記第1,第2の接続対象部材が、ガラス基板と半導体チップとであるか、又はガラス基板とフレキシブルプリント基板とであることが好ましい。上記第1,第2の接続対象部材は、ガラス基板と半導体チップとであってもよく、ガラス基板とフレキシブルプリント基板とであってもよい。
Specific examples of the connection target member include electronic components such as a semiconductor chip, a capacitor, and a diode, and circuit components such as a printed board, a flexible printed board, and a glass board. The anisotropic conductive material is in a paste form, and is preferably applied on the connection target member in a paste state. The conductive particles with insulating particles and the anisotropic conductive material are preferably used for connection of a connection target member that is an electronic component.
The conductive particles with insulating particles according to the present invention are particularly suitable for COG having a glass substrate and a semiconductor chip as connection target members, or FOG having a glass substrate and a flexible printed circuit board (FPC) as connection target members. Is done. The conductive particles with insulating particles according to the present invention may be used for COG or FOG. In the connection structure according to the present invention, the first and second connection target members are preferably a glass substrate and a semiconductor chip, or a glass substrate and a flexible printed board. The first and second connection target members may be a glass substrate and a semiconductor chip, or may be a glass substrate and a flexible printed board.

ガラス基板と半導体チップとを接続対象部材とするCOGで使用される半導体チップには、バンプが設けられていることが好ましい。該バンプサイズは1000μm以上、10000μm以下の電極面積であることが好ましい。該バンプ(電極)が設けられた半導体チップにおける電極スペースは好ましくは30μm以下、より好ましくは20μm以下、更に好ましくは10μm以下である。このようなCOG用途に、本発明に係る絶縁性粒子付き導電性粒子は好適に用いられる。ガラス基板とフレキシブルプリント基板とを接続対象部材とするFOGで使用されるFPCでは、電極スペースは好ましくは30μm以下、より好ましくは20μm以下である。 It is preferable that bumps are provided on a semiconductor chip used in a COG having a glass substrate and a semiconductor chip as connection target members. The bump size is preferably an electrode area of 1000 μm 2 or more and 10,000 μm 2 or less. The electrode space in the semiconductor chip provided with the bump (electrode) is preferably 30 μm or less, more preferably 20 μm or less, and still more preferably 10 μm or less. For such COG applications, the conductive particles with insulating particles according to the present invention are preferably used. In the FPC used in the FOG using a glass substrate and a flexible printed circuit as a connection target member, the electrode space is preferably 30 μm or less, more preferably 20 μm or less.

上記接続対象部材に設けられている電極としては、金電極、ニッケル電極、錫電極、アルミニウム電極、銅電極、モリブデン電極及びタングステン電極等の金属電極が挙げられる。上記接続対象部材がフレキシブルプリント基板である場合には、上記電極は金電極、ニッケル電極、錫電極又は銅電極であることが好ましい。上記接続対象部材がガラス基板である場合には、上記電極はアルミニウム電極、銅電極、モリブデン電極又はタングステン電極であることが好ましい。なお、上記電極がアルミニウム電極である場合には、アルミニウムのみで形成された電極であってもよく、金属酸化物層の表面にアルミニウム層が積層された電極であってもよい。上記金属酸化物としては、3価の金属元素がドープされた酸化インジウム及び3価の金属元素がドープされた酸化亜鉛等が挙げられる。上記3価の金属元素としては、Sn、Al及びGa等が挙げられる。   Examples of the electrode provided on the connection target member include metal electrodes such as a gold electrode, a nickel electrode, a tin electrode, an aluminum electrode, a copper electrode, a molybdenum electrode, and a tungsten electrode. When the connection object member is a flexible printed board, the electrode is preferably a gold electrode, a nickel electrode, a tin electrode, or a copper electrode. When the connection target member is a glass substrate, the electrode is preferably an aluminum electrode, a copper electrode, a molybdenum electrode, or a tungsten electrode. In addition, when the said electrode is an aluminum electrode, the electrode formed only with aluminum may be sufficient and the electrode by which the aluminum layer was laminated | stacked on the surface of the metal oxide layer may be sufficient. Examples of the metal oxide include indium oxide doped with a trivalent metal element and zinc oxide doped with a trivalent metal element. Examples of the trivalent metal element include Sn, Al, and Ga.

以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明を具体的に説明する。本発明は、以下の実施例のみに限定されない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited only to the following examples.

(実施例1)
ジビニルベンゼン樹脂粒子の表面にニッケルめっき層が形成されている金属層を有する導電性粒子(平均粒子径3.01μm、導電層の厚み0.2μm)を用意した。
Example 1
Conductive particles (average particle diameter: 3.01 μm, conductive layer thickness: 0.2 μm) having a metal layer having a nickel plating layer formed on the surface of divinylbenzene resin particles were prepared.

また、ゾルゲル法を使用して作製したシリカ粒子(平均粒子径200nm)の表面をヒドロキシトリエトキシシランで被覆し、水酸基を表面に有する絶縁性粒子を得た。この絶縁性粒子を純水30mLに分散して、絶縁性粒子を含む分散液を得た。   Moreover, the surface of the silica particle (average particle diameter 200nm) produced using the sol-gel method was coat | covered with hydroxytriethoxysilane, and the insulating particle which has a hydroxyl group on the surface was obtained. The insulating particles were dispersed in 30 mL of pure water to obtain a dispersion containing insulating particles.

