JP4949200B2 - 熱区分け筺体及びそれを用いた光モジュール - Google Patents

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本発明は、熱区分け筺体、及び、それを用いた光モジュールに関し、より詳細には、筺体内部が熱的に分割された熱区分け筺体、及び、それを用いた光モジュールに関する。
高密度波長多重通信(DWDM:Dense Wavelength Division Multiplexing)のキーデバイスとして、プレーナ光波回路(PLC: Planar Lightwave Circuit)技術により作製された光機能回路とそれを制御する光機能回路用制御回路とを内蔵した高機能光モジュールの研究開発がなされている。現在、この技術を用いて、光可変減衰器(VOA: Variable Optical Attenuator)とアレイ導波路回折格子(AWG: Arrayed Waveguide Grating)を備えた可変光減衰器付きAWG(V-AWG)などの光モジュールが実用化されている。このV-AWGには、VOAとAWGの他に、光タップ回路、光強度モニタ用フォトダイオード、及びこれら光部品を制御する電子制御ボードが1つの筺体に高密度に納められている(非特許文献1)。
図1に、従来の光モジュール用の筺体の斜視図を示す。また、図2に、従来の光モジュール用の筺体の断面図を示す。筺体は、熱伝導率の高い2つの上部筺体1と下部筺体2とからなる。上部筺体1と下部筺体2は直接接続されており、熱的に結合されている。上部筺体1には電子制御ボード7が取り付けられており、上部筺体1と電子制御ボード7は熱的に結合されている。下部筺体2には、PLCモジュール4とモニタPDを含む光電変換部5と中継配線基板11が熱伝導率の高いマウント3を介して取り付けられており、下部筺体2とPLCモジュール4は熱的に結合されている。光電変換部5と電子制御ボード7および中継配線基板11と電子制御ボード7は、フラットフレキシブルケーブル(FFC)で電気的に接続され、PLCモジュール4と中継配線基板11は金ワイヤボンド12で電気的に接続されている。また、PLCモジュール4には光ファイバ8が接続されている。
電子制御ボード7で生じた熱は、主に上部筺体1を介して外部に放出される。同様に、PLCモジュール4で発生した熱は、主にマウント3、下部筺体2を介して外部に放出される。
しかしながら、従来の光モジュール用の筺体では、上部筺体1と下部筺体2は直接接続されており、筺体が熱的に均質な構造をとっていたため、上部筺体1と下部筺体2のどちらか温度の高い側の熱が、温度の低い側に伝播していた。その結果、発熱の位置がPLCモジュールと電子制御ボードのいずれであるかにはあまり強く依存せずに、モジュール全体の温度がほぼ均一に上昇していた。そのため、筺体内部の発熱量が、光モジュールに内蔵される構成回路のうち、最も高温耐性が低い構成回路の温度上昇許容値によって制限されるという課題があった。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、内蔵する構成回路のうち、高温耐性が低い構成回路の温度上昇を低く抑え、内部発熱量の許容値を拡大した熱区分け筺体、及び、それを用いた光モジュールを提供することにある。
このような目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、発熱を伴う複数の構成回路素子を内蔵する熱区分け筺体であって、少なくとも2つの構成部と、前記構成部間を熱的に分離する断熱部を備え、複数の前記構成回路素子が、少なくとも2つの前記構成部にそれぞれ実装され、かつ、前記各構成部の熱伝導率が、前記断熱部の熱伝導率より高いことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の熱区分け筺体であって、複数の前記構成部の個数をNとし、i番目(i=1、・・・、N)の前記構成部の外気に対する熱抵抗をRiとし、i番目(i=1、・・・、N)の前記構成部の実装される前記構成回路素子の発熱量と耐熱温度をそれぞれPi、Tiとし、Cを定数とした時に、式(A)が成立することを特徴とする。
(式A) Ti−(Ri×Pi)≒C (i=1、・・・、N)。
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の熱区分け筺体であって、前記断熱部が、発泡材及び樹脂材の何れかであることを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3の何れかに記載の熱区分け筺体であって、前記構成回路素子間を隔てるように設けられた熱を遮断する熱遮断プレートを内部に備えたことを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の熱区分け筺体であって、前記熱遮断プレートが、赤外線を反射するヒートミラー、熱遮蔽板及び低放射率板の何れかであることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、請求項1乃至5の何れかに記載の熱区分け筐体を備えた光モジュールであって、前記構成回路素子が、平面光波回路型光回路、ないし、平面光波回路型光回路用駆動回路であることを特徴とする。
