JP4973122B2 - Circuit board member and circuit board manufacturing method - Google Patents

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Description

本発明は、高精度な回路パターンを有するとともに生産性に優れた可撓性フイルムを用いた回路基板用部材および回路基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a circuit board member and a circuit board manufacturing method using a flexible film having a highly accurate circuit pattern and excellent productivity.

エレクトロニクス製品の軽量化、小型化に伴い、プリント回路基板のパターニングの高精度化が求められている。中でも可撓性フイルム基板は、その可撓性ゆえに三次元配線ができ、エレクトロニクス製品の小型化に適していることから需要が拡大している。例えば、液晶ディスプレイパネルへのIC接続に用いられるTAB(Tape Automated Bonding)技術は、比較的狭幅の長尺ポリイミドフイルム基板を加工することで樹脂基板としては最高レベルの微細パターンを得ることができるが、微細化の進展に関しては限界に近づきつつある。微細化にはライン幅やライン間のスペース幅で表される指標と基板上のパターンの位置で表される指標がある。後者の指標、いわゆる位置精度は、回路基板とICなどの電子部品とを接続する際の電極パッドと回路基板パターンとの位置合わせに係わり、ICの多ピン化の進展に従い要求される精度が厳しくなってきている。   As electronics products become lighter and smaller, printed circuit board patterning needs to be highly accurate. Among them, the demand for flexible film substrates is increasing because three-dimensional wiring is possible due to its flexibility and it is suitable for downsizing of electronic products. For example, TAB (Tape Automated Bonding) technology used for IC connection to a liquid crystal display panel can obtain a fine pattern of the highest level as a resin substrate by processing a relatively narrow wide polyimide film substrate. However, the progress of miniaturization is approaching the limit. For miniaturization, there are an index represented by a line width and a space width between lines, and an index represented by a position of a pattern on a substrate. The latter index, so-called positional accuracy, is related to the alignment of the electrode pad and the circuit board pattern when connecting the circuit board and the electronic component such as an IC, and the required accuracy is severe as the number of pins of the IC increases. It has become to.

上記位置精度の点において、特に可撓性フイルム基板加工は改良が難しい状況になりつつある。回路基板加工プロセスでは、乾燥やキュアなどの熱処理プロセス、エッチングや現像などの湿式プロセスがあり、可撓性フイルムは、膨張と収縮を繰り返す。このときのヒステリシスは、基板上の回路パターンの位置ずれを引き起こす。また、アライメントが必要なプロセスが複数ある場合、これらのプロセス間に膨張、収縮があると、形成されるパターン間で位置ずれが発生する。可撓性フイルムの膨張と収縮による変形は、比較的大面積の基板寸法で加工を進めるFPC(Flexible Printing Circuit)の場合には更に大きな影響を及ぼす。また、位置ずれは引っ張りや捻れなどの外力でも引き起こされ、柔軟性を上げるために薄い基板を使う場合は特に注意を必要とする。   In view of the above positional accuracy, it is becoming difficult to improve the processing of the flexible film substrate in particular. In the circuit board processing process, there are a heat treatment process such as drying and curing, and a wet process such as etching and development, and the flexible film repeatedly expands and contracts. The hysteresis at this time causes displacement of the circuit pattern on the substrate. In addition, when there are a plurality of processes that need alignment, if there is expansion or contraction between these processes, positional deviation occurs between the formed patterns. Deformation due to expansion and contraction of the flexible film has an even greater effect in the case of an FPC (Flexible Printing Circuit) in which processing is performed with a relatively large substrate size. Further, the positional shift is caused by an external force such as pulling or twisting, and special attention is required when a thin substrate is used to increase flexibility.

これに対して、回路パターンを形成しようとする可撓性フイルムに紫外線硬化型有機物層を介して補強板とを貼り合わせた後、全体の強度を増すことで外力による変形を抑えつつ、紫外線硬化型有機物層に紫外線を照射して剥離力を低下させた状態で回路パターンを形成し、回路パターン付き可撓性フイルムを補強板から剥離する提案がある(特許文献1参照)。   On the other hand, after bonding a reinforcing plate to a flexible film to form a circuit pattern via an ultraviolet curable organic material layer, the overall strength is increased to suppress deformation due to external force and UV curing. There is a proposal to form a circuit pattern in a state where the peeling force is reduced by irradiating the mold organic layer with ultraviolet rays, and to peel the flexible film with the circuit pattern from the reinforcing plate (see Patent Document 1).

しかしながら、紫外線硬化型有機物層の全面に充分に硬化が進むだけの紫外線を照射して、可撓性フイルムと補強板との間の剥離力が全面で低い状態にして回路パターン形成を行ったとき、アクアナイフ、エアーナイフあるいはジグへの取り付け等の特定の工程で可撓性フイルムの端部に可撓性フイルムと有機物層を引き剥がそうとする力が加わったとき、可撓性フイルムの端部が有機物層から剥離して、パターン形成不良や搬送不良の原因となることがあった。
特開2003−298194号公報(第3頁)
However, when the circuit pattern is formed by irradiating the entire surface of the ultraviolet curable organic layer with ultraviolet rays that sufficiently cure, and the peeling force between the flexible film and the reinforcing plate is low on the entire surface. When a force is applied to the end of the flexible film to peel off the flexible film and the organic layer in a specific process such as attachment to an aqua knife, air knife or jig, the end of the flexible film The part may peel from the organic material layer and cause pattern formation failure or conveyance failure.
JP 2003-298194 A (page 3)

本発明の目的は、上述の課題に鑑み、高精度な可撓性フイルム回路基板を安定して製造できる方法を提供することにある。   In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a method capable of stably manufacturing a highly accurate flexible film circuit board.

すなわち本発明は、以下の構成からなる。
)少なくとも補強板、剥離可能な有機物層、可撓性フイルム、回路パターンをこの順に積層した回路基板用部材であって、可撓性フイルムの端から内側へ最大30mm未満の範囲を周縁部とすると、可撓性フイルムの4つの各頂点から内側へ最大50mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部の可撓性フイルムと補強板との剥離力が49N/mを超え490N/m以下であり、前記四隅部以外の可撓性フイルムと補強板との剥離力が0.098N/m以上49N/m以下である回路基板用部材。
That is, this invention consists of the following structures.
( 1 ) A circuit board member in which at least a reinforcing plate, a peelable organic layer, a flexible film, and a circuit pattern are laminated in this order, and a range of less than 30 mm at the maximum from the end of the flexible film to the periphery Then, the flexible film at the four corners, which is a portion that is less than a maximum of 50 mm inward from each of the four apexes of the flexible film, excluding a portion that overlaps with the inner portion of the peripheral portion. The peeling force between the reinforcing plate and the reinforcing plate exceeds 49 N / m and is 490 N / m or less, and the peeling force between the flexible film other than the four corners and the reinforcing plate is 0.098 N / m or more and 49 N / m or less. Board member.

)可撓性フイルムの片面に補強板を紫外線硬化型有機物層を介して貼り合わせ、紫外線硬化型有機物層に紫外線を照射してから、回路パターン付き可撓性フイルムを補強板から剥離する回路基板の製造方法であって、可撓性フイルムの端から内側へ最大30mm未満の範囲を周縁部とすると、可撓性フイルムの4つの各頂点から内側へ最大50mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部における可撓性フイルムと補強板の剥離力が、回路パターン形成中は49N/mを超え490N/m以下であり、回路パターンを形成後、可撓性フイルムを剥離する前は0.098N/m以上49N/m以下である回路基板の製造方法。 ( 2 ) A reinforcing plate is bonded to one side of the flexible film via an ultraviolet curable organic layer, and the ultraviolet curable organic layer is irradiated with ultraviolet rays, and then the flexible film with a circuit pattern is peeled from the reinforcing plate. A method for manufacturing a circuit board, wherein a range of less than 30 mm maximum from the end of the flexible film to the inside is a peripheral portion, and a portion of less than 50 mm maximum from each of the four apexes of the flexible film, The peeling force of the flexible film and the reinforcing plate at the four corners excluding the part overlapping with the part inside the peripheral part is more than 49 N / m and not more than 490 N / m during the circuit pattern formation. A method of manufacturing a circuit board having a circuit pattern of 0.098 N / m or more and 49 N / m or less before the flexible film is peeled off after the circuit pattern is formed.

本発明によれば、回路パターンの加工中に可撓性フイルムの端部が有機物層から剥離することによるパターン形成不良や搬送不良の発生を無くすことができる。さらに、可撓性フイルムの周縁部で可撓性フイルムと有機物層の間の剥離力が充分小さく、可撓性フイルムの周縁部より内側に形成した回路パターンの高い位置精度を確保した状態で剥離することができる。紫外線硬化型有機物層全面あるいは可撓性フイルム周縁部に紫外線を照射したり、可撓性フイルム周縁部を切り離すなどして回路パターン形成後に補強板から可撓性フイルムを剥離することが可能である。   According to the present invention, it is possible to eliminate the occurrence of pattern formation failure and conveyance failure due to peeling of the end portion of the flexible film from the organic layer during processing of the circuit pattern. Furthermore, the peeling force between the flexible film and the organic material layer is sufficiently small at the peripheral part of the flexible film, and the circuit pattern formed inside the peripheral part of the flexible film is peeled in a state where high positional accuracy is ensured. can do. It is possible to peel the flexible film from the reinforcing plate after forming the circuit pattern by irradiating the entire surface of the ultraviolet curable organic layer or the periphery of the flexible film with ultraviolet rays, or by separating the periphery of the flexible film. .

本発明において可撓性フイルムとしては、プラスチックフイルムであって、回路パターン製造工程および電子部品実装での熱プロセスに耐えるだけの耐熱性を備えていることが重要であり、ポリカーボネート、ポリエーテルサルファイド、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリイミド、ポリアミド、液晶ポリマーなどのフイルムを採用することができる。中でもポリイミドフイルムは、耐熱性に優れるとともに耐薬品性にも優れているので好適に採用される。また、低誘電損失など電気的特性が優れている点で、液晶ポリマーが好適に採用される。可撓性のガラス繊維補強樹脂板を採用することも可能である。ガラス繊維補強樹脂板の樹脂としては、エポキシ、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニレンエーテル、マレイミド、ポリアミド、ポリイミドなどが挙げられる。   In the present invention, the flexible film is a plastic film, and it is important that the film has a heat resistance sufficient to withstand a thermal process in a circuit pattern manufacturing process and electronic component mounting, such as polycarbonate, polyether sulfide, Films such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyphenylene sulfide, polyimide, polyamide, and liquid crystal polymer can be used. Among these, a polyimide film is preferably used because it is excellent in heat resistance and chemical resistance. In addition, a liquid crystal polymer is preferably used because it has excellent electrical characteristics such as low dielectric loss. It is also possible to employ a flexible glass fiber reinforced resin plate. Examples of the resin for the glass fiber reinforced resin plate include epoxy, polyphenylene sulfide, polyphenylene ether, maleimide, polyamide, and polyimide.

可撓性フイルムの厚さは、電子機器の軽量化、小型化、あるいは微細なビアホール形成のためには薄い方が好ましく、一方、機械的強度を確保するためや平坦性を維持するためには厚い方が好ましい点から、4μmから125μmの範囲が好ましい。   The thickness of the flexible film is preferably thin in order to reduce the weight and size of electronic devices, or to form fine via holes. On the other hand, to ensure mechanical strength and maintain flatness. From the viewpoint that a thicker one is preferable, a range of 4 μm to 125 μm is preferable.

本発明において、回路パターンを形成する方法は特に限定されず、例えば、銅箔などの金属箔を接着剤層で貼り付けて形成することができる他、スパッタやメッキ、あるいはこれらの組合せで形成することができる。また、銅などの金属箔の上に可撓性フイルムの原料樹脂あるいはその前駆体を塗布、乾燥、キュアすることで、金属層付き可撓性フイルムを得ることもできる。   In the present invention, the method for forming the circuit pattern is not particularly limited. For example, the circuit pattern can be formed by attaching a metal foil such as a copper foil with an adhesive layer, or by sputtering, plating, or a combination thereof. be able to. Alternatively, a flexible film with a metal layer can be obtained by coating, drying, and curing a raw film resin or a precursor thereof on a metal foil such as copper.