1Lのセパラブルフラスコに、純水250mLと、エタノール50mLと、上記導電性粒子15重量部とを入れ、十分に攪拌し、導電性粒子を含む液を得た。この導電性粒子を含む液に、絶縁性粒子を含む分散液を、超音波を当てながら10分間かけて滴下した。その後、ろ過し、真空乾燥機により100℃で8時間乾燥させ、絶縁性粒子付き導電性粒子本体を得た。   In a 1 L separable flask, 250 mL of pure water, 50 mL of ethanol, and 15 parts by weight of the conductive particles were put, and stirred sufficiently to obtain a liquid containing conductive particles. A dispersion containing insulating particles was dropped into the liquid containing conductive particles over 10 minutes while applying ultrasonic waves. Then, it filtered and it was made to dry at 100 degreeC with a vacuum dryer for 8 hours, and the electroconductive particle main body with an insulating particle was obtained.

純水25gとエタノール25gとの混合液中に上記絶縁性粒子付き導電性粒子本体10重量部とリン酸モノヘキシルエステル0.5重量部とを入れ、50℃で1時間攪拌した。その後、ろ過し、真空乾燥機により100℃で8時間乾燥させ、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、上記リン酸モノヘキシルエステルにより形成された被膜を有する絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。上記被膜は、導電性粒子の表面と絶縁性粒子の表面とを被覆していた。導電性粒子の表面を被覆している被膜部分と、絶縁性粒子の表面を被覆している被膜部分とは、連なっていた。   In a mixed solution of 25 g of pure water and 25 g of ethanol, 10 parts by weight of the conductive particle body with insulating particles and 0.5 part by weight of monohexyl phosphate were added and stirred at 50 ° C. for 1 hour. Then, it is filtered and dried at 100 ° C. for 8 hours by a vacuum dryer, and conductive particles with insulating particles having a coating formed by the monohexyl phosphate are formed on the surface of the conductive particle body with insulating particles. Obtained. The coating covered the surface of the conductive particles and the surface of the insulating particles. The coating portion covering the surface of the conductive particles and the coating portion covering the surface of the insulating particles were continuous.

(実施例2)
実施例1と同じ導電性粒子(平均粒子径3.01μm、導電層の厚み0.2μm)を用意した。
(Example 2)
The same conductive particles as those of Example 1 (average particle diameter of 3.01 μm, conductive layer thickness of 0.2 μm) were prepared.

また、ゾルゲル法を使用して作製したシリカ粒子(平均粒子径200nm)の表面をビニルトリエトキシシランで被覆し、ビニル基を表面に有する絶縁性粒子を絶縁性粒子本体として得た。   Moreover, the surface of the silica particle (average particle diameter 200nm) produced using the sol-gel method was coat | covered with vinyltriethoxysilane, and the insulating particle which has a vinyl group on the surface was obtained as an insulating particle main body.

水200mL中に、上記絶縁性粒子本体1重量部と、メタクリル酸0.22重量部と、ジメタクリル酸エチレングリコール0.05重量部と、開始剤(和光純薬工業社製「V−50」)0.5重量部をスリーワンモーターで十分に攪拌しながら70℃まで昇温し、70℃で6時間保持して、上記モノマーを重合させた。   In 200 mL of water, 1 part by weight of the insulating particle body, 0.22 part by weight of methacrylic acid, 0.05 part by weight of ethylene glycol dimethacrylate, and initiator (“V-50” manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) ) 0.5 part by weight was heated to 70 ° C. while sufficiently stirring with a three-one motor, and held at 70 ° C. for 6 hours to polymerize the monomer.

その後、冷却し、遠心分離機で固液分離を2回行い、余分なモノマーを洗浄により除去し、高分子化合物により表面全体が被覆された絶縁性粒子を得た。次に、得られた絶縁性粒子を純水30mLに分散して、絶縁性粒子の分散液を得た。   Then, it cooled, solid-liquid separation was performed twice with the centrifuge, the excess monomer was removed by washing | cleaning, and the insulating particle by which the whole surface was coat | covered with the high molecular compound was obtained. Next, the obtained insulating particles were dispersed in 30 mL of pure water to obtain a dispersion of insulating particles.

1Lのセパラブルフラスコに純水250mLと、エタノール50mLと、上記導電性粒子15重量部とを入れ、十分に攪拌し、導電性粒子を含む液を得た。この導電性粒子を含む液に、超音波を当てながら上記絶縁性粒子の分散液を10分間かけて滴下した後、40℃に昇温し1時間攪拌を行った。その後、ろ過し、真空乾燥機により100℃で8時間乾燥させ、絶縁性粒子付き導電性粒子本体を得た。   A 1 L separable flask was charged with 250 mL of pure water, 50 mL of ethanol, and 15 parts by weight of the conductive particles, and stirred sufficiently to obtain a liquid containing conductive particles. To the liquid containing the conductive particles, the dispersion of the insulating particles was dropped over 10 minutes while applying ultrasonic waves, and then the temperature was raised to 40 ° C. and stirred for 1 hour. Then, it filtered and it was made to dry at 100 degreeC with a vacuum dryer for 8 hours, and the electroconductive particle main body with an insulating particle was obtained.

得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体を用いたこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。上記被膜は、導電性粒子の表面と絶縁性粒子の表面とを被覆していた。導電性粒子の表面を被覆している被膜部分と、絶縁性粒子の表面を被覆している被膜部分とは、連なっていた。   Except having used the obtained electroconductive particle main body with an insulating particle, it carried out similarly to Example 1, and obtained the electroconductive particle with an insulating particle. The coating covered the surface of the conductive particles and the surface of the insulating particles. The coating portion covering the surface of the conductive particles and the coating portion covering the surface of the insulating particles were continuous.