本発明によれば、内蔵する構成回路のうち、高温耐性が低い構成回路の温度上昇を低く抑え、内部発熱量の許容値を拡大した熱区分け筺体、及び、それを用いた光モジュールを実現することが可能になる。
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について詳細に説明する。
(第1の実施形態)
図3に、本発明の第1の実施形態に係る光モジュール用筺体の斜視図を示す。また、図4に、本発明の第1の実施形態に係る光モジュール用筺体の断面図を示す。筺体は、熱伝導率の高い2つの上部筺体1、下部筺体2と、それらよりも熱伝導率の低い断熱材9とからなる。上部筺体1と下部筺体2は断熱材9を介して結合され、上部筺体1と下部筺体2が熱的に分離されながら1つの筺体を構成する。
上部筺体1には電子制御ボード7が取り付けられており、上部筺体1と電子制御ボード7は熱的に結合されている。下部筺体2には、PLCモジュール4とモニタPDを含む光電変換部5と中継配線基板11が熱伝導率の高いマウント3を介して取り付けられており、下部筺体2とPLCモジュール4は熱的に結合されている。光電変換部5と電子制御ボード7および中継配線基板11と電子制御ボード7は、フラットフレキシブルケーブル(FFC)で電気的に接続され、PLCモジュール4と中継配線基板11は金ワイヤボンド12で電気的に接続されている。また、PLCモジュール4には光ファイバ8が接続されている。
電子制御ボード7とPLCモジュール4の耐熱温度は、それぞれ90℃と70℃であり、電子制御ボード7とPLCモジュール4の発熱量は、それぞれ10W、5Wである。また、上部筐体1と下部筐体2をなす材料の熱伝導率は、ともに300W/(m・℃)であり、断熱材9をなす材料の熱伝導率は0.1W/(m・℃)である。上部筐体1と下部筐体2の表面積は同一であり、外気への熱抵抗はともに約2℃/Wである。
電子制御ボード7で生じた熱は、上部筺体1の熱伝導率が高いため、上部筺体1全体に拡散して外部に放出される。同様に、PLCモジュール4で発生した熱は、マウント3を介して下部筺体2へ伝わり、下部筺体2の熱伝導率が高いため、下部筺体2全体に拡散して外部に放出される。上部筺体1と下部筺体2との間に断熱材9があり、断熱材9の熱伝導率は上部筺体1と下部筺体2の熱伝導率の1/3000であるため、上部筺体1と下部筺体2との間の熱の伝播は十分に小さく抑制される。
外気温度が60℃の環境下で本モジュールを動作させたところ、電子制御ボード7の温度は約80℃、PLCモジュール4の温度は約70℃であり、電子制御ボード7とPLCモジュール4の温度を耐熱温度以下に抑えることが出来た。また、比較のために、断熱材9を、寸法と形状が同一で熱伝導率が300W/(m・℃)の部材に置き換えて、外気温度が60℃の環境下で本モジュールを動作させたところ、電子制御ボード7とPLCモジュールの温度はともに約75℃であった。上部筐体1と下部筐体2が熱的に結合されたことによって、発熱量が大きい電子制御ボード7で発生した熱が下部筐体2にも伝わって、PLCモジュール4の温度を耐熱温度以上に上昇させた。この場合、PLCモジュール4の温度を耐熱温度である70℃以下に抑えるために、使用環境温度の上限値を55℃以下に設定するか、内部発熱量を10W以下に抑える必要がある。
本実施形態のように、電子制御ボード7と比較して、PLCモジュール4の発熱量が低く、かつ、高温耐性が低い場合、上部筺体1と下部筺体2との間に断熱材9を設けたことにより、電子制御ボード7で発生した熱が上部筺体1、下部筺体2を介して耐熱温度の低いPLCモジュール4に伝播するのを防ぐことができる。
同様に、電子制御ボード7と比較して、PLCモジュール4の発熱量が高く、かつ、高温耐性が高い場合でも、上部筺体1と下部筺体2とが断熱材9によって熱的に分離されていることにより、PLCモジュール4で発生した熱が上部筺体1、下部筺体2を介して耐熱温度の低い電子制御ボード7に伝播するのを防ぐことができる。
このように、電子制御ボード7とPLCモジュール4との間で発熱量と高温耐性に差がある場合に、高温耐性の高い側の発熱量を高温耐性の低い側にあわせて制限する必要がなくなるので、高温耐性の高い側の発熱量を高く設定でき、内部発熱量全体の許容量を大きくすることができる。言い換えると、使用環境温度を高温耐性の低い側にあわせて制限する必要がなくなるので、使用環境温度の上限値を高く設定することができる。
断熱材9としては発泡材、樹脂材、オーリングなどがあるが、その熱伝導率が上部筺体1、下部筺体2の熱伝導率より低い部材であればよく、望ましくは上部筺体1、下部筺体2の熱伝導率の1/10よりも小さい部材とする。
(第2の実施形態)