本発明において補強板として用いられる基板は、ソーダライムガラス、ホウケイ酸系ガラス、石英ガラスなどの無機ガラス類、インバー合金、ステンレススチール、チタンなどの金属、アルミナ、ジルコニア、窒化シリコンなどのセラミックスやガラス繊維補強樹脂板などが採用できる。いずれも線膨張係数や吸湿膨張係数が小さい点で好ましいが、回路パターン製造工程の耐熱性、耐薬品性に優れている点や大面積で表面平滑性が高い基板が安価に入手しやすい点や塑性変形しにくい点で無機ガラス類からなる基板が好ましい。中でもソーダライムガラスは、熱膨張係数がガラスの中では大きく、樹脂フイルムの線膨張係数に近いので好ましい。   The substrate used as the reinforcing plate in the present invention includes inorganic glasses such as soda lime glass, borosilicate glass, and quartz glass, metals such as invar alloy, stainless steel, and titanium, ceramics and glass such as alumina, zirconia, and silicon nitride. A fiber-reinforced resin plate can be used. Both are preferable because of their low linear expansion coefficient and hygroscopic expansion coefficient, but they are excellent in heat resistance and chemical resistance in the circuit pattern manufacturing process, and are easy to obtain inexpensively because of their large area and high surface smoothness. A substrate made of inorganic glass is preferable in that it is difficult to be plastically deformed. Among them, soda lime glass is preferable because it has a large thermal expansion coefficient in the glass and is close to the linear expansion coefficient of the resin film.

金属やガラス繊維補強樹脂を補強板に採用する場合は、長尺連続体での製造もできるが、位置精度を確保しやすい点で、本発明の回路基板の製造方法は枚葉式で行うことが好ましい。枚葉とは、長尺連続体でなく、個別のシート状でハンドリングされる状態を言う。   When a metal or glass fiber reinforced resin is used for the reinforcing plate, it can be manufactured as a long continuous body, but the method for manufacturing a circuit board of the present invention should be a single wafer type because it is easy to ensure positional accuracy. Is preferred. A sheet means a state where it is handled as an individual sheet, not a long continuous body.

本発明に用いられる剥離可能な有機物層は接着剤または粘着剤からなるものであって、可撓性フイルムを剥離可能な有機物層を介して補強板に貼り付けて加工後、可撓性フイルムを剥離しうるものである。このような接着剤または粘着剤としては、アクリル系またはウレタン系の再剥離粘着剤と呼ばれる粘着剤を挙げることができる。また、分子設計が容易に行えることや耐溶剤性が優れることから、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤を混合する架橋型と呼ばれるものが好ましい。可撓性フイルムの周縁部より内側の範囲においては、可撓性フイルム加工中は十分な剥離力があり、剥離時は容易に剥離でき、可撓性フイルムに歪みを生じさせないために、弱粘着呼ばれる領域の剥離力のものが好ましい。一方、可撓性フイルムの周縁部においては、アクアナイフ、エアーナイフあるいはジグへの取り付け等の特定の工程でも十分な剥離力があり、剥離時は容易に剥離するために、中粘着呼ばれる領域の剥離力のものが好ましい。シリコーン樹脂膜は離型剤として用いられることがあるが、タック性があるものは本発明において剥離可能な有機物層として使用することができる。その他、タック性があるエポキシ系樹脂膜を剥離可能な有機物層として使用することも可能である。補強板上の、可撓性フイルムの周縁部と周縁部より内側の二つの範囲へ異なる種類の接着剤または粘着剤を形成するのは工程が複雑になるため、補強板の全面に紫外線硬化型有機物層を形成し、紫外線を照射する範囲を限定することで容易に剥離力差を発現できるため好ましい。   The peelable organic material layer used in the present invention is composed of an adhesive or a pressure-sensitive adhesive, and the flexible film is attached to the reinforcing plate through the peelable organic material layer and processed, and then the flexible film is applied. It can be peeled off. Examples of such an adhesive or pressure-sensitive adhesive include a pressure-sensitive adhesive called an acrylic or urethane-based re-peeling pressure-sensitive adhesive. Moreover, since the molecular design can be easily performed and the solvent resistance is excellent, what is called a cross-linked type in which a main agent of an adhesive or a pressure-sensitive adhesive and a curing agent are mixed is preferable. In the area inside the peripheral edge of the flexible film, there is sufficient peeling force during the flexible film processing, it can be easily peeled off at the time of peeling, and it does not cause distortion in the flexible film. Those having a peeling force in the region called are preferred. On the other hand, in the peripheral part of the flexible film, there is a sufficient peeling force even in a specific process such as attachment to an aqua knife, an air knife or a jig. Peeling strength is preferred. The silicone resin film is sometimes used as a release agent, but those having tackiness can be used as a peelable organic layer in the present invention. In addition, it is also possible to use a tacky epoxy resin film as a peelable organic layer. Forming different types of adhesives or adhesives on the reinforcing plate on the periphery of the flexible film and the two areas inside the periphery makes the process complicated. By forming an organic layer and limiting the range of irradiation with ultraviolet rays, it is preferable because a difference in peeling force can be easily expressed.

本発明において剥離力とは、有機物層を介して補強板と貼り合わせた1cm幅の可撓性フイルムを剥離するときの180°方向ピール強度である。また、剥離力を測定するときの剥離速度は300mm/minとした。剥離力の測定装置は特に限定されず、強度や伸度の測定などで一般に使用されるテンシロンが好適に採用できる。ここで、弱粘着領域とは、上記の条件で測定したときの剥離力が0.098N/mから49N/mの範囲を言い、中粘着領域とは、剥離力が49N/mを超え、490N/m以下の範囲を言う。   In the present invention, the peeling force is 180 ° peel strength when peeling a 1 cm wide flexible film bonded to a reinforcing plate via an organic layer. Moreover, the peeling rate when measuring peeling force was 300 mm / min. The peeling force measuring device is not particularly limited, and Tensilon generally used for measuring strength and elongation can be suitably employed. Here, the weak adhesion region means a range where the peel force measured under the above conditions is 0.098 N / m to 49 N / m, and the medium adhesion region means a peel force exceeding 49 N / m and 490 N. / M or less.

接着剤または粘着剤の剥離力を弱粘着と呼ばれる領域に制御するためには、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤の一方あるいは両方を高分子量化することにより、架橋後の流動性を小さくし、接着剤または粘着剤の可撓性フイルムへの投錨性を制御することができる。一方、接着剤または粘着剤の耐熱性を向上するためにも、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤の一方あるいは両方を高分子量化することが好ましい。また、接着剤または粘着剤の剥離力を弱粘着と呼ばれる領域に制御するためには、接着剤または粘着剤の主剤の分子鎖に導入する官能基数を増やすことにより硬化剤との架橋部位を増やすことも有効であり、さらに、主剤と硬化剤の混合比を変えることで、剥離力を調整することができ好ましい。また、接着剤または粘着剤の剥離力を弱粘着と呼ばれる領域に制御するために、接着剤または粘着剤の可撓性フイルムへの投錨性を制御する方法として、接着剤または粘着剤の厚みを適性化することが比較的容易に行え、有効である。   In order to control the peeling force of the adhesive or pressure-sensitive adhesive in a region called weak pressure-sensitive adhesive, the flowability after crosslinking is reduced by increasing the molecular weight of one or both of the main agent and curing agent of the adhesive or pressure-sensitive adhesive. In addition, it is possible to control the anchoring property of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive to the flexible film. On the other hand, in order to improve the heat resistance of the adhesive or pressure-sensitive adhesive, it is preferable to increase the molecular weight of one or both of the main agent and the curing agent of the adhesive or pressure-sensitive adhesive. In addition, in order to control the peeling force of the adhesive or pressure-sensitive adhesive in a region called weak pressure-sensitive adhesive, the number of functional groups introduced into the molecular chain of the main agent of the adhesive or pressure-sensitive adhesive is increased to increase the number of crosslinking sites with the curing agent. This is also effective, and it is preferable that the peeling force can be adjusted by changing the mixing ratio of the main agent and the curing agent. In addition, in order to control the peeling force of the adhesive or pressure-sensitive adhesive in a region called weak pressure-sensitive adhesive, the thickness of the adhesive or pressure-sensitive adhesive is controlled as a method for controlling the anchoring property of the adhesive or pressure-sensitive adhesive to the flexible film. It is relatively easy to adapt and is effective.

剥離可能な有機物層の厚みは小さすぎると、均一性が低下する傾向があるため、0.1μm以上であることが好ましく、0.3μm以上であることがさらに好ましい。一方、剥離可能な有機物層の厚みが大きすぎると、可撓性フイルムへの投錨性が良くなるために剥離力が大きくなりすぎる傾向があるため、20μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがさらに好ましい。   If the thickness of the peelable organic layer is too small, the uniformity tends to decrease. Therefore, the thickness is preferably 0.1 μm or more, and more preferably 0.3 μm or more. On the other hand, if the thickness of the peelable organic material layer is too large, the anchoring property to the flexible film is improved and the peeling force tends to be too large. Therefore, the thickness is preferably 20 μm or less, and preferably 10 μm or less. More preferably.

その他、低温領域で剥離力が減少するもの、紫外線照射で剥離力が減少するものや加熱処理で剥離力が減少するものも好適に用いられる。これらの中でも紫外線硬化型有機物層は、剥離力の変化が大きく、また、紫外線の照射量を変更することで剥離力の制御が容易に行え、好ましい。   In addition, those in which the peeling force decreases in a low temperature region, those in which the peeling force decreases by ultraviolet irradiation, and those in which the peeling force decreases by heat treatment are also preferably used. Among these, an ultraviolet curable organic material layer is preferable because it has a large change in peeling force and can easily control the peeling force by changing the irradiation amount of ultraviolet rays.

紫外線硬化型有機物層は、紫外線を照射することによって硬化を進め、剥離力が低下するものである。このような紫外線硬化型有機物の例としては、アクリル系またはウレタン系の紫外線硬化型再剥離粘着剤と呼ばれる粘着剤を挙げることができる。また、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤を混合する架橋型と呼ばれるものが、剥離力の発現が速いため生産性に優れ、好ましい。   The ultraviolet curable organic material layer is cured by irradiating with ultraviolet rays, and the peeling force decreases. As an example of such an ultraviolet curable organic material, an adhesive called an acrylic or urethane ultraviolet curable re-peeling adhesive can be mentioned. Moreover, what is called a bridge | crosslinking type which mixes the main ingredient of an adhesive agent or an adhesive, and a hardening | curing agent is excellent in productivity, and is preferable from a rapid expression of peeling force.

本発明において剥離可能な有機物層を介して貼り合わされた補強板と可撓性フイルムとの剥離力は、可撓性フイルムの周縁部では49N/mを超え、490N/m以下の範囲内にあり、可撓性フイルムの周縁部より内側の範囲では0.098N/m以上、49N/m以下の範囲内にあることが重要である。可撓性フイルムを補強板から剥離するときの剥離力は、低すぎると回路パターン形成中に可撓性フイルムが紫外線硬化型有機物層から剥離するおそれがある。一方、剥離力が高すぎると、回路パターン形成後、補強板から剥離する際に可撓性フイルムが変形したり、破断するおそれがある。   In the present invention, the peeling force between the reinforcing plate bonded through the peelable organic material layer and the flexible film is in the range of more than 49 N / m and less than 490 N / m at the peripheral edge of the flexible film. In the range inside the peripheral edge of the flexible film, it is important that the range is 0.098 N / m or more and 49 N / m or less. If the peeling force when peeling the flexible film from the reinforcing plate is too low, the flexible film may peel from the ultraviolet curable organic layer during circuit pattern formation. On the other hand, if the peeling force is too high, the flexible film may be deformed or broken when it is peeled from the reinforcing plate after the circuit pattern is formed.

