JP4960137B2 - プログラマブルデバイスに対するソフトエラーロケーションおよび感度検出 - Google Patents
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Description
本出願は、参考により援用される、2006年4月21日に出願された米国仮特許第60/793,946号の利益を主張する。本出願は、参考により援用される、2006年4月19日に出願された米国特許出願第11/407,519号に関連する。
(項目1)
プログラマブルデバイスの構成メモリにおけるエラーを検出する方法であって、
該構成メモリから構成メモリデータを読み取ることと、
該構成メモリデータにおいてエラーが発生したか否かを判断することと、
エラーが発生したという判断に応答して、
エラーである該構成データに対応する感度データを読み取ることと、
該エラーを無視することができるか否かを判断するために該感度データを解析することと、
該エラーを無視することができない場合、修復アクティビティを開始することと、
該エラーを無視することができる場合、該修復アクティビティを開始しないことによって該エラーを無視することと
を包含する、方法。
(項目2)
上記修復アクティビティを開始しないことによって上記エラーを無視する行動が、エラーログに該エラーの位置を格納することをさらに含む、項目1に記載の方法。
(項目3)
上記エラーが発生したという上記判断に対する上記応答が、
上記感度データを読み取る前に上記位置を上記エラーログと比較することと、
上記エラーの位置が該エラーログに予め格納されていない場合にのみ、該感度データを読み取ることと
をさらに含む、項目2に記載の方法。
(項目4)
発生した上記エラーがエラーチェックビットを用いて判断されていようとなかろうと、上記構成メモリが領域に分割され、かつ該エラーチェックビットが各領域に対して個別に判断される、項目1に記載の方法。
(項目5)
上記修復アクティビティが上記エラーを補正することを含む、項目1に記載の方法。
(項目6)
上記修復アクティビティが上記プログラマブルデバイスを再構成することを含む、項目1に記載の方法。
(項目7)
エラーである上記構成データによって構成されている回路が、上記プログラマブルデバイス上にて実行するアプリケーションによって使用されるか否かに基づいて、上記感度データが部分的に生成される、項目1に記載の方法。
(項目8)
プログラマブルデバイスにおける構成メモリに格納される構成データにおけるエラーをチェックする方法であって、該構成データが第1のアプリケーションのために該プログラマブルデバイスを構成し、該方法は、
該構成メモリから該構成データの一部を読み取ることと、
該構成データの該一部に対応する複数のエラーチェックビットの一部を読み取ることと、
該構成データの該一部にエラーがあるか否かを判断することと、
該エラーがあった場合、ソフトエラーが該第1のアプリケーションに不利益に影響するか否かを判断することと、
不利益に影響すると判断した場合、該ソフトエラーが生じたという指示を提供することと、
不利益に影響しないと判断した場合、該ソフトエラーが生じたという該指示を提供しないことと
を包含する、方法。
(項目9)
上記ソフトエラーが上記第1のアプリケーションに不利益に影響するか否かを判断することが、メモリから感度データを読み取ることによって行われる、項目8に記載の方法。
(項目10)
上記構成データの上記一部を読み取る前に、該構成データを構成デバイスから読み取り、かつ該構成データを上記構成メモリに格納することをさらに包含する、項目8に記載の方法。
(項目11)
上記構成メモリから上記構成データを読み取る前に、該構成データを用いて上記複数のエラーチェックビットを判断することをさらに包含する、項目10に記載の方法。
(項目12)
上記プログラマブルデバイス上に上記複数のエラーチェックビットを格納することをさらに包含する、項目11に記載の方法。
(項目13)
上記エラーが上記第1のアプリケーションに不利益に影響することが判断された場合、上記ソフトエラーを補正することをさらに包含する、項目8に記載の方法。
(項目14)
上記エラーが上記第1のアプリケーションに不利益に影響することが判断された場合、上記プログラマブルデバイスを再構成することをさらに包含する、項目8に記載の方法。
(項目15)
構成データを格納するための第1の複数のメモリセルと、
エラーチェックビットを格納するための第2の複数のメモリセルと、
感度データを格納するための第3の複数のメモリセルと、
該構成データ、該エラーチェックビットおよび該感度データを含む構成ビットストリームを受信し、該第1の複数のメモリセルに該構成データ、該第2の複数のメモリセルに該エラーチェックビット、および該第3の複数のメモリセルに該感度データを書き込むための構成コントローラと、