(実施例3)
樹脂粒子10gをエッチング処理した後、水洗した。次に、樹脂粒子に硫酸パラジウムを加え、パラジウムイオンを樹脂粒子に吸着させた。パラジウムが付着された樹脂粒子をイオン交換水300mL中で3分間攪拌し、分散させ、分散液を得た。次に、金属ニッケル粒子スラリー(三井金属社製「2020SUS」、平均粒子径200nm)1gを3分間かけて上記分散液に添加し、芯物質が付着した樹脂粒子を得た。芯物質が付着した樹脂粒子の表面に、無電解ニッケルめっきによりニッケル層を形成した。このようにして、樹脂粒子の表面に芯物質が付着しており、樹脂粒子と芯物質との表面がニッケル層により被覆されている導電性粒子を得た。この導電性粒子の平均粒子径は3.02μmであり、導電層の厚みは0.2μmであった。この導電性粒子は表面に、突起を有していた。
Example 3
The resin particles 10g were etched and then washed with water. Next, palladium sulfate was added to the resin particles to adsorb palladium ions to the resin particles. The resin particles to which palladium was attached were stirred and dispersed in 300 mL of ion exchange water for 3 minutes to obtain a dispersion. Next, 1 g of metallic nickel particle slurry (“2020SUS” manufactured by Mitsui Kinzoku Co., Ltd., average particle size 200 nm) was added to the dispersion over 3 minutes to obtain resin particles to which the core substance was adhered. A nickel layer was formed by electroless nickel plating on the surface of the resin particles to which the core substance adhered. In this way, conductive particles were obtained in which the core material was adhered to the surface of the resin particles, and the surfaces of the resin particles and the core material were covered with the nickel layer. The average particle diameter of the conductive particles was 3.02 μm, and the thickness of the conductive layer was 0.2 μm. The conductive particles had protrusions on the surface.

得られた導電性粒子を用いたこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。   Except having used the obtained electroconductive particle, it carried out similarly to Example 1, and obtained the electroconductive particle with an insulating particle.

(実施例4)
リン酸モノヘキシルエステルを、リン酸モノオクチルエステルに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
Example 4
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that monohexyl phosphate was changed to monooctyl phosphate.

(実施例5)
リン酸モノヘキシルエステルを、リン酸モノドデシルエステルに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 5)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that monohexyl phosphate was changed to monododecyl phosphate.

(実施例6)
リン酸モノヘキシルエステルを、リン酸モノヘキサデシルエステルに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 6)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the monohexyl phosphate was changed to monohexadecyl phosphate.

(実施例7)
リン酸モノヘキシルエステルを、ヘキシルトリエトキシシランに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 7)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the monohexyl phosphate was changed to hexyltriethoxysilane.

(実施例8)
リン酸モノヘキシルエステルを、オクチルトリエトキシシランに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 8)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the monohexyl phosphate was changed to octyltriethoxysilane.

(実施例9)
リン酸モノヘキシルエステルを、ドデシルトリエトキシシランに変更したこと以外は、実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
Example 9
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the monohexyl phosphate was changed to dodecyltriethoxysilane.

(実施例10)
絶縁性粒子の作製:
ゾルゲル法を使用して作製したシリカ粒子(平均粒子径200nm)の表面をビニルトリエトキシシランで被覆し、反応性官能基であるビニル基を表面に有する絶縁性粒子を絶縁性粒子本体として得た。具体的には、シリカ粒子10重量部を水とエタノールとが重量比1:9で混合された液400mlにスリーワンモーターを用いて分散させて、第1の分散液を得た。次いでビニルトリエトキシシラン0.1重量部を水とエタノールとが重量比1:9で混合された液100mlに分散させて、第2の分散液を得た。その後、上記第2の分散液を上記第1の分散液に10分かけて滴下し、混合液を得た。滴下後、得られた混合液を30分攪拌した。その後、混合液をろ過し、100℃で2時間乾燥した後、ふるいで篩うことにより、絶縁性粒子本体を得た。
(Example 10)
Production of insulating particles:
The surface of silica particles (average particle size 200 nm) produced using the sol-gel method was coated with vinyltriethoxysilane, and insulating particles having vinyl groups as reactive functional groups on the surface were obtained as insulating particle bodies. . Specifically, 10 parts by weight of silica particles were dispersed in 400 ml of a liquid in which water and ethanol were mixed at a weight ratio of 1: 9 using a three-one motor to obtain a first dispersion. Next, 0.1 part by weight of vinyltriethoxysilane was dispersed in 100 ml of a mixture of water and ethanol in a weight ratio of 1: 9 to obtain a second dispersion. Thereafter, the second dispersion was dropped into the first dispersion over 10 minutes to obtain a mixed solution. After the dropwise addition, the resulting mixture was stirred for 30 minutes. Thereafter, the mixed solution was filtered, dried at 100 ° C. for 2 hours, and then sieved to obtain an insulating particle body.

水200mL中に、上記絶縁性粒子本体1重量部と、高分子化合物となる化合物であるメタクリル酸2重量部と、高分子化合物となる化合物であるジメタクリル酸エチレングリコール1重量部と、開始剤(和光純薬工業社製「V−50」)0.5重量部と、乳化剤としてポリオキシエチレンラウリルエーテル(花王社製「エマルゲン106」)1重量部とを配合し、超音波照射機を使用して十分乳化させた。その後、スリーワンモーターで十分に攪拌しながら70℃まで昇温し、70℃で6時間保持して、上記モノマーを重合させた。   In 200 mL of water, 1 part by weight of the insulating particle main body, 2 parts by weight of methacrylic acid as a polymer compound, 1 part by weight of ethylene glycol dimethacrylate as a compound as a polymer compound, and an initiator (Wako Pure Chemical Industries "V-50") 0.5 parts by weight and polyoxyethylene lauryl ether (Kao "Emulgen 106") 1 part by weight as an emulsifier, and using an ultrasonic irradiation machine And sufficiently emulsified. Then, it heated up to 70 degreeC, fully stirring with a three-one motor, and hold | maintained at 70 degreeC for 6 hours, and the said monomer was polymerized.

