JP4914564B2 - Antireflection film, polarizing plate and liquid crystal display device - Google Patents

Antireflection film, polarizing plate and liquid crystal display device Download PDF

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本発明は、反射防止フィルム、それを用いた偏光板及び液晶表示装置に関する。   The present invention relates to an antireflection film, a polarizing plate using the same, and a liquid crystal display device.

反射防止フィルムは、一般に、陰極管表示装置(CRT)、プラズマディスプレイ(PDP)や液晶表示装置(LCD)のような画像表示装置において、外光の反射によるコントラスト低下や像の映り込みを防止するために、光学干渉の原理を用いて反射率を低減するディスプレイの最表面に配置される。   In general, an antireflection film prevents contrast reduction and image reflection due to reflection of external light in an image display device such as a cathode ray tube display (CRT), a plasma display (PDP), and a liquid crystal display (LCD). In order to reduce the reflectivity using the principle of optical interference, it is placed on the outermost surface of the display.

反射防止フィルムにおいて反射率を低減するためには低屈折率層を十分に低屈折率化しなければならない。屈折率を下げる素材としては無機物ではフッ化マグネシウムやフッ化カルシウム、有機物ではフッ素含率の大きい含フッ素化合物が挙げられるが、これらフッ素化合物は凝集力がないためディスプレイの最表面に配置するフィルムとしては耐傷性が不足していた。また最表面に配置されるフィルムのため、防汚性を付与することも不可欠となっているが特許文献1(特開2002−265866号公報)および特許文献2(特開2002−317152号公報)に開示されているような技術だけでは十分な防汚性を得ることが困難であった。従って、低反射化と十分な耐傷性および防汚性を同時に満たすためには低屈折率で、強度にすぐれかつ、表面に汚れが付き難い、いわゆる低表面自由エネルギー化合物が必要であったが多くの場合、一方を改良すると他方が悪化するというトレードオフの関係にあり、反射率の低減化と耐傷性および防汚性をいずれも満たすことは困難であった。   In order to reduce the reflectance in the antireflection film, the low refractive index layer must have a sufficiently low refractive index. Examples of materials that lower the refractive index include magnesium fluoride and calcium fluoride for inorganic materials, and fluorine-containing compounds with a high fluorine content for organic materials. Was lacking in scratch resistance. Moreover, since it is indispensable to give antifouling property for the film arrange | positioned on the outermost surface, patent document 1 (Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-265866) and Patent Document 2 (Unexamined-Japanese-Patent No. 2002-317152) However, it is difficult to obtain sufficient antifouling property only by the technique disclosed in Japanese Patent No. 315,900. Therefore, in order to satisfy both low reflection and sufficient scratch resistance and antifouling properties, a so-called low surface free energy compound having a low refractive index, excellent strength, and difficult to get dirty on the surface is necessary. In this case, there is a trade-off relationship that when one is improved, the other is worsened, and it has been difficult to satisfy both the reduction in reflectance and the scratch resistance and antifouling properties.

反射率低減化の観点として、特許文献3(特開平7−287102号公報)においては、ハードコート層の屈折率を大きくすることにより、反射率を低減させることが記載されている。しかしながら、このような高屈折率ハードコート層は、支持体との屈折率差が大きいためにフィルムの色むらが発生し、反射率の波長依存性も大きく振幅してしまう。   As a viewpoint of reducing the reflectivity, Patent Document 3 (Japanese Patent Laid-Open No. 7-287102) describes that the reflectivity is reduced by increasing the refractive index of the hard coat layer. However, since such a high refractive index hard coat layer has a large difference in refractive index with the support, color unevenness of the film occurs, and the wavelength dependence of the reflectance also greatly fluctuates.

また、特許文献4(特開平7−333404号公報)においては、ガスバリア性、防眩性、反射防止性に優れる防眩性反射防止膜が記載されているが、CVDによる酸化珪素膜が必須であるため、ウェット塗布と比較して生産性に劣る。   Further, in Patent Document 4 (Japanese Patent Laid-Open No. 7-333404), an antiglare antireflection film having excellent gas barrier properties, antiglare properties, and antireflection properties is described, but a silicon oxide film by CVD is essential. Therefore, productivity is inferior compared with wet coating.

反射防止フィルムでは、可視光波長の1/2から1/4程度の非常に薄い領域の塗布となるため、数nmオーダーの膜厚ムラが大きな膜厚偏差となってしまう。さらに、各層のわずかな膜厚ムラが色ムラによって色味が大きくシフトし、目視でムラとして検出されてしまう問題があるため、膜厚を正確に制御する塗布方式が非常に重要となる。
反射防止フィルムの塗布方式としてはこれまでディップコート法、マイクログラビア法、リバースロールコート法などが主に用いられてきた。ディップコート法は液受け槽中の塗布液振動が不可避であり、段状のムラが発生しやすい。リバースロールコート法、マイクログラビア法では、塗布に関連するロールの偏芯やたわみにより段状のムラが発生しやすい。また、マイクログラビア法ではグラビアロールの製作精度や、ブレードとグラビアロールの当たりによるロールやブレードの経時変化により塗布量ムラを発生しやすい。また、これらの塗布方式は後計量方式であるため、安定した膜厚の確保が比較的困難である。そのためこれらの塗布方式ではある速度以上の塗布の高速化が困難であり、蒸着法などに比べれば生産性が高いものの、塗布本来の生産性の高さが活かし切れていない。
特許文献5(特開平7−151904号公報)において反射防止層をダイコート法により塗布する方法が提案されている。ダイコート法は前計量塗布方式であるため、膜厚の安定性が高い利点がある。但し、通常一般的に用いられているダイの構成を用いて塗布を行うと、前記の各種塗布方式と同程度の高速性しか実現することが出来ない。具体的には、反射防止層のような薄層塗布では透明支持体の搬送方向と垂直及び並行な向きに発生する膜厚ムラが顕著に発生し、膜厚の安定性を保つことが難しい。前記特許文献5においてはダイの構成として特に制限はなく、一般的なダイを想定しており、ダイの形状等においては特に提案を行っていない。一方、特許文献6(特開2003−200097号公報)ではダイの構成を工夫することによって精度良く薄層の塗布が行える事を示している。この方法を用いることで反射防止層のような薄層を精度良く塗布することが可能となるが、特許文献5で示されるダイコート法、特許文献6で示されるダイコート法共に液の種類によっては高速での塗布が困難であり、時には塗り付け自体が不可能である事が見受けられていた。
特開2002−265866号公報 特開2002−317152号公報 特開平7−287102号公報 特開平7−333404号公報 特開平7−151904号公報 特開2003−200097号公報
Since the antireflection film is applied in a very thin region of about ½ to ¼ of the visible light wavelength, the film thickness unevenness on the order of several nm results in a large film thickness deviation. Furthermore, since slight color unevenness of each layer is largely shifted by color unevenness and is visually detected as unevenness, a coating method for accurately controlling the film thickness is very important.
As the coating method of the antireflection film, dip coating, micro gravure, reverse roll coating, etc. have been mainly used so far. In the dip coating method, vibration of the coating liquid in the liquid receiving tank is inevitable, and stepped unevenness is likely to occur. In the reverse roll coating method and the micro gravure method, stepped unevenness is likely to occur due to roll eccentricity and deflection related to coating. Also, in the microgravure method, uneven coating amount tends to occur due to the manufacturing accuracy of the gravure roll and the change of the roll and the blade due to the contact between the blade and the gravure roll. Further, since these coating methods are post-measuring methods, it is relatively difficult to ensure a stable film thickness. Therefore, in these coating methods, it is difficult to increase the coating speed beyond a certain speed, and although the productivity is higher than that of the vapor deposition method or the like, the high productivity inherent in coating is not fully utilized.
Patent Document 5 (Japanese Patent Laid-Open No. 7-151904) proposes a method of applying an antireflection layer by a die coating method. Since the die coating method is a pre-measuring method, it has an advantage of high film thickness stability. However, when coating is performed using a generally used die configuration, it is possible to realize only high speed comparable to the above-described various coating methods. Specifically, in a thin layer coating such as an antireflection layer, film thickness unevenness that occurs in a direction perpendicular to and parallel to the transport direction of the transparent support significantly occurs, and it is difficult to maintain film thickness stability. In Patent Document 5, there is no particular limitation on the configuration of the die, a general die is assumed, and no particular proposal is made regarding the shape of the die. On the other hand, Patent Document 6 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-200097) shows that a thin layer can be applied with high accuracy by devising the structure of the die. By using this method, it is possible to apply a thin layer such as an antireflection layer with high accuracy. However, both the die coating method disclosed in Patent Document 5 and the die coating method disclosed in Patent Document 6 can be applied at high speed depending on the type of liquid. It was difficult to apply the coating on the surface, and sometimes it was impossible to apply the coating itself.
JP 2002-265866 A JP 2002-317152 A JP 7-287102 A JP 7-333404 A JP 7-151904 A JP 2003-200097 A

本発明の目的は、簡便かつ安価に製造可能であり、しかも十分な反射防止性能と耐傷性、さらには防汚性を有する反射防止フィルムを提供することである。
本発明の他の目的は、膜厚均一性が高い反射防止フィルムの製造方法を提供するものであり、更にこのような優れた反射防止フィルムを用いた偏光板及び液晶表示装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an antireflection film that can be produced easily and inexpensively and that has sufficient antireflection performance and scratch resistance, as well as antifouling properties.
Another object of the present invention is to provide a method for producing an antireflection film having high film thickness uniformity, and to provide a polarizing plate and a liquid crystal display device using such an excellent antireflection film. is there.

本発明によれば、下記構成の反射防止フィルム、その製造方法、偏光板及び液晶表示装
置が提供され、上記目的が達成される。
〔1〕
透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層に、実質的にフッ素を含まない飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーバインダーと中空シリカ粒子と表面自由エネルギーを低下させる化合物とを含み、該中空シリカ粒子が、粒子内の空腔の半径をa、粒子の外殻の半径をbとしたときの数式(I)で表される空隙率xが10〜60%であり、該表面自由エネルギーを低下させる化合物が、ジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に(メタ)アクリロイル基を有するシリコーン化合物であり、該表面自由エネルギーを低下させる化合物を該低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で含有することを特徴とする反射防止フィルム。
数式(I):x=(4πa /3)/(4πb /3)×100
〔2〕
前記中空シリカ粒子が、アクリロイル基またはメタアクリロイル基を有するシランカップリング剤による処理をされていることを特徴とする〔1〕に記載の反射防止フィルム。
〔3〕
シリコーンが低屈折率層の表面に偏析し、低屈折率層の最表面と最表面から80%下層における光電子スペクトル強度比Si/Cが該最表面において80%下層よりも5倍以上大きいことを特徴とする〔1〕又は〔2〕に記載の反射防止フィルム。

表面自由エネルギーが25mN/m以下であることを特徴とする〔1〕〜〔〕のいずれかに記載の反射防止フィルム。

透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層および該低屈折率層の下層の少なくともいずれかに、酸触媒および/または金属キレート化合物の存在下で製造されてなる下記一般式(A)で表されるオルガノシランの加水分解物およびその部分縮合物の少なくともいずれかを含む〔1〕〜〔〕のいずれかに記載の反射防止フィルム。
一般式(A):(R10mSi(X)4-m
(式中、R10は、置換もしくは無置換のアルキル基または置換もしくは無置換のアリール基を表す。Xは水酸基または加水分解可能な基を表す。mは1〜3の整数を表す。)

〔1〕〜〔〕のいずれかに記載の反射防止フィルムの製造方法において、
バックアップロールによって支持されて連続走行する透明支持体の表面に、スロットダイの先端リップのランドを近接させて、前記先端リップのスロットから、実質的にフッ素を含まない飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーバインダーと、粒子内の空腔の半径をa、粒子の外殻の半径をbとしたときの数式(I)で表される空隙率xが10〜60%である中空シリカ粒子と、ジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に(メタ)アクリロイル基を有するシリコーン化合物である表面自由エネルギーを低下させる化合物とを含む塗布液を塗布する方法の、前記スロットダイの透明支持体進行方向側の先端リップのウェブ走行方向におけるランド長さを30μm以上100μm以下とするスロットダイを使用し、前記スロットダイを塗布位置にセットしたときに、前記ウェブの進行方向とは逆側の先端リップとウェブの隙間を、前記ウェブ進行方向側の先端リップとウェブとの隙間よりも30μm以上120μm以下大きくなるように設置した塗布装置を用いて乾燥膜厚が200nm以下となる、透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層を少なくとも一層塗布することを特徴とする反射防止フィルムの製造方法。

該塗布液の塗布時における粘度が2.0[mPa・sec]以下、透明支持体に塗り付けられる塗布液の量が2.0〜5.0[ml/m2]であることを特徴とする〔に記載の反射防止フィルムの製造方法。

〔1〕〜〔〕のいずれかに記載の反射防止フィルムまたは〔〕または〔〕に記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムを備えた偏光板。

〔1〕〜〔〕のいずれかに記載の反射防止フィルム、〔〕または〔〕に記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムまたは〔〕に記載の偏光板を備えた液晶表示装置。
なお、本発明は上記〔1〕〜〔〕に関するものであるが、参考のために下記その他の事項についても記載した。
1.透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層に、中空シリカ粒子と表面自由エネルギーを低下させる化合物を含むことを特徴とする反射防止フィルム。
2.表面自由エネルギーを低下させる化合物が、シリコーン化合物およびフッ素系化合物から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする上記1に記載の反射防止フィルム。
3.表面自由エネルギーを低下させる化合物がシリコーン化合物であることを特徴とする上記項2に記載の反射防止フィルム。
4.表面自由エネルギーを低下させる化合物が、分子中にバインダーとの反応性を有する基を少なくとも1つ含むことを特徴とする上記1〜3のいずれかに記載の反射防止フィルム。
5.表面自由エネルギーを低下させる化合物が、分子中に(メタ)アクリルロイル基を少なくとも1つ含むことを特徴とする上記1〜4のいずれかに記載の反射防止フィルム。
6.透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層に、中空シリカ粒子と表面自由エネルギー低下能を有するバインダーを含むことを特徴とする反射防止フィルム。
7.シリコーンおよび/またはフルオロアルキル基が低屈折率層の表面に偏析し、低屈折率層の最表面と最表面から80%下層における光電子スペクトル強度比Si/Cおよび/またはF/Cが該最表面において80%下層よりも5倍以上大きいことを特徴とする上記1〜6のいずれかに記載の反射防止フィルム。
8.透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層に、中空シリカ粒子と表面自由エネルギー低下能を有するバインダーを含み、該バインダーがシリコーンおよび/またはフッ素を含むことを特徴とする上記6または7に記載の反射防止フィルム。
9.表面エネルギー低下能を有するバインダーが含フッ素重合体であることを特徴とする上記6〜8のいずれかに記載の反射防止フィルム。
10.表面自由エネルギー低下能を有するバインダーが、(メタ)アクリロイル基を少なくとも1つ有する化合物であることを特徴とする上記6〜9のいずれかに記載の反射防止フィルム。
11.バインダーが一般式1で表されることを特徴とする上記6〜10のいずれかに記載の反射防止フィルム。
According to the present invention, an antireflection film having the following constitution, a production method thereof, a polarizing plate and a liquid crystal display device are provided, and the above object is achieved.
[1]
A polymer binder having a saturated hydrocarbon chain or polyether chain substantially free of fluorine as a main chain in a low refractive index layer located farthest from the transparent support, hollow silica particles, and a compound for reducing surface free energy; The hollow silica particles have a porosity x of 10 to 60% represented by the formula (I) when the radius of the cavity in the particle is a and the radius of the outer shell of the particle is b, The compound for reducing the surface free energy is a silicone compound having a (meth) acryloyl group at the end and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units, and reduces the surface free energy. An antireflection film comprising a compound in a range of 0.01 to 20% by mass of the total solid content of the low refractive index layer.
Formula (I): x = (4πa 3/3) / (4πb 3/3) × 100
[2]
The antireflection film as described in [1], wherein the hollow silica particles are treated with a silane coupling agent having an acryloyl group or a methacryloyl group.
[3]
Silicone emission is segregated on the surface of the low refractive index layer, it photoelectron spectral intensity ratio Si / C in 80% lower from the outermost surface and the outermost surface of the low refractive index layer is greater 80% 5 times more than the lower layer in the outermost surface The antireflection film as described in [1] or [2].
[ 4 ]
Surface reflection energy is 25 mN / m or less, The antireflection film in any one of [1]-[ 3 ] characterized by the above-mentioned.
[ 5 ]
The following general formula (A) is produced in the presence of an acid catalyst and / or a metal chelate compound in at least one of the low refractive index layer farthest from the transparent support and the lower layer of the low refractive index layer. The antireflection film according to any one of [1] to [ 4 ], comprising at least one of a hydrolyzate of an organosilane and a partial condensate thereof.
General formula (A): (R 10 ) m Si (X) 4-m
(In the formula, R 10 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. M represents an integer of 1 to 3.)
[ 6 ]
In the method for producing an antireflection film according to any one of [1] to [ 5 ],
The land of the tip lip of the slot die is brought close to the surface of the transparent support that is continuously supported by the backup roll, and from the slot of the tip lip, a saturated hydrocarbon chain or polyether chain substantially free of fluorine. And a void having a porosity x represented by the formula (I) where the radius of the cavity in the particle is a and the radius of the outer shell of the particle is b Application of a coating solution containing silica particles and a compound that reduces the surface free energy, which is a silicone compound having a (meth) acryloyl group at the end and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units. The land length in the web traveling direction of the tip lip on the transparent support traveling direction side of the slot die is 30 μm or less. When a slot die having a size of 100 μm or less is used and the slot die is set at a coating position, a gap between the tip lip and the web on the opposite side to the moving direction of the web is set to the tip lip and the web on the web moving direction side. At least one low refractive index layer located farthest from the transparent support, with a dry film thickness of 200 nm or less, using a coating apparatus installed to be 30 μm or more and 120 μm or less larger than the gap between A method for producing an antireflection film.
[ 7 ]
The viscosity at the time of application | coating of this coating liquid is 2.0 [mPa * sec] or less, and the quantity of the coating liquid apply | coated to a transparent support body is 2.0-5.0 [ml / m < 2 >], It is characterized by the above-mentioned. [The manufacturing method of the antireflection film as described in 6 .
[ 8 ]
A polarizing plate provided with the antireflection film according to any one of [1] to [ 5 ] or the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to [ 6 ] or [ 7 ].
[ 9 ]
The antireflection film according to any one of [1] to [ 5 ], the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to [ 6 ] or [ 7 ], or the polarizing plate according to [ 8 ] A liquid crystal display device provided.
In addition, although this invention is related to said [1]-[ 9 ], the following other matter was also described for reference.
1. An antireflection film comprising a low-refractive-index layer located farthest from a transparent support and containing hollow silica particles and a compound that reduces surface free energy.
2. 2. The antireflection film as described in 1 above, wherein the compound for reducing the surface free energy is at least one selected from a silicone compound and a fluorine-based compound.
3. Item 3. The antireflection film according to Item 2, wherein the compound that reduces the surface free energy is a silicone compound.
4). 4. The antireflection film as described in any one of 1 to 3 above, wherein the compound for reducing the surface free energy contains at least one group having reactivity with the binder in the molecule.
5. 5. The antireflection film as described in any one of 1 to 4 above, wherein the compound for reducing the surface free energy contains at least one (meth) acryloyl group in the molecule.
6). An antireflection film comprising: a hollow silica particle and a binder having a surface free energy lowering ability in a low refractive index layer located farthest from a transparent support.
7). Silicone and / or fluoroalkyl groups segregate on the surface of the low refractive index layer, and the photoelectron spectrum intensity ratio Si / C and / or F / C in the lower layer of the low refractive index layer and 80% below the outermost surface is the outermost surface. The antireflection film as described in any one of 1 to 6 above, which is at least 5 times larger than the 80% lower layer.
8). In the above 6 or 7, wherein the low refractive index layer located farthest from the transparent support contains hollow silica particles and a binder having a surface free energy reducing ability, and the binder contains silicone and / or fluorine. The antireflection film as described.
9. The antireflection film as described in any one of 6 to 8 above, wherein the binder having a surface energy reducing ability is a fluoropolymer.
10. 10. The antireflection film as described in any one of 6 to 9 above, wherein the binder having a surface free energy reducing ability is a compound having at least one (meth) acryloyl group.
11. 11. The antireflection film as described in any one of 6 to 10 above, wherein the binder is represented by the general formula 1.

Figure 0004914564
Figure 0004914564

12.表面自由エネルギーが25mN/m以下であることを特徴とする上記1〜11のいずれかに記載の反射防止フィルム。
13.透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層および該低屈折率層の下層の少なくともいずれかに、酸触媒および/または金属キレート化合物の存在下で製造されてなる下記一般式(A)で表されるオルガノシランの加水分解物およびその部分縮合物の少なくともいずれかを含む請求項1〜12に記載の反射防止フィルム。
一般式(A):(R10mSi(X)4-m
(式中、R10は、置換もしくは無置換のアルキル基または置換もしくは無置換のアリール基を表す。Xは水酸基または加水分解可能な基を表す。mは1〜3の整数を表す。)
14.1〜13に記載の反射防止フィルムの製造方法において、バックアップロールによって支持されて連続走行する透明支持体の表面に、スロットダイの先端リップのランドを近接させて、前記先端リップのスロットから塗布液を塗布する方法の、前記スロットダイの透明支持体進行方向側の先端リップのウェブ走行方向におけるランド長さを30μm以上100μm以下とするスロットダイを使用し、前記スロットダイを塗布位置にセットしたときに、前記ウェブの進行方向とは逆側の先端リップとウェブの隙間を、前記ウェブ進行方向側の先端リップとウェブとの隙間よりも30μm以上120μm以下大きくなるように設置した塗布装置を用いて乾燥膜厚が200nm以下となる層を少なくとも一層塗布することを特徴とする反射防止フィルムの製造方法。
15.該塗布液の塗布時における粘度が2.0[mPa・sec]以下、透明支持体に塗り付けられる塗布液の量が2.0〜5.0[ml/m2]であることを特徴とする上記14に記載の反射防止フィルムの製造方法。
16.上記1〜13のいずれかに記載の反射防止フィルムまたは上記14または15に記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムを備えた偏光板。
17.上記1〜13のいずれかに記載の反射防止フィルム、上記14または15に記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムまたは上記16に記載の偏光板を備えた液晶表示装置。
12 12. The antireflection film as described in any one of 1 to 11 above, wherein the surface free energy is 25 mN / m or less.
13. The following general formula (A) is produced in the presence of an acid catalyst and / or a metal chelate compound in at least one of the low refractive index layer farthest from the transparent support and the lower layer of the low refractive index layer. The antireflective film of Claims 1-12 containing at least any one of the hydrolyzate of the organosilane represented, and its partial condensate.
General formula (A): (R 10 ) m Si (X) 4-m
(In the formula, R 10 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. M represents an integer of 1 to 3.)
14. In the method for producing an antireflection film according to 14.1 to 13, the land of the tip lip of the slot die is brought close to the surface of the transparent support that is supported by the backup roll and continuously runs, from the slot of the tip lip. In the method of applying a coating solution, a slot die having a land length in the web running direction of the tip lip on the transparent die traveling direction side of the slot die is used, and the slot die is set at a coating position. A coating device installed so that a gap between the tip lip on the opposite side to the web traveling direction and the web is larger than the gap between the tip lip on the web traveling direction side and the web by 30 μm or more and 120 μm or less. An antireflection film characterized by applying at least one layer having a dry film thickness of 200 nm or less. Method of manufacturing a Irumu.
15. The viscosity at the time of application | coating of this coating liquid is 2.0 [mPa * sec] or less, and the quantity of the coating liquid apply | coated to a transparent support body is 2.0-5.0 [ml / m < 2 >], It is characterized by the above-mentioned. 15. The method for producing an antireflection film as described in 14 above.
16. A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of 1 to 13 or the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to 14 or 15.
17. 16. A liquid crystal display device comprising the antireflection film according to any one of 1 to 13, the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to 14 or 15, or the polarizing plate according to 16.

本発明の反射防止フィルムは、簡便かつ安価に製造可能であり、しかも十分な反射防止性能と耐傷性、さらには防汚性を有する。また本発明によれば膜厚均一性が高い反射防止フィルムの製造方法が提供される。
さらに、本発明の上記反射防止フィルムを備えた偏光板が提供され、これら反射防止フィルムや偏光板を具備する本発明の液晶表示装置は、該反射防止フィルムが最表面に配置されるので、視認性に優れると共に、耐傷性、さらには防汚性に優れる。
The antireflection film of the present invention can be produced easily and inexpensively, and has sufficient antireflection performance, scratch resistance and antifouling properties. Moreover, according to this invention, the manufacturing method of an antireflection film with high film thickness uniformity is provided.
Furthermore, a polarizing plate provided with the above antireflection film of the present invention is provided, and the liquid crystal display device of the present invention comprising these antireflection film and polarizing plate is visually recognized because the antireflection film is disposed on the outermost surface Excellent scratch resistance and antifouling properties.

本発明の実施の一形態として好適な反射防止フィルムの基本的な構成を図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明の反射防止フィルムの一例を模式的に示す概略断面図である。この場合、反射防止フィルム1は、透明支持体2、導電性層3、ハードコート層4、中屈折率層5、高屈折率層6、そして低屈折率層7の順序の層構成を有する。中屈折率層5と高屈折率層6はあってもなくてもよく、ハードコート層4には、マット粒子8が含まれていても含まれていなくてもよい。ハードコート層4の屈折率は1.50〜2.00の範囲にあることが好ましく、低屈折率層7の屈折率は1.38〜1.49の範囲にあることが好ましい。高屈折率層6および中屈折率層5を用いる場合、屈折率は低屈折率層7<中屈折率層5<高屈折率層6の順であればよい。導電性層3は必須ではないが塗設されることが好ましく、透明支持体2とハードコート層4の間でなく、上記反射防止フィルムの構成においていずれに存在してもよく、導電性層3が上記いずれかの層と一体化してもよい。なお、本明細書において、数値が物性値、特性値等を表す場合に、「(数値1)〜(数値2)」という記載は「(数値1)以上(数値2)以下」の意味を表す。
A basic configuration of an antireflection film suitable as an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view schematically showing an example of the antireflection film of the present invention. In this case, the antireflection film 1 has a layer structure in the order of a transparent support 2, a conductive layer 3, a hard coat layer 4, a medium refractive index layer 5, a high refractive index layer 6, and a low refractive index layer 7. The middle refractive index layer 5 and the high refractive index layer 6 may or may not be present, and the hard coat layer 4 may or may not include the mat particles 8. The refractive index of the hard coat layer 4 is preferably in the range of 1.50 to 2.00, and the refractive index of the low refractive index layer 7 is preferably in the range of 1.38 to 1.49. When the high refractive index layer 6 and the medium refractive index layer 5 are used, the refractive index may be in the order of the low refractive index layer 7 <the medium refractive index layer 5 <the high refractive index layer 6. Although the conductive layer 3 is not essential, it is preferably coated, and may be present in any of the configurations of the antireflection film, not between the transparent support 2 and the hard coat layer 4. May be integrated with any of the above layers. In the present specification, when a numerical value represents a physical property value, a characteristic value, etc., the description “(numerical value 1) to (numerical value 2)” means “(numerical value 1) or more and (numerical value 2) or less”. .

[低屈折率層]
まず、本発明の低屈折率層について説明する。
本発明の反射防止フィルムの低屈折率層の屈折率は、1.38〜1.49、好ましくは1.38〜1.44の範囲にある。さらに、低屈折率層は下記数式(I)を満たすことが低反射率化の点で好ましい。
(mλ/4)×0.7<n11<(mλ/4)×1.3 ……数式(I)
式中、mは正の奇数であり、n1は低屈折率層の屈折率であり、そして、d1は低屈折率層の膜厚(nm)である。また、λは波長であり、500〜550nmの範囲の値である。なお、上記数式(I)を満たすとは、上記波長の範囲において数式(I)を満たすm(正の奇数、通常1である)が存在することを意味している。
[Low refractive index layer]
First, the low refractive index layer of the present invention will be described.
The refractive index of the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention is in the range of 1.38 to 1.49, preferably 1.38 to 1.44. Further, the low refractive index layer preferably satisfies the following formula (I) from the viewpoint of reducing the reflectance.
(Mλ / 4) × 0.7 <n 1 d 1 <(mλ / 4) × 1.3 (Equation (I))
In the formula, m is a positive odd number, n 1 is the refractive index of the low refractive index layer, and d 1 is the film thickness (nm) of the low refractive index layer. Further, λ is a wavelength, which is a value in the range of 500 to 550 nm. In addition, satisfy | filling said numerical formula (I) means that m (positive odd number, usually 1) which satisfy | fills numerical formula (I) exists in the said wavelength range.

本発明では、低屈折率層に、中空シリカ粒子と表面自由エネルギーを低下させる化合物を含むことを特徴とする。
本発明の低屈折率層中に含有される中空シリカ粒子について、以下に説明する。
中空のシリカ粒子は、屈折率が1.17〜1.40が好ましく、更に好ましくは1.17〜1.35、最も好ましくは1.17〜1.30である。ここでの屈折率は粒子全体としての屈折率を表し、中空シリカ粒子を形成している外殻のシリカのみの屈折率を表すものではない。この時、粒子内の空腔の半径をa、粒子外殻の半径をbとすると、下記数式(I)で表される空隙率xは、好ましくは10〜60%、更に好ましくは20〜60%、最も好ましくは30〜60%である。
数式(I):x=(4πa3/3)/(4πb3/3)×100
中空のシリカ粒子をより低屈折率に、より空隙率を大きくしようとすると、外殻の厚みが薄くなり、粒子の強度としては弱くなるため、耐擦傷性の観点から1.17未満の低屈折率の粒子は成り立たない。なお、これら中空シリカ粒子の屈折率は、アッベ屈折率計(アタゴ(株)製)にて測定をおこなった。中空シリカの製造方法は、例えば特開2001−233611号公報や特開2002−79616号公報に記載されている。
The present invention is characterized in that the low refractive index layer contains hollow silica particles and a compound that reduces surface free energy.
The hollow silica particles contained in the low refractive index layer of the present invention will be described below.
The hollow silica particles preferably have a refractive index of 1.17 to 1.40, more preferably 1.17 to 1.35, and most preferably 1.17 to 1.30. The refractive index here represents the refractive index of the entire particle, and does not represent the refractive index of only the outer shell silica forming the hollow silica particles. At this time, when the radius of the void in the particle is a and the radius of the particle outer shell is b, the porosity x represented by the following formula (I) is preferably 10 to 60%, more preferably 20 to 60. %, Most preferably 30-60%.
Formula (I): x = (4πa 3/3) / (4πb 3/3) × 100
If the hollow silica particles are made to have a lower refractive index and a higher porosity, the thickness of the outer shell becomes thinner and the strength of the particles becomes weaker. From the viewpoint of scratch resistance, the low refractive index is less than 1.17. Rate particles do not hold. The refractive index of these hollow silica particles was measured with an Abbe refractometer (manufactured by Atago Co., Ltd.). A method for producing hollow silica is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2001-233611 and 2002-79616.

中空シリカの塗設量は、低屈折率化の効果や耐擦傷性の改良効果の観点、黒の締まりなどの外観や積分反射率の観点から、1mg/m2〜100mg/m2が好ましく、より好ましくは5mg/m2〜80mg/m2、更に好ましくは10mg/m2〜60mg/m2である。中空シリカの平均粒径は、低屈折率層の厚みの30%以上150%以下が好ましく、より好ましくは35%以上80%以下、更に好ましくは40%以上60%以下である。即ち、低屈折率層の厚みが100nmであれば、中空シリカの粒径は30nm以上150nm以下が好ましく、より好ましくは35nm以上80nm以下、更に好ましくは、40nm以上60nm以下である。
シリカ微粒子の粒径が上記範囲にあると、空腔部の割合が適切となり屈折率が低下し、しかも低屈折率層表面に生成する微細な凹凸が抑制され、黒の締まりといった外観の悪化や積分反射率が悪化することがない。
シリカ微粒子は、結晶質でも、アモルファスのいずれでも良く、また単分散粒子が好ましい。形状は、球径が最も好ましいが、不定形であっても問題無い。ここで、中空シリカの平均粒径は電子顕微鏡写真から求めることができる。
The coating amount of the hollow silica is, in view of the effect and scratch resistance improvement effect of reducing the refractive index, in terms of outer appearance or integrated reflectance, such as tightness of black, 1mg / m 2 ~100mg / m 2 are preferred, more preferably 5mg / m 2 ~80mg / m 2 , more preferably from 10mg / m 2 ~60mg / m 2 . The average particle diameter of the hollow silica is preferably 30% to 150% of the thickness of the low refractive index layer, more preferably 35% to 80%, and still more preferably 40% to 60%. That is, if the thickness of the low refractive index layer is 100 nm, the particle size of the hollow silica is preferably 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 80 nm, and still more preferably 40 nm to 60 nm.
When the particle size of the silica fine particles is in the above range, the ratio of the cavity portion is appropriate, the refractive index is lowered, and fine irregularities generated on the surface of the low refractive index layer are suppressed, and the appearance is deteriorated such as black tightening. The integrated reflectance is not deteriorated.
The silica fine particles may be either crystalline or amorphous, and monodisperse particles are preferred. The shape is most preferably a spherical diameter, but there is no problem even if the shape is indefinite. Here, the average particle diameter of the hollow silica can be determined from an electron micrograph.

