JP2003101193A - Production method for circuit board - Google Patents

Production method for circuit board

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JP2003101193A
JP2003101193A JP2002011743A JP2002011743A JP2003101193A JP 2003101193 A JP2003101193 A JP 2003101193A JP 2002011743 A JP2002011743 A JP 2002011743A JP 2002011743 A JP2002011743 A JP 2002011743A JP 2003101193 A JP2003101193 A JP 2003101193A
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film
reinforcing plate
thickness
flexible film
circuit board
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Takayoshi Akamatsu
孝義 赤松
Yoshio Matsuda
良夫 松田
Yutaka Enomoto
裕 榎本
Masahiro Kokuni
昌宏 小國
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Toray Industries Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a circuit pattern of high accuracy even on a flexible film which is liable to cause a change in dimension by the influence of heat, humidity or external force. SOLUTION: In this production method for circuit board, the flexible film is stuck with a reinforcing plate through a releasable organic layer. After the circuit pattern is formed on the flexible film, the flexible film is released from the reinforcing plate.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高精度な回路パタ
ーンを有するとともに生産性に優れた可撓性フィルムを
用いた回路基板の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a circuit board using a flexible film having a highly accurate circuit pattern and excellent in productivity.

【0002】[0002]

【従来の技術】エレクトロニクス製品の軽量化、小型化
に伴い、プリント回路基板のパターニングの高精度化が
求められている。可撓性フィルム基板は、曲げることが
できるために三次元配線ができ、エレクトロニクス製品
の小型化に適していることから需要が拡大している。液
晶ディスプレイパネルへのIC接続に用いられるTAB
(Tape Automated Bonding)技術は、比較的細幅の長尺ポ
リイミドフィルム基板を加工することで樹脂基板として
は最高の微細パターンを得ることができるが、微細化の
進展に関しては限界に近づきつつある。微細化にはライ
ン幅やライン間のスペース幅で表される指標と基板上の
パターンの位置で表される指標がある。ライン幅やスペ
ース幅に関しては、さらに微細化する方策があるが、後
者の指標、位置精度は、回路基板とICなどの電子部品
とを接続する際の電極パッドと回路基板パターンとの位
置合わせに係わり、ICの多ピン化の進展に従い要求さ
れる精度に対応することが厳しくなってきている。
2. Description of the Related Art As the weight and size of electronic products are reduced, the patterning of printed circuit boards is required to be highly accurate. Since the flexible film substrate can be bent, three-dimensional wiring can be performed, and the flexible film substrate is suitable for downsizing of electronic products, and thus the demand is expanding. TAB used for IC connection to liquid crystal display panel
The (Tape Automated Bonding) technique can obtain the finest pattern as a resin substrate by processing a relatively narrow long polyimide film substrate, but is approaching the limit with respect to the progress of miniaturization. For miniaturization, there are an index represented by a line width and a space width between lines and an index represented by a pattern position on a substrate. Regarding the line width and the space width, there is a measure for further miniaturization, but the latter index and position accuracy depend on the alignment between the electrode pad and the circuit board pattern when connecting the circuit board and electronic parts such as IC. Therefore, it is becoming more and more difficult to meet the required accuracy as the number of pins of ICs increases.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記位置精度の点にお
いて、特に可撓性フィルム基板加工は改良が難しい状況
になりつつある。回路基板加工プロセスでは、乾燥やキ
ュアなどの熱処理プロセス、エッチングや現像などの湿
式プロセスがあり、可撓性フィルムは、膨張と収縮を繰
り返す。このときのヒステリシスは、基板上の回路パタ
ーンの位置ずれを引き起こす。また、アライメントが必
要なプロセスが複数ある場合、これらのプロセスの間に
膨張、収縮があると形成されるパターン間で位置ずれが
発生する。可撓性フィルムの膨張と収縮による変形は、
比較的大面積の基板寸法で加工を進めるFPC(Flexibl
e Printing Circuit)の場合には更に大きな影響を及ぼ
す。また、位置ずれは引っ張りや捻れなどの外力でも引
き起こされ、柔軟性を上げるために薄い基板を使う場合
は特に注意を要している。
In view of the above positional accuracy, it is becoming difficult to improve the processing of flexible film substrates, in particular. The circuit board processing process includes a heat treatment process such as drying and curing, and a wet process such as etching and development, and the flexible film repeats expansion and contraction. The hysteresis at this time causes the displacement of the circuit pattern on the substrate. Further, when there are a plurality of processes that require alignment, if there is expansion or contraction between these processes, misalignment occurs between the formed patterns. Deformation due to expansion and contraction of the flexible film
FPC (Flexibl
In the case of e Printing Circuit), it has a greater effect. Further, the positional displacement is also caused by an external force such as pulling or twisting, and special attention is required when using a thin substrate to increase flexibility.

【0004】本発明の目的は、上記のような問題点を解
決し、高精細な可撓性フィルム回路基板を提供すること
にある。
An object of the present invention is to solve the above problems and provide a high-definition flexible film circuit board.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は以下の
構成および製造法により達成される。 (1)可撓性フィルムを剥離可能な有機物層を介して補
強板と貼り合わせ、次いで、可撓性フィルム上に回路パ
ターンを形成した後可撓性フィルムを補強板から剥離す
ることを特徴とする回路基板の製造方法。 (2)可撓性フィルムの補強板との貼り合わせ面の反対
面から接続孔を形成することを特徴とする上記(1)記
載の回路基板の製造方法。 (3)補強板が枚葉であり、長尺可撓性フィルムを該枚
葉補強板に合わせて切断して貼り合わせることを特徴と
する上記(1)記載の回路基板の製造方法。 (4)補強板のヤング率(kg/mm2)と厚さ(m
m)の3乗の積が、2kg・mm以上860000kg
・mm以下の範囲であることを特徴とする上記(1)記
載の回路基板の製造方法。 (5)補強板がガラスであり、ヤング率(kg/m
2)と厚さ(mm)の3乗の積が、850kg・mm
以上860000kg・mm以下の範囲であることを特
徴とする上記(4)記載の回路基板の製造方法。 (6)補強板が金属であり、ヤング率(kg/mm2
と厚さ(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上162
560kg・mm以下の範囲であることを特徴とする上
記(4)記載の回路基板の製造方法。 (7)補強板が枚葉であり、剥離可能な有機物層および
/またはフォトレジストをダイコーターで補強板に塗布
することを特徴とする上記(1)記載の回路基板の製造
方法。
That is, the present invention is achieved by the following constitutions and manufacturing methods. (1) The flexible film is attached to a reinforcing plate via an organic layer that can be peeled off, and then a circuit pattern is formed on the flexible film, and then the flexible film is peeled off from the reinforcing plate. Circuit board manufacturing method. (2) The method of manufacturing a circuit board as described in (1) above, wherein the connection hole is formed from a surface of the flexible film opposite to a surface of the reinforcing film which is attached to the reinforcing plate. (3) The method for manufacturing a circuit board as described in (1) above, wherein the reinforcing plate is a sheet, and the long flexible film is cut along with the sheet reinforcing plate to be laminated. (4) Young's modulus (kg / mm 2 ) and thickness (m of the reinforcing plate
m) cubed product is 2kg · mm or more 860000kg
-The method for manufacturing a circuit board according to (1) above, wherein the method is within a range of mm or less. (5) The reinforcing plate is glass, and the Young's modulus (kg / m
The product of the cube of m 2 ) and thickness (mm) is 850 kg · mm
The method for producing a circuit board as described in (4) above, wherein the range is 860000 kg · mm or less. (6) The reinforcing plate is made of metal and Young's modulus (kg / mm 2 )
And the product of the cube of the thickness (mm) are 2kg ・ mm or more 162
The method for producing a circuit board as described in (4) above, wherein the range is 560 kg · mm or less. (7) The method for producing a circuit board as described in (1) above, wherein the reinforcing plate is a single sheet, and a peelable organic material layer and / or a photoresist is applied to the reinforcing plate with a die coater.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明の可撓性フィルムとして
は、プラスチックフィルムであって、回路パターン製造
工程および電子部品実装での熱プロセスに耐えるだけの
耐熱性を備えていることが重要であり、ポリカーボネー
ト、ポリエーテルサルファイド、ポリエチレンテレフタ
レート、ポリエチレンナフタレート、ポリフェニレンサ
ルファイド、ポリイミド、ポリアミドなどのフィルムを
採用することができる。中でもポリイミドフィルムは、
耐熱性に優れるとともに耐薬品性にも優れているので好
適に採用される。可撓性のガラス繊維補強樹脂板を採用
することも可能である。ガラス繊維補強樹脂板の樹脂と
しては、ポリフェニレンサルファイド、ポリフェニレン
エーテル、マレイミド、ポリアミド、ポリイミドなどが
挙げられる。可撓性フィルムの厚さは、電子機器の軽量
化、小型化、あるいは微細なビアホール形成のためには
薄い方が好ましく、一方、機械的強度を確保するためや
平坦性を維持するためには厚い方が好ましいため、1
2.5μmから125μmの範囲が好ましい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION It is important that the flexible film of the present invention is a plastic film and has heat resistance sufficient to withstand a thermal process in a circuit pattern manufacturing process and electronic component mounting. Films of polycarbonate, polyether sulfide, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyphenylene sulfide, polyimide, polyamide and the like can be used. Among them, the polyimide film is
It is suitable for use because it has excellent heat resistance and chemical resistance. It is also possible to employ a flexible glass fiber reinforced resin plate. Examples of the resin for the glass fiber reinforced resin plate include polyphenylene sulfide, polyphenylene ether, maleimide, polyamide, and polyimide. The thickness of the flexible film is preferably thin in order to reduce the weight and size of the electronic device, or to form a fine via hole. On the other hand, in order to secure mechanical strength and maintain flatness. 1 is preferable because it is thicker
The range from 2.5 μm to 125 μm is preferred.