その後、冷却し、遠心分離機で固液分離を2回行い、余分なモノマーを洗浄により除去し、高分子化合物により表面全体が被覆された絶縁性粒子を得た。次に、得られた絶縁性粒子を純水30mLに分散して、絶縁性粒子を含む分散液を得た。なお、上記絶縁性粒子の分散液の状態で、高分子化合物により被覆された絶縁性粒子の平均粒子径は324nmであった。   Then, it cooled, solid-liquid separation was performed twice with the centrifuge, the excess monomer was removed by washing | cleaning, and the insulating particle by which the whole surface was coat | covered with the high molecular compound was obtained. Next, the obtained insulating particles were dispersed in 30 mL of pure water to obtain a dispersion containing insulating particles. The average particle diameter of the insulating particles covered with the polymer compound in the state of the dispersion of the insulating particles was 324 nm.

絶縁性粒子付き導電性粒子の作製:
絶縁性粒子を含む分散液として、得られた絶縁性粒子を含む分散液を用いた以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
Production of conductive particles with insulating particles:
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained dispersion containing insulating particles was used as the dispersion containing insulating particles.

(実施例11)
高分子化合物となる化合物を、メタクリル酸2.5重量部と、ジビニルベンゼン1.2重量部とに変更したこと以外は実施例10と同様にして、絶縁性粒子を含む分散液を得た。なお、上記絶縁性粒子の分散液の状態で、高分子化合物により被覆された絶縁性粒子の平均粒子径は335nmであった。
(Example 11)
A dispersion containing insulating particles was obtained in the same manner as in Example 10 except that the polymer compound was changed to 2.5 parts by weight of methacrylic acid and 1.2 parts by weight of divinylbenzene. The average particle diameter of the insulating particles coated with the polymer compound in the state of the dispersion of the insulating particles was 335 nm.

絶縁性粒子を含む分散液として、得られた絶縁性粒子を含む分散液を用いた以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。   Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained dispersion containing insulating particles was used as the dispersion containing insulating particles.

(実施例12)
シリカ粒子の表面をメタクリロキシプロピルトリエトキシシランで被覆し、メタクリロイル基を表面に有する絶縁性粒子を絶縁性粒子本体として得たこと、並びに高分子化合物となる化合物を、酢酸ビニル2.2重量部と、N,N−メチレンビスアクリルアミド1.0重量部とに変更したこと以外は実施例10と同様にして、絶縁性粒子を含む分散液を得た。
(Example 12)
The surface of the silica particles was coated with methacryloxypropyltriethoxysilane to obtain insulating particles having a methacryloyl group on the surface as the insulating particle body, and the compound to be a polymer compound was 2.2 parts by weight of vinyl acetate. A dispersion containing insulating particles was obtained in the same manner as in Example 10 except that the amount was changed to 1.0 part by weight of N, N-methylenebisacrylamide.

なお、絶縁性粒子本体を得る際に、シリカ粒子10重量部とメタクリロキシプロピルトリエトキシシラン0.1重量部とを用いたこと以外は実施例10と同様の方法で、絶縁性粒子本体を得た。また、上記絶縁性粒子の分散液の状態で、高分子化合物により被覆された絶縁性粒子の平均粒子径は326nmであった。   The insulating particle body was obtained in the same manner as in Example 10 except that 10 parts by weight of silica particles and 0.1 part by weight of methacryloxypropyltriethoxysilane were used to obtain the insulating particle body. It was. The average particle diameter of the insulating particles covered with the polymer compound in the state of the dispersion of the insulating particles was 326 nm.

絶縁性粒子を含む分散液として、得られた絶縁性粒子を含む分散液を用いた以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。   Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained dispersion containing insulating particles was used as the dispersion containing insulating particles.

(実施例13)
導電性粒子として、ジビニルベンゼン樹脂粒子の表面に芯物質としてニッケル粉体(100nm)が付着しており、かつニッケル粉体が付着したジビニルベンゼン粒子の表面上にニッケルめっき層(導電層)が形成されている導電性粒子(平均粒子径3.03μm、導電層の厚み0.21μm)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 13)
As conductive particles, nickel powder (100 nm) is attached as a core substance to the surface of divinylbenzene resin particles, and a nickel plating layer (conductive layer) is formed on the surface of divinylbenzene particles to which nickel powder is attached. Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the conductive particles (average particle size: 3.03 μm, conductive layer thickness: 0.21 μm) were used.

(実施例14)
高分子化合物となる化合物を、メタクリル酸0.4重量部と、ジメタクリル酸エチレングリコール0.05重量部とに変更したこと以外は実施例10と同様にして、絶縁性粒子を含む分散液を得た。
(Example 14)
A dispersion containing insulating particles was prepared in the same manner as in Example 10 except that the polymer compound was changed to 0.4 parts by weight of methacrylic acid and 0.05 parts by weight of ethylene glycol dimethacrylate. Obtained.

なお、上記絶縁性粒子の分散液の状態で、高分子化合物により被覆された絶縁性粒子の平均粒子径は248nmであった。   The average particle diameter of the insulating particles coated with the polymer compound in the state of the dispersion of the insulating particles was 248 nm.

絶縁性粒子を含む分散液として、得られた絶縁性粒子を含む分散液を用いたこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。   Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that the obtained dispersion containing insulating particles was used as the dispersion containing insulating particles.

(実施例15)
ハイブリダイゼーション法を使用して絶縁性粒子付き導電性粒子本体を得たこと以外は実施例2と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Example 15)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 2 except that the conductive particle body with insulating particles was obtained using the hybridization method.

(比較例1)
実施例1で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体である絶縁性粒子付き導電性粒子。すなわち、比較例1では、実施例1で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体に被膜を形成せずに、実施例1で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体自体を絶縁性粒子付き導電性粒子として用いて以下の評価を行った。
(Comparative Example 1)
The electroconductive particle with an insulating particle which is the electroconductive particle main body with an insulating particle obtained in Example 1. That is, in Comparative Example 1, the conductive particle main body with insulating particles obtained in Example 1 was not formed on the conductive particle main body with insulating particles obtained in Example 1, and the insulating particle was used as an insulating particle. The following evaluation was performed using attached conductive particles.

