JP4930180B2 - カラーフィルタの欠陥検査方法 - Google Patents
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- カラーフィルタ基板を欠陥検査装置に供し、共通欠陥を検出する工程、この共通欠陥が良品欠陥であるかどうかを判定し、良品欠陥である場合に良品座標登録する工程、前記良品座標登録された共通欠陥の検出濃度を基準共通欠陥濃度として記録する工程、設定された数のカラーフィルタ基板を順次欠陥検査装置に供し、良品座標登録された座標に共通欠陥を検出した場合、その共通欠陥の欠陥濃度を求め、それらを平均して比較共通欠陥濃度を求める工程、及び前記基準共通欠陥濃度と比較共通欠陥濃度の差分が設定された差分を超えた場合に前記良品座標登録を解除する工程を具備することを特徴とするカラーフィルタの欠陥検査方法。
- 前記設定された数であるN枚のカラーフィルタ基板について、1枚目の基板〜N枚目の基板の欠陥濃度を平均して比較共通欠陥濃度を求めた後、順次、1枚のカラーフィルタ基板の検査完了ごとに、2枚目以降のN枚の基板の欠陥濃度を平均して比較共通欠陥濃度を求め、前記基準共通欠陥濃度と比較共通欠陥濃度の差分が設定された差分を超えた場合に、その時点で前記良品座標登録を解除することを特徴とする請求項1に記載のカラーフィルタの欠陥検査方法。
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