本発明においては、中空シリカと併用して空腔のないシリカ粒子を用いることができる。空腔のないシリカの好ましい粒子サイズは、30nm以上150nm以下、更に好ましくは35nm以上80nm以下、最も好ましくは40nm以上60nm以下である。また、平均粒径が低屈折率層の厚みの25%未満であるシリカ微粒子(「小サイズ粒径のシリカ微粒子」と称す)の少なくとも1種を上記の粒径のシリカ微粒子(「大サイズ粒径のシリカ微粒子」と称す)と併用することが好ましい。小サイズ粒径のシリカ微粒子は、大サイズ粒径のシリカ微粒子同士の隙間に存在することができるため、大サイズ粒径のシリカ微粒子の保持剤として寄与することができる。小サイズ粒径のシリカ微粒子の平均粒径は、1nm以上20nm以下が好ましく、5nm以上15nm以下が更に好ましく、10nm以上15nm以下が特に好ましい。このようなシリカ微粒子を用いると、原料コストおよび保持剤効果の点で好ましい。   In the present invention, silica particles having no voids can be used in combination with hollow silica. The preferred particle size of silica without voids is 30 nm to 150 nm, more preferably 35 nm to 80 nm, and most preferably 40 nm to 60 nm. In addition, at least one kind of silica fine particles having an average particle size of less than 25% of the thickness of the low refractive index layer (referred to as “silica fine particles with small size particle size”) is used as silica fine particles with the above particle size (“large size particles”). It is preferably used in combination with “silica fine particles having a diameter”. Since the fine silica particles having a small size can be present in the gaps between the fine silica particles having a large size, the fine particles can contribute as a retaining agent for the fine silica particles having a large size. The average particle diameter of the silica fine particles having a small size is preferably 1 nm to 20 nm, more preferably 5 nm to 15 nm, and particularly preferably 10 nm to 15 nm. Use of such silica fine particles is preferable in terms of raw material costs and a retaining agent effect.

上記シリカ微粒子は、分散液中あるいは塗布液中で、分散安定化を図るために、あるいはバインダー成分との親和性、結合性を高めるために、プラズマ放電処理やコロナ放電処理のような物理的表面処理、界面活性剤やカップリング剤等による化学的表面処理がなされていても良い。カップリング剤の使用が特に好ましい。カップリング剤としては、アルコキシメタル化合物(例、チタンカップリング剤、シランカップリング剤)が好ましく用いられる。なかでも、アクリロイル基またはメタクリロイル基を有するシランカップリング剤による処理が特に有効である。上記カップリング剤は、低屈折率層の無機フィラーの表面処理剤として該層塗布液調製以前にあらかじめ表面処理を施すために用いられるが、該層塗布液調製時にさらに添加剤として添加して該層に含有させることが好ましい。シリカ微粒子は、表面処理前に、媒体中に予め分散されていることが、表面処理の負荷軽減のために好ましい。
また、低屈折率層には、本発明の目的の達成を損なわない範囲で、中空シリカと併用してフッ化マグネシウム微粒子等のシリカ微粒子以外の微粒子を配合しても良い。
In order to stabilize dispersion in the dispersion liquid or coating liquid, or to increase the affinity and binding properties with the binder component, the silica fine particles are used in a physical surface such as plasma discharge treatment or corona discharge treatment. Chemical surface treatment with a treatment, a surfactant, a coupling agent, or the like may be performed. The use of a coupling agent is particularly preferred. As the coupling agent, an alkoxy metal compound (eg, titanium coupling agent, silane coupling agent) is preferably used. Among these, treatment with a silane coupling agent having an acryloyl group or a methacryloyl group is particularly effective. The above-mentioned coupling agent is used as a surface treatment agent for the inorganic filler of the low refractive index layer in advance for surface treatment prior to the preparation of the layer coating solution. It is preferable to make it contain in a layer. The silica fine particles are preferably dispersed in the medium in advance before the surface treatment in order to reduce the load of the surface treatment.
Further, the low refractive index layer may contain fine particles other than silica fine particles such as magnesium fluoride fine particles in combination with hollow silica as long as the achievement of the object of the present invention is not impaired.

本発明の反射防止フィルムの表面自由エネルギー(γsv:単位、mN/m)は、D.K.Owens:J.Appl.Polym.Sci.,13,1741(1969)を参考に、反射防止フィルム上で実験的に求めた純水H2Oとヨウ化メチレンCH22のそれぞれの接触角θH2O、θCH2I2から以下の連立方程式(1)、(2)より求めたγsdとγshの和で表される値γsv(=γsd+γsh)で算出される反射防止フィルムの表面張力で定義される。このγsvが小さく、低表面自由エネルギーであるほど表面のはじき性が高く、一般に防汚性に優れる。反射防止フィルムの表面自由エネルギーは25mN/m以下であることが好ましく、20mN/m以下であることが特に好ましい。
(1):1+cosθH2O=2√γsd(√γH2O d/γH2O v)+2√γsh(√γH2O h/γH2O v
(2):1+cosθCH2I2=2√γsd(√γCH2I2 d/γCH2I2 v)+2√γsh(√γCH2I2 h/γCH2I2 v
*γH2O d=21.8、γH2O h=51.0、γH2O v=72.8、γCH2I2 d=49.5、γCH2I2 h=1.3、γCH2I2 v=50.8で、接触角の測定は25℃60%の条件下で1時間以上反射防止フィルムを調湿した後に同条件下において実施するものとする。
The surface free energy (γs v : unit, mN / m) of the antireflection film of the present invention was experimentally measured on the antireflection film with reference to DKOwens: J.Appl.Polym.Sci., 13,1741 (1969). Table by the sum of pure water between H 2 O and the respective contact angle theta H2 O in methylene iodide CH 2 I 2, where theta following simultaneous equations from CH2I2 (1), γs d and gamma] s h was calculated from (2) obtained in It is defined by the surface tension of the antireflection film calculated by the calculated value γs v (= γs d + γs h ). The smaller this γs v and the lower the surface free energy, the higher the surface repellency and the better the antifouling property. The surface free energy of the antireflection film is preferably 25 mN / m or less, and particularly preferably 20 mN / m or less.
(1): 1 + cosθ H2O = 2√γs d (√γ H2O d / γ H2O v) + 2√γs h (√γ H2O h / γ H2O v)
(2): 1 + cosθ CH2I2 = 2√γs d (√γ CH2I2 d / γ CH2I2 v) + 2√γs h (√γ CH2I2 h / γ CH2I2 v)
* Γ H2O d = 21.8, γ H2O h = 51.0, γ H2O v = 72.8, γ CH2I2 d = 49.5, γ CH2I2 h = 1.3, γ CH2I2 v = 50.8, The measurement of the contact angle is carried out under the same condition after conditioning the antireflection film for 1 hour or more at 25 ° C. and 60%.

本発明に用いる表面自由エネルギーを低下させる化合物および表面自由エネルギー低下能を有するバインダーとは上記で定義した反射防止フィルムの表面自由エネルギーを各々該化合物を用いたことで優位に低下させる化合物であれば構造や組成は限定されない。一般に該化合物を用いた場合の表面自由エネルギーの低下は使用量に対してリニアとはならず、使用量アップに伴いやがて飽和する。例えばDPHAのようなバインダーで形成した硬化マトリックス系であらかじめ使用量に対して表面自由エネルギーの低下をプロットして求めた表面自由エネルギーの低下が飽和する点での該化合物の添加量における表面自由エネルギーの低下は、好ましくは10mN/m以上であり、より好ましくは20mN/m以上であり、25mN/m以上であることが特に好ましく、30mN/m以上であることが最も好ましい。   The compound for reducing the surface free energy and the binder having the ability to reduce the surface free energy used in the present invention are compounds that can significantly reduce the surface free energy of the antireflection film defined above by using each of the compounds. The structure and composition are not limited. In general, when the compound is used, the decrease in surface free energy does not become linear with respect to the amount used, and eventually saturates as the amount used increases. For example, the surface free energy at the addition amount of the compound at the point where the decrease in surface free energy obtained by plotting the decrease in surface free energy against the amount used in a cured matrix system formed with a binder such as DPHA is saturated. Is preferably 10 mN / m or more, more preferably 20 mN / m or more, particularly preferably 25 mN / m or more, and most preferably 30 mN / m or more.

表面自由エネルギーを低下させる化合物としては、公知のシリコーン化合物あるいはフッ素系化合物を用いることができる。これらを添加する場合には低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で添加されることが好ましく、より好ましくは0.05〜10質量%の範囲で添加される場合であり、特に好ましくは0.1〜5質量%の場合である。   As the compound for reducing the surface free energy, a known silicone compound or fluorine-based compound can be used. In the case of adding these, it is preferably added in the range of 0.01 to 20% by mass of the total solid content of the low refractive index layer, more preferably in the range of 0.05 to 10% by mass. Yes, particularly preferably 0.1 to 5% by mass.

シリコーン系化合物の好ましい例としてはジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に置換基を有するものが挙げられる。ジメチルシリルオキシを繰り返し単位として含む化合物鎖中にはジメチルシリルオキシ以外の構造単位を含んでもよい。置換基は同一であっても異なっていても良く、複数個あることが好ましい。好ましい置換基の例としてはアクリロイル基、メタクリロイル基、ビニル基、アリール基、シンナモイル基、エポキシ基、オキセタニル基、水酸基、フルオロアルキル基、ポリオキシアルキレン基、カルボキシル基、アミノ基などを含む基が挙げられる。分子量に特に制限はないが、10万以下であることが好ましく、5万以下であることがより好ましく、3000〜30000であることが特に好ましく、10000〜20000であることが最も好ましい。シリコーン系化合物のシリコーン原子含有量には特に制限はないが18.0質量%以上であることが好ましく、25.0〜37.8質量%であることが特に好ましく、30.0〜37.0質量%であることが最も好ましい。好ましいシリコーン系化合物の例としては信越化学(株)製、X-22-174DX、X-22-2426、X-22-164B、X22-164C、X-22-170DX、X-22-176D、X-22-1821(以上商品名)やチッソ(株)製、FM-0725、FM-7725、FM-4421、FM-5521、FM6621、FM-1121やGelest製DMS-U22、RMS-033、RMS-083、UMS-182、DMS-H21、DMS-H31、HMS-301、FMS121、FMS123、FMS131、FMS141、FMS221 (以上商品名)などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。   Preferable examples of the silicone compound include those having a substituent at the terminal and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units. The compound chain containing dimethylsilyloxy as a repeating unit may contain a structural unit other than dimethylsilyloxy. The substituents may be the same or different, and a plurality of substituents are preferable. Examples of preferred substituents include acryloyl group, methacryloyl group, vinyl group, aryl group, cinnamoyl group, epoxy group, oxetanyl group, hydroxyl group, fluoroalkyl group, polyoxyalkylene group, carboxyl group, amino group and the like. It is done. Although there is no restriction | limiting in particular in molecular weight, It is preferable that it is 100,000 or less, It is more preferable that it is 50,000 or less, It is especially preferable that it is 3000-30000, It is most preferable that it is 10,000-20000. Although there is no restriction | limiting in particular in silicone atom content of a silicone type compound, it is preferable that it is 18.0 mass% or more, it is especially preferable that it is 25.0-37.8 mass%, and 30.0-37.0. Most preferably, it is mass%. Examples of preferable silicone compounds include X-22-174DX, X-22-2426, X-22-164B, X22-164C, X-22-170DX, X-22-176D, X, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. -22-1821 (named above), Chisso Corporation, FM-0725, FM-7725, FM-4421, FM-5521, FM6621, FM-1121, Gelest DMS-U22, RMS-033, RMS- Examples include, but are not limited to, 083, UMS-182, DMS-H21, DMS-H31, HMS-301, FMS121, FMS123, FMS131, FMS141, and FMS221 (named above).

フッ素系化合物としては、フルオロアルキル基を有する化合物が好ましい。該フルオロアルキル基は炭素数1〜20であることが好ましく、より好ましくは1〜10であり、直鎖(例えば−CF2CF3,−CH2(CF24H,−CH2(CF2)8CF3,−CH2CH2(CF24H等)であっても、分岐構造(例えばCH(CF32,CH2CF(CF32,CH(CH3)CF2CF3,CH(CH3)(CF25CF2H等)であっても、脂環式構造(好ましくは5員環または6員環、例えばパーフルオロシクロへキシル基、パーフルオロシクロペンチル基またはこれらで置換されたアルキル基等)であっても良く、エーテル結合を有していても良い(例えばCH2OCH2CF2CF3,CH2CH2OCH248H,CH2CH2OCH2CH2817,CH2CH2OCF2CF2OCF2CF2H等)。該フルオロアルキル基は同一分子中に複数含まれていてもよい。
フッ素系化合物は、さらに低屈折率層皮膜との結合形成あるいは相溶性に寄与する置換基を有していることが好ましい。該置換基は同一であっても異なっていても良く、複数個あることが好ましい。好ましい置換基の例としてはアクリロイル基、メタクリロイル基、ビニル基、アリール基、シンナモイル基、エポキシ基、オキセタニル基、水酸基、ポリオキシアルキレン基、カルボキシル基、アミノ基などが挙げられる。フッ素系化合物はフッ素原子を含まない化合物とのポリマーであってもオリゴマーであってもよく、分子量に特に制限はない。フッ素系化合物のフッ素原子含有量には特に制限は無いが20質量%以上であることが好ましく、30〜70質量%であることが特に好ましく、40〜70質量%であることが最も好ましい。好ましいフッ素系化合物の例としてはダイキン化学工業(株)製、R-2020、M-2020、R-3833、M-3833(以上商品名)、大日本インキ(株)製、メガファックF-171、F-172、F-179A、ディフェンサMCF-300(以上商品名)などが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
As the fluorine compound, a compound having a fluoroalkyl group is preferable. The fluoroalkyl group preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 10 carbon atoms, and a straight chain (for example, —CF 2 CF 3 , —CH 2 (CF 2 ) 4 H, —CH 2 (CF 2 ) 8 CF 3, -CH 2 CH 2 (CF 2) even 4 H, etc.), a branched structure (e.g., CH (CF 3) 2, CH 2 CF (CF 3) 2, CH (CH 3) CF 2 CF 3 , CH (CH 3 ) (CF 2 ) 5 CF 2 H, etc.), but alicyclic structures (preferably 5-membered or 6-membered rings such as perfluorocyclohexyl group, perfluorocyclopentyl group Or an alkyl group substituted with these, and may have an ether bond (for example, CH 2 OCH 2 CF 2 CF 3 , CH 2 CH 2 OCH 2 C 4 F 8 H, CH 2 CH 2 OCH 2 CH 2 C 8 F 17 , CH 2 CH 2 OCF 2 CF 2 OCF 2 CF 2 H, etc.). A plurality of the fluoroalkyl groups may be contained in the same molecule.
It is preferable that the fluorine-based compound further has a substituent that contributes to bond formation or compatibility with the low refractive index layer film. The substituents may be the same or different, and a plurality of substituents are preferable. Examples of preferred substituents include acryloyl group, methacryloyl group, vinyl group, aryl group, cinnamoyl group, epoxy group, oxetanyl group, hydroxyl group, polyoxyalkylene group, carboxyl group, amino group and the like. The fluorine-based compound may be a polymer or an oligomer with a compound not containing a fluorine atom, and the molecular weight is not particularly limited. Although there is no restriction | limiting in particular in fluorine atom content of a fluorine-type compound, It is preferable that it is 20 mass% or more, It is especially preferable that it is 30-70 mass%, It is most preferable that it is 40-70 mass%. Examples of preferred fluorine-based compounds include Daikin Chemical Industries, R-2020, M-2020, R-3833, M-3833 (named above), Dainippon Ink, Megafac F-171. , F-172, F-179A, defender MCF-300 (trade name) and the like, but are not limited thereto.

表面自由エネルギーを低下させる化合物はその分子中にバインダーとの反応性を有する基を少なくとも一つ含有することが好ましい。好ましい反応性基の例としては熱硬化性の活性の水素原子、水酸基、メラミン、活性エネルギー線硬化性の(メタ)アクリロイル基、エポキシ基が挙げられ、メラミンまたは(メタ)アクリロイル基であることが特に好ましい。   The compound for reducing the surface free energy preferably contains at least one group having reactivity with the binder in the molecule. Examples of preferable reactive groups include thermosetting active hydrogen atoms, hydroxyl groups, melamine, active energy ray-curable (meth) acryloyl groups, and epoxy groups, and are melamine or (meth) acryloyl groups. Particularly preferred.

防塵性、帯電防止等の特性を付与する目的で、公知のカチオン系界面活性剤あるいはポリオキシアルキレン系化合物のような防塵剤、帯電防止剤等を適宜添加することもできる。これら防塵剤、帯電防止剤は前述したシリコーン系化合物やフッ素系化合物にその構造単位が機能の一部として含まれていてもよい。これらを添加剤として添加する場合には低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で添加されることが好ましく、より好ましくは0.05〜10質量%の範囲で添加される場合であり、特に好ましくは0.1〜5質量%の場合である。好ましい化合物の例としては大日本インキ(株)製、メガファックF-150(商品名)、東レダウコーニング(株)製、SH-3748(商品名)などが挙げられるが、これらに限定されるわけではない。   For the purpose of imparting properties such as dust resistance and antistatic properties, a known cationic surfactant or a dustproof agent such as a polyoxyalkylene compound, an antistatic agent, or the like can be appropriately added. These dustproofing agent and antistatic agent may contain the structural unit as a part of the function in the above-mentioned silicone compound or fluorine compound. When these are added as additives, it is preferably added in the range of 0.01 to 20% by mass, more preferably in the range of 0.05 to 10% by mass of the total solid content of the low refractive index layer. Particularly preferred is 0.1 to 5% by mass. Examples of preferable compounds include, but are not limited to, Dainippon Ink Co., Ltd., MegaFuck F-150 (trade name), Toray Dow Corning Co., Ltd., SH-3748 (trade name), and the like. Do not mean.

本発明の反射防止フィルムの低屈折率層に用いることのできるバインダーについて説明する。バインダーとしては、飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーであることが好ましく、飽和炭化水素鎖を主鎖として有するポリマーであることがさらに好ましい。また、バインダーポリマーは架橋構造を有することが好ましい。   The binder that can be used for the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention will be described. The binder is preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain or a polyether chain as a main chain, and more preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain. The binder polymer preferably has a crosslinked structure.

飽和炭化水素鎖を主鎖として有するバインダーポリマーとしては、エチレン性不飽和モノマーの重合体が好ましい。飽和炭化水素鎖を主鎖として有し、かつ架橋構造を有するバインダーポリマーとしては、二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの(共)重合体が好ましい。   As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain, a polymer of an ethylenically unsaturated monomer is preferable. As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as the main chain and having a crosslinked structure, a (co) polymer of monomers having two or more ethylenically unsaturated groups is preferable.

二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーとしては、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル(例、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−シクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート)、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,2,3−シクロヘキサンテトラメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート)、ビニルベンゼンおよびその誘導体(例、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン)、ビニルスルホン(例、ジビニルスルホン)、アクリルアミド(例、メチレンビスアクリルアミド)および メタクリルアミドが挙げられる。上記モノマーは2種以上併用してもよい。尚、本明細書においては、「(メタ)アクリレート」は「アクリレート又はメタクリレート」を表す。   Examples of the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid (eg, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-cyclohexanediacrylate, pentaerythritol tetra ( (Meth) acrylate), pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, di Pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,2,3-cyclohexanetetramethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester polyacrylate), vinylbenzene and its derivatives Examples are 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone), vinyl sulfone (eg, divinyl sulfone), acrylamide (eg, methylenebisacrylamide) and methacrylamide. Can be mentioned. Two or more of these monomers may be used in combination. In the present specification, “(meth) acrylate” represents “acrylate or methacrylate”.

これらのエチレン性不飽和基を有するモノマーの重合は、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤の存在下、活性エネルギー線の照射または加熱により行うことができる。 従って、エチレン性不飽和基を有するモノマー、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤、マット粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体上に塗布後、活性エネルギー線または熱による重合反応により硬化して反射防止フィルムを形成することができる。   Polymerization of these monomers having an ethylenically unsaturated group can be performed by irradiation with active energy rays or heating in the presence of a photo radical initiator or a thermal radical initiator. Accordingly, a coating liquid containing a monomer having an ethylenically unsaturated group, a photo radical initiator or a thermal radical initiator, mat particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is applied on a transparent support, and then an active energy ray. Or it can harden | cur by the polymerization reaction by a heat | fever and can form an antireflection film.

光ラジカル重合開始剤としては、アセトフェノン類、ベンゾイン類、ベンゾフェノン類、ホスフィンオキシド類、ケタール類、アントラキノン類、チオキサントン類、アゾ化合物、過酸化物類、2,3−ジアルキルジオン化合物類、ジスルフィド化合物類、フルオロアミン化合物類や芳香族スルホニウム類が挙げられる。アセトフェノン類の例には、2,2−ジエトキシアセトフェノン、p−ジメチルアセトフェノン、1−ヒドロキシジメチルフェニルケトン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2−メチル−4−メチルチオ−2−モルフォリノプロピオフェノンおよび2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノンが含まれる。ベンゾイン類の例には、ベンゾインベンゼンスルホン酸エステル、ベンゾイントルエンスルホン酸エステル、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテルおよびベンゾインイソプロピルエーテルが含まれる。ベンゾフェノン類の例には、ベンゾフェノン、2,4−ジクロロベンゾフェノン、4,4−ジクロロベンゾフェノンおよびp−クロロベンゾフェノンが含まれる。ホスフィンオキシド類の例には、2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキシドが含まれる。最新UV硬化技術(P.159,発行人;高薄一弘,発行所;(株)技術情報協会,1991年発行)にも種々の例が記載されており本発明に有用である。市販の光開裂型の光ラジカル重合開始剤としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製のイルガキュア(651,184,907)等が好ましい例として挙げられる。光重合開始剤は、多官能モノマー100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。光重合開始剤に加えて、光増感剤を用いてもよい。光増感剤の具体例として、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、ミヒラーのケトンおよびチオキサントンを挙げることができる。   As radical photopolymerization initiators, acetophenones, benzoins, benzophenones, phosphine oxides, ketals, anthraquinones, thioxanthones, azo compounds, peroxides, 2,3-dialkyldione compounds, disulfide compounds And fluoroamine compounds and aromatic sulfoniums. Examples of acetophenones include 2,2-diethoxyacetophenone, p-dimethylacetophenone, 1-hydroxydimethylphenyl ketone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-4-methylthio-2-morpholinopropiophenone and 2 -Benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone is included. Examples of benzoins include benzoin benzene sulfonate, benzoin toluene sulfonate, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether and benzoin isopropyl ether. Examples of the benzophenones include benzophenone, 2,4-dichlorobenzophenone, 4,4-dichlorobenzophenone and p-chlorobenzophenone. Examples of phosphine oxides include 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide. Various examples are described in the latest UV curing technology (P.159, issuer; Kazuhiro Takasagi, publisher; Technical Information Association, Inc., published in 1991), which is useful for the present invention. Preferable examples of commercially available photocleavable photoradical polymerization initiators include Irgacure (651, 184, 907) manufactured by Ciba Specialty Chemicals. It is preferable to use a photoinitiator in the range of 0.1-15 mass parts with respect to 100 mass parts of polyfunctional monomers, More preferably, it is the range of 1-10 mass parts. In addition to the photopolymerization initiator, a photosensitizer may be used. Specific examples of the photosensitizer include n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine, Michler's ketone and thioxanthone.

熱ラジカル開始剤としては、有機あるいは無機過酸化物、有機アゾ及びジアゾ化合物等を用いることができる。具体的には、有機過酸化物として過酸化ベンゾイル、過酸化ハロゲンベンゾイル、過酸化ラウロイル、過酸化アセチル、過酸化ジブチル、クメンヒドロぺルオキシド、ブチルヒドロぺルオキシド、無機過酸化物として、過酸化水素、過硫酸アンモニウム、過硫酸カリウム等、アゾ化合物として2−アゾ−ビス−イソブチロニトリル、2−アゾ−ビス−プロピオニトリル、2−アゾ−ビス−シクロヘキサンジニトリル等、ジアゾ化合物としてジアゾアミノベンゼン、p−ニトロベンゼンジアゾニウム等を挙げることができる。   As the thermal radical initiator, organic or inorganic peroxides, organic azo, diazo compounds, and the like can be used. Specifically, benzoyl peroxide, halogen benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, dibutyl peroxide, cumene hydroperoxide, butyl hydroperoxide as organic peroxides, hydrogen peroxide, peroxides as inorganic peroxides. Ammonium sulfate, potassium persulfate, etc., 2-azo-bis-isobutyronitrile, 2-azo-bis-propionitrile, 2-azo-bis-cyclohexanedinitrile, etc. as diazo compounds, diazoaminobenzene, p -Nitrobenzenediazonium etc. can be mentioned.

低屈折率層のバインダーとして用いられるポリエーテルを主鎖として有するポリマーは、多官能エポシキシ化合物の開環重合体が好ましい。多官能エポシキ化合物の開環重合は、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤の存在下、活性エネルギー線の照射または加熱により行うことができる。従って、多官能エポシキシ化合物、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤、マット粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体上に塗布後活性エネルギー線または熱による重合反応により硬化して反射防止フィルムを形成することができる。   The polymer having a polyether as a main chain used as a binder for the low refractive index layer is preferably a ring-opening polymer of a polyfunctional epoxy compound. The ring-opening polymerization of the polyfunctional epoxy compound can be performed by irradiation with active energy rays or heating in the presence of a photoacid generator or a thermal acid generator. Therefore, a coating liquid containing a polyfunctional epoxy compound, a photoacid generator or a thermal acid generator, matte particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is applied onto a transparent support and then subjected to a polymerization reaction by active energy rays or heat. Can be cured to form an antireflection film.

飽和炭化水素鎖を主鎖として有し、かつ架橋構造を有するバインダーポリマーを得るための二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの代わりにまたはそれに加えて、架橋性官能基を有するモノマーを用いてポリマー中に架橋性官能基を導入し、この架橋性官能基の反応により、架橋構造をバインダーポリマーに導入してもよい。
架橋性官能基の例には、イソシアナート基、エポキシ基、アジリジン基、オキサゾリン基、アルデヒド基、カルボニル基、ヒドラジン基、カルボキシル基、メチロール基および活性メチレン基が含まれる。ビニルスルホン酸、酸無水物、シアノアクリレート誘導体、メラミン、エーテル化メチロール、エステルおよびウレタン、テトラメトキシシランのような金属アルコキシドも、架橋構造を導入するためのモノマーとして利用できる。ブロックイソシアナート基のように、分解反応の結果として架橋性を示す官能基を用いてもよい。すなわち、本発明において架橋性官能基は、すぐには反応を示すものではなくとも、分解した結果反応性を示すものであってもよい。これら架橋性官能基を有するバインダーポリマーは塗布後、加熱することによって架橋構造を形成することができる。
A monomer having a crosslinkable functional group instead of or in addition to the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups for obtaining a binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain and having a crosslinked structure It is also possible to introduce a crosslinkable functional group into the polymer and introduce a crosslink structure into the binder polymer by the reaction of the crosslinkable functional group.
Examples of the crosslinkable functional group include isocyanate group, epoxy group, aziridine group, oxazoline group, aldehyde group, carbonyl group, hydrazine group, carboxyl group, methylol group and active methylene group. Vinylsulfonic acid, acid anhydride, cyanoacrylate derivative, melamine, etherified methylol, ester and urethane, and metal alkoxide such as tetramethoxysilane can also be used as a monomer for introducing a crosslinked structure. A functional group that exhibits crosslinkability as a result of the decomposition reaction, such as a block isocyanate group, may be used. That is, in the present invention, the crosslinkable functional group may not react immediately but may exhibit reactivity as a result of decomposition. These binder polymers having a crosslinkable functional group can form a crosslinked structure by heating after coating.

本発明の反射防止フィルムの低屈折率層に用いる表面自由エネルギー低下能を有するバインダーとはDPHAに代表されるアルキルアクリレートモノマーにより硬化形成された層の表面自由エネルギーに対して該バインダーを添加することで優位に表面自由エネルギーを低下し得るようなバインダーであれば特に限定されない。該バインダーのみで硬化形成された層の表面自由エネルギーが30mN/m以下であるバインダーが特に好ましく、25mN/m以下であるバインダーがより好ましく、20mN/m以下のバインダーが特に好ましい。該バインダーは化合物中にフルオロアルキル基、ジメチルシロキサン基、ポリジメチルシロキサン(いわゆるシリコーン)化合物から選ばれる少なくとも1種を含むことが好ましい。該バインダーは硬化前にモノマーであってもポリマーであってもよく、モノマーとポリマーの混合物であっても複数の化合物の混合物であってもよい。   The binder having a surface free energy lowering ability used for the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention is to add the binder to the surface free energy of the layer formed by curing with an alkyl acrylate monomer typified by DPHA. The binder is not particularly limited as long as the binder can lower the surface free energy. A binder having a surface free energy of 30 mN / m or less is particularly preferred, a binder having a surface density of 25 mN / m or less is more preferred, and a binder having a density of 20 mN / m or less is particularly preferred. The binder preferably contains at least one selected from a fluoroalkyl group, a dimethylsiloxane group, and a polydimethylsiloxane (so-called silicone) compound in the compound. The binder may be a monomer or a polymer before curing, and may be a mixture of a monomer and a polymer or a mixture of a plurality of compounds.

低屈折率層に用いる前記表面自由エネルギー低下能を有するバインダーの好ましい例について以下に説明する。表面自由エネルギー低下能を有するバインダーは、低屈折率バインダーとして、含フッ素ポリマーを含むことが好ましい。フッ素ポリマーとしては動摩擦係数0.03〜0.15、水に対する接触角90〜120°の熱または活性エネルギー線により架橋する含フッ素ポリマーが好ましい。   Preferred examples of the binder having the ability to reduce the surface free energy used for the low refractive index layer will be described below. The binder having a surface free energy reducing ability preferably contains a fluorine-containing polymer as a low refractive index binder. The fluoropolymer is preferably a fluoropolymer that is crosslinked by heat or active energy rays having a dynamic friction coefficient of 0.03 to 0.15 and a contact angle with water of 90 to 120 °.

低屈折率層に用いられる含フッ素ポリマーとしてはパーフルオロアルキル基含有シラン化合物(例えば(ヘプタデカフルオロ−1,1,2,2−テトラヒドロデシル)トリエトキシシラン)の加水分解、脱水縮合物の他、含フッ素モノマー単位と架橋反応性付与のための構成単位を構成成分とする含フッ素共重合体が挙げられる。   Examples of the fluorine-containing polymer used in the low refractive index layer include hydrolysis and dehydration condensate of perfluoroalkyl group-containing silane compounds (for example, (heptadecafluoro-1,1,2,2-tetrahydrodecyl) triethoxysilane). And a fluorine-containing copolymer having a fluorine-containing monomer unit and a structural unit for imparting crosslinking reactivity as structural components.

含フッ素モノマー単位の具体例としては、例えばフルオロオレフィン類(例えばフルオロエチレン、ビニリデンフルオライド、テトラフルオロエチレン、パーフルオロオクチルエチレン、ヘキサフルオロプロピレン、パーフルオロ−2,2−ジメチル−1,3−ジオキソール等)、(メタ)アクリル酸の部分または完全フッ素化アルキルエステル誘導体類(例えばビスコート6FM(大阪有機化製)やM−2020(ダイキン製)等)、完全または部分フッ素化ビニルエーテル類等が挙げられるが、好ましくはパーフルオロオレフィン類であり、屈折率、溶解性、透明性、入手性等の観点から特に好ましくはヘキサフルオロプロピレンである。   Specific examples of the fluorine-containing monomer unit include, for example, fluoroolefins (for example, fluoroethylene, vinylidene fluoride, tetrafluoroethylene, perfluorooctylethylene, hexafluoropropylene, perfluoro-2,2-dimethyl-1,3-dioxole. Etc.), partially (meth) acrylic acid or fully fluorinated alkyl ester derivatives (for example, Biscoat 6FM (manufactured by Osaka Organic Chemicals) or M-2020 (manufactured by Daikin)), fully or partially fluorinated vinyl ethers, etc. However, perfluoroolefins are preferred, and hexafluoropropylene is particularly preferred from the viewpoints of refractive index, solubility, transparency, availability, and the like.

架橋反応性付与のための構成単位としてはグリシジル(メタ)アクリレート、グリシジルビニルエーテルのように分子内にあらかじめ自己架橋性官能基を有するモノマーの重合によって得られる構成単位、カルボキシル基やヒドロキシ基、アミノ基、スルホ基等を有するモノマー(例えば(メタ)アクリル酸、メチロール(メタ)アクリレート、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アリルアクリレート、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、マレイン酸、クロトン酸等)の重合によって得られる構成単位、これらの構成単位に高分子反応によって(メタ)アクリルロイル基等の架橋反応性基を導入した構成単位(例えばヒドロキシ基に対してアクリル酸クロリドを作用させる等の手法で導入できる)が挙げられる。   As structural units for imparting crosslinking reactivity, structural units obtained by polymerization of monomers having a self-crosslinkable functional group in advance in the molecule such as glycidyl (meth) acrylate and glycidyl vinyl ether, carboxyl groups, hydroxy groups, amino groups Obtained by polymerization of a monomer having a sulfo group or the like (for example, (meth) acrylic acid, methylol (meth) acrylate, hydroxyalkyl (meth) acrylate, allyl acrylate, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, maleic acid, crotonic acid, etc.) And a structural unit obtained by introducing a crosslinking reactive group such as a (meth) acryloyl group into these structural units by a polymer reaction (for example, it can be introduced by a technique such as allowing acrylic acid chloride to act on a hydroxy group) And the like.