(比較例2)
実施例2で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体である絶縁性粒子付き導電性粒子。すなわち、比較例2では、実施例2で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体に被膜を形成せずに、実施例2で得られた絶縁性粒子付き導電性粒子本体自体を絶縁性粒子付き導電性粒子として用いて以下の評価を行った。
(Comparative Example 2)
The electroconductive particle with an insulating particle which is the electroconductive particle main body with an insulating particle obtained in Example 2. That is, in Comparative Example 2, the conductive particle main body with insulating particles obtained in Example 2 was formed as insulating particles without forming a film on the conductive particle main body with insulating particles obtained in Example 2. The following evaluation was performed using attached conductive particles.

(比較例3)
リン酸モノヘキシルエステルを、リン酸モノペンチルエステル(アルキル基の炭素数5)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Comparative Example 3)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that monohexyl phosphate was changed to monopentyl phosphate (carbon number of alkyl group: 5).

(比較例4)
リン酸モノヘキシルエステルを、リン酸モノトリコシルエステル(アルキル基の炭素数23)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、絶縁性粒子付き導電性粒子を得た。
(Comparative Example 4)
Conductive particles with insulating particles were obtained in the same manner as in Example 1 except that monohexyl phosphate was changed to monotricosyl phosphate (carbon number of alkyl group: 23).

(評価)
(1)絶縁性粒子付き導電性粒子におけるリン元素又は珪素元素の含有量の評価
実施例及び比較例の絶縁性粒子付き導電性粒子1重量部を5重量%のクエン酸水溶液(5重量%のクエン酸を水95重量%に溶かした液)100重量部に入れ、40℃にして30分間攪拌して処理液を得た後、該処理液をろ紙によりろ過することによりろ過液を得た。実施例1〜9の絶縁性粒子付き導電性粒子では、クエン酸水溶液による処理の後、絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に付着していた被膜は剥離していた。
(Evaluation)
(1) Evaluation of content of phosphorus element or silicon element in conductive particles with insulating particles 1 part by weight of conductive particles with insulating particles of Examples and Comparative Examples was added to 5 wt% aqueous citric acid solution (5 wt% A solution obtained by dissolving citric acid in 95% by weight of water) was added to 100 parts by weight, stirred at 40 ° C. for 30 minutes to obtain a treatment liquid, and then the treatment liquid was filtered through a filter paper to obtain a filtrate. In the conductive particles with insulating particles of Examples 1 to 9, the coating adhered to the surface of the conductive particle body with insulating particles was peeled off after the treatment with the citric acid aqueous solution.

ICP発光分析装置(堀場製作所社製「ULTIMA2」)を用いて、得られたろ過液におけるリン元素又は珪素元素の含有量を測定した。   The content of phosphorus element or silicon element in the obtained filtrate was measured using an ICP emission analyzer (“ULTIMA2” manufactured by Horiba, Ltd.).

(2)接続構造体の作製
実施例及び比較例の絶縁性粒子付き導電性粒子を含有量が10重量%となるように、三井化学社製「ストラクトボンドXN−5A」)に添加し、分散させ、異方性導電ペーストを得た。
(2) Preparation of connection structure Conductive particles with insulating particles of Examples and Comparative Examples were added to Mitsui Chemicals' “Struct Bond XN-5A”) so that the content would be 10% by weight, and dispersed. An anisotropic conductive paste was obtained.

L/Sが30μm/30μmであるITO電極パターンが上面に形成された透明ガラス基板を用意した。また、L/Sが30μm/30μmである銅電極パターンが下面に形成された半導体チップを用意した。   A transparent glass substrate having an ITO electrode pattern with an L / S of 30 μm / 30 μm formed on the upper surface was prepared. Further, a semiconductor chip was prepared in which a copper electrode pattern having L / S of 30 μm / 30 μm was formed on the lower surface.

上記透明ガラス基板上に、得られた異方性導電ペーストを厚さ30μmとなるように塗工し、異方性導電ペースト層を形成した。次に、異方性導電ペースト層上に上記半導体チップを、電極同士が対向するように積層した。その後、異方性導電ペースト層の温度が185℃となるようにヘッドの温度を調整しながら、半導体チップの上面に加圧加熱ヘッドを載せ、1MPaの圧力をかけて異方性導電ペースト層を185℃で完全硬化させ、接続構造体を得た。   On the transparent glass substrate, the obtained anisotropic conductive paste was applied to a thickness of 30 μm to form an anisotropic conductive paste layer. Next, the semiconductor chip was stacked on the anisotropic conductive paste layer so that the electrodes face each other. Then, while adjusting the temperature of the head so that the temperature of the anisotropic conductive paste layer becomes 185 ° C., a pressure heating head is placed on the upper surface of the semiconductor chip and a pressure of 1 MPa is applied to form the anisotropic conductive paste layer. Completely cured at 185 ° C. to obtain a connection structure.

(3)導通評価(上下の電極間)
得られた接続構造体の上下の電極間の接続抵抗をそれぞれ、4端子法により測定した。2つの接続抵抗の平均値を算出した。なお、電圧=電流×抵抗の関係から、一定の電流を流した時の電圧を測定することにより接続抵抗を求めることができる。接続抵抗の平均値が2.0Ω以下であり、かつ導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に、高分子化合物が付着していない場合を「○」、接続抵抗の平均値が2Ω以下であるものの、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に、高分子化合物が付着している箇所がある場合を「△」、接続抵抗の平均値が2Ωを超える場合を「×」として結果を下記の表1に示した。
(3) Conductivity evaluation (between upper and lower electrodes)
The connection resistance between the upper and lower electrodes of the obtained connection structure was measured by a four-terminal method. The average value of the two connection resistances was calculated. Note that the connection resistance can be obtained by measuring the voltage when a constant current is passed from the relationship of voltage = current × resistance. “○” indicates that the average value of the connection resistance is 2.0Ω or less and the polymer compound is not attached to any part other than the part where the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. When the average value of 2Ω is 2Ω or less, “△” indicates that there is a portion where the polymer compound is attached to a portion other than the portion where the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. The results are shown in Table 1 below, assuming that the average value exceeds 2Ω as “x”.

