JP4903982B2 - 半導体素子及びその製造方法 - Google Patents
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Description
(1)前記実施例で示した製造方法や製造条件は一定であり、何ら前記実施例に限定されるものではなく、同様の作用を奏するように適宜変更してよい。
(2)前記実施例で示した積層構造,膜厚も一例であり、同様の作用を奏するように設計変更可能である。また、前記実施例では、AlGaAs系の材料を用いた場合について説明したが、本発明は、他の公知の各種の薄膜材料を用いた半導体素子の形成時においても、混入酸素濃度の低減に大きな効果を発揮する。
12:GaAs基板
13:GaAsバッファ層
14:Al0.55Ga0.45As層
15:GaAsキャップ層
20:結晶
22:結晶表面(成長表面)
24:酸素
30:半導体素子
32:GaAs基板
34:GaAs層
36:Al0.55Ga0.45As層
38:AsAs層
40:Al0.55Ga0.45As層
42:GaAs層
50:半導体レーザ素子
52:GaAs基板
54:GaAs層
56:n−Al0.55Ga0.45As層(クラッド層)
57:Al0.3Ga0.7As層(ガイド層)
58:MQW層
59:Al0.3Ga0.7As層(ガイド層)
60:p−Al0.55Ga0.45As層(クラッド層)
62:p+−GaAs層
70:半導体レーザ素子
72:GaAs基板
74:n−GaAs層(バッファ層)
76:n−Al0.55Ga0.45As層(クラッド層)
78:Al0.3Ga0.7As層(ガイド層)
80:MQW層
82:Al0.3Ga0.7As層(ガイド層)
84,86:p−Al0.55Ga0.45As層(クラッド層)
88:p+−AlAs層
90:p−Al0.55Ga0.45As層
92:p+−GaAs層
Claims (3)
- 半導体基板上に、下クラッド層,下ガイド層,活性層,上ガイド層,上クラッド層が順に積層された半導体素子の製造方法であって、
前記下クラッド層が、n−Al 0.55 Ga 0.45 As層であり、
前記下ガイド層が、Al 0.3 Ga 0.7 As層であり、
前記活性層が、4層のAl 0.25 Ga 0.75 As層と、3層のGaAs層を交互に積層した構造であり、
前記上ガイド層が、Al 0.3 Ga 0.7 As層であり、
前記上クラッド層が、p−Al 0.55 Ga 0.45 As層であり、
前記下ガイド層の成長を、前記下クラッド層の成長温度よりも高温で行う工程1と、
前記活性層の成長を、前記下ガイド層の成長温度よりも高温で行う工程2と、
前記上ガイド層の成長を、前記活性層の成長と同じ成長温度で行う工程3と、
前記上クラッド層の成長を、前記上ガイド層の成長温度よりも高温で成長させる工程4と、
前記工程1,工程2,工程4で上昇させた温度の合計分に相当する温度を低下させて上クラッド層の成長最適温度に戻し、前記工程4で成長させた上クラッド層上に、引き続き上クラッド層を成長させる工程5と、
前記下クラッド層の成長温度を580℃とするとともに、
前記工程1における温度上昇を25℃とし、
前記工程2における温度上昇を15℃とし、
前記工程4における温度上昇を25℃とし、
前記工程5における温度低下を65℃とした
ことを特徴とする半導体素子の製造方法。 - 請求項1記載の半導体素子の製造方法によって製造された半導体素子であって、
前記各層の成長界面における酸素の混入が抑制され、かつ、活性層における酸素混入量が低減された半導体素子であることを特徴とする半導体素子。 - 前記半導体素子が、半導体レーザ素子であることを特徴とする請求項2記載の半導体素子。
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