また上記含フッ素モノマー単位、架橋反応性付与のための構成単位以外に溶剤への溶解性、皮膜の透明性等の観点から適宜フッ素原子を含有しないモノマーを共重合することもできる。併用可能なモノマー単位には特に限定はなく、例えばオレフィン類(エチレン、プロピレン、イソプレン、塩化ビニル、塩化ビニリデン等)、アクリル酸エステル類(アクリル酸メチル、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル)、メタクリル酸エステル類(メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸ブチル、エチレングリコールジメタクリレート等)、スチレン誘導体(スチレン、ジビニルベンゼン、ビニルトルエン、α−メチルスチレン等)、ビニルエーテル類(メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、シクロヘキシルビニルエーテル等)、ビニルエステル類(酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、桂皮酸ビニル等)、アクリルアミド類(N−tert−ブチルアクリルアミド、N−シクロヘキシルアクリルアミド等)、メタクリルアミド類、アクリロ二トリル誘導体等を挙げることができる。   In addition to the above-mentioned fluorine-containing monomer units and structural units for imparting crosslinking reactivity, monomers not containing fluorine atoms can be copolymerized as appropriate from the viewpoints of solubility in solvents and film transparency. There are no particular limitations on the monomer units that can be used in combination. For example, olefins (ethylene, propylene, isoprene, vinyl chloride, vinylidene chloride, etc.), acrylic esters (methyl acrylate, methyl acrylate, ethyl acrylate, acrylic acid 2) -Ethylhexyl), methacrylates (methyl methacrylate, ethyl methacrylate, butyl methacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, etc.), styrene derivatives (styrene, divinylbenzene, vinyl toluene, α-methylstyrene, etc.), vinyl ethers (methyl) Vinyl ether, ethyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, etc.), vinyl esters (vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl cinnamate etc.), acrylamides (N-tert-butylacrylamide, N- Black hexyl acrylamide), methacrylamides, and acrylonitrile derivatives.

上記のポリマーに対しては特開平10−25388号および特開平10−147739号の各公報に記載のごとく適宜硬化剤を併用しても良い。   As described in JP-A-10-25388 and JP-A-10-147739, a curing agent may be appropriately used in combination with the above polymer.

本発明の低屈折率層に特に有用な含フッ素ポリマーは、パーフルオロオレフィンとビニルエーテル類またはビニルエステル類のランダム共重合体である。特に単独で架橋反応可能な基((メタ)アクリロイル基等のラジカル反応性基、エポキシ基、オキセタニル基等の開環重合性基等)を有していることが好ましい。これらの架橋反応性基含有重合単位はポリマーの全重合単位の5〜70mol%を占めていることが好ましく、特に好ましくは30〜60mol%を占めていることである。   The fluorine-containing polymer particularly useful for the low refractive index layer of the present invention is a random copolymer of perfluoroolefin and vinyl ethers or vinyl esters. In particular, it preferably has a group capable of undergoing a crosslinking reaction alone (a radical reactive group such as a (meth) acryloyl group, a ring-opening polymerizable group such as an epoxy group or an oxetanyl group). These cross-linking reactive group-containing polymer units preferably occupy 5 to 70 mol%, particularly preferably 30 to 60 mol% of the total polymer units of the polymer.

低屈折率層に用いられる共重合体の好ましい形態として下記一般式1のものが挙げられる。   As a preferred form of the copolymer used for the low refractive index layer, one of the following general formula 1 can be mentioned.

Figure 0004914564
Figure 0004914564

一般式1中、Lは炭素数1〜10、好ましくは炭素数1〜6、特に好ましくは炭素数2〜4の連結基を表し、直鎖構造であっても分岐構造であってもよく、また環構造を有していてもよく、O、N、およびSから選ばれるヘテロ原子を有していても良い。Lの好ましい例としては、*‐(CH22−O−**,*−(CH22−NH−**,*−(CH24−O−**,*−(CH26−O−**,*−(CH22−O−(CH22−O−**,*−CONH−(CH23−O−**,*−CH2CH(OH)CH2−O−**,*−CH2CH2OCONH(CH23−O−**(*はポリマー主鎖側の連結部位を表し、**は(メタ)アクリロイル基側の連結部位を表す。)等が挙げられる。mは0または1を表す。 In general formula 1, L represents a linking group having 1 to 10 carbon atoms, preferably 1 to 6 carbon atoms, particularly preferably 2 to 4 carbon atoms, and may be a linear structure or a branched structure. It may have a ring structure and may have a heteroatom selected from O, N, and S. Preferred examples of L include *-(CH 2 ) 2 —O — **, * — (CH 2 ) 2 —NH — **, * — (CH 2 ) 4 —O — **, * — (CH 2) 6 -O - **, * - (CH 2) 2 -O- (CH 2) 2 -O - **, * - CONH- (CH 2) 3 -O - **, * - CH 2 CH (OH) CH 2 —O — **, * —CH 2 CH 2 OCONH (CH 2 ) 3 —O — ** (* represents a connecting site on the polymer main chain side, and ** represents a (meth) acryloyl group side. And the like. m represents 0 or 1;

一般式1中、Xは、水素原子またはメチル基を表す。硬化反応性の観点から、好ましくは水素原子である。   In general formula 1, X represents a hydrogen atom or a methyl group. From the viewpoint of curing reactivity, a hydrogen atom is preferred.

一般式1中、Aは任意のビニルモノマーから導かれる繰返し単位を表わし、ヘキサフルオロプロピレンと共重合可能な単量体の構成成分であれば特に制限はなく、基材への密着性、ポリマーのTg(皮膜硬度に寄与する)、溶剤への溶解性、透明性、滑り性、防塵・防汚性等種々の観点から適宜選択することができ、目的に応じて単一あるいは複数のビニルモノマーから導かれる繰返し単位によって構成されていても良い。   In the general formula 1, A represents a repeating unit derived from an arbitrary vinyl monomer, and is not particularly limited as long as it is a constituent component of a monomer copolymerizable with hexafluoropropylene. Tg (contributes to film hardness), solubility in solvent, transparency, slipperiness, dust / antifouling properties, etc., can be selected as appropriate. From single or plural vinyl monomers depending on the purpose You may be comprised by the repeating unit guide | induced.

好ましいビニルモノマーの例としては、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテル、t−ブチルビニルエーテル、シクロへキシルビニルエーテル、イソプロピルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、グリシジルビニルエーテル、アリルビニルエーテル等のビニルエーテル類、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル等のビニルエステル類、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、グリシジルメタアクリレート、アリル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン等の(メタ)アクリレート類、スチレン、p−ヒドロキシメチルスチレン等のスチレン誘導体、クロトン酸、マレイン酸、イタコン酸等の不飽和カルボン酸およびその誘導体等を挙げることができるが、より好ましくはビニルエーテル誘導体、ビニルエステル誘導体であり、特に好ましくはビニルエーテル誘導体である。   Examples of preferred vinyl monomers include methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether, t-butyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, isopropyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, glycidyl vinyl ether, vinyl ethers such as allyl vinyl ether, vinyl acetate, propionic acid Vinyl esters such as vinyl and vinyl butyrate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, glycidyl methacrylate, allyl (meth) acrylate, (meth) acryloyloxypropyltrimethoxysilane, etc. (Meth) acrylates, styrene, styrene derivatives such as p-hydroxymethylstyrene, crotonic acid, male Acid, can be mentioned and unsaturated carboxylic acids and derivatives thereof such as itaconic acid, more preferably a vinyl ether derivative, vinyl ester derivatives, particularly preferably a vinyl ether derivative.

x、y、zはそれぞれの構成成分のモル%を表わし、30≦x≦60、5≦y≦70、0≦z≦65を満たす値を表す。好ましくは、35≦x≦55、30≦y≦60、0≦z≦20の場合であり、特に好ましくは40≦x≦55、40≦y≦55、0≦z≦10の場合である。   x, y, and z represent mol% of each constituent component, and represent values satisfying 30 ≦ x ≦ 60, 5 ≦ y ≦ 70, and 0 ≦ z ≦ 65. Preferably, 35 ≦ x ≦ 55, 30 ≦ y ≦ 60, and 0 ≦ z ≦ 20, and particularly preferably 40 ≦ x ≦ 55, 40 ≦ y ≦ 55, and 0 ≦ z ≦ 10.

本発明の反射防止フィルムの低屈折率層に用いられる共重合体の特に好ましい形態として下記一般式2が挙げられる。   The following general formula 2 is mentioned as a particularly preferred form of the copolymer used for the low refractive index layer of the antireflection film of the present invention.

Figure 0004914564
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一般式2において、X、x、yは一般式1と同じ意味を表し、好ましい範囲も同じである。nは2≦n≦10の整数を表し、2≦n≦6であることが好ましく、2≦n≦4であることが特に好ましい。Bは任意のビニルモノマーから導かれる繰返し単位を単位を表わし、単一組成であっても複数の組成によって構成されていても良い。例としては、前記一般式1におけるAの例として説明したものが当てはまる。z1およびz2はそれぞれの繰返し単位のmol%を表わし、0≦z1≦65、0≦z2≦65を満たす値を表す。それぞれ0≦z1≦30、0≦z2≦10であることが好ましく、0≦z1≦10、0≦z2≦5であることが特に好ましい。   In General Formula 2, X, x, and y have the same meaning as in General Formula 1, and the preferred ranges are also the same. n represents an integer of 2 ≦ n ≦ 10, preferably 2 ≦ n ≦ 6, and particularly preferably 2 ≦ n ≦ 4. B represents a unit of a repeating unit derived from an arbitrary vinyl monomer, and may be composed of a single composition or a plurality of compositions. As an example, what was demonstrated as an example of A in the said General formula 1 is applicable. z1 and z2 represent mol% of each repeating unit, and represent values satisfying 0 ≦ z1 ≦ 65 and 0 ≦ z2 ≦ 65. It is preferable that 0 ≦ z1 ≦ 30 and 0 ≦ z2 ≦ 10 respectively, and it is particularly preferable that 0 ≦ z1 ≦ 10 and 0 ≦ z2 ≦ 5.

一般式1又は2で表される共重合体は、例えば、ヘキサフルオロプロピレン成分とヒドロキシアルキルビニルエーテル成分とを含んでなる共重合体に、前記のいずれかの手法により(メタ)アクリロイル基を導入することにより合成できる。   In the copolymer represented by the general formula 1 or 2, for example, a (meth) acryloyl group is introduced into a copolymer comprising a hexafluoropropylene component and a hydroxyalkyl vinyl ether component by any one of the methods described above. Can be synthesized.

以下に本発明で有用な共重合体の好ましい例を示すが本発明はこれらに限定されるものではない。   Although the preferable example of the copolymer useful by this invention is shown below, this invention is not limited to these.

Figure 0004914564
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本発明に用いられる共重合体の合成は、種々の重合方法、例えば溶液重合、沈澱重合、懸濁重合、沈殿重合、塊状重合、乳化重合によって水酸基含有重合体等の前駆体を合成した後、前記高分子反応によって(メタ)アクリロイル基を導入することにより行なうことができる。重合反応は回分式、半連続式、連続式等の公知の操作で行なうことができる。   The copolymer used in the present invention is synthesized by synthesizing a precursor such as a hydroxyl group-containing polymer by various polymerization methods such as solution polymerization, precipitation polymerization, suspension polymerization, precipitation polymerization, bulk polymerization, and emulsion polymerization. It can be carried out by introducing a (meth) acryloyl group by the polymer reaction. The polymerization reaction can be performed by a known operation such as a batch system, a semi-continuous system, or a continuous system.

重合の開始方法はラジカル開始剤を用いる方法、光または放射線を照射する方法等がある。これらの重合方法、重合の開始方法は、例えば鶴田禎二「高分子合成方法」改定版(日刊工業新聞社刊、1971)や大津隆行、木下雅悦共著「高分子合成の実験法」化学同人、昭和47年刊、124〜154頁に記載されている。   The polymerization initiation method includes a method using a radical initiator, a method of irradiating light or radiation, and the like. These polymerization methods and polymerization initiation methods are, for example, the revised version of Tsuruta Junji “Polymer Synthesis Method” (published by Nikkan Kogyo Shimbun, 1971), Takatsu Otsu, Masato Kinoshita, “Experimental Methods for Polymer Synthesis” It is described in pp. 47-154 published in 1972.

上記重合方法のうち、特にラジカル開始剤を用いた溶液重合法が好ましい。溶液重合法で用いられる溶剤は、例えば酢酸エチル、酢酸ブチル、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ベンゼン、トルエン、アセトニトリル、塩化メチレン、クロロホルム、ジクロロエタン、メタノール、エタノール、1−プロパノール、2−プロパノール、1−ブタノールのような種々の有機溶剤の単独あるいは2種以上の混合物でも良いし、水との混合溶媒としても良い。   Among the above polymerization methods, a solution polymerization method using a radical initiator is particularly preferable. Solvents used in the solution polymerization method include, for example, ethyl acetate, butyl acetate, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dioxane, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, benzene, toluene, acetonitrile, A single organic solvent such as methylene chloride, chloroform, dichloroethane, methanol, ethanol, 1-propanol, 2-propanol, and 1-butanol, or a mixture of two or more thereof may be used, or a mixed solvent with water may be used.

重合温度は生成するポリマーの分子量、開始剤の種類などと関連して設定する必要があり0℃以下から100℃以上まで可能であるが、50〜100℃の範囲で重合を行なうことが好ましい。   The polymerization temperature needs to be set in relation to the molecular weight of the polymer to be produced, the type of initiator, etc., and can be from 0 ° C. or lower to 100 ° C. or higher, but it is preferable to carry out the polymerization in the range of 50 to 100 ° C.

反応圧力は、適宜選定可能であるが、通常は、1〜100kg/cm2、特に、1〜30kg/cm2程度が望ましい。反応時間は、5〜30時間程度である。 Although the reaction pressure can be selected as appropriate, it is usually preferably 1 to 100 kg / cm 2 , particularly about 1 to 30 kg / cm 2 . The reaction time is about 5 to 30 hours.

得られたポリマーの再沈殿溶媒としては、イソプロパノール、ヘキサン、メタノール等が好ましい。   As the reprecipitation solvent for the obtained polymer, isopropanol, hexane, methanol and the like are preferable.

次に低屈折率層表面へのシリコーンまたはフルオロアルキル基の偏析の測定方法について説明する。各々の反射防止フィルムついて島津製作所(株)製ESCA−3400で測定(真空度1×10-5Pa、X線源;ターゲットMg、電圧12kV、電流20mA)された最表面のSi2p、F1s、C1sの光電子スペクトルの強度比Si2p/C1s(=Si(a))、F1s/C1s(=F(a))とESCA−3400に付属のイオンエッチング装置(イオンガン、電圧2kV、電流20mA)で低屈折率層をその層厚が1/5(±5%)になるまで削った表面から80%下層において測定した光電子スペクトルの強度比Si2p/C1s(=Si(b))、F1s/C1s(=F(b))から、エッチング前後でのそれぞれの強度比の変化、Si(a)/Si(b)、F(a)/F(b)、を求め、それぞれのSi2p/C1s比、F1s/C1s比のエッチング前後における変化(低屈折率層最上部における光電子スペクトルの強度比/低屈折率層の表面から深さ80%下層付近における光電子スペクトルの強度比)により、表面偏析度を決定できる。なおF1s、C1sはそれぞれの光電子スペクトルのピーク位置で強度を求め、Si2pはシリコーン(ポリジメチルシロキサン)のSi原子由来のピーク位置(結合エネルギーが105eV付近)における強度を上記の強度比算出に用い、無機シリカ粒子由来のSi原子と区別した。あらかじめ種々のエッチング条件で低屈折率層表面を徐々に削り進む予備実験を実施しておき、下層のハードコート層または高屈折率層に達するまでに要するエッチング条件を元に表面から深さ80%となる条件を求めてから測定する。表面の特性のみをコントロールする場合に本明細書に記載の表面偏析化合物を適宜使用することによって、必要な成分のみを選択的に表面に配置可能であり、膜の内部の特性と表面の特性を独立にコントロールすることが可能となる。 Next, a method for measuring the segregation of silicone or fluoroalkyl groups on the surface of the low refractive index layer will be described. Each antireflection film was measured with ESCA-3400 (vacuum degree 1 × 10 −5 Pa, X-ray source; target Mg, voltage 12 kV, current 20 mA) for each anti-reflection film, Si2p, F1s, C1s The photoelectron spectrum intensity ratio Si2p / C1s (= Si (a)), F1s / C1s (= F (a)) and the ion etching apparatus attached to ESCA-3400 (ion gun, voltage 2 kV, current 20 mA) has a low refractive index. The intensity ratio Si2p / C1s (= Si (b)), F1s / C1s (= F () of the photoelectron spectrum measured from the surface where the layer was shaved until the layer thickness became 1/5 (± 5%). b)), the change of the respective strength ratios before and after etching, Si (a) / Si (b), F (a) / F (b), are obtained, and the respective Si2p / C1s ratios are obtained. The degree of surface segregation is determined by the change in the 1s / C1s ratio before and after etching (the intensity ratio of the photoelectron spectrum at the top of the low refractive index layer / the intensity ratio of the photoelectron spectrum near the lower layer 80% deep from the surface of the low refractive index layer). it can. F1s and C1s determine the intensity at the peak position of each photoelectron spectrum, and Si2p uses the intensity at the peak position derived from the Si atom of silicone (polydimethylsiloxane) (bonding energy is around 105 eV) for the above intensity ratio calculation. It was distinguished from Si atoms derived from inorganic silica particles. Preliminary experiments are carried out in which the surface of the low refractive index layer is gradually scraped under various etching conditions in advance, and the depth from the surface is 80% based on the etching conditions required to reach the lower hard coat layer or high refractive index layer. Measure after obtaining the following conditions. When controlling only the surface properties, the surface segregation compounds described in this specification can be used appropriately to selectively place only the necessary components on the surface. It can be controlled independently.

本発明に用いられるオルガノシラン化合物の加水分解物/またはその部分縮合物、いわゆるゾル成分(以降このようにも称する)について以下に詳しく説明する。
オルガノシラン化合物は、下記一般式(A)で表される。
一般式(A):(R10mSi(X)4-m
一般式(A)において、R10は、置換もしくは無置換のアルキル基、置換もしくは無置換のアリール基を表す。アルキル基としてはメチル、エチル、プロピル、イソプロピル、ヘキシル、t−ブチル、sec−ブチル、ヘキシル、デシル、ヘキサデシル等が挙げられる。アルキル基としては、好ましくは炭素数1〜30、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは1〜6のものである。アリール基としては、フェニル、ナフチル等が挙げられ、好ましくはフェニル基である。
The hydrolyzate / or partial condensate thereof of the organosilane compound used in the present invention, so-called sol component (hereinafter also referred to as such) will be described in detail below.
The organosilane compound is represented by the following general formula (A).
General formula (A): (R 10 ) m Si (X) 4-m
In the general formula (A), R 10 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. Examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, isopropyl, hexyl, t-butyl, sec-butyl, hexyl, decyl, hexadecyl and the like. The alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 30 carbon atoms, more preferably 1 to 16 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 6 carbon atoms. Examples of the aryl group include phenyl and naphthyl, and a phenyl group is preferable.

Xは、水酸基または加水分解可能な基を表す。加水分解可能な基として、例えばアルコキシ基(炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましい。例えばメトキシ基、エトキシ基等が挙げられる)、ハロゲン原子(例えばCl、Br、I等)、又はR2COO(R2は水素原子または炭素数1〜5のアルキル基が好ましい。例えばCH3COO、C25COO等が挙げられる)が挙げられ、好ましくはアルコキシ基であり、特に好ましくはメトキシ基またはエトキシ基である。mは1〜3の整数を表す。R10もしくはXが複数存在するとき、複数のR10もしくはXはそれぞれ同じであっても異なっていても良い。mとして好ましくは1および2であり、特に好ましくは1である。 X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. As the hydrolyzable group, for example, an alkoxy group (preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. For example, a methoxy group, an ethoxy group, etc.), a halogen atom (for example, Cl, Br, I, etc.), or R 2 COO (R 2 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, such as CH 3 COO, C 2 H 5 COO, etc.), preferably an alkoxy group, particularly preferably a methoxy group or An ethoxy group. m represents an integer of 1 to 3. When R 10 or X there are a plurality, a plurality of R 10 or X groups may be different, even the same, respectively. m is preferably 1 or 2, particularly preferably 1.

10に含まれる置換基としては特に制限はないが、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子、臭素原子等)、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基(メチル、エチル、i−プロピル、プロピル、t−ブチル等)、アリール基(フェニル、ナフチル等)、芳香族ヘテロ環基(フリル、ピラゾリル、ピリジル等)、アルコキシ基(メトキシ、エトキシ、i−プロポキシ、ヘキシルオキシ等)、アリールオキシ(フェノキシ等)、アルキルチオ基(メチルチオ、エチルチオ等)、アリールチオ基(フェニルチオ等)、アルケニル基(ビニル、1−プロペニル等)、アシルオキシ基(アセトキシ、アクリロイルオキシ、メタクリロイルオキシ等)、アルコキシカルボニル基(メトキシカルボニル、エトキシカルボニル等)、アリールオキシカルボニル基(フェノキシカルボニル等)、カルバモイル基(カルバモイル、N−メチルカルバモイル、N,N−ジメチルカルバモイル、N−メチル−N−オクチルカルバモイル等)、アシルアミノ基(アセチルアミノ、ベンゾイルアミノ、アクリルアミノ、メタクリルアミノ等)等が挙げられ、これら置換基は更に置換されていても良い。R10が複数ある場合は、少なくとも一つが、置換アルキル基もしくは置換アリール基であることが好ましく、中でも、一般式(B)で表されるビニル重合性の置換基を有するオルガノシラン化合物が好ましい。 There are no particular limitations on the substituents contained in R 10, a halogen atom (fluorine atom, chlorine atom, bromine atom, etc.), a hydroxyl group, a mercapto group, a carboxyl group, an epoxy group, an alkyl group (methyl, ethyl, i- propyl , Propyl, t-butyl, etc.), aryl groups (phenyl, naphthyl, etc.), aromatic heterocyclic groups (furyl, pyrazolyl, pyridyl, etc.), alkoxy groups (methoxy, ethoxy, i-propoxy, hexyloxy, etc.), aryloxy (Phenoxy, etc.), alkylthio groups (methylthio, ethylthio, etc.), arylthio groups (phenylthio, etc.), alkenyl groups (vinyl, 1-propenyl, etc.), acyloxy groups (acetoxy, acryloyloxy, methacryloyloxy, etc.), alkoxycarbonyl groups (methoxy) Carbonyl, ethoxycarbonyl, etc.), A reeloxycarbonyl group (such as phenoxycarbonyl), a carbamoyl group (such as carbamoyl, N-methylcarbamoyl, N, N-dimethylcarbamoyl, N-methyl-N-octylcarbamoyl), an acylamino group (acetylamino, benzoylamino, acrylicamino, Methacrylamino and the like, and these substituents may be further substituted. When there are a plurality of R 10 , at least one is preferably a substituted alkyl group or a substituted aryl group, and among them, an organosilane compound having a vinyl polymerizable substituent represented by the general formula (B) is preferable.

一般式(B)

Figure 0004914564
General formula (B)
Figure 0004914564

一般式(B)においてR1は、水素原子もしくはメチル基、メトキシ基、アルコキシカルボニル基、シアノ基、フッ素原子又は塩素原子を表す。アルコキシカルボニル基としては、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基などが挙げられる。水素原子、メチル基、メトキシ基、メトキシカルボニル基、シアノ基、フッ素原子又は塩素原子が好ましく、水素原子、メチル基、メトキシカルボニル基、フッ素原子又は塩素原子が更に好ましく、水素原子又はメチル基が特に好ましい。Yは単結合もしくはエステル基、アミド基、エーテル基又はウレア基を表す。単結合もしくはエステル基又はアミド基が好ましく、単結合もしくはエステル基が更に好ましく、エステル基が特に好ましい。 In the general formula (B), R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, a methoxy group, an alkoxycarbonyl group, a cyano group, a fluorine atom or a chlorine atom. Examples of the alkoxycarbonyl group include a methoxycarbonyl group and an ethoxycarbonyl group. A hydrogen atom, methyl group, methoxy group, methoxycarbonyl group, cyano group, fluorine atom or chlorine atom is preferred, a hydrogen atom, methyl group, methoxycarbonyl group, fluorine atom or chlorine atom is more preferred, and a hydrogen atom or methyl group is particularly preferred preferable. Y represents a single bond or an ester group, an amide group, an ether group or a urea group. A single bond or an ester group or an amide group is preferred, a single bond or an ester group is more preferred, and an ester group is particularly preferred.

Lは2価の連結鎖を表す。具体的には、置換もしくは無置換のアルキレン基、置換もしくは無置換のアリーレン基、内部に連結基(例えば、エーテル、エステル、アミド)を有する置換もしくは無置換のアルキレン基、内部に連結基を有する置換もしくは無置換のアリーレン基が挙げられ、置換もしくは無置換の炭素数2〜10のアルキレン基、置換もしくは無置換の炭素数6〜20のアリーレン基、内部に連結基を有する炭素数3〜10のアルキレン基が好ましく、無置換のアルキレン基、無置換のアリーレン基、内部にエーテルあるいはエステル連結基を有するアルキレン基が更に好ましく、無置換のアルキレン基、内部にエーテルあるいはエステル連結基を有するアルキレン基が特に好ましい。置換基は、ハロゲン、水酸基、メルカプト基、カルボキシル基、エポキシ基、アルキル基、アリール基等が挙げられ、これら置換基は更に置換されていても良い。   L represents a divalent linking chain. Specifically, it has a substituted or unsubstituted alkylene group, a substituted or unsubstituted arylene group, a substituted or unsubstituted alkylene group having a linking group (for example, ether, ester, amide) inside, and a linking group inside. Examples thereof include substituted or unsubstituted arylene groups, substituted or unsubstituted alkylene groups having 2 to 10 carbon atoms, substituted or unsubstituted arylene groups having 6 to 20 carbon atoms, and 3 to 10 carbon atoms having a linking group therein. An alkylene group, an unsubstituted alkylene group, an unsubstituted arylene group, an alkylene group having an ether or ester linking group therein is more preferred, an unsubstituted alkylene group, and an alkylene group having an ether or ester linking group inside Is particularly preferred. Examples of the substituent include a halogen, a hydroxyl group, a mercapto group, a carboxyl group, an epoxy group, an alkyl group, and an aryl group, and these substituents may be further substituted.

nは0または1を表す。複数存在するXは、それぞれ同じであっても異なっていても良い。nとして好ましくは0である。R10は一般式(A)と同義であり、置換もしくは無置換のアルキル基、無置換のアリール基が好ましく、無置換のアルキル基、無置換のアリール基が更に好ましい。Xは一般式(A)と同義であり、ハロゲン、水酸基、無置換のアルコキシ基が好ましく、塩素、水酸基、無置換の炭素数1〜6のアルコキシ基が更に好ましく、水酸基、炭素数1〜3のアルコキシ基が更に好ましく、メトキシ基が特に好ましい。 n represents 0 or 1. A plurality of Xs may be the same or different. n is preferably 0. R 10 has the same meaning as in formula (A), preferably a substituted or unsubstituted alkyl group or an unsubstituted aryl group, and more preferably an unsubstituted alkyl group or an unsubstituted aryl group. X has the same meaning as in formula (A), preferably a halogen, a hydroxyl group or an unsubstituted alkoxy group, more preferably a chlorine, hydroxyl group or an unsubstituted alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, a hydroxyl group or 1 to 3 carbon atoms. Are more preferable, and a methoxy group is particularly preferable.

一般式(A)、一般式(B)の化合物は2種類以上を併用しても良い。以下に一般式(A)、一般式(B)で表される化合物の具体例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Two or more compounds of the general formula (A) and general formula (B) may be used in combination. Specific examples of the compounds represented by formulas (A) and (B) are shown below, but the present invention is not limited to these.

Figure 0004914564
Figure 0004914564

Figure 0004914564
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これらの具体例の中で、(M−1)、(M−2)、(M−5)等が特に好ましい。   Among these specific examples, (M-1), (M-2), (M-5) and the like are particularly preferable.

(酢触媒、金属キレート化合物)
オルガノシランの加水分解物および/または縮合反応物(ゾル成分)の調製は、触媒の存在下で行われることが好ましい。触媒としては、塩酸、硫酸、硝酸等の無機酸類;シュウ酸、酢酸、ギ酸、メタンスルホン酸、トルエンスルホン酸等の有機酸類;水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア等の無機塩基類;トリエチルアミン、ピリジン等の有機塩基類;トリイソプロポキシアルミニウム、テトラブトキシジルコニウム等の金属アルコキシド類等が挙げられるが、無機酸化物微粒子液の製造安定性や保存安定性の点から、本発明においては、酸触媒(無機酸類、有機酸類)及び/又は金属キレート化合物が用いられる。無機酸では塩酸、硫酸、有機酸では、水中での酸解離定数(pKa値(25℃))が4.5以下のものが好ましく、塩酸、硫酸、水中での酸解離定数が3.0以下の有機酸がより好ましく、塩酸、硫酸、水中での酸解離定数が2.5以下の有機酸が更に好ましく、水中での酸解離定数が2.5以下の有機酸が更に好ましく、メタンスルホン酸、シュウ酸、フタル酸、マロン酸が更に好ましく、シュウ酸が特に好ましい。
(Vinegar catalyst, metal chelate compound)
The organosilane hydrolyzate and / or condensation reaction product (sol component) is preferably prepared in the presence of a catalyst. Catalysts include inorganic acids such as hydrochloric acid, sulfuric acid and nitric acid; organic acids such as oxalic acid, acetic acid, formic acid, methanesulfonic acid and toluenesulfonic acid; inorganic bases such as sodium hydroxide, potassium hydroxide and ammonia; triethylamine, Examples include organic bases such as pyridine; metal alkoxides such as triisopropoxyaluminum and tetrabutoxyzirconium. From the viewpoint of production stability and storage stability of the inorganic oxide fine particle liquid, an acid catalyst is used in the present invention. (Inorganic acids, organic acids) and / or metal chelate compounds are used. Among inorganic acids, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids preferably have an acid dissociation constant in water (pKa value (25 ° C.)) of 4.5 or less, and an acid dissociation constant in hydrochloric acid, sulfuric acid, or water of 3.0 or less. More preferred is an organic acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, an organic acid having an acid dissociation constant of 2.5 or less in water is more preferred, an organic acid having an acid dissociation constant in water of 2.5 or less is more preferred, and methanesulfonic acid Further, oxalic acid, phthalic acid, and malonic acid are more preferable, and oxalic acid is particularly preferable.

オルガノシランの加水分解性基がアルコキシ基で酸触媒が有機酸の場合には、有機酸のカルボキシル基やスルホ基がプロトンを供給するために、水の添加量を減らすことができ、オルガノシランのアルコキシド基1モルに対する水の添加量は、0〜2モル、好ましくは0〜1.5モル、より好ましくは、0〜1モル、特に好ましくは、0〜0.5モルである。アルコールを溶媒に用いた場合には、実質的に水を添加しない場合も好適である。   When the hydrolyzable group of the organosilane is an alkoxy group and the acid catalyst is an organic acid, the amount of water added can be reduced because the carboxyl group or sulfo group of the organic acid supplies protons. The amount of water added relative to 1 mol of the alkoxide group is 0 to 2 mol, preferably 0 to 1.5 mol, more preferably 0 to 1 mol, and particularly preferably 0 to 0.5 mol. When alcohol is used as the solvent, it is also preferred that substantially no water is added.

酸触媒の使用量は、酸触媒が無機酸の場合には加水分解性基に対して0.01〜10モル%、好ましくは0.1〜5モル%であり、酸触媒が有機酸の場合には、水の添加量によって最適な使用量が異なるが、水を添加する場合には加水分解性基に対して0.01〜10モル%、好ましくは0.1〜5モル%であり、実質的に水を添加しない場合には、加水分解性基に対して1〜500モル%、好ましくは10〜200モル%であり、より好ましくは20〜200モル%であり、更に好ましくは50〜150モル%であり、特に好ましくは50〜120モル%である。
処理は15〜100℃で撹拌することにより行われるがオルガノシランの反応性により調節されることが好ましい。
The amount of the acid catalyst used is 0.01 to 10 mol%, preferably 0.1 to 5 mol%, based on the hydrolyzable group when the acid catalyst is an inorganic acid, and the acid catalyst is an organic acid. However, when water is added, the optimal amount of use is 0.01 to 10 mol%, preferably 0.1 to 5 mol%, based on the hydrolyzable group. When substantially no water is added, it is 1 to 500 mol%, preferably 10 to 200 mol%, more preferably 20 to 200 mol%, still more preferably 50 to 50 mol% with respect to the hydrolyzable group. 150 mol%, particularly preferably 50 to 120 mol%.
The treatment is carried out by stirring at 15 to 100 ° C., but is preferably controlled by the reactivity of organosilane.

金属キレート化合物は、Zr、TiまたはAlから選ばれる金属を中心金属とするものであれば特に制限なく好適に用いることができる。この範疇であれば、2種以上の金属キレート化合物を併用しても良い。本発明に用いられる金属キレート化合物の具体例としては、トリ-n-ブトキシエチルアセトアセテートジルコニウム、ジ-n-ブトキシビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、n-ブトキシトリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(n-プロピルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(アセチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウムなどのジルコニウムキレート化合物;ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセテート)チタニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトン)チタニウムなどのチタニウムキレート化合物;ジイソプロポキシエチルアセトアセテートアルミニウム、ジイソプロポキシアセチルアセトナートアルミニウム、イソプロポキシビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、イソプロポキシビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノアセチルアセトナート・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウムなどのアルミニウムキレート化合物などが挙げられる。
これらの金属キレート化合物のうち好ましいものは、トリ-n-ブトキシエチルアセトアセテートジルコニウム、ジイソプロポキシビス(アセチルアセトナート)チタニウム、ジイソプロポキシエチルアセトアセテートアルミニウム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウムである。これらの金属キレート化合物は、1種単独であるいは2種以上混合して使用することができる。また、これらの金属キレート化合物の部分加水分解物を使用することもできる。
The metal chelate compound can be suitably used without particular limitation as long as it has a metal selected from Zr, Ti or Al as a central metal. Within this category, two or more metal chelate compounds may be used in combination. Specific examples of the metal chelate compound used in the present invention include tri-n-butoxyethylacetoacetate zirconium, di-n-butoxybis (ethylacetoacetate) zirconium, n-butoxytris (ethylacetoacetate) zirconium, tetrakis (n Zirconium chelate compounds such as -propyl acetoacetate) zirconium, tetrakis (acetylacetoacetate) zirconium, tetrakis (ethylacetoacetate) zirconium; diisopropoxy bis (ethylacetoacetate) titanium, diisopropoxy bis (acetylacetate) titanium , Titanium chelate compounds such as diisopropoxy bis (acetylacetone) titanium; diisopropoxyethyl acetoacetate aluminum, diiso Ropoxyacetylacetonate aluminum, isopropoxybis (ethylacetoacetate) aluminum, isopropoxybis (acetylacetonate) aluminum, tris (ethylacetoacetate) aluminum, tris (acetylacetonato) aluminum, monoacetylacetonate bis ( Examples include aluminum chelate compounds such as ethyl acetoacetate) aluminum.
Among these metal chelate compounds, tri-n-butoxyethyl acetoacetate zirconium, diisopropoxybis (acetylacetonato) titanium, diisopropoxyethyl acetoacetate aluminum, and tris (ethyl acetoacetate) aluminum are preferable. These metal chelate compounds can be used individually by 1 type or in mixture of 2 or more types. Moreover, the partial hydrolyzate of these metal chelate compounds can also be used.