該第1の複数のメモリセルから該構成データを、および該第2の複数のメモリセルから該エラーチェックビットを読み取り、かつ該構成データにおいてエラーが発生したか否かを判断するためのエラー検出回路であって、該エラーが発生したと判断された場合、該エラーが発生したところに該第1のメモリセルのうちの最初の1つに対してアドレスの少なくとも一部を提供するためのエラー検出回路と、
該アドレスの少なくとも一部を受信し、該アドレスの該少なくとも一部に対応する該感度データを受信し、かつ集積回路上にて実行するアプリケーションが発生した該エラーに対して影響を受けやすいか否かを判断するための感度プロセッサと
を備える、集積回路。
(項目16)
上記エラーが発生し、かつ上記アプリケーションが該エラーに対して影響を受けやすい場合、該エラーが発生したところでデータが上記メモリセルに書き込まれる、項目15に記載の集積回路。
(項目17)
上記エラー検出回路によって検出される上記エラーを補正するためのエラー補正回路をさらに備える、項目16に記載の集積回路。
(項目18)
上記アプリケーションが発生した上記エラーに対して影響を受けやすいものであろうとなかろうと、上記エラー補正回路が、上記エラー検出回路によって検出されるエラーを補正する、項目17に記載の集積回路。
(項目19)
エラーが発生し、かつ上記アプリケーションが該エラーに対して影響を受けやすい場合、上記集積回路が再構成される、項目15に記載の集積回路。
(項目20)
上記プログラマブルデバイスのどの部分が上記第1のアプリケーションによって使用されるかに基づいて、上記複数の感度ビットが部分的に判断される、項目15に記載の集積回路。
(項目21)
上記プログラマブルデバイスの対応する部分が上記第1のアプリケーションによって使用されているか否かに基づいて、上記感度ビットの各々が部分的に判断される、項目15に記載の集積回路。
リローディング構成データまたは他の修正処置が不必要に実行されないように、格納された構成データにおいて発生するソフトエラーが無視され得る偽陽性であるか否かを検出する回路、方法および装置。一実施例は、エラー検出回路および感度プロセッサを含む集積回路を提供する。エラー検出回路は、エラーの存在を検出する。感度プロセッサは、検出されたエラーが無視され得るか否か、または修正行動(エラーフラグを提供するか、デバイスを再構成するか、またはエラーを補正するかのような)が開始されるべきであるか否かを判断する。感度プロセッサは、エラーが未使用の回路網を構成するメモリセルにおいて発生したか否かに基づいて、この判断を行い得る。この判断が構成データがチェックされる度に行われる必要がないように、感度プロセッサは、無視され得る既知のエラーを追跡するためにエラーログを利用し得る。
プロセッサ、グラフィックコプロセッサ、ハードウェアコントローラ、マイクロコントローラ、コントローラとして使用するプログラマブルロジックデバイス、ネットワークコントローラなどであり得る。さらに、多くの実施形態において、CPUを必要としないことが多い。
110、210、240 CRAMアレイ
120、220 アドレスレジスタ
130、230 データレジスタ
140 構成デバイス
300 FPGA
310 構成コントローラ
320 エラー補正コードユニット
330 感度プロセッサ
340 エラーログ
350 感度データデータベース
360 外部構成デバイス
Claims (21)
- プログラマブルデバイスの構成メモリにおけるエラーを検出する方法であって、
該構成メモリから構成メモリデータを読み取ることと、
該構成メモリデータにおいてエラーが発生したか否かを判断することと、
エラーが発生したという判断に応答して、
エラーである該構成データに対応する感度データを読み取ることと、
該エラーを無視することができるか否かを判断するために該感度データを解析することと、
該エラーを無視することができない場合、修復アクティビティを開始することと、
該エラーを無視することができる場合、該修復アクティビティを開始しないことによって該エラーを無視することと
を包含する、方法。 - 前記修復アクティビティを開始しないことによって前記エラーを無視する行動が、エラーログに該エラーの位置を格納することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記エラーが発生したという前記判断に対する前記応答が、
前記感度データを読み取る前に前記位置を前記エラーログと比較することと、
前記エラーの位置が該エラーログに予め格納されていない場合にのみ、該感度データを読み取ることと
をさらに含む、請求項2に記載の方法。 - 発生した前記エラーがエラーチェックビットを用いて判断されていようとなかろうと、前記構成メモリが領域に分割され、かつ該エラーチェックビットが各領域に対して個別に判断される、請求項1に記載の方法。