(4)絶縁評価(横方向に隣り合う電極間)
得られた接続構造体において、隣接する電極間のリークの有無を、テスターで抵抗を測定することにより評価した。抵抗が500MΩを超える場合にリーク無しと判定して結果を「○」とし、抵抗が500MΩ以下の場合にリーク有りと判定して結果を「×」として下記の表1に示した。
(4) Insulation evaluation (between adjacent electrodes in the horizontal direction)
In the obtained connection structure, the presence or absence of leakage between adjacent electrodes was evaluated by measuring resistance with a tester. When the resistance exceeds 500 MΩ, it is determined that there is no leakage and the result is “◯”, and when the resistance is 500 MΩ or less, it is determined that there is leakage and the result is “X”.

(5)防錆評価
上記絶縁評価で作製した接続構造体を、85℃及び相対湿度85%の条件で放置した。放置開始から、100時間後に上記同様に電極間の接続抵抗を4端子法により測定した。上記の導通評価時の接続抵抗(放置前)の平均値に比べ、接続抵抗(放置後)の平均値が150%未満であった場合を「○」、接続抵抗(放置後)の平均値が150%以上上昇した場合を「×」として、結果を下記の表1に示した。
(5) Rust prevention evaluation The connection structure produced by the above-mentioned insulation evaluation was left under conditions of 85 ° C. and relative humidity 85%. After 100 hours from the start of standing, the connection resistance between the electrodes was measured by the 4-terminal method in the same manner as described above. When the average connection resistance (after leaving) is less than 150% compared to the average value of the connection resistance (before leaving) at the time of the above continuity evaluation, “○” indicates that the average value of the connection resistance (after leaving) is The results are shown in Table 1 below, where “x” indicates a case where the temperature rose by 150% or more.

結果を下記の表1に示す。   The results are shown in Table 1 below.

Figure 0004977276
Figure 0004977276

上記表1に示すように、比較例1,2の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた防錆評価では、抵抗値が150%以上上昇していた。これは、導電層の表面に錆が生じたためである。   As shown in Table 1 above, in the rust prevention evaluation using the conductive particles with insulating particles of Comparative Examples 1 and 2, the resistance value increased by 150% or more. This is because rust has occurred on the surface of the conductive layer.

また、実施例1〜14の絶縁性粒子付き導電性粒子では、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分には、高分子化合物は付着していないことを確認した。なお、実施例15では、物理的/機械的ハイブリダイゼーション法を用いているので、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に、高分子化合物が付着している箇所があった。このように、導電性粒子の表面の絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に高分子化合物が付着していると、場合によっては、導通信頼性が低くなる可能性がある。   Moreover, in the electroconductive particle with an insulating particle of Examples 1-14, it confirmed that the polymer compound did not adhere to parts other than the part to which the insulating particle of the surface of electroconductive particle has adhered. . In Example 15, since the physical / mechanical hybridization method is used, the portion where the polymer compound is attached to the portion other than the portion where the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. was there. Thus, if the polymer compound is attached to a portion other than the portion to which the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles, the conduction reliability may be lowered depending on the case.

(6)絶縁性粒子の脱離
また、絶縁評価で得られた異方性導電ペーストにおいて、導電性粒子の表面から絶縁性粒子が脱離しているか否かを観察した。
(6) Desorption of insulating particles In the anisotropic conductive paste obtained by the insulation evaluation, it was observed whether or not the insulating particles were detached from the surface of the conductive particles.

この結果、実施例1〜15の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストでは、比較例1,2の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストと比較して、導電性粒子の表面から脱離した絶縁性粒子の割合が極めて少なかった。特に、実施例1の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストでは、比較例1の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストと比較して、導電性粒子の表面から脱離した絶縁性粒子の割合が極めて少なかった。さらに、実施例2の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストでは、比較例2の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストと比較して、導電性粒子の表面から脱離した絶縁性粒子の割合が極めて少なかった。これは、実施例1〜15の絶縁性粒子付き導電性粒子では、被膜が形成されているために、絶縁性粒子の脱離が抑制されたと考えられる。   As a result, the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Examples 1 to 15 was compared with the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Comparative Examples 1 and 2. Thus, the ratio of the insulating particles detached from the surface of the conductive particles was extremely small. In particular, the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Example 1 is more conductive than the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Comparative Example 1. The ratio of the insulating particles detached from the surface of was extremely small. Further, the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Example 2 is more conductive than the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Comparative Example 2. The ratio of the insulating particles detached from the surface of was extremely small. It is considered that this is because the conductive particles with insulating particles of Examples 1 to 15 have the coating formed thereon, so that the detachment of the insulating particles is suppressed.

さらに、実施例2の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストでは、実施例1の絶縁性粒子付き導電性粒子を用いた異方性導電ペーストと比較して、導電性粒子の表面から脱離した絶縁性粒子の割合が少なかった。これは、実施例2の絶縁性粒子では、絶縁性粒子の表面が、高分子化合物により形成された柔軟な層により被覆されているために、絶縁性粒子の脱離が抑制されたと考えられる。   Furthermore, the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Example 2 is more conductive than the anisotropic conductive paste using the conductive particles with insulating particles of Example 1. The ratio of the insulating particles detached from the surface of the film was small. This is probably because in the insulating particles of Example 2, the surface of the insulating particles was covered with a flexible layer formed of a polymer compound, so that the detachment of the insulating particles was suppressed.