【0007】これらの可撓性フィルムには、補強板との
貼り付けに先立って、片面もしくは両面に金属層が形成
されていても良い。該金属層は、銅箔などの金属箔を接
着剤層で貼り付けて形成することができる他、スパッタ
やメッキ、あるいはこれらの組合せで形成することがで
きる。また、銅などの金属箔の上に可撓性フィルムの原
料樹脂あるいはその前駆体を塗布、乾燥、キュアするこ
とで、金属層付き可撓性フィルムを得ることもできる。
A metal layer may be formed on one side or both sides of these flexible films prior to attachment to the reinforcing plate. The metal layer can be formed by adhering a metal foil such as a copper foil with an adhesive layer, or can be formed by sputtering, plating, or a combination thereof. A flexible film with a metal layer can also be obtained by applying a raw material resin for a flexible film or a precursor thereof onto a metal foil such as copper, followed by drying and curing.

【0008】本発明の補強板に用いられる基板は、ソー
ダライムガラス、ホウケイ酸ガラス、アルミノホウケイ
酸塩ガラス、石英ガラスなどの無機ガラス類、ステンレ
ススチール、インバー合金、チタンなどの金属、アルミ
ナ、窒化シリコン、ジルコニアなどのセラミックスやガ
ラス繊維補強樹脂板などが採用できる。いずれも線膨張
係数や吸湿膨張係数が小さい点で好ましいが、回路パタ
ーン製造工程の耐熱性、耐薬品性に優れている点や大面
積で表面平滑性が高い基板が安価に入手しやすい点や塑
性変形しにくい点、あるいは接触によりパーティクルを
発生しにくい点で無機ガラス類が好ましい。中でもアル
ミノホウケイ酸ガラスに代表されるホウケイ酸系ガラス
は、高弾性率でかつ熱膨張係数が小さいため特に好まし
い。
Substrates used for the reinforcing plate of the present invention include inorganic glasses such as soda lime glass, borosilicate glass, aluminoborosilicate glass, and quartz glass, metals such as stainless steel, Invar alloy, titanium, alumina, and nitride. Ceramics such as silicon and zirconia and glass fiber reinforced resin plates can be used. Both are preferable in that the linear expansion coefficient and the hygroscopic expansion coefficient are small, but the heat resistance in the circuit pattern manufacturing process, the excellent chemical resistance, and the large surface area and high surface smoothness of the substrate are easily available at low cost. Inorganic glasses are preferable because they are less likely to be plastically deformed or particles are less likely to be generated by contact. Among them, borosilicate glass represented by aluminoborosilicate glass is particularly preferable because it has a high elastic modulus and a small thermal expansion coefficient.

【0009】金属やガラス繊維補強樹脂を補強板に採用
する場合は、長尺連続体での製造もできるが、位置精度
を確保しやすい点で、本発明の製造方法は枚葉式で行う
ことが好ましい。枚葉とは、長尺連続体でなく、個別の
シート状でハンドリングされる状態を言う。
When a metal or glass fiber reinforced resin is used for the reinforcing plate, it can be manufactured in a long continuous body, but the manufacturing method of the present invention is performed by a single-wafer type because it is easy to secure the positional accuracy. Is preferred. The sheet is not a long continuous body but a state of being handled as individual sheets.

【0010】本発明の補強板のヤング率(kg/m
2)と厚さ(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上
860000kg・mm以下の範囲であることが好まし
い。この範囲よりも小さいと、補強板が可撓性フィルム
起因の応力に耐えられず変形し、本発明のポイントであ
る可撓性フィルム加工における位置制度維持が難しくな
る。一方、この範囲よりも大きいと低コストで厚みムラ
が小さい補強板を準備することが難しくなり、フォトリ
ソ加工での精度が低下する。また、搬送装置の負荷が大
きくなり、生産性向上の障害となる。
Young's modulus (kg / m) of the reinforcing plate of the present invention
The product of m 3 ) and the cube of the thickness (mm) is preferably in the range of 2 kg · mm or more and 860000 kg · mm or less. When it is smaller than this range, the reinforcing plate cannot withstand the stress caused by the flexible film and is deformed, and it becomes difficult to maintain the position accuracy in the flexible film processing which is the point of the present invention. On the other hand, if it is larger than this range, it becomes difficult to prepare a reinforcing plate with low cost and small thickness unevenness, and the accuracy in photolithography processing decreases. In addition, the load on the transfer device increases, which is an obstacle to improving productivity.

【0011】補強板にガラス基板を用いる場合、ガラス
基板のヤング率が小さかったり、厚みが小さいと可撓性
フィルムの膨張・収縮力で反りやねじれが大きくなり、
平坦なステージ上に真空吸着したときにガラス基板が割
れることがある。また、真空吸着・脱着で可撓性フィル
ムが変形することになり位置精度の確保が難しくなる。
一方、ガラス基板が厚いと、肉厚ムラにより平坦性が悪
くなることがあり、露光精度が悪くなる。また、ロボッ
ト等によるハンドリングに負荷が大きくなり素早い取り
回しが難しくなって生産性が低下する要因になる他、運
搬コストも増大する。したがって、枚葉補強板であるガ
ラス基板のヤング率(kg/mm2)と厚さ(mm)の
3乗の積が、850kg・mm以上860000kg・
mm以下の範囲であることが好ましく、1500kg・
mm以上190000kg・mm以下が更に好ましく、
2400kg・mm以上110000kg・mm以下の
範囲が最も好ましい。
When a glass substrate is used as the reinforcing plate, if the Young's modulus of the glass substrate is small or the thickness is small, the expansion and contraction force of the flexible film increases warping and twisting,
The glass substrate may be broken when vacuum-adsorbed on a flat stage. Further, the vacuum adsorption / desorption deforms the flexible film, which makes it difficult to secure positional accuracy.
On the other hand, if the glass substrate is thick, the flatness may be deteriorated due to the uneven thickness, and the exposure accuracy may be deteriorated. In addition, the load of handling by a robot or the like becomes large, which makes it difficult to swiftly handle the robot, which lowers productivity, and also increases transportation costs. Therefore, the product of the Young's modulus (kg / mm 2 ) and the cube of the thickness (mm) of the glass substrate which is the single-wafer reinforcing plate is 850 kg · mm or more and 860000 kg ·
The range is preferably less than or equal to mm, 1500 kg
mm or more and 190000 kg · mm or less is more preferable,
The range of 2400 kg · mm or more and 110000 kg · mm or less is most preferable.

【0012】補強板に金属基板を用いる場合、金属基板
のヤング率が小さかったり、厚みが小さいと可撓性フィ
ルムの膨張・収縮力で反りやねじれが大きくなり、平坦
なステージ上に真空吸着しできなくなったり、金属基板
の反りやねじれ分、可撓性フィルムが変形することによ
り、位置精度の確保が難しくなる。また、折れがあると
その時点で不良品になる。一方、金属基板が厚いと、肉
厚ムラにより平坦性が悪くなることがあり、露光精度が
悪くなる。また、ロボット等によるハンドリングに負荷
が大きくなり素早い取り回しが難しくなって生産性が低
下する要因になる他、運搬コストも増大する。したがっ
て、枚葉補強板である金属基板のヤング率(kg/mm
2)と厚さ(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上1
62560kg・mm以下の範囲であることが好まし
い。金属基板のヤング率(kg/mm2)と厚さ(m
m)の3乗の積が、10kg・mm以上30000kg
・mm以下であることが更に好ましく、15kg・mm
以上20500kg・mm以下の範囲であることが最も
好ましい。
When a metal substrate is used as the reinforcing plate, if the Young's modulus of the metal substrate is small or the metal substrate is thin, warping or twisting becomes large due to the expansion / contraction force of the flexible film, and vacuum adsorption on a flat stage occurs. If the flexible film is deformed due to the warp or twist of the metal substrate, it becomes difficult to secure the positional accuracy. Also, if there is a break, it becomes a defective product at that time. On the other hand, if the metal substrate is thick, the flatness may be deteriorated due to the uneven thickness, and the exposure accuracy may be deteriorated. In addition, the load of handling by a robot or the like becomes large, which makes it difficult to swiftly handle the robot, which lowers productivity, and also increases transportation costs. Therefore, the Young's modulus (kg / mm
2 ) The product of the cube of thickness (mm) is 2kg · mm or more 1
It is preferably in the range of 62560 kg · mm or less. Young's modulus (kg / mm 2 ) and thickness (m
m) cubed product is 10 kg ・ mm or more and 30,000 kg
・ It is more preferable that it is less than or equal to mm, 15 kg · mm
The most preferable range is 20500 kg · mm or less.