図5に、本発明の第2の実施形態に係る光モジュール用筺体の断面図を示す。本実施形態は、第1の実施形態に対して、上部筐体1と下部筐体2の表面積が第1の実施形態の場合のそれぞれ約0.72倍、1.28倍に設定され、上部筐体1と下部筐体2の表面積の比率が1:1.78であり、外気への熱抵抗がそれぞれ約2.78℃/Wと約1.56℃/Wに設定されている点が異なる。それ以外は、第1の実施形態と同じである。
本実施形態において、本モジュールを動作させた状態で、電子制御ボード7とPLCモジュール4の温度をモニタしながら外気温度を上昇させたところ、外気温度が62.2℃の時に、電子制御ボード7とPLCモジュール4の温度がそれぞれの耐熱温度である90℃、70℃になった。第1の実施形態では、外気温度が60℃の状態でPLCモジュール4の温度が耐熱温度である70℃に達したのに対して、本実施例では、上部筐体1と下部筐体2の表面積を、電子制御ボード7とPLCモジュール4の耐熱温度と発熱量と外気に対する熱抵抗に基づいて算出される最適な値に設定したことによって、さらに使用環境温度の上限値を2.2℃大きくすることが出来た。
ここで、使用環境温度の上限値を最大化する最適な表面積比の算出方法を詳細に説明する。使用環境温度をT0とし、上部筐体1と下部筐体2の外気に対する単位面積当たりの熱抵抗をそれぞれK1、K2とし、上部筐体1と下部筐体2の表面積をS1、S2とし、電子制御ボード7の発熱量と耐熱温度をそれぞれP1、T1とし、PLCモジュール4の発熱量と耐熱温度をそれぞれP2、T2とすると、式(1)と式(2)が成立する。
(式1) (T1−T0)=K1/S1×P1
(式2) (T2−T0)=K2/S2×P2
式1と式2から求められるT0が等しくなる時、即ち、式3が成立する時のS1とS2の比率が、使用環境温度の上限値を最大化する最適な表面積比となる。
(式3) T0=T1−(K1/S1×P1)=T2−(K2/S2×P2)
このように、上部筐体1と下部筐体2との間で単位面積当たりの熱抵抗に差があったり、電子制御ボード7とPLCモジュール4の発熱量と高温耐性に差がある場合でも、上部筐体1と下部筐体2の表面積比を調整して、電子制御ボード7とPLCモジュール4の温度上昇量を調整することができ、それを最適な値に設定することで、使用環境温度の上限値を第1の実施形態よりもさらに高く設定することができる。
(第3の実施形態)
図6に、本発明の第3の実施形態に係る光モジュール用筺体の断面図を示す。本実施形態は、第1の実施形態に対して、上部筺体1及び電子制御ボード7と下部筺体及びPLCモジュール4とを熱的に分離する効果をさらに高めるために、筺体内部にプレート10を設けた点が異なる。このプレート10は、赤外線を反射するヒートミラー、熱遮蔽板、放射率の低い板などの熱を遮断するできるものであればよい。これにより、筺体による熱の伝播に加えて、熱放射や空気の熱伝導を介した熱の伝播を抑制することができる。
尚、第1〜3の実施形態では、断熱材9が完全に上部筺体1と下部筺体2とを分離するように配置されているが、上部筺体1と下部筺体2を一部で断熱材9を介さずに直接接続する箇所があってもよい。
また、本実施形態では筺体を2つに分離したが、分離する数は2つ以上であればよく、同様の原理で筺体を3つ以上に分離し、熱的に分離された領域を筺体内に3つ以上設けることも可能である。
従来の光モジュール用の筺体の斜視図である。 従来の光モジュール用の筺体の断面図である。 本発明の第1の実施形態に係る光モジュール用筺体の斜視図である。 本発明の第1の実施形態に係る光モジュール用筺体の断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る光モジュール用筺体の斜視図である。 本発明の第3の実施形態に係る光モジュール用筺体の断面図である。
符号の説明
1 上部筺体
2 下部筺体
3 マウント
4 PLCモジュール
5 光電変換部
6 FFC
7 電子制御ボード
8 光ファイバ
9 断熱材
10 プレート
11 中継配線基板
12 金ワイヤボンド

Claims (1)

  1. 発熱を伴う複数の構成回路素子を内蔵する熱区分け筺体であって、
    少なくとも2つの構成部と、
    前記構成部の縁に配置され、前記構成部間を熱的に分離する断熱部と
    赤外線を反射するヒートミラーとを備え、
    前記構成部と前記断熱部とによって1つの密閉型の筐体を構成し、複数の前記構成回路素子が、少なくとも2つの前記構成部にそれぞれ実装され、前記ヒートミラーが、前記構成回路素子間を前記構成部毎に隔てるように設けられ、前記各構成部の熱伝導率が、前記断熱部の熱伝導率より高く、前記筐体が使用される環境温度をT0、前記各構成部iの外気に対する単位面積当たりの熱抵抗をKi、前記各構成部iの表面積をSi、前記各構成部iに実装された前記構成回路素子の発熱量と耐熱温度をそれぞれPi、Tiとした時に、全ての前記構成部について式(A)が成立することを特徴とする熱区分け筺体。
    (式A) T0=Ti−(Ki/Si×Pi)
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