1…絶縁性粒子付き導電性粒子
2…絶縁性粒子付き導電性粒子本体
3…被膜
11…導電性粒子
12…基材粒子
13…導電層
15…絶縁性粒子
21…絶縁性粒子付き導電性粒子
22…絶縁性粒子付き導電性粒子本体
23…被膜
31…導電性粒子
32…導電層
33…芯物質
34…突起
35…絶縁性粒子
41…絶縁性粒子付き導電性粒子
42…絶縁性粒子付き導電性粒子本体
45…絶縁性粒子
45a…絶縁性粒子本体
45b…層
51…接続構造体
52…第1の接続対象部材
52a…上面
52b…電極
53…第2の接続対象部材
53a…下面
53b…電極
54…接続部
61…絶縁性粒子付き導電性粒子
62…絶縁性粒子付き導電性粒子本体
71…導電性粒子
76…導電層
76a…第1の導電層
76b…第2の導電層
77…突起
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Conductive particle with insulating particle 2 ... Conductive particle body with insulating particle 3 ... Coating 11 ... Conductive particle 12 ... Base particle 13 ... Conductive layer 15 ... Insulating particle 21 ... Conductive particle with insulating particle DESCRIPTION OF SYMBOLS 22 ... Conductive particle main body with insulating particles 23 ... Coating 31 ... Conductive particles 32 ... Conductive layer 33 ... Core substance 34 ... Protrusion 35 ... Insulating particles 41 ... Conductive particles with insulating particles 42 ... Conductive with insulating particles Conductive particle body 45 ... Insulating particle 45a ... Insulating particle body 45b ... Layer 51 ... Connection structure 52 ... First connection target member 52a ... Upper surface 52b ... Electrode 53 ... Second connection target member 53a ... Lower surface 53b ... Electrode 54 ... Connecting part 61 ... Conductive particles with insulating particles 62 ... Conductive particle body with insulating particles 71 ... Conductive particles 76 ... Conductive layer 76a ... First conductive layer 76b ... Second conductive layer 77 ... Protrusion

Claims (11)