【0013】本発明に用いられる剥離可能な有機物層は
接着剤または粘着剤であり、可撓性フィルムを貼り付け
て加工後、可撓性フィルムを剥離し易いものである。こ
のような接着剤または粘着剤としては、アクリル系また
はウレタン系の再剥離剤と呼ばれる粘着剤を挙げること
ができる。可撓性フィルム加工中は十分な接着力があ
り、剥離時は容易に剥離でき、可撓性フィルム基板に歪
みを生じさせないために、弱粘着から中粘着と呼ばれる
領域の粘着力のものが好ましい。シリコーン樹脂膜は本
発明では離型剤として用いられることがあるが、タック
性があるシリコーン樹脂は再剥離粘着剤として使用する
こともできる。また、タック性があるエポキシ系樹脂膜
を再剥離粘着剤として使用することも可能である。
The peelable organic material layer used in the present invention is an adhesive or a pressure-sensitive adhesive, and is easy to peel the flexible film after the flexible film is attached and processed. Examples of such adhesives or pressure-sensitive adhesives include pressure-sensitive adhesives called acrylic or urethane-based removable agents. Adhesive strength in the region called weak to medium adhesion is preferable because it has sufficient adhesive strength during flexible film processing, can be easily peeled off at the time of peeling, and does not cause distortion in the flexible film substrate. . The silicone resin film may be used as a release agent in the present invention, but a silicone resin having tackiness can also be used as a removable adhesive. It is also possible to use an epoxy resin film having tackiness as a re-peeling pressure-sensitive adhesive.

【0014】本発明では粘着力を数値で表現すると、基
材をポリエステルフィルムとし、25μm厚みに粘着剤
を積層した粘着テープをステンレス板に貼り付けて剥離
する際の180°方向ピール強度が、1g/25mmか
ら500g/25mmの範囲にあるものである。中でも
弱粘着と呼ばれる2g/25mmから200g/25m
mの範囲が好ましい。低温領域で接着力、粘着力が減少
するもの、紫外線照射で接着力、粘着力が減少するもの
や加熱処理で接着力、粘着力が減少するものも好適に用
いられる。これらの中でも紫外線照射によるものは、接
着力、粘着力の変化が大きく好ましい。紫外線照射で接
着力、粘着力が減少するものの例としては、2液架橋型
のアクリル系粘着剤が挙げられる。また、低温領域で接
着力、粘着力が減少するものの例としては、結晶状態と
非結晶状態間を可逆的に変化するアクリル系粘着剤が挙
げられる。
In the present invention, when the adhesive strength is expressed numerically, a 180 ° peel strength at the time of sticking and peeling an adhesive tape having a polyester film as a base material and a 25 μm-thick adhesive layer laminated on a stainless steel plate is 1 g. / 25 mm to 500 g / 25 mm. 2g / 25mm to 200g / 25m called weak adhesion
A range of m is preferred. Those having reduced adhesive strength and adhesive strength in a low temperature region, those having reduced adhesive strength and adhesive strength by ultraviolet irradiation, and those having reduced adhesive strength and adhesive strength by heat treatment are also preferably used. Among these, ultraviolet irradiation is preferable because of large changes in adhesive strength and adhesive strength. As an example of the adhesive whose adhesive strength and adhesive strength are reduced by irradiation with ultraviolet rays, a two-liquid cross-linking acrylic adhesive can be mentioned. Further, as an example of the adhesive whose adhesive strength and adhesive strength are reduced in a low temperature region, there is an acrylic adhesive which reversibly changes between a crystalline state and an amorphous state.

【0015】剥離可能な有機物層やフォトレジストを塗
布するにはウエットコーティング法が用いられる。ウエ
ットコーティング装置としては、スピンコーター、ロー
ルコーター、バーコーター、ブレードコーター、ダイコ
ーター、スクリーン印刷、ディップコーター、スプレイ
コーターなどの種々のものが採用できるが、枚葉の補強
板に剥離可能な有機物層を直接塗布したり、枚葉の可撓
性フィルム基板上に回路基板形成用のフォトレジストを
直接塗布する場合、ダイコーターの採用が好ましい。す
なわち、枚葉基板へのウエットコーティング法として
は、スピンコーターが一般的であるが、基板の高速回転
による遠心力と基板への吸着力とのバランスで厚みをコ
ントロールするため、塗液の使用効率が10%以下と非
効率である。また、回転中心は遠心力が加わらないた
め、チクソ性がある塗液が均一に塗布できない欠点があ
る他、塗液の粘度が高いと濡れ拡がりが悪いため均一に
塗布できないことがある。また、ロールコーター、バー
コーター、ブレードコーターには、様々なタイプが提案
されているが、いずれも安定した塗布厚みを得るために
は、通常、塗液吐出開始後に数cmから数m以上の塗布
長さが必要であり、枚葉基板へのコーティングには適し
ていない。スクリーン印刷、ディップコーター、スプレ
イコーターは、コーティング厚み精度が出にくい点や塗
液流動特性に対する許容幅が狭い点、また、ディップコ
ーター、スプレイコーターは、厚膜が塗布しにくい点で
も適用が難しい。一方、ダイコーターは、他の方法と異
なり、間欠動作できる定量ポンプ、基板と塗布ヘッドと
を相対的に移動させる機構および定量ポンプ、基板、塗
布ヘッドを総合的に制御するシステムとを組合せること
により、塗布開始部分と塗布終了部分の膜厚ムラを数m
mから数cm未満に抑えて枚葉基板に塗布することがで
きる。間欠動作できる定量ポンプの例としては、ギアポ
ンプ、ピストンポンプなどが挙げられる。
A wet coating method is used to apply a peelable organic material layer or a photoresist. As the wet coating device, various ones such as a spin coater, a roll coater, a bar coater, a blade coater, a die coater, screen printing, a dip coater, and a spray coater can be adopted. A die coater is preferably used in the case of directly applying a photoresist or directly applying a photoresist for forming a circuit board on a single-piece flexible film substrate. In other words, a spin coater is generally used as a wet coating method for a single-wafer substrate, but since the thickness is controlled by the balance between the centrifugal force due to the high speed rotation of the substrate and the adsorption force to the substrate, the use efficiency of the coating liquid is improved. Is less than 10%, which is inefficient. Further, since a centrifugal force is not applied to the center of rotation, the thixotropic coating liquid cannot be uniformly applied. In addition, if the viscosity of the coating liquid is high, the wetting and spreading may be poor and the coating may not be uniformly applied. Various types of roll coaters, bar coaters, and blade coaters have been proposed. However, in order to obtain a stable coating thickness, in general, coating of several cm to several m or more after the start of discharging the coating liquid is performed. It requires a length and is not suitable for coating single-wafer substrates. Screen printing, dip coater, and spray coater are difficult to apply because the coating thickness accuracy is difficult to obtain and the tolerance of coating liquid flow characteristics is narrow, and the dip coater and spray coater are difficult to apply thick film. On the other hand, the die coater, unlike other methods, combines an intermittently operating metering pump, a mechanism for relatively moving the substrate and the coating head and a metering pump, a system for comprehensively controlling the substrate and the coating head. As a result, the film thickness unevenness between the coating start portion and the coating end portion is several meters.
It can be applied to a single-wafer substrate while suppressing it from m to less than several cm. A gear pump, a piston pump, etc. are mentioned as an example of the metering pump which can operate intermittently.

【0016】剥離可能な有機物層は、フォトレジストに
比べて、一般に粘度が高いため、スピンコーターの適用
は難しく、特にダイコーターの採用が好ましい。
Since the peelable organic material layer generally has a higher viscosity than photoresist, it is difficult to apply a spin coater, and a die coater is particularly preferable.

【0017】剥離可能な有機物層は、補強板に直接塗布
しても良いし、長尺フィルムなどの別の基体に塗布して
から補強板に転写しても良い。転写を用いる場合は、塗
布膜厚が均一な部分だけを採用することができる長所が
あるが、工程が増えたり、転写用の別の基体が必要にな
る短所がある。
The peelable organic material layer may be directly applied to the reinforcing plate, or may be applied to another substrate such as a long film and then transferred to the reinforcing plate. When the transfer is used, there is an advantage that only a portion having a uniform coating film thickness can be adopted, but there are disadvantages that the number of steps is increased and another substrate for transfer is required.

