JP4919316B2 - 層の移転を介してシリコン・オン・グラスを製造する方法 - Google Patents
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Description
層の移転を介してガラス上シリコン層を製造する方法は、シリコン基板を準備することと、SixGe(1−x)(0≦x≦1)の層をシリコン基板上に堆積することと、水素イオンを第1の水素注入ステップにおいてSixGe(1−x)(0≦x≦1)層を介してシリコン基板に注入することと、第1のアニールステップにおいてシリコン基板とSixGe(1−x)(0≦x≦1)層とをアニールすることにより、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和することと、それにより、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を形成することと、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を滑らかにすることと、シリコンの層を緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、第2の水素注入ステップにおいて水素イオンを注入することにより、ウェーハをスプリットすることを容易にすることと、ガラス基板を準備することと、ガラス基板を歪シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、歪シリコン層と、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することと、スプリットウェーハをドライエッチングすることにより、シリコン基板からスプリットされたシリコン層と緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層の一部とを除去することと、スプリットウェーハをアニールすることにより、第2のアニールステップにおいて歪シリコンとガラス基板との間の接着を強めることと、スプリットウェーハを選択的にエッチングすることにより、残留するSixGe(1−x)(0≦x≦1)を除去することと、それにより、歪シリコンをガラスウェーハ上に形成することと、ガラスウェーハ上のシリコン上に所望のICデバイスを完成することとを含む。
層の移転を介してシリコン・オン・グラス層を製造する方法であって、
シリコン基板を準備することと、
SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を該シリコン基板上に堆積することと、
シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、
ガラス基板を準備することと、
該ガラス基板を該シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、
該複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、シリコン層と、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することと、
該スプリットウェーハをドライエッチングすることにより、該シリコン基板からスプリットされた該シリコン層と該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層の一部とを除去することと、
該スプリットウェーハをアニールすることにより、該シリコンと該ガラス基板との間の該接着を強めることと、
該スプリットウェーハを選択的にエッチングすることにより、残留するSixGe(1−x)(0≦x≦1)を除去し、それにより、シリコンをガラスウェーハ上に形成することと、
ガラスウェーハ上の該シリコン上に所望のICデバイスを完成することと
を包含する、方法。
上記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することは、40nm〜50nmの間の厚さまでSixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することを含む、項目1に記載の方法。
上記シリコン層を堆積することは、10nm〜50nmの間の厚さまでシリコン層を堆積することを含む、項目1に記載の方法。
上記シリコン層を堆積することは、歪シリコン層を堆積することを含む、項目3に記載の方法。
上記シリコン層を堆積することは、非歪シリコン層を堆積することを含む、項目3に記載の方法。
上記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で1時間〜3時間の間、上記複合ウェーハをアニールすることにより、上記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコン層のふくれを避けることを含む、項目1に記載の方法。
上記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を上記シリコン基板上に堆積した後に、水素イオンを第1の水素注入ステップにおいて該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を介して該シリコン基板に注入することと、
第1のアニールステップにおいて該シリコン基板とSixGe(1−x)(0≦x≦1)層とをアニールすることにより、該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和し、それにより、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を形成することと、
緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を滑らかにすることとをさらに包含し、
シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)上に堆積することは、歪シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)上に堆積することと、第2の水素注入ステップにおいて、該歪シリコン層を介して水素イオンを注入することにより、該ウェーハをスプリットすることを容易にすることとを包含し、
該スプリットウェーハを提供することは、上記複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、歪シリコン層と、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することを包含する、項目1に記載の方法。
上記第1の水素注入は、10KeVと100KeVとの間のエネルギーにおいて、2・1014cm−2〜2・1016cm−2の間の用量でH 2 +イオンを注入することを含む、項目7に記載の方法。
上記第2の水素注入は、140keVのエネルギーにおいて、4・1016cm−2の用量で、上記Si/SixGe(1−x)(0≦x≦1)界面の下300nm〜500nmの間の注入深さまでH2 +イオンを注入することを含む、項目7に記載の方法。
上記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で、1時間〜3時間の間、上記複合ウェーハをアニールすることにより、上記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコンのふくれを避けることを含む、項目7に記載の方法。
上記ガラス基板を準備することは、平らなガラス基板を準備することと、絶縁層が形成されたガラス基板を準備することとからなる基板準備の群から得られる基板を準備することを含み、
該絶縁層は、プラズマ堆積と、CVDと、スパッタリングと、他の技術の堆積方法とからなる堆積方法の群から得られる堆積方法によって堆積される、項目1に記載の方法。
上記絶縁層は、10nm〜1μmの間の厚さまで形成され得る、項目11に記載の方法。
層の移転を介してシリコン・オン・グラス層を製造する方法であって、
