JP4931214B2 - 画像処理装置及びその方法 - Google Patents
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Description
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定手段と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも1フレーム分記憶するエッジ強度記憶手段と、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記特定情報を少なくとも1フレーム分記憶する記憶手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ手段と、
前記記憶手段に記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定手段により算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御手段と、を有することを特徴とする。
画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定工程と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも1フレーム分第1メモリに記憶するエッジ強度記憶工程と、
前記第1メモリに記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出工程と、
前記算出工程により算出された前記特定情報を少なくとも1フレーム分第2メモリに記憶する記憶工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ工程と、
前記第2メモリに記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定工程で算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記第1メモリに記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御工程と、を有することを特徴とする。
図1は、本発明の実施の形態1に係る画像処理装置の主要部の構成を示すブロック図である。本実施の形態では、画像データの処理の単位を4×4画素のブロックとして、これを対象ブロックと称す。
本実施の形態1では、処理の対象ブロックのサイズを4×4画素としたが、8×4,4×8,8×8などのサイズでもかまわない。
図11は、本発明の実施の形態2に係る画像処理装置の主要部の構成を示すブロック図である。本実施の形態2では、画像データの制御の単位を4×4画素のブロックとして、これを対象ブロックと称す。尚、この図11において、前述の実施の形態1に係る図1と同じ構成には同じ番号を付し、それらの説明を省略する。
セレクタ108は、フィルタ制御器105からの制御信号211により、εフィルタ200からの出力、及びフィルタ無しの信号(入力したブロックの色差信号)を選択する。
本実施の形態2では、処理の対象ブロックのサイズを4×4画素としたが、8×4,4×8,8×8などのサイズでもかまわない。
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用しても良いし、また一つの機器からなる装置に適用しても良い。
101 垂直エッジ強度測定器
102 エッジ強度マップメモリ
103 除去フラグ算出器
104 除去フラグマップメモリ
105 フィルタ制御器
108 セレクタ
200 εフィルタ
Claims (8)
- 画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定手段と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも1フレーム分記憶するエッジ強度記憶手段と、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された前記特定情報を少なくとも1フレーム分記憶する記憶手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ手段と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ手段と、
前記記憶手段に記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定手段により算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記算出手段は、前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して各ブロックのエッジ強度データを算出し、前記算出されたエッジ強度データが第1の閾値よりも大きいブロックと、当該ブロックに隣接し前記第1の閾値よりも小さい第2の閾値以下のエッジ強度データを有するブロックとを特定する前記特定情報を決定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記フィルタ制御手段は、
前記エッジ強度記憶手段に記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して、前記直前フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する手段と、
前記エッジ強度測定手段により算出された前記現フレームの水平及び垂直エッジ強度データを、対応する各ブロックごとに加算して前記現フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する手段とを有し、
前記直前フレームと前記現フレームの各対応するブロックのエッジ強度データの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの前記垂直エッジ強度データと前記水平エッジ強度データとの差分値とから、前記水平フィルタ手段或は前記二次元フィルタ手段によりフィルタリング処理した対象ブロックを採用するか否かを決定することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。 - 前記エッジ強度記憶手段及び前記記憶手段は、複数のメモリバンクで構成され、各フレームの画像処理ごとにメモリバンクが切り替えられることを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 画像の輝度信号における各ブロックに対して水平エッジ及び垂直エッジの強度を測定して水平及び垂直エッジ強度データを算出するエッジ強度測定工程と、
前記水平及び垂直エッジ強度データを少なくとも1フレーム分第1メモリに記憶するエッジ強度記憶工程と、
前記第1メモリに記憶された各ブロック単位の水平及び垂直エッジ強度データから各ブロックのエッジ強度データを算出し、当該ブロックのエッジ強度データの大きさから、フィルタリング処理を行う対象ブロックを特定する特定情報を算出する算出工程と、
前記算出工程により算出された前記特定情報を少なくとも1フレーム分第2メモリに記憶する記憶工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに水平フィルタリング処理を行う水平フィルタ工程と、
前記画像の前記輝度信号の対象ブロックに二次元フィルタリング処理を行う二次元フィルタ工程と、
前記第2メモリに記憶した前記特定情報により特定される前記フィルタリング処理を行う対象ブロックに対して、前記エッジ強度測定工程で算出した現フレームに対する水平及び垂直エッジ強度データから算出した前記対象ブロックに対応するブロックのエッジ強度データと、前記第1メモリに記憶された前記現フレームの直前フレームの前記対象ブロックに対応するブロックの水平及び垂直エッジ強度データから算出したエッジ強度データとの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの垂直エッジ強度データと水平エッジ強度データとの差分値とから、前記現フレームの対象ブロックに前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によるフィルタリング処理を行って出力するか否かを制御するフィルタ制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 前記算出工程は、前記第1メモリに記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して各ブロックのエッジ強度データを算出し、前記算出されたエッジ強度データが第1の閾値よりも大きいブロックと、当該ブロックに隣接し前記第1の閾値よりも小さい第2の閾値以下のエッジ強度データを有するブロックとを特定する前記特定情報を決定することを特徴とする請求項5に記載の画像処理方法。
- 前記フィルタ制御工程は、
前記第1メモリに記憶された前記水平及び垂直エッジ強度データを各ブロックごとに加算して、前記直前フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する工程と、
前記エッジ強度測定工程で算出された前記現フレームの水平及び垂直エッジ強度データを、対応する各ブロックごとに加算して、前記現フレームの各ブロックのエッジ強度データを算出する工程とを有し、
前記直前フレームと前記現フレームの各対応するブロックのエッジ強度データの差分値と、前記現フレームの対象ブロックの前記垂直エッジ強度データと前記水平エッジ強度データとの差分値とから、前記水平フィルタ工程或は前記二次元フィルタ工程によりフィルタリング処理した対象ブロックを採用するか否かを決定することを特徴とする請求項5に記載の画像処理方法。 - 前記第1メモリ及び前記第2メモリは、複数のメモリバンクで構成され、各フレームの画像処理ごとにメモリバンクが切り替えられることを特徴とする請求項5乃至7のいずれか1項に記載の画像処理方法。
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