本発明において可撓性フイルムの周縁部より内側の範囲に紫外線を照射する工程は、補強板と可撓性フイルムを貼り合わせた後で、回路パターンを形成する工程の前が好ましい。紫外線硬化型有機物層は、紫外線照射前では耐水性や耐熱性が不十分であることが多く、回路パターン形成工程にウエット工程や加熱工程がある場合、膨潤や発泡などの不具合を起こすことが多く、位置精度の確保ができなくなったり、平坦性が損なわれたりするからである。   In the present invention, the step of irradiating ultraviolet rays to the inner side of the peripheral portion of the flexible film is preferably before the step of forming the circuit pattern after the reinforcing plate and the flexible film are bonded together. UV curable organic layers often have insufficient water resistance and heat resistance before UV irradiation, and often cause problems such as swelling and foaming when there is a wet or heating process in the circuit pattern formation process. This is because the positional accuracy cannot be ensured or the flatness is impaired.

ここで、ウエット工程とは、レジスト現像工程、メッキ工程、エッチング工程あるいは洗浄工程などである。ウエット工程前に紫外線を照射することにより、湿式プロセスで紫外線硬化型有機物層が吸水することによる膨潤と膨潤による剥離力の低下や寸法変化を抑制することができる。   Here, the wet process is a resist development process, a plating process, an etching process, a cleaning process, or the like. By irradiating with ultraviolet rays before the wet process, swelling due to the absorption of water by the ultraviolet curable organic layer in a wet process, and a reduction in peeling force and dimensional change due to swelling can be suppressed.

また、加熱工程とは、フォトレジストベーク、ソルダーレジストベークなどである。紫外線を照射する工程は加熱工程前であることが好ましい。加熱工程前に紫外線を照射することにより、加熱工程で紫外線硬化型有機物層の紫外線反応部位が破壊されて、紫外線硬化型有機物層が発泡あるいは変質して平坦性が失われたり、可撓性フイルムを剥離し難くなることを防ぐことができる。   The heating process is a photoresist baking, a solder resist baking or the like. The step of irradiating with ultraviolet rays is preferably before the heating step. By irradiating ultraviolet rays before the heating process, the ultraviolet reaction site of the ultraviolet curable organic layer is destroyed in the heating process, and the ultraviolet curable organic layer is foamed or deteriorated and the flatness is lost. Can be prevented from becoming difficult to peel off.

剥離可能な有機物層の厚みは小さすぎると、均一性が低下する傾向があるため、0.1μm以上であることが好ましく、0.3μm以上であることがさらに好ましい。一方、剥離可能な有機物層の厚みが大きすぎると、可撓性フイルムへの投錨性が良くなるために剥離力が大きくなりすぎる傾向があるため、20μm以下であることが好ましく、10μm以下であることがさらに好ましい。   If the thickness of the peelable organic layer is too small, the uniformity tends to decrease. Therefore, the thickness is preferably 0.1 μm or more, and more preferably 0.3 μm or more. On the other hand, if the thickness of the peelable organic material layer is too large, the anchoring property to the flexible film is improved, so that the peel force tends to be too large. More preferably.

本発明において可撓性フイルムの周縁部は可撓性フイルムの端から内側へ30mm未満の範囲であることが好ましい。可撓性フイルムの周縁部は回路パターンの加工中に可撓性フイルムの端部が剥離可能な有機物層から剥離することによるパターン形成不良や搬送不良の発生を無くすために、可撓性フイルムの周縁部より内側の範囲に比べて剥離力が大きい。周縁部の剥離力が大きいと、可撓性フイルムの周縁部に高精度の回路パターンを形成しても、可撓性フイルムを補強板から剥離する過程で回路パターンの精度が損なわれる。また、好ましくは、回路パターン形成してから可撓性フイルムを剥離するまでの間に、可撓性フイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層へ500mJ/cm以上の紫外線を照射する。この方法によれば、周縁部においても剥離力が小さくでき、補強板から可撓性フイルムを剥離する課程での回路パターンの歪みを抑制し、高精度の回路パターンを得ることができる。剥離前に紫外線を照射しない場合、可撓性フイルムの周縁部が可撓性フイルムの端から内側へ30mm以上の範囲になると1枚の可撓性フイルムから作製できる回路パターンの数量が少なくなり製品単価が上昇する。可撓性フイルムからより多くの回路パターンを作製するためには、可撓性フイルムの周縁部が可撓性フイルムの端から内側へ15mm未満の範囲であることがより好ましい。一方、可撓性フイルムの周縁部が可撓性フイルムの端から内側へ5mm未満の範囲になると、アクアナイフ、エアーナイフあるいはジグへの取り付け等の特定の工程で可撓性フイルムの端部に可撓性フイルムと有機物層を引き剥がそうとする力が加わったときに、剥離を防ぐために充分な剥離力が得られず、可撓性フイルムの端部が有機物層から剥離して、パターン形成不良や搬送不良の原因となる。 剥離の界面は、補強板と剥離可能な有機物層との界面でも剥離可能な有機物層と可撓性フイルムとの界面でもどちらでも良いが、可撓性フイルムから剥離可能な有機物層を除去する工程が省略できるので、剥離可能な有機物層と可撓性フイルムとの界面で剥離する方が好ましい。 In the present invention, the peripheral edge of the flexible film is preferably in the range of less than 30 mm inward from the end of the flexible film. In order to eliminate the occurrence of pattern formation failure or conveyance failure due to peeling of the edge of the flexible film from the peelable organic material layer during the processing of the circuit pattern, The peel force is greater than the range inside the peripheral edge. If the peeling force at the peripheral edge is large, even if a highly accurate circuit pattern is formed on the peripheral edge of the flexible film, the accuracy of the circuit pattern is impaired in the process of peeling the flexible film from the reinforcing plate. Preferably, the ultraviolet curable organic layer formed on the peripheral edge of the flexible film is irradiated with ultraviolet rays of 500 mJ / cm 2 or more between the formation of the circuit pattern and the peeling of the flexible film. . According to this method, the peeling force can be reduced even at the peripheral portion, and distortion of the circuit pattern in the process of peeling the flexible film from the reinforcing plate can be suppressed, and a highly accurate circuit pattern can be obtained. When UV light is not irradiated before peeling, the number of circuit patterns that can be produced from one flexible film is reduced when the peripheral edge of the flexible film is in the range of 30 mm or more from the end of the flexible film to the inside. Unit price rises. In order to produce more circuit patterns from the flexible film, it is more preferable that the peripheral edge of the flexible film is in the range of less than 15 mm inward from the end of the flexible film. On the other hand, when the peripheral edge of the flexible film is less than 5 mm inward from the end of the flexible film, it is applied to the end of the flexible film by a specific process such as attachment to an aqua knife, air knife or jig. When a force to peel off the flexible film and the organic layer is applied, a sufficient peeling force cannot be obtained to prevent peeling, and the end of the flexible film is peeled off from the organic layer to form a pattern. This may cause defects and poor conveyance. The peeling interface may be either the interface between the reinforcing plate and the peelable organic layer or the peelable organic layer and the flexible film, but the step of removing the peelable organic layer from the flexible film Therefore, it is preferable to peel off at the interface between the peelable organic layer and the flexible film.

補強板と剥離可能な有機物層との剥離力を向上させるために、補強板にシランカップリング剤塗布などのプライマー処理を行っても良い。プライマー処理以外に紫外線処理、紫外線オゾン処理などによる洗浄や、ケミカルエッチング処理、サンドブラスト処理あるいは微粒子分散層形成などの表面粗化処理なども好適に用いられる。   In order to improve the peeling force between the reinforcing plate and the peelable organic layer, the reinforcing plate may be subjected to a primer treatment such as application of a silane coupling agent. In addition to the primer treatment, cleaning by ultraviolet treatment, ultraviolet ozone treatment, etc., surface roughening treatment such as chemical etching treatment, sand blast treatment or fine particle dispersion layer formation is also preferably used.

本発明において回路パターン形成中に可撓性フイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層へ照射する紫外線量は500mJ/cm未満であることが重要である。回路パターン形成中に可撓性フイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層へ紫外線を照射すると、回路パターンの加工中に可撓性フイルムの端部が有機物層から剥離することによるパターン形成不良や搬送不良が発生するため、回路パターン形成中に可撓性フイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層へ照射する紫外線量は100mJ/cm未満であることがより好ましい。 In the present invention, it is important that the amount of ultraviolet rays applied to the ultraviolet curable organic layer formed on the peripheral edge of the flexible film during circuit pattern formation is less than 500 mJ / cm 2 . Pattern formation by irradiating the UV curable organic layer formed on the peripheral edge of the flexible film during circuit pattern formation by peeling the end of the flexible film from the organic layer during processing of the circuit pattern Since defects and conveyance failures occur, it is more preferable that the amount of ultraviolet rays irradiated to the ultraviolet curable organic layer formed on the peripheral portion of the flexible film during circuit pattern formation is less than 100 mJ / cm 2 .

本発明において回路パターン形成してから可撓性フイルムを剥離するまでの間に、可撓性フイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層へ紫外線を照射すると、可撓性フイルムの周縁部の剥離力を低下できるため、剥離後の可撓性フイルムの変形量を抑えることができ好ましい。   In the present invention, when the ultraviolet ray curable organic layer formed on the peripheral portion of the flexible film is irradiated with ultraviolet rays after the circuit pattern is formed until the flexible film is peeled off, the peripheral portion of the flexible film Therefore, the amount of deformation of the flexible film after peeling can be suppressed, which is preferable.

本発明の態様の一つである、請求項4に記載された可撓性フイルムの四隅部について図2を用いて説明する。符号301は可撓性フイルムである。可撓性フイルムの4辺の端から内側へ30mm未満の範囲を周縁部302とすると、可撓性フイルムの4つの各頂点から50mm未満の部分とは、各頂点を中心としたとき、半径50mm未満の円の4分の1部分であり、周縁部よりも内側にある部分と重複する部分は符号304で示される部分である。すなわち、可撓性フイルムの4つの各頂点から50mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部は符号305で示される部分である。また符号305で示される四隅部における可撓性フイルムと補強板の剥離力が49N/mを超え490N/m以下である。可撓性フイルムを補強板から剥離するときの剥離力は、低すぎると回路パターン形成中に可撓性フイルムが補強板から剥離するおそれがある。一方、剥離力が高すぎると、回路パターン形成後、補強板から剥離する際に可撓性フイルムが変形したり、破断するおそれがある。   The four corners of the flexible film according to claim 4, which is one aspect of the present invention, will be described with reference to FIG. Reference numeral 301 denotes a flexible film. If a range of less than 30 mm inward from the ends of the four sides of the flexible film is defined as the peripheral edge portion 302, a portion less than 50 mm from each of the four vertices of the flexible film has a radius of 50 mm when each vertex is the center. A portion that is a quarter of the circle less than the portion that overlaps with a portion inside the peripheral portion is a portion denoted by reference numeral 304. That is, the four corners, which are portions less than 50 mm from each of the four apexes of the flexible film, excluding the portion overlapping with the portion inside the peripheral portion, are portions indicated by reference numeral 305. . Further, the peeling force between the flexible film and the reinforcing plate at the four corners indicated by reference numeral 305 is more than 49 N / m and not more than 490 N / m. If the peeling force when peeling the flexible film from the reinforcing plate is too low, the flexible film may peel from the reinforcing plate during circuit pattern formation. On the other hand, if the peeling force is too high, the flexible film may be deformed or broken when it is peeled from the reinforcing plate after the circuit pattern is formed.