シリコン基板を準備することと、
SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を該シリコン基板上に堆積することと、
水素イオンを第1の水素注入ステップにおいて該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を介して該シリコン基板に注入することと、
第1のアニールステップにおいて該シリコン基板とSixGe(1−x)(0≦x≦1)層とをアニールすることにより、該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和し、それにより、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を形成することと、
該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を滑らかにすることと、
歪シリコン層を該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、
第2の水素注入ステップにおいて、水素イオンを注入することにより、該ウェーハをスプリットすることを容易にすることと、
ガラス基板を準備することと、
該ガラス基板を該歪シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、
該複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、シリコン層と、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することと、
該スプリットウェーハをドライエッチングすることにより、該シリコン基板からスプリットされた該シリコン層と該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層の一部とを除去することと、
該スプリットウェーハをアニールすることにより、第2のアニールステップにおいて該シリコンと該ガラス基板との間の該接着を強めることと、
該スプリットウェーハを選択的にエッチングすることにより、残留するSixGe(1−x)(0≦x≦1)を除去し、それにより、シリコンをガラスウェーハ上に形成することと、
ガラスウェーハ上の該シリコン上に所望のICデバイスを完成することとを包含する、方法。
上記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することは、40nm〜500nmの間の厚さまでSixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することを含む、項目13に記載の方法。
上記第1の水素注入は、10KeVと100KeVとの間のエネルギーにおいて、2・1014cm−2〜2・1016cm−2の間の用量で注入されるH2 +イオンを注入することを含む、項目13に記載の方法。
上記歪シリコン層を堆積することは、10nm〜50nmの間の厚さまで歪シリコン層を堆積することを含む、項目13に記載の方法。
上記第2の水素注入は、140keVのエネルギーにおいて、4・1016cm−2の用量で、上記Si/SixGe(1−x)(0≦x≦1)界面の下300nm〜500nmの間の注入深さまでH2 +イオンを注入することを含む、項目13に記載の方法。
上記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で1時間〜3時間の間、上記複合ウェーハをアニールすることにより、上記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコン層のふくれを避けることを含む、項目13に記載の方法。
上記ガラス基板を準備することは、平らなガラス基板を準備することと、絶縁層が形成されたガラス基板を準備することとからなる基板準備の群から得られる基板を準備することを含み、
該絶縁層は、プラズマ堆積と、CVDと、スパッタリングと、他の技術の堆積方法とからなる堆積方法の群から得られる堆積方法によって堆積される、項目13に記載の方法。
上記絶縁層は、10nm〜1μmの間の厚さまで形成され得る、項目19に記載の方法。
(摘要)
層の転写を介してガラス上シリコン層を製造する方法は、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層をシリコン基板上に堆積することと、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和することと、シリコン層を緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、第2の水素注入ステップにおいて水素イオンを注入することにより、ウェーハをスプリットすることを容易にすることと、ガラス基板を歪シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、複合ウェーハをスプリットすることにより、スプリットウェーハを提供することと、スプリットウェーハを処理することにより、それを続くデバイス製造のために準備することとを包含する。
図1および図2をここで参照すると、シリコン基板20が準備され、SixGe(1−x)(0≦x≦1)22の層が約40nm〜500nmの間の厚さまで堆積される。図3に示されるように、第1の水素注入24が行われて、SixGe(1−x)(0≦x≦1)膜の緩和を誘導する。H2 +イオンは、約10KeVと100KeVとの間のエネルギーにおいて、約2・1014cm−2〜2・1016cm−2の間の用量で注入される。基板と堆積した層とは、次いで、アニールすることにより、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和する(26)。そのようなアニールは、約250℃〜1000℃までの間の温度で、約6秒〜4時間の間行われる。
22 SixGe(1−x)(0≦x≦1)層
30 歪シリコン層
34 ガラス基板
Claims (20)
- 層の移転を介してシリコン・オン・グラス層を製造する方法であって、
シリコン基板を準備することと、
SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を該シリコン基板上に堆積することと、
シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、
ガラス基板を準備することと、
該ガラス基板を該シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、
該複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、シリコン層と、SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することと、
該スプリットウェーハをドライエッチングすることにより、該シリコン基板からスプリットされた該シリコン層と該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層の一部とを除去することと、
該スプリットウェーハをアニールすることにより、該シリコンと該ガラス基板との間の該接着を強めることと、
該スプリットウェーハを選択的にエッチングすることにより、残留するSixGe(1−x)(0≦x≦1)を除去し、それにより、シリコンをガラスウェーハ上に形成することと、
ガラスウェーハ上の該シリコン上に所望のICデバイスを完成することと