本発明の金属キレート化合物は、縮合反応の速度および塗膜にした場合の膜強度の観点から、オルガノシランに対し、好ましくは、0.01〜50質量%、より好ましくは、0.1〜50質量%、さらに好ましくは、0.5〜10質量%の割合で用いられる。   The metal chelate compound of the present invention is preferably 0.01 to 50% by mass, more preferably 0.1 to 50%, based on the organosilane, from the viewpoint of the speed of the condensation reaction and the film strength when formed into a coating film. It is used in a proportion of 0.5% by mass, more preferably 0.5 to 10% by mass.

[高(中)屈折率層]
次に、高(中)屈折率層について説明する。
本発明に高屈折率層が用いられる場合、屈折率は、1.65乃至2.40であることが好ましく、1.70乃至2.20であることがさらに好ましい。中屈折率層が用いられる場合、屈折率は、低屈折率層の屈折率と高屈折率層の屈折率との間の値となるように調整する。中屈折率層の屈折率は、1.55乃至1.80であることが好ましい。高屈折率層および中屈折率層のヘイズは、3%以下であることが好ましい。
[High (medium) refractive index layer]
Next, the high (medium) refractive index layer will be described.
When a high refractive index layer is used in the present invention, the refractive index is preferably 1.65 to 2.40, and more preferably 1.70 to 2.20. When the middle refractive index layer is used, the refractive index is adjusted to be a value between the refractive index of the low refractive index layer and the refractive index of the high refractive index layer. The refractive index of the middle refractive index layer is preferably 1.55 to 1.80. The haze of the high refractive index layer and the medium refractive index layer is preferably 3% or less.

本発明の高屈折率層および中屈折率層には、屈折率の高い無機微粒子を前述のハードコート層で例示したモノマーと開始剤、有機置換されたケイ素化合物中に分散した組成物の硬化物が好ましく用いられる。無機微粒子としては、金属(例、アルミニウム、チタニウム、ジルコニウム、アンチモン)の酸化物が好ましく、屈折率の観点から、ニ酸化チタンの微粒子が最も好ましい。モノマーと開始剤を用いる場合は、塗布後に活性エネルギー線または熱による重合反応によりモノマーを硬化させることで、耐傷性や密着性に優れる中屈折率層や高屈折率層が形成できる。無機微粒子の平均粒径は、10〜100nmであることが好ましい。   In the high refractive index layer and the medium refractive index layer of the present invention, a cured product of a composition in which inorganic fine particles having a high refractive index are dispersed in the monomer and initiator exemplified in the hard coat layer and an organically substituted silicon compound. Is preferably used. As the inorganic fine particles, metal (eg, aluminum, titanium, zirconium, antimony) oxides are preferable, and from the viewpoint of refractive index, titanium dioxide fine particles are most preferable. In the case of using a monomer and an initiator, a medium refractive index layer or a high refractive index layer having excellent scratch resistance and adhesion can be formed by curing the monomer by a polymerization reaction using active energy rays or heat after coating. The average particle size of the inorganic fine particles is preferably 10 to 100 nm.

上記二酸化チタンの微粒子としては、コバルト、アルミニウム、ジルコニウムから選ばれる少なくとも1つの元素を含有する二酸化チタンを主成分とする無機微粒子が特に好ましい。主成分とは、粒子を構成する成分の中で最も含有量(質量%)が多い成分を意味する。本発明における二酸化チタンを主成分とする無機微粒子は、屈折率が1.90〜2.80であることが好ましく、2.10〜2.80であることがさらに好ましく、2.20〜2.80であることが最も好ましい。二酸化チタンを主成分とする無機微粒子の一次粒子の質量平均径は1〜200nmであることが好ましく、より好ましくは1〜150nm、さらに好ましくは1〜100nm、特に好ましくは1〜80nmである。   As the titanium dioxide fine particles, inorganic fine particles mainly containing titanium dioxide containing at least one element selected from cobalt, aluminum, and zirconium are particularly preferable. The main component means a component having the largest content (mass%) among the components constituting the particles. The inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide in the present invention preferably have a refractive index of 1.90 to 2.80, more preferably 2.10 to 2.80, and 2.20 to 2.80. 80 is most preferred. The mass average diameter of primary particles of inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide is preferably 1 to 200 nm, more preferably 1 to 150 nm, still more preferably 1 to 100 nm, and particularly preferably 1 to 80 nm.

無機微粒子の粒子径は、光散乱法や電子顕微鏡写真により測定できる。無機微粒子の比表面積は、10〜400m2/gであることが好ましく、20〜200m2/gであることがさらに好ましく、30〜150m2/gであることが最も好ましい。二酸化チタンを主成分とする無機微粒子の結晶構造は、ルチル、ルチル/アナターゼの混晶、アナターゼ、アモルファス構造が主成分であることが好ましく、特にルチル構造が主成分であることが好ましい。主成分とは、粒子を構成する成分の中で最も含有量(質量%)が多い成分を意味する。 The particle diameter of the inorganic fine particles can be measured by a light scattering method or an electron micrograph. The specific surface area of the inorganic fine particles is preferably 10 to 400 m 2 / g, more preferably from 20 to 200 m 2 / g, and most preferably from 30 to 150 m 2 / g. The crystal structure of the inorganic fine particles containing titanium dioxide as a main component is preferably a rutile, rutile / anatase mixed crystal, anatase or amorphous structure, particularly preferably a rutile structure. The main component means a component having the largest content (mass%) among the components constituting the particles.

二酸化チタンを主成分とする無機微粒子に、Co(コバルト)、Al(アルミニウム)及びZr(ジルコニウム)から選ばれる少なくとも1つの元素を含有することで、二酸化チタンが有する光触媒活性を抑えることができ、本発明の高屈折率層および中屈折率層の耐候性を改良することができる。特に、好ましい元素はCo(コバルト)である。また、2種類以上を併用することも好ましい。   By containing at least one element selected from Co (cobalt), Al (aluminum) and Zr (zirconium) in the inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide, the photocatalytic activity of titanium dioxide can be suppressed, The weather resistance of the high refractive index layer and the medium refractive index layer of the present invention can be improved. A particularly preferable element is Co (cobalt). It is also preferable to use two or more types in combination.

<分散剤>
本発明の高屈折率層および中屈折率層に用いる二酸化チタンを主成分とする無機微粒子の分散には、分散剤を用いることができる。本発明の二酸化チタンを主成分とする無機微粒子の分散には、アニオン性基を有する分散剤を用いることが特に好ましい。アニオン性基としては、カルボキシル基、スルホン酸基(及びスルホ基)、リン酸基(及びホスホノ基)、スルホンアミド基等の酸性プロトンを有する基、またはその塩が有効であり、特にカルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基及びその塩が好ましく、カルボキシル基及びリン酸基が特に好ましい。1分子当たりの分散剤に含有されるアニオン性基の数は、1個以上含有されていればよい。無機微粒子の分散性をさらに改良する目的でアニオン性基は複数個が含有されていてもよい。平均で2個以上であることが好ましく、より好ましくは5個以上、特に好ましくは10個以上である。また、分散剤に含有されるアニオン性基は、1分子中に複数種類が含有されていてもよい。
<Dispersant>
A dispersant can be used for dispersing inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide used in the high refractive index layer and the medium refractive index layer of the present invention. In order to disperse the inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide of the present invention, it is particularly preferable to use a dispersant having an anionic group. As the anionic group, a group having an acidic proton such as a carboxyl group, a sulfonic acid group (and a sulfo group), a phosphoric acid group (and a phosphono group), or a sulfonamide group, or a salt thereof is effective. A sulfonic acid group, a phosphoric acid group and a salt thereof are preferable, and a carboxyl group and a phosphoric acid group are particularly preferable. The number of anionic groups contained in the dispersant per molecule may be one or more. A plurality of anionic groups may be contained for the purpose of further improving the dispersibility of the inorganic fine particles. The average number is preferably 2 or more, more preferably 5 or more, and particularly preferably 10 or more. Moreover, the anionic group contained in a dispersing agent may contain multiple types in 1 molecule.

分散剤は、さらに架橋又は重合性官能基を含有することが好ましい。架橋又は重合性官能基としては、ラジカル種による付加反応・重合反応が可能なエチレン性不飽和基(例えば(メタ)アクリロイル基、アリル基、スチリル基、ビニルオキシ基等)、カチオン重合性基(エポキシ基、オキサタニル基、ビニルオキシ基等)、重縮合反応性基(加水分解性シリル基等、N−メチロール基)等が挙げられ、好ましくはエチレン性不飽和基を有する官能基である。本発明の高屈折率層に用いる二酸化チタンを主成分とする無機微粒子の分散に用いる好ましい分散剤は、アニオン性基と、架橋又は重合性官能基とを有し、かつ該架橋又は重合性官能基を側鎖に有する分散剤である。アニオン性基と、架橋又は重合性官能基とを有し、かつ該架橋又は重合性官能基を側鎖に有する分散剤の質量平均分子量(Mw)は、特に限定されないが1000以上であることが好ましい。分散剤のより好ましい質量平均分子量(Mw)は2000〜1000000であり、さらに好ましくは5000〜200000、特に好ましくは10000〜100000である。   The dispersant preferably further contains a crosslinkable or polymerizable functional group. Crosslinkable or polymerizable functional groups include ethylenically unsaturated groups (for example, (meth) acryloyl groups, allyl groups, styryl groups, vinyloxy groups, etc.) that can undergo addition reactions and polymerization reactions with radical species, and cationic polymerizable groups (epoxies). Groups, oxatanyl groups, vinyloxy groups, etc.), polycondensation reactive groups (hydrolyzable silyl groups, etc., N-methylol groups) and the like, and functional groups having an ethylenically unsaturated group are preferred. A preferred dispersant used for dispersing inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide used in the high refractive index layer of the present invention has an anionic group and a crosslinkable or polymerizable functional group, and the crosslinkable or polymerizable functional group. It is a dispersant having a group in the side chain. The weight average molecular weight (Mw) of the dispersant having an anionic group and a crosslinkable or polymerizable functional group and having the crosslinkable or polymerizable functional group in the side chain is not particularly limited, but may be 1000 or more. preferable. The more preferable mass average molecular weight (Mw) of the dispersant is 2000 to 1000000, more preferably 5000 to 200000, and particularly preferably 10000 to 100000.

分散剤の無機微粒子に対する使用量は、1〜50質量%の範囲であることが好ましく、5〜30質量%の範囲であることがより好ましく、5〜20質量%であることが最も好ましい。また、分散剤は2種類以上を併用してもよい。   The amount of the dispersant used relative to the inorganic fine particles is preferably in the range of 1 to 50% by mass, more preferably in the range of 5 to 30% by mass, and most preferably 5 to 20% by mass. Two or more dispersants may be used in combination.

<高(中)屈折率層の形成法>
高屈折率層および中屈折率層に用いる二酸化チタンを主成分とする無機微粒子は、分散物の状態で高屈折率層および中屈折率層の形成に使用する。無機微粒子の分散において、前記の分散剤の存在下で、分散媒体中に分散する。分散媒体は、沸点が60〜170℃の液体を用いることが好ましい。分散媒体の例には、水、アルコール(例、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール、ベンジルアルコール)、ケトン(例、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン)、エステル(例、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、蟻酸メチル、蟻酸エチル、蟻酸プロピル、蟻酸ブチル)、脂肪族炭化水素(例、ヘキサン、シクロヘキサン)、ハロゲン化炭化水素(例、メチレンクロライド、クロロホルム、四塩化炭素)、芳香族炭化水素(例、ベンゼン、トルエン、キシレン)、アミド(例、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、n−メチルピロリドン)、エーテル(例、ジエチルエーテル、ジオキサン、テトラハイドロフラン)、エーテルアルコール(例、1−メトキシ−2−プロパノール)が含まれる。トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンおよびブタノールが好ましい。特に好ましい分散媒体は、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンである。
<Method for forming high (medium) refractive index layer>
The inorganic fine particles mainly composed of titanium dioxide used for the high refractive index layer and the medium refractive index layer are used for forming the high refractive index layer and the medium refractive index layer in the state of dispersion. In the dispersion of the inorganic fine particles, it is dispersed in a dispersion medium in the presence of the dispersant. As the dispersion medium, a liquid having a boiling point of 60 to 170 ° C. is preferably used. Examples of dispersion media include water, alcohol (eg, methanol, ethanol, isopropanol, butanol, benzyl alcohol), ketone (eg, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone), ester (eg, methyl acetate, ethyl acetate, Propyl acetate, butyl acetate, methyl formate, ethyl formate, propyl formate, butyl formate), aliphatic hydrocarbons (eg, hexane, cyclohexane), halogenated hydrocarbons (eg, methylene chloride, chloroform, carbon tetrachloride), aromatic Hydrocarbon (eg, benzene, toluene, xylene), amide (eg, dimethylformamide, dimethylacetamide, n-methylpyrrolidone), ether (eg, diethyl ether, dioxane, tetrahydrofuran), ether alcohol (eg, 1-methyl) Carboxymethyl-2-propanol) are included. Toluene, xylene, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone and butanol are preferred. Particularly preferred dispersion media are methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, and cyclohexanone.

無機微粒子は、分散機を用いて分散する。分散機の例には、サンドグラインダーミル(例、ピン付きビーズミル)、高速インペラーミル、ペッブルミル、ローラーミル、アトライターおよびコロイドミルが含まれる。サンドグラインダーミルおよび高速インペラーミルが特に好ましい。また、予備分散処理を実施してもよい。予備分散処理に用いる分散機の例には、ボールミル、三本ロールミル、ニーダーおよびエクストルーダーが含まれる。無機微粒子は、分散媒体中でなるべく微細化されていることが好ましく、質量平均径は1〜200nmである。好ましくは5〜150nmであり、さらに好ましくは10〜100nm、特に好ましくは10〜80nmである。無機微粒子を200nm以下に微細化することで透明性を損なわない高屈折率層および中屈折率層を形成できる。   The inorganic fine particles are dispersed using a disperser. Examples of dispersers include sand grinder mills (eg, pinned bead mills), high speed impeller mills, pebble mills, roller mills, attritors and colloid mills. A sand grinder mill and a high-speed impeller mill are particularly preferred. Further, preliminary dispersion processing may be performed. Examples of the disperser used for the preliminary dispersion treatment include a ball mill, a three-roll mill, a kneader, and an extruder. The inorganic fine particles are preferably made as fine as possible in the dispersion medium, and the mass average diameter is 1 to 200 nm. Preferably it is 5-150 nm, More preferably, it is 10-100 nm, Most preferably, it is 10-80 nm. By refining the inorganic fine particles to 200 nm or less, a high refractive index layer and a medium refractive index layer that do not impair transparency can be formed.

本発明に用いる高屈折率層および中屈折率層は、上記のようにして分散媒体中に無機微粒子を分散した分散液に、好ましくは、さらにマトリックス形成に必要なバインダー前駆体(例えば、後述する活性エネルギー線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーなど)、光重合開始剤等を加えて高屈折率層および中屈折率層形成用の塗布組成物とし、透明支持体上に高屈折率層および中屈折率層形成用の塗布組成物を塗布して、活性エネルギー線硬化性化合物(例えば、多官能モノマーや多官能オリゴマーなど)の架橋反応又は重合反応により硬化させて形成することが好ましい。   The high refractive index layer and medium refractive index layer used in the present invention are preferably a binder precursor (for example, described later) required for forming a matrix in a dispersion liquid in which inorganic fine particles are dispersed in a dispersion medium as described above. Active energy ray-curable polyfunctional monomers and polyfunctional oligomers), photopolymerization initiators, etc. are added to form a coating composition for forming a high refractive index layer and a medium refractive index layer, and a high refractive index layer on a transparent support. In addition, it is preferable to form by applying a coating composition for forming a medium refractive index layer and curing it by a crosslinking reaction or a polymerization reaction of an active energy ray-curable compound (for example, a polyfunctional monomer or a polyfunctional oligomer).

さらに、高屈折率層および中屈折率層のバインダーを層の塗布と同時または塗布後に、分散剤と架橋反応又は重合反応させることが好ましい。このようにして作製した高屈折率層および中屈折率層のバインダーは、例えば、上記の好ましい分散剤と活性エネルギー線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーとが、架橋又は重合反応し、バインダーに分散剤のアニオン性基が取りこまれた形となる。さらに高屈折率層および中屈折率層のバインダーは、アニオン性基が無機微粒子の分散状態を維持する機能を有し、架橋又は重合構造がバインダーに皮膜形成能を付与して、無機微粒子を含有する高屈折率層および中屈折率層の物理強度、耐薬品性、耐候性を改良する。   Furthermore, it is preferable to cause the binder of the high refractive index layer and the medium refractive index layer to undergo a crosslinking reaction or a polymerization reaction with the dispersant simultaneously with or after the coating of the layer. The binder of the high refractive index layer and the medium refractive index layer produced in this way is, for example, a binder or active energy ray-curable polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer that undergoes crosslinking or polymerization reaction to form a binder. In this form, the anionic group of the dispersant is incorporated. Furthermore, the binder of the high refractive index layer and the medium refractive index layer has a function in which the anionic group maintains the dispersion state of the inorganic fine particles, and the crosslinked or polymerized structure imparts a film forming ability to the binder and contains the inorganic fine particles. To improve the physical strength, chemical resistance and weather resistance of the high refractive index layer and medium refractive index layer.

活性エネルギー線硬化性の多官能モノマーや多官能オリゴマーの官能基としては、光、電子線、放射線重合性のものが好ましく、中でも光重合性官能基が好ましい。光重合性官能基としては、(メタ)アクリロイル基、ビニル基、スチリル基、アリル基等の不飽和の重合性官能基等が挙げられ、中でも、(メタ)アクリロイル基が好ましい。尚、本明細書においては、「(メタ)アクリレート」、「(メタ)アクリロイル」等の記載は、「アクリレート又はメタクリレート」、「アクリロイルまたはメタクリロイル」の意味を表す。   The functional group of the active energy ray-curable polyfunctional monomer or polyfunctional oligomer is preferably a light, electron beam, or radiation polymerizable group, and among them, a photopolymerizable functional group is preferable. Examples of the photopolymerizable functional group include unsaturated polymerizable functional groups such as a (meth) acryloyl group, a vinyl group, a styryl group, and an allyl group. Among them, a (meth) acryloyl group is preferable. In the present specification, descriptions such as “(meth) acrylate” and “(meth) acryloyl” mean “acrylate or methacrylate” and “acryloyl or methacryloyl”.

光重合性官能基を有する光重合性多官能モノマーの具体例としては、ネオペンチルグリコールアクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;トリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート等のポリオキシアルキレングリコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;   Specific examples of the photopolymerizable polyfunctional monomer having a photopolymerizable functional group include those of alkylene glycols such as neopentyl glycol acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, propylene glycol di (meth) acrylate (meta ) Acrylic acid diesters; (Meth) acrylic of polyoxyalkylene glycols such as triethylene glycol di (meth) acrylate, dipropylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate Acid diesters;

ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート等の多価アルコールの(メタ)アクリル酸ジエステル類;2,2−ビス{4−(アクリロキシ・ジエトキシ)フェニル}プロパン、2−2−ビス{4−(アクリロキシ・ポリプロポキシ)フェニル}プロパン等のエチレンオキシドあるいはプロピレンオキシド付加物の(メタ)アクリル酸ジエステル類;等を挙げることができる。   (Meth) acrylic acid diesters of polyhydric alcohols such as pentaerythritol di (meth) acrylate; 2,2-bis {4- (acryloxy-diethoxy) phenyl} propane, 2-bis {4- (acryloxy-poly) (Meth) acrylic acid diesters of ethylene oxide or propylene oxide adducts such as propoxy) phenyl} propane; and the like.

さらにはエポキシ(メタ)アクリレート類、ウレタン(メタ)アクリレート類、ポリエステル(メタ)アクリレート類も、光重合性多官能モノマーとして、好ましく用いられる。   Furthermore, epoxy (meth) acrylates, urethane (meth) acrylates, and polyester (meth) acrylates are also preferably used as the photopolymerizable polyfunctional monomer.

中でも、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル類が好ましい。さらに好ましくは、1分子中に3個以上の(メタ)アクリロイル基を有する多官能モノマーが好ましい。具体的には、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、1,2,4−シクロヘキサンテトラ(メタ)アクリレート、グリセロールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールトリアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリペンタエリスリトールトリアクリレート、トリペンタエリスリトールヘキサトリアクリレート等が挙げられる。   Among these, esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid are preferable. More preferably, a polyfunctional monomer having 3 or more (meth) acryloyl groups in one molecule is preferable. Specifically, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, 1,2,4-cyclohexanetetra (meth) acrylate, glycerol triacrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, pentaerythritol Tri (meth) acrylate, dipentaerythritol triacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tripentaerythritol triacrylate, tripentaerythritol hexatriacrylate, etc. Can be mentioned.

多官能モノマーは、二種類以上を併用してもよい。光重合性多官能モノマーの重合反応には、光重合開始剤を用いることが好ましい。光重合開始剤としては、光ラジカル重合開始剤と光カチオン重合開始剤が好ましく、特に好ましいのは光ラジカル重合開始剤である。光ラジカル重合開始剤としては、例えば、アセトフェノン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーのベンゾイルベンゾエート、α−アミロキシムエステル、テトラメチルチウラムモノサルファイドおよびチオキサントン類等が挙げられる。   Two or more polyfunctional monomers may be used in combination. It is preferable to use a photopolymerization initiator for the polymerization reaction of the photopolymerizable polyfunctional monomer. As the photopolymerization initiator, a photoradical polymerization initiator and a photocationic polymerization initiator are preferable, and a photoradical polymerization initiator is particularly preferable. Examples of the photo radical polymerization initiator include acetophenones, benzophenones, Michler's benzoylbenzoate, α-amyloxime ester, tetramethylthiuram monosulfide, and thioxanthones.

市販の光ラジカル重合開始剤としては、日本化薬(株)製のKAYACURE(DETX-S,BP-100,BDMK,CTX,BMS,2-EAQ,ABQ,CPTX,EPD,ITX,QTX,BTC,MCAなど)、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製のイルガキュア(651,184,500,907,369,1173,2959,4265,4263など)、サートマー社製のEsacure(KIP100F,KB1,EB3,BP,X33,KT046,KT37,KIP150,TZT)等が挙げられる。   As a commercially available photo radical polymerization initiator, Kayacure (DETX-S, BP-100, BDMK, CTX, BMS, 2-EAQ, ABQ, CPTX, EPD, ITX, QTX, BTC, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. MCA, etc.), Irgacure (651, 184, 500, 907, 369, 1173, 2959, 4265, 4263, etc.) manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd., Esacure (KIP100F, KB1, EB3, BP, manufactured by Sartomer) X33, KT046, KT37, KIP150, TZT) and the like.

特に、光開裂型の光ラジカル重合開始剤が好ましい。光開裂型の光ラジカル重合開始剤については、最新UV硬化技術(P.159,発行人;高薄一弘,発行所;(株)技術情報協会,1991年発行)に記載されている。市販の光開裂型の光ラジカル重合開始剤としては、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製のイルガキュア(651,184,907)等が挙げられる。   In particular, photocleavable photoradical polymerization initiators are preferred. The photocleavable photoradical polymerization initiator is described in the latest UV curing technology (P.159, issuer; Kazuhiro Takashiro, publisher; Technical Information Association, Inc., published in 1991). Examples of commercially available photocleavable photoradical polymerization initiators include Irgacure (651, 184, 907) manufactured by Ciba Specialty Chemicals.

光重合開始剤は、多官能モノマー100質量部に対して、0.1〜15質量部の範囲で使用することが好ましく、より好ましくは1〜10質量部の範囲である。光重合開始剤に加えて、光増感剤を用いてもよい。光増感剤の具体例として、n−ブチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、ミヒラーのケトンおよびチオキサントンを挙げることができる。市販の光増感剤としては、日本化薬(株)製のKAYACURE(DMBI,EPA)などが挙げられる。光重合反応は、高屈折率層の塗布および乾燥後、紫外線照射により行うことが好ましい。本発明に用いる高屈折率層は、前記一般式(A)で表される化合物、及び/又は、その誘導体化合物を含有することもできる。   It is preferable to use a photoinitiator in the range of 0.1-15 mass parts with respect to 100 mass parts of polyfunctional monomers, More preferably, it is the range of 1-10 mass parts. In addition to the photopolymerization initiator, a photosensitizer may be used. Specific examples of the photosensitizer include n-butylamine, triethylamine, tri-n-butylphosphine, Michler's ketone and thioxanthone. Examples of commercially available photosensitizers include Kayacure (DMBI, EPA) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. The photopolymerization reaction is preferably performed by ultraviolet irradiation after the high refractive index layer is applied and dried. The high refractive index layer used in the present invention may contain the compound represented by the general formula (A) and / or a derivative compound thereof.

高屈折率層の上に低屈折率層を構築して、反射防止フィルムを作製するためには、高屈折率層の屈折率は1.55〜2.40であることが好ましく、より好ましくは1.60〜2.20、更に好ましくは、1.65〜2.10、最も好ましくは1.80〜2.00である。   In order to construct an antireflection film by constructing a low refractive index layer on a high refractive index layer, the refractive index of the high refractive index layer is preferably 1.55 to 2.40, more preferably It is 1.60 to 2.20, more preferably 1.65 to 2.10, and most preferably 1.80 to 2.00.

高屈折率層には、前記の成分(無機微粒子、重合開始剤、光増感剤など)以外に、樹脂、界面活性剤、帯電防止剤、カップリング剤、増粘剤、着色防止剤、着色剤(顔料、染料)、消泡剤、レベリング剤、難燃剤、紫外線吸収剤、赤外線吸収剤、接着付与剤、重合禁止剤、酸化防止剤、表面改質剤、導電性の金属微粒子、などを添加することもできる。   In addition to the above components (inorganic fine particles, polymerization initiators, photosensitizers, etc.), the high refractive index layer includes resins, surfactants, antistatic agents, coupling agents, thickeners, anti-coloring agents, and coloring. Agents (pigments, dyes), antifoaming agents, leveling agents, flame retardants, ultraviolet absorbers, infrared absorbers, adhesion-imparting agents, polymerization inhibitors, antioxidants, surface modifiers, conductive metal particles, etc. It can also be added.

高屈折率層の形成において、活性エネルギー線硬化性化合物の架橋反応、又は、重合反応は、酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で実施することが好ましい。高屈折率層を酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で形成することにより、高屈折率層の物理強度、耐薬品性、耐候性、更には、高屈折率層と高屈折率層と隣接する層との接着性を改良することができる。好ましくは酸素濃度が6体積%以下の雰囲気で活性エネルギー線硬化性化合物の架橋反応、又は、重合反応により形成することであり、更に好ましくは酸素濃度が4体積%以下、特に好ましくは酸素濃度が2体積%以下、最も好ましくは1体積%以下である。   In the formation of the high refractive index layer, the crosslinking reaction or polymerization reaction of the active energy ray-curable compound is preferably carried out in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less. By forming the high refractive index layer in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less, the physical strength, chemical resistance, and weather resistance of the high refractive index layer, and further, the high refractive index layer and the high refractive index layer are adjacent to each other. Adhesion with the layer can be improved. Preferably, the active energy ray-curable compound is formed by a crosslinking reaction or a polymerization reaction in an atmosphere having an oxygen concentration of 6% by volume or less, more preferably an oxygen concentration of 4% by volume or less, particularly preferably an oxygen concentration. 2% by volume or less, most preferably 1% by volume or less.

また、反射防止フィルムを液晶表示装置に適用する場合、視野角特性を改良する目的で、平均粒径が0.1〜10μmの粒子を添加したアンダーコート層を新たに構築するか、ハードコート層中に上記粒子を添加して光散乱性ハードコート層とすることができる。粒子の平均粒径は、好ましくは0.2〜5.0μm、更に好ましくは0.3〜4.0μm、特に好ましくは0.5〜3.5μmである。   In addition, when an antireflection film is applied to a liquid crystal display device, an undercoat layer to which particles having an average particle diameter of 0.1 to 10 μm are added is newly constructed or a hard coat layer for the purpose of improving viewing angle characteristics. The above particles can be added to form a light scattering hard coat layer. The average particle diameter of the particles is preferably 0.2 to 5.0 μm, more preferably 0.3 to 4.0 μm, and particularly preferably 0.5 to 3.5 μm.

粒子の屈折率は1.35〜1.80であることが好ましく、より好ましくは1.40〜1.75、さらに好ましくは1.45〜1.75である。粒子の粒径分布は狭いほど好ましい。粒子の粒径分布を示すS値は下記式で表され、1.5以下であることが好ましく、さらに好ましくは1.0以下、特に好ましくは0.7以下である。
S=[D(0.9)−D(0.1)]/D(0.5)
D(0.1):体積換算粒径の積算値の10%相当粒径
D(0.5):体積換算粒径の積算値の50%相当粒径
D(0.9):体積換算粒径の積算値の90%相当粒径
The refractive index of the particles is preferably 1.35 to 1.80, more preferably 1.40 to 1.75, and still more preferably 1.45 to 1.75. The narrower the particle size distribution, the better. The S value indicating the particle size distribution of the particles is represented by the following formula, preferably 1.5 or less, more preferably 1.0 or less, and particularly preferably 0.7 or less.
S = [D (0.9) -D (0.1)] / D (0.5)
D (0.1): Particle size equivalent to 10% of the integrated value of the volume converted particle size D (0.5): Particle size equivalent to 50% of the integrated value of the volume converted particle size D (0.9): Volume converted particle Diameter equivalent to 90% of the integrated diameter

また、粒子の屈折率とアンダーコート層の屈折率との屈折率の差が0.02以上であることが好ましい。より好ましくは、屈折率の差が0.03〜0.5、さらに好ましくは屈折率の差が0.05〜0.4、特に好ましくは屈折率の差が0.07〜0.3である。アンダーコート層に添加する粒子としては、防眩層で記載した無機粒子と有機粒子が挙げられる。アンダーコート層は、ハードコート層と透明支持体の間に構築することが好ましい。また、ハードコート層を兼ねることもできる。アンダーコート層に平均粒径が0.1〜10μmの粒子を添加する場合、アンダーコート層のヘイズは、3〜60%であることが好ましい。より好ましくは、5〜50%であり、さらに好ましくは7〜45%、特に好ましくは10〜40%である。   The difference in refractive index between the refractive index of the particles and the refractive index of the undercoat layer is preferably 0.02 or more. More preferably, the difference in refractive index is 0.03 to 0.5, more preferably the difference in refractive index is 0.05 to 0.4, and particularly preferably the difference in refractive index is 0.07 to 0.3. . Examples of the particles added to the undercoat layer include inorganic particles and organic particles described in the antiglare layer. The undercoat layer is preferably constructed between the hard coat layer and the transparent support. It can also serve as a hard coat layer. When particles having an average particle size of 0.1 to 10 μm are added to the undercoat layer, the haze of the undercoat layer is preferably 3 to 60%. More preferably, it is 5 to 50%, further preferably 7 to 45%, particularly preferably 10 to 40%.

本発明の反射防止フィルムの透明支持体としては、プラスチックフィルムを用いることが好ましい。プラスチックフィルムを形成するポリマーとしては、セルロースエステル(例、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース)、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリエステル(例、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート)、ポリスチレン、ポリオレフィン、ノルボルネン系樹脂(アートン:商品名、JSR社製)、非晶質ポリオレフィン(ゼオネックス:商品名、日本ゼオン社製)などが挙げられる。このうちトリアセチルセルロース、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、特にトリアセチルセルロースが好ましい。本発明の反射防止フィルムを液晶表示装置に用いる場合、片面に粘着層を設ける等の手段によりディスプレイの最表面に配置する。該透明支持体がトリアセチルセルロースの場合は、偏光板の偏光層を保護する保護フィルムとしてトリアセチルセルロースが用いられるため、本発明の反射防止フィルムをそのまま保護フィルムに用いることがコストの上では好ましい。   As the transparent support of the antireflection film of the present invention, a plastic film is preferably used. Polymers that form plastic films include cellulose esters (eg, triacetyl cellulose, diacetyl cellulose), polyamides, polycarbonates, polyesters (eg, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate), polystyrenes, polyolefins, norbornene resins (Arton: trade names) , Manufactured by JSR Corporation), amorphous polyolefin (ZEONEX: trade name, manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd.), and the like. Of these, triacetyl cellulose, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate are preferable, and triacetyl cellulose is particularly preferable. When the antireflection film of the present invention is used in a liquid crystal display device, it is disposed on the outermost surface of the display by means such as providing an adhesive layer on one side. When the transparent support is triacetylcellulose, triacetylcellulose is used as a protective film for protecting the polarizing layer of the polarizing plate. Therefore, it is preferable in terms of cost to use the antireflection film of the present invention as it is for the protective film. .