【0018】また、剥離可能な有機物層を回路基板とす
る可撓性フィルム側に塗布してから、補強板に貼り合わ
せることもできる。この場合は、可撓性フィルム剥離時
に、有機物層が補強板側に残るように有機物層と補強板
表面の粘着力を大きくするための工程、あるいは、剥離
後に可撓性フィルム側に残った有機物層を除去する工程
が付加され生産性が低下する。
It is also possible to apply a peelable organic material layer to the side of the flexible film serving as the circuit board and then bond it to the reinforcing plate. In this case, when peeling the flexible film, a step for increasing the adhesive force between the organic layer and the reinforcing plate surface so that the organic layer remains on the reinforcing plate side, or the organic substance remaining on the flexible film side after peeling The step of removing the layer is added to reduce the productivity.

【0019】本発明で用いる可撓性フィルムには、補強
板との貼り付けに先立って、貼り付け面である一方の面
に回路パターンおよび位置合わせ用マークが形成されて
いてもよい。位置合わせマークは、透明な補強板である
場合は、補強板を通して読みとっても良いし、可撓性フ
ィルムを通して読みとっても良いが、可撓性フィルムの
貼り合わせ面とは反対側に金属層が形成されている場合
は、該金属層のパターンによらず読み取りができること
から補強板側からの読み取りが好ましい。この位置合わ
せマークは、可撓性フィルムを補強板と貼り合わせる際
の位置合わせにも利用することができる。位置合わせマ
ークの形状は特に限定されず、露光機などで一般に使用
される形状が好適に採用できる。
The flexible film used in the present invention may have a circuit pattern and a positioning mark formed on one surface, which is the bonding surface, prior to bonding with the reinforcing plate. When the alignment mark is a transparent reinforcing plate, it may be read through the reinforcing plate or through the flexible film, but a metal layer is formed on the side opposite to the bonding surface of the flexible film. In this case, reading from the side of the reinforcing plate is preferable because reading can be performed regardless of the pattern of the metal layer. This alignment mark can also be used for alignment when the flexible film is attached to the reinforcing plate. The shape of the alignment mark is not particularly limited, and a shape generally used in an exposure machine or the like can be preferably adopted.

【0020】補強板に貼り付けた後に貼り付け面とは反
対面に形成される回路パターンは、60μmピッチ以下
の特に高精度なパターンを形成することができるが、補
強板との貼り付け面に形成されるパターンは、主にプリ
ント配線板などへの入出力端子およびその周辺の配線や
電源と接地電位配線の役割を持たせるものであり、補強
板への貼り付け面とは反対面に形成されるパターンほど
の高精細を要求されない場合がある。本発明の一例で
は、片面に特に高精細なパターンを形成した両面配線を
提供する。両面配線であることのメリットとしては、ス
ルーホールを介しての配線交差ができ、配線設計の自由
度が増すこと、太い配線で接地電位を必要な場所の近傍
まで伝搬することで高速動作するLSIのノイズ低減が
できること、同様に太い配線で電源電位を必要な場所の
近傍まで伝搬することにより、高速スイッチングでも電
位の低下を防ぎ、LSIの動作を安定化させること、電
磁波シールドとして外部ノイズを遮断することなどがあ
り、LSIが高速化し、また、多機能化による多ピン化
が進むと非常に重要になる。
The circuit pattern formed on the surface opposite to the sticking surface after sticking to the reinforcing plate can form a particularly highly accurate pattern having a pitch of 60 μm or less. The pattern to be formed mainly serves as the input / output terminals for the printed wiring board and the wiring around it and the power supply and ground potential wiring, and is formed on the surface opposite to the surface attached to the reinforcing plate. In some cases, it is not required to have a high definition as high as the pattern. One example of the present invention provides a double-sided wiring in which a highly precise pattern is formed on one side. The advantage of being double-sided wiring is that LSI can be operated at high speed by allowing wiring to intersect through through holes, increasing the degree of freedom in wiring design, and by propagating the ground potential to the vicinity of the required location with thick wiring. Noise can be reduced. Similarly, by propagating the power supply potential to the vicinity of the required place with a thick wiring, the potential drop is prevented even at high speed switching, the operation of the LSI is stabilized, and external noise is shielded as an electromagnetic wave shield. This is very important as the speed of the LSI increases and the number of pins increases due to multi-functionalization.

【0021】本発明の製造方法の一例を以下に説明する
が、これに限定されるものではない。厚さ0.7mmの
アルミノホウケイ酸塩ガラスにダイコーターで、弱粘着
性再剥離剤を塗布する。再剥離剤塗布後、加熱乾燥や真
空乾燥などにより乾燥し、厚みが20μmの再剥離剤層
を得る。塗布した再剥離剤層に、ポリエステルフィルム
上にシリコーン樹脂層を設けた離型フィルムからなる空
気遮断用フィルムを貼り付けて1週間室温で放置した。
この期間は、熟成と呼ばれ、再剥離剤層の架橋が進行し
て、徐々に粘着力が低下する。放置期間や保管温度は、
所望の粘着力が得られるように選択される。空気遮断用
フィルムを貼り合わせる代わりに、窒素雰囲気中や真空
中で保管することもできる。弱粘着性再剥離剤を長尺フ
ィルム基体に塗布、乾燥後、補強板に転写することも可
能である。
An example of the manufacturing method of the present invention will be described below, but the invention is not limited thereto. A weakly adhesive re-release agent is applied to a 0.7 mm thick aluminoborosilicate glass with a die coater. After the re-release agent is applied, it is dried by heating or vacuum drying to obtain a re-release agent layer having a thickness of 20 μm. An air barrier film consisting of a release film having a silicone resin layer on a polyester film was attached to the applied re-release agent layer, and left at room temperature for 1 week.
During this period, which is called aging, crosslinking of the re-release agent layer proceeds, and the adhesive force gradually decreases. The storage period and storage temperature are
It is selected so as to obtain the desired adhesive strength. Instead of sticking an air barrier film, it can be stored in a nitrogen atmosphere or in a vacuum. It is also possible to apply the weakly adhesive re-release agent to a long film substrate, dry it, and then transfer it to the reinforcing plate.

【0022】次に厚さ25μmのポリイミドフィルムを
準備する。ガラス基板上の空気遮断用フィルムを剥がし
て、ポリイミドフィルムをガラス基板に貼り付ける。前
述のように、該ポリイミドフィルムの片面または両面に
金属層があらかじめ形成されていても良い。ポリイミド
フィルムの貼り付け面側に金属層を設けておいた場合
は、電磁波遮蔽のためのグラウンド層などとして利用す
ることができ、好ましい。該ポリイミドフィルムはあら
かじめ所定の大きさのカットシートにしておいて貼り付
けても良いし、長尺ロールから巻きだしながら、貼り付
けと切断をしてもよい。このような貼り付け作業には、
ロール式ラミネーターや真空ラミネーターを使用するこ
とができる。
Next, a polyimide film having a thickness of 25 μm is prepared. The air blocking film on the glass substrate is peeled off, and the polyimide film is attached to the glass substrate. As described above, a metal layer may be previously formed on one side or both sides of the polyimide film. When a metal layer is provided on the side where the polyimide film is attached, it is preferable because it can be used as a ground layer for shielding electromagnetic waves. The polyimide film may be preliminarily formed as a cut sheet having a predetermined size and attached, or may be attached and cut while being unwound from a long roll. For such pasting work,
A roll laminator or a vacuum laminator can be used.

【0023】ポリイミドフィルムの貼り合わせ面とは反
対側の面に金属層が設けられていない場合は、フルアデ
ィティブ法やセミアディティブ法で金属層を形成する。
When the metal layer is not provided on the surface opposite to the bonding surface of the polyimide film, the metal layer is formed by the full additive method or the semi-additive method.

【0024】フルアディティブ法は、以下のようなプロ
セスである。金属層を形成する面にパラジウム、ニッケ
ルやクロムなどの触媒付与処理をし、乾燥する。ここで
言う触媒とは、そのままではメッキ成長の核としては働
かないが、活性化処理をすることでメッキ成長の核とな
るものである。触媒付与処理は補強板に可撓性フィルム
を貼り合わせてから実施しても良いし、貼り合わせ前
に、例えば長尺の可撓性フィルム上で実施しても良い。
次いでフォトレジストをダイコーターで塗布して乾燥す
る。フォトレジストを所定パターンのフォトマスクを介
して露光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレジスト
層を形成する。この後、触媒の活性化処理をしてから、
硫酸銅とホルムアルデヒドの組合せからなる無電解メッ
キ液に、該ポリイミドフィルムを浸漬し、厚さ2μmか
ら20μmの銅メッキ膜を形成して、回路パターンを得
る。
The full additive method is the following process. The surface on which the metal layer is formed is treated with a catalyst such as palladium, nickel or chromium, and dried. The catalyst here does not act as a nucleus for plating growth as it is, but becomes a nucleus for plating growth by performing activation treatment. The catalyst application treatment may be performed after the flexible film is attached to the reinforcing plate, or may be performed on the long flexible film before the attachment.
Next, a photoresist is applied with a die coater and dried. The photoresist is exposed through a photomask having a predetermined pattern and developed to form a resist layer on a portion where the plating film is unnecessary. After this, after activating the catalyst,
The polyimide film is dipped in an electroless plating solution composed of a combination of copper sulfate and formaldehyde to form a copper plating film having a thickness of 2 μm to 20 μm to obtain a circuit pattern.

