JP4915166B2 - ぼかしフィルタ設計方法 - Google Patents
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- 238000013461 design Methods 0.000 title claims description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 71
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 122
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 87
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 54
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 42
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 12
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 10
- 238000011161 development Methods 0.000 description 6
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 5
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 4
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000013041 optical simulation Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
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Landscapes
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Description
α=aR3+bR2+cR+d (a,b,c,dは実数(a≠0)
なる3次式の関係から唯一求められるようにしたものである。
このようにして参照画像生成部3には、予めシミュレーションで求めた真円または、楕円となる光点拡がり関数の左上1/4分割領域を占める光学係数の組み合わせでできるフィルタ係数が予め記憶されており、参照画像生成部3は二つのトレース方向の光学係数の組み合わせに応じて記憶されている左上1/4分割領域の係数群を回転または反転させて合成し、光点拡がり関数の全フィルタ係数を生成する。
α= MAX { Ls(x+k,y)−Ls(x,y) } (ただし、k=2) (数式1)
と、算出する。
図11(a)より、N〜N+2間の輝度値最大差:167−18=149
図11(b)より、N〜N+2間の輝度値最大差:185−35=150
図11(c)より、N〜N+2間の輝度値最大差:202−52=150
図11(d)より、N〜N+2間の輝度値最大差:219−70=149
このように、図11(a)、図11(d)のNからN+K(K=2)の間の輝度値の最大差が149となり、図11(b)、図11(c)の場合の輝度値差150となる違いはあるが、これは計算上のまるめ誤差である。
α=1.3261R3−0.3449R2−68.085R+276.5 (数式2)
なる3次多項式で算出される。
β= MAX{ Lp(x+k, y) − Lp(x, y) }(ただし k>=2) (数式3)
と、算出する。残りの上、下、右方向のエッジパターンについても同様な処理を行い、実画像15の各エッジパターン方向のぼけ量βを計算する。ただし、ノイズや光のゆらぎ、光の周り込みの影響を避けるため、実画像15でのトレース幅26は7画素程度とし、トレース幅26内の輝度平均を代表輝度値として、(数式3)を用いてボケ量βを算出する。続いて、実画像15のぼけ量βを参照画像生成部3に記憶されている真円の光点拡がり関数で得られるぼけ量αと比較し、誤差量の最も小さい時のぼけ量αの半径値を実画像15のトレース方向の光学係数として選択する。
Claims (9)
- 被検査対象の微細パターン部を走査し、被検査対象を通過して得られる透過光を対物レンズでCCD等の受光素子上に結像させて、前記受光素子から実画像を生成し、前記実画像のパターン情報が有するぼけ量を設計データに施し、得られた参照データのぼけ画像の階調分布が実画像の階調分布を精密に再現するぼかしフィルタ設計方法であって、実画像のパターン座標のアドレスに対応して格子状に配置され検査分解能より細かな分解能を有する各画素上に設計データに基づいた多階調の階調値を定めることで、ぼかし情報を一切持たない参照データを作成し、前記参照データ上のパターンエッジ部上の選択された任意座標において前記参照データのパターンエッジ部に対応する前記実画像のパターンエッジ部を垂直方向にトレースした輝度プロファイル上の注目画素位置と注目画素位置+2番目の輝度差の絶対値の最大値を実画像エッジ傾きとし、当該実画像エッジ傾きから、上、下、左、右のうち、それぞれの方向の隣接する2方向の組み合わせで決まる真円または楕円の範囲内での各画素領域内に占める画素内面積値を係数に持つ半径値を前記実画像の各方向の光学係数とし、当該光学係数から実画像の光点拡がり関数となるぼけフィルタ係数の領域と方向とを決定することを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 請求項1記載のぼかしフィルタ設計方法の前記光学係数おいて、実画像の上、下、右、左方向のパターンエッジに対して垂直方向にトレースした輝度プロファイル上の注目画素と注目画素+k(ただし、k>=1)の輝度差の最大値となる実画像エッジ傾きのうち、隣接する2方向の光学係数の半径値の組み合わせで決まる円、または楕円の範囲内での各画素領域内に占める画素内面積値を光強度に対応させた光学係数として決定し、ぼかしフィルタの係数とすることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 請求項2記載のぼかしフィルタ設計方法において、光学係数に一致する半径値が描く真円の範囲内で各単位画素に占める面積値をぼけフィルタ係数値とする各々の半径値のぼけフィルタで、多値化した参照データに順次たたみこみ演算を行なって得られる各々のぼかし参照画像上に対し、ぼかし参照画像上のパターンエッジを垂直方向にトレースしその輝度プロファイル上の注目画位置と注目画素位置+2番目の輝度差の絶対値の最大値となるぼかし参照画像のエッジ傾きの最大値をαと、光学係数の半径値となる光点拡がり関数の任意の半径値Rが実係数a,b,c,dを持つ