導電層を少なくとも表面に有する導電性粒子、及び該導電性粒子の表面に付着している絶縁性粒子を有する絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面に、炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物を用いて、前記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する、絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The surface of the conductive particle body with insulating particles having conductive particles having at least a conductive layer on the surface and insulating particles attached to the surface of the conductive particles has an alkyl group having 6 to 22 carbon atoms. The manufacturing method of the electroconductive particle with an insulating particle which forms a film so that the surface of the electroconductive particle main body with an insulating particle may be coat | covered using a compound. 前記絶縁性粒子付き導電性粒子本体が表面の少なくとも一部の領域に水酸基を有し、
前記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面の水酸基に、水酸基を有する炭素数6〜22のアルキル基を有する化合物を反応させて、前記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する、請求項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。
The conductive particle body with insulating particles has a hydroxyl group in at least a partial region of the surface,
The surface of the conductive particle body with insulating particles is coated by reacting the hydroxyl group on the surface of the conductive particle body with insulating particles with a compound having a C 6-22 alkyl group having a hydroxyl group. to form a film, method of manufacturing the insulating particles with conductive particle according to claim 1.
前記被膜が、前記導電性粒子の表面を覆っている被膜部分と、前記絶縁性粒子の表面を覆っている被膜部分とを有し、前記導電性粒子の表面を覆っている被膜部分と、前記絶縁性粒子の表面を覆っている被膜部分とが連なるように、前記絶縁性粒子付き導電性粒子本体の表面を被覆するように被膜を形成する、請求項1又は2に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The coating has a coating portion covering the surface of the conductive particles, a coating portion covering the surface of the insulating particles, and a coating portion covering the surfaces of the conductive particles; The coating with insulating particles according to claim 1 or 2, wherein the coating is formed so as to cover the surface of the conductive particle body with insulating particles so as to be continuous with a coating portion covering the surface of the insulating particles. A method for producing conductive particles. 前記絶縁性粒子が無機粒子を含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The method for producing conductive particles with insulating particles according to claim 1, wherein the insulating particles include inorganic particles. 前記絶縁性粒子は、絶縁性粒子本体と、該絶縁性粒子本体の表面の少なくとも一部の領域を覆っており、かつ高分子化合物により形成されている層とを有する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The insulating particle has an insulating particle body and a layer that covers at least a part of the surface of the insulating particle body and is formed of a polymer compound. The manufacturing method of the electroconductive particle with an insulating particle of any one. 前記導電性粒子の表面の前記絶縁性粒子が付着している部分以外の部分に、前記高分子化合物が付着していない絶縁性粒子付き導電性粒子を得る、請求項5に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The insulating particles according to claim 5, wherein conductive particles with insulating particles to which the polymer compound is not attached are obtained in a portion other than the portion to which the insulating particles are attached on the surface of the conductive particles. Method for manufacturing attached conductive particles. 前記高分子化合物が、(メタ)アクリロイル基、グリシジル基及びビニル基からなる群から選択された少なくとも1種の反応性官能基を有する、請求項5又は6に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The conductive particle with insulating particles according to claim 5 or 6, wherein the polymer compound has at least one reactive functional group selected from the group consisting of a (meth) acryloyl group, a glycidyl group, and a vinyl group. Manufacturing method. 前記絶縁性粒子が、前記導電性粒子の表面に、ハイブリダイゼーション法により付着されていない絶縁性粒子付き導電性粒子を得る、請求項1〜7のいずれか1項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法。   The conductive material with insulating particles according to any one of claims 1 to 7, wherein the insulating particles obtain conductive particles with insulating particles that are not attached to the surface of the conductive particles by a hybridization method. Method for producing particles. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子と、バインダー樹脂とを含む、異方性導電材料。   An anisotropic conductive material comprising conductive particles with insulating particles obtained by the method for producing conductive particles with insulating particles according to claim 1, and a binder resin. 異方性導電ペーストである、請求項9に記載の異方性導電材料。   The anisotropic conductive material according to claim 9, which is an anisotropic conductive paste. 第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、該第1,第2の接続対象部材を接続している接続部とを備え、
前記接続部が、請求項1〜8のいずれか1項に記載の絶縁性粒子付き導電性粒子の製造方法により得られた絶縁性粒子付き導電性粒子により形成されているか、又は該絶縁性粒子付き導電性粒子とバインダー樹脂とを含む異方性導電材料により形成されている、接続構造体。
A first connection target member, a second connection target member, and a connection part connecting the first and second connection target members;
The said connection part is formed with the electroconductive particle with an insulating particle obtained by the manufacturing method of the electroconductive particle with an insulating particle of any one of Claims 1-8, or this insulating particle A connection structure formed of an anisotropic conductive material including attached conductive particles and a binder resin.
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Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0250858A (en) * 1988-08-12 1990-02-20 Tokyo Electric Co Ltd Printer
JP5821552B2 (en) * 2011-11-10 2015-11-24 日立化成株式会社 Water-repellent conductive particles, anisotropic conductive material, and conductive connection structure
CN103748637B (en) * 2012-01-19 2017-09-29 积水化学工业株式会社 Electroconductive particle, conductive material and connection structural bodies
JP6188456B2 (en) * 2012-07-03 2017-08-30 積水化学工業株式会社 Conductive particles with insulating particles, conductive material, and connection structure
JP6438186B2 (en) * 2012-09-06 2018-12-12 積水化学工業株式会社 Conductive particles with insulating particles, conductive material, and connection structure
JP6212374B2 (en) * 2012-12-05 2017-10-11 積水化学工業株式会社 Conductive particles with insulating particles, method for producing conductive particles with insulating particles, conductive material, and connection structure
JP6357347B2 (en) * 2013-05-14 2018-07-11 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
JP6357348B2 (en) * 2013-05-22 2018-07-11 積水化学工業株式会社 Conductive particles with insulating particles, conductive material, and connection structure
JP6426913B2 (en) * 2013-05-29 2018-11-21 積水化学工業株式会社 Protruding particles, conductive particles, conductive materials and connection structures
JP6392617B2 (en) * 2013-10-02 2018-09-19 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
JP6453032B2 (en) * 2013-10-21 2019-01-16 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
JP6450154B2 (en) * 2013-11-12 2019-01-09 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
JP6739894B2 (en) * 2013-11-18 2020-08-12 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive material and connection structure
JP6397316B2 (en) * 2013-11-18 2018-09-26 積水化学工業株式会社 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
JP6119718B2 (en) * 2013-11-19 2017-04-26 デクセリアルズ株式会社 Anisotropic conductive film and connection structure
KR20160106004A (en) * 2014-01-08 2016-09-09 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 Conductive particles for back contact solar cell modules, conductive material, and solar cell module
JPWO2015105121A1 (en) * 2014-01-08 2017-03-23 積水化学工業株式会社 Manufacturing method of back contact type solar cell module
CN105917418B (en) * 2014-01-08 2018-02-13 积水化学工业株式会社 Back contact solar battery module electroconductive particle, conductive material and solar module
EP2942129B1 (en) * 2014-05-05 2017-07-05 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Metal paste and its use in joining components
JP6564302B2 (en) * 2014-10-28 2019-08-21 積水化学工業株式会社 Conductive particles with insulating particles, method for producing conductive particles with insulating particles, conductive material, and connection structure
KR102545861B1 (en) * 2014-10-29 2023-06-21 데쿠세리아루즈 가부시키가이샤 Conductive material
TWI735465B (en) * 2015-09-24 2021-08-11 日商積水化學工業股份有限公司 Conductive particles, conductive materials, and connection structures
WO2018008066A1 (en) * 2016-07-04 2018-01-11 株式会社鈴木 Transfer method and mounting method
DE112018002362T5 (en) * 2017-05-08 2020-01-30 Nippon Chemical Industrial Co., Ltd. COATED PARTICLES AND PRODUCTION METHOD THEREFOR
JP7062555B2 (en) * 2018-08-27 2022-05-06 日本化学工業株式会社 Coated particles

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2895872B2 (en) * 1989-09-26 1999-05-24 触媒化成工業株式会社 Anisotropic conductive material, anisotropic conductive adhesive, method for electrically connecting electrodes using the anisotropic conductive adhesive, and electric circuit board formed by the method
JP2748705B2 (en) * 1991-02-14 1998-05-13 日立化成工業株式会社 Circuit connection members
TW557237B (en) * 2001-09-14 2003-10-11 Sekisui Chemical Co Ltd Coated conductive particle, coated conductive particle manufacturing method, anisotropic conductive material, and conductive connection structure
KR20040052126A (en) * 2002-12-13 2004-06-19 엘지전선 주식회사 Anisotropic-electroconductive adhesive, circuit connection using the same, and circuit connection structure
JP4724369B2 (en) * 2003-09-29 2011-07-13 ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社 Method for producing conductive particles
JP5485575B2 (en) * 2008-03-27 2014-05-07 積水化学工業株式会社 Conductive fine particles, anisotropic conductive material, and connection structure
JP5529431B2 (en) * 2008-03-27 2014-06-25 積水化学工業株式会社 Conductive fine particles, anisotropic conductive material, and connection structure
JP4991666B2 (en) * 2008-09-19 2012-08-01 積水化学工業株式会社 Conductive particles, anisotropic conductive materials, and connection structures

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