<透明基材>
反射防止膜をCRT画像表示面やレンズ表面に直接設ける場合を除き、反射防止膜は透明基材(透明支持体)を有することが好ましい。透明基材の光透過率は、80%以上であることが好ましく、86%以上であることがさらに好ましい。透明基材のヘイズは、2.0%以下であることが好ましく、1.0%以下であることがさらに好ましい。透明基材の屈折率は、1.4〜1.7であることが好ましい。透明基材としてはガラス板よりもプラスチックフィルムの方が好ましい。プラスチックフィルムの材料の例には、セルロースエステル、ポリアミド、ポリカーボネート、ポリエステル(例、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ−1,4−シクロヘキサンジメチレンテレフタレート、ポリエチレン−1,2−ジフェノキシエタン−4、4’−ジカルボキシレート、ポリブチレンテレフタレート)、ポリスチレン(例、シンジオタクチックポリスチレン)、ポリオレフィン(例、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリメチルペンテン)、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリアリレート、ポリエーテルイミド、ポリメチルメタクリレートおよびポリエーテルケトンが含まれる。セルロースエステル、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレートおよびポリエチレンナフタレートが好ましい。特に、液晶表示装置に用いる場合、セルロースアシレートフィルムが好ましく、セルロースからエステル化してセルロースアシレートが作製される。特に好ましい前述のセルロースがそのまま利用できる訳ではなく、リンター、ケナフ、パルプを精製して用いられる。
<Transparent substrate>
Unless the antireflection film is directly provided on the CRT image display surface or the lens surface, the antireflection film preferably has a transparent substrate (transparent support). The light transmittance of the transparent substrate is preferably 80% or more, and more preferably 86% or more. The haze of the transparent substrate is preferably 2.0% or less, and more preferably 1.0% or less. The refractive index of the transparent substrate is preferably 1.4 to 1.7. As the transparent substrate, a plastic film is preferable to a glass plate. Examples of plastic film materials include cellulose esters, polyamides, polycarbonates, polyesters (eg, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, poly-1,4-cyclohexanedimethylene terephthalate, polyethylene-1,2-diphenoxyethane-4, 4′-dicarboxylate, polybutylene terephthalate), polystyrene (eg, syndiotactic polystyrene), polyolefin (eg, polypropylene, polyethylene, polymethylpentene), polysulfone, polyethersulfone, polyarylate, polyetherimide, polymethyl Methacrylate and polyether ketone are included. Cellulose ester, polycarbonate, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferred. In particular, when used in a liquid crystal display device, a cellulose acylate film is preferable, and cellulose acylate is produced by esterification from cellulose. The particularly preferable cellulose described above is not necessarily usable as it is, but is used by refining linter, kenaf and pulp.

本発明において、セルロースアシレートとはセルロースの脂肪酸エステルのことであるが、特に、低級脂肪酸エステルが好ましい。更には、セルロースの脂肪酸エステルフィルムが好ましい。低級脂肪酸とは、炭素原子数が6以下の脂肪酸を意味する。炭素原子数が2乃至4のセルロースアシレートが好ましい。セルロースアセテートが特に好ましい。セルロースアセテートプロピオネートやセルロースアセテートブチレートのような混合脂肪酸エステルを用いることも好ましい。   In the present invention, cellulose acylate means a fatty acid ester of cellulose, and a lower fatty acid ester is particularly preferable. Furthermore, a fatty acid ester film of cellulose is preferable. Lower fatty acid means a fatty acid having 6 or less carbon atoms. A cellulose acylate having 2 to 4 carbon atoms is preferred. Cellulose acetate is particularly preferred. It is also preferable to use mixed fatty acid esters such as cellulose acetate propionate and cellulose acetate butyrate.

セルロースアシレートの粘度平均重合度(DP)は、250以上であることが好ましく、290以上であることがさらに好ましい。又、セルロースアシレートは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによるMw/Mn(Mwは質量平均分子量、Mnは数平均分子量)の分子量分布が狭いことが好ましい。具体的なMw/Mnの値としては、1.0乃至5.0であることが好ましい。より好ましくは、1.0〜3.0であり、特に好ましくは1.0〜2.0である。本発明の透明基材としては、酢化度が55.0乃至62.5%であるセルロースアシレートを使用することが好ましい。酢化度は、57.0乃至62.0%であることがさらに好ましく、59.0乃至61.5%が特に好ましい。酢化度とは、セルロース単位質量当たりの結合酢酸量を意味する。酢化度は、ASTM:D−817−91(セルロースアシレート等の試験法)におけるアシル化度の測定および計算によって求められる。   The viscosity average degree of polymerization (DP) of cellulose acylate is preferably 250 or more, and more preferably 290 or more. Cellulose acylate preferably has a narrow molecular weight distribution of Mw / Mn (Mw is a mass average molecular weight, Mn is a number average molecular weight) by gel permeation chromatography. A specific value of Mw / Mn is preferably 1.0 to 5.0. More preferably, it is 1.0-3.0, Most preferably, it is 1.0-2.0. As the transparent substrate of the present invention, it is preferable to use cellulose acylate having an acetylation degree of 55.0 to 62.5%. The acetylation degree is more preferably 57.0 to 62.0%, and particularly preferably 59.0 to 61.5%. The degree of acetylation means the amount of bound acetic acid per unit mass of cellulose. The degree of acetylation is determined by measurement and calculation of the degree of acylation in ASTM: D-817-91 (testing method for cellulose acylate, etc.).

セルロースアシレートでは、セルロースの2位、3位、6位のヒドロキシルが均等に置換されるのではなく、6位の置換度が小さくなる傾向がある。本発明に用いるセルロースアシレートでは、セルロースの6位置換度が、2位、3位に比べて同程度または多い方が好ましい。2位、3位、6位の置換度の合計に対する、6位の置換度の割合は、30乃至40%であることが好ましく、31乃至40%であることがさらに好ましく、32乃至40%であることが最も好ましい。また、ジクロロメタン等のハロゲン化炭化水素を実質的に含まないセルロースアシレートフィルムおよびその製造法については発明協会公開技報(公技番号2001−1745、2001年3月15日発行、以下公開技報2001−1745号と略す)に記載されており、ここに記載されたセルロースアシレートも本発明に好ましく用いることができる。   In cellulose acylate, the hydroxyl groups at the 2-position, 3-position and 6-position of cellulose are not evenly substituted, but the substitution degree at the 6-position tends to be small. In the cellulose acylate used in the present invention, it is preferable that the degree of substitution at the 6-position of cellulose is the same or greater than that at the 2- and 3-positions. The ratio of the substitution degree at the 6-position to the total substitution degree at the 2-position, the 3-position, and the 6-position is preferably 30 to 40%, more preferably 31 to 40%, and more preferably 32 to 40%. Most preferably it is. In addition, the cellulose acylate film substantially free of halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and the process for producing the same are disclosed in the JIII Journal of Technical Disclosure (Publication No. 2001-1745, published on March 15, 2001; The cellulose acylate described here can also be preferably used in the present invention.

透明基材には、フィルムの機械的特性(膜の強度、カール、寸度安定性、滑り性等)、耐久性(耐湿熱性、耐候性等)等の特性を調整するために各種の添加剤を用いることが出来る。例えば、可塑剤(リン酸エステル類、フタル酸エステル類、ポリオールと脂肪酸とのエステル類等)、紫外線防止剤(例えば、ヒドロキシベンゾフェノン系化合物、ベンゾトリアゾール系化合物、サリチル酸エステル系化合物、シアノアクリレート系化合物等)、劣化防止剤(例えば、酸化防止剤、過酸化物分解剤、ラジカル禁止剤、金属不活性化剤、酸捕獲剤、アミン等)、微粒子(例えばSiO2、Al23、TiO2、BaSO4、CaCO3、MgCO3、タルク、カオリン等)、剥離剤、帯電防止剤、赤外吸収剤等が挙げられる。これらの詳細は、発明協会公開技法公技番号2001−1745号(2001年3月15日発行、発明協会),p.17−22に詳細に記載されている素材が好ましく用いられる。
添加剤の使用量は、透明基材の0.01〜20質量%であることが好ましく、0.05〜10質量%であることがさらに好ましい。
For transparent substrates, various additives are used to adjust the film's mechanical properties (film strength, curl, dimensional stability, slipperiness, etc.) and durability (wet heat resistance, weather resistance, etc.). Can be used. For example, plasticizers (phosphate esters, phthalate esters, esters of polyols and fatty acids, etc.), UV inhibitors (eg, hydroxybenzophenone compounds, benzotriazole compounds, salicylic acid ester compounds, cyanoacrylate compounds) Etc.), deterioration inhibitors (eg, antioxidants, peroxide decomposers, radical inhibitors, metal deactivators, acid scavengers, amines, etc.), fine particles (eg, SiO 2 , Al 2 O 3 , TiO 2) BaSO 4 , CaCO 3 , MgCO 3 , talc, kaolin, etc.), release agents, antistatic agents, infrared absorbers, and the like. These details are disclosed in the Invention Association Public Technique No. 2001-1745 (issued March 15, 2001, Invention Association), p. Materials described in detail in 17-22 are preferably used.
The amount of the additive used is preferably 0.01 to 20% by mass of the transparent substrate, and more preferably 0.05 to 10% by mass.

透明基材に、表面処埋を実施してもよい。表面処理の例には、薬品処理、機械的処理、コロナ放電処理、火焔処理、紫外線照射処理、高周波処理、グロー放電処理、活性プラズマ処理、レーザー処理、混酸処理およびオゾン酸化処理が含まれる。具体的には、例えば、発明協会公開技法公技番号2001−1745号(発行2001年3月15日)p.30−31に記載の内容、特開2001−9973号公報に記載の内容等が挙げられる。好ましくは、グロー放電処理、紫外線照射処理、コロナ放電処理および火焔処理、更に好ましくはグロー放電処理と紫外線処理が挙げられる。   Surface treatment may be performed on the transparent substrate. Examples of the surface treatment include chemical treatment, mechanical treatment, corona discharge treatment, flame treatment, ultraviolet irradiation treatment, high frequency treatment, glow discharge treatment, active plasma treatment, laser treatment, mixed acid treatment and ozone oxidation treatment. Specifically, for example, Invention Association Public Technique No. 2001-1745 (issued March 15, 2001) p. The content described in 30-31, the content described in JP 2001-9973 A, and the like can be given. Preferably, glow discharge treatment, ultraviolet irradiation treatment, corona discharge treatment and flame treatment, and more preferably glow discharge treatment and ultraviolet treatment.

本発明の反射防止フィルムでは、膜強度を向上させる目的で適宜各層に無機フィラーを添加することが好ましい。各層に添加する無機フィラーはそれぞれ同じでも異なっていても良く、各層の屈折率、膜強度、膜厚、塗布性などの必要性能に応じて、種類、添加量等は適宜調節されることが好ましい。本発明に使用する無機フィラーの形状は特に制限されるものではなく、例えば、球状、板状、繊維状、棒状、不定形、中空等のいずれも好ましく用いられるが、球状が分散性がよくより好ましい。また、無機フィラーの種類についても特に制限されるものではないが、非晶質のものが好ましく用いられ、金属の酸化物、窒化物、硫化物またはハロゲン化物からなることが好ましく、金属酸化物が特に好ましい。   In the antireflection film of the present invention, it is preferable to add an inorganic filler to each layer as appropriate for the purpose of improving the film strength. The inorganic filler added to each layer may be the same or different, and it is preferable that the type, addition amount, etc. are appropriately adjusted according to the required performance such as refractive index, film strength, film thickness, and coating property of each layer. . The shape of the inorganic filler used in the present invention is not particularly limited, and for example, any of a spherical shape, a plate shape, a fiber shape, a rod shape, an irregular shape, a hollow shape, and the like are preferably used. preferable. Further, the kind of the inorganic filler is not particularly limited, but an amorphous one is preferably used, and is preferably made of a metal oxide, nitride, sulfide or halide. Particularly preferred.

上記金属酸化物の金属原子としては、Na、K、Mg、Ca、Ba、Al、Zn、Fe、Cu、Ti、Sn、In、W、Y、Sb、Mn、Ga、V、Nb、Ta、Ag、Si、B、Bi、Mo、Ce、Cd、Be、PbおよびNi等が挙げられる。無機フィラーの平均粒子径は、透明な硬化膜を得るためには、0.001〜0.2μmの範囲内の値とするのが好ましく、より好ましくは0.001〜0.1μm、さらに好ましくは0.001〜0.06μmである。ここで、粒子の平均粒径はコールターカウンターにより測定される。本発明における無機フィラーの使用方法は特に制限されるものではないが、例えば、乾燥状態で使用することができるし、あるいは水もしくは有機溶媒に分散した状態で使用することもできる。本発明において、無機フィラーの凝集、沈降を抑制する目的で、分散安定化剤を併用することも好ましい。分散安定化剤としては、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、セルロース誘導体、ポリアミド、リン酸エステル、ポリエーテル、界面活性剤およびシランカップリング剤、チタンカップリング剤等を使用することができる。特にシランカップリング剤が硬化後の皮膜が強いため好ましい。分散安定化剤としてのシランカップリング剤の添加量は特に制限されるものではないが、例えば、無機フィラー100質量部に対して、1質量部以上の値とするのが好ましい。また、分散安定化剤の添加方法も特に制限されるものではないが、予め加水分解したものを添加することもできるし、あるいは、分散安定化剤であるシランカップリング剤と無機フィラーとを混合後、さらに加水分解および縮合する方法を採ることができるが、後者の方がより好ましい。各層に適する無機フィラーについてはそれぞれ後述する。   As metal atoms of the metal oxide, Na, K, Mg, Ca, Ba, Al, Zn, Fe, Cu, Ti, Sn, In, W, Y, Sb, Mn, Ga, V, Nb, Ta, Examples include Ag, Si, B, Bi, Mo, Ce, Cd, Be, Pb, and Ni. In order to obtain a transparent cured film, the average particle diameter of the inorganic filler is preferably set to a value within the range of 0.001 to 0.2 μm, more preferably 0.001 to 0.1 μm, and still more preferably. 0.001 to 0.06 μm. Here, the average particle diameter of the particles is measured by a Coulter counter. Although the usage method of the inorganic filler in this invention is not restrict | limited in particular, For example, it can use in a dry state or can also be used in the state disperse | distributed to water or the organic solvent. In the present invention, it is also preferable to use a dispersion stabilizer in combination for the purpose of suppressing aggregation and sedimentation of the inorganic filler. As the dispersion stabilizer, polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, cellulose derivative, polyamide, phosphate ester, polyether, surfactant, silane coupling agent, titanium coupling agent and the like can be used. In particular, a silane coupling agent is preferable because the film after curing is strong. Although the addition amount of the silane coupling agent as a dispersion stabilizer is not particularly limited, for example, the value is preferably 1 part by mass or more with respect to 100 parts by mass of the inorganic filler. Also, the method of adding the dispersion stabilizer is not particularly limited, but a hydrolyzed one can be added, or a dispersion stabilizer silane coupling agent and an inorganic filler are mixed. Thereafter, a method of further hydrolysis and condensation can be employed, but the latter is more preferable. The inorganic filler suitable for each layer will be described later.

[ハードコート層]
本発明の反射防止フィルムのハードコート層について以下に説明する。
ハードコート層は、ハードコート性を付与するためのバインダー、必要に応じて防眩性を付与するためのマット粒子、および高屈折率化、架橋収縮防止、高強度化のための無機フィラーから形成される。バインダーとしては、飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーであることが好ましく、飽和炭化水素鎖を主鎖として有するポリマーであることがさらに好ましい。また、バインダーポリマーは架橋構造を有することが好ましい。飽和炭化水素鎖を主鎖として有するバインダーポリマーとしては、エチレン性不飽和モノマーの重合体が好ましい。飽和炭化水素鎖を主鎖として有し、かつ架橋構造を有するバインダーポリマーとしては、二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの(共)重合体が好ましい。高屈折率にするには、このモノマーの構造中に芳香族環や、フッ素以外のハロゲン原子、硫黄原子、リン原子、及び窒素原子から選ばれた少なくとも1種の原子を含むことが好ましい。
[Hard coat layer]
The hard coat layer of the antireflection film of the present invention will be described below.
The hard coat layer is formed from a binder for imparting hard coat properties, mat particles for imparting anti-glare properties as necessary, and an inorganic filler for increasing the refractive index, preventing crosslinking shrinkage, and increasing the strength. Is done. The binder is preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain or a polyether chain as the main chain, and more preferably a polymer having a saturated hydrocarbon chain as the main chain. The binder polymer preferably has a crosslinked structure. As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as a main chain, a polymer of an ethylenically unsaturated monomer is preferable. As the binder polymer having a saturated hydrocarbon chain as the main chain and having a crosslinked structure, a (co) polymer of monomers having two or more ethylenically unsaturated groups is preferable. In order to obtain a high refractive index, the monomer structure preferably contains an aromatic ring or at least one atom selected from halogen atoms other than fluorine, sulfur atoms, phosphorus atoms, and nitrogen atoms.

二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーとしては、多価アルコールと(メタ)アクリル酸とのエステル(例、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ジクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート)、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、1,3,5−シクロヘキサントリオールトリアクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート)、ビニルベンゼンおよびその誘導体(例、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン)、ビニルスルホン(例、ジビニルスルホン)、アクリルアミド(例、メチレンビスアクリルアミド)およびメタクリルアミドが挙げられる。   Examples of the monomer having two or more ethylenically unsaturated groups include esters of polyhydric alcohol and (meth) acrylic acid (eg, ethylene glycol di (meth) acrylate, 1,4-dichlorohexane diacrylate, pentaerythritol tetra). (Meth) acrylate), pentaerythritol tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolethane tri (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, Pentaerythritol hexa (meth) acrylate, 1,3,5-cyclohexanetriol triacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester polyacrylate), vinylbenzene and derivatives thereof (Eg, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone), vinyl sulfone (eg, divinyl sulfone), acrylamide (eg, methylenebisacrylamide) and methacryl Amides are mentioned.

高屈折率モノマーの具体例としては、ビス(4−メタクリロイルチオフェニル)スルフィド、ビニルナフタレン、ビニルフェニルスルフィド、4−メタクリロキシフェニル−4'−メトキシフェニルチオエーテル等が挙げられる。   Specific examples of the high refractive index monomer include bis (4-methacryloylthiophenyl) sulfide, vinyl naphthalene, vinyl phenyl sulfide, 4-methacryloxyphenyl-4′-methoxyphenyl thioether, and the like.

これらのエチレン性不飽和基を有するモノマーの重合は、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤の存在下、活性エネルギー線の照射または加熱により行うことができる。 従って、エチレン性不飽和基を有するモノマー、光ラジカル開始剤あるいは熱ラジカル開始剤、マット粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体上に塗布後活性エネルギー線または熱による重合反応により硬化して反射防止フィルムを形成することができる。   Polymerization of these monomers having an ethylenically unsaturated group can be performed by irradiation with active energy rays or heating in the presence of a photo radical initiator or a thermal radical initiator. Accordingly, a coating liquid containing a monomer having an ethylenically unsaturated group, a photo radical initiator or a thermal radical initiator, mat particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is applied on a transparent support and then an active energy ray or It can be cured by a polymerization reaction by heat to form an antireflection film.

ポリエーテルを主鎖として有するポリマーは、多官能エポシキシ化合物の開環重合体が好ましい。多官能エポシキ化合物の開環重合は、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤の存在下、活性エネルギー線の照射または加熱により行うことができる。従って、多官能エポシキシ化合物、光酸発生剤あるいは熱酸発生剤、マット粒子および無機フィラーを含有する塗液を調製し、該塗液を透明支持体上に塗布後活性エネルギー線または熱による重合反応により硬化して反射防止フィルムを形成することができる。   The polymer having a polyether as the main chain is preferably a ring-opening polymer of a polyfunctional epoxy compound. The ring-opening polymerization of the polyfunctional epoxy compound can be performed by irradiation with active energy rays or heating in the presence of a photoacid generator or a thermal acid generator. Therefore, a coating liquid containing a polyfunctional epoxy compound, a photoacid generator or a thermal acid generator, matte particles and an inorganic filler is prepared, and the coating liquid is applied onto a transparent support and then subjected to a polymerization reaction by active energy rays or heat. Can be cured to form an antireflection film.

二個以上のエチレン性不飽和基を有するモノマーの代わりにまたはそれに加えて、架橋性官能基を有するモノマーを用いてポリマー中に架橋性官能基を導入し、この架橋性官能基の反応により、架橋構造をバインダーポリマーに導入してもよい。架橋性官能基の例には、イソシアナート基、エポキシ基、アジリジン基、オキサゾリン基、アルデヒド基、カルボニル基、ヒドラジン基、カルボキシル基、メチロール基および活性メチレン基が含まれる。ビニルスルホン酸、酸無水物、シアノアクリレート誘導体、メラミン、エーテル化メチロール、エステルおよびウレタン、テトラメトキシシランのような金属アルコキシドも、架橋構造を導入するためのモノマーとして利用できる。ブロックイソシアナート基のように、分解反応の結果として架橋性を示す官能基を用いてもよい。すなわち、本発明において架橋性官能基は、すぐには反応を示すものではなくとも、分解した結果反応性を示すものであってもよい。これら架橋性官能基を有するバインダーポリマーは塗布後、加熱することによって架橋構造を形成することができる。   Instead of or in addition to a monomer having two or more ethylenically unsaturated groups, a monomer having a crosslinkable functional group is used to introduce a crosslinkable functional group into the polymer, and by reaction of this crosslinkable functional group, A crosslinked structure may be introduced into the binder polymer. Examples of the crosslinkable functional group include isocyanate group, epoxy group, aziridine group, oxazoline group, aldehyde group, carbonyl group, hydrazine group, carboxyl group, methylol group and active methylene group. Vinylsulfonic acid, acid anhydride, cyanoacrylate derivative, melamine, etherified methylol, ester and urethane, and metal alkoxide such as tetramethoxysilane can also be used as a monomer for introducing a crosslinked structure. A functional group that exhibits crosslinkability as a result of the decomposition reaction, such as a block isocyanate group, may be used. That is, in the present invention, the crosslinkable functional group may not react immediately but may exhibit reactivity as a result of decomposition. These binder polymers having a crosslinkable functional group can form a crosslinked structure by heating after coating.

ハードコート層には、必要に応じて平均粒径が1〜10μm、好ましくは1.5〜7.0μmのマット粒子、例えば無機化合物の粒子または樹脂粒子が含有される。上記マット粒子の具体例としては、例えばシリカ粒子、TiO2粒子等の無機化合物の粒子;架橋アクリル粒子、架橋スチレン粒子、メラミン樹脂粒子、ベンゾグアナミン樹脂粒子等の樹脂粒子が好ましく挙げられる。なかでも架橋スチレン粒子が好ましい。マット粒子の形状は、真球あるいは不定形のいずれも使用できる。また、異なる2種以上のマット粒子を併用して用いてもよい。上記マット粒子は、形成された防眩性ハードコート層中のマット粒子量が好ましくは10〜1000mg/m2、より好ましくは30〜100mg/m2となるように防眩性ハードコート層に含有される。また、特に好ましい態様は、マット粒子として架橋スチレン粒子を用い、ハードコート層の膜厚の2分の1よりも大きい粒径の架橋スチレン粒子が、該架橋スチレン粒子全体の40〜100%を占める態様である。ここで、マット粒子の粒度分布はコールターカウンター法により測定し、測定された分布を粒子数分布に換算する。 The hard coat layer contains matte particles having an average particle diameter of 1 to 10 μm, preferably 1.5 to 7.0 μm, for example, inorganic compound particles or resin particles, if necessary. Specific examples of the mat particles preferably include inorganic particles such as silica particles and TiO 2 particles; resin particles such as crosslinked acrylic particles, crosslinked styrene particles, melamine resin particles, and benzoguanamine resin particles. Of these, crosslinked styrene particles are preferred. As the shape of the mat particle, either a true sphere or an indefinite shape can be used. Further, two or more different kinds of mat particles may be used in combination. The mat particles are contained in the antiglare hard coat layer so that the amount of mat particles in the formed antiglare hard coat layer is preferably 10 to 1000 mg / m 2 , more preferably 30 to 100 mg / m 2. Is done. In a particularly preferred embodiment, cross-linked styrene particles are used as mat particles, and the cross-linked styrene particles having a particle size larger than one half of the film thickness of the hard coat layer occupy 40 to 100% of the entire cross-linked styrene particles. It is an aspect. Here, the particle size distribution of the mat particles is measured by a Coulter counter method, and the measured distribution is converted into a particle number distribution.

ハードコート層には、層の屈折率を高めるために、上記のマット粒子に加えて、チタン、ジルコニウム、アルミニウム、インジウム、亜鉛、錫、アンチモンのうちより選ばれる少なくとも1種の金属の酸化物からなり、平均粒径が0.001〜0.2μm以下、好ましくは0.001〜0.1μm、より好ましくは0.001〜0.06μm以下である無機フィラーが含有されることが好ましい。ハードコート層に用いられる無機フィラーの具体例としては、TiO2、ZrO2、Al23、In23、ZnO、SnO2、Sb23、ITO等が挙げられる。TiO2およびZrO2が高屈折率化の点で特に好ましい。該無機フィラーは表面をシランカップリング処理又はチタンカップリング処理されることも好ましく、フィラー表面にバインダー種と反応できる官能基を有する表面処理剤が好ましく用いられる。これらの無機フィラーの添加量は、ハードコート層の全質量の10〜90%であることが好ましく、より好ましくは20〜80%であり、特に好ましくは30〜75%である。なお、このようなフィラーは、粒径が光の波長よりも十分小さいために散乱が生じず、バインダーポリマーに該フィラーが分散した分散体は光学的に均一な物質として振舞う。 The hard coat layer is made of an oxide of at least one metal selected from titanium, zirconium, aluminum, indium, zinc, tin, and antimony, in addition to the above mat particles, in order to increase the refractive index of the layer. Therefore, it is preferable that an inorganic filler having an average particle diameter of 0.001 to 0.2 μm or less, preferably 0.001 to 0.1 μm, more preferably 0.001 to 0.06 μm or less is contained. Specific examples of the inorganic filler used for the hard coat layer include TiO 2 , ZrO 2 , Al 2 O 3 , In 2 O 3 , ZnO, SnO 2 , Sb 2 O 3 and ITO. TiO 2 and ZrO 2 are particularly preferable from the viewpoint of increasing the refractive index. The surface of the inorganic filler is preferably subjected to a silane coupling treatment or a titanium coupling treatment, and a surface treatment agent having a functional group capable of reacting with a binder species on the filler surface is preferably used. The amount of these inorganic fillers added is preferably 10 to 90% of the total mass of the hard coat layer, more preferably 20 to 80%, and particularly preferably 30 to 75%. Such a filler does not scatter because the particle size is sufficiently smaller than the wavelength of light, and a dispersion in which the filler is dispersed in a binder polymer behaves as an optically uniform substance.

本発明のハードコート層のバインダーおよび無機フィラーの混合物の合計の屈折率は、1.57〜2.00であることが好ましく、より好ましくは1.60〜1.80である。 屈折率を上記範囲とするには、バインダー及び無機フィラーの種類及び量割合を適宜選択すればよい。どのように選択するかは、予め実験的に容易に知ることができる。   The total refractive index of the mixture of binder and inorganic filler of the hard coat layer of the present invention is preferably 1.57 to 2.00, more preferably 1.60 to 1.80. In order to make the refractive index within the above range, the kind and amount ratio of the binder and the inorganic filler may be appropriately selected. How to select can be easily known experimentally in advance.

ハードコート層の膜厚は1〜10μmが好ましく、1.2〜6μmがより好ましい。   The film thickness of the hard coat layer is preferably 1 to 10 μm, more preferably 1.2 to 6 μm.

このようにして形成された本発明の反射防止フィルムは、ヘイズ値が3〜20%、好ましくは4〜15%の範囲にあり、そして450nmから650nmの平均反射率が1.8%以下、好ましくは1.5%以下である。本発明の反射防止フィルムが上記範囲のヘイズ値及び平均反射率であることにより、透過画像の劣化を伴なわずに良好な防眩性および反射防止性が得られる。   The antireflection film of the present invention thus formed has a haze value of 3 to 20%, preferably 4 to 15%, and an average reflectance of 450 nm to 650 nm is preferably 1.8% or less, preferably Is 1.5% or less. When the antireflection film of the present invention has a haze value and an average reflectance in the above range, good antiglare properties and antireflection properties can be obtained without causing deterioration of the transmitted image.

多層構成の反射防止膜の各層は、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ローラーコート法、ダイコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法やエクストルージョンコート法(米国特許2681294号明細書記載)により、塗布により形成することができるが、グラビアコート法で塗布すると反射防止フィルムの各層のような塗布量の少ない塗布液を膜厚均一性高く塗布することができ、好ましい。グラビアコート法の中でもマイクログラビア法は膜厚均一性が高く、より好ましい。また、ダイコート法で塗布することがより好ましく、更には後述する新規ダイコーターを用いて塗布を行うことが特に好ましい。二層以上を同時に塗布してもよい。同時塗布の方法については、米国特許2761791号、同2941898号、同3508947号、同3526528号の各明細書および原崎勇次著、コーティング工学、253頁、朝倉書店(1973)に記載がある。
本発明の反射防止フィルムにおいては、少なくとも高屈折率層と低屈折率層を積層するので、ゴミ、ほこり等の異物が存在したとき、輝点欠陥が目立ちやすい。本発明における輝点欠陥とは、目視により、塗膜上の反射で見える欠陥のことで、塗布後の反射防止フィルムの裏面を黒塗りする等の操作により目視で検出できる。目視により見える輝点欠陥は、一般的に50μm以上である。輝点欠陥が多いと製造時の得率が低下し、大面積の反射防止フィルムを製造することができない。
本発明の反射防止フィルムは、輝点欠陥の数が1平方メートル当たり20個以下、好ましくは10個以下、さらに好ましくは5個以下、特に好ましくは1個以下とする。
Each layer of the antireflection film having a multilayer structure is formed by a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a roller coating method, a die coating method, a wire bar coating method, a gravure coating method or an extrusion coating method (US Pat. No. 2,681,294). According to the description, it can be formed by coating, but it is preferable to apply a gravure coating method because a coating solution with a small coating amount such as each layer of the antireflection film can be applied with high film thickness uniformity. Among the gravure coating methods, the micro gravure method has a high film thickness uniformity and is more preferable. Moreover, it is more preferable to apply by a die coating method, and it is particularly preferable to apply using a new die coater described later. Two or more layers may be applied simultaneously. The methods for simultaneous application are described in US Pat. Nos. 2,761,791, 2,941,898, 3,508,947, and 3,526,528 and Yuji Harasaki, Coating Engineering, page 253, Asakura Shoten (1973).
In the antireflection film of the present invention, at least the high refractive index layer and the low refractive index layer are laminated, so that bright spot defects are easily noticeable when foreign matters such as dust and dust are present. The bright spot defect in the present invention is a defect that can be visually observed by reflection on the coating film, and can be detected by an operation such as black coating on the back surface of the antireflection film after coating. The bright spot defects that can be visually observed are generally 50 μm or more. When there are many bright spot defects, the yield at the time of manufacture will fall and a large-area antireflection film cannot be manufactured.
In the antireflection film of the present invention, the number of bright spot defects is 20 or less per square meter, preferably 10 or less, more preferably 5 or less, and particularly preferably 1 or less.

本発明の反射防止フィルムを連続的に製造するために、ロール状の支持体フィルムを連続的に送り出す工程、塗布液を塗布・乾燥する工程、塗膜を硬化する工程、硬化した層を有する支持体フィルムを巻き取る工程が行われる。
ロール状のフィルム支持体からフィルム支持体がクリーン室に連続的に送り出され、クリーン室内で、フィルム支持体に帯電している静電気を静電除電装置により除電し、引き続きフィルム支持体上に付着している異物を、除塵装置により除去する。引き続きクリーン室内に設置されている塗布部で塗布液がフィルム支持体上に塗布され、塗布されたフィルム支持体は乾燥室に送られて乾燥される。
乾燥した塗布層を有するフィルム支持体は乾燥室から放射線硬化室へ送り出され、放射線が照射されて塗布層に含有されるモノマーが重合して硬化する。さらに、放射線により硬化した層を有するフィルム支持体は熱硬化部へ送られ、加熱されて硬化を完結させ、硬化が完結した層を有するフィルム支持体は巻き取られてロール状となる。
In order to continuously produce the antireflection film of the present invention, a process of continuously feeding a roll-shaped support film, a process of applying and drying a coating liquid, a process of curing a coating film, and a support having a cured layer A step of winding the body film is performed.
The film support is continuously sent out from the roll-shaped film support to the clean room. In the clean room, the static electricity charged on the film support is removed by an electrostatic charge-off device, and then the film support adheres on the film support. Remove the foreign material that has been removed with a dust remover. Subsequently, the coating liquid is applied onto the film support in the application section installed in the clean room, and the applied film support is sent to the drying chamber and dried.
The film support having the dried coating layer is fed from the drying chamber to the radiation curing chamber, irradiated with radiation, and the monomer contained in the coating layer is polymerized and cured. Furthermore, the film support having a layer cured by radiation is sent to the thermosetting section and heated to complete the curing, and the film support having the layer that has been completely cured is wound up into a roll shape.

上記工程は、各層の形成毎に行ってもよいし、塗布部−乾燥室−放射線硬化部−熱硬化室を複数設けて、各層の形成を連続的に行うことも可能であるが、生産性の観点から各層の形成を連続的に行う事が好ましい。各層の塗布を連続的に行う装置の構成例を図2に示す。該装置はロール状の支持体フィルムを連続的に送り出す工程110と、ロール状の支持体フィルムを巻き取る工程120の間に製膜ユニット100,200,300,400を適宜必要な数だけ設置したものである。図2で示される装置は4層を巻き取ることなく連続的に塗布する際の構成の一例だが、層構成に合わせて製膜ユニット数を変化させることはもちろん可能である。製膜ユニット100は塗布液を塗布する工程101、塗膜を乾燥する工程102、塗膜を硬化する工程103から構成されている。
製膜ユニットが3つ設置された装置を用いて、前記ハードコート層を塗設したロール状の支持体フィルムを連続的に送り出し、中屈折率層、高屈折率層、低屈折率層を各製膜ユニットで順次塗設した後に巻き取る事がより好ましく、製膜ユニットが4つ設置された、図2に示す装置を用いて、ロール状の支持体フィルムを連続的に送り出し、ハードコート層、中屈折率層、高屈折率層、低屈折率層を各製膜ユニットで順次塗設した後に巻き取る事が更に好ましい。
The above process may be performed every time each layer is formed, or a plurality of coating units-drying chambers-radiation curing units-thermosetting chambers may be provided to form each layer continuously. In view of the above, it is preferable to continuously form each layer. An example of the configuration of an apparatus for continuously applying each layer is shown in FIG. The apparatus has an appropriate number of film forming units 100, 200, 300, and 400 installed between the step 110 of continuously feeding the roll-shaped support film and the step 120 of winding the roll-shaped support film. Is. The apparatus shown in FIG. 2 is an example of a configuration in which four layers are continuously applied without winding up, but it is of course possible to change the number of film forming units in accordance with the layer configuration. The film forming unit 100 includes a process 101 for applying a coating liquid, a process 102 for drying a coating film, and a process 103 for curing the coating film.
Using an apparatus in which three film forming units are installed, a roll-shaped support film coated with the hard coat layer is continuously fed, and a medium refractive index layer, a high refractive index layer, and a low refractive index layer are provided for each. It is more preferable to wind up after sequentially coating with the film forming unit. Using the apparatus shown in FIG. 2 in which four film forming units are installed, the roll-shaped support film is continuously fed out, and the hard coat layer More preferably, the intermediate refractive index layer, the high refractive index layer, and the low refractive index layer are sequentially coated on each film forming unit and then wound.