α=aR3+bR2+cR+d (a,b,c,dは実数(a≠0)
なる3次式の関係で唯一求められることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。 - 請求項3記載のぼかしフィルタ設計方法において、光学係数に一致する半径値の真円の範囲内での各画素の持つ面積値をぼけフィルタ係数とする各々の半径値を持つぼけフィルタで、多値化した参照データに順次たたみこみ演算を行なって得られる各々のぼかし参照画像上の前記記載のエッジ傾きαは、設計データに基づいて多値化された参照データのエッジ端が1画素内のいかなる任意位置でも同一近傍値をとることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 請求項4記載のぼかしフィルタ設計方法において、実画像の上、下、右、左方向のパターンエッジに対して垂直方向にトレースした4方向の光学係数のうち、隣接する2方向の光学係数の半径値が接する領域内での画素面積値をトレース方向の光点拡がり関数とし、このトレース方向の光点拡がり関数の光強度の影響が及ぶ真円または楕円の面積範囲内に接する単位画素内に占める面積比を各トレース方向のフィルタ係数とした実画像のぼけフィルタを生成し、それぞれの光学係数のうちパターンにかかっていない方向の光学係数をそれぞれ反転させて生成した新たな光学係数を作成し、この光学係数に対応する半径値を持つ真円または、楕円が接する範囲内の各単位画素内面積値を参照データのぼかし処理に必要な光点拡がり関数のフィルタ係数とすることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 請求項5記載のぼかしフィルタ設計方法において、実画像の各トレース方向の光学係数に対応するぼけフィルタ係数を反転させて生成した新たな4方向の光学係数から、それぞれの光学係数に対応する半径値を持つ真円、または楕円形状が接する範囲内の単位画素に占める面積値を光点拡がり関数のフィルタ係数とし、このフィルタ係数を持つぼけフィルタで多値化した参照データに対し畳み込み処理を行って、参照データの各方向毎にぼけ方の違う種々の輝度プロファイルを持つぼかし画像を作成できることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 被検査対象の微細パターン部を走査し、被検査対象を通過して得られる透過光を対物レンズでCCD等の受光素子上に結像させて、前記受光素子から得られたパターン情報から実画像を生成し、前記実画像のパターン情報に適合するぼけ量を設計データに施し、得られた参照データのぼけ画像の階調分布が実画像の階調分布を精密に再現するぼかしフィルタ設計方法において、請求項1乃至6の光点拡がり関数の生成によって実画像のぼけ方に精密に類似するぼかし参照画像を生成するステップを備えることを特徴とするぼかしフィルタ設計方法。
- 被検査対象の微細パターン部を走査し、被検査対象を通過して得られる透過光を対物レンズでCCD等の受光素子上に結像させて、前記受光素子から実画像を生成し、前記実画像のパターン情報が有するぼけ量を設計データに施し、得られた参照データのぼけ画像の階調分布が実画像の階調分布を精密に再現するぼかしフィルタ設計方法であって、実画像のパターン座標のアドレスに対応して格子状に配置され検査分解能より細かな分解能を有する各画素上に設計データに基づいた多階調の階調値を定めることで、ぼかし情報を一切持たない参照データを作成し、前記参照データ上のパターンエッジ部上の選択された任意座標において前記参照データのパターンエッジ部に対応する前記実画像のパターンエッジ部を垂直方向にトレースした輝度プロファイル上の注目画素位置と注目画素位置+2番目の輝度差の絶対値の最大値を実画像エッジ傾きとし、当該実画像エッジ傾きから、上、下、左、右のうち、それぞれの方向の隣接する2方向の組み合わせで決まる真円または楕円の範囲内での各画素領域内に占める画素内面積値を係数に持つ半径値を前記実画像の各方向の光学係数とし、当該光学係数から実画像の光点拡がり関数となるぼけフィルタ係数の領域と方向とを決定するぼかしフィルタ設計方法によって製造されたぼかしフィルタ。
- 被検査対象の微細パターン部を走査し、被検査対象を通過して得られる透過光を対物レンズでCCD等の受光素子上に結像させて、前記受光素子から実画像を生成し、前記実画像のパターン情報が有するぼけ量を設計データに施し、得られた参照データのぼけ画像の階調分布が実画像の階調分布を精密に再現するぼかしフィルタ設計システムであって、前記被検査対象の微細パターンを走査して走査信号を出力する光学的走査手段と、前記光学的走査手段によって出力された前記走査信号を多値階調の実画像に変換して出力する光電画像処理手段と、設計データを入力する設計データ入力手段と、実画像のパターン座標のアドレスに対応して格子状に配置され検査分解能より細かな分解能を有する各画素上に前記設計データ入力手段によって入力された前記設計データに基づいた多階調の階調値を定めることで、ぼかし情報を一切持たない参照データを生成する設計データ展開手段と、前記実画像のエッジ位置に基づいて前記参照データの各パターンの幅を多階調のまま検査分解能以下でコーナー部の丸め階調補正を行い、前記実画像のパターンエッジ部を垂直方向にトレースした輝度プロファイル上の注目画素位置と注目画素位置+2番目の輝度差の絶対値の最大値を実画像エッジ傾きとし、当該実画像エッジ傾きから、上、下、左、右のうち、それぞれの方向の隣接する2方向の組み合わせで決まる真円または楕円の範囲内での各画素領域内に占める画素内面積値を係数に持つ半径値を前記実画像の各方向の光学係数とし、当該光学係数から実画像の光点拡がり関数となるぼけフィルタ係数の領域と方向とを決定して光点拡がり関数によるぼかし処理を行ってぼかし参照画像を生成する参照画像生成手段と、前記実画像と前記ぼかし参照画像を所定の画像メモリ内で対応する画像位置アドレスに位置あわせをする、画像メモリ位置あわせ手段と、前記実画像と前記ぼかし参照画像の輝度を比較して前記パターンの欠陥を検出する画像比較欠陥検出手段とを備えることを特徴とするぼかしフィルタ設計システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006212802A JP4915166B2 (ja) | 2006-08-04 | 2006-08-04 | ぼかしフィルタ設計方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006212802A JP4915166B2 (ja) | 2006-08-04 | 2006-08-04 | ぼかしフィルタ設計方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008040705A JP2008040705A (ja) | 2008-02-21 |
JP4915166B2 true JP4915166B2 (ja) | 2012-04-11 |
Family
ID=39175643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006212802A Expired - Fee Related JP4915166B2 (ja) | 2006-08-04 | 2006-08-04 | ぼかしフィルタ設計方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4915166B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108827197A (zh) * | 2018-03-21 | 2018-11-16 | 中国兵器科学研究院宁波分院 | 一种减少边缘退化影响的线阵工业ct均质材料尺寸测量方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7763404B2 (en) * | 2006-09-26 | 2010-07-27 | Tokyo Electron Limited | Methods and apparatus for changing the optical properties of resists |
US9390486B2 (en) * | 2010-09-29 | 2016-07-12 | Neeraj Khurana | System and method for automatic orientation of a chip to the CAD layout with sub-optical resolution |
JP5795299B2 (ja) * | 2012-11-26 | 2015-10-14 | 株式会社東芝 | パターン検査装置、およびパターン検査方法 |
JP6355487B2 (ja) * | 2014-08-29 | 2018-07-11 | 株式会社Screenホールディングス | エッジ位置検出装置およびエッジ位置検出方法 |
JP6195253B2 (ja) * | 2015-04-03 | 2017-09-13 | レーザーテック株式会社 | 検査装置、検査方法、及びプログラム |
JP7019895B2 (ja) * | 2020-04-07 | 2022-02-16 | エスゼット ディージェイアイ テクノロジー カンパニー リミテッド | 装置、撮像装置、撮像システム、移動体、方法、及びプログラム |
WO2023074566A1 (ja) * | 2021-11-01 | 2023-05-04 | ブラザー工業株式会社 | コンピュータプログラム、および、データ処理装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3485052B2 (ja) * | 1999-12-16 | 2004-01-13 | 日本電気株式会社 | 参照画像作成方法、パターン検査装置及び参照画像作成プログラムを記録した記録媒体 |
JP5218806B2 (ja) * | 2004-11-05 | 2013-06-26 | 日本電気株式会社 | パターン検査装置、パターン検査方法及びパターン検査プログラム |
-
2006
- 2006-08-04 JP JP2006212802A patent/JP4915166B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108827197A (zh) * | 2018-03-21 | 2018-11-16 | 中国兵器科学研究院宁波分院 | 一种减少边缘退化影响的线阵工业ct均质材料尺寸测量方法 |
CN108827197B (zh) * | 2018-03-21 | 2020-07-17 | 中国兵器科学研究院宁波分院 | 一种减少边缘退化影响的线阵工业ct均质材料尺寸测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008040705A (ja) | 2008-02-21 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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