符号305の可撓性フイルムの四隅部は、補強板に貼り合わされた可撓性フイルムの中でも特に剥離発生の起点になりやすく、この部分の剥離力を大きくすることが回路パターン形成中に可撓性フイルムが補強板から剥離する不良を軽減できるので、製品収率向上の効果が大きい。剥離力が大きな部分を四隅に限定することによって、補強板から可撓性フイルムを剥離する際の可撓性フイルムの歪み発生範囲を小さくできる。また、紫外線照射量の差によって剥離力の変更を行う場合、可撓性フイルムの周縁部を全て遮光するのに比べ、可撓性フイルムの四隅部のみを遮光する方が装置を簡略化できる。   The four corners of the flexible film denoted by reference numeral 305 are particularly likely to be the starting point of occurrence of peeling among the flexible films bonded to the reinforcing plate, and increasing the peeling force of this part is flexible during circuit pattern formation. Since the defect that the adhesive film peels off from the reinforcing plate can be reduced, the effect of improving the product yield is great. By limiting the portions having a large peeling force to the four corners, the strain generation range of the flexible film when peeling the flexible film from the reinforcing plate can be reduced. Further, when the peeling force is changed depending on the difference in the amount of ultraviolet irradiation, the apparatus can be simplified by shielding only the four corners of the flexible film as compared with shielding the entire peripheral edge of the flexible film.

可撓性フイルムから多くの回路パターンを作製するためには、前記周縁部は、可撓性フイルムの4辺の端から内側へ15mm未満の範囲であることがより好ましい。また剥離後の可撓性フイルムの変形量を抑えるためには、周縁部は可撓性フイルムの4辺の端から内側へ15mm未満の部分で、4分の1円を構成する部分は、可撓性フイルムの4つの各頂点から20mm未満の部分で、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分を使用することがさらに好ましい。可撓性フイルムの4つの各頂点から内側へ5mm未満の部分は、アクアナイフ、エアーナイフあるいはジグへの取り付け等の特定の工程で可撓性フイルムと有機物層を引き剥がそうとする力が加わったときに、可撓性フイルムの四隅部が有機物層から剥離して、パターン形成不良や搬送不良の原因となる場合がある。   In order to produce many circuit patterns from a flexible film, it is more preferable that the peripheral edge is within a range of less than 15 mm inward from the ends of the four sides of the flexible film. In addition, in order to suppress the deformation amount of the flexible film after peeling, the peripheral part is a part that is less than 15 mm inward from the end of the four sides of the flexible film, and the part constituting the quarter circle is acceptable. It is more preferable to use a portion of the flexible film that is less than 20 mm from each of the four vertices except for a portion that overlaps a portion on the inner side of the peripheral edge. The portion of the flexible film that is less than 5 mm inward from each of the four apexes is subjected to a force to peel off the flexible film and the organic layer in a specific process such as attachment to an aqua knife, air knife, or jig. In some cases, the four corners of the flexible film may peel off from the organic layer, resulting in pattern formation failure or conveyance failure.

また本発明では、前記四隅部以外の可撓性フイルムと補強板との剥離力が0.098N/m以上49N/m以下である。図2の符号303が四隅部以外の可撓性フイルムに該当する。四隅部以外の可撓性フイルムの剥離力は充分に低いため、可撓性フイルムを補強板から剥離する過程で回路パターンの精度が損なわれることが無く、高精度の回路パターンを形成できる。可撓性フイルムと補強板との剥離力が0.098N/m未満の場合、剥離力が低いため工程中で気泡が発生し易くなり、外観不良や精度不良の原因となる。一方、可撓性フイルムと補強板との剥離力が49N/mを越える場合、回路パターン形成後、補強板から剥離する際に可撓性フイルムが変形したり、破断するおそれがある。   In the present invention, the peel force between the flexible film other than the four corners and the reinforcing plate is 0.098 N / m or more and 49 N / m or less. Reference numeral 303 in FIG. 2 corresponds to a flexible film other than the four corners. Since the peeling force of the flexible film other than the four corners is sufficiently low, the accuracy of the circuit pattern is not impaired in the process of peeling the flexible film from the reinforcing plate, and a highly accurate circuit pattern can be formed. When the peeling force between the flexible film and the reinforcing plate is less than 0.098 N / m, the peeling force is low, and bubbles are likely to be generated in the process, which causes poor appearance and poor accuracy. On the other hand, when the peeling force between the flexible film and the reinforcing plate exceeds 49 N / m, the flexible film may be deformed or broken when it is peeled from the reinforcing plate after the circuit pattern is formed.

本発明において回路パターン形成中に可撓性フイルムの四隅部に形成された紫外線硬化型有機物層へ照射する紫外線量は500mJ/cm未満である。回路パターン形成中に可撓性フイルムの四隅部に形成された紫外線硬化型有機物層へ紫外線を照射すると、回路パターンの加工中に可撓性フイルムの端部が有機物層から剥離することによるパターン形成不良や搬送不良が発生するため、回路パターン形成中に可撓性フイルムの四隅部に形成された紫外線硬化型有機物層へ照射する紫外線量は100mJ/cm未満であることがより好ましい。 In the present invention, the amount of ultraviolet rays irradiated to the ultraviolet curable organic layer formed at the four corners of the flexible film during circuit pattern formation is less than 500 mJ / cm 2 . Pattern formation by radiating ultraviolet rays to the UV curable organic layer formed at the four corners of the flexible film during circuit pattern formation, so that the edge of the flexible film peels off from the organic layer during processing of the circuit pattern Since defects and conveyance failures occur, it is more preferable that the amount of ultraviolet rays irradiated to the ultraviolet curable organic layer formed at the four corners of the flexible film during circuit pattern formation is less than 100 mJ / cm 2 .

本発明に使用する紫外線硬化型有機物層は、可撓性フイルム加工中は十分な剥離力があり、剥離時は容易に剥離でき、可撓性フイルム基板に歪みを生じさせないために、硬化後の剥離力が弱粘着領域であることが好ましい。   The UV curable organic layer used in the present invention has a sufficient peeling force during the flexible film processing, can be easily peeled off at the time of peeling, and does not cause distortion in the flexible film substrate. It is preferable that the peeling force is a weakly adhesive region.

紫外線硬化型有機物層の剥離力を弱粘着領域に制御するためには、紫外線硬化型有機物として用いる接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤の一方あるいは両方を高分子量化することにより、架橋後の流動性を小さくし、接着剤または粘着剤の可撓性フイルムへの投錨性を制御することが有効である。耐熱性を向上するためにも、接着剤または粘着剤の主剤と硬化剤の一方あるいは両方を高分子量化することが好ましい。また、主剤の分子鎖に導入する官能基数を増やすことにより硬化剤との架橋部位を増やすことも有効である。さらに、主剤と硬化剤の混合比を変えることで、剥離力を調整することもできる。また、紫外線硬化型有機物層の剥離力を弱粘着領域に制御するために、可撓性フイルムへの投錨性を制御する方法として、接着剤または粘着剤の厚みを適性化する方法は容易に行え、有効な方法である。   In order to control the peeling force of the UV curable organic material layer in the weakly adhesive region, by increasing the molecular weight of one or both of the main agent and the curing agent of the adhesive or pressure sensitive adhesive used as the UV curable organic material, It is effective to reduce the fluidity and control the anchoring property of the adhesive or the pressure-sensitive adhesive to the flexible film. In order to improve heat resistance, it is preferable to increase the molecular weight of one or both of the main agent and the curing agent of the adhesive or pressure-sensitive adhesive. It is also effective to increase the number of crosslinking sites with the curing agent by increasing the number of functional groups introduced into the molecular chain of the main agent. Furthermore, the peeling force can be adjusted by changing the mixing ratio of the main agent and the curing agent. In addition, in order to control the peeling force of the ultraviolet curable organic material layer to a weakly adhesive region, as a method for controlling the anchoring property to the flexible film, a method for optimizing the thickness of the adhesive or the adhesive can be easily performed. It is an effective method.

本発明に使用する可撓性フイルムには、補強板との貼り付けに先立って、貼り付け面である一方の面に回路パターンが形成されていても良い。この場合、該パターン形成と同時に、もう一方の面に形成される回路パターンとの位置合わせ用マークを形成することが好ましい。貼り合わせ面とは反対側の面に形成する高精細パターンの高精細さを活かすために位置合わせマークを設けて位置合わせすることは高精細パターンの作製に非常に有効である。位置合わせマーク読みとり方法は特に限定されず、例えば、光学的な方法、電気的な方法等を用いることができる。位置合わせマークは、可撓性フイルムを補強板と貼り合わせる際の位置合わせにも利用することができる。位置合わせマークの形状は特に限定されず、露光機などで一般に使用される形状が好適に採用できる。   In the flexible film used in the present invention, a circuit pattern may be formed on one surface which is a pasting surface prior to pasting with the reinforcing plate. In this case, it is preferable to form an alignment mark with the circuit pattern formed on the other surface simultaneously with the pattern formation. In order to make use of the high definition of the high definition pattern formed on the surface opposite to the bonding surface, it is very effective for the production of the high definition pattern to provide the alignment mark. The alignment mark reading method is not particularly limited, and for example, an optical method, an electrical method, or the like can be used. The alignment mark can also be used for alignment when the flexible film is bonded to the reinforcing plate. The shape of the alignment mark is not particularly limited, and a shape generally used in an exposure machine or the like can be suitably used.

可撓性フイルムを補強板に貼り付けた後に、可撓性フイルムの該貼り付け面とは反対面に形成される回路パターンは、補強板及び金属層により加工時に生じる可撓性フイルムの変形を防止できるため、特に高精度なパターンを形成することができる。   After the flexible film is attached to the reinforcing plate, the circuit pattern formed on the surface opposite to the attaching surface of the flexible film is not deformed by the reinforcing plate and the metal layer during processing. In particular, a highly accurate pattern can be formed.

本発明によれば、このように、片面に特に高精細なパターンを形成した両面配線の回路基板を容易に提供できる。両面配線であることのメリットとしては、スルーホールを介しての配線交差ができ、配線設計の自由度が増すこと、太い配線で接地電位を必要な場所の近傍まで伝搬することで高速動作するLSIのノイズ低減ができること、同様に太い配線で電源電位を必要な場所の近傍まで伝搬することにより、高速スイッチングでも電位の低下を防ぎ、LSIの動作を安定化できること、電磁波シールドとして外部ノイズを遮断することなどが挙げられ、LSIが高速化し、また、多機能化による多ピン化が進む中で非常に重要である。   According to the present invention, it is possible to easily provide a circuit board with double-sided wiring in which a particularly fine pattern is formed on one side. Advantages of using double-sided wiring include crossover through through-holes, increasing the degree of freedom in wiring design, and LSI that operates at high speed by propagating the ground potential to the vicinity of the required location with thick wiring In addition, the power supply potential can be propagated to the vicinity of the necessary location with thick wiring as well, so that the potential drop can be prevented even at high-speed switching, the operation of the LSI can be stabilized, and external noise can be blocked as an electromagnetic wave shield. This is very important as the LSI speeds up and the number of pins is increased due to the increased functionality.

さらに本発明では、可撓性フイルムの両面の加工時に共に補強板を使用し、両面とも特に高精度なパターンを形成することも可能である。例えば、第1の補強板と可撓性フイルムの第2の面とを剥離可能な有機物層もしくは紫外線硬化型有機物層を介して貼り合わせて、可撓性フイルムの第1の面に回路パターンを形成してから、第1の面と第2の補強板とを剥離可能な有機物層もしくは紫外線硬化型有機物層を介して貼り合わせた後、可撓性フイルムを第1の補強板から剥離し、次いで可撓性フイルムの第2の面に回路パターンを形成してから、可撓性フイルムを第2の補強板から剥離する方法が挙げられ、両面共に高精度の回路パターン加工を実現することができる。   Furthermore, in the present invention, it is possible to use a reinforcing plate when processing both sides of the flexible film, and to form a pattern with particularly high precision on both sides. For example, the first reinforcing plate and the second surface of the flexible film are bonded together via a peelable organic material layer or an ultraviolet curable organic material layer, and the circuit pattern is applied to the first surface of the flexible film. After forming, the first surface and the second reinforcing plate are bonded together through an organic layer or a UV curable organic layer that can be peeled off, and then the flexible film is peeled from the first reinforcing plate, Next, there is a method in which a circuit pattern is formed on the second surface of the flexible film, and then the flexible film is peeled off from the second reinforcing plate. it can.