本発明における、輝点欠陥の少ない反射防止フィルムを作成するためには、高屈折率層用塗布物中の高屈折率超微粒子分散度を精密に制御すること、および塗布液の精密濾過操作が挙げられる。と同時に、反射防止層を形成する各層は上記の塗布部における塗布工程および乾燥室で行われる乾燥工程が高い清浄度の空気雰囲気下で行われ、かつ塗布が行われる前に、フィルム上のゴミ、ほこりが充分に除かれていることが好ましい。塗布工程および乾燥工程の空気清浄度は、米国連邦規格209Eにおける空気清浄度の規格に基づき、クラス10(0.5μm以上の粒子が353個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましく、更に好ましくはクラス1(0.5μm以上の粒子が35.5個/(立方メートル)以下)以上であることが望ましい。また、空気清浄度は、塗布−乾燥工程以外の送り出し、巻き取り部等においても高いことがより好ましい。   In order to produce an antireflection film with few bright spot defects in the present invention, it is necessary to precisely control the degree of dispersion of the high refractive index ultrafine particles in the coating material for the high refractive index layer, and to perform a fine filtration operation of the coating liquid. Can be mentioned. At the same time, each layer forming the antireflection layer is subjected to a dusting process on the film before the coating process in the coating unit and the drying process performed in the drying chamber are performed in a clean air atmosphere and before the coating is performed. It is preferable that dust is sufficiently removed. The air cleanliness of the coating process and the drying process is desirably class 10 (353 particles / 0.5 m or more / (cubic meter) or less) based on the standard of air cleanliness in the US Federal Standard 209E. Preferably it is class 1 (35.5 particles / (cubic meter) or less) having a particle size of 0.5 μm or more. Moreover, it is more preferable that the degree of air cleanliness is high also in the feeding and winding parts other than the coating-drying process.

塗布が行われる前工程としての除塵工程に用いられる除塵方法として、特開昭59−150571号公報に記載のフィルム表面に不織布や、ブレード等を押しつける方法、特開平10−309553号公報に記載の清浄度の高い空気を高速で吹き付けて付着物をフィルム表面から剥離させ、近接した吸い込み口で吸引する方法、特開平7−333613号公報に記載される超音波振動する圧縮空気を吹き付けて付着物を剥離させ、吸引する方法(伸興社製、ニューウルトラクリーナー等)等の乾式除塵法が挙げられる。
また、洗浄槽中にフィルムを導入し、超音波振動子により付着物を剥離させる方法、特公昭49−13020号公報に記載されているフィルムに洗浄液を供給したあと、高速空気の吹き付け、吸い込みを行なう方法、特開2001−38306号に記載のように、ウェブを液体でぬらしたロールで連続的に擦った後、擦った面に液体を噴射して洗浄する方法等の湿式除塵法を用いることができる。このような除塵方法の内、超音波除塵による方法もしくは湿式除塵による方法が、除塵効果の点で特に好ましい。
As a dust removal method used in a dust removal step as a pre-process for coating, a method of pressing a nonwoven fabric, a blade or the like against the film surface described in JP-A-59-150571, described in JP-A-10-309553 Highly clean air is blown at a high speed to peel off the deposit from the film surface, and suction is performed at a suction port adjacent to the film. Ultrasonic-vibrated compressed air described in JP-A-7-333613 is sprayed onto the deposit. And a dry dust removal method such as a method of peeling and suctioning (manufactured by Shinkosha, New Ultra Cleaner, etc.).
In addition, a method of introducing a film into a cleaning tank and peeling off deposits with an ultrasonic vibrator, supplying a cleaning liquid to the film described in Japanese Patent Publication No. 49-13020, and then blowing and sucking high-speed air As described in JP-A-2001-38306, a wet dust removal method such as a method in which a web is continuously rubbed with a roll wetted with a liquid and then washed by spraying the liquid onto the rubbed surface is used. Can do. Among such dust removal methods, a method using ultrasonic dust removal or a method using wet dust removal is particularly preferable in terms of dust removal effect.

また、このような除塵工程を行う前に、フィルム支持体上の静電気を除電しておくことは、除塵効率を上げ、ゴミの付着を抑える点で特に好ましい。このような除電方法としては、コロナ放電式のイオナイザ、UV、軟X線等の光照射式のイオナイザ等を用いることができる。除塵、塗布前後のフィルム支持体の帯電圧は、1000V以下が望ましく、好ましくは300V以下、特に好ましくは、100V以下である。   In addition, it is particularly preferable to remove static electricity on the film support before performing such a dust removal step from the viewpoint of increasing dust removal efficiency and suppressing adhesion of dust. As such a static elimination method, a corona discharge ionizer, a light irradiation ionizer such as UV or soft X-ray, or the like can be used. The charged voltage of the film support before and after dust removal and coating is desirably 1000 V or less, preferably 300 V or less, and particularly preferably 100 V or less.

[塗布用分散媒]
塗布用分散媒としては、特に限定されない。単独でも2種以上を混合して使用してもよい。好ましい分散媒体は、トルエン、キシレン、スチレン等の芳香族炭化水素類、クロルベンゼン、オルトージクロルベンゼン等の塩化芳香族炭化水素類、モノクロルメタン等のメタン誘導体、モノクロルエタン等のエタン誘導体等を含む塩化脂肪族炭化水素類、メタノール、イソプロピルアルコール、イソブチルアルコール等のアルコール類、酢酸メチル、酢酸エチル等のエステル類、エチルエーテル、1,4-ジオキサン等のエーテル類、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、エチレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル類、シクロヘキサン等の脂環式炭化水素類、ノルマルヘキサン等の脂肪族炭化水素類、脂肪族または芳香族炭化水素の混合物等が該当する。これら溶媒の中でもケトン類の単独あるいは2種以上の混合により作成される塗布用分散媒が特に好ましい。
[Dispersion medium for coating]
The dispersion medium for coating is not particularly limited. You may use individually or in mixture of 2 or more types. Preferred dispersion media include aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene and styrene, chlorinated aromatic hydrocarbons such as chlorobenzene and orthodichlorobenzene, methane derivatives such as monochloromethane, ethane derivatives such as monochloroethane, and the like. Chlorinated aliphatic hydrocarbons, alcohols such as methanol, isopropyl alcohol and isobutyl alcohol, esters such as methyl acetate and ethyl acetate, ethers such as ethyl ether and 1,4-dioxane, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, Examples include ketones such as cyclohexanone, glycol ethers such as ethylene glycol monomethyl ether, alicyclic hydrocarbons such as cyclohexane, aliphatic hydrocarbons such as normal hexane, and mixtures of aliphatic or aromatic hydrocarbons. Among these solvents, a dispersion medium for coating prepared by alone or mixing two or more ketones is particularly preferable.

[塗布液物性]
本発明の塗布方式は液物性により塗布可能な上限の速度が大きく影響を受けるため、塗布する瞬間の液物性、特に粘度及び表面張力を制御する必要がある。
粘度については2.0[mPa・sec]以下であることが好ましく、更に好ましくは1.5[mPa・sec]以下、最も好ましくは1.0[mPa・sec]以下である。塗布液によってはせん断速度により粘度が変化するものもあるため、上記の値は塗布される瞬間のせん断速度における粘度を示している。塗布液にチキソトロピー剤を添加して、高せん断のかかる塗布時は粘度が低く、塗布液にせん断が殆どかからない乾燥時は粘度が高くなると乾燥時のムラが発生しにくくなり、好ましい。
また、液物性ではないが、透明支持体に塗り付けられる塗布液の量も塗布可能な上限の速度に影響を与える。透明支持体に塗り付けられる塗布液の量は2.0〜5.0[ml/m2]であることが好ましい。透明支持体に塗り付けられる塗布液の量を増やすと塗布可能な上限の速度が上がるため好ましいが、透明支持体に塗り付けられる塗布液の量を増やしすぎると乾燥にかかる負荷が大きくなるため、液処方・工程条件によって最適な透明支持体に塗り付けられる塗布液の量を決めることが好ましい。
表面張力については、15〜36[mN/m]の範囲にあることが好ましい。レベリング剤を添加するなどして表面張力を低下させることは乾燥時のムラが抑止されるため好ましい。一方、表面張力が下がりすぎると塗布可能な上限の速度が低下してしまうため、17[mN/m]から32[mN/m]の範囲がより好まく、19[mN/m]から26[mN/m]の範囲が更に好ましい。
[Coating liquid properties]
In the coating method of the present invention, the upper limit speed at which coating is possible is greatly affected by the liquid physical properties, so it is necessary to control the liquid physical properties, particularly the viscosity and surface tension at the moment of coating.
The viscosity is preferably 2.0 [mPa · sec] or less, more preferably 1.5 [mPa · sec] or less, and most preferably 1.0 [mPa · sec] or less. Since there are some coating solutions whose viscosity changes depending on the shear rate, the above value indicates the viscosity at the shear rate at the moment of coating. When a thixotropic agent is added to the coating solution and the coating solution is subjected to high shear, the viscosity is low, and when the coating solution is hardly sheared, if the viscosity is high, unevenness during drying is less likely to occur.
Moreover, although it is not a liquid physical property, the quantity of the coating liquid apply | coated to a transparent support body also affects the upper limit speed | rate which can be apply | coated. The amount of the coating solution applied to the transparent support is preferably 2.0 to 5.0 [ml / m 2 ]. Increasing the amount of the coating liquid applied to the transparent support is preferable because the upper limit of the application rate can be increased, but if the amount of the coating liquid applied to the transparent support is increased too much, the load on drying increases. It is preferable to determine the optimal amount of coating liquid to be applied to the transparent support depending on the liquid formulation and process conditions.
The surface tension is preferably in the range of 15 to 36 [mN / m]. It is preferable to reduce the surface tension by adding a leveling agent or the like because unevenness during drying is suppressed. On the other hand, if the surface tension is too low, the upper limit speed at which coating can be performed is reduced. Therefore, the range of 17 [mN / m] to 32 [mN / m] is more preferable, and 19 [mN / m] to 26 [ mN / m] is more preferable.

[濾過]
塗布に用いる塗布液は、塗布前に濾過することが好ましい。濾過のフィルターは、塗布液中の成分が除去されない範囲でできるだけ孔径の小さいものを使うことが好ましい。濾過には絶対濾過精度が0.1〜10μmのフィルターが用いられ、さらには絶対濾過精度が0.1〜5μmであるフィルターを用いることが好ましく用いられる。フィルターの厚さは、0.1〜10mmが好ましく、更には0.2〜2mmが好ましい。その場合、ろ過圧力は1.5MPa以下、より好ましくは1.0MPa以下、更には0.2MPa以下で濾過することが好ましい。
ろ過フィルター部材は、塗布液に影響を及ぼさなければ特に限定されない。具体的には、前記した無機化合物の湿式分散物のろ過部材と同様のものが挙げられる。
また、濾過した塗布液を、塗布直前に超音波分散して、脱泡、分散物の分散保持を補助することも好ましい。
[filtration]
The coating solution used for coating is preferably filtered before coating. As a filter for filtration, it is preferable to use a filter having a pore diameter as small as possible within a range in which components in the coating solution are not removed. For filtration, a filter having an absolute filtration accuracy of 0.1 to 10 μm is used, and a filter having an absolute filtration accuracy of 0.1 to 5 μm is preferably used. The thickness of the filter is preferably 0.1 to 10 mm, and more preferably 0.2 to 2 mm. In that case, the filtration pressure is preferably 1.5 MPa or less, more preferably 1.0 MPa or less, and further preferably 0.2 MPa or less.
The filtration filter member is not particularly limited as long as it does not affect the coating solution. Specifically, the same thing as the filtration member of the wet dispersion of an inorganic compound mentioned above is mentioned.
Further, it is also preferable that the filtered coating solution is ultrasonically dispersed immediately before coating to assist defoaming and dispersion holding of the dispersion.

本発明において、反射防止フィルム各層の硬化方法については、塗布組成物を塗布と同時、または塗布後に光照射、電子線ビーム照射や加熱することによる架橋反応、又は、重合反応により形成することが好ましい。
反射防止フィルムの各層が電離放射線硬化性の化合物の架橋反応、又は、重合反応により形成される場合、架橋反応、又は、重合反応は酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で実施することが好ましい。酸素濃度が10体積%以下の雰囲気で形成することにより、物理強度、耐薬品性に優れた最外層を得ることができる。
好ましくは酸素濃度が5体積%以下であり、更に好ましくは酸素濃度が1体積%以下、特に好ましくは酸素濃度が0.5体積%以下、最も好ましくは0.1体積%以下である。
In the present invention, the curing method for each layer of the antireflection film is preferably formed by applying a coating composition at the same time as coating, or by crosslinking reaction or polymerization reaction by light irradiation, electron beam irradiation or heating after coating. .
When each layer of the antireflection film is formed by a crosslinking reaction or a polymerization reaction of an ionizing radiation curable compound, the crosslinking reaction or the polymerization reaction is preferably performed in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less. By forming in an atmosphere having an oxygen concentration of 10% by volume or less, an outermost layer having excellent physical strength and chemical resistance can be obtained.
The oxygen concentration is preferably 5% by volume or less, more preferably 1% by volume or less, particularly preferably the oxygen concentration is 0.5% by volume or less, and most preferably 0.1% by volume or less.

酸素濃度を10体積%以下にする手法としては、大気(窒素濃度約79体積%、酸素濃度約21体積%)を別の気体で置換することが好ましく、特に好ましくは窒素で置換(窒素パージ)することである。
光照射の光源は、紫外線光域或いは近赤外線光のものであればいずれでもよく、紫外線光の光源として、超高圧、高圧、中圧、低圧の各水銀灯、ケミカルランプ、カーボンアーク灯、メタルハライド灯、キセノン灯、太陽光等が挙げられる。波長350〜420nmの入手可能な各種レーザー光源をマルチビーム化して照射してもよい。また、近赤外光光源としてはハロゲンランプ、キセノンランプ、高圧ナトリウムランプが挙げられ、波長750〜1400nmの入手可能な各種レーザー光源をマルチビーム化して照射してもよい。
近赤外光光源を用いる場合、紫外線光源と組み合わせて用いても良いし、或は塗布面側と反対の基材面側より光照射しても良い。塗膜層内の深さ方向での膜硬化が表面近傍と遅滞無く進行し均一な硬化状態の硬化膜が得られる。
照射する紫外線の照射強度は、0.1〜1000mW/cm2程度が好ましく、塗布膜表面上での光照射量は10〜1000mJ/cm2が好ましい。また、光照射工程での塗布膜の温度分布は、均一なほど好ましく、±3℃以内が好ましく、更には±1.5℃以内に制御されることが好ましい。この範囲において、塗布膜の面内および層内深さ方向での重合反応が均一に進行するので好ましい。
As a method of reducing the oxygen concentration to 10% by volume or less, it is preferable to replace the atmosphere (nitrogen concentration of about 79% by volume, oxygen concentration of about 21% by volume) with another gas, particularly preferably replacement with nitrogen (nitrogen purge). It is to be.
The light source for light irradiation may be any ultraviolet light region or near-infrared light. Ultraviolet, high pressure, medium pressure, and low pressure mercury lamps, chemical lamps, carbon arc lamps, metal halide lamps may be used as ultraviolet light sources. Xenon lamps, sunlight, etc. Various available laser light sources having a wavelength of 350 to 420 nm may be irradiated as a multi-beam. Further, examples of the near-infrared light source include a halogen lamp, a xenon lamp, and a high-pressure sodium lamp. Various available laser light sources having a wavelength of 750 to 1400 nm may be irradiated in a multi-beam form.
When using a near-infrared light source, it may be used in combination with an ultraviolet light source, or may be irradiated from the substrate surface side opposite to the coating surface side. Film curing in the depth direction in the coating layer proceeds without delay with the vicinity of the surface, and a cured film in a uniform cured state is obtained.
Irradiation intensity of ultraviolet irradiation is preferably about 0.1~1000mW / cm 2, irradiation amount on the coating film surface is preferably 10~1000mJ / cm 2. Further, the temperature distribution of the coating film in the light irradiation step is preferably as uniform as possible, preferably within ± 3 ° C., and more preferably controlled within ± 1.5 ° C. Within this range, the polymerization reaction in the in-plane and in-layer depth directions of the coating film proceeds uniformly, which is preferable.

[ダイコーターの構成]
図3は本発明を実施したスロットダイを用いたコーターの断面図である。コーター10はバックアップロール11に支持されて連続走行するウェブWに対して、スロットダイ13から塗布液14をビード14aにして塗布することにより、ウェブW上に塗膜14bを形成する。
[Configuration of die coater]
FIG. 3 is a sectional view of a coater using a slot die embodying the present invention. The coater 10 is applied to the web W supported by the backup roll 11 and continuously applied from the slot die 13 as a bead 14a to form a coating film 14b on the web W.

スロットダイ13の内部にはポケット15、スロット16が形成されている。ポケット15は、その断面が曲線及び直線で構成されており、例えば図3に示すような略円形でもよいし、あるいは半円形でもよい。ポケット15は、スロットダイ13の幅方向にその断面形状をもって延長された塗布液の液溜め空間で、その有効延長の長さは、塗布幅と同等か若干長めにするのが一般的である。ポケット15への塗布液14の供給は、スロットダイ13の側面から、あるいはスロット開口部16aとは反対側の面中央から行う。また、ポケット15には塗布液14が漏れ出ることを防止する栓が設けられている。   Inside the slot die 13, a pocket 15 and a slot 16 are formed. The pocket 15 has a curved section and a straight section, and may be substantially circular as shown in FIG. 3, for example, or semicircular. The pocket 15 is a liquid storage space for the coating liquid extended in the width direction of the slot die 13 with its cross-sectional shape, and the length of the effective extension is generally equal to or slightly longer than the coating width. The supply of the coating liquid 14 to the pocket 15 is performed from the side surface of the slot die 13 or from the center of the surface opposite to the slot opening 16a. The pocket 15 is provided with a stopper that prevents the coating liquid 14 from leaking out.

スロット16は、ポケット15からウェブWへの塗布液14の流路であり、ポケット15と同様にスロットダイ13の幅方向にその断面形状をもち、ウェブ側に位置する開口部16aは、一般に、図示しない幅規制板のようなものを用いて、概ね塗布幅と同じ長さの幅になるように調整する。このスロット16のスロット先端における、バックアップロール11のウェブ走行方向の接線とのなす角は、30°以上90°以下が好ましい。   The slot 16 is a flow path of the coating liquid 14 from the pocket 15 to the web W, and has a cross-sectional shape in the width direction of the slot die 13 like the pocket 15, and the opening 16a located on the web side is generally Using a width regulating plate (not shown), the width is adjusted to be approximately the same as the coating width. The angle between the slot tip of the slot 16 and the tangent in the web running direction of the backup roll 11 is preferably 30 ° or more and 90 ° or less.

スロット16の開口部16aが位置するスロットダイ13の先端リップ17は先細り状に形成されており、その先端はランドと呼ばれる平坦部18とされている。このランド18であって、スロット16に対してウェブWの進行方向の上流側を上流側リップランド18a、下流側を下流側リップランド18bと称する。   The tip lip 17 of the slot die 13 where the opening 16a of the slot 16 is located is tapered, and the tip is a flat part 18 called a land. In the land 18, the upstream side in the traveling direction of the web W with respect to the slot 16 is referred to as an upstream lip land 18 a and the downstream side is referred to as a downstream lip land 18 b.

図4は、スロットダイ13の断面形状を従来のものと比較して示すもので、(A)は本発明のスロットダイ13を示し、(B)は従来のスロットダイ30を示している。従来のスロットダイ30では、上流側リップランド31aと下流側リップランド31bのウェブとの距離は等しい。なお、符号32はポケット、33はスロットを示している。これに対して、本発明のスロットダイ13では、下流側リップランド長さILOが短くされており、これによって、湿潤膜厚が20μm以下の塗布を精度良くおこなうことができる。 4A and 4B show the cross-sectional shape of the slot die 13 in comparison with the conventional one. FIG. 4A shows the slot die 13 of the present invention, and FIG. 4B shows the conventional slot die 30. In the conventional slot die 30, the distance between the upstream lip land 31a and the web of the downstream lip land 31b is equal. Reference numeral 32 denotes a pocket, and 33 denotes a slot. On the other hand, in the slot die 13 of the present invention, the downstream side lip land length I LO is shortened, whereby the wet film thickness of 20 μm or less can be applied with high accuracy.

上流側リップランド18aのランド長さIUPは特に限定はされないが、500μm〜1mmの範囲で好ましく用いられる。下流側リップランド18bのランド長さILOは30μm以上100μm以下であり、好ましくは30μm以上80μm以下、さらに好ましくは30μm以上60μm以下である。下流側リップのランド長さILO が30μmよりも短い場合は、先端リップのエッジあるいはランドが欠けやすく、塗膜にスジが発生しやすくなり、結果的には塗布が不可能になる。また、下流側の濡れ線位置の設定が困難になり、塗布液が下流側で広がりやすくなるという問題も発生する。この下流側での塗布液の濡れ広がりは、濡れ線の不均一化を意味し、塗布面上にスジなどの不良形状を招くという問題につながることが従来より知られている。一方、下流側リップのランド長さILOが100μmよりも長い場合は、ビードそのものを形成することができないために、薄層塗布を行うことは不可能である。 The land length I UP of the upstream lip land 18a is not particularly limited, but is preferably used in the range of 500 μm to 1 mm. The land length I LO of the downstream lip land 18b is not less than 30 μm and not more than 100 μm, preferably not less than 30 μm and not more than 80 μm, more preferably not less than 30 μm and not more than 60 μm. If the land length I LO of the downstream lip is shorter than 30 μm, the edge or land of the tip lip is likely to be chipped, streaks are likely to occur in the coating film, and consequently application is impossible. In addition, it becomes difficult to set the position of the wetting line on the downstream side, and there is a problem that the coating liquid tends to spread on the downstream side. It has been conventionally known that this spreading of the coating solution on the downstream side means non-uniform wetting lines and leads to a problem of causing a defective shape such as a streak on the coating surface. On the other hand, when the land length I LO of the downstream lip is longer than 100 μm, the bead itself cannot be formed, so that it is impossible to apply the thin layer.

さらに、下流側リップランド18bは、上流側リップランド18aよりもウェブWに近接したオーバーバイト形状であり、このため減圧度を下げることができて薄膜塗布に適したビード形成が可能となる。下流側リップランド18bと上流側リップランド18aのウェブWとの距離の差(以下、オーバーバイト長さLOと称する)は30μm以上120μm以下が好ましく、さらに好ましくは30μm以上100μm以下、もっとも好ましくは30μm以上80μm以下である。スロットダイ13がオーバーバイト形状のとき、先端リップ17とウェブWの隙間GL とは、下流側リップランド18bとウェブWの隙間を示す。 Further, the downstream lip land 18b has an overbite shape closer to the web W than the upstream lip land 18a. Therefore, the degree of decompression can be lowered, and a bead suitable for thin film coating can be formed. The difference in distance between the downstream side lip land 18b and the web W of the upstream side lip land 18a (hereinafter referred to as overbit length LO) is preferably 30 μm or more and 120 μm or less, more preferably 30 μm or more and 100 μm or less, and most preferably 30 μm. It is 80 μm or less. When the slot die 13 has an overbite shape, the gap GL between the tip lip 17 and the web W indicates the gap between the downstream lip land 18b and the web W.

図5は、本発明を実施した塗布工程のスロットダイ及びその周辺を示す斜視図である。 ウェブWの進行方向側とは反対側に、ビード14aに対して十分な減圧調整を行えるよう、接触しない位置に減圧チャンバー40を設置する。減圧チャンバー40は、その作動効率を保持するためのバックプレート40aとサイドプレート40bを備えており、バックプレート40aとウェブWの間、サイドプレート40bとウェブWの間にはそれぞれ隙間GB 、GS が存在する。図6及び図7は、近接している減圧チャンバー40とウェブWを示す断面図である。サイドプレートとバックプレートは図6のようにチャンバー本体と一体のものであってもよいし、図7のように適宜隙間を変えられるようにチャンバーにネジ40cなどで留められている構造でもよい。いかなる構造でも、バックプレート40aとウェブWの間、サイドプレート40bとウェブWの間に実際にあいている部分を、それぞれ隙間GB 、GS と定義する。減圧チャンバー40のバックプレート40aとウェブWとの隙間GB とは、減圧チャンバー40を図5のようにウェブW及びスロットダイ13の下方に設置した場合、バックプレート40aの最上端からウェブWまでの隙間を示す。 FIG. 5 is a perspective view showing a slot die and its periphery in a coating process in which the present invention is implemented. On the opposite side of the web W in the direction of travel, a decompression chamber 40 is installed at a position where it does not come into contact with the bead 14a so that sufficient decompression can be adjusted. The decompression chamber 40 includes a back plate 40a and a side plate 40b for maintaining its operating efficiency, and there are gaps G B and G between the back plate 40a and the web W and between the side plate 40b and the web W, respectively. S exists. 6 and 7 are sectional views showing the decompression chamber 40 and the web W that are close to each other. The side plate and the back plate may be integrated with the chamber main body as shown in FIG. 6, or may have a structure fastened to the chamber with screws 40c or the like so that the gap can be appropriately changed as shown in FIG. In any structure, portions that are actually opened between the back plate 40a and the web W and between the side plate 40b and the web W are defined as gaps G B and G S , respectively. The gap G B between the back plate 40a and the web W of the decompression chamber 40, when the vacuum chamber 40 is installed beneath the web W and the slot die 13 as shown in FIG. 5, the uppermost end of the back plate 40a to the web W Indicates the gap.

バックプレート40aとウェブWとの隙間GB をスロットダイ13の先端リップ17とウェブWとの隙間GL よりも大きくして設置するのが好ましく、これによりバックアップロール11の偏心に起因するビード近傍の減圧度変化を抑制することができる。例えば、スロットダイ13の先端リップ17とウェブWとの隙間GL が30μm以上100μm以下のとき、バックプレート40aとウェブWの間の隙間GB は100μm以上500μm以下が好ましい。 Is preferably placed in the gap G B between the back plate 40a and the web W is larger than the gap G L between the end lip 17 and the web W of the slot die 13, beads vicinity due to the eccentricity of the backup roll 11 thereby The change in the degree of decompression can be suppressed. For example, when the gap G L between the end lip 17 and the web W of the slot die 13 is 30μm or more 100μm or less, the gap G B between the back plate 40a and the web W is preferably 100μm or 500μm or less.

[材質、精度]
前記ウェブの進行方向側の先端リップのウェブ走行方向における長さは、長いほどビード形成に不利であり、この長さがスロットダイ幅方向における任意の個所間でばらつくと、かすかな外乱によりビードが不安定になる。したがって、この長さをスロットダイ幅方向における変動幅が20μm以内とすることが好ましい。
また、スロットダイの先端リップの材質については、ステンレス鋼などのような材質を用いるとダイ加工の段階でだれてしまい、前記のようにスロットダイ先端リップのウェブ走行方向における長さを30μm〜100μmの範囲にしても、先端リップの精度を満足できない。したがって、高い加工精度を維持するためには、特許第2817053号公報に記載されているような超硬材質のものを用いることが重要である。具体的には、スロットダイの少なくとも先端リップを、平均粒径5μm以下の炭化物結晶を結合してなる超硬合金にすることが好ましい。超硬合金としては、タングステンカーバイド(以下、WCと称す)などの炭化物結晶粒子をコバルトなどの結合金属によって結合したものなどがあり、結合金属としては他にチタン、タンタル、ニオブ及びこれらの混合金属を用いることも出来る。WC結晶の平均粒径としては、粒径3μm以下がさらに好ましい。
高精度な塗布を実現するためには、先端リップのウェブ進行方向側のランドの前記長さ及びウェブとの隙間のスロットダイ幅方向のばらつきも重要な因子となる。この二つの因子の組み合わせ、つまり隙間の変動幅をある程度抑えられる範囲内の真直度を達成することが望ましい。好ましくは、前記隙間のスロットダイ幅方向における変動幅が5μm以下になるように先端リップとバックアップロールの真直度を出す。
[Material and accuracy]
The longer the length of the tip lip on the traveling direction side of the web in the web running direction, the more disadvantageous it is for bead formation.If this length varies between arbitrary locations in the slot die width direction, It becomes unstable. Therefore, it is preferable that the fluctuation width in the slot die width direction is within 20 μm.
Further, if the material of the tip lip of the slot die is made of a material such as stainless steel, the length of the slot die tip lip in the web running direction is 30 μm to 100 μm as described above. Even within this range, the accuracy of the tip lip cannot be satisfied. Therefore, in order to maintain a high processing accuracy, it is important to use a cemented carbide material as described in Japanese Patent No. 2810753. Specifically, at least the tip lip of the slot die is preferably made of a cemented carbide formed by bonding carbide crystals having an average particle size of 5 μm or less. Cemented carbides include carbide carbide particles such as tungsten carbide (hereinafter referred to as WC) bonded by a bonding metal such as cobalt, and other bonding metals include titanium, tantalum, niobium, and mixed metals thereof. Can also be used. The average particle size of the WC crystal is more preferably 3 μm or less.
In order to realize high-precision coating, the length of the land on the web traveling direction side of the tip lip and the variation in the slot die width direction of the gap with the web are also important factors. It is desirable to achieve a combination of these two factors, that is, straightness within a range in which the fluctuation range of the gap can be suppressed to some extent. Preferably, the straightness of the tip lip and the backup roll is set so that the fluctuation width of the gap in the slot die width direction is 5 μm or less.

[塗布速度]
上記の様なバックアップロール及び先端リップの精度を達成することにより、本発明の塗布方式は高速塗布時における膜厚の安定性が高い。さらに、本発明の塗布方式は前計量方式であるために高速塗布時でも安定した膜厚の確保が容易である。本発明の反射防止フィルムの様な低塗布量の塗布液に対して、本発明の塗布方式は高速で膜厚安定性良く塗布が可能である。他の塗布方式でも塗布は可能であるが、ディップコート法は液受け槽中の塗布液振動が不可避であり、段状のムラが発生しやすい。リバースロールコート法、マイクログラビア法では、塗布に関連するロールの偏芯やたわみにより段状のムラが発生しやすい。また、マイクログラビア法ではグラビアロールの製作精度や、ブレードとグラビアロールの当たりによるロールやブレードの経時変化により塗布量ムラを発生しやすい。また、これらの塗布方式は後計量方式であるため、安定した膜厚の確保が困難である。本発明の製造方法を用いることで25m/min以上で塗布することが生産性の面から好ましい。
[Application speed]
By achieving the accuracy of the backup roll and the tip lip as described above, the coating method of the present invention has high film thickness stability during high-speed coating. Furthermore, since the coating method of the present invention is a pre-measuring method, it is easy to ensure a stable film thickness even during high-speed coating. The coating method of the present invention can be applied at high speed and with good film thickness stability to a coating solution having a low coating amount such as the antireflection film of the present invention. Although application is possible by other application methods, the dip coating method inevitably causes vibration of the application liquid in the liquid receiving tank, and stepped unevenness is likely to occur. In the reverse roll coating method and the micro gravure method, stepped unevenness is likely to occur due to roll eccentricity and deflection related to coating. Also, in the microgravure method, uneven coating amount tends to occur due to the manufacturing accuracy of the gravure roll and the change of the roll and the blade due to the contact between the blade and the gravure roll. Moreover, since these coating methods are post-measuring methods, it is difficult to ensure a stable film thickness. From the viewpoint of productivity, it is preferable to apply at a rate of 25 m / min or more by using the production method of the present invention.

本発明の偏光板は、偏光層の2枚の保護フィルムのうち少なくとも1枚に上記反射防止フィルムを用いてなる。本発明の反射防止フィルムを最表層に使用することにより、外光の映り込み等が防止され、耐傷性、防汚性等も優れた偏光板とすることができる。また、本発明の偏光板において反射防止フィルムが保護フィルムを兼ねることで、製造コストを低減できる。   The polarizing plate of the present invention uses the antireflection film as at least one of the two protective films of the polarizing layer. By using the antireflection film of the present invention as the outermost layer, reflection of external light and the like can be prevented, and a polarizing plate excellent in scratch resistance, antifouling property and the like can be obtained. Moreover, in the polarizing plate of this invention, when an antireflection film serves as a protective film, manufacturing cost can be reduced.

本発明の反射防止フィルムは、液晶表示装置(LCD)、プラズマディスプレイパネル(PDP)、エレクトロルミネッセンスディスプレイ(ELD)や陰極管表示装置(CRT)のような画像表示装置に適用することができる。本発明の反射防止フィルムは透明支持体を有しているので、透明支持体側を画像表示装置の画像表示面に接着して用いられる。   The antireflection film of the present invention can be applied to an image display device such as a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), an electroluminescence display (ELD), or a cathode ray tube display device (CRT). Since the antireflection film of the present invention has a transparent support, the transparent support side is adhered to the image display surface of the image display device.