を包含する、方法。 - 前記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することは、40nm〜50nmの間の厚さまでSixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記シリコン層を堆積することは、10nm〜50nmの間の厚さまでシリコン層を堆積することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記シリコン層を堆積することは、歪シリコン層を堆積することを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記シリコン層を堆積することは、非歪シリコン層を堆積することを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で1時間〜3時間の間、前記複合ウェーハをアニールすることにより、前記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコン層のふくれを避けることを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を前記シリコン基板上に堆積した後に、水素イオンを第1の水素注入ステップにおいて該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を介して該シリコン基板に注入することと、
第1のアニールステップにおいて該シリコン基板とSixGe(1−x)(0≦x≦1)層とをアニールすることにより、該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和し、それにより、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を形成することと、
緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を滑らかにすることとをさらに包含し、
シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)上に堆積することは、歪シリコン層を該SixGe(1−x)(0≦x≦1)上に堆積することと、第2の水素注入ステップにおいて、該歪シリコン層を介して水素イオンを注入することにより、該ウェーハをスプリットすることを容易にすることとを包含し、
該スプリットウェーハを提供することは、前記複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、歪シリコン層と、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することを包含する、請求項1に記載の方法。 - 前記第1の水素注入は、10KeVと100KeVとの間のエネルギーにおいて、2・1014cm−2〜2・1016cm−2の間の用量でH 2 +イオンを注入することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記第2の水素注入は、140keVのエネルギーにおいて、4・1016cm−2の用量で、前記Si/SixGe(1−x)(0≦x≦1)界面の下300nm〜500nmの間の注入深さまでH2 +イオンを注入することを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で、1時間〜3時間の間、前記複合ウェーハをアニールすることにより、前記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコンのふくれを避けることを含む、請求項7に記載の方法。
- 前記ガラス基板を準備することは、平らなガラス基板を準備することと、絶縁層が形成されたガラス基板を準備することとからなる基板準備の群から得られる基板を準備することを含み、
該絶縁層は、プラズマ堆積と、CVDと、スパッタリングと、他の技術の堆積方法とからなる堆積方法の群から得られる堆積方法によって堆積される、請求項1に記載の方法。 - 前記絶縁層は、10nm〜1μmの間の厚さまで形成され得る、請求項11に記載の方法。
- 層の移転を介してシリコン・オン・グラス層を製造する方法であって、
シリコン基板を準備することと、
SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を該シリコン基板上に堆積することと、
水素イオンを第1の水素注入ステップにおいて該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を介して該シリコン基板に注入することと、
第1のアニールステップにおいて該シリコン基板とSixGe(1−x)(0≦x≦1)層とをアニールすることにより、該SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を緩和し、それにより、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を形成することと、
該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を滑らかにすることと、
歪シリコン層を該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層上に堆積することと、
第2の水素注入ステップにおいて、水素イオンを注入することにより、該ウェーハをスプリットすることを容易にすることと、
ガラス基板を準備することと、
該ガラス基板を該歪シリコン層に接着することにより、複合ウェーハを形成することと、
該複合ウェーハをスプリットすることにより、順に、ガラス基板と、シリコン層と、緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層と、該シリコン基板からスプリットされたシリコン層とを有するスプリットウェーハを提供することと、
該スプリットウェーハをドライエッチングすることにより、該シリコン基板からスプリットされた該シリコン層と該緩和SixGe(1−x)(0≦x≦1)層の一部とを除去することと、
該スプリットウェーハをアニールすることにより、第2のアニールステップにおいて該シリコンと該ガラス基板との間の該接着を強めることと、
該スプリットウェーハを選択的にエッチングすることにより、残留するSixGe(1−x)(0≦x≦1)を除去し、それにより、シリコンをガラスウェーハ上に形成することと、
ガラスウェーハ上の該シリコン上に所望のICデバイスを完成することとを包含する、方法。 - 前記SixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することは、40nm〜500nmの間の厚さまでSixGe(1−x)(0≦x≦1)層を堆積することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記第1の水素注入は、10KeVと100KeVとの間のエネルギーにおいて、2・1014cm−2〜2・1016cm−2の間の用量で注入されるH2 +イオンを注入することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記歪シリコン層を堆積することは、10nm〜50nmの間の厚さまで歪シリコン層を堆積することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記第2の水素注入は、140keVのエネルギーにおいて、4・1016cm−2の用量で、前記Si/SixGe(1−x)(0≦x≦1)界面の下300nm〜500nmの間の注入深さまでH2 +イオンを注入することを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記スプリットウェーハを提供することは、450℃未満の温度で1時間〜3時間の間、前記複合ウェーハをアニールすることにより、前記シリコン/SixGe(1−x)(0≦x≦1)/シリコン層のふくれを避けることを含む、請求項13に記載の方法。
- 前記ガラス基板を準備することは、平らなガラス基板を準備することと、絶縁層が形成されたガラス基板を準備することとからなる基板準備の群から得られる基板を準備することを含み、
該絶縁層は、プラズマ堆積と、CVDと、スパッタリングと、他の技術の堆積方法とからなる堆積方法の群から得られる堆積方法によって堆積される、請求項13に記載の方法。 - 前記絶縁層は、10nm〜1μmの間の厚さまで形成され得る、請求項19に記載の方法。
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