本発明の回路基板の製造方法の一例を以下に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   An example of the method for producing a circuit board of the present invention will be described below, but the present invention is not limited to this.

厚さ1.1mmのソーダライムガラスにスピンコーター、ブレードコーター、ロールコーター、バーコーター、ダイコーター、スクリーン印刷機などで、シランカップリング剤を塗布する。間欠的に送られてくる枚葉基板に比較的低粘度のシランカップリング剤の薄膜を均一に塗布するためには、スピンコーターの使用が好ましい。シランカップリング剤塗布後、加熱乾燥や真空乾燥などにより乾燥し、厚みが20nmのシランカップリング剤層を得る。   A silane coupling agent is applied to soda lime glass having a thickness of 1.1 mm using a spin coater, blade coater, roll coater, bar coater, die coater, screen printer or the like. In order to uniformly apply a thin film of a silane coupling agent having a relatively low viscosity to a single substrate that is intermittently sent, it is preferable to use a spin coater. After application of the silane coupling agent, drying is performed by heat drying or vacuum drying to obtain a silane coupling agent layer having a thickness of 20 nm.

次に上記シランカップリング剤層上に、スピンコーター、ブレードコーター、ロールコーター、バーコーター、ダイコーター、スクリーン印刷機などで、紫外線硬化型再剥離粘着剤を塗布する。間欠的に送られてくる枚葉基板に比較的粘度が高い粘着剤を均一に塗布するためには、ダイコーターの使用が好ましい。紫外線硬化型再剥離粘着剤を塗布後、加熱乾燥や真空乾燥などにより乾燥し、厚みが3μmの紫外線硬化型有機物層を得る。この紫外線硬化型有機物層に、ポリエステルフイルム上にシリコーン樹脂層を設けた空気遮断用フイルムを貼り付けて1週間熟成させる。空気遮断用フイルムを貼り合わせる代わりに、窒素雰囲気中や真空中で保管することもできる。また、紫外線硬化型有機物層を長尺フイルム基体に塗布、乾燥後、枚葉基板に転写することも可能である。   Next, an ultraviolet curable re-peeling adhesive is applied on the silane coupling agent layer with a spin coater, blade coater, roll coater, bar coater, die coater, screen printer or the like. The use of a die coater is preferable in order to uniformly apply a relatively high-viscosity adhesive to the intermittently fed single wafer substrate. After applying the UV curable re-peeling adhesive, it is dried by heat drying or vacuum drying to obtain an UV curable organic layer having a thickness of 3 μm. An air blocking film in which a silicone resin layer is provided on a polyester film is affixed to this ultraviolet curable organic material layer and aged for one week. Instead of laminating an air blocking film, it can be stored in a nitrogen atmosphere or in a vacuum. It is also possible to apply an ultraviolet curable organic layer to a long film substrate, dry it, and then transfer it to a single wafer substrate.

本発明において、紫外線硬化型有機物層は、最初に可撓性フイルム側に形成されていても良いし、補強板側に形成されていても良く、両方に形成されていても良い。形成の容易さや剥離界面を可撓性フイルムと紫外線硬化型有機物層となるよう制御するためには、補強板側に形成されるのが好ましい。   In the present invention, the ultraviolet curable organic layer may be initially formed on the flexible film side, may be formed on the reinforcing plate side, or may be formed on both. In order to control the ease of formation and the peeling interface to be a flexible film and an ultraviolet curable organic material layer, it is preferably formed on the reinforcing plate side.

次に、枚葉方式によるフイルム回路基板用部材の製造方法について説明する。枚葉方式とは、TABやCOFの製造で一般的なスリットされたリール搬送によるリール・ツー・リール方式ではなく、フイルム回路基板をシート状の基板で作製する方法である。まず、可撓性フイルム基板である厚さ25μmのプラスチックフイルムを準備する。ガラス基板上の空気遮断用フイルムを剥がして、プラスチックフイルムをガラス基板に貼り合わせる。前述のように、プラスチックフイルムの片面または両面に金属層(貼り合わせ面においては回路パターンであってもよい)があらかじめ形成されていても良い。プラスチックフイルムをあらかじめ所定の大きさのカットシートにしておいて貼り付けても良いし、長尺ロールから巻きだしながら、貼り付けと切断をしてもよい。このような貼り付け作業には、可撓面状体の面にプラスチックフイルムを保持してから、ガラス基板に押圧することで、低応力、高精度にプラスチックフイルムをガラス基板側にラミネートする方法が好適に採用できる。上記の方法に用いられるラミネート装置について図1を用いて説明する。   Next, the manufacturing method of the film circuit board member by a single wafer system is demonstrated. The single-wafer method is not a reel-to-reel method using slit reel conveyance, which is common in the manufacture of TAB and COF, but a method of producing a film circuit board with a sheet-like substrate. First, a plastic film having a thickness of 25 μm, which is a flexible film substrate, is prepared. The air blocking film on the glass substrate is peeled off, and the plastic film is bonded to the glass substrate. As described above, a metal layer (which may be a circuit pattern on the bonding surface) may be formed in advance on one side or both sides of the plastic film. The plastic film may be pasted in a cut sheet having a predetermined size, or may be pasted and cut while being unwound from a long roll. For such a pasting operation, there is a method of laminating the plastic film on the glass substrate side with low stress and high accuracy by holding the plastic film on the surface of the flexible planar body and then pressing it on the glass substrate. It can be suitably employed. A laminating apparatus used in the above method will be described with reference to FIG.

符号200はラミネート装置の概略正面図である。静電気帯電装置201で可撓性面状体202を帯電させ、プラスチックフイルム203を吸着させる。可撓性面状体202には可撓性の織物や薄膜状物が採用でき、枠体204に固定されている。また、静電気帯電装置201は基台205上の支柱206に支持されており、上下動機構(図示しない)によって、支柱206は、図1の左右に移動する枠体204や載置台207と静電気帯電装置201が干渉しないように動く。次に、剥離可能な有機物層208が塗布されたガラス基板209を真空吸着等で載置台207に保持する。スキージ210でプラスチックフイルム203を可撓性面状体202ごと剥離可能な有機物層208に押しつけ、プラスチックフイルム203をガラス基板209側に移し取る。スキージ210はスキージ保持体211に保持されており、移動や上下動が可能である。載置台207は、レール212、ガイド213、ナット214、ブラケット215、ボールねじ217、モーター218によって図の左右に移動できる。   Reference numeral 200 is a schematic front view of the laminating apparatus. The flexible sheet 202 is charged by the electrostatic charging device 201 to adsorb the plastic film 203. A flexible fabric or thin film can be used for the flexible planar body 202 and is fixed to the frame body 204. Further, the electrostatic charging device 201 is supported by a support 206 on the base 205, and the support 206 is electrostatically charged with the frame body 204 and the mounting table 207 that move to the left and right in FIG. The device 201 moves so as not to interfere. Next, the glass substrate 209 coated with the peelable organic layer 208 is held on the mounting table 207 by vacuum suction or the like. The plastic film 203 is pressed against the peelable organic material layer 208 together with the flexible planar body 202 with the squeegee 210, and the plastic film 203 is transferred to the glass substrate 209 side. The squeegee 210 is held by a squeegee holder 211 and can be moved and moved up and down. The mounting table 207 can be moved to the left and right in the figure by a rail 212, a guide 213, a nut 214, a bracket 215, a ball screw 217, and a motor 218.

ポリイミドフイルムをガラス基板に貼り付けた後、ポリイミドフイルムの周縁部に形成された紫外線硬化型有機物層を遮光した状態で、ポリイミドフイルムの周縁部より内側の紫外線硬化型有機物層に紫外線を照射して架橋を進行させる。   After the polyimide film is attached to the glass substrate, the ultraviolet curable organic layer inside the peripheral portion of the polyimide film is irradiated with ultraviolet rays while the ultraviolet curable organic layer formed on the peripheral portion of the polyimide film is shielded from light. Cross-linking proceeds.

ポリイミドフイルムの貼り合わせ面とは反対側の面にあらかじめ金属層が設けられていない場合は、フルアディティブ法やセミアディティブ法で金属層を形成することができる。   When the metal layer is not provided in advance on the surface opposite to the bonding surface of the polyimide film, the metal layer can be formed by a full additive method or a semi-additive method.

フルアディティブ法は、例えば、以下のようなプロセスである。金属層を形成する面にパラジウム、ニッケルやクロムなどの触媒付与処理をし、乾燥する。ここで言う触媒とは、そのままではメッキ成長の核としては働かないが、活性化処理をすることでメッキ成長の核となるものである。次いでフォトレジストをスピンコーター、ブレードコーター、ロールコーター、バーコーター、ダイコーター、スクリーン印刷機などで塗布して、乾燥する。該フォトレジストを所定パターンのフォトマスクを介して露光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレジスト層を形成する。この後、触媒の活性化処理をしてから、硫酸銅とホルムアルデヒドの組合せからなる無電解メッキ液に、該ポリイミドフイルムを浸漬し、厚さ2μmから20μmの銅メッキ膜を形成して、回路パターンを得る。   The full additive method is, for example, the following process. The surface on which the metal layer is to be formed is treated with a catalyst such as palladium, nickel or chromium and dried. The catalyst referred to here does not act as a nucleus for plating growth as it is, but it becomes a nucleus for plating growth by activation treatment. Next, the photoresist is applied by a spin coater, a blade coater, a roll coater, a bar coater, a die coater, a screen printer or the like, and dried. The photoresist is exposed and developed through a photomask having a predetermined pattern to form a resist layer in a portion where a plating film is unnecessary. Thereafter, after activating the catalyst, the polyimide film is immersed in an electroless plating solution composed of a combination of copper sulfate and formaldehyde to form a copper plating film having a thickness of 2 μm to 20 μm. Get.

セミアディティブ法は、例えば、以下のようなプロセスである。金属層を形成する面に、クロム、ニッケル、銅またはこれらの合金をスパッタリングし、下地層を形成する。下地層の厚みは、通常、1nmから1000nmの範囲である。下地層の上に銅スパッタ膜をさらに50nmから3000nm積層することは、後に続く電解メッキのために十分な導通を確保したり、金属層の接着力向上やピンホール欠陥防止に効果があり好ましい。下地層形成に先立ち、ポリイミドフイルム表面に接着力向上のために、プラズマ処理、逆スパッタ処理、プライマー層塗布、接着剤層塗布が行われることは、適宜用いられる。中でもエポキシ樹脂系、アクリル樹脂系、ポリアミド樹脂系、ポリイミド樹脂系、NBR系などの接着剤層塗布は接着力改善効果が大きく好ましい。これらの処理や塗布は、ガラス基板貼り付け前に実施されても良いし、ガラス基板貼り付け後に実施されても良い。ガラス基板貼り付け前に、長尺のポリイミドフイルムに対してロールツーロールで連続処理されることは、生産性向上が図れ、好ましい。このようにして形成した下地層上に、フォトレジストをスピンコーター、ブレードコーター、ロールコーター、ダイコーター、スクリーン印刷機などで塗布して、乾燥する。該フォトレジストを所定パターンのフォトマスクを介して露光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレジスト層を形成する。次いで該下地層を電極として電解メッキをおこなう。電解メッキ液としては、硫酸銅メッキ液、シアン化銅メッキ液、ピロ燐酸銅メッキ液などが用いられる。厚さ2μmから20μmの銅メッキ膜を形成後、フォトレジストを剥離し、続いてスライトエッチングにて下地層を除去して、さらに必要に応じて金、ニッケル、錫などのメッキを施し、回路パターンを得る。   The semi-additive method is, for example, the following process. On the surface on which the metal layer is to be formed, chromium, nickel, copper or an alloy thereof is sputtered to form an underlayer. The thickness of the underlayer is usually in the range of 1 nm to 1000 nm. It is preferable to stack a copper sputtered film on the underlayer from 50 nm to 3000 nm in order to ensure sufficient conduction for subsequent electrolytic plating, improve the adhesion of the metal layer, and prevent pinhole defects. Prior to the formation of the underlayer, plasma treatment, reverse sputtering treatment, primer layer coating, and adhesive layer coating are suitably used to improve the adhesive strength on the polyimide film surface. Among them, the application of an adhesive layer such as epoxy resin, acrylic resin, polyamide resin, polyimide resin, and NBR is preferable because it has a great effect of improving the adhesive force. These treatments and application may be performed before the glass substrate is pasted, or may be performed after the glass substrate is pasted. It is preferable that continuous treatment with a roll-to-roll process is performed on a long polyimide film before pasting the glass substrate because productivity can be improved. A photoresist is applied onto the underlayer thus formed by a spin coater, blade coater, roll coater, die coater, screen printer, or the like and dried. The photoresist is exposed and developed through a photomask having a predetermined pattern to form a resist layer in a portion where a plating film is unnecessary. Next, electrolytic plating is performed using the underlying layer as an electrode. As the electrolytic plating solution, a copper sulfate plating solution, a copper cyanide plating solution, a copper pyrophosphate plating solution, or the like is used. After forming a copper plating film with a thickness of 2 μm to 20 μm, the photoresist is peeled off, and then the underlying layer is removed by a light etching, and further, plating with gold, nickel, tin, etc. is performed as necessary. Get.