本発明の反射防止フィルムは、偏光膜の表面保護フィルムの片側として用いた場合、ツイステットネマチック(TN)、スーパーツイステットネマチック(STN)、バーティカルアライメント(VA)、インプレインスイッチング(IPS)、オプティカリーコンペンセイテットベンドセル(OCB)等のモードの透過型、反射型、または半透過型の液晶表示装置に好ましく用いることができる。   The antireflection film of the present invention, when used as one side of the surface protective film of the polarizing film, is twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), vertical alignment (VA), in-plane switching (IPS), optical It can be preferably used for a transmissive, reflective, or transflective liquid crystal display device of a mode such as a curry compensate bend cell (OCB).

VAモードの液晶セルには、(1)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直に配向させ、電圧印加時に実質的に水平に配向させる狭義のVAモードの液晶セル(特開平2−176625号公報記載)に加えて、(2)視野角拡大のため、VAモードをマルチドメイン化した(MVAモードの)液晶セル(SID97、Digest of tech. Papers(予稿集)28(1997)845記載)、(3)棒状液晶性分子を電圧無印加時に実質的に垂直配向させ、電圧印加時にねじれマルチドメイン配向させるモード(n−ASMモード)の液晶セル(日本液晶討論会の予稿集58〜59(1998)記載)および(4)SURVAIVALモードの液晶セル(LCDインターナショナル98で発表)が含まれる。   The VA mode liquid crystal cell includes (1) a narrowly defined VA mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned substantially vertically when no voltage is applied, and substantially horizontally when a voltage is applied (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 2-). 176625 (in Japanese Patent Publication No. 176625), and (2) a liquid crystal cell (SID97, Digest of tech. Papers (Proceedings) 28 (1997) 845 in which the VA mode is converted into a multi-domain (MVA mode) for widening the viewing angle ), (3) A liquid crystal cell in a mode (n-ASM mode) in which rod-like liquid crystalline molecules are substantially vertically aligned when no voltage is applied and twisted multi-domain alignment is applied when a voltage is applied (Preliminary collections 58-59 of the Japan Liquid Crystal Society) (1998)) and (4) SURVAVAL mode liquid crystal cells (announced at LCD International 98).

OCBモードの液晶セルは、棒状液晶性分子を液晶セルの上部と下部とで実質的に逆の方向に(対称的に)配向させるベンド配向モードの液晶セルを用いた液晶表示装置であり、米国特許4583825号、同5410422号の各明細書に開示されている。棒状液晶性分子が液晶セルの上部と下部とで対称的に配向しているため、ベンド配向モードの液晶セルは自己光学補償機能を有する。そのため、この液晶モードは、OCB(Optically Compensatory Bend) 液晶モードとも呼ばれる。ベンド配向モードの液晶表示装置は、応答速度が速いとの利点がある。   The OCB mode liquid crystal cell is a liquid crystal display device using a bend alignment mode liquid crystal cell in which rod-like liquid crystalline molecules are aligned in a substantially opposite direction (symmetrically) between the upper part and the lower part of the liquid crystal cell. It is disclosed in the specifications of Japanese Patent Nos. 45882525 and 5410422. Since the rod-like liquid crystal molecules are symmetrically aligned at the upper and lower portions of the liquid crystal cell, the bend alignment mode liquid crystal cell has a self-optical compensation function. Therefore, this liquid crystal mode is also referred to as an OCB (Optically Compensatory Bend) liquid crystal mode. The bend alignment mode liquid crystal display device has an advantage of high response speed.

ECBモードの液晶セルでは、電圧無印加時に棒状液晶性分子が実質的に水平配向しており、カラーTFT液晶表示装置として最も多く利用されており、多数の文献に記載がある。例えば「EL、PDP、LCDディスプレイ」東レリサーチセンター発行(2001)などに記載されている。   In an ECB mode liquid crystal cell, rod-like liquid crystal molecules are substantially horizontally aligned when no voltage is applied, and is most frequently used as a color TFT liquid crystal display device, and is described in many documents. For example, it is described in “EL, PDP, LCD display” published by Toray Research Center (2001).

特にTNモードやIPSモードの液晶表示装置に対しては、特開2001-100043号公報等に記載されているように、視野角拡大効果を有する光学補償フィルムを偏光膜の裏表2枚の保護フィルムの内の本発明の反射防止フィルムとは反対側の面に用いることにより、1枚の偏光板の厚みで反射防止効果と視野角拡大効果を有する偏光板を得ることができ、特に好ましい。   In particular, for a TN mode or IPS mode liquid crystal display device, as described in JP-A-2001-100043, an optical compensation film having a viewing angle expansion effect is used as a protective film having two polarizing films on both sides. Of these, a polarizing plate having an antireflection effect and a viewing angle widening effect can be obtained with the thickness of one polarizing plate by using it on the surface opposite to the antireflection film of the present invention.

本発明を詳細に説明するために、以下に実施例を挙げて説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。なお、特別の断りの無い限り、「部」及び「%」は質量基準である。   In order to describe the present invention in detail, examples will be described below, but the present invention is not limited thereto. Unless otherwise specified, “part” and “%” are based on mass.

(パーフルオロオレフィン共重合体(1)の合成)   (Synthesis of perfluoroolefin copolymer (1))

Figure 0004914564
Figure 0004914564

内容量100mlのステンレス製撹拌機付オートクレーブに酢酸エチル40ml、ヒドロキシエチルビニルエーテル14.7gおよび過酸化ジラウロイル0.55gを仕込み、系内を脱気して窒素ガスで置換した。さらにヘキサフルオロプロピレン(HFP)25gをオートクレーブ中に導入して65℃まで昇温した。オートクレーブ内の温度が65℃に達した時点の圧力は0.53MPaであった。該温度を保持し8時間反応を続け、圧力が0.31MPaに達した時点で加熱をやめ放冷した。室温まで内温が下がった時点で未反応のモノマーを追い出し、オートクレーブを開放して反応液を取り出した。得られた反応液を大過剰のヘキサンに投入し、デカンテーションにより溶剤を除去することにより沈殿したポリマーを取り出した。さらにこのポリマーを少量の酢酸エチルに溶解してヘキサンから2回再沈殿を行うことによって残存モノマーを完全に除去した。乾燥後ポリマー28gを得た。次に該ポリマーの20gをN,N−ジメチルアセトアミド100mlに溶解、氷冷下アクリル酸クロライド11.4gを滴下した後、室温で10時間攪拌した。反応液に酢酸エチルを加え水洗、有機層を抽出後濃縮し、得られたポリマーをヘキサンで再沈殿させることによりパーフルオロオレフィン共重合体(1)を19g得た。得られたポリマーの屈折率は1.421であった。   Into a stainless steel autoclave with a stirrer of 100 ml, 40 ml of ethyl acetate, 14.7 g of hydroxyethyl vinyl ether and 0.55 g of dilauroyl peroxide were charged, and the inside of the system was deaerated and replaced with nitrogen gas. Furthermore, 25 g of hexafluoropropylene (HFP) was introduced into the autoclave and the temperature was raised to 65 ° C. The pressure when the temperature in the autoclave reached 65 ° C. was 0.53 MPa. The reaction was continued for 8 hours while maintaining the temperature, and when the pressure reached 0.31 MPa, the heating was stopped and the mixture was allowed to cool. When the internal temperature dropped to room temperature, unreacted monomers were driven out, the autoclave was opened, and the reaction solution was taken out. The obtained reaction solution was poured into a large excess of hexane, and the polymer was precipitated by removing the solvent by decantation. Further, this polymer was dissolved in a small amount of ethyl acetate and reprecipitated twice from hexane to completely remove the residual monomer. After drying, 28 g of polymer was obtained. Next, 20 g of the polymer was dissolved in 100 ml of N, N-dimethylacetamide, and 11.4 g of acrylic acid chloride was added dropwise under ice cooling, followed by stirring at room temperature for 10 hours. Ethyl acetate was added to the reaction solution, washed with water, the organic layer was extracted and concentrated, and the resulting polymer was reprecipitated with hexane to obtain 19 g of perfluoroolefin copolymer (1). The resulting polymer had a refractive index of 1.421.

(ゾル液aの調製)
攪拌機、還流冷却器を備えた反応器、メチルエチルケトン120部、アクリロイルオキシプロピルトリメトキシシラン(KBM−5103、信越化学工業(株)製)100部、ジイソプロポキシアルミニウムエチルアセトアセテート(商品名:ケロープEP−12、ホープ製薬(株)製)3部を加え混合したのち、イオン交換水30部を加え、60℃で4時間反応させたのち、室温まで冷却し、ゾル液aを得た。質量平均分子量は1600であり、オリゴマー成分以上の成分のうち、分子量が1000〜20000の成分は100%であった。また、ガスクロマトグラフィー分析から、原料のアクリロイルオキシプロピルトリメトキシシランは全く残存していなかった。
(Preparation of sol solution a)
A stirrer, a reactor equipped with a reflux condenser, 120 parts of methyl ethyl ketone, 100 parts of acryloyloxypropyltrimethoxysilane (KBM-5103, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.), diisopropoxyaluminum ethyl acetoacetate (trade name: Kerope EP) -12, manufactured by HOPE PHARMACEUTICAL CO., LTD.) After mixing and mixing, 30 parts of ion-exchanged water was added and reacted at 60 ° C. for 4 hours, and then cooled to room temperature to obtain sol solution a. The mass average molecular weight was 1600, and among the components higher than the oligomer component, the component having a molecular weight of 1000 to 20000 was 100%. Further, from the gas chromatography analysis, the raw material acryloyloxypropyltrimethoxysilane did not remain at all.

(ハードコート層用塗布液Aの調製)
PET−30 50.0質量部
イルガキュア184 2.0質量部
SX−350(30%) 1.7質量部
架橋アクリル−スチレン粒子(30%) 13.3質量部
FP−132 0.75質量部
KBM−5103 10.0質量部
トルエン 38.5質量部
(Preparation of coating liquid A for hard coat layer)
PET-30 50.0 parts by mass Irgacure 184 2.0 parts by mass SX-350 (30%) 1.7 parts by mass Crosslinked acrylic-styrene particles (30%) 13.3 parts by mass FP-132 0.75 parts by mass KBM -5103 10.0 parts by mass Toluene 38.5 parts by mass

(ハードコート層用塗布液Bの調製)
デソライトZ7404 100質量部
(ジルコニア微粒子含有ハードコート組成液:JSR(株)製)
DPHA (UV硬化性樹脂:日本化薬(株)製) 31質量部
KBM−5103 10質量部
KE−P150 (1.5μmシリカ粒子:日本触媒(株)製) 8.9質量部
MXS−300 (3μm架橋PMMA粒子:綜研化学(株)製)3.4質量部
MEK(メチルエチルケトン) 29質量部
MIBK(メチルイソブチルケトン) 13質量部
(Preparation of coating liquid B for hard coat layer)
Desolite Z7404 100 parts by mass (Zirconia fine particle-containing hard coat composition solution: manufactured by JSR Corporation)
DPHA (UV curable resin: manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) 31 parts by mass KBM-5103 10 parts by mass KE-P150 (1.5 μm silica particles: manufactured by Nippon Shokubai Co., Ltd.) 8.9 parts by mass MXS-300 ( 3 μm cross-linked PMMA particles: manufactured by Soken Chemical Co., Ltd.) 3.4 parts by mass MEK (methyl ethyl ketone) 29 parts by mass MIBK (methyl isobutyl ketone) 13 parts by mass

(ハードコート層用塗布液Cの調製)
トリメチロールプロパントリアクリレート(TMPTA、日本化薬(株)製)750.0質量部に、質量平均分子量15000のポリ(グリシジルメタクリレート)270.0質量部、メチルエチルケトン730.0質量部、シクロヘキサノン500.0質量部及び光重合開始剤(イルガキュア184、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)50.0質量部を添加して攪拌した。
(Preparation of coating liquid C for hard coat layer)
750.0 parts by mass of trimethylolpropane triacrylate (TMPTA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 270.0 parts by mass of poly (glycidyl methacrylate) having a mass average molecular weight of 15000, 730.0 parts by mass of methyl ethyl ketone, 500.0 cyclohexanone 50.0 parts by mass and 50.0 parts by mass of a photopolymerization initiator (Irgacure 184, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) were added and stirred.

上記塗布液AおよびBは孔径30μm、Cは孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターでろ過してハードコート層の塗布液を調製した。   The coating solutions A and B were filtered through a polypropylene filter having a pore size of 30 μm, and C was a pore size of 0.4 μm to prepare a coating solution for a hard coat layer.

(二酸化チタン微粒子分散液の調製)
二酸化チタン微粒子としては、コバルトを含有し、かつ水酸化アルミニウムと水酸化ジルコニウムを用いて表面処理を施した二酸化チタン微粒子(MPT−129C、石原産業(株)製、TiO2:Co34:Al23:ZrO2=90.5:3.0:4.0:0.5質量比)を使用した。
この粒子257.1質量部に、下記分散剤41.1質量部、およびシクロヘキサノン701.8質量部を添加してダイノミルにより分散し、質量平均径70nmの二酸化チタン分散液を調製した。
(Preparation of titanium dioxide fine particle dispersion)
As the titanium dioxide fine particles, titanium dioxide fine particles (MPT-129C, manufactured by Ishihara Sangyo Co., Ltd., TiO 2 : Co 3 O 4 : containing cobalt and subjected to surface treatment using aluminum hydroxide and zirconium hydroxide: Al 2 O 3 : ZrO 2 = 90.5: 3.0: 4.0: 0.5 mass ratio) was used.
The following dispersant (41.1 parts by mass) and cyclohexanone (701.8 parts by mass) were added to 257.1 parts by mass of the particles and dispersed by dynomill to prepare a titanium dioxide dispersion having a mass average diameter of 70 nm.

分散剤

Figure 0004914564
Dispersant
Figure 0004914564

(中屈折率層用塗布液Aの調製)
上記の二酸化チタン分散液99.1質量部に、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA)68.0質量部、光重合開始剤(イルガキュア907、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)3.6質量部、光増感剤(カヤキュアーDETX、日本化薬(株)製)1.2質量部、メチルエチルケトン279.6質量部およびシクロヘキサノン1049.0質量部を添加して攪拌した。十分に攪拌ののち、孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターで濾過した。
(Preparation of coating liquid A for medium refractive index layer)
To 99.1 parts by mass of the above titanium dioxide dispersion, 68.0 parts by mass of a mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (DPHA), a photopolymerization initiator (Irgacure 907, Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.) )) 3.6 parts by mass, 1.2 parts by mass of photosensitizer (Kayacure DETX, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 279.6 parts by mass of methyl ethyl ketone and 1049.0 parts by mass of cyclohexanone were added and stirred. . After thorough stirring, the mixture was filtered through a polypropylene filter having a pore size of 0.4 μm.

(高屈折率層用塗布液Aの調製)
上記の二酸化チタン分散液A469.8質量部に、ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(DPHA、日本化薬(株)製)40.0質量部、光重合開始剤(イルガキュア907、チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)3.3質量部、光増感剤(カヤキュア-DETX、日本化薬(株)製)1.1質量部、メチルエチルケトン526.2質量部、およびシクロヘキサノン459.6質量部を添加して攪拌した。孔径0.4μmのポリプロピレン製フィルターで濾過した。
(Preparation of coating liquid A for high refractive index layer)
To 469.8 parts by mass of the above-mentioned titanium dioxide dispersion A, 40.0 parts by mass of a mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (DPHA, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), a photopolymerization initiator (Irgacure 907) 3.3 parts by mass, manufactured by Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd., 1.1 parts by mass of photosensitizer (Kayacure-DETX, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), 526.2 parts by mass of methyl ethyl ketone, and cyclohexanone 459 .6 parts by mass was added and stirred. It filtered with the polypropylene filter with the hole diameter of 0.4 micrometer.

(低屈折率層用塗布液Aの調製)
DPHA 4.0質量部
中空シリカ(18.2%) 40.0質量部
イルガキュア907 0.2質量部
ゾル液a 6.2質量部
MEK 299.6質量部
(Preparation of coating solution A for low refractive index layer)
DPHA 4.0 parts by mass Hollow silica (18.2%) 40.0 parts by mass Irgacure 907 0.2 parts by mass Sol solution a 6.2 parts by mass MEK 299.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Bの調製)
DPHA 3.3質量部
中空シリカ(18.2%) 40.0質量部
RMS−033 0.7質量部
イルガキュア907 0.2質量部
ゾル液a 6.2質量部
MEK 299.6質量部
(Preparation of coating solution B for low refractive index layer)
DPHA 3.3 parts by mass Hollow silica (18.2%) 40.0 parts by mass RMS-033 0.7 parts by mass Irgacure 907 0.2 parts by mass Sol solution a 6.2 parts by mass MEK 299.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Cの調製)
JTA113(6%) 13.0質量部
MEK−ST−L 1.3質量部
ゾル液a 0.6質量部
MEK 5.0質量部
シクロヘキサノン 0.6質量部
(Preparation of coating solution C for low refractive index layer)
JTA113 (6%) 13.0 parts by mass MEK-ST-L 1.3 parts by mass Sol liquid a 0.6 parts by mass MEK 5.0 parts by mass Cyclohexanone 0.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Dの調製)
JN7228A(6%) 13.0質量部
MEK−ST−L 1.3質量部
ゾル液a 0.6質量部
MEK 5.0質量部
シクロヘキサノン 0.6質量部
(Preparation of coating solution D for low refractive index layer)
JN7228A (6%) 13.0 parts by mass MEK-ST-L 1.3 parts by mass Sol solution a 0.6 parts by mass MEK 5.0 parts by mass Cyclohexanone 0.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Eの調製)
JN7228A(6%) 100.0質量部
MEK−ST 4.3質量部
MEK−ST−L 5.1質量部
ゾル液a 2.2質量部
MEK 15.0質量部
シクロヘキサノン 3.6質量部
(Preparation of coating liquid E for low refractive index layer)
JN7228A (6%) 100.0 parts by mass MEK-ST 4.3 parts by mass MEK-ST-L 5.1 parts by mass Sol solution a 2.2 parts by mass MEK 15.0 parts by mass Cyclohexanone 3.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Fの調製)
例示化合物;P−1 14.0質量部
X-22-164C 0.42質量部
イルガキュア907 0.7質量部
MIBK 84.7質量部
(Preparation of coating solution F for low refractive index layer)
Exemplified compound: P-1 14.0 parts by mass X-22-164C 0.42 parts by mass Irgacure 907 0.7 parts by mass MIBK 84.7 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Gの調製)
テトラメトキシシラン30質量部とメタノール240質量部を4つ口反応フラスコに入れ、液温を30℃に保ちながら攪拌し、次いで、これに水6質量部に硝酸2質量部を加えた水溶液を加えて30℃で5時間攪拌し、シロキサンオリゴマーのアルコール溶液(溶液A)を得た。シロキサンオリゴマーのGPCによるエチレングリコール/ポリエチレンオキサイド換算の相対分子量は950であった。
(Preparation of coating solution G for low refractive index layer)
30 parts by mass of tetramethoxysilane and 240 parts by mass of methanol are put into a four-necked reaction flask and stirred while keeping the liquid temperature at 30 ° C. Then, an aqueous solution in which 2 parts by mass of nitric acid is added to 6 parts by mass of water is added. The mixture was stirred at 30 ° C. for 5 hours to obtain a siloxane oligomer alcohol solution (solution A). The relative molecular weight in terms of ethylene glycol / polyethylene oxide by GPC of the siloxane oligomer was 950.

別途、4つ口反応フラスコにメタノールを300質量部入れた後、シュウ酸30質量部を攪拌しながら混合した。この溶液を加熱し還流させながらテトラメトキシシラン30質量部及びトリデカフルオロオクチルトリメトキシシラン8質量部を滴下し5時間還流下で加熱した後、冷却し、フルオロアルキル構造及びポリシロキサン構造を有するフッ素化合物の溶液(溶液B)を得た。   Separately, 300 parts by mass of methanol was added to a four-necked reaction flask, and then 30 parts by mass of oxalic acid was mixed with stirring. While heating and refluxing this solution, 30 parts by mass of tetramethoxysilane and 8 parts by mass of tridecafluorooctyltrimethoxysilane were added dropwise, heated under reflux for 5 hours, cooled, and fluorine having a fluoroalkyl structure and a polysiloxane structure. A solution of the compound (Solution B) was obtained.

溶液A30質量部及び溶液B100質量部を攪拌混合して、混合塗工液中の固形分濃度が1質量%となるように酢酸ブチルにて希釈を行い低屈折率層用塗布液Gを得た。   30 parts by mass of solution A and 100 parts by mass of solution B were stirred and mixed, and diluted with butyl acetate so that the solid content concentration in the mixed coating solution was 1% by mass, thereby obtaining coating solution G for low refractive index layer. .

(低屈折率層用塗布液Hの調製)
溶液Aおよび溶液Bの調製は低屈折率層用塗布液Gと同様に行い、溶液A30質量部及び溶液B100質量部に更に水素末端ポリジメチルシロキサンDMS−H21(Gelest製)を1質量部、後述の中空シリカ粒子(18.2%)を80質量部加えて攪拌混合して、混合塗工液中の固形分濃度が1質量%となるように酢酸ブチルにて希釈を行い低屈折率層用塗布液Hを得た。
(Preparation of coating solution H for low refractive index layer)
Solution A and solution B were prepared in the same manner as the coating solution G for the low refractive index layer. 30 parts by mass of solution A and 100 parts by mass of solution B were further added with 1 part by mass of hydrogen-terminated polydimethylsiloxane DMS-H21 (manufactured by Gelest). 80 parts by mass of hollow silica particles (18.2%) were mixed with stirring, and diluted with butyl acetate so that the solid content concentration in the mixed coating liquid was 1% by mass. A coating solution H was obtained.

(低屈折率層用塗布液Iの調製)
DPHA 3.3質量部
中空シリカ(18.2%) 40.0質量部
RMS−033 0.7質量部
イルガキュア907 0.2質量部
ゾル液a 6.2質量部
MEK 159.6質量部
(Preparation of coating liquid I for low refractive index layer)
DPHA 3.3 parts by mass Hollow silica (18.2%) 40.0 parts by mass RMS-033 0.7 parts by mass Irgacure 907 0.2 parts by mass Sol liquid a 6.2 parts by mass MEK 159.6 parts by mass

(低屈折率層用塗布液Jの調製)
DPHA 3.3質量部
中空シリカ(18.2%) 40.0質量部
RMS−033 0.7質量部
イルガキュア907 0.2質量部
ゾル液a 6.2質量部
MEK 134.1質量部
シクロヘキサノン 165.5質量部
(Preparation of coating liquid J for low refractive index layer)
DPHA 3.3 parts by mass Hollow silica (18.2%) 40.0 parts by mass RMS-033 0.7 parts by mass Irgacure 907 0.2 parts by mass Sol solution a 6.2 parts by mass MEK 134.1 parts by mass Cyclohexanone 165 .5 parts by mass

上記溶液を攪拌後、孔径1μmのポリプロピレン製フィルターでろ過して、低屈折率層用塗布液を調製した。   The solution was stirred and then filtered through a polypropylene filter having a pore size of 1 μm to prepare a coating solution for a low refractive index layer.

それぞれ使用した化合物(文中で詳細な説明を省略したものについて)を以下に示す。
PET−30:ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレートの混合物(日本化薬(株)製)
イルガキュア184:重合開始剤(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)
SX−350:平均粒径3.5μm架橋ポリスチレン粒子(屈折率1.60、綜研化学(株)製、30%トルエン分散液。ポリトロン分散機にて10000rpmで20分間分散後使用)
架橋アクリル−スチレン粒子:平均粒径3.5μm(屈折率1.55、綜研化学(株)製、30%トルエン分散液)
FP−132:フッ素系表面改質剤
The compounds used (for which detailed descriptions are omitted in the text) are shown below.
PET-30: A mixture of pentaerythritol triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Irgacure 184: Polymerization initiator (Ciba Specialty Chemicals Co., Ltd.)
SX-350: Cross-linked polystyrene particles having an average particle size of 3.5 μm (refractive index: 1.60, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd., 30% toluene dispersion. Used after dispersion at 10,000 rpm for 20 minutes in a Polytron disperser)
Cross-linked acrylic-styrene particles: average particle size 3.5 μm (refractive index 1.55, manufactured by Soken Chemical Co., Ltd., 30% toluene dispersion)
FP-132: Fluorine surface modifier

Figure 0004914564
Figure 0004914564

KBM−5103:シランカップリング剤(信越化学工業(株)製)。
JN7228A:熱架橋性含フッ素ポリマー(屈折率1.42、固形分濃度6%、JSR(株)製)「オプスターJN−7228A:商品名」
JTA113:熱架橋性含フッ素ポリマー(屈折率1.44、固形分濃度6%、JSR(株)製)「オプスターJTA−113:商品名」
P−1:パーフルオロオレフィン共重合体(1)
DPHA:ジペンタエリスリトールペンタアクリレートとジペンタエリスリトールヘキサアクリレートの混合物(日本化薬(株)製)
MEK−ST−L:シリカゾル(シリカ、MEK−STの粒子サイズ違い、平均粒径45nm、固形分濃度30%、日産化学(株)製)
中空シリカ:KBM−5103表面修飾中空シリカゾル(CS−60;商品名、触媒化成工業(株)、屈折率1.31、平均粒径60nm、シェル厚み10nm、空隙率58%、固形分濃度20%をKBM−5103表面修飾し表面修飾率対シリカ30質量%としたもの。固形分濃度18.2%)
KF96−1000CS:ストレートシリコーン(信越化学工業(株)製)
X22−164C:反応性シリコーン(信越化学工業(株)製)
RMS−033:反応性シリコーン(Gelest(株)製)
R−2020:フルオロアルキルアクリレートモノマー(ダイキン(株)製)
R−3833:フルオロアルキルアクリレートモノマー(ダイキン(株)製)
FMS−121:フルオロアルキルシリコーン(Gelest(株)製)
イルガキュア907:光重合開始剤(チバ・スペシャルティ・ケミカルズ(株)製)
KBM-5103: Silane coupling agent (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.).
JN7228A: Thermally crosslinkable fluorine-containing polymer (refractive index 1.42, solid content concentration 6%, manufactured by JSR Corporation) “OPSTAR JN-7228A: trade name”
JTA113: Thermally crosslinkable fluorine-containing polymer (refractive index: 1.44, solid content concentration: 6%, manufactured by JSR Corporation) “OPSTAR JTA-113: trade name”
P-1: Perfluoroolefin copolymer (1)
DPHA: Mixture of dipentaerythritol pentaacrylate and dipentaerythritol hexaacrylate (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
MEK-ST-L: Silica sol (silica, MEK-ST particle size difference, average particle size 45 nm, solid content concentration 30%, manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd.)
Hollow silica: KBM-5103 surface-modified hollow silica sol (CS-60; trade name, Catalyst Chemical Industry Co., Ltd., refractive index 1.31, average particle size 60 nm, shell thickness 10 nm, porosity 58%, solid content concentration 20% KBM-5103 surface modified to give a surface modification rate of 30% by mass of silica (solid content concentration 18.2%)
KF96-1000CS: straight silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
X22-164C: Reactive silicone (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
RMS-033: Reactive silicone (manufactured by Gelest Co., Ltd.)
R-2020: Fluoroalkyl acrylate monomer (Daikin Co., Ltd.)
R-3833: Fluoroalkyl acrylate monomer (manufactured by Daikin Corporation)
FMS-121: Fluoroalkyl silicone (manufactured by Gelest Co., Ltd.)
Irgacure 907: Photopolymerization initiator (manufactured by Ciba Specialty Chemicals)

[実施例1]
(1−1)ハードコート層Aおよびハードコート層Cの塗設
支持体としてトリアセチルセルロースフィルム(TD80U、富士写真フイルム(株)製)をロール形態で巻き出して直接、上記のハードコート層用塗布液を線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、搬送速度30m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに酸素濃度が1.0体積%以下となるような窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、ハードコート層Aは照射量250mJ/cm2、ハードコート層Cは照射量300mJ/cm2の紫外線照射して塗布層を硬化させ、ハードコート層を形成し、巻き取った。硬化後、ハードコート層Aは厚さが6μmとなるようにハードコート層Cは厚さが8μmとなるようにグラビアロール回転数を調整した。
[Example 1]
(1-1) Coating of hard coat layer A and hard coat layer C As a support, a triacetyl cellulose film (TD80U, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) is unrolled in a roll form and used directly for the hard coat layer. Using a microgravure roll with a diameter of 50 mm and a doctor blade having a gravure pattern with a line number of 180 lines / inch and a depth of 40 μm and a doctor blade, the coating liquid was applied at a conveyance speed of 30 m / min, dried at 60 ° C. for 150 seconds, Further, using a 160 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge such that the oxygen concentration is 1.0 vol% or less, the illumination intensity is 400 mW / cm 2 and the hard coat layer A is irradiated. the amount 250 mJ / cm 2, the hard coat layer C to cure the coating layer by ultraviolet irradiation dose 300 mJ / cm 2, hard To form a coating layer, it was wound up. After curing, the rotation speed of the gravure roll was adjusted so that the hard coat layer A had a thickness of 6 μm and the hard coat layer C had a thickness of 8 μm.

(1−2)ハードコート層Bの塗設
支持体としてトリアセチルセルロースフィルム(TD80U、富士写真フイルム(株)製)をロール形態で巻き出して直接、上記のハードコート層用塗布液を線数135本/インチ、深度60μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、搬送速度10m/分の条件で塗布し、60℃で150秒乾燥の後、さらに酸素濃度が1.0体積%以下となるような窒素パージ下で160W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量250mJ/cm2の紫外線を照射して塗布層を硬化させ、ハードコート層を形成し、巻き取った。硬化後、ハードコート層の厚さが3.6μmとなるようにグラビアロール回転数を調整した。
(1-2) Coating of hard coat layer B A triacetyl cellulose film (TD80U, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) is unwound as a support in the form of a roll, and the above-mentioned coating liquid for hard coat layer is directly applied to the number of lines. Using a microgravure roll with a diameter of 50 mm having a gravure pattern of 135 lines / inch and a depth of 60 μm, and a doctor blade, the coating was performed at a conveyance speed of 10 m / min, dried at 60 ° C. for 150 seconds, and then an oxygen concentration of 1 Using a 160 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge of 0.0 vol% or less, irradiating ultraviolet rays with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 250 mJ / cm 2 The coating layer was cured to form a hard coat layer and wound up. After curing, the gravure roll rotation speed was adjusted so that the thickness of the hard coat layer was 3.6 μm.

(2)中屈折率層Aの塗設
ハードコート層まで塗設したトリアセチルセルロースフィルム(TD80UF、富士写真フイルム(株)製)を再び巻きだして、中屈折率層用塗布液を線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて塗布した。乾燥条件は90℃、30秒とし、紫外線硬化条件は酸素濃度が1.0体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら180W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量400mJ/cm2の照射量とした。塗布後の厚さ67nmになるようにグラビアロールの回転数を調節しながら中屈折率層を形成し、巻き取った。硬化後の中屈折率層は屈折率1.630であった。
(2) Coating of medium refractive index layer A A triacetyl cellulose film (TD80UF, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) coated up to the hard coat layer is unwound again, and the coating liquid for the medium refractive index layer has a line number of 180. Coating was performed using a micro gravure roll having a diameter of 50 mm and a gravure pattern having a thickness of 40 μm per inch and a doctor blade. Drying conditions were 90 ° C. and 30 seconds, and UV curing conditions were as follows: a 180 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) while purging with nitrogen so that the oxygen concentration was 1.0 vol% or less. The irradiance was 400 mW / cm 2 and the irradiation amount was 400 mJ / cm 2 . The medium refractive index layer was formed and wound up while adjusting the rotation speed of the gravure roll so that the thickness after application was 67 nm. The medium refractive index layer after curing had a refractive index of 1.630.

(3)高屈折率層Aの塗設
中屈折率層まで塗設したトリアセチルセルロースフィルム(TD80UF、富士写真フイルム(株)製)を再び巻きだして、高屈折率層用塗布液を線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて塗布した。乾燥条件は90℃、30秒とし、紫外線硬化条件は酸素濃度が1.0体積%以下の雰囲気になるように窒素パージしながら240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度600mW/cm2、照射量400mJ/cm2の照射量とした。塗布後の厚さ107nmになるようにグラビアロールの回転数を調節しながら高屈折率層を形成し、巻き取った。硬化後の高屈折率層は屈折率1.905であった。
(3) Coating of the high refractive index layer A The triacetyl cellulose film (TD80UF, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.) coated up to the middle refractive index layer is unwound again, and the coating liquid for the high refractive index layer is added to the number of lines. Coating was performed using a micro gravure roll having a diameter of 50 mm and a gravure pattern of 180 lines / inch and a depth of 40 μm and a doctor blade. Drying conditions were 90 ° C. and 30 seconds, and ultraviolet curing conditions were 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) while purging with nitrogen so that the atmosphere had an oxygen concentration of 1.0 volume% or less. The irradiance was 600 mW / cm 2 and the irradiation amount was 400 mJ / cm 2 . A high refractive index layer was formed and wound up while adjusting the rotation speed of the gravure roll so that the thickness after coating was 107 nm. The high refractive index layer after curing had a refractive index of 1.905.

(4−1)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式A」
ハードコート層もしくは高屈折率層まで塗設したトリアセチルセルロースフィルムを再び巻き出して、上記低屈折率層用塗布液を線数180本/インチ、深度40μmのグラビアパターンを有する直径50mmのマイクログラビアロールとドクターブレードを用いて、搬送速度15m/分の条件で塗布し、120℃で150秒で前乾燥の後、更に140℃で8分、後乾燥させてから酸素濃度が0.1体積%以下となるような窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量900mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmになるようにグラビアロールの回転数を調節しながら低屈折率層を形成し、巻き取った。
(4-1) Coating of low refractive index layer “Coating curing method A”
The triacetyl cellulose film coated up to the hard coat layer or the high refractive index layer is unwound again, and the above-mentioned coating solution for the low refractive index layer is a microgravure having a diameter of 180 lines / inch and a gravure pattern with a depth of 40 μm and a diameter of 50 mm. Using a roll and a doctor blade, it was applied at a transfer speed of 15 m / min, pre-dried at 120 ° C. for 150 seconds, and further post-dried at 140 ° C. for 8 minutes, and the oxygen concentration was 0.1% by volume. Using a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (manufactured by Eye Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge such as the following, an ultraviolet ray with an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 900 mJ / cm 2 is irradiated to a thickness of 100 nm. A low refractive index layer was formed and wound up while adjusting the rotation speed of the gravure roll.