【0025】セミアディティブ法は、以下のようなプロ
セスである。金属層を形成する面に、クロム、ニッケ
ル、銅またはこれらの合金をスパッタし、下地層を形成
する。該下地層の厚みは1nmから1000nmの範囲
である。該下地層の上に銅スパッタ膜をさらに50nm
から3000nm積層することは、後に続く電解メッキ
のための導通を確保したり、金属層の接着力向上やピン
ホール欠陥防止に効果がある。該下地層形成に先立ち、
ポリイミドフィルム表面に接着力向上のために、プラズ
マ処理、逆スパッタ処理、プライマー層塗布、接着剤層
塗布が行われることは適宜許される。中でもエポキシ
系、アクリル系、ポリアミド系、ポリイミド系、NBR
系などの接着剤層塗布は接着力改善効果が大きく好まし
い。これらの処理や塗布は、枚葉基板貼り付け前に実施
されても良いし、枚葉基板貼り付け後に実施されても良
い。枚葉基板貼り付け前に長尺のポリイミドフィルムに
対してロールツーロールで連続処理されることは生産性
向上が図れ好ましい。また、下地層は補強板に可撓性フ
ィルムを貼り合わせてから形成しても良いし、貼り合わ
せ前に、例えば長尺の可撓性フィルム上に形成しても良
い。このようにして形成した下地層上にフォトレジスト
をスピンコーター、ブレードコーター、ロールコータ
ー、ダイコーター、スクリーン印刷などで塗布して乾燥
する。間欠的に送られてくる枚葉基板に材料使用効率高
く、均一に塗布をおこなうには、ダイコーターの採用が
好ましい。フォトレジストを所定パターンのフォトマス
クを介して露光、現像して、メッキ膜が不要な部分にレ
ジスト層を形成する。次いで下地層を電極として電解メ
ッキをおこなう。電解メッキ液としては、硫酸銅メッキ
液、シアン化銅メッキ液、ピロ燐酸銅メッキ液などが用
いられる。厚さ2μmから20μmの銅メッキ膜を形成
後、さらに必要に応じて金、ニッケル、錫などのメッキ
を施し、フォトレジストを剥離し、続いてスライトエッ
チングにて下地層を除去して、回路パターンを得る。
The semi-additive method is the following process. On the surface on which the metal layer is formed, chromium, nickel, copper or an alloy thereof is sputtered to form a base layer. The thickness of the underlayer is in the range of 1 nm to 1000 nm. A copper sputtered film having a thickness of 50 nm is further formed on the underlayer.
To 3000 nm is effective for ensuring electrical continuity for subsequent electrolytic plating, improving adhesion of the metal layer and preventing pinhole defects. Prior to forming the underlayer,
Plasma treatment, reverse sputtering treatment, primer layer coating, and adhesive layer coating are appropriately permitted on the surface of the polyimide film to improve the adhesive strength. Above all, epoxy type, acrylic type, polyamide type, polyimide type, NBR
The application of an adhesive layer such as a system is preferable because it has a large effect of improving the adhesive strength. These treatments and coatings may be performed before the single-wafer substrate is attached or after the single-wafer substrate is attached. It is preferable that a long polyimide film is continuously processed by roll-to-roll processing before being attached to a single-wafer substrate because productivity can be improved. The base layer may be formed after the flexible film is attached to the reinforcing plate, or may be formed, for example, on a long flexible film before the attachment. A photoresist is applied to the underlayer thus formed by a spin coater, a blade coater, a roll coater, a die coater, screen printing or the like and dried. It is preferable to use a die coater in order to apply the material uniformly to the single-wafer substrate that is intermittently sent with high material usage efficiency. The photoresist is exposed through a photomask having a predetermined pattern and developed to form a resist layer on a portion where the plating film is unnecessary. Next, electrolytic plating is performed using the underlayer as an electrode. As the electrolytic plating solution, a copper sulfate plating solution, a copper cyanide plating solution, a copper pyrophosphate plating solution, or the like is used. After forming a copper plating film with a thickness of 2 μm to 20 μm, further plating with gold, nickel, tin, etc. is performed if necessary, the photoresist is peeled off, and then the underlying layer is removed by slight etching to remove the circuit pattern. To get

【0026】また、これら金属配線回路形成において、
ポリイミドフィルムに接続孔を設けることができる。す
なわち、枚葉基板との貼り合わせ面側に設けた金属層と
の電気的接続を取るビアホールを設けたり、ボールグリ
ッドアレイのボール設置用の孔を設けたりすることがで
きる。接続孔の設け方としては、炭酸ガスレーザー、Y
AGレーザー、エキシマレーザーなどのレーザー孔開け
やケミカルエッチングを採用することができる。レーザ
ーエッチングを採用する場合は、エッチングストッパ層
として、ポリイミドフィルムの貼り付け面側に金属層が
あることが好ましい。ポリイミドフィルムのケミカルエ
ッチング液としては、ヒドラジン、水酸化カリウム水溶
液などを採用することができる。また、ケミカルエッチ
ング用マスクとしては、パターニングされたフォトレジ
ストや金属層が採用できる。電気的接続を取る場合は、
接続孔形成後、前述の金属層パターン形成と同時にメッ
キ法で孔内面を導体化することが好ましい。電気的接続
をとるための接続孔は、直径が15μmから200μm
が好ましい。ボール設置用の孔は、直径が50μmから
800μmが好ましく、80μmから800μmがより
好ましい。
In forming these metal wiring circuits,
Connection holes can be provided in the polyimide film. That is, it is possible to provide a via hole for electrical connection with the metal layer provided on the bonding surface side of the single-wafer substrate, or to provide a ball installation hole for the ball grid array. As a method of providing the connection hole, a carbon dioxide laser, Y
Laser drilling such as AG laser and excimer laser and chemical etching can be adopted. When laser etching is adopted, it is preferable that the etching stopper layer has a metal layer on the side where the polyimide film is attached. As the chemical etching liquid for the polyimide film, hydrazine, potassium hydroxide aqueous solution or the like can be adopted. A patterned photoresist or a metal layer can be used as the chemical etching mask. When making an electrical connection,
After forming the connection hole, it is preferable to make the inner surface of the hole a conductor by a plating method at the same time when the metal layer pattern is formed. The connection hole for electrical connection has a diameter of 15 μm to 200 μm
Is preferred. The diameter of the holes for placing the balls is preferably 50 μm to 800 μm, more preferably 80 μm to 800 μm.

【0027】次いで回路パターンが形成されたポリイミ
ドフィルムを枚葉基板から剥離する。該回路パターンへ
の電子部品マウント装置などで取り扱い易いように、レ
ーザー、高圧水ジェットやカッターなどを用いて、剥離
前に個片または個片の集合体に該回路パターン付きポリ
イミドフィルムを切り分けておくことが好ましい。ま
た、剥離時だけでなく、回路パターン作製時にも個片ま
たは個片の集合体のように小さくしておくとポリイミド
フィルムに応力が残りにくく好ましい。電子部品との接
続の位置精度を保つために、ポリイミドフィルム上の回
路パターンへ電子部品を接続後に、該フィルムを枚葉基
板から剥離することがさらに好ましい。電子部品との接
続方法としては、ハンダ接続、異方導電性接着剤・フィ
ルムによる接続、金属共晶による接続、非導電性接着剤
・フィルムによる接続、ワイヤーボンディング接続など
が採用できる。
Next, the polyimide film having the circuit pattern formed thereon is peeled off from the single substrate. The polyimide film with the circuit pattern is cut into individual pieces or an assembly of individual pieces before peeling by using a laser, a high-pressure water jet, a cutter, or the like so that the electronic component mounting device for the circuit pattern can be easily handled. It is preferable. Further, it is preferable that the polyimide film is less likely to have stress when it is made small like an individual piece or an assembly of individual pieces not only at the time of peeling but also at the time of circuit pattern production. In order to maintain the positional accuracy of the connection with the electronic component, it is more preferable to peel the film from the sheet substrate after connecting the electronic component to the circuit pattern on the polyimide film. As a method for connecting to an electronic component, solder connection, anisotropic conductive adhesive / film connection, metal eutectic connection, non-conductive adhesive / film connection, wire bonding connection, or the like can be adopted.

【0028】本発明の回路基板は、電子機器の配線板、
ICパッケージ用インターポーザーなどに使用される。
回路パターンに抵抗素子や容量素子を入れ込むことは適
宜許される。また、可撓性フィルム基板の少なくとも一
方の面に絶縁層と配線層を積層し、多層化することも可
能である。
The circuit board of the present invention is a wiring board for electronic equipment,
Used in IC package interposers.
It is appropriately permitted to insert a resistance element or a capacitance element in the circuit pattern. It is also possible to stack an insulating layer and a wiring layer on at least one surface of the flexible film substrate to form a multilayer structure.

