JP4962353B2 - 碁盤目試験方法及び碁盤目試験装置 - Google Patents
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Description
〈装置構成〉
図1は、本前提技術に係る定量碁盤目試験装置(1)の概略構成図である。この定量碁盤目試験装置(1)は、ワーク(10)としての滑り軸受け(円筒状の基材)の内面に塗布された塗膜(11)に対して縦横に切り込み(12)を形成する切り込み形成機構(20)を有している。ワーク(10)は、上述したように内周面に塗膜(11)がコーティングされたものであって、図示していないが軸心を中心として回転するように定量碁盤目試験装置(1)が構成されている。
この定量碁盤目試験装置(1)では、ワーク(10)が停止した状態でその内面に刃先がわずかに食い込む位置で切り込み形成機構(20)の本体部(21)を軸方向へ進退させてから、ワーク(10)を所定角度回転させる動作を繰り返して行い、塗膜(11)に対して軸方向の第1切り込み(12a)を等間隔で形成する(第1切り込み手段(20a))。つまり、ワーク(10)を断続的に回転させながら軸方向(縦)の第1切り込み(12a)を等間隔で形成する。
本前提技術によれば、ワーク(10)にコーティングされた塗膜(11)に対して形成する第2切り込み(12b)の間隔を異ならせることにより、塗膜(11)の剥がれやすさ(密着力)を変化させ、第2切り込み(12b)の間隔の広い部分に比べて第2切り込み(12b)の間隔の狭い部分の方が塗膜(11)から剥がれやすくしている。したがって、どの程度の間隔で第2切り込み(12b)を形成した部分の塗膜(11)が剥がれているかを評価することによって、塗膜(11)の密着力を定量的に判断できるため、塗膜(11)の密着力を従来より正確に評価できる。また、この前提技術ではワーク(10)に治具や粘着テープを接着する必要がなく、測定を特に簡単に行える。
図1に示した例では、周方向の第2切り込み(12b)を互いに平行で軸方向に不連続な複数の切り込み(12b)にしているが、上記第2切り込み(12b)を周方向へ互いに平行で軸方向へ不連続に形成する代わりに、図3に示すように、周方向と軸方向に連続し、ねじれ角が漸次変化する1本の螺旋状の第2切り込み(12c)を形成して、一端側から他端側へ第2切り込み(12c)の間隔が狭くなるようにしてもよい。
上記実施形態については、以下のような構成としてもよい。
比較例(A)として、炭素鋼(S45C)の円筒材に燐酸マンガン被膜処理を施した基材(10)の内周にPAI(ポリアミドイミド)とPTFE(ポリテトラフルオロエチレン)の塗膜(11)を塗布した後に焼成し、被膜を作成したものを試験片(A)とした。
焼結材には、JPMA(日本粉末冶金工業規格)SMF4040に相当する材料を用いた。そして、基材は、内径φ34mm、外径φ44mm、長さ30mmの円筒形状に形成した。この寸法は一例であり、変更可能である。
試験装置(1)の切り込み工具(切り込み形成部)(22)は、刃先が良好な状態にあることが必要である。また、等間隔に切り込みを入れるため、単一の切り込み工具(22)を用いる際に、ガイドを有する等間隔スペーサを用いてもよい。
試験は、他に同意がない限り、温度23±2°,相対湿度50±5%で、上述したように、試験片上の最低3つの異なる箇所で試験を行う。また、他に規定がない限り、試験片を試験の直前に、最低16時間にわたり、温度23±2°,相対湿度50±5%で養生する。
まず、試験片を万力などで固定する。次に、規定の手順に従い、手動で切り込みを行うが、試験の前に刃の部分を検査し、刃を交換することでその状態を維持する。
付着力を失った塗膜を除去するには、粘着テープを用いてもよい。粘着テープは、観察用に保存しておいてもよい。
試験結果の評価は、付着力を失った塗膜を除去した直後に行う。その際、剥離した塗膜を上部から、観察器具を用い観察する。剥離している塗膜の間隔と剥離していない塗膜の間隔を数値化する。2つの数値を必要に応じて用い、試験結果とする。なお、剥離部分の間隔が小さいほど、密着性は高い。
測定結果を図4の表に示している。この表中の定量碁盤目剥離幅は、デジタルマイクロスコープを使用して測定した。数値は3回測定した平均値である。
10 基材
11 塗膜
12 切り込み
12a 軸方向(縦)の切り込み(第1切り込み)
12b 周方向(横)の切り込み(第2切り込み)
12c 螺旋状の切り込み(第2切り込み)
20 切り込み形成機構(剥離機構)
20a 第1切り込み手段
20b 第2切り込み手段
Claims (5)
- 基材(10)に塗布された塗膜(11)に対して縦横に切り込み(12)を形成する切り込み形成工程と、切り込み(12)の形成後に塗膜(11)に剥離力を作用させる剥離工程と、剥離工程後に塗膜(11)が剥がれた状態に基づいて塗膜(11)の密着力を評価する評価工程とを順に行う碁盤目試験方法であって、
上記切り込み形成工程は、縦横の一方の第1切り込み(12a)を等間隔で形成し、縦横の他方の第2切り込み(12b,12c)を不均一な間隔で形成する工程であり、
上記切り込み形成工程は、円筒状の基材(10)に形成された塗膜(11)を切り込み形成対象として、軸方向に連続する第1切り込み(12a)を等間隔に形成する一方、周方向に連続する第2切り込み(12b,12c)を不均一な間隔で形成する工程であり、
上記切り込み形成工程は、周方向と軸方向に連続し、ねじれ角が漸次変化する1本の螺旋状の切り込みである上記第2切り込み(12c)を形成するように構成されていることを特徴とする碁盤目試験方法。 - 請求項1において、
上記切り込み形成工程は、上記第2切り込み(12b,12c)を、一端側から他端側へ向かって間隔が徐々に大きくまたは小さくなるように形成する工程であることを特徴とする碁盤目試験方法。 - 請求項1において、
上記評価工程は、上記塗膜(11)が剥がれた部分の第2切り込み(12b,12c)の間隔を測定することにより、上記基材(10)に塗布された塗膜(11)の密着力を評価する工程であることを特徴とする碁盤目試験方法。 - 基材(10)に塗布された塗膜(11)に対して縦横に切り込み(12)を形成する切り込み形成機構(20)と、切り込み(12)を形成した塗膜(11)に剥離力を作用させる剥離機構(20)とを備え、塗膜(11)に対して碁盤目試験を行う碁盤目試験装置であって、
上記切り込み形成機構(20)は、縦横の一方の第1切り込み(12a)を等間隔で形成する第1切り込み手段(20a)と、縦横の他方の第2切り込み(12b,12c)を不均一な間隔で形成する第2切り込み手段(20b)とを備え、
上記切り込み形成機構(20)が円筒状の基材(10)に形成された塗膜(11)を切り込み形成対象とするものであり、第1切り込み手段(20a)が軸方向に連続する第1切り込み(12a)を等間隔に形成する一方、第2切り込み手段(20b)は周方向に連続する第2切り込み(12b,12c)を不均一な間隔で形成するように構成され、
上記第2切り込み手段(20b)は、周方向と軸方向に連続し、ねじれ角が漸次変化する1本の螺旋状の切り込みである上記第2切り込み(12c)を形成するように構成されていることを特徴とする碁盤目試験装置。 - 請求項4において、
上記第2切り込み手段(20b)は、一端側から他端側へ向かって間隔が徐々に大きくまたは小さくなるように、上記第2切り込み(12b,12c)を塗膜(11)に形成することを特徴とする碁盤目試験装置。
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