- 前記修復アクティビティが前記エラーを補正することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記修復アクティビティが前記プログラマブルデバイスを再構成することを含む、請求項1に記載の方法。
- エラーである前記構成データによって構成されている回路が、前記プログラマブルデバイス上にて実行するアプリケーションによって使用されるか否かに基づいて、前記感度データが部分的に生成される、請求項1に記載の方法。
- プログラマブルデバイスにおける構成メモリに格納される構成データにおけるエラーをチェックする方法であって、該構成データが第1のアプリケーションのために該プログラマブルデバイスを構成し、該方法は、
該構成メモリから該構成データの一部を読み取ることと、
該構成データの該一部に対応する複数のエラーチェックビットの一部を読み取ることと、
該構成データの該一部にエラーがあるか否かを判断することと、
該エラーがあった場合、ソフトエラーが該第1のアプリケーションに不利益に影響するか否かを判断することと、
不利益に影響すると判断した場合、該ソフトエラーが生じたという指示を提供することと、
不利益に影響しないと判断した場合、該ソフトエラーが生じたという該指示を提供しないことと
を包含する、方法。 - 前記ソフトエラーが前記第1のアプリケーションに不利益に影響するか否かを判断することが、メモリから感度データを読み取ることによって行われる、請求項8に記載の方法。
- 前記構成データの前記一部を読み取る前に、該構成データを構成デバイスから読み取り、かつ該構成データを前記構成メモリに格納することをさらに包含する、請求項8に記載の方法。
- 前記構成メモリから前記構成データを読み取る前に、該構成データを用いて前記複数のエラーチェックビットを判断することをさらに包含する、請求項10に記載の方法。
- 前記プログラマブルデバイス上に前記複数のエラーチェックビットを格納することをさらに包含する、請求項11に記載の方法。
- 前記エラーが前記第1のアプリケーションに不利益に影響することが判断された場合、前記ソフトエラーを補正することをさらに包含する、請求項8に記載の方法。
- 前記エラーが前記第1のアプリケーションに不利益に影響することが判断された場合、前記プログラマブルデバイスを再構成することをさらに包含する、請求項8に記載の方法。
- 構成データを格納するための第1の複数のメモリセルと、
エラーチェックビットを格納するための第2の複数のメモリセルと、
感度データを格納するための第3の複数のメモリセルと、
該構成データ、該エラーチェックビットおよび該感度データを含む構成ビットストリームを受信し、該第1の複数のメモリセルに該構成データ、該第2の複数のメモリセルに該エラーチェックビット、および該第3の複数のメモリセルに該感度データを書き込むための構成コントローラと、
該第1の複数のメモリセルから該構成データを、および該第2の複数のメモリセルから該エラーチェックビットを読み取り、かつ該構成データにおいてエラーが発生したか否かを判断するためのエラー検出回路であって、該エラーが発生したと判断された場合、該エラーが発生したところに該第1のメモリセルのうちの最初の1つに対してアドレスの少なくとも一部を提供するためのエラー検出回路と、
該アドレスの少なくとも一部を受信し、該アドレスの該少なくとも一部に対応する該感度データを受信し、かつ集積回路上にて実行するアプリケーションが発生した該エラーに対して影響を受けやすいか否かを判断するための感度プロセッサと
を備える、集積回路。 - 前記エラーが発生し、かつ前記アプリケーションが該エラーに対して影響を受けやすい場合、該エラーが発生したところでデータが前記メモリセルに書き込まれる、請求項15に記載の集積回路。
- 前記エラー検出回路によって検出される前記エラーを補正するためのエラー補正回路をさらに備える、請求項16に記載の集積回路。
- 前記アプリケーションが発生した前記エラーに対して影響を受けやすいものであろうとなかろうと、前記エラー補正回路が、前記エラー検出回路によって検出されるエラーを補正する、請求項17に記載の集積回路。
- エラーが発生し、かつ前記アプリケーションが該エラーに対して影響を受けやすい場合、前記集積回路が再構成される、請求項15に記載の集積回路。
- 前記プログラマブルデバイスのどの部分が前記第1のアプリケーションによって使用されるかに基づいて、前記複数の感度ビットが部分的に判断される、請求項15に記載の集積回路。
- 前記プログラマブルデバイスの対応する部分が前記第1のアプリケーションによって使用されているか否かに基づいて、前記感度ビットの各々が部分的に判断される、請求項15に記載の集積回路。
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