【0029】[0029]

【実施例】以下実施例を挙げて本発明をさらに具体的に
説明するが、本発明はこれらに限定されるものではな
い。なお、本発明においてガラスのヤング率は、JIS
R1602によって求められる値とする。また、金属
のヤング率は、ASTM E1876−00によって求
められる値とする。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples, but the present invention is not limited thereto. In the present invention, the Young's modulus of glass is JIS
The value obtained by R1602. In addition, the Young's modulus of the metal is a value obtained by ASTM E1876-00.

【0030】実施例1 厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ酸塩
ガラスを真空吸着で移動定盤上に固定した。ピストン型
ポンプで弱粘着性再剥離剤”SKダイン”1491(綜
研化学(株)製)と硬化剤L−45(綜研化学(株)
製)を75:1で混合したものをダイコーターヘッドに
供給しつつ、ガラスを固定した定盤をダイコーターヘッ
ド幅方向と直角方向に移動させて、再剥離剤を塗布し
た。塗布開始時には、塗布開始位置にガラスとダイコー
ターヘッドとを移動させた後、一端停止させ、再剥離剤
をダイコーターヘッドに供給してダイコーターヘッドに
ビード(塗液溜まり)を形成させた。ビード形成後、ガ
ラスとダイコーターヘッドを相対的に動かし始めること
で、塗布開始部分の再剥離剤厚みをコントロールした。
また、塗布終了時は、塗布終了位置よりも前に再剥離剤
供給を停止し、ビードを消費しつつ塗布し、また、塗布
終了位置でダイコーターヘッドをガラスから離すこと
で、塗布終了部分の再剥離剤厚みをコントロールした。
塗布終了後、ガラスを定盤からオーブンへ移し、90℃
で2分乾燥した。乾燥後の再剥離剤厚みを15μmとし
た。次いで再剥離剤層に、ポリエステルフィルム上に離
型容易なシリコーン樹脂層を設けたフィルムからなる空
気遮断用フィルムを貼り付けて(アルミノホウケイ酸塩
ガラス/再剥離剤層/シリコーン樹脂層/ポリエステル
フィルムの構成)1週間おいた。該ガラス基板のヤング
率は、7140kg/mm2であり、ヤング率(kg/
mm2)と厚さ(mm)の3乗の積は、2449kg・
mmであった。
Example 1 A 300 mm square aluminoborosilicate glass having a thickness of 0.7 mm was fixed on a moving platen by vacuum adsorption. Piston type pump for weak adhesive removability agent "SKDyne" 1491 (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) and curing agent L-45 (Soken Chemical Industry Co., Ltd.)
While supplying a mixture of the product manufactured by M.M. Co., Ltd.) in a ratio of 75: 1 to the die coater head, the platen on which the glass was fixed was moved in the direction perpendicular to the width direction of the die coater head to apply the re-release agent. At the start of coating, the glass and the die coater head were moved to the coating start position, then stopped once, and the re-release agent was supplied to the die coater head to form beads (coating solution pool) on the die coater head. After forming the beads, the thickness of the re-peeling agent at the coating start portion was controlled by starting relative movement of the glass and the die coater head.
Further, at the end of coating, the supply of the re-release agent is stopped before the coating end position, coating is performed while consuming the bead, and the die coater head is separated from the glass at the coating end position to remove the coating end portion. The thickness of the removable agent was controlled.
After coating, transfer the glass from the surface plate to the oven, 90 ℃
And dried for 2 minutes. The thickness of the removable agent after drying was set to 15 μm. Next, an air barrier film made of a film having a silicone resin layer on the polyester film, which is easy to release, is attached to the removable agent layer (aluminoborosilicate glass / removable agent layer / silicone resin layer / polyester film). It's been a week. The Young's modulus of the glass substrate was 7140 kg / mm 2 , and the Young's modulus (kg /
The product of the cube of mm 2 ) and the thickness (mm) is 2449 kg.
It was mm.

【0031】金属層接着力向上のための接着剤を以下の
ようにして用意した。フラスコ内を窒素雰囲気に置換
し、N,N−ジメチルアセトアミド228部を入れ、
1,1,3,3−テトラメチル−1,3−ビス(3−ア
ミノプロピル)ジシロキサン19.88部を溶解した。
次いで、3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカ
ルボン酸二無水物25.76部を加え、窒素雰囲気下で
10℃、1時間撹拌した。続いて50℃で3時間撹拌し
ながら反応させ、ポリイミド前駆体ワニスからなる接着
剤を得た。
An adhesive for improving the adhesive strength of the metal layer was prepared as follows. The inside of the flask was replaced with a nitrogen atmosphere, 228 parts of N, N-dimethylacetamide was added,
19.88 parts of 1,1,3,3-tetramethyl-1,3-bis (3-aminopropyl) disiloxane was dissolved.
Next, 25.76 parts of 3,3 ′, 4,4′-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride was added, and the mixture was stirred under a nitrogen atmosphere at 10 ° C. for 1 hour. Subsequently, the mixture was reacted at 50 ° C. for 3 hours while stirring to obtain an adhesive composed of a polyimide precursor varnish.

【0032】ロールコーターの一種であるコンマコータ
ーを用いて、厚さ25μm、幅300mmの長尺のポリ
イミドフィルム(”ユーピレックス”宇部興産(株)
製)に該接着剤を連続的に塗布した。次いで、80℃で
10分間、130℃で10分間、150℃で15分間乾
燥し、250℃で5分間キュアした。キュア後の接着剤
層の膜厚は1μmであった。ポリイミドフィルムはロッ
ト違いのもの5点を用意した。
Using a comma coater, which is a type of roll coater, a long polyimide film having a thickness of 25 μm and a width of 300 mm (“UPILEX” manufactured by Ube Industries, Ltd.)
Manufactured) was continuously coated with the adhesive. Then, it was dried at 80 ° C. for 10 minutes, 130 ° C. for 10 minutes, 150 ° C. for 15 minutes, and cured at 250 ° C. for 5 minutes. The film thickness of the adhesive layer after curing was 1 μm. Five polyimide films with different lots were prepared.

【0033】上記ポリエステルフィルムとシリコーン樹
脂層からなる空気遮断用フィルムを剥がしつつ、再剥離
剤層が形成されているガラスにロール式ラミネーター
で、接着剤を塗布したポリイミドフィルムを、ポリイミ
ドフィルム側がガラス面になるように貼り付けた。ガラ
スにラミネートされたポリイミドフィルムは、ガラス終
端に合わせてカットした。
While peeling off the air barrier film consisting of the polyester film and the silicone resin layer, the glass on which the re-release agent layer is formed is coated with an adhesive using a roll laminator. I pasted it to become. The polyimide film laminated on the glass was cut according to the glass end.

【0034】次いでスパッタにて厚さ50nmのクロム
−ニッケル合金膜と厚さ100nmの銅膜をこの順に該
接着剤層上に積層した。該銅膜上にポジ型フォトレジス
トをスピンコーターで塗布して80℃で10分間乾燥し
た。該フォトレジストをフォトマスクを介して露光、現
像して、メッキ膜が不要な部分に厚さ10μmのレジス
ト層を形成した。テスト用フォトマスクパターンは、線
幅10μmで、ピッチが500μmの格子状パターンを
ポジネガ反転したパターンとした。すなわち、格子状の
メッキパターンが得られる。現像後、120℃で10分
間ポストベークした。次いで該金属層を電極として電解
メッキをおこなった。電解メッキ液は、硫酸銅メッキ液
とした。厚さ5μmの銅メッキ膜を形成後、フォトレジ
ストをフォトレジスト剥離液で剥離し、続いて塩化鉄水
溶液によるソフトエッチングにてレジスト層の下にあっ
た銅膜およびクロム−ニッケル合金膜を除去して、格子
状金属パターンを得た。
Then, a chromium-nickel alloy film having a thickness of 50 nm and a copper film having a thickness of 100 nm were laminated in this order on the adhesive layer by sputtering. A positive photoresist was applied on the copper film with a spin coater and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The photoresist was exposed through a photomask and developed to form a resist layer having a thickness of 10 μm on a portion where the plating film was unnecessary. The test photomask pattern was a pattern in which a grid pattern having a line width of 10 μm and a pitch of 500 μm was positive-negative inverted. That is, a grid-shaped plating pattern is obtained. After development, it was post-baked at 120 ° C. for 10 minutes. Next, electrolytic plating was performed using the metal layer as an electrode. The electrolytic plating solution was a copper sulfate plating solution. After forming a copper plating film having a thickness of 5 μm, the photoresist is removed with a photoresist removing solution, and then the copper film and the chromium-nickel alloy film under the resist layer are removed by soft etching with an aqueous iron chloride solution. As a result, a grid-shaped metal pattern was obtained.

【0035】ポリイミドフィルムの金属パターン面側か
ら真空吸着し、端部から徐々に枚葉基板から剥離した。
Vacuum suction was performed from the metal pattern surface side of the polyimide film, and the polyimide film was gradually peeled from the single-sided substrate from the end.