上記ガラス基板上の空気遮断用フイルムを剥がして、回路パターンが形成された面を貼り合わせ面として、ポリイミドフイルムをガラス基板に貼り付けた後、上述のセミアディティブ法、フルアディティブ法、もしくはサブトラクティブ法で貼り合わせ面と反対側の面に高精細な回路パターンを形成する。   After the air blocking film on the glass substrate is peeled off, the surface on which the circuit pattern is formed is used as a bonding surface, and after the polyimide film is attached to the glass substrate, the above-described semi-additive method, full-additive method, or subtractive method is used. By using this method, a high-definition circuit pattern is formed on the surface opposite to the bonding surface.

なお、サブトラクティブ法とは、ポリイミドフイルムにベタの金属層が形成されている場合、フォトレジストとエッチング液を使って回路パターンを形成する方法であり、製造プロセスが短く、低コストである。   The subtractive method is a method of forming a circuit pattern using a photoresist and an etching solution when a solid metal layer is formed on a polyimide film, and the manufacturing process is short and the cost is low.

特に高精細な回路パターンを得るためには、セミアディティブ法、フルアディティブ法の採用が好ましい。   In particular, in order to obtain a high-definition circuit pattern, it is preferable to employ a semi-additive method or a full additive method.

さらに、ポリイミドフイルムに、接続孔を設けることができる。すなわち、ガラス基板との貼り合わせ面側に設けた金属層との電気的接続を取るビアホールを設けたり、ボールグッリドアレーのボール設置用の孔を設けたりすることができる。接続孔の設け方としては、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー、エキシマレーザーなどのレーザー孔開けやケミカルエッチングを採用することができる。レーザーエッチングを採用する場合は、エッチングストッパ層として、ポリイミドフイルムのガラス基板貼り付け面側に金属層があることが好ましい。   Furthermore, a connection hole can be provided in the polyimide film. That is, it is possible to provide a via hole for electrical connection with the metal layer provided on the bonding surface side with the glass substrate, or to provide a ball mounting hole for the ball grid array. As a method for providing the connection hole, laser drilling such as a carbon dioxide laser, YAG laser, or excimer laser, or chemical etching can be employed. In the case of employing laser etching, it is preferable that a metal layer is present on the glass film attachment surface side of the polyimide film as an etching stopper layer.

ポリイミドフイルムのケミカルエッチング液としては、ヒドラジン、水酸化カリウム水溶液などを採用することができる。また、ケミカルエッチング用マスクとしては、パターニングされたフォトレジストや金属層が採用できる。電気的接続を取る場合は、接続孔形成後、前述の金属層パターン形成と同時にメッキ法で孔内面を導体化することが好ましい。電気的接続をとるための接続孔は、直径が15μmから200μmが好ましい。ボール設置用の孔は、直径が80μmから800μmが好ましい。   As the chemical etching solution for the polyimide film, hydrazine, potassium hydroxide aqueous solution, or the like can be used. Further, a patterned photoresist or a metal layer can be employed as the chemical etching mask. When electrical connection is made, it is preferable that after the connection hole is formed, the inner surface of the hole is made into a conductor by plating at the same time as the metal layer pattern is formed. The diameter of the connection hole for electrical connection is preferably 15 μm to 200 μm. The hole for installing the ball preferably has a diameter of 80 μm to 800 μm.

接続孔を形成するタイミングは限定されないが、ポリイミドフイルムをガラス基板に貼り合わせた後、ポリイミドフイルムの貼り合わせ面の反対面から接続孔を形成することが好ましい。   Although the timing for forming the connection holes is not limited, it is preferable to form the connection holes from the opposite side of the polyimide film bonding surface after the polyimide film is bonded to the glass substrate.

必要に応じて、回路パターン上にソルダーレジスト膜を形成する。微細回路パターンに対しては感光性のソルダーレジストの採用が好ましい。スピンコーター、ブレードコーター、ロールコーター、バーコーター、ダイコーター、スクリーン印刷機などで回路パターン上に感光性ソルダーレジストを塗布し、乾燥させた後、所定のフォトマスクを介して紫外線露光をし、現像して、ソルダーレジストパターンを得る。次に100℃から200℃でキュアをする。   If necessary, a solder resist film is formed on the circuit pattern. For fine circuit patterns, it is preferable to use a photosensitive solder resist. A photosensitive solder resist is applied onto the circuit pattern with a spin coater, blade coater, roll coater, bar coater, die coater, screen printing machine, etc., dried, and then exposed to ultraviolet rays through a predetermined photomask and developed. Thus, a solder resist pattern is obtained. Next, curing is performed at 100 ° C. to 200 ° C.

次に、回路パターンが形成されたポリイミドフイルムをガラス基板から剥離する。レーザー、高圧水ジェットやカッターなどを用いて、剥離前に個片または個片の集合体に該回路パターン付きポリイミドフイルムを切り分けておくことが、取り扱いが容易になることから好ましい。さらに、電子部品との接続の位置精度を保つために、ポリイミドフイルム上の回路パターンへ電子部品を接続後に、該ポリイミドフイルムをガラス基板から剥離することがさらに好ましい。電子部品との接続方法としては、例えば、ハンダ接続、異方導電性フイルムによる接続、金属共晶による接続、非導電性接着剤による接続、ワイヤーボンディング接続などが採用できる。また、ポリイミドフイルムの全面をガラス基板から剥離する場合は、回路パターン形成後に紫外線硬化型有機物層へ再度紫外線を照射してから剥離すると、ポリイミドフイルムの周縁部の剥離力が低下するので、剥離し易くなる。   Next, the polyimide film on which the circuit pattern is formed is peeled from the glass substrate. It is preferable to use a laser, a high-pressure water jet, a cutter, or the like to cut the polyimide film with a circuit pattern into individual pieces or an assembly of individual pieces before peeling because the handling becomes easy. Furthermore, in order to maintain the positional accuracy of the connection with the electronic component, it is more preferable to peel off the polyimide film from the glass substrate after connecting the electronic component to the circuit pattern on the polyimide film. As a connection method with an electronic component, for example, solder connection, connection by anisotropic conductive film, connection by metal eutectic, connection by non-conductive adhesive, wire bonding connection, etc. can be adopted. Also, when the entire surface of the polyimide film is peeled off from the glass substrate, peeling off after irradiating the ultraviolet curable organic layer again with ultraviolet rays after forming the circuit pattern will reduce the peeling force at the periphery of the polyimide film. It becomes easy.

上述の例は、ポリイミドフイルムの貼り付け面側に金属層を設け、まず固定されていない可撓性フイルムの一方の面に回路パターンを形成した後、可撓性フイルムをガラス基板に貼り合わせてからもう一方の面の回路パターンを形成した例である。可撓性フイルムの両面に、高精細の回路パターンを形成する場合は、最初に回路パターンが形成される面の加工においても、ガラス基板に貼り合わせられていることが好ましい。この場合は、可撓性フイルムをガラス基板に貼り合わせて、サブトラクティブ法、セミアディティブ法やフルアディティブ法でガラス基板貼り合わせ面とは反対側の面に回路パターンを形成し、次いで別のガラス基板に、可撓性フイルムの回路形成面側を貼り合わせてから、最初のガラス基板を剥離し、もう一方の面に、サブトラクティブ法、セミアディティブ法やフルアディティブ法で回路パターンを形成し、その後、ガラス基板を剥離する方法が好ましく用いられる。   In the above example, a metal layer is provided on the side of the polyimide film to be bonded, a circuit pattern is first formed on one surface of the flexible film that is not fixed, and then the flexible film is bonded to the glass substrate. To the other side of the circuit pattern. In the case of forming a high-definition circuit pattern on both surfaces of the flexible film, it is preferable that the surface of the surface on which the circuit pattern is first formed is bonded to the glass substrate. In this case, a flexible film is bonded to a glass substrate, a circuit pattern is formed on the surface opposite to the glass substrate bonding surface by a subtractive method, a semi-additive method or a full additive method, and then another glass After the circuit formation surface side of the flexible film is bonded to the substrate, the first glass substrate is peeled off, and the circuit pattern is formed on the other surface by a subtractive method, a semi-additive method or a full additive method, Thereafter, a method of peeling the glass substrate is preferably used.

本発明の製造方法によって得られる回路基板、および補強板上に、剥離可能な有機物層もしくは紫外線硬化型有機物層、少なくとも剥離可能な有機物層もしくは紫外線硬化型有機物層に貼り合わせた面とは反対の面に配線回路が形成された可撓性フイルムをこの順に積層された回路基板用部材は、電子部品接続や可撓性フイルム剥離工程を経て、電子機器の配線板、ICパッケージ用インターポーザー、ウエハレベルプロバー、ウエハレベルバーンインソケット用基板などに好ましく使用される。回路パターンに抵抗素子や容量素子を入れ込むことは、適宜好ましく用いられる。   On the circuit board obtained by the production method of the present invention, and on the reinforcing plate, a peelable organic layer or an ultraviolet curable organic layer, at least opposite to the surface bonded to the peelable organic layer or the ultraviolet curable organic layer A circuit board member in which a flexible film having a wiring circuit formed on its surface is laminated in this order is subjected to an electronic component connection and a flexible film peeling process, to a wiring board for an electronic device, an interposer for an IC package, a wafer. It is preferably used for a level prober, a wafer level burn-in socket substrate, and the like. It is preferable to use a resistor element or a capacitor element in the circuit pattern as appropriate.

以下、実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、実施例においてヤング率は、JIS R1602によって求められる値とした。また、剥離力は、以下の方法で測定した。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. In the examples, the Young's modulus was a value determined according to JIS R1602. Moreover, peeling force was measured with the following method.

<剥離力測定方法>
ポリイミドフイルムの剥離力の測定は次の方法で行った。補強板上に形成した再剥離剤層上にポリイミドフイルムを貼り合わせた後、ポリイミドフイルムを10mm幅に裁断した。TMI社製「テンシロン」を用いて300mm/分の剥離速度で10mm幅のポリイミドフイルムを180゜方向に剥離するときの力を剥離力とした。
<Peeling force measurement method>
The peeling force of the polyimide film was measured by the following method. After bonding a polyimide film on the re-release agent layer formed on the reinforcing plate, the polyimide film was cut into a width of 10 mm. The force for peeling a 10 mm wide polyimide film in the 180 ° direction at a peeling speed of 300 mm / min using “Tensilon” manufactured by TMI was defined as the peeling force.