(4−2)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式B」
後乾燥を省いた以外は「塗布硬化方式A」と同様にした。
(4-2) Coating of low refractive index layer “Coating curing method B”
The procedure was the same as “Coating and curing method A” except that post-drying was omitted.

(4−3)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式C」
上記で調製した低屈折率層用塗布液をワイヤーバーを用いて硬化後の厚みが約100nmとなるように塗工し、90℃で1時間加熱硬化して反射防止層を形成した。
(4-3) Coating of low refractive index layer “Coating and curing method C”
The coating solution for the low refractive index layer prepared above was applied using a wire bar so that the thickness after curing was about 100 nm, and heat-cured at 90 ° C. for 1 hour to form an antireflection layer.

(4−4)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式D」
(ダイコーターの構成)
スロットダイ13は、上流側リップランド長IUPが0.5mm、下流側リップランド長ILOが50μmで,スロット16の開口部のウェブ走行方向における長さが150μm、スロット16の長さが50mmのものを使用した。上流側リップランド18aとウェブWの隙間を、下流側リップランド18bとウェブWの隙間よりも50μm長くし(以下、オーバーバイト長さ50μmと称する)、下流側リップランド18bとウェブWとの隙間GL を50μmに設定した。また、減圧チャンバー40のサイドプレート40bとウェブWとの隙間GS 、及びバックプレート40aとウェブWとの隙間GB はともに200μmとした。
ハードコート層まで塗設したトリアセチルセルロースフィルムを再び巻き出して、上記低屈折率層用塗布液をダイコート法により25m/minの塗布速度で塗布した。120℃で150秒乾燥の後、更に140℃で8分乾燥させてから酸素濃度が0.1体積%以下となるような窒素パージ下で240W/cmの空冷メタルハライドランプ(アイグラフィックス(株)製)を用いて、照度400mW/cm2、照射量900mJ/cm2の紫外線を照射し、厚さ100nmの低屈折率層を形成し、巻き取った。
(4-4) Coating of low refractive index layer “Coating curing method D”
(Die coater configuration)
The slot die 13 has an upstream lip land length I UP of 0.5 mm, a downstream lip land length I LO of 50 μm, a length of the opening of the slot 16 in the web running direction of 150 μm, and a length of the slot 16 of 50 mm. I used one. The gap between the upstream lip land 18a and the web W is 50 μm longer than the gap between the downstream lip land 18b and the web W (hereinafter referred to as an overbite length of 50 μm), and the gap between the downstream lip land 18b and the web W GL was set to 50 μm. Further, the gap G B between the gap G S, and the back plate 40a and the web W between the side plate 40b and the web W in the vacuum chamber 40 were both 200 [mu] m.
The triacetyl cellulose film coated up to the hard coat layer was unwound again, and the above coating solution for low refractive index layer was applied at a coating speed of 25 m / min by the die coating method. After drying at 120 ° C. for 150 seconds and further drying at 140 ° C. for 8 minutes, a 240 W / cm air-cooled metal halide lamp (I-Graphics Co., Ltd.) under a nitrogen purge that results in an oxygen concentration of 0.1% by volume or less. The low refractive index layer having a thickness of 100 nm was formed and wound by irradiating with ultraviolet rays having an illuminance of 400 mW / cm 2 and an irradiation amount of 900 mJ / cm 2 .

(4−5)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式E、F、G、H」
上記ダイコーター塗布で下流側リップランド長IL0をそれぞれそれぞれE=10μm、F=30μm、G=100μm、H=120μmにした以外は「塗布硬化方式D」と同様にした。
(4-5) Coating of low refractive index layer “Coating curing methods E, F, G, H”
Except that the downstream lip land length I L0 was set to E = 10 μm, F = 30 μm, G = 100 μm, and H = 120 μm, respectively, by the above-mentioned die coater coating, the same as “Coating curing method D”.

(4−6)低屈折率層の塗設「塗布硬化方式I、J、K、L」
上記ダイコーター塗布でダイコーターのオーバーバイド長さL0をそれぞれI=0μm、J=30μm、K=120μm、L=150μmにした以外は「塗布硬化方式D」と同様にした。
(4-6) Coating of low refractive index layer “Coating curing methods I, J, K, L”
Except that the overcoat length L0 of the die coater was set to I = 0 μm, J = 30 μm, K = 120 μm, and L = 150 μm in the above-described die coater application, the same as “Coating and curing method D”.

(反射防止フィルム試料の作成)
表1〜表4に示すように上記方法により反射防止フィルム試料を作成した。
(Preparation of antireflection film sample)
As shown in Tables 1 to 4, antireflection film samples were prepared by the above method.

Figure 0004914564
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Figure 0004914564
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(反射防止フィルムの鹸化処理)
製膜後、試料101、102を除く前記試料について以下の処理を行った。
1.5mol/lの水酸化ナトリウム水溶液を調製し、55℃に保温した。0.01mol/lの希硫酸水溶液を調製し、35℃に保温した。 作製した反射防止フィルムを上記の水酸化ナトリウム水溶液に2分間浸漬した後、水に浸漬し水酸化ナトリウム水溶液を十分に洗い流した。次いで、上記の希硫酸水溶液に1分間浸漬した後、水に浸漬し希硫酸水溶液を十分に洗い流した。 最後に試料を120℃で十分に乾燥させた。
(Saponification treatment of antireflection film)
After the film formation, the following processing was performed on the samples except for the samples 101 and 102.
A 1.5 mol / l sodium hydroxide aqueous solution was prepared and kept at 55 ° C. A 0.01 mol / l dilute sulfuric acid aqueous solution was prepared and kept at 35 ° C. The prepared antireflection film was immersed in the aqueous sodium hydroxide solution for 2 minutes, and then immersed in water to sufficiently wash away the aqueous sodium hydroxide solution. Subsequently, after being immersed in the above-mentioned dilute sulfuric acid aqueous solution for 1 minute, it was immersed in water to sufficiently wash away the dilute sulfuric acid aqueous solution. Finally, the sample was thoroughly dried at 120 ° C.

(反射防止フィルムの評価)
前記の鹸化処理後に得られたフィルム試料について、以下の項目の評価を行った。ただし試料101、102については鹸化処理を行なわないフィルム試料について、同様に以下の項目の評価を行った。
(1)平均反射率
分光光度計(日本分光(株)製)を用いて、380〜780nmの波長領域において、入射角5°における分光反射率を測定した。結果には450〜650nmの平均反射率を用いた。
(2)スチールウール耐傷性評価
ラビングテスターを用いて、以下の条件でこすりテストをおこなった。
評価環境条件:25℃、60%RH
こすり材:試料と接触するテスターのこすり先端部(1cm×1cm)にスチールウール(日本スチールウール(株)製、ゲレードNo.0000)を巻いて、動かないようバンド固定した。
移動距離(片道):13cm、こすり速度:13cm/秒、荷重:500g/cm2、先端部接触面積:1cm×1cm、こすり回数:10往復。
こすり終えた試料の裏側に油性黒インキを塗り、反射光で目視観察して、こすり部分の傷を、以下の基準で評価した。
◎:非常に注意深く見ても、全く傷が見えない。
○:非常に注意深く見ると僅かに弱い傷が見える。
○△:弱い傷が見える。
△:中程度の傷が見える。
△×〜×:一目見ただけで分かる傷がある。
(Evaluation of antireflection film)
The following items were evaluated for the film samples obtained after the saponification treatment. However, for the samples 101 and 102, the following items were similarly evaluated for the film samples not subjected to the saponification treatment.
(1) Average reflectance Using a spectrophotometer (manufactured by JASCO Corporation), the spectral reflectance at an incident angle of 5 ° was measured in a wavelength region of 380 to 780 nm. The average reflectance of 450-650 nm was used for the result.
(2) Steel wool scratch resistance evaluation A rubbing test was performed under the following conditions using a rubbing tester.
Evaluation environmental conditions: 25 ° C., 60% RH
Rub material: Steel wool (manufactured by Nippon Steel Wool Co., Ltd., Gelade No. 0000) was wound around the rubbing tip (1 cm × 1 cm) of a tester that was in contact with the sample, and the band was fixed so as not to move.
Moving distance (one way): 13 cm, rubbing speed: 13 cm / sec, load: 500 g / cm 2 , tip contact area: 1 cm × 1 cm, rubbing frequency: 10 reciprocations.
An oil-based black ink was applied to the back side of the rubbed sample and visually observed with reflected light, and scratches on the rubbed portion were evaluated according to the following criteria.
A: Even when viewed very carefully, no scratches are visible.
○: Slightly weak scratches are visible when viewed very carefully.
○ △: Weak scratches are visible.
Δ: Moderate scratches are visible.
Δ × ˜ ×: There is a scratch that can be seen at first glance.

(3)密着性評価
反射防止フィルムの低屈折率層を有する側の表面にカッターナイフで碁盤目状に縦11本、横11本の切り込みを入れて合計100個の正方形の升目を刻み、日東電工(株)製のポリエステル粘着テープ(NO.31B)を圧着して密着試験を同じ場所で繰り返し3回行った。剥がれの有無を目視で観察し、下記の4段階評価を行った。
◎:100個の升目中に剥がれが全く認められなかったもの
○:100個の升目中に剥がれが認められたものが2升以内のもの
△:100個の升目中に剥がれが認められたものが3〜10升のもの
×:100個の升目中に剥がれが認められたものが10升を超えたもの
(3) Adhesion evaluation The surface of the antireflective film having the low refractive index layer was cut with a cutter knife into a grid pattern with 11 vertical and 11 horizontal cuts, and a total of 100 square grids were carved. A polyester adhesive tape (NO. 31B) manufactured by Denko Co., Ltd. was pressure-bonded, and the adhesion test was repeated three times at the same place. The presence or absence of peeling was visually observed, and the following four-stage evaluation was performed.
◎: No peeling was observed in 100 squares ○: No peeling was observed in 100 squares within 2 squares △: peeling was observed in 100 squares 3 to 10 mm ×: The one in which peeling was observed in 100 cells exceeded 10 mm

(4)消しゴム擦り耐性
反射防止フィルムをガラス面上に粘着剤で固定し、直径8mm、厚さ4mmにくりぬいた消しゴム、MONO(商品名、トンボ製)を擦り試験機のヘッドとして反射防止フィルムの表面に500g/cm2の荷重で垂直に上方から押し付けた後、25℃60RH%の条件下においてストローク長3.5cm、擦り速度1.8cm/sにて200往復擦った後、付着した消しゴムを除去後、試料の擦り部を目視で確認し、表面の傷つき度合いを上記テストを3回繰り返し、平均して4段階で評価した。
○:ほとんどキズが認められない。
△:僅かにキズが認められる。
×:はっきりとキズが認められる。
××:キズが擦りあと全面に認められる。
(4) Eraser rubbing resistance An antireflection film is fixed on a glass surface with an adhesive, and an anti-reflection film MONO (trade name, manufactured by Dragonfly), which is hollowed to a diameter of 8 mm and a thickness of 4 mm, is used as a head of a rubbing tester. After pressing vertically from above with a load of 500 g / cm 2 on the surface, rubbing 200 times at a stroke length of 3.5 cm and a rubbing speed of 1.8 cm / s under conditions of 25 ° C. and 60 RH%, the attached eraser After removal, the rubbing part of the sample was visually confirmed, and the degree of scratching on the surface was evaluated three times on average by repeating the above test three times.
○: Scratches are hardly recognized.
Δ: Slight scratches are observed.
X: Scratches are clearly recognized.
XX: Scratches are recognized on the entire surface after rubbing.

(5)マジック拭き取り性
反射防止フィルムをガラス面上に粘着剤で固定し、25℃60RH%の条件下で黒マジック「マッキー極細(商品名:ZEBRA製)」のペン先(細)にて直径5mmの円形を3周書き込み、5秒後に10枚重ねに折り束ねたベンコット(商品名、旭化成(株))でベンコットの束がへこむ程度の荷重で20往復拭き取る。マジック後が拭き取りで消えなくなるまで前記の書き込みと拭き取りを前記条件で繰り返し、拭き取りできた回数を求めた。上記テストを4回繰り返し、平均して下記4段階で評価した。
○:10回以上拭き取り可能。
△:数回〜10回未満拭き取れる。
×:1回だけ拭き取れる。
××:1回も拭き取れない
(5) Magic wiping property The anti-reflection film is fixed on the glass surface with an adhesive, and the diameter of the black magic “Mackey Extra Fine (trade name: made by ZEBRA)” pen tip (thin) under the condition of 25 ° C. and 60 RH%. Write a 5-mm circle three times, and wipe it back and forth 20 times with a load that causes the bundle of Bencot to be dented with Bencot (trade name, Asahi Kasei Co., Ltd.) which is folded into 10 sheets after 5 seconds. The writing and wiping were repeated under the above conditions until after the magic did not disappear by wiping, and the number of times of wiping was determined. The above test was repeated 4 times, and the following 4 grades were evaluated on average.
○: Can be wiped 10 times or more.
Δ: Can be wiped off several times to less than 10 times.
×: Can be wiped off only once.
××: Cannot be wiped once

(6)シリコーン(Si原子)、フルオロアルキル(F原子)の表面偏析度評価
島津製作所(株)製ESCA−3400で各々の反射防止フィルムついて測定(真空度1×10−5Pa、X線源;ターゲットMg、電圧12kV、電流20mA)された最表面のSi2p、F1s、C1sの光電子スペクトルの強度比Si2p/C1s(=Si(a))、F1s/C1s(=F(a))とESCA−3400に付属のイオンエッチング装置(イオンガン、電圧2kV、電流20mA)で低屈折率層をその層厚が1/5(±5%)になるまで削った表面から80%下層において測定した光電子スペクトルの強度比Si2p/C1s(=Si(b))、F1s/C1s(=F(b))から、エッチング前後でのそれぞれの強度比の変化、Si(a)/Si(b)、F(a)/F(b)、を求め、それぞれのSi2p/C1s比、F1s/C1s比のエッチング前後における変化(低屈折率層最上部における光電子スペクトルの強度比/低屈折率層の表面から深さ80%下層付近における光電子スペクトルの強度比の変化)を以下3段階で評価した。上記測定を同一膜面上で互いに少なくとも2cm以上離れた場所3箇所で行った。
◎:エッチング後の強度比が5倍以上が1箇所以上。
○:エッチング後の強度比が5倍未満、3倍以上が1箇所以上。
△:エッチング後の強度比が3倍未満、1.5倍以上が1箇所以上。
−:エッチング後の強度比が1.5倍未満もしくは
なお、F1s、C1sはそれぞれの光電子スペクトルのピーク位置で強度を求め、Si2pは結合エネルギーが105eV付近のシリコーン(ポリジメチルシロキサンのSi原子)由来のピーク位置における強度を上記の強度比算出に用い、無機シリカ粒子由来のSi原子と区別した。種々のエッチング条件で低屈折率層表面を徐々に削り進む予備実験を実施しておき、下層のハードコート層または高屈折率層に達するまでに要するエッチング条件から表面から深さ80%となる条件を求めてから測定した。
(6) Silicone (Si atoms), surface segregation ratio evaluation Shimadzu Corp. ESCA-3400 each measurement for the antireflection film in the (vacuum 1 × 10- 5 Pa, X-ray source of fluoroalkyl (F atom) Intensity ratio Si2p / C1s (= Si (a)), F1s / C1s (= F (a)) and ESCA- of target surface Mg, voltage 12 kV, current 20 mA) The photoelectron spectrum measured from the surface of the low-refractive index layer cut to 1/5 (± 5%) with an ion etching apparatus (ion gun, voltage 2 kV, current 20 mA) attached to 3400 from the surface 80% below. From the intensity ratios Si2p / C1s (= Si (b)) and F1s / C1s (= F (b)), changes in the respective intensity ratios before and after etching, Si (a / Si (b), F (a) / F (b), and changes of the respective Si2p / C1s ratio and F1s / C1s ratio before and after etching (intensity ratio of photoelectron spectrum at the top of the low refractive index layer / low) The change in the intensity ratio of the photoelectron spectrum in the vicinity of the lower layer 80% deep from the surface of the refractive index layer was evaluated in the following three stages. The above measurement was performed at three locations at least 2 cm apart from each other on the same film surface.
A: The strength ratio after etching is 5 times or more and 1 or more places.
○: The strength ratio after etching is less than 5 times, and 3 times or more is 1 place or more.
Δ: The strength ratio after etching is less than 3 times, and 1.5 times or more is one or more places.
-: Intensity ratio after etching is less than 1.5 times or F1s and C1s are obtained at the peak positions of respective photoelectron spectra, and Si2p is derived from silicone (Si atom of polydimethylsiloxane) having a binding energy of around 105 eV. The intensity at the peak position was used for the above-described intensity ratio calculation to distinguish it from Si atoms derived from inorganic silica particles. Preliminary experiments in which the surface of the low-refractive index layer is gradually scraped under various etching conditions are performed, and the depth of 80% from the surface is reached from the etching conditions required to reach the lower hard coat layer or high-refractive index layer. Measured after obtaining.

Figure 0004914564
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上記表1及び5に記載された試料005、006、008、及び009は、「本発明」とあるのを「参考例」と読み替えるものとする。上記表2、6、及び7に記載された、フッ素含有バインダーを含有する試料103〜109、204、及び208は、「本発明」とあるのを「参考例」と読み替えるものとする。また、上記表2及び6に記載された、試料102は、「本発明」とあるのを「参考例」と読み替えるものとする。
表4から表7に示される結果より、以下のことが明らかである。
本発明の反射防止フィルムは、反射率、耐擦傷性、マジック拭き取り性、密着性をバランスよく満たし、反射防止フィルムとしてはトータルで性能が向上している。本発明の試料は比較試料001にたいしていずれも低反射化を達成でき、試料002に対してシリコーンやフルオロアルキル化合物を添加した試料003、008、011などはマジック拭き取り性が向上する。更にシリコーンとフッ素を併用する試料103、106などは一段高いマジック拭き取り性を発現した。
また、表4の結果より、試料301から試料312は塗布は可能であったが、黒塗りによる目視の面状評価結果からベース長手方向にスジ状のムラが発生する試料が確認され、本発明の塗布製造条件の有意性が示された。
In Samples 005, 006, 008, and 009 described in Tables 1 and 5 above, “present invention” should be read as “reference examples”. Samples 103 to 109, 204, and 208 containing a fluorine-containing binder described in Tables 2 , 3 , 6, and 7 described above should be read as “reference examples”. Further, in the sample 102 described in Tables 2 and 6 , “present invention” is read as “reference example”.
From the results shown in Tables 4 to 7, the following is clear.
The antireflection film of the present invention satisfies the balance of reflectance, scratch resistance, magic wiping property, and adhesion in a well-balanced manner, and as a antireflection film, the performance is improved as a whole. The samples of the present invention can achieve low reflection with respect to the comparative sample 001, and the samples 003, 008, 011 and the like obtained by adding silicone or a fluoroalkyl compound to the sample 002 have improved magic wiping properties. Furthermore, samples 103 and 106 using silicone and fluorine in combination exhibited a higher magic wiping property.
Further, from the results of Table 4, although the samples 301 to 312 were able to be applied, a sample in which streaky unevenness occurred in the longitudinal direction of the base was confirmed from the visual surface evaluation result by black coating, and the present invention. The significance of the coating production conditions was shown.

[実施例2]
次に、実施例1の本発明試料フィルムを偏光板と貼り合わせて反射防止付き偏光板を作製した。この偏光板を用いて反射防止層を最表層に配置した液晶表示装置を作製したところ、外光の映り込みが少なく、反射像が目立たず優れた視認性を有していた。また実使用形態において問題となる防汚性、ゴミ付性、膜強度はすべて満たされていた。
[Example 2]
Next, this invention sample film of Example 1 was bonded together with the polarizing plate, and the polarizing plate with reflection prevention was produced. When a liquid crystal display device having an antireflection layer disposed on the outermost layer using this polarizing plate was produced, there was little reflection of external light, and the reflected image was not noticeable and had excellent visibility. In addition, the antifouling property, dustiness, and film strength, which are problems in the actual usage form, were all satisfied.

[実施例3]
1.5mol/l、55℃のNaOH水溶液中に2分間浸漬したあと中和、水洗した、80μmの厚さのトリアセチルセルロースフィルム(TAC−TD80U、富士写真フイルム(株)製)と、実施例1の本発明試料塗設置したトリアセチルセルロースフィルムに、ポリビニルアルコールにヨウ素を吸着させ、延伸して作製した偏光膜の両面を接着、保護して偏光板を作製した。このようにして作製した偏光板を、反射防止膜側が最表面となるように透過型TN液晶表示装置搭載のノートパソコンの液晶表示装置(偏光選択層を有する偏光分離フィルムである住友3M(株)製のD−BEFをバックライトと液晶セルとの間に有する)の視認側の偏光板と貼り代えたところ、背景の映りこみが極めて少なく、表示品位の非常に高い表示装置が得られた。
[Example 3]
80 μm-thick triacetylcellulose film (TAC-TD80U, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.), which was immersed in an aqueous 1.5 mol / l, 55 ° C. NaOH solution for 2 minutes, neutralized and washed with water A polarizing plate was prepared by adhering and protecting both sides of a polarizing film prepared by adsorbing iodine to polyvinyl alcohol and stretching the triacetyl cellulose film on which the inventive sample 1 was applied. A liquid crystal display device of a notebook personal computer equipped with a transmissive TN liquid crystal display device (Sumitomo 3M Co., Ltd., which is a polarization separation film having a polarization selection layer) so that the anti-reflection film side is the outermost surface. When the polarizing plate on the viewing side of D-BEF made of the product between the backlight and the liquid crystal cell was replaced, a display device with very high display quality was obtained with very little background reflection.

[実施例4]
実施例1の本発明試料を貼りつけた透過型TN液晶セルの視認側の偏光板の液晶セル側の保護フィルム、およびバックライト側の偏光板の液晶セル側の保護フィルムとして、視野角拡大フィルム(ワイドビューフィルムSA 12B、富士写真フイルム(株)製)を用いたところ、明室でのコントラストに優れ、且つ上下左右の視野角が非常に広く、極めて視認性に優れ、表示品位の高い液晶表示装置が得られた。
[Example 4]
A viewing angle widening film as a protective film on the liquid crystal cell side of the polarizing plate on the viewing side of the transmission type TN liquid crystal cell to which the sample of the present invention of Example 1 is attached, and a protective film on the liquid crystal cell side of the polarizing plate on the backlight side (Wide-view film SA 12B, manufactured by Fuji Photo Film Co., Ltd.), a liquid crystal with excellent contrast in a bright room, very wide viewing angles in the vertical and horizontal directions, extremely excellent visibility, and high display quality. A display device was obtained.

[実施例5]
実施例1の本発明試料を、有機EL表示装置の表面のガラス板に粘着剤を介して貼り合わせたところ、ガラス表面での反射が抑えられ視認性が高く、指紋やホコリに対する汚染に対しても十分に耐え得る表示装置が得られた。
[Example 5]
When the sample of the present invention of Example 1 was bonded to the glass plate on the surface of the organic EL display device via an adhesive, reflection on the glass surface was suppressed, visibility was high, and contamination against fingerprints and dust was prevented. In this way, a display device that can sufficiently withstand was obtained.

[実施例6]
実施例1の本発明試料を用いて、片面反射防止フィルム付き偏光板を作製し、偏光板の反射防止膜を有している側の反対面にλ/4板を張り合わせ、反射防止膜側が最表面になるように、有機EL表示装置の表面のガラス板に貼り付けたところ、表面反射および、表面ガラスの内部からの反射がカットされ、極めて視認性の高い表示が得られた。
[Example 6]
Using the sample of the present invention of Example 1, a polarizing plate with a single-sided antireflection film was prepared, and a λ / 4 plate was laminated on the opposite side of the polarizing plate on the side having the antireflection film, with the antireflection film side being the outermost side. When attached to the glass plate on the surface of the organic EL display device so as to be on the surface, the surface reflection and the reflection from the inside of the surface glass were cut, and a display with extremely high visibility was obtained.

本発明の反射防止フィルムの一例を模式的に示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows typically an example of the antireflection film of this invention. 各層の塗布を連続的に行う装置の構成例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structural example of the apparatus which performs application | coating of each layer continuously. スロットダイを用いたコーターを示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the coater using a slot die. (A)は本発明のスロットダイを示す概略断面図であり、(B)は従来のスロットダイを示す概略断面図である。(A) is a schematic sectional drawing which shows the slot die of this invention, (B) is a schematic sectional drawing which shows the conventional slot die. 塗布工程のスロットダイ及びその周辺を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the slot die of an application | coating process, and its periphery. 近接している減圧チャンバーとウェブを示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the pressure reduction chamber and web which adjoin. 近接している減圧チャンバーとウェブを示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the pressure reduction chamber and web which adjoin.

符号の説明Explanation of symbols

1 反射防止フィルム
2 透明支持体
3 導電性層
4 ハードコート層
5 中屈折率層
6 高屈折率層
7 低屈折率層
8 マット粒子
10 コーター
11 バックアップロール
13 スロットダイ
14 塗布液
14a ビード
14b 塗膜
15 ポケット
16 スロット
16a 開口部
17 先端リップ
18 平坦部
18a 上流側リップランド
18b 下流側リップランド
30 従来のスロットダイ
31a 上流側リップランド
31b 下流側リップランド
32 ポケット
33 スロット
40 減圧チャンバー
40a バックプレート
40b サイドプレート
40c ネジ
110 ロール状の支持体フィルムを連続的に送り出す工程
120 支持体フィルムを巻き取る工程
100、200、300、400 製膜ユニット
101、201、301、401 塗布液を塗布する工程
102、202、302、402 塗膜を乾燥する工程
103、203、303、403 塗膜を硬化する工程
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Antireflection film 2 Transparent support 3 Conductive layer 4 Hard coat layer 5 Medium refractive index layer 6 High refractive index layer 7 Low refractive index layer 8 Matte particle 10 Coater 11 Backup roll 13 Slot die 14 Coating liquid 14a Bead 14b Coating film 15 Pocket 16 Slot 16a Opening 17 Tip Lip 18 Flat 18a Upstream Lip Land 18b Downstream Lip Land 30 Conventional Slot Die 31a Upstream Lip Land 31b Downstream Lip Land 32 Pocket 33 Slot 40 Decompression Chamber 40a Back Plate 40b Side Plate 40c Screw 110 Step of continuously feeding roll-shaped support film 120 Step of winding support film 100, 200, 300, 400 Film-forming units 101, 201, 301, 401 Applying coating solution Curing the steps 103,203,303,403 coating to dry to step 102, 202, 302, and 402 coating

Claims (9)

透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層に、実質的にフッ素を含まない飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーバインダーと中空シリカ粒子と表面自由エネルギーを低下させる化合物とを含み、該中空シリカ粒子が、粒子内の空腔の半径をa、粒子の外殻の半径をbとしたときの数式(I)で表される空隙率xが10〜60%であり、該表面自由エネルギーを低下させる化合物が、ジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に(メタ)アクリロイル基を有するシリコーン化合物であり、該表面自由エネルギーを低下させる化合物を該低屈折率層全固形分の0.01〜20質量%の範囲で含有することを特徴とする反射防止フィルム。
数式(I):x=(4πa /3)/(4πb /3)×100
A polymer binder having a saturated hydrocarbon chain or polyether chain substantially free of fluorine as a main chain in a low refractive index layer located farthest from the transparent support, hollow silica particles, and a compound for reducing surface free energy; The hollow silica particles have a porosity x of 10 to 60% represented by the formula (I) when the radius of the cavity in the particle is a and the radius of the outer shell of the particle is b, The compound for reducing the surface free energy is a silicone compound having a (meth) acryloyl group at the end and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units, and reduces the surface free energy. An antireflection film comprising a compound in a range of 0.01 to 20% by mass of the total solid content of the low refractive index layer.
Formula (I): x = (4πa 3/3) / (4πb 3/3) × 100
前記中空シリカ粒子が、アクリロイル基またはメタアクリロイル基を有するシランカップリング剤による処理をされていることを特徴とする請求項1に記載の反射防止フィルム。The antireflection film according to claim 1, wherein the hollow silica particles are treated with a silane coupling agent having an acryloyl group or a methacryloyl group. シリコーンが低屈折率層の表面に偏析し、低屈折率層の最表面と最表面から80%下層における光電子スペクトル強度比Si/Cが該最表面において80%下層よりも5倍以上大きいことを特徴とする請求項1又は2に記載の反射防止フィルム。 Silicone emission is segregated on the surface of the low refractive index layer, it photoelectron spectral intensity ratio Si / C in 80% lower from the outermost surface and the outermost surface of the low refractive index layer is greater 80% 5 times more than the lower layer in the outermost surface The antireflection film according to claim 1 or 2. 表面自由エネルギーが25mN/m以下であることを特徴とする請求項1〜のいずれかに記載の反射防止フィルム。 The antireflection film according to any one of claims 1 to 3, the surface free energy is equal to or less than 25 mN / m. 透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層および該低屈折率層の下層の少なくともいずれかに、酸触媒および/または金属キレート化合物の存在下で製造されてなる下記一般式(A)で表されるオルガノシランの加水分解物およびその部分縮合物の少なくともいずれかを含む請求項1〜のいずれかに記載の反射防止フィルム。
一般式(A):(R10mSi(X)4-m
(式中、R10は、置換もしくは無置換のアルキル基または置換もしくは無置換のアリール基を表す。Xは水酸基または加水分解可能な基を表す。mは1〜3の整数を表す。)
The following general formula (A) is produced in the presence of an acid catalyst and / or a metal chelate compound in at least one of the low refractive index layer farthest from the transparent support and the lower layer of the low refractive index layer. The antireflection film according to any one of claims 1 to 4 , comprising at least one of a hydrolyzate of an organosilane and a partial condensate thereof.
General formula (A): (R 10 ) m Si (X) 4-m
(In the formula, R 10 represents a substituted or unsubstituted alkyl group or a substituted or unsubstituted aryl group. X represents a hydroxyl group or a hydrolyzable group. M represents an integer of 1 to 3.)
請求項1〜のいずれかに記載の反射防止フィルムの製造方法において、
バックアップロールによって支持されて連続走行する透明支持体の表面に、スロットダイの先端リップのランドを近接させて、前記先端リップのスロットから、実質的にフッ素を含まない飽和炭化水素鎖またはポリエーテル鎖を主鎖として有するポリマーバインダーと、粒子内の空腔の半径をa、粒子の外殻の半径をbとしたときの数式(I)で表される空隙率xが10〜60%である中空シリカ粒子と、ジメチルシリルオキシ単位を繰り返し単位として複数個含む化合物鎖の末端および/または側鎖に(メタ)アクリロイル基を有するシリコーン化合物である表面自由エネルギーを低下させる化合物とを含む塗布液を塗布する方法の、前記スロットダイの透明支持体進行方向側の先端リップのウェブ走行方向におけるランド長さを30μm以上100μm以下とするスロットダイを使用し、前記スロットダイを塗布位置にセットしたときに、前記ウェブの進行方向とは逆側の先端リップとウェブの隙間を、前記ウェブ進行方向側の先端リップとウェブとの隙間よりも30μm以上120μm以下大きくなるように設置した塗布装置を用いて乾燥膜厚が200nm以下となる、透明支持体から最も遠くに位置する低屈折率層を少なくとも一層塗布することを特徴とする反射防止フィルムの製造方法。
In the manufacturing method of the anti-reflective film in any one of Claims 1-5 ,
The land of the tip lip of the slot die is brought close to the surface of the transparent support that is continuously supported by the backup roll, and from the slot of the tip lip, a saturated hydrocarbon chain or polyether chain substantially free of fluorine. And a void having a porosity x represented by the formula (I) where the radius of the cavity in the particle is a and the radius of the outer shell of the particle is b Application of a coating solution containing silica particles and a compound that reduces the surface free energy, which is a silicone compound having a (meth) acryloyl group at the end and / or side chain of a compound chain containing a plurality of dimethylsilyloxy units as repeating units. The land length in the web traveling direction of the tip lip on the transparent support traveling direction side of the slot die is 30 μm or less. When a slot die having a size of 100 μm or less is used and the slot die is set at a coating position, a gap between the tip lip and the web on the opposite side to the moving direction of the web is set to the tip lip and the web on the web moving direction side. At least one low refractive index layer located farthest from the transparent support, with a dry film thickness of 200 nm or less, using a coating apparatus installed to be 30 μm or more and 120 μm or less larger than the gap between A method for producing an antireflection film.
該塗布液の塗布時における粘度が2.0[mPa・sec]以下、透明支持体に塗り付けられる塗布液の量が2.0〜5.0[ml/m2]であることを特徴とする請求項に記載の反射防止フィルムの製造方法。 The viscosity at the time of application of the coating liquid is 2.0 [mPa · sec] or less, and the amount of the coating liquid applied to the transparent support is 2.0 to 5.0 [ml / m 2 ]. The manufacturing method of the antireflection film of Claim 6 . 請求項1〜のいずれかに記載の反射防止フィルムまたは請求項またはに記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムを備えた偏光板。 A polarizing plate comprising the antireflection film according to any one of claims 1 to 5 or the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to claim 6 or 7 . 請求項1〜のいずれかに記載の反射防止フィルム、請求項またはに記載の反射防止フィルムの製造方法によって得られた反射防止フィルムまたは請求項に記載の偏光板を備えた液晶表示装置。 A liquid crystal display comprising the antireflection film according to any one of claims 1 to 5, the antireflection film obtained by the method for producing an antireflection film according to claim 6 or 7 , or the polarizing plate according to claim 8. apparatus.
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