【0036】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0037】実施例2 厚さ2mm、300mm角のソーダガラスを用いたこと
以外は実施例1と同様にして金属膜パターンを得た。該
ガラス基板のヤング率は、6832kg/mm 2であ
り、ヤング率(kg/mm2)と厚さ(mm)の3乗の
積は、54656kg・mmであった。
Example 2 2mm thick, 300mm square soda glass was used
A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except for the above. The
Young's modulus of the glass substrate is 6832 kg / mm 2And
, Young's modulus (kg / mm2) And the cube of the thickness (mm)
The product was 54656 kg · mm.

【0038】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0039】実施例3 厚さ0.5mm、300mm角のソーダガラスを用いた
こと以外は実施例1と同様にして金属膜パターンを得
た。該ガラス基板のヤング率は、6832kg/mm2
であり、ヤング率(kg/mm2)と厚さ(mm)の3
乗の積は、854kg・mmであった。
Example 3 A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that 300 mm square soda glass having a thickness of 0.5 mm was used. Young's modulus of the glass substrate is 6832 kg / mm 2
And Young's modulus (kg / mm 2 ) and thickness (mm) are 3
The product of powers was 854 kg · mm.

【0040】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±10μm以内にあり、良好であ
ったが、実施例1や2に比べてばらつきが大きくなっ
た。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, it was found that all 5 polyimide films of different lots were within ± 10 μm with respect to the photomask pattern, which was good, but compared with Examples 1 and 2. The variability has increased.

【0041】実施例4 厚さ0.4mm、300mm角のソーダガラスを用いた
こと以外は実施例1と同様にして金属膜パターンを得
た。該ガラス基板のヤング率は、6832kg/mm2
であり、ヤング率(kg/mm2)と厚さ(mm)の3
乗の積は、437kg・mmであった。
Example 4 A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that 300 mm square soda glass having a thickness of 0.4 mm was used. Young's modulus of the glass substrate is 6832 kg / mm 2
And Young's modulus (kg / mm 2 ) and thickness (mm) are 3
The product of powers was 437 kg · mm.

【0042】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て20μm歪んだものがあった。比較例に比べると良好
ではあるが、120μmピッチ以下の比較的細かな加工
では問題になるレベルであった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, some of the photomask patterns were distorted by 20 μm toward the outside of the substrate. Although it was better than the comparative example, it was at a level that would be a problem in comparatively fine processing with a pitch of 120 μm or less.

【0043】実施例5 紫外線照射で粘着力が低下する粘着剤”SKダイン”S
W−11A(綜研化学(株)製)と硬化剤L−45(綜
研化学(株)製)を50:1で混合したものを塗布し、
80℃で2分乾燥した。乾燥後の粘着剤厚みを20μm
とした。粘着剤を変更したことと枚葉基板から剥離する
前に、ガラス基板側から紫外線を1000mJ/cm2
照射したこと以外は実施例1と同様にして金属膜パター
ンを得た。
Example 5 Adhesive "SKDyne" S whose adhesive strength is reduced by UV irradiation
A mixture of W-11A (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) and a curing agent L-45 (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) at a ratio of 50: 1 was applied,
It was dried at 80 ° C. for 2 minutes. Thickness of adhesive after drying is 20 μm
And Before changing the adhesive and peeling from the single-wafer substrate, ultraviolet rays of 1000 mJ / cm 2 were applied from the glass substrate side.
A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that the irradiation was performed.

【0044】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0045】実施例6 片面に厚さ18μmの銅箔をエポキシ系接着剤で貼り合
わせたポリイミドフィルムを準備した。該ポリイミドフ
ィルムの銅箔貼り合わせ面の反対面に、実施例1と同様
にして、接着剤を塗布し、該ポリイミドフィルムをガラ
ス基板に貼り付けた。
Example 6 A polyimide film was prepared by adhering a copper foil having a thickness of 18 μm on one surface with an epoxy adhesive. An adhesive was applied to the surface of the polyimide film opposite to the copper foil bonding surface in the same manner as in Example 1, and the polyimide film was bonded to a glass substrate.

【0046】炭酸ガスレーザーを用いて、直径100μ
mの孔を10mmピッチで格子状に形成した。該接続孔
は、ポリイミドフィルムを貫通し、銅箔裏側に達してい
る。
Using a carbon dioxide laser, the diameter is 100 μm.
m holes were formed in a grid pattern at a pitch of 10 mm. The connection hole penetrates through the polyimide film and reaches the back side of the copper foil.

【0047】スパッタにて厚さ50nmのクロム−ニッ
ケル合金膜と厚さ100nmの銅膜をこの順に該接着剤
層上に積層した。該銅膜上にポジ型フォトレジストをス
ピンコーターで塗布して80℃で10分間乾燥した。該
フォトレジストをフォトマスクを介して露光、現像し
て、メッキ膜が不要な部分にレジスト層を形成した。テ
スト用フォトマスクパターンは、線幅10μmで、ピッ
チが500μmの格子状パターンと1mmピッチのレー
ザーで孔開けした部分には直径300μmの円形を繰り
返し配置したパターンをポジネガ反転したパターンとし
た。現像後、130℃で10分間ポストベークした。次
いで該銅膜を電極として電解メッキをおこなった。電解
メッキ液は、硫酸銅メッキ液とした。厚さ5μmの銅メ
ッキ膜を形成後、フォトレジストをフォトレジスト剥離
液で剥離し、続いて塩化鉄水溶液によるソフトエッチン
グにてレジスト層の下にあった銅膜とクロム−ニッケル
合金膜を除去して、金属膜パターンを得た。接続孔内に
も金属膜が付着し表裏の導通がとれた。
A chromium-nickel alloy film having a thickness of 50 nm and a copper film having a thickness of 100 nm were laminated in this order on the adhesive layer by sputtering. A positive photoresist was applied on the copper film with a spin coater and dried at 80 ° C. for 10 minutes. The photoresist was exposed to light through a photomask and developed to form a resist layer on a portion where the plating film was unnecessary. The test photomask pattern was a pattern in which a grid pattern having a line width of 10 μm and a pitch of 500 μm and a circle having a diameter of 300 μm repeatedly arranged in a portion punched by a laser having a pitch of 1 mm were positive-negative inverted. After development, it was post-baked at 130 ° C. for 10 minutes. Next, electrolytic plating was performed using the copper film as an electrode. The electrolytic plating solution was a copper sulfate plating solution. After forming a copper plating film having a thickness of 5 μm, the photoresist is removed with a photoresist removing solution, and then the copper film and the chromium-nickel alloy film under the resist layer are removed by soft etching with an aqueous iron chloride solution. A metal film pattern was obtained. A metal film was also attached to the inside of the connection hole, and conduction between the front and back sides was achieved.

【0048】ポリイミドフィルムの金属パターン面側か
ら真空吸着し、端部から徐々に枚葉基板から剥離した。
Vacuum suction was performed from the metal pattern surface side of the polyimide film, and the polyimide film was gradually peeled from the single substrate from the end.

【0049】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0050】実施例7 厚さ0.5mm、300mm角のステンレススチール板
を補強板に用いたこと以外は実施例1と同様にして金属
膜パターンを得た。ステンレススチール板のヤング率
は、20320kg/mm2であり、ヤング率(kg/
mm2)と厚さ(mm)の3乗の積は、2540kg・
mmであった。
Example 7 A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that a 300 mm square stainless steel plate having a thickness of 0.5 mm was used as the reinforcing plate. The Young's modulus of the stainless steel plate is 20320 kg / mm 2 , and the Young's modulus (kg /
The product of the cube of mm 2 ) and thickness (mm) is 2540 kg.
It was mm.

【0051】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0052】実施例8 厚さ0.2mm、300mm角のステンレススチール板
を補強板に用いたこと以外は実施例1と同様にして金属
膜パターンを得た。ステンレススチール板のヤング率
は、20320kg/mm2であり、ヤング率(kg/
mm2)と厚さ(mm)の3乗の積は、163kg・m
mであった。
Example 8 A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that a 300 mm square stainless steel plate having a thickness of 0.2 mm was used as the reinforcing plate. The Young's modulus of the stainless steel plate is 20320 kg / mm 2 , and the Young's modulus (kg /
The product of the cube of mm 2 ) and thickness (mm) is 163 kg · m
It was m.

【0053】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、ロット違いポリイミドフィルム5点ともフォトマ
スクパターンに対して±5μm以内にあり、非常に良好
であった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, all 5 polyimide films of different lots were within ± 5 μm with respect to the photomask pattern, which was very good.

【0054】実施例9 厚さ0.05mm、300mm角のステンレススチール
板を補強板に用いたこと以外は実施例1と同様にして金
属膜パターンを得た。該ステンレススチール板のヤング
率は、20320kg/mm2であり、ヤング率(kg
/mm2)と厚さ(mm)の3乗の積は、2.5kg・
mmであった。
Example 9 A metal film pattern was obtained in the same manner as in Example 1 except that a 300 mm square stainless steel plate having a thickness of 0.05 mm was used as the reinforcing plate. The Young's modulus of the stainless steel plate is 20320 kg / mm 2 , and the Young's modulus (kg
/ Mm 2 ) and the thickness (mm) cubed are 2.5 kg
It was mm.