実施例1
可撓性フイルムとして、厚さ38μm、300mm幅のポリイミドフイルム(商品名“カプトン”150EN 東レデュポン(株)製)を準備した。リール・ツー・リール方式のスパッタ装置に長尺のポリイミドフイルムを装着し、厚さ10nmのクロム:ニッケル=20:80(重量比)の合金膜と厚さ100nmの銅膜を、この順にポリイミドフイルム上に積層した。厚さ1.1mm、300×350mmのソーダライムガラスに、ダイコーターで、紫外線硬化型粘着剤、商品名“SKダイン”SW−22(綜研化学(株)製)と硬化剤L45(綜研化学(株)製)を100:3(重量比)で混合したものを塗布し、80℃で2分間乾燥し紫外線硬化型粘着剤層を設けた。乾燥後の紫外線硬化型粘着剤層厚さを3μmとした。次いで、紫外線硬化型粘着剤層に、ポリエステルフイルム上に離型容易なシリコーン樹脂層を設けたフイルムからなる空気遮断用フイルムを貼り合わせて、1週間放置した。
Example 1
A polyimide film (trade name “Kapton” 150EN manufactured by Toray Du Pont Co., Ltd.) having a thickness of 38 μm and a width of 300 mm was prepared as a flexible film. A long polyimide film is mounted on a reel-to-reel type sputtering apparatus, and a 10 nm thick chromium: nickel = 20: 80 (weight ratio) alloy film and a 100 nm thick copper film are in this order. Laminated on top. To a soda-lime glass with a thickness of 1.1 mm and 300 × 350 mm, a UV curable adhesive, trade name “SK Dyne” SW-22 (manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) and a curing agent L45 (Soken Chemical ( Co., Ltd.) was mixed at 100: 3 (weight ratio) and dried at 80 ° C. for 2 minutes to provide an ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer. The thickness of the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer after drying was 3 μm. Next, an air-blocking film made of a film in which a silicone resin layer that can be easily released was provided on a polyester film was bonded to the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer, and left for one week.

金属層を設けたポリイミドフイルムを300×350mmに切り出した。上記空気遮断用フイルムを剥がしてから、図1に示したラミネーター装置で剥離可能な有機物層に金属層を設けたポリイミドフイルムを貼り合わせた。静電気帯電装置201でポリエステルメッシュからなる可撓性面状体202を帯電させ、ポリイミドフイルム203を吸着させた。次に、剥離可能な有機物層208が塗布されたガラス基板209を真空吸着で載置台207に保持した。スキージ210でポリイミドフイルム203を可撓性面状体202ごと剥離可能な有機物層208に押しつけ、ポリイミドフイルム203をガラス基板209側に移し取った。   A polyimide film provided with a metal layer was cut out to 300 × 350 mm. After the air blocking film was peeled off, a polyimide film provided with a metal layer on an organic material layer that can be peeled off by a laminator apparatus shown in FIG. The flexible sheet 202 made of polyester mesh was charged by the electrostatic charging device 201, and the polyimide film 203 was adsorbed. Next, the glass substrate 209 coated with the peelable organic layer 208 was held on the mounting table 207 by vacuum suction. The polyimide film 203 was pressed against the peelable organic layer 208 together with the flexible planar body 202 with the squeegee 210, and the polyimide film 203 was transferred to the glass substrate 209 side.

その後、ポリイミドフイルムの端から内側へ20mmの範囲に形成された紫外線硬化型粘着剤層を遮光した状態で、ポリイミドフイルムの端から20mmより内側の紫外線硬化型粘着剤層にソーダライムガラス側から紫外線を1000mJ/cm照射し、紫外線硬化型粘着剤層を光硬化した。このときのポリイミドフイルムの端から20mmの範囲の剥離力は98N/mであった。銅層上にポジ型フォトレジストをスピンコーターで塗布して80℃で10分間乾燥した。フォトレジストをフォトマスクを介して露光、現像して、めっき層が不要な部分に厚さ12μmのフォトレジスト層を形成した。 Thereafter, the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer formed in a range of 20 mm from the end of the polyimide film to the inner side is shielded from light, and the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer inside 20 mm from the end of the polyimide film is irradiated with ultraviolet rays from the soda lime glass side. Was irradiated with 1000 mJ / cm 2 to photocur the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer. The peeling force in the range of 20 mm from the end of the polyimide film at this time was 98 N / m. A positive photoresist was applied onto the copper layer with a spin coater and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The photoresist was exposed and developed through a photomask to form a photoresist layer having a thickness of 12 μm in a portion where the plating layer was unnecessary.

テスト用フォトマスクパターンは以下に示す形状とした。まずガラス基板300mmの方向に42mm、ガラス基板350mmの長さの方向に23mmの中に回路パターンを作製し、これを1ユニットとした。このユニットをガラス基板が300mm長さの方向に中心から等配、48mmピッチで5列を隣接させ配置した。ガラス基板が350mm長さの方向には中心から等配、23.75mmピッチで14個を配置した。ガラス基板が350mm長さの方向ではユニット間の距離は0.75mmである。   The test photomask pattern had the following shape. First, a circuit pattern was produced in 42 mm in the direction of the glass substrate 300 mm and 23 mm in the direction of the length of the glass substrate 350 mm, and this was made one unit. The units were arranged in such a manner that the glass substrate was equally distributed from the center in the direction of a length of 300 mm, and adjacent to 5 rows at a pitch of 48 mm. Fourteen glass substrates were arranged at a pitch of 23.75 mm, equally spaced from the center in the 350 mm length direction. When the glass substrate is 350 mm long, the distance between the units is 0.75 mm.

次いで、上記銅層を電極として厚さ8μmの銅層を硫酸銅めっき液中での電解めっきで形成した。フォトレジストをフォトレジスト剥離液で剥離し、続いて、過酸化水素−硫酸系水溶液によるソフトエッチングにてレジスト層の下にあった銅層およびクロム−ニッケル合金層を除去した。引き続き、銅めっき層上に、無電解めっきで厚さ0.4μmの錫層を形成し、回路パターンを得た。その後、スクリーン印刷機にて回路パターンを保護するための保護層を回路パターン上に形成した。保護層にはソルダーレジストSN−9000(日立化成工業(株)製)を用いた。オーブンで120℃、90分間キュアし、10μm厚の保護層を得た。回路パターン形成工程中にポリイミドフイルムの端部がガラス基板の端部から剥離することは無かった。続いて、紫外線硬化型粘着剤層にソーダライムガラス側から紫外線を1000mJ/cm照射した後、ポリイミドフイルムの端部を把持して徐々にガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。このときの剥離力は4.7N/mであった。剥離後のポリイミドフイルムには剥離によるそりや折れは発生しなかった。また、剥離したポリイミドフイルム上の回路パターンを測長機SMIC−800(ソキア(株)製)にて測定したところ±0.01%以内にあり、非常に良好であった。 Next, a copper layer having a thickness of 8 μm was formed by electrolytic plating in a copper sulfate plating solution using the copper layer as an electrode. The photoresist was stripped with a photoresist stripping solution, and then the copper layer and the chromium-nickel alloy layer that were under the resist layer were removed by soft etching with a hydrogen peroxide-sulfuric acid aqueous solution. Subsequently, a tin layer having a thickness of 0.4 μm was formed on the copper plating layer by electroless plating to obtain a circuit pattern. Thereafter, a protective layer for protecting the circuit pattern was formed on the circuit pattern with a screen printer. Solder resist SN-9000 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) was used for the protective layer. Curing was carried out in an oven at 120 ° C. for 90 minutes to obtain a protective layer having a thickness of 10 μm. The end of the polyimide film did not peel from the end of the glass substrate during the circuit pattern forming process. Subsequently, the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer was irradiated with 1000 mJ / cm 2 of ultraviolet rays from the soda lime glass side, and then the polyimide film substrate of 300 × 350 mm was gradually peeled from the glass substrate by grasping the end of the polyimide film. The peeling force at this time was 4.7 N / m. The polyimide film after peeling did not warp or bend due to peeling. Moreover, when the circuit pattern on the peeled polyimide film was measured with a length measuring machine SMIC-800 (manufactured by Sokkia Co., Ltd.), it was within ± 0.01% and was very good.

実施例2
ポリイミドフイルムを剥離する前に紫外線を照射しなかったこと以外は実施例1と同様にしてガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。剥離後のポリイミドフイルムの周縁部は若干カールしたが、ポリイミドフイルムの回路パターン形成部分には剥離によるそりや折れは発生しなかった。また、剥離したポリイミドフイルム上の回路パターンを測長機SMIC−800(ソキア(株)製)にて測定したところ±0.01%以内にあり、非常に良好であった。
Example 2
A 300 × 350 mm polyimide film substrate was peeled from the glass substrate in the same manner as in Example 1 except that ultraviolet rays were not irradiated before peeling the polyimide film. Although the peripheral edge of the polyimide film after peeling was slightly curled, no warp or breakage due to peeling occurred in the circuit pattern forming portion of the polyimide film. Moreover, when the circuit pattern on the peeled polyimide film was measured with a length measuring machine SMIC-800 (manufactured by Sokkia Co., Ltd.), it was within ± 0.01% and was very good.

比較例1
紫外線硬化型粘着剤層全面にソーダライムガラス側から紫外線を1000mJ/cm照射し、紫外線硬化型粘着剤層を全面光硬化したこと以外は実施例1と同様にして回路パターンの形成を開始した。無電解錫めっき工程のめっき液攪拌用バブリングの泡によりポリイミドフイルムの端部がガラス基板から剥離し、搬送不良のためにめっき装置が停止した。
Comparative Example 1
Formation of a circuit pattern was started in the same manner as in Example 1 except that the entire surface of the ultraviolet curable adhesive layer was irradiated with 1000 mJ / cm 2 of ultraviolet light from the soda lime glass side and the entire surface of the ultraviolet curable adhesive layer was photocured. . The end portion of the polyimide film was peeled off from the glass substrate by the bubble of the plating solution stirring bubbling in the electroless tin plating process, and the plating apparatus was stopped due to poor conveyance.

比較例2
ポリイミドフイルムの端から内側へ40mmの範囲に形成された紫外線硬化型粘着剤層を遮光した状態で、ポリイミドフイルムの端から40mmより内側の紫外線硬化型粘着剤層にソーダライムガラス側から紫外線を照射したこと以外は実施例1と同様にして300×350mmのポリイミドフイルム基板を作製した。熱処理工程でポリイミドフイルムの端から内側へ40mmの範囲に形成された紫外線硬化型有機物層が発泡した。続いて、紫外線硬化型粘着剤層にソーダライムガラス側から紫外線を1000mJ/cm照射した後、ポリイミドフイルムの端部を把持して徐々にガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。剥離後のポリイミドフイルムには剥離によるそりや折れは発生しなかったが、ポリイミドフイルムの端から内側へ40mmの範囲に形成された回路パターンが変形した。
Comparative Example 2
Irradiate ultraviolet rays from the side of the polyimide film to the inner side of the polyimide film with the ultraviolet rays from the side of the soda lime glass in a state where the ultraviolet ray curable adhesive layer formed within a range of 40 mm is shielded from light. A 300 × 350 mm polyimide film substrate was produced in the same manner as in Example 1 except that. In the heat treatment step, an ultraviolet curable organic layer formed in a range of 40 mm from the end of the polyimide film to the inside foamed. Subsequently, the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive layer was irradiated with 1000 mJ / cm 2 of ultraviolet rays from the soda lime glass side, and then the polyimide film substrate of 300 × 350 mm was gradually peeled from the glass substrate by grasping the end of the polyimide film. The polyimide film after peeling did not warp or bend due to peeling, but the circuit pattern formed in the range of 40 mm inward from the end of the polyimide film was deformed.