【0055】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て17μm歪んだものがあった。比較例に比べると良好
ではあるが、120μmピッチ以下の比較的細かな加工
では問題になるレベルであった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions) was measured, some of the photomask patterns were distorted by 17 μm toward the outside of the substrate. Although it was better than the comparative example, it was at a level that would be a problem in comparatively fine processing with a pitch of 120 μm or less.

【0056】比較例1 実施例1と同様にして厚さ25μm、幅300mmのポ
リイミドフィルムに接着剤を塗布、乾燥、キュアした。
枚葉基板に該ポリイミドフィルムを貼り付けず、300
mm角のポリイミドフィルム単体に対して、実施例1と
同じ、スパッタ膜形成、フォトレジストパターン形成、
メッキ膜形成、フォトレジスト剥離、ソフトエッチング
を施した。
Comparative Example 1 In the same manner as in Example 1, an adhesive was applied to a polyimide film having a thickness of 25 μm and a width of 300 mm, dried and cured.
Without attaching the polyimide film to the single-wafer substrate, 300
Same as in Example 1 for a single mm square polyimide film, formation of sputtered film, formation of photoresist pattern,
Plated film formation, photoresist stripping, and soft etching were performed.

【0057】測長機SMIC−800(ソキア(株)
製)にて、交差する金属膜線の中心線が交わる点として
該格子状金属パターンの交点の位置を測定した。対角方
向に本来約283mm離れた2点(x方向に200m
m、y方向に200mm離れた点)の距離を測定したと
ころ、フォトマスクパターンに対して基板外側に向かっ
て45μm歪んだものがあった。200μmピッチ以上
の比較的粗い加工でも問題になるレベルであった。
Length measuring machine SMIC-800 (Sokia Corporation)
Manufactured), the position of the intersection of the grid-shaped metal patterns was measured as the intersection of the center lines of the intersecting metal film lines. Two points that were originally about 283 mm apart in the diagonal direction (200 m in the x direction)
When a distance of 200 mm in the m and y directions was measured, it was found that some photomask patterns were distorted by 45 μm toward the outside of the substrate. Even a relatively rough processing with a pitch of 200 μm or more was at a level to be a problem.

【0058】比較例2 厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ酸塩
ガラスをスピンコーターにセットし、実施例1で使用し
たものと同じ弱粘着性再剥離剤”SKダイン”1491
H(綜研化学(株)製)と硬化剤L−45(綜研化学
(株)製)を75:1で混合したものをガラス上に滴下
した。回転数を変えて最適な塗布条件を探したが、濡れ
拡がりが悪く、均一に塗布することができなかった。
Comparative Example 2 Aluminoborosilicate glass having a thickness of 0.7 mm and a size of 300 mm was set on a spin coater, and the same weak-adhesive re-release agent "SKDyne" 1491 used in Example 1 was used.
A mixture of H (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) and curing agent L-45 (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) at a ratio of 75: 1 was dropped on glass. Optimum coating conditions were sought by changing the number of revolutions, but wetting and spreading were poor, and uniform coating could not be performed.

【0059】比較例3 厚さ0.7mm、300mm角のアルミノホウケイ酸塩
ガラスを移動する定盤に真空吸着し、実施例1で使用し
たものと同じ弱粘着性再剥離剤”SKダイン”1491
H(綜研化学(株)製)と硬化剤L−45(綜研化学
(株)製)を75:1で混合したものを塗布開始位置に
滴下した。次いでガラスとドクターブレードの先端との
距離を50μmに保って、ガラスとドクターブレードを
相対的に移動させて、再剥離剤を塗布した。ガラス中央
部は所望の15μmの厚みが得られたが、塗布開始部分
と終了部分は幅方向に大きな膜厚ムラがあった。終了部
分は3倍以上の膜厚になることがあり不良であった。
Comparative Example 3 A 0.7 mm thick, 300 mm square aluminoborosilicate glass was vacuum-adsorbed on a moving platen, and the same weak-adhesive removing agent "SKDyne" 1491 used in Example 1 was used.
A mixture of H (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) and curing agent L-45 (manufactured by Soken Chemical Industry Co., Ltd.) at a ratio of 75: 1 was dropped at the coating start position. Then, the distance between the glass and the tip of the doctor blade was maintained at 50 μm, the glass and the doctor blade were moved relatively to each other, and the removable agent was applied. A desired thickness of 15 μm was obtained in the central portion of the glass, but there was a large thickness unevenness in the width direction at the coating start portion and the coating end portion. The end portion was defective because the film thickness could be three times or more.

【0060】[0060]

【発明の効果】本発明は、可撓性フィルム基板を特に枚
葉補強板と貼り合わせて、回路パターンを加工し、その
後可撓性フィルムを剥離し、使用するので、加工工程で
の熱処理プロセス、湿式プロセスによる膨張と収縮、あ
るいは引っ張りや捻れなどの外力による変形を抑制し
て、より設計値に近い微細加工を可能とするものであ
る。特に、ICなどの電子部品を接続する際の電極パッ
ドと回路基板パターンとの位置合わせ精度に係わる位置
精度の改善に効果が大きい。
According to the present invention, since the flexible film substrate is bonded to the sheet reinforcing plate, the circuit pattern is processed, and then the flexible film is peeled off and used, the heat treatment process in the processing step is performed. The expansion and contraction due to the wet process or the deformation due to the external force such as pulling and twisting is suppressed, and the fine processing closer to the design value is enabled. In particular, the effect is great in improving the positional accuracy related to the positioning accuracy between the electrode pad and the circuit board pattern when connecting an electronic component such as an IC.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小國 昌宏 滋賀県大津市園山1丁目1番1号 東レ株 式会社滋賀事業場内 Fターム(参考) 5E343 AA02 AA18 AA33 BB24 CC01 CC62 DD25 DD43 ER12 ER18 ER21 ER26 FF30 GG08    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Masahiro Oguni             1-1 1-1 Sonoyama, Otsu City, Shiga Prefecture Toray Co., Ltd.             Ceremony company Shiga business site F term (reference) 5E343 AA02 AA18 AA33 BB24 CC01                       CC62 DD25 DD43 ER12 ER18                       ER21 ER26 FF30 GG08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】可撓性フィルムを剥離可能な有機物層を介
して補強板と貼り合わせ、次いで、可撓性フィルム上に
回路パターンを形成した後、可撓性フィルムを補強板か
ら剥離することを特徴とする回路基板の製造方法。
1. A flexible film is attached to a reinforcing plate via a peelable organic layer, a circuit pattern is formed on the flexible film, and then the flexible film is peeled from the reinforcing plate. And a method for manufacturing a circuit board.
【請求項2】可撓性フィルムの補強板との貼り合わせ面
の反対面から接続孔を形成することを特徴とする請求項
1記載の回路基板の製造方法。
2. The method of manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the connection hole is formed from a surface opposite to a surface of the flexible film bonded to the reinforcing plate.
【請求項3】補強板が枚葉であり、長尺可撓性フィルム
を該枚葉補強板に合わせて切断して貼り合わせることを
特徴とする請求項1記載の回路基板の製造方法。
3. The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the reinforcing plate is a sheet, and the long flexible film is cut and stuck together with the sheet reinforcing plate.
【請求項4】補強板のヤング率(kg/mm2)と厚さ
(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上860000
kg・mm以下の範囲であることを特徴とする請求項1
記載の回路基板の製造方法。
4. The product of the cube of Young's modulus (kg / mm 2 ) and thickness (mm) of the reinforcing plate is 2 kg · mm or more and 860000.
2. The range of kg · mm or less.
A method for manufacturing the circuit board described.
【請求項5】補強板がガラスであり、ヤング率(kg/
mm2)と厚さ(mm)の3乗の積が、850kg・m
m以上860000kg・mm以下の範囲であることを
特徴とする請求項4記載の回路基板の製造方法。
5. The Young's modulus (kg /
The product of the cube of mm 2 ) and the thickness (mm) is 850 kg · m
The method for manufacturing a circuit board according to claim 4, wherein the range is m or more and 860000 kg · mm or less.
【請求項6】補強板が金属であり、ヤング率(kg/m
2)と厚さ(mm)の3乗の積が、2kg・mm以上
162560kg・mm以下の範囲であることを特徴と
する請求項4記載の回路基板の製造方法。
6. The reinforcing plate is made of metal and Young's modulus (kg / m)
The method for manufacturing a circuit board according to claim 4, wherein the product of m 3 ) and the cube of thickness (mm) is in the range of 2 kg · mm or more and 162560 kg · mm or less.
【請求項7】補強板が枚葉であり、剥離可能な有機物層
および/またはフォトレジストをダイコーターで補強板
に塗布することを特徴とする請求項1記載の回路基板の
製造方法。
7. The method for manufacturing a circuit board according to claim 1, wherein the reinforcing plate is a single sheet, and the peelable organic material layer and / or photoresist is applied to the reinforcing plate by a die coater.
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