実施例3
300×350mmのソーダライムガラスの端部から20mmの範囲をマスキングテープでマスクした状態で、アクリル系の弱粘着性再剥離剤”オリバイン”EXK01−257(東洋インキ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)製)を100:9で混合したものを塗布し、100℃で30秒間乾燥した。乾燥後の再剥離剤厚みを3μmとした。次いで、ソーダライムガラスの周縁部に形成したマスキングテープを剥離した後、弱粘着性再剥離剤層に、ポリエステルフイルム上に離型容易なシリコーン樹脂層を設けたフイルムからなる空気遮断用フイルムを貼り合わせた。次いで、300×350mmのソーダライムガラスの端部から20mmの範囲にアクリル系の中粘着性再剥離剤”サイアバイン”SH−101(東洋インキ(株)製)と硬化剤T−501B(東洋インキ(株)製)を100:3で混合したものを塗布し、100℃で2分間乾燥した。乾燥後の再剥離剤厚みを3μmとした。次いで、中粘着性再剥離剤層に、ポリエステルフイルム上に離型容易なシリコーン樹脂層を設けたフイルムからなる空気遮断用フイルムを貼り合わせ、1週間放置した。その後、紫外線を照射しないこと以外は実施例1と同様にしてガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。このときのポリイミドフイルムの端から20mmより内側の範囲の剥離力は3.5N/mであった。一方、ポリイミドフイルムの端から20mmの範囲の剥離力は88N/mであった。剥離後のポリイミドフイルムの周縁部は若干カールしたが、ポリイミドフイルムの回路パターン形成部分には剥離によるそりや折れは発生しなかった。また、剥離したポリイミドフイルム上の回路パターンを測長機SMIC−800(ソキア(株)製)にて測定したところ±0.01%以内にあり、非常に良好であった。
Example 3
With an area of 20 mm from the end of 300 x 350 mm soda lime glass masked with masking tape, an acrylic weak adhesive re-peeling agent “Olivein” EXK01-257 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent BXX5134 A mixture of 100: 9 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) was applied and dried at 100 ° C. for 30 seconds. The thickness of the re-release agent after drying was 3 μm. Next, after peeling off the masking tape formed on the peripheral edge of soda lime glass, an air blocking film made of a film having a silicone resin layer that is easy to release on a polyester film is applied to the weak adhesive re-release agent layer. Combined. Next, an acrylic medium-tacky re-peeling agent “Siavine” SH-101 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent T-501B (Toyo Ink, Inc.) are placed within 20 mm from the edge of a 300 × 350 mm soda lime glass. Co.) was mixed at 100: 3 and dried at 100 ° C. for 2 minutes. The thickness of the re-release agent after drying was 3 μm. Next, an air-blocking film made of a film in which a silicone resin layer that can be easily released was provided on a polyester film was bonded to the medium-adhesive re-release agent layer, and left for one week. Thereafter, a 300 × 350 mm polyimide film substrate was peeled from the glass substrate in the same manner as in Example 1 except that no ultraviolet ray was irradiated. At this time, the peel force in the range of 20 mm from the end of the polyimide film was 3.5 N / m. On the other hand, the peel force in the range of 20 mm from the end of the polyimide film was 88 N / m. Although the peripheral edge of the polyimide film after peeling was slightly curled, no warp or breakage due to peeling occurred in the circuit pattern forming portion of the polyimide film. Moreover, when the circuit pattern on the peeled polyimide film was measured with a length measuring machine SMIC-800 (manufactured by Sokkia Co., Ltd.), it was within ± 0.01% and was very good.

比較例3
300×350mmのソーダライムガラスの全面にアクリル系の弱粘着性再剥離剤”オリバイン”EXK01−257(東洋インキ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)製)を100:9で混合したものを塗布し、100℃で30秒間乾燥したこと以外は実施例3と同様にして回路パターンの形成を開始した。無電解錫めっき工程のめっき液攪拌用バブリングの泡によりポリイミドフイルムの端部がガラス基板から剥離したため、ソルダーレジスト印刷工程でポリイミドフイルムの周縁部にあるアライメントマークが認識できずにスクリーン印刷装置が停止した。このときの剥離力は3.5N/mであった。
Comparative Example 3
Acrylic weak adhesive re-peeling agent “Olivein” EXK01-257 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and curing agent BXX5134 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) at 100: 9 on the entire surface of 300 × 350 mm soda lime glass Formation of a circuit pattern was started in the same manner as in Example 3 except that the mixture was applied and dried at 100 ° C. for 30 seconds. Because the edge of the polyimide film was peeled off from the glass substrate due to the bubbling bubbles for stirring the plating solution in the electroless tin plating process, the screen printing device stopped without being able to recognize the alignment marks on the periphery of the polyimide film in the solder resist printing process did. The peeling force at this time was 3.5 N / m.

実施例4
可撓性フイルムの4辺の端から内側へ15mm未満の範囲を周縁部として、可撓性フイルムの4つの各頂点から30mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部を遮光した状態で、紫外線硬化型粘着剤層にソーダライムガラス側から紫外線を3000mJ/cm照射し、四隅部以外の紫外線硬化型粘着剤層を光硬化したこと以外は実施例2と同様にしてガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。このときの四隅部の剥離力は98N/mであった。また、四隅部以外の剥離力は4.7N/mであった。剥離後のポリイミドフイルムには剥離によるカール、そり、折れは発生しなかった。また、剥離したポリイミドフイルム上の回路パターンを測長機SMIC−800(ソキア(株)製)にて測定したところ±0.01%以内であった。
Example 4
A portion less than 30 mm from each of the four apexes of the flexible film, with a range of less than 15 mm inward from the edges of the four sides of the flexible film being overlapped with a portion located on the inner side of the periphery. The UV-curing pressure-sensitive adhesive layer is irradiated with 3000 mJ / cm 2 of UV light from the soda lime glass side in a state where the four corners, which are portions other than the light-shielding portion, are shielded from light, and the UV-curing pressure-sensitive adhesive layers other than the four corners are photocured. Except for this, a 300 × 350 mm polyimide film substrate was peeled from the glass substrate in the same manner as in Example 2. The peeling force at the four corners at this time was 98 N / m. Moreover, the peeling force except for the four corners was 4.7 N / m. The polyimide film after peeling did not curl, warp or break due to peeling. Further, when the circuit pattern on the peeled polyimide film was measured with a length measuring machine SMIC-800 (manufactured by Sokkia Co., Ltd.), it was within ± 0.01%.

実施例5
実施例4の四隅部と同じ大きさの四隅部に、アクリル系の中粘着性再剥離剤”サイアバイン”SH−101(東洋インキ(株)製)と硬化剤T−501B(東洋インキ(株)製)を100:3で混合したものを形成し、四隅部以外の部分にアクリル系の弱粘着性再剥離剤”オリバイン”EXK01−257(東洋インキ(株)製)と硬化剤BXX5134(東洋インキ(株)製)を100:9で混合したものを形成したこと以外は実施例3と同様にしてガラス基板から300×350mmのポリイミドフイルム基板を剥離した。このときの四隅部の剥離力は88N/mであった。また、四隅部以外の剥離力は3.5N/mであった。剥離後のポリイミドフイルムには剥離によるカール、そり、折れは発生しなかった。また、剥離したポリイミドフイルム上の回路パターンを測長機SMIC−800(ソキア(株)製)にて測定したところ±0.01%以内であった。
Example 5
In the four corners having the same size as the four corners of Example 4, an acrylic-based medium-adhesive re-peeling agent “Siavine” SH-101 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent T-501B (Toyo Ink Co., Ltd.) Made of 100: 3), and other than the four corners, an acrylic weak adhesive re-peeling agent “Olivein” EXK01-257 (manufactured by Toyo Ink Co., Ltd.) and a curing agent BXX5134 (Toyo Ink) A 300 × 350 mm polyimide film substrate was peeled from the glass substrate in the same manner as in Example 3 except that a mixture of 100: 9 was manufactured. The peeling force at the four corners at this time was 88 N / m. Moreover, the peeling force except for the four corners was 3.5 N / m. The polyimide film after peeling did not curl, warp or break due to peeling. Further, when the circuit pattern on the peeled polyimide film was measured with a length measuring machine SMIC-800 (manufactured by Sokkia Co., Ltd.), it was within ± 0.01%.

ラミネート装置の正面図Front view of laminating equipment 本発明の態様の一つを示した回路基板用部材の平面図The top view of the member for circuit boards which showed one of the aspects of this invention

符号の説明Explanation of symbols

200 ラミネート装置
201 静電気帯電装置
203 可撓性フイルム基板(プラスチックフイルム)
207 載置台
208 剥離可能な有機物層
209 補強板(ガラス基板)
210 スキージ
212 レール
217 ボールねじ
301 可撓性フイルム
302 周縁部
303 四隅部以外の可撓性フイルム
304 周縁部と4分の1円部分の重複部分
305 四隅部
200 Laminating Device 201 Electrostatic Charging Device 203 Flexible Film Substrate (Plastic Film)
207 Mounting table 208 Separable organic layer 209 Reinforcing plate (glass substrate)
210 Squeegee 212 Rail 217 Ball screw 301 Flexible film 302 Peripheral portion 303 Flexible film 304 other than the four corner portions Overlapping portion 305 of the peripheral portion and a quarter circle 305 Four corner portions

Claims (2)

少なくとも補強板、剥離可能な有機物層、可撓性フイルム、回路パターンをこの順に積層した回路基板用部材であって、可撓性フイルムの端から内側へ最大30mm未満の範囲を周縁部とすると、可撓性フイルムの4つの各頂点から内側へ最大50mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部の可撓性フイルムと補強板との剥離力が49N/mを超え490N/m以下であり、前記四隅部以外の可撓性フイルムと補強板との剥離力が0.098N/m以上49N/m以下である回路基板用部材。 A circuit board member in which at least a reinforcing plate, a peelable organic layer, a flexible film, and a circuit pattern are laminated in this order, and a range of less than 30 mm at the maximum from the end of the flexible film to the inside, Four corners of the flexible film and a reinforcing plate, which are portions less than a maximum of 50 mm inward from each of the four apexes of the flexible film, excluding a portion overlapping with a portion inside the peripheral portion Circuit board member having a peel force between 49 N / m and 490 N / m, and a peel force between the flexible film other than the four corners and the reinforcing plate is 0.098 N / m to 49 N / m . 可撓性フイルムの片面に補強板を紫外線硬化型有機物層を介して貼り合わせ、紫外線硬化型有機物層に紫外線を照射してから、回路パターン付き可撓性フイルムを補強板から剥離する回路基板の製造方法であって、可撓性フイルムの端から内側へ最大30mm未満の範囲を周縁部とすると、可撓性フイルムの4つの各頂点から内側へ最大50mm未満の部分であって、前記周縁部よりも内側にある部分と重複する部分を除いた部分である四隅部における可撓性フイルムと補強板の剥離力が、回路パターン形成中は49N/mを超え490N/m以下であり、回路パターンを形成後、可撓性フイルムを剥離する前は0.098N/m以上49N/m以下である回路基板の製造方法。 A circuit board that peels off a flexible film with a circuit pattern from a reinforcing plate after a reinforcing plate is bonded to one side of the flexible film through an ultraviolet curable organic layer, and the ultraviolet curable organic layer is irradiated with ultraviolet rays. In the manufacturing method, when a range of a maximum of less than 30 mm inward from the end of the flexible film is defined as a peripheral portion, the peripheral portion is a portion of a maximum of less than 50 mm inward from each of the four apexes of the flexible film. The peeling force between the flexible film and the reinforcing plate at the four corners excluding the part overlapping with the inner part is more than 49 N / m and less than 490 N / m during the circuit pattern formation. A method of manufacturing a circuit board having a thickness of 0.098 N / m or more and 49 N / m or less before forming the flexible film and before